JPH02298071A - 密着型イメージセンサー - Google Patents
密着型イメージセンサーInfo
- Publication number
- JPH02298071A JPH02298071A JP1119659A JP11965989A JPH02298071A JP H02298071 A JPH02298071 A JP H02298071A JP 1119659 A JP1119659 A JP 1119659A JP 11965989 A JP11965989 A JP 11965989A JP H02298071 A JPH02298071 A JP H02298071A
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- Japan
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- transparent
- insulating layer
- transparent insulating
- layer
- image sensor
- Prior art date
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ファクシミリなどに使用する密着型イメージ
センサに関する。
センサに関する。
特開昭58−127463号には、透明絶縁基板とその
上に形成された遮光層と、遮光層に設けられた採光窓と
、その近傍の遮光1上に形成された複数の光電変換素子
よりなる光電変換素子列と、少なくとも前記採光窓と光
電変換素子列とを覆うように設けられた透明保護層から
なる密着型イメージセンサが記載されている。
上に形成された遮光層と、遮光層に設けられた採光窓と
、その近傍の遮光1上に形成された複数の光電変換素子
よりなる光電変換素子列と、少なくとも前記採光窓と光
電変換素子列とを覆うように設けられた透明保護層から
なる密着型イメージセンサが記載されている。
これにより、原稿により密着型イメージセンサの表面が
傷つくのを防止できるものの摩擦により生ずる静電気の
ため正確な読取りができないという欠点があった。
傷つくのを防止できるものの摩擦により生ずる静電気の
ため正確な読取りができないという欠点があった。
特開昭62−36961号には、密着型イメージセンサ
の透明保護層として、透明絶縁層の上に透明導?!!暦
を設けたものが開示されている。これにより、当初は静
電気ノイズ防止効果を上げることができるが、透明導電
層が使用により摩耗してしまい耐久性、信頼性に乏しい
。
の透明保護層として、透明絶縁層の上に透明導?!!暦
を設けたものが開示されている。これにより、当初は静
電気ノイズ防止効果を上げることができるが、透明導電
層が使用により摩耗してしまい耐久性、信頼性に乏しい
。
日経エレクトロニクス1987年11月16日号(&4
34)には、前記透明保護層の下面に透明導電層を設け
て静電気ノイズを防止する技術が記載されている。この
技術によれば、前述の欠点を解決することができるが、
(i)この導電mをある電位(アースも含む)にする場
合電極の取出しが困難である。(if)光電変換素子あ
るいは駆動用の薄膜1−ランジスタを光電変換素子と同
一の基板に設けた場合には薄膜トランジスタの配線との
距離が近いため浮遊容量が大きくなる。
34)には、前記透明保護層の下面に透明導電層を設け
て静電気ノイズを防止する技術が記載されている。この
技術によれば、前述の欠点を解決することができるが、
(i)この導電mをある電位(アースも含む)にする場
合電極の取出しが困難である。(if)光電変換素子あ
るいは駆動用の薄膜1−ランジスタを光電変換素子と同
一の基板に設けた場合には薄膜トランジスタの配線との
距離が近いため浮遊容量が大きくなる。
このため信号のなまりが生じやすく読取り速度に制限を
受ける。
受ける。
そこで本発明は、前述の静電気ノイズをなくし、高い信
頼性、読取り性を持つセンサを提供するものである。
頼性、読取り性を持つセンサを提供するものである。
本発明の密着型イメージセンサは、透明絶縁基板と、そ
の上に形成された遮光層と、遮光層に設けられた採光窓
と、その近傍に形成された複数の光電変換素子よりなる
光な変換素子列と、少なくとも前記採光窓と光電変換素
子列とを覆うように設けられた透明保護層からなる密着
型イメージセンサにおいて、前記透明保護層が、透明絶
縁層、透明導電層、透明絶縁層よりