JPH02297514A - 焦点検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野コ 本発明はイメージセンサアレイを用いた焦点検出装置に
関し、特に特にカメラのオートフォーカス制御に用いら
れる自動焦点検出装置に関する。

［従来の技術］ 従来、この種の焦点検出装置としては、対物レンズ（撮
影レンズ）によって形成される被写体の光像を再結像光
学系によって２像に分割して一対のイメージセンサアレ
イ上に再結像させ、この一対のイメージセンサアレイの
出力に基づいて焦点検出演算を行なうことによって、前
記２像の位置ずれを算出し、対物レンズの焦点検出状態
を検出するものが知られている。

ところで、このような焦点検出装置を備えたカメラにお
いて、ファインダー枠に表示された測距範囲内に前後し
た複数の被写体が入ってしまった時には、前後した被写
体の中間距離で合焦と判定してしまったり、焦点検出が
不能となってしまうという不具合があった。

そこで測距範囲内を複数のブロックに分割して求めた複
数の焦点検出の演算結果から対物レンズを合焦制御する
方法が知られている。

即ち、一対のイメージセンサアレイを複数のブロックに
分割して被写体像を細分化し、それぞれのブロックにつ
いて焦点検出演算を行ない、複数の演算結果から、例え
ば最至近に存在する被写体またはコントラストが最大の
被写体の存在するブロックを選択し、選択ブロックの演
算結果を対物レンズの焦点調節状態として対物レンズを
合焦−に駆動し、合焦させる方法が特開昭６０−２６２
００４、特開昭６１−５５６１８、特開昭６２−１６３
００７、特開昭６２−１５５６０８等で公知となってい
る。

そして一対のイメージセンサアレイとしてはＣＣＤイメ
ージセンサが一般的に用いられ′Ｃいる。

ここで第１１図を用いてＣＣＤイメージセンサの動作に
ついて説明する。

第１１図（ａ）はＣＣＤイメージセンサの構成を示し、
ＣＣＤイメージセンサは光電変換を行なう複数のフォト
センサからなるフォトセンサアレイ１０と、電荷転送を
行なうシフトレジスタ４゜と、フォトセンサアレイ１０
の各フォトセンサで発生し蓄えられた電荷をシフトレジ
スタ４ｏへ転送するシフトゲート３０から成っている。

シフトレジスタ４０にはクロックＣＬＫＩと、ＣＬＫＩ
の位相を反転させたクロックのＣＬＫ２の二相クロック
が入力され、出力端には電圧変換部４１と、バッファ４
２が設けられ、出方端子０ＵＴに接続される。

フォトセンサアレイ１０には蓄積動作を制御するＣＬＲ
パルスがＣＬＲ端子より入力される。そしてフォトセン
サアレイ１０とシフトレジスタ４０の間に位置するシフ
トゲート３０はＳＨ端子に接続されている。

次に、第１１図（ｂ）を用いてＣＣＤイメージセンサの
動作を説明する。

時刻Ｔ１においてＣＬＲ端子をＨレベルからＬレベルに
すると、フォトセンサアレイ１０で発生した電荷は各フ
ォトセンサに蓄えられ始める。そして所定の時間が経過
した時刻Ｔ２でＬレベルのパルスをＳＨ端子へ入力する
と、時刻Ｔ１からＴ２の間となる所定時間にフォトセン
サアレイ１０の各フォトセンサで発生して蓄積された電
荷はシフトレジスタ４０へ並列的に転送される。シフト
レジスタ４０はクロックＣＬＫＩとＣＬＫＩを反転させ
た二相クロックによって電荷を図上で左から右へ転送し
、電圧変換部４１によって電圧変換し７、バッファ４２
、ＯＵＴ端子を通じて外部へ時系列的に出力する。

ここで時刻Ｔ１からＴ２までの所定時間を蓄積時間とい
い、蓄積時間は焦点検出演算が可能となるコントラスト
を得るために被写体の輝度が高いときは短く、低いとき
は長く設定することにより、被写体の輝度によらずほぼ
同程度の出力が得られるようにする。

［発明が解決しようとする課題］ しかしながら、このような従来技術にあっては、測距範
囲内に明暗差の大きい複数の被写体が存在すると、以下
に説明するような問題点があった。

いまファインダー被写界を示した第１２図（ａ）におい
て、５０が測距範囲であり、測距範囲５０内にある被写
体像がイメージセンサアレイ上に投影される。この測距
範囲５０は３つのブロック５０ａ、５０ｂ、５０ｃｉ、
：分割されテイル。

いま、図示のように被写体Ａがブロック５０ａにあり、
遠景の被写体Ｂが５０ｂにあったとする。

この場合、背景は空であり、輝度は空が一番高く、被写
体Ｂ１被写体Ａの順に低くなっているものとする。この
ような被写体Ａ、　　Ｂと背景の空がイメージセンサ上
に投影された場合には、イメージセンサアレイの蓄積時
間の設定が問題となる。

例えば被写体Ｂの輝度を基準に蓄積時間を設定するとイ
メージセンサ−アレイの出力は第１２図（ｂ）のように
なり、ブロック５０ａにおいては出力が小さくて焦点検
出演算ができず、ブロック５０ｂでは焦点検出演算に適
した出力が得られ、ブロック５０ｃは空が入っているだ
けなので出力は得られるがコントラストがなく焦点検出
演算ができない。従って、この場合はブロック５０ｂに
存在する被写体Ｂのみで焦点検出演算可能となり、対物
レンズは被写体Ｂに対して合焦となるように駆動される
。

次に蓄積時間を被写体Ａの輝度を基準にして第１２図（
ｂ）の場合より長く設定すると、イメージセンサアレイ
の出力は第１２図（Ｃ）のようになり、ブロック５０ａ
では焦点検出演算に適した出力とコントラストが得られ
るが、ブロック５０ｔ）、５０ｃにおいては蓄積時間に
対して輝度が高すぎるので、出力が飽和してしまい、あ
る一定の出力となりコントラストがなくなってしまう。

従って、ブロック５０ａに存在する被写体Ａに対して合
焦となるように対物レンズは駆動される。

更に、背景の空の輝度を基準にして蓄積時間を設定する
と第１２図（ｄ）のようになり、ブロック５０ａは出力
が小さくて焦点検出演算は不可能であり、ブロック５０
ｂでは焦点検出演算は可能ではあるが出力が小さいので
安定性がなく、ブロック５０ｃはコントラストがない。

従って、対物レンズをブロック５０ｂに存在する被写体
Ｂに合焦させようとするが、出力が小さいので焦点検出
演算の結果に安定性が無いので精度よく合焦させること
はできない。− このように測距範囲内に明暗差の大きい複数の被写体が
存在すると、イメージセンサ上しノイの蓄積時間の設定
方法によって合焦する被写体が選択されてしまったり、
精度が得られなくなってしまう。従って、例えば測距範
囲内の最至近にある被写体に合焦させようとしても、他
の被写体に適した蓄積時間が設定されると、最至近の被
写体に対して焦点検出演算が不可能となってしまって合
焦しなくなる不具合を生じる。

本発明は、このような従来問題点を解決するためになさ
れたものであり、測距範囲内を複数のブロックに分割し
て焦点検出を行なう焦点検出装置において、測距範囲内
に明暗差の大きい複数の被写体が存在するような場合で
も確実に目的の被写体に対して対物レンズを合焦させる
ことのできる焦点検出装置を提供することを目的とする
。

［課題を解決するための手段］ まず本発明は、撮影レンズを含む再結像光学系により測
距範囲の被写体像を２像に分割して一対の電荷蓄積型の
光電変換素子列（ライン型ＣＯＤイメージセンサアレイ
）に投影し、前記測距範囲内を複数ブロックに分割して
光電変換素子列の出力信号から各ブロック毎に焦点調節
情報を演算する焦点検出装置を対象とする。

このような焦点検出装置につき本発明にあってき次の３
通りの手段を提供する。

［蓄積時間制御方式コ 光電変換素子列のブロック毎の出力信号が焦点調節情報
の演算に適した信号レベルにあるか否か判定するレベル
判定手段と；該レベル判定手段で不適切レベルと判定さ
れたブロックについて適切レベルを得るための蓄積時間
を演算設定して光電変換素子列から再度出力信号を得る
蓄積時間制御手段と；前記レベル判定手段で適切レベル
と判定された出力信号について焦点検出情報を演算する
演算手段；を備える。

［ゲイン制御方式］ 前記光電変換素子列の出力信号を増幅する利得制御可能
な増幅器と；該増幅機の出力信号が焦点調節情報の演算
に適した信号レベルにあるか否か判定するレベル判定手
段と；該レベル判定手段で不適切レベルと判定されたブ
ロックについて適切レベルを得るための増幅利得を演算
して前記増幅機に設定した後に前記光電変換素子列から
再度出力信号を得る利得制御手段と；前記レベル判定手
段で適切レベルと判定された出力信号について焦点調節
情報を演算する演算手段と；を備える。

［フィルタ係数制御方式］ まず光電変換素子列の出力信号に基づく焦点調節情報の
演算は、各ブロック毎に得られる出力信号に所定のフィ
ルタ処理を施して新たなデータ系列を求め、新たなデー
タ系列から焦点調節情報を演算する方式を前提とする。

そしてフィルタ係数制御方式にあっては、光電変換素子
列のブロック毎の出力信号が焦点調節情報の演算に適し
た信号レベルにあるか否か判定するレベル判定手段と；
該レベル判定手段で不適切レベルと判定されたブロック
について適切レベルを得るための前記フィルタ処理の係
数を演算設定した後に前記フィルタ処理を施して新たな
データ系列の出力信号を演算させるフィルタ制御手段と
；前記レベル判定手段で適切レベルと判定された出力信
号について焦点調節情報を演算する演算手段と；を備え
る。

尚、いずれの方式にあっても、最初に求められた複数の
焦点調節情報の任意の１つを選択した際に非合焦であっ
て合焦駆動後に更に焦点検出を行な゛う必要がある場合
には、選択結果に対応する蓄積時間を算出して次回の蓄
積動作のために設定し、次回以降については選択ブロッ
クについてのみ焦点検出を行ない、蓄積時間、ゲイン、
またはフィルタ係数の制御を不要とする。

［作用］ 第１２図に示す従来の技術では不具合であった場合に本
発明を適用してみると次のようになる。

まず蓄積時間制御方式によれば、被写体Ａ１被写体Ｂ１
背最の空のそれぞれの輝度に適した蓄積時間で計３回の
蓄積を行なうので、全ての被写体に関して焦点検出演算
に適した出力が得られる。

またゲイン制御方式によれば、例えば第１２図（ｂ）の
ような出力が得られるように蓄積時間を初期設定して蓄
積を行ない、被写体Ａに関する出力を転送するときには
増幅器の利得を被写体Ｂや背景の空の出力の転送時より
も高くすることによって全ての被写体に関して焦点検出
演算に適した出力が得られる。

更にフィルタ係数制御方式によれば、例えば第１２図（
ｂ）のような出力が得られるように蓄積時間を初期設定
して蓄積を行ない、ＣＯＤイメージセンサアレイの各ブ
ロック毎に少なくとも２つの出力信号（被写体像を再結
像光学系により２像に分離して得られる一対の出力信号
）を合成（相関演算）することによって新たなデータ列
を作り出す時に掛けるフィルタ係数を、被写体Ａの出力
に対しては被写体Ｂと背景の空よりも高く設定すること
により、全ての被写体に関して焦点検出演算に適した新
たなデータ列を得ることができる。

そし各方式の焦点調節演算によって得られた複数の結果
から、ある条件を満たすものを選択し、次回の蓄積時間
は選択結果を与えるブロックの出力に基づいて定めるこ
とにより、次回の蓄積では選択ブロックに存在していた
被写体に関する出力レベルが焦点検出演算に最適となる
。

この為、例えば第１回目の蓄積によって測距範囲内に存
在する被写体の前後関係が分かり、その中から例えば最
至近に存在する被写体を選んだならば、２回目以降の蓄
積では選択された最至近の被写体を優先して蓄積、演算
することになるので、精度良く対物レンズを合焦させる
ことができる。

［実施例］ 第１図は本発明の装置構成の概略を示した説明図である
。

第１図に示すように本発明は、イメージセンサアレイを
含むイメージセンサチップ３と、対物レンズ１（撮影レ
ンズ）を通過した光をイメージセンサアレイ上に投影す
る焦点検出光学系２と、対物レンズ１を駆動するモータ
７と、イメージセンサアレイの蓄積時間の制御、焦点検
出演算、及びモータ７の制御等を行なうマイクロプロセ
ッサ６と、イメージセンサチップ３とマイクロプロセッ
サ６の間の信号の制御を行なう第１制御部４、第２制御
部５からなる。

イメージセンサチップ３は入力端子としてＴＲ。

ＴＲＩ、ＴＲ２，ＣＬＲ，ＣＬＫＩ、出力端子として０
ＵＴＯ，０ＵＴＩ、０ＵＴ２を持つ。出力端子０ＵＴＯ
，０ＵＴＩ、０ＵＴ２は第２制御部５へ接続され、ＣＬ
Ｒ端子、ＣＬＫ１端子はマイクロプロセッサ６に接続さ
れ、入力端子ＴＲ，ＴＲ２，ＴＲＩは第１制御部４に接
続される。

第１制御部４からＴＲ，ＴＲＩ、ＴＲ２へ出力する信号
は第２制御部５へも出力される。マイクロプロセッサ６
の出力端子ＴＲＲは第１制御部４へ接続され、出力端子
ＧＣ，入力端子ＩＮはどちらも第２制御部５へ接続され
、出力端子ＭＣはモーター７へ接続される。

次に第２図を用いて第１図のイメージセンサチップ３の
構成を説明する。

第２図において、イメージセンサチップ３は横方向に配
置される一対のイメージセンサアレイａ。

ｂと、イメージセンサアレイａ、ｂに直交するもう一方
のイメージセンサアレイｃ、ｄを有する。

従って水平線のように水平方向にしかコントラストを持
たせない被写体でも垂直方向のイメージセンサ−ｃ、　
　ｄによって焦点検出ができる。

イメージセンサ−アレイａ、ｂ、ｃ、ｄに平行して第１
．第２．第３のシフトレジスタ１１１゜１１２．１１３
が形成され、イメージセンサアレイ゛の信号を出力端子
０ＵＴＯ，０ＵＴＩ、０ｔＪＴ２から出力する。イメー
ジセンサアレイｃ、ｄとシフトレジスタ１１２，１１３
との間にはメモリ部１１６，１１９が設けられ、これら
はイメージセンサアレイｃ、ｄからの各フォトセンサー
に対応した電荷信号を個々に一時保存し、所定時間後に
次段のシフトレジスタ１１２，１１３に移送する。

、シフトゲート１１４はイメージセンサアレイａ。

ｂの各フォトセンサに蓄えられた電荷信号をシフトレジ
スタ１１１へ転送し、シフトゲート１１５゜１１８はイ
メージセンサアレイｃ、ｄの各イメージセンサアレイに
蓄えられた電荷信号をメモリ一部１１６，１１９に転送
する。メモリ部１１６゜１１９とシフトレジスター１１
２．１１３の間に設けられたトランスファゲート１１７
．１１０は、メモリ部１１６．１１９の各メモリ素子に
蓄えられた電荷信号をシフトレジスタ１１２，１１３に
転送するために設けられる。

入力端子ＣＬＲは全てのイメージセンサアレイａ、　　
ｂ、　　ｃ、　　ｄに接続され、Ｌレベルの入力期間の
み入射光に応じた電荷を各フォトセンサに蓄積させる。

また、入力端子ＣＬＫＩは全てのシフトレジスタ１１１
，１１２．１１３に接続され、転送パルスに従って各イ
メージセンサアレイａ、ｂ。

ｃ、　　ｄからの出力電荷をシフトレジスタ１１１゜１
１２．１１３ごとに順次転送するために使用される。

第１制御部４はマイクロプロセッサ６のＴＲＲ端子より
入力された信号に基づいて端子ＴＲ，ＴＲ１，、ＴＲ２
にデジタル信号のトリガパルスを発生する。端子ＴＲに
入力されたトリガパルスは、シフトゲ−）１１４，１１
５．１１８に同時に作用し、イメージセンサアレイａ、
ｂ、ｃ、ｄに蓄えられた電荷信号を移送させる。端子Ｔ
ＲＩ、　ＴＲ２とに入力されたトリガパルスは、トラン
スファゲート１１７．１１０にそれぞれ異なった時刻に
作用し、メー　ノ部１１６．１１９に蓄えられた電荷を
それぞれ移送させる。

次に第２図に示したイメージセンサ−チップの動作を第
３図のタイミングチャートを参照して説明する。

イメージセンサアレイａ、　　ｂ、　　ｃ、　　ｄは入
力端子ＣＬＲへのデジタル信号がＬレベルとなる時刻ｔ
１において同時に蓄積を開始する。時刻ｔ２に第１制御
部４から端子ＴＲを介してシフトゲート１１４にパルス
が加わると、イメージセンサアレイａ、　　ｂの電荷信
号はシフトレジスタ１１１に送られ、転送パルスにより
転送されて出力部０ＵＴＯから時系列的信号ＰＨとして
出力される。この同じ時刻ｔ２に、イメージセンサアレ
イｃ、ｄの電荷信号もそれぞれシフトゲート１１５．１
１．８を介してメモリ部１１６．１１９にそれぞれ移送
される。

第１制御部４はシフトレジスタ１１１によるイメージセ
ンサアレイａ、　　ｂの電荷転送終了の時刻ｔ３で端子
ＴＲＩにパルスを印加し、メモリ部１１６を蓄えられて
いたイメージセンサアレイＣの電荷信号をシフトレジス
タ１１２に転送させ、受信出力部０ＵＴＩより時系列的
信号ＰＶＩとして出力する。

更に、第１制御部４はイメージセンサアレイＣに関する
転送完了を待って時刻ｔ４で端子ＴＲ２にパルスを印加
し、メモリ部１１９に蓄えられていたイメージセンサア
レイｄの電荷信号シフトレジスタ１１３に転送し、順次
出力部０ＵＴ２より時系列的信号ＰＶ２として出力する
。

このような構成のイメージセンサアレイチップ３を使用
することにより、イメージセンサアレイａ、　　ｂ、　
　ｃ、　　ｄから並列に出力される電荷信号は出力端子
０ＵＴＯ，０ＵＴＩ、０ＵＴ２より時間的に重複するこ
となく、時系列的な信号として出力される。

次に第４図を用いて第１図に示した第２制御部５′を説
明する。

第４図において、第２制御部５は、イメージセンサアレ
イチップ３の０ＵＴＯ，０ＵＴ１．０ＵＴ２の３つの出
力端子からの出力信号にマイクロプロセッサ６によって
設定されるゲインをかけ、３本の出力ラインをマイクロ
プロセッサ６の入力端子ＩＮへ１つにまとめて出力する
働きをする。

即ち、イメージセンサアレイチップ３の出力端子０ＵＴ
Ｏ，０ＵＴＩ、０ＵＴ２は第４図（ｂ）のスイッチＳＬ
、Ｓ２，３３に入力接続され、スイッチＳＬ、Ｓ２．Ｓ
３は制御端子Ｊｌ、Ｊ２゜Ｊ３に入力する信号α、β、
γによって開閉される。スイッチＳＬ、３２．８３の出
力端は１つにまとめられ、可変ゲインアンプＧに入力さ
れる。

可変ゲインアンプＧの利得はマイクロプロセッサ６のＧ
Ｃ端子からの複数のデジタル信号、またはアナログ信号
によって設定される。

第４図（ａ）に示す回路は第１制御部４からイメージセ
ンサアレイチップ３のＴＲ，ＴＲＩ、ＴＲ２端子に出力
する信号によってスイッチの制御端子Ｊｌ、Ｊ２．Ｊ３
への制御信号を作成する制御回路である。この制御回路
はＮＯＲゲートＮ　１．　。

Ｎ２．Ｎ３．Ｎ４とＡＮＤゲートＡ１．Ａ２から構成さ
れる。

次に第２の制御部５の動作を説明する。

イメージセンサ−アレイａ、ｂ、ｃ、ｄの蓄積を終了さ
せるべく第１制御部４からＴＲ端子へパルスが入力され
ると、このパルスは第４図（ａ）の制御回路へも入力さ
れ、制御端子Ｊ１に対する制御信号αのみがＨレベルに
なってスイッチＳ１のみがオンし、０ＵＴＯ端子から出
力されるイメージセンサアレイａ、　　ｂの信号のみが
可変ゲインアンプＧを通じてマイクロプロセッサ３の端
子ＩＮへ送られる。

イメージセンサ−アレイａ、　　ｂの信号の転送が終了
し第１制御部４からＴＲＩヘパルスが出力されると、こ
のパルスは同様に第４図（りの制御回路にも入力され、
制御端子Ｊ２に対する制御信号βのみがＨレベルとなり
、スイッチＳ２のみがオンして０ＵＴＩ端子から出力さ
れるイメージセンサアレイＣの信号が可変ゲインアンプ
Ｇを通じてマイクロプロセッサ６の端子ＩＮへ送られる
。

イメージセンサアレイＣの信号の転送が終了し第１制御
部４からＴＲ２ヘパルスが出力されると、このパルスは
第４図（りの制御回路へも入力され、このパルスによっ
て制御端子Ｊ３への制御信号゛γのみがＨレベルとなり
、スイッチＳ３のみがオンして０ＵＴ２端子から出力さ
れるイメージセンサ−アレイｄの信号が可変ゲインアン
プＧを通じてマイクロプロセッサ６の端子ＩＮへ送られ
る。

尚、可変ゲインアンプ・Ｇの利得の設定については後述
する。

次に第２図に示したイメージセンサアレイのブロック分
けの方法について第５図を用いて説明する。

第２図において、撮影画面に対して垂直方向に配置され
ているイメージセンサアレイｃ、ｄは水平方向に配置さ
れているイメージセンサアレイａ。

ｂに比べてフォトセンサの数が少ないのでブロック分け
は行なわず、イメージセンサアレイａ、　　ｂをブロッ
ク分けするものとする。

第５図に示されているイメージセンサアレイは一対のイ
メージセンサアレイａ、ｂの一方を表しており、ブロッ
ク分けの方法はイメージセンサ−アレイａ、ｂで同じで
ある。

ブロック分けの方法は大きく分けて２つの方法があり、
第９図（ａ）ではブロック３１．　３２゜３３がオーバ
ーラツプしないようにブロック分けされ、同図（ｂ）は
ブロック３１と３２、ブロック３２と３３で互いにオー
バーラツプする部分を持つようにブロック分けされてい
る。

このようなブロック分けによりイメージセンサアレイａ
、　　ｂはそれぞれ３つのブロック、３１ａ。

３２ａ、３３ａとプロｙｙり３１ｂ、３２ｂ、３３ｂに
分けられる。そしてブロック分けしていないイメージセ
ンサアレイＣをブロック３４Ｃ１イメージセンサ−アレ
イｄをブロック３４ｄと呼ぶことにし、この一対のイメ
ージセンサ−アレイによりブロック３４が形成されると
する。

従って焦点検出演算は、ブロック３１．　ａと３１ｂ、
ブロック３２ａと３２ｂ１ブロツク３３ａと３３ｂ１ブ
ロツク３４ｃとブロック３４ｄの４組のそれぞれから得
られた一対のデータ列を用いてマイクロプロセッサ６内
で行なわれる。また第３図に示したように、イメージセ
ンサアレイの出力はイメージセンサ−アレイａ、ｂ、ｃ
、ｄの順番：、？゛マイクロプロセツサ６送られるので
、ブロック３１ａのデータが最初にマイクロプロセッサ
６へ取り込まれ、後はブロック３２ａ、３３ａ、３１ｂ
、３２ｂ、３３ｂ、３４ｃ、３４ｄの順番にマイクロプ
ロセッサ６はデータを受は取ることとなる。

次に第１図に示したマイクロプロセッサ６の機能につい
て説明する。

マイクロプロセッサ６はイメージセンサチップ３に対し
ては第２，３図に示したように蓄積を開始させる信号の
ＣＬＲ端子への入力と、トランスファゲート１１１，１
１２．１１３に対するクロックＣＬＫＩの入力を行ない
、また第１制御部４に対してはイメージセンサチップ３
の蓄積を終了させる信号をＴＲＲ端子へ入力し、更に第
２制御部５に対しては第４図に示したように可変ゲイン
アンプの利得を設定する。

そしてマイクロプロセッサ６は第２制御部５から送られ
るイメージセンサアレイのデータをＩＮ端子より入力し
、内蔵されたＡ／Ｄ変換器によりデジタル信号に変換し
、Ａ／Ｄ変換されたデータをマイクロプロセッサ６内部
のメモリへ格納する。

ここでＡ／Ｄ変換器はマイクロプロセッサ６に内蔵せず
に外付けとしてもよいが、スペースの限られているカメ
ラにおいては内蔵タイプが望ましい。

尚、Ａ／Ｄ変換器の入力上限を越えた信号が入力される
とＡ／Ｄ変換後のデータは上限で決まる飽和データとな
ってしまい、イメージセンサアレイに投影された被写体
像が再現できない。

マイクロプロセッサ６内部ではメモリ部に格納された一
対のデータ列により焦点検出演算が行なわれるる。この
焦点検出演算方法は本出願人による特開昭６０−３７５
１３、特開昭６１−２４５１２３等において公知である
ので、ここでは簡単に説明する。

いま、一対のイメージセンサアレイのデータ列を、 ａ　（１）・・・１　（ｎ） ｈ　（１）・・・ｂ（ｎ） とすると、まず各データ列を相対的に所定のデータ分り
ずつシフトしながら相関演算を行なう。具体的には相関
量Ｃ（Ｌ）を次の式で算出する。

・・・　（１） 但し、ｊ−ｉ＝Ｌ Ｌ＝−Ｌｍ、　　＊　”　　−２，−ＣＯ，Ｃ２”　’
　ＬｍここでＬは上述のごとくデータ列のシフト量にあ
たる整数であり、初項にと最終項ｒはシフト量りに依存
させて変化させてもよい。こうして得られた相関量Ｃ（
Ｌ）の中で極小値となる相関量を与えるシフト量が合焦
点となる。

しかしながら、相関量Ｃ（Ｌ）は第６図（ａ）に示すよ
うに離散的な値であり、検出可能な最小端子はイメージ
センサ−アレイのピッチ幅によって制限されてしまう。

そこで離散的な相関量Ｃ（Ｌ）より補間演算を行なうこ
とにより、新たに極小値Ｃｅ！を計算し、綿密な焦点検
出を行なう方法が特開昭６０−３７５１３で本出願人に
よって開示されている。

この補間演算は第６図（ｂ）のように極小値である相関
量Ｃｏとその両側のシフト量での相関量Ｃ−１，Ｃ１に
よって計算する方法で、極小値Ｃｔｔを与えるシフト量
、つまり合焦点Ｆｍは次の式によって導かれる。

ＤＬ＝　（Ｃ−１−Ｃ１）／２゜ Ｃｅｘ＝ＣＯ−ｌ　ＤＬ　Ｉ Ｅ＝ＭＡＸ　（Ｃ１−ＣＯ、Ｃ−１−ＣＧ　）Ｆｍ＝Ｌ
＋ＤＬ／Ｅ　　　　　　　　　＠　１　＠　　（２）こ
こでＭＡＸ　（Ｃａ、Ｃｂ）はＣａとｃｂのうちの大な
る方を選択することを意味する。

このようにして得られた極小値Ｃｅｘが真に合焦点を示
しているのか、ノイズ等によ相関量の揺らぎによるもの
なのかを判定する必要があり、次の条件を満たしたとき
、極小値Ｃ！ｌは信頼ありとし、焦点検出演算は終了す
る。

Ｅ＞Ｅｓｊ　　かつ　Ｃｅｘ／Ｅ＜Ｃ５ｔ（Ｅｓｌ、　
　Ｃｓｔはある所定値） 尚、ここではイメージセンサ−アレイのデータをそのま
ま用いたが、本出願人による特開昭６１−２４５１２３
ではイメージセンサ−アレイのデータに対して高周波成
分カット、低周波数成分カットとい１゛たフィルタ処理
施して新たに一対のデータ列を作成し、フィルタ処理を
施したデータを用いて上記の焦点検出演算を行なう方法
を開示している。

ここで高周波成分カットの処理された一対のデータ列 １　″　（１）・・・・ｘ−（ｍ） ｂ　　−（１）　　・・・ｂ−（ｍ） はフィルタ処理前のデータ列 ｌ　（１）・・・１　（ｎ） ｂ　（１）・・・ｂ（＋＋） より次式によって計算される。

畠　”　　（ｉ　）　−（！（２ｉ−１）　＋３Ｘｉ　
　（２ｉ）＋４Ｘａ　　（２ｉ＋１）　＋３Ｘｇ　　（
２ｉ＋２）十１　　　（２ｉ＋３）　　）　　／１２ｂ
　”　　（ｉ　）　＝　（ｂ　　（２ｉ−１）　＋３ｘ
ｂ　　（２ｉ）＋４Ｘｂ　　（２ｉ＋ｌ）　＋ａｘｂ　
　（２ｉ＋２）＋ｂ　　（２＋＋３）　）　／１２ ・・・　（３） 一方、低周波成分カットの処理をされたデー・りａ’（
１）　　・・・ｂ’（ｑ） ｂ’（１）　　・・・ｂ’（ｑ） は次式によって求まる。

ａ　’　　（ｉ　）　＝−ａ　（ｉ　）　＋２ｘａ　　
（ｉ＋ｈ　）−ａ　（ｉ＋２ｈ）　＋ｏｆｆｓｅｔ ｂ’　　（ｉ　）　＝−ｂ　（ｉ　）　＋２ｘｂ　　（
ｉ＋ｈ　）−ｂ　（ｉ＋２ｈ）　＋ｏｌｌｓｅｔ （ｈ、　ｏｆｆｓｅｔは所定の自然数）　　　−−−（
４）この第（４）式でｏｌｆｓｅｌは ｇ’（ｉ）及びｂ’（ｉ） が負の値とならないように加えるオフセット量である。

この低周波カット処理は、第（４）式のようにイメージ
センサ−アレイの出力データａ　　（ｉ）、　　ｂ　　
（ｉ） に“対して行なっても、高周波成分カット処理を施した
データ ｚ　　−（ｉ）、　　ｂ　　−（１） に対して行なっても良い。そしてこのようにしてフィル
タ処理を施したデータを用いて前述の焦点検出演算を行
なうと、イメージセンサアレイのデータをそのまま使っ
て演算するよりも精度が向上する。

以上のような焦点検出演算により最高で４つの結果が得
られ、これらの結果の中より例えば最も至近を示す結果
を選択し、この選択された結果に基づいてモータ７を駆
動し、対物レンズ１を合焦−に駆動するようになる。

次に前述した構成の焦点検出装置をを前提に本発明の詳
細な説明する。

まず本発明の第１実施例は、焦点検出領域で最も輝度の
高い被写体の存在するブロックに対して適切な蓄積時間
でイメージセンサ−アレイの蓄積を行ない、この蓄積で
は適切な出力の得られないブロックに付いては、そのブ
ロックに適切な蓄積時間で蓄積しなおして焦点検出演算
に適したデータを得るようにして焦点検出演算を行なう
ものである。

この第１の実施例の動作はマイクロプロセッサ−６によ
り第７図のフローチャートに従って行なわれる。

第７図において、カメラのレリーズスイッチを半押しす
る等の操作により電源がＯＮして動作が開始される。ま
ずステップ１でイメージセンサアレイの蓄積を行なう。

このステップ１の蓄積の目的は、イメージセンサアレイ
に投影される被写体像の明暗差がどの程度かを見るため
の蓄積であり、Ａ／Ｄ変換器で飽和が起きず、かつ出力
が余りに小さすぎない程度の蓄積時間で良く、例えば図
示しないモニターフォトセンサの出力等に基づいて蓄積
時間が設定される。

ステップ１で蓄積が終了するとステップ２に進み、イメ
ージセンサアレイから信号電荷の続出を開始してデータ
を取込み、各ブロック毎にブロック内におけるピーク値
を検出しながらデータを各ブロックに対応したメモリへ
格納する。

ここでブロック３１ａ、３１ｂのピーク値をＰｌとし、
ブロック３２ａ、３２ｂのピーク値をＰ２とし、ブロッ
ク３３ａ、３３ｂのピーク値をＰ３とし、ブロック３４
ｃ、３４ｄのピーク値をＰ４とする。

続いてステップ３へ進み、ステップ２で検出されたピー
ク値の内で後のステップ８で行なう焦点検出演算に適し
ていないレベルにあるピーク値を検出する。ここでピー
ク値が焦点検出演算に適さないレベルと判定する条件は
、例えばステップ１における所定値Ｐｓの約±１５％の
範囲にないときとする。

続いてステップ４で適切でないピーク値か存在するか否
かをチェックし、ピーク値が適切でない存在するときは
ステップ５に進んで不適切さ判定されたピーク値が所定
値Ｐｓとなるブロックに適した蓄積時間を算出する。

ここでブロック３１に適した蓄積時間をＴａ２、ブロッ
ク３２に適した蓄積時間をＴ３２、ブロック３３に適し
た蓄積時間をＴａ２、ブロック３４に適した蓄積時間を
７３４とするとこれらは次の計算によってもとまる。

Ｔ３１＝ＴｒｌＸＰｓ／ＰＬ Ｔ３２＝Ｔｒ２ｘ　Ｐ　ｓ／　Ｐ　２ Ｔ３３＝Ｔｒ３ＸＰｓ／Ｐ３ Ｔ３４＝Ｔｒ４ｘＰｓ／Ｐ４　　　−−−　　（５）こ
の（５）式においてＴｒｉ、　Ｔｒ２．　Ｔｒ３．　Ｔ
ｒ４は各ブロックにおける前回の蓄積時間である。従っ
てステップ１での蓄積時間をＴｏとすると、Ｔｒｌ＝Ｔ
＋２＝Ｔｒ３＝Ｔｒ４＝Ｔ。

となる。

次にステップ５で蓄積時間の算出が終了したらステップ
６で再度蓄積時間を設定してイメージセンサアレイの蓄
積を行なう。ステップ６の蓄積が終了したらステップ７
においてステップ２と同様にイメージセンサアレイから
のデータのピーク値をブロック毎に検出しながらブロッ
ク毎に対応したメモリに格納する。但し、ステップ７に
あっては、イメージセンサアレイから第２制御部５を経
由してマイクロプロセッサ６常にブロック３１゜３２．
３３．３４全てのデータがマイクロプロセッサ６に転送
されてくるが、例えば不適切と判定されたブロック３２
に対して適正となる蓄積を行なったとすると、ブロック
３１，３３．３４のデータはメモリに格納することなく
廃棄し、ブロック３２のイメージセンサのデータ、即ち
ブロック３２ａ、３２ｂのデータのみを対応するメモリ
に格納する。この時に廃棄するブロックデータの転送は
ＣＬＫＩの周波数を通常よりも高くしてすばやく転送し
、必要なブロックのデータの転送は通常の周波数に戻し
てやることによって時間を短縮することができる。

ステップ７で不適切と判定したブロックにつき蓄積時間
の再設定により適切なデータが得られたならば再びステ
ップ３へ戻ってステップ７で検出したピーク値が適切で
ないブロックを検出し、ピーク値が適切でないブロック
が存在していたときは、同様にステップ４〜７の処理に
より蓄積時間の算出、設定、蓄積、データ入力を行ない
、全てブロックのピーク値が適切レベルとなった時には
ステップ８に進み、適切レベルと判定されてメモリに格
納されている４組の一対のデータ列によって焦点検出演
算を行なう。

このステップ８の焦点検出演算によって最大で４つの演
算結果が得られ、これらの演算結果の中よりステップ９
で例えば最も至近を示す等の結果を選択し、ステップ１
０で選択された演算結果に基づいてモータ７により対物
レンズ１を合焦位置に駆動する。続いてステップ１１で
対物レンズ１の合焦が判別されると焦点検出に関する一
連の動作を終了し、一方、非合焦の場合はステップ１に
戻り、前述の場合と同様に蓄積、メモリへの格納、焦点
検出演算といった動作を繰り返す。

ここでステップ１１における対物レンズ１が合焦したか
否かの判定は、例えばステップ１０におけるモータ７の
駆動量が所定値以下であったときに合焦と判定する。

尚、ステップＳｌｌからステップ１へ戻った２回目の蓄
積時間Ｔは次式で算出される。

Ｔ＝ＴｒｘＰｓ／Ｐｍ　　　・・・　（６）ここでＴｒ
は前回のステップ１での蓄積時間であり、Ｐｍは前回の
蓄積、演算によって合焦するべき被写体はステップ９で
選択されたブロックあるため、２回目以降は既に選択さ
れたブロックの被写体を優先して焦点検出を行なうため
、Ｐｍとしてはステップ９で選択されたブロックのピー
ク値を用いる。

このように焦点検出を行なうブロックが特定された２回
目以降については、全ブロックの焦点検出演算に適した
出力は得る必要がないため、ステップ２でデータをメモ
リへ取り込んだらステップ３．４は省略して直ちにステ
ップ８へ進んで焦点検出演算を行なうようにしても良い
。

また前記また（６）式におけるＰｍとしてはステップ２
で検出されたＰＬ、Ｐ２．Ｐ３．Ｐ４の中で最も大きな
値を示すピーク値を用いても良い。

尚、第１の実施例において第２制御部５の可変ゲインア
ンプの利得は、通常の蓄積、データ読み込みの間は一定
でよく、撮影条件が厳しい特殊な場合にゲイン制御する
。例えば被写体全体が非常に暗いときは高く、非常に明
るいときは低くなるようにゲイン制御する。

次に本発明の第２実施例を説明する。

この第２実施例はイメージセンサアレイのデ−夕転送中
に第２制御部５内の可変ゲインアンプの利得を、測距範
囲内において相対的に輝度の低い被写体の存在するブロ
ックのデータ転送中は高く設定し、相対的に輝度の高い
被写体の存在するブロックのデータ転送中は低く設定す
ることにより、全てのブロックで焦点検出演算に適した
出力を得るものである。

この第２実施例の動作を第８図のフローチャートを用い
て説明する。

まずステップ１でＧＣ端子より所定の信号を第２制御部
５へ出力することにより可変ゲインアンプの利得を基本
的な初期値Ｇｏに設定する。利得初期値Ｇｏは、可変ゲ
インアンプの利得が余りに高いとイメージセンサアレイ
の出力信号のＳ／Ｎが悪化するので、可変ゲインアンプ
の設定可能な利得でもっとも低い値を利得初期値Ｇ（＋
とする。

次にステップ２でイメージセンサアレイの蓄積を行ない
、ステップ３で各ブロック毎にピーク値を検出しながら
データを各ブロックに対応したメモリに格納する。この
ステップ２における蓄積の目的はイメージセンサアレイ
に投影される被写体像の明暗差がどの程度かを見るため
であり、従ってＡ／Ｄ変換器で飽和が起きず、かつ出力
が余りに小さすぎない程度の蓄積時間を設定すればよく
、例えば図示しないモニターフォトセンサの出力等に基
づいてステップ２の蓄積時間が設定される。

続いてステップ４で次回の蓄積時間を算出する。

このステップ４で算出する次回の蓄積時間Ｔは、ステッ
プ２で検出されたピーク値ＰＬ、Ｐ２．Ｐ＄、Ｐ４の中
で最大のものをＰｍ、前回の蓄積における蓄積時間をＴ
ｒとすると、次式で計算される。

Ｔ＝ＴｒｘＰｓ／Ｐｍ　　　・・・　（７）ここで算出
された蓄積時間Ｔでイメージセンサアレイの蓄積を行な
えば、イメージセンサアレイの全出力の中のピーク値は
略所定値Ｐｓとなる。

次にステップ５で各ブロックの出力に適したゲインを算
出する。このゲインの算出は各ブロック毎のピーク値が
所定値Ｐ’ｓとなるようにブロックピーク値、前回の蓄
積時間Ｔｒ、前回の利得更にステップ４で算出された次
回の蓄積時間Ｔに基づいて算出する。即ち、ブロック３
１，３２，３３゜３４の前回の利得をＧ＋１．　Ｇｒ２
．　Ｇｒ３．　Ｇｒ４とすると、ブロック３１，３２．
３３．３４の適正利得Ｇ１．Ｇ２．Ｇ３．Ｇ４は次式で
求まる。

Ｇ１＝ＧｒｌｘＰｓ／Ｐ１ｘＴｒ／Ｔ Ｇ２＝Ｇ＋２ｘＰｓ／Ｐ２ｘＴｒ／Ｔ Ｇ３＝Ｇｒ３ＸＰｓ／Ｐ３ＸＴｒ／Ｔ Ｇ４＝Ｇ＋４ＸＰｓ／Ｐ４ＸＴｒ／Ｔ ・・・　（８） 最初の処理においては前回の利得はステップ１で設定さ
れたＧｏとなり、従ってステップ４ではＧ　ｒｌ＝　Ｇ
　ｒ２＝　Ｇ　＋３＝　Ｇ　ｒ４＝　Ｇ　Ｏが算出され
る。

続いて、ステップ６に進み、ステップ４で算出された蓄
積時間によってイメージセンサ−アレイの蓄積を行なう
。続いてステップ７に進み、ステップ６の蓄積が終了し
てイメージセンサアレイのデータを読み込む時に、転送
されるデータが属するブロックに適した利得を可変ゲイ
ンアンプにセットする。

゛このステップ７による利得の切換えは第９図に示すよ
うに、最初に転送されるブロック３１ａのデータに対し
ては利得を０１に設定し、以後ブロック３２ａの時はＧ
２、ブロック３３ａの時はＧ３、ブロック３４ｃの時は
Ｇ４、ブロック３１ｂの時はＧ１、ブロック３２ｂの時
はＧ２、ブロック３３ｂの時はＧ３、ブロック３４ｂの
時はＧ４に設定する。

続いて、マイクロプロセッサ−６に転送されたデータは
ステップ８でブロック毎のピーク値を検出しながら各ブ
ロックに対応したメモリに格納される。続いてステップ
９で全データの入力が終了したか否かをチェックし、終
了していないときはステップ７へ戻って次のブロックの
利得の設定、メモリへの格納といった動作を繰り返し、
全ブロックデータ入力を終了するとステップ１０に進む
。

ステップ１０ではメモリに格納されいる４組の一対のブ
ロックについて焦点検出演算を行ない、この焦点検出演
算によって最大で４つの演算結果が得られ、次のステッ
プ１１で複数の演算結果の中より例えば最も至近を示す
結果を選択し、ステップ１２で選択された演算結果に基
づいてモータ７により対物レンズ１を合焦位置に駆動す
る。

続いてステップ１３で対物レンズ１の合焦を判別すると
一連の焦点検出動作を終了し、一方、非合焦を判別した
時にはステップ４に戻り、同様に蓄積、可変ゲインアン
プの利得の設定、メモリの格納、焦点検出演算の各動作
を繰り返す。

ここでステップ１３における対物レンズの合焦か否かの
判定は、例えばステップ１２におけるモータ７の駆動量
が所定値以下のときに合焦と判定する。

尚、ステップ４へ戻ったときは次式によって次回の蓄積
時間が算出される。

Ｔ＝Ｔｒ＋Ｐｓ／ＰｍＸＧｒｍ／ＧＯ ・・・　（９） ここで前回の蓄積、演算によって次回で合焦すべき被写
体はステップ１１で選択されたブロックであり、次回以
降はこの選択ブロックの被写体に対して最も精度良く焦
点検出を行なうべきである（Ｑ”Ｃ’、Ｐｍとしてステ
ップ１１で選択されブロックのピーク値を使用し、また
Ｇｒｌ！ｌとしては選択ブロックに前回使用した利得を
使用し、次回の蓄積では焦点検出演算に適したデータが
略利得ＧＯで得ることができるので、選択ブロックに存
在する被写体に対して精度良く焦点検出演算を行なうこ
とができる。

また（９）式の時Ｐｍとして、 ズステップ７で検出されたピーク値）／（ステップ５で
算出された利得） が最大となるプロ菩り、すなわち輝度の最も高い被写体
の存在するブロックにおけるピーク値とし、またＧｒｍ
として前回の選択ブロックに使用した利得を用いても良
い。

尚、第２制御部５の可変ゲインアンプの利得を連続的に
変化することができないときは、ステップ７で利得をセ
ットするときに、ステップ５で算出された利得に最も近
い値をセットしてやれば良い。

さらに、第８図に示した第２の実施例は、第５図（ｂ）
に示すように隣合ったブロックが互いにオーバーラツプ
するようなブロック分けには適用できないので、第５図
（ａ）に示すようにオーバーラツプしないブロック分け
を用いる。

次に本発明の第３実施例を説明する。この第３実施例は
、イメージセンサアレイからの出力データの相関演算に
先立って行なうフィルタ処理演算における係数を各ブロ
ックのピーク値によって変化させ、等価的に全てのブロ
ックで焦点検出演算に適したデータを生成するようにし
たものである。

例えば前記（３）式においては割り算の分母項である「
１２」を変化されることであり、また前記（４）式にお
いてはｌ＋＋ｆ！５ｅｌＪを除く部分にピーク値によっ
て定まる値の係数を乗することになる。

この第３実施例の動作を第３図のフローチャートにより
説明する。

まずステップ１でイメージセンサアレイの全出力の中の
ピークン値が略所定値Ｐｓとなるようにイメージセンサ
アレイの蓄積を行ない、蓄積終了後°にステップ２で各
ブロック毎にピーク値を検出しながらデータを対応する
メモリに格納する。この時の蓄積時間は図示しないモニ
ターフォトセンサの出力により決めるか、あるいは既に
適当な時間で蓄積を行ないれば、その結果得られた出力
から設定する。

続いてステップ３においてステップ２で検出された各ブ
ロックのピーク値ＰＬ、Ｐ２．Ｐ３．Ｐ４に基づいてフ
ィルタ処理の係数が決定される。

いま前記（３）式の高周波成分をカットするフィルタ処
理のみを行なう場合は、ブロック３１゜３２．３３．３
４のそれぞれに適した係数Ｈ１゜Ｈ２，Ｈ３，Ｈ４は次
式で与えらる。

Ｈ１”　Ｐ　Ｉ　Ｘ　１２　／　Ｐ　５Ｈ２＝Ｐ２Ｘ１
２／Ｐｓ Ｈ３＝Ｐ３Ｘ１２／Ｐｓ Ｈ４＝Ｐ４Ｘ１２／Ｐｓ　　　−−・　（１０）従って
（３）式は次のようになる。

ａ’　（ｉ）ｉｔ（２ｉ−ＩＨ３ｘｘ（２ｉ）＋４　Ｘ
ｔ（２ｉ＋１）＋３ｘｘ（２ｉ＋２）＋ａ（２ｉ＋３）
ｌ／Ｈｘｂ’　　（ｉｌｌｂ（２ｉ−１）＋３Ｘｂ（２
ｉ）＋４　　ｘｂ（２ｉ＋１）＋３ｘｂ（２ｉ＋２）＋
ｂ（２ｉ＋３）ｌ／Ｈｘ（ｘ＝１．２．　３．４）　　
　　　　・　・　・　（１１）一方、前記（４）式の低
周波成分をカットするフィルタ処理のみを行なう場合は
Ｈｌ、　Ｈ２，Ｈ３、Ｈ４は次の式で与えらる。

Ｈ１＝Ｐｓ／ＰＬ、　　　Ｈ２＝Ｐｓ／Ｐ２Ｈ３＝Ｐｓ
／Ｐ３．　　　Ｈ４＝Ｐｓ／Ｐ４・・・（１２）式 従って（４）式は次のようになる。

、ＩＩ（ｉ） ＝（−ａ（ｉ）＋２　Ｘａ（ｉ＋ｈ）−ａ（ｉ＋２ｈ）
）　ＸＨｘ＋０ＩＩｓｅｊｂ１１（Ｈ） １−ｂ（ｉ）＋２　Ｘｂ（ｉ＋ｈ）−ｂ（ｉ＋２ｈ））
　ＸＨｘ＋Ｏ＋ｆｓｅｌ（ｈ、　０ｆｆｓｅｔは所定の
自然数、　　ｘ＝１．　２．　３．　４）・・・　（１
３） 皿に、高周波成分カットと低周波成分カットの両方の処
理を施す場合は、いずれか一方のフィルタ処理に関して
係数を変えてやればよい。ここで係数Ｈはあまり大きい
と焦点検出演算が精度良く行なえないので、上限を設け
ることが望ましい。

続いてステップ４で各ブロックごとに係数を変えてフィ
ルタ処理を行ない、フィルタ処理されたデータを対応す
るメモリに格納し、ステップ５でフィルタ処理された格
ブロックのデータを用いて焦点検出演算を行なう。

このステップ５の焦点検出演算によって最大で４つの演
算結果が得られ、次のステップ６で複数９演算結果の中
から例えば最も至近を示す結果を選択し、ステップ７で
選択された演算結果に基づいてモータ７により対物レン
ズ１合焦位置に駆動する。続いてステップ８で対物レン
ズ１の合焦を判別すると焦点検出に関する一連の動作を
終了し、一方、非合焦を判別したときにはステップ９へ
進む。

ステップ９では次回の蓄積時間Ｔを次式で算出する。

Ｔ＝Ｔ　ｒ＋Ｐ　ｓ／Ｐ’ｍ　　　　　・・・（１４）
ここでＴｒは前回での蓄積時間であり、Ｐｍとしてはス
テップ６で選択されたブロックのピーク値を用いる。こ
のように既に選択されたブロックのピーク値をＰｍに設
定すると、次回の蓄積では前回選択してこれから合焦さ
せようとしているブロックのピーク値を焦点検出演算に
適した所定値Ｐｓに略一致させることができ、フィルタ
処理の係数Ｈも大きくなることが無いので焦点検出演算
が精度良く行なえる。

また前記（１４）式のＰｍとしてステップ２で検出され
たＰＬ、Ｐ２．Ｐ３．Ｐ４の中で最も大きな値を示すピ
ーク値を用いても良い。

続いてステップ１０に進んでステップ９で算出された蓄
積時間Ｔでイメージセンサアレイの蓄積を行ない、ステ
ップ２へ戻って再び同じ動作を繰り返す。

尚、第３実施例において第２制御部５の可変ゲインアン
プの利得は、通常の蓄積、データ読み込みの間は一定で
良く、撮影条件が厳しい場合に条件に応じた利得に制御
する。例えば、被写体全体が非常に暗いときは高く、非
常に明るいときは低い利得を設定する。

次に第３実施例において１つ１つのデータに対して係数
を乗じて補正するのではなく、フィルタ処理において補
正を行なっている理由を説明する。

マイクロプロセッサ６内部のＡ／Ｄ変換器は一般的に８
ビツト、または１０ビツトの分解能を有しており、マイ
クロプロセッサ６内のメモリの容量には限界があるので
、イメージセンサアレイのデータ１つに対してメモリの
１バイト（８ビツト）を割り当てるのが一般的である。

つまりイメージセンサアレイの８ビツトデータは０〜２
５５の整数値をとることになる。

従って、割り算、または小数を含む数値の掛は算によっ
て小数点以下の桁が発生しても切り捨てられてしまい、
整数部のみがメモリに残る桁落ちを生ずる。

そのため、イメージセンサアレイのデータ１つ１つに対
して係数を乗すると、この段階で桁落ちが発生し、イメ
ージセンサアレイ上に形成された被写体像を歪ませたデ
ータとなってしまう。

このような桁落ちを起こしたデータに（３）式の高周波
成分カットのフィルタ処理を行なうと、割り算の実行で
更に桁落ちが発生し、合計２回のの桁落ちが発生して焦
点検出演算の精度がかなり落ちてしまう。

しかしながら前述したの第３の実施例では、フィルタ処
理における係数をブロックのピーク値によって変化させ
て乗じているので、高周波成分カットのフィルタ処理を
行なっても桁落ちは一度である。また低周波成分カット
のフィルタ処理に関しては、掛は算により桁落ちした複
数の数値を加減算するより、加減算を行なってから掛は
算を行なう前述の第３の実施例の方がよい。

次に本発明の第４実施例について説明する。この実施例
における構成を第１３図に示すがこの構成は第１図に示
す前述の３つの実施例における構成とは若干異なる。な
お、第１３図に於て第１図と共通の部分は同じ番号をふ
ってここでの説明は省略する。第１３図と第１図との違
いは第１３図のマイクロプロセッサ６′が第１図のマイ
クロプロセッサ６におけるＧＣ端子、ＩＮ端子をそれぞ
れ複数備えている事と、可変ゲインアンプを一つ持った
第１図の第２制御部５が第１３図では複数の可変ゲイン
アンプを備えた第３制御部８に変わっている事である。

まず第３制御部８について第１４図を用いて説明する。

第１４図は第２制御部５の第４図（ｂ）に示す部分に相
当し、第４図（ａ）の部分に関しては共通であるので第
１４図では省略する。

、第３制御部８はイメージセンサアレイチップ３の０υ
ＴＯ，０ＵＴＩ、　０ＵＴ２の３つの出力端子から出力
される信号を一つにまとめ、４つの可変ゲインアンプＡ
ＧＩ、ＡＧ２．ＡＧ３．ＡＣ３に並列に接続し、マイク
ロプロセッサ６二の入力端子ＩＮＩ〜ＩＮ４へ出力する
働きをする。イメージセンサアレイチップ３の出力端子
０１１Ｔ０．０１１丁１．０ＵＴ２は第１４図のスイッ
チＳｌ、　Ｓ２．５３に接続され、スイッチＳｌ、　Ｓ
２．　Ｓ３は月１Ｊ２゜ｊ３に入力する信号によって開
閉される。それぞれのスイッチの出力端は１つにまとめ
られ、可変ゲインアンプＡＧ１〜４に接続される。可変
ゲインアンプＡＧ１〜４の利得はマイクロプロセッサ６
′のＧＣ１〜４端子からのそれぞれ複数のデジタル信号
、またはアナログ信号によって設定される様になってい
る。そして可変ゲインアンプ１〜４によって異なる利得
で増幅されたデータはそれぞれ入力端子ＩＮ１〜４から
マイクロプロセッサ６′に入力される。従ってイメージ
センサアレイを構成する一つ一つの画素の出力は同時に
４通りの利得をかけられてマイクロプロセッサ６゛に並
列に入力されることになる。

マイクロプロセッサ６′の機能の中でマイクロプロセッ
サ６と共通でない部分の動作として４つの可変ゲインア
ンプの利得の設定と、４つの入力端子からのデータ入力
の動作がある。可変ゲインアンプＡＧ１〜４の利得はそ
れぞれ前記ブロック３１〜３４のデータが焦点検出演算
に適切になるように設定される。そして入力端子１８１
〜４に同時に入力する利得の異なる４つのデータのなか
から、その画素が含まれるブロックに対応した入力端子
からのデータを選び、メモリ内に収納する。

例えばその画素がブロック３１ａ又は３１ｂに含虞れる
のであれば入力端子ＩＮＩのデータを選び、同様にブロ
ック３２ａ又は３２ｂ１ブロツク３３ａ又は３３ｂ１ブ
ロツク３４ａ又は３４ｂに含まれるときはそれぞれ入力
端子ＩＮ２．　ｌＮ３．　ｌＮ４のデータを選ぶ。もし
ブロック分割を第５図（ｂ）に示すように隣合うブロッ
クがオーバーラツプするような場合にはオーバーラツプ
した部分の画素についてはその画素が属する２つのブロ
ックに対応した２つの入力端子のデータをそれぞれメモ
リに格納すればよい。そしてそれぞれのブロックで焦点
検出演算を行なう。そして焦点検出演算により最高で４
つの結果が得られ、これらの結果の中より前述のように
例えば最も至近を示す結果を選択し、この選択された結
果に基づいてモータ７を駆動し、対物レンズ１を動かす
。

それでは第４の実施例の全体の動作について第１５図を
用いて説明する。第４の実施例は前述のように各ブロッ
クの出力に対して適切な利得をかけて入力することによ
り全てのブロックで焦点検出に適した出力を得るもので
ある。

まず就１〜４端子より所定の信号を第３制御部８へ出力
することにより各可変ゲインアンプの利得を基本的な値
ＧＯに設定する（ステップ１）。

可変ゲインアンプの利得が余りに高いとイメージセンサ
アレイの出力信号のＳ／Ｎが悪化するのでＧＯが可変ゲ
インアンプの設定可能な利得で最も低い値をとるのが良
い。そしてイメージセンサアレイの蓄積を行ない（ステ
ップ２）、各ブロック毎にピーク値を検出しながらデー
タをそのブロックに対応するメモリへ格納する（ステッ
プ３）。

この時の蓄積の目的はイメージセンサアレイに投影され
る被写体像の明暗差がどの程度かを見るための蓄積であ
るので、前述のＡ／Ｄ変換で飽和が起こらなく、かつ出
力が余りに小さすぎない程度となる蓄積時間なら良く。

この蓄積時間は例えば図示しないモニターフォトセンサ
の出力等に基づいて設定される。続いてステップ４で次
回の蓄積時間を算出しておく。ここで次回の蓄積時間Ｔ
はステップ２で検出されたＰＩ、　Ｐ２．　Ｐ３．　Ｐ
４の中で最大のものをＰｍ、前回の蓄積に於ける蓄積時
間をＴ（とすると次の式で計算される。

Ｔ＝ＴｒｘＰｓ／Ｐｍ　　　　・・・　（１３）ここで
算出された蓄積時間Ｔでイメージセンサアレイの蓄積を
行なえばイメージセンサアレイの全出力中のピーク値は
略所定値Ｐｓとなる。

ステップ５では各々のブロックの出力に掛ける利得をそ
のブロックのピーク値が所定値Ｐｓとなるようにそのブ
ロックに於けるピーク値と前回の蓄積の蓄積時間Ｔｒと
前回の利得とステップ４で算出された次回の蓄積時間Ｔ
に基づいて算出し、設定する。前回に用いた可変ゲイン
アンプＡＧＩ。

ＡＣ３，ＡＣ３，ＡＣ３の利得をそれぞれＧｒｌ、　　
Ｇｒ２゜Ｇ　ｒ３．　　Ｇ　ｒ４とするとブロック３１
．３２，３３゜３４はそれぞれに適した利得Ｇｌ、Ｇ２
．Ｇ３．Ｇ４は次の式で求まる。

Ｇｌ　＝ＧｒｌＸＰｓ／Ｐｉ　ＸＴｒ／ＴＧ２　＝Ｇｔ
２ｘＰｓ／Ｐ２　ｘＴｒ／ＴＧ３　＝Ｇｔ３ｘＰｓ／Ｐ
３　ｘＴｒ／ＴＧ４　＝Ｇｒ４ＸＰｓ／Ｐ４　ＸＴｒ／
Ｔ・　・　・　（１４） いまここでは前回の利得はステップ１で設定されたＧＯ
なので、 Ｇｒｌ＝Ｇｒ２＝Ｇｒ３＝Ｇ＋４＝ＧＯとなる。これら
０１〜Ｇ４をそれぞれＧＣ１〜ＧＣ４端子より出力して
第３制御部８の可変ゲインアンプＡＧＩ〜ＡＧ４の利得
を設定する。続いてステップ４で算出された蓄積時間に
よってイメージセンサアレイの蓄積を行なう（ステップ
６）。

そして蓄積が終了し、イメージセンサアレイのデータを
読み込むときに転送されるデータが属するブロックに対
応した入力端子からデータを読み込む（ステップ７）。

最初に転送されるブロック３１ａのデータに対しては入
力端子ＩＮＩからデータを入力し、以後ブロック３２ａ
の時はＩＮ２、ブロック３３ａの時はＩＮ３、ブロック
３４ｃの時はＩＮ４、ブロック３１ｂの時はＩＮｌ、ブ
ロック３２ｂの時はＩＮ２、ブロック３３ｂの時はＩ８
３　、ブロック３４ｂの時はＩＮ４からデータを入力す
る。そしてマイクロプロセッサ６′に転送された出力は
ブロック毎にピーク値を検出しなからブロックの対応す
るメモリに格納される（ステップ８）。ステップ９では
全データの入力が終了したかどうかを見て、終了してい
ないときはステップ７、へ戻り、データ入力、メモリへ
の格納といった動作を繰り返し、終了したときはステッ
プ１０へ進み、４組の一対のブロックについて焦点検出
演算を行なう。

焦点検出演算によって最大で４つの結果が得られ、これ
らの結果の中よりも最も至近を示す等の結果を選択しく
ステップ１１）、この選択された結果に基づいてモータ
７を駆動し対物レンズ１を動かす（ステップ１２）。そ
して対物レンズ１が合焦となったときは焦点検出に関す
る動作を終了し、そうでない時はステップ４へ戻り（ス
テップ１３）、前述の場合と同様に蓄積、可変ゲインア
ンプの利得の設定、メモリへの格納、焦点検出演算とい
った動作を繰り返す。ここで対物レンズが合焦したか否
かの判定としては例えばステップ１２に於けるモータ７
の駆動量が所定値以下であったときに合焦したと判定す
る。なおステップ４へ戻ったときは次の（１５）式によ
って次回の蓄積時間が算出される。

Ｔ＝ＴｒＸＰｓ／ＰｍＸＧｒｍ／Ｇｏ　　−−−ｃｔ５
）ここで前回の蓄積、演算によって合焦するべき被写体
はステップ１１で選択された結果を与えるブロックにあ
ることが分かっており、次回以降はこの選択された被写
体に対して最も精度良く焦点検出を行なうべきであるの
で、Ｐｍとしてステップ１１で選択された結果を与える
ブロックのピーク値、Ｇｒｍとしてそのブロックに前回
掛けた利得を用いれば次回の蓄積ではそのブロックでは
焦点検出演算に適したデータがほぼ利得ＧＯで得ること
ができるのでそのブロックに存在する被写体に対して精
度良く焦点検出演算を行なうことができる。またこの時
Ｐｍとして、 （ステップ８で検出されたピーク値）／（ステップ５で
算出された利得） が最大となるブロック、すなわち輝度の最も高い被写体
の存在するブロックに於けるピーク値、モしてＧｒｍと
して前回そのブロックに掛けた利得を用いても良い。な
お第３制御部８の可変ゲインア゛ンプの利得が連続的に
変化することができないときは、ステップ５に於て利得
をセットするときに算出された利得に最も近い値をセッ
トしてやればよい。

以上で説明した第４の実施例では、ブロック分割の数の
同じだけの可変ゲインアンプ、入力端子を備えているが
、必ずしもこれに限ることはなく例えば可変ゲインアン
プ、入力端子共に２つだけでも十分に効果はある。この
場合には最もピーク値の高いブロックと最もピーク値の
低いブロックに対してデータが適正となるように２つの
可変ゲインアンプの利得をそれぞれ設定する。そして前
記二つのブロック１．：ついてはそれぞれ適正となる利
得を設定した可変ゲインアンプの出力に対応する入力端
子のデータを選び、そのほかのブロックについては２つ
の可変ゲインアンプの出力の内、より適正に近い利得が
設定されている方の可変ゲインアンプの出力に対応した
入力端子のデータを選ぶようにすればよい。

次に本発明の第５実施例について説明する。この実施例
における構成を第１６図に示すがこの構成は第１３図に
示す前述の第４実施例における構成とは若干具なる。な
お第１６図に於て第１３図と共通の部分は同じ番号をふ
ってここでの説明は省略する。第１６図と第１３図との
違いは第１６図のマイクロプロセッサ６′が第１３図の
マイクロプロセッサ６′におけるＧＣ端子を持たないこ
とと、複数の可変ゲインアンプを備えた第３制御部８が
複数の利得固定のアンプを備えた第４制御部９に変わっ
ている点である。

まず第４制御部９について第１７図を用いて説明する。

第１７図は第２制御部５の第４図（ｂ）に示す部分に相
当し、第４図（ａ）の部分に関しては共通であるので第
１４図では省略する。

第４制御部９はイメージセンサアレイチップ３の０１ｌ
ＴＩ）、　ＯυＴｌ、　０ｔｌＴ２の３つの出力端子か
ら出力される信号を一つにまとめ、４つのアンプＡＩ、
Ａ２゜Ａ３．Ａ４に並列に接続し、マイクロプロセッサ
６′の入力端子ＩＮＩ〜Ｉ８４へ出力する働きをする。

イメージセンサアレイチップ３の出力端子０ＵＴ０．０
０７１、０ＵＴ２は第１４図のスイッチＳ１．　Ｓ２．
　Ｓ３に接続され、スイッチＳｌ、　Ｓ２．５３はＪｌ
、　Ｊ２．　Ｊ３に入力する信号によって開閉される。

それぞれのスイッチの出力端は１つにまとめられ、アン
プＡ１〜４に接続される。アンプＡ１の利得をｋａ倍と
するとアンプＡ２〜４の利得はそれぞれ２　ｋ　ａ、　
　４　ｋ　ａ、　　８　ｋａとなっている。そしてアン
プＡ１〜４によって異なる利得で増幅されたデータはそ
れぞれ入力端子ＩＮ１〜４からマイクロプロセッサ６′
に入力される。従ってイメージセンサアレイを構成する
一つ一つの画素の出力は同時に４通りの利得をかけられ
てマイクロプロセッサ６′に並列に入力されることにな
る。　　。

マイクロプロセッサ６′はイメージセンサアレイの全画
素出力中のピーク値が最も利得の低いアンプＡ１で増幅
されたときに所定の値となるように蓄積を制御する。そ
してデータ入力の際には、入力端子ＩＮ１〜４に同時に
入力する利得の異なる４つのデータのなかから、その画
素が含まれるブロックのピーク値が最も所定の値に近く
なる利得を持つアンプの出力を選び出してメモリに格納
するようにする。もしブロック分割を第５図（ｂ）に示
すように隣合うブロックがオーバーラツプするような場
合にはオーバーラツプした部分の画素についてはその画
素が属する２つのブロックに適した２つの入力端子のデ
ータをそれぞれメモリに格納すればよい。そしてそれぞ
れのブロックで焦点検出演算を行なう。そして焦点検出
演算により最高で４つの結果が得られ、これらの結果の
中より前述のように例えば最も至近を示す結果を選択し
、この選択された結果に基づいてモータ７を駆動し、対
物レンズ１を動かす。

それでは第５の実施例の全体の動作について第１８図を
用いて説明する。第５の実施例は異なる利得を持つアン
プの出力の中からブロック毎に最も適したデータを選ん
で入力することにより全てのブロックで焦点検出に適し
た出力を得るものである。

まずイメージセンサアレイの蓄積を行ない（ステップ１
）、最も利得の低いアンプＡ１の出力が入力されるＩＮ
Ｉ端子より各ブロック毎にピーク値を検出しながらデー
タ入力し、そのブロックに対応するメモリへ格納する（
ステップ２）。この時の蓄積の目的はイメージセンサア
レイに投影される被写体像の明暗差がどの程度かを見る
ための蓄積であるので、前述のＡ／Ｄ変換で飽和が起こ
らなく、かつ出力が余りに小さすぎない程度となる蓄積
時間なら良く、この蓄積時間は例えば図示しないモニタ
ーフォトセンサの出力等に基づいて設定される。続いて
ステップ３で次回の蓄積時間を算出しておく。ここで次
回の蓄積時間Ｔはステップ２で検出されたピーク値ＰＩ
、　Ｐ２．　Ｐ３．　Ｐ４の中で最大のものをＰｍ、前
回の蓄積に於ける蓄積時間をＴｒとすると次の式で計算
される。

Ｔ＝Ｔ　ｒ　ｘ　Ｐ　ｓ　／　Ｐｍ　　　　　　　−（
ｌｆｉ）ここで算出された蓄積時間Ｔでイメージセンサ
アレイの蓄積を行なえばイメージセンサアレイの全出力
中のピーク値はほぼ所定値Ｐｓとなる。

ステップ４では各々のブロックのピーク値が所定値Ｐｓ
となる理想的なアンプの利得をそのブロックに於けるピ
ーク値と前回の蓄積の蓄積時間Ｔｒと前回の利得とステ
ップ４で算出された次回の蓄積時間Ｔに基づいて算出す
る。各々のブロックにおいて前回の選択したアンプの利
得をそれぞれＧｒｌ、　　Ｇ＋２．　　Ｇ＋３．　　Ｇ
ｒ４とするとブロック３１゜３２．３３．３４のそれぞ
れに適した利得Ｇｌ、Ｇ２、Ｇ３．Ｇ４は次の式で求ま
る。

Ｇｌ　＝ＧｒｌＸＰｓ／ＰＩ　ｘＴｒ／ＴＧ２　＝Ｇｒ
２ＸＰｓ／Ｐ２　ＸＴｒ／ＴＧ３　＝Ｇ＋３ｘＰｓ／Ｐ
３　ＸＴｒ／ＴＧ４　＝Ｇ＋４ＸＰ　ｓ／Ｐ４　ｘＴ　
ｒ／Ｔ・・・（１７） いまここでは前回の利得は最も低い利得ｋａなので、 Ｇ　＋Ｉ＝　Ｇ　ｒ２＝　Ｇ　ｒ３＝　Ｇ　ｒ４＝　ｋ
　ａとなる。続いてステップ３で算出された蓄積時間に
よってイメージセンサアレイの蓄積を行なう（ステップ
５）。そして蓄積が終了し、イメージセンサアレイのデ
ータを読み込むときには転送されるデータが属するブロ
ックに適した利得を持つアンプからの出力を入力する入
力端子からデータを読み込む（ステップ６）。つまりス
テップ４で算出された理想的な利得に最も近い利得を持
つアンプからの出力を入力する入力端子を選択する。

そしてマイクロプロセッサ６′に転送されたデータはブ
ロック毎にピーク値を検出しながらブロックの対応する
メモリに格納される（ステップ７）。

ステップ８では全データの入力が終了したかどうかを見
て、終了していないときはステップ６へ戻り、データ入
力、メモリへの格納といった動作を繰り返し、終了した
ときはステップ９に進み、４組の一対のブロックについ
て焦点検出演算を行なう。焦点検出演算によって最大で
４つの結果が得られ、これらの結果の中より最も至近を
示す等の結果を選択しくステップ１０）、この選択され
た結果に基づいてモータ７を駆動し対物レンズ１を動か
す（ステップ１１）。そして対物レンズ１が合焦となっ
たときは焦点検出に関する動作を終了し、そうでない時
はステップ３へ戻り（ステップ１２）、前述の場合と同
様に蓄積、理想的なアンプの利得の算出、メモリへの格
納、焦点検出演算といった動作を繰り返す。ここで対物
レンズが合焦したか否かの判定としては例えばステップ
１１に於けるモータ７の駆動量が所定値以下であったと
きに合焦したと判定する。なおステップ３へ戻ったとき
は次の（１８）式によって次回の蓄積時間が算出される
。

Ｔ＝ＴｒＸＰｓ／ＰｍＸＧｒｍ／ｋａ　　　−１ｉｇ）
ここで前回の蓄積、演算によって合焦するべき被写体は
ステップ１０で選択された結果を与えるブロックにある
ことが分かっており、次回以降はこの選択された被写体
に対して最も精度良く焦点検出を行なうべきであるので
、Ｐｍとしてステップ１０で選択された結果を与えるブ
ロックのピーク値、Ｇｒｍとしてそのブロックに前回掛
けた利得を用いれば次回の蓄積ではそのブロックでは焦
点検出演算に適したデータが利得ｋａで得ることができ
るので、そのブロックに存在する被写体に対して精度良
く焦点検出演算を行なうことができる。またこの時Ｐｍ
として、 （ステップ７で検出されたピーク値）／（ステップ６で
選択されたアンプ利得）が最大となるブロック、即ち輝
度の最も高い被写体の存在するブロックに於けるピーク
値、そしてＧｒｍとして前回そのブロックに掛けた利得
を用いても良い。

この第５実施例では第４の実施例が可変ゲインアンプを
備えていたのに対して、利得固定のアンプを用いている
ため完全に全ブロックにおいて適正なデータが得られる
とは言えないが、利得設定を行なう端子がなく構成がシ
ンプルとなりマイクロプロセッサの負担が軽くなるとい
う利点がある。

［発明の効果コ 以上説明したように本発明によれば、測距範囲内に明暗
差のある被写体が存在するような時でも、個々のブロッ
クにおいて焦点検出演算に適したデータが得られるので
、確実に目的の被写体に対して対物レンズを高精度で合
焦させることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の装置構成の概略説明図；第２図は本発
明におけるイメージセンサ−チップの説明図； 第３図は第２図のイメージセンサアレイの動作を示した
タイミング説明図； 第４図は第１図の第２制御部の回路構成を示した回路図
； 第５図は本発明におけるイメージセンサアレイのブロッ
ク分けを示した説明図； 第６図は本発明における焦点検出演算の説明図；第７図
は本発明の第１実施例を示したフローチャート； 第８図は本発明の第２実施例を示したフローチャート； 第９図は第８図の第２実施例による可変ゲインアンプの
利得の切換えを示した説明図； 第１０図は本発明の第３実施例を示したフローチャート
： 第１１図は従来ＣＯＤイメージセンサを説明図；第１２
図は測距範囲内に明暗差の大きい被写体が存在したとき
の出力信号の変化を示した説明図；第゛１３図は本発明
の第４の実施例の構成を示す図；第１４図は第３制御部
の回路構成を示す図；第１５図は本発明の第４の実施例
の動作を表す図；第１６図は本発明の第５の実施例の構
成を示す図；第１７図は第４制御部の回路構成を示す図
；第１８図は本発明の第５の実施例の動作を表す図であ
る。 ［主要部分の符号の説明］ １：対物レンズ（撮影レンズ） ２：焦点検出光学系 ３：イメージセンサチップ ６：マイクロプロセッサ Ｇ：可変ゲインアンプ

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）焦点検出光学系により測距範囲の被写体像を２像
   に分割して一対の電荷蓄積型の光電変換素子列に投影し
   、前記測距範囲内を複数ブロックに分割して前記光電変
   換素子列の出力信号から各ブロック毎に焦点調節情報を
   演算する焦点検出装置に於いて、 前記光電変換素子列のブロック毎の出力信号が前記焦点
   調節情報の演算に適した信号レベルにあるか否か判定す
   るレベル判定手段と； 該レベル判別手段で不適切レベルと判定されたブロック
   について適切レベルを得るための蓄積時間を演算設定し
   て前記光電変換素子列から再度出力信号を得る蓄積時間
   制御手段と； 前記レベル判定手段で適切レベルと判定された出力信号
   に基づいて焦点調節情報を演算する演算手段と； を備えたことを特徴とする焦点検出装置。
2. （２）焦点検出光学系により測距範囲の被写体像を２像
   に分割して一対の電荷蓄積型の光電変換素子列に投影し
   、前記測距範囲内を複数ブロックに分割して前記光電変
   換素子列の出力信号から各ブロック毎に焦点調節情報を
   演算する焦点検出装置に於いて、 前記光電変換素子列からの出力信号を増幅する利得制御
   可能な増幅器と； 該増幅器から得られた前記光電変換素子列のブロック毎
   の出力信号が前記焦点調節情報の演算に適した信号レベ
   ルにあるか否か判定するレベル判定手段と； 該レベル判定手段で不適切レベルと判定されたブロック
   について適切レベルを得るための増幅利得を演算して前
   記増幅器に設定した後に前記光電変換素子列から再度出
   力信号を得る利得制御手段と； 前記レベル判定手段で適切レベルと判定された出力信号
   に基づいて焦点調節情報を演算する演算手段と； を備えたことを特徴とする焦点検出装置。
3. （３）焦点検出光学系により測距範囲の被写体像を２像
   に分割して一対の電荷蓄積型の光電変換素子列に投影し
   、前記測距範囲内を複数ブロックに分割し前記光電変換
   素子列の出力信号からブロック毎に焦点調節情報を演算
   し、該焦点調節情報の演算はブロック毎に得られる出力
   信号に所定のフィルタ処理を施して新たなデータ系列を
   求め該新たなデータ系列から前記焦点調節情報を演算す
   る焦点検出装置に於いて、 前記光電変換素子列のブロック毎の出力信号が前記焦点
   調節情報の演算に適した信号レベルにあるか否か判定す
   るレベル判定手段と； 該レベル判定手段で不適切レベルと判定されたブロック
   について適切レベルを得るための前記フィルタ処理の係
   数を演算設定した後に前記フィルタ処理を施して新たな
   データ系列の出力信号を演算させるフィルタ制御手段と
   ； 前記レベル判定手段で適切レベルと判定された出力信号
   に基づいて前記焦点調節情報を演算する演算手段と； を備えたことを特徴とする焦点検出装置。
4. （４）前記請求項１、２及び３の焦点検出装置のの各々
   は、複数ブロックの焦点調節情報の中から任意に選択し
   た結果が非合焦で前記撮影レンズの合焦駆動後に再度焦
   点検出を必要とする場合には、該選択結果に対応する蓄
   積時間を算出して次回の蓄積動作のために設定し、次回
   以降は該選択ブロックについてのみ焦点検出を行なって
   蓄積時間、ゲイン、及びフィルタ係数の制御を不要にし
   たことを特徴とする焦点検出装置。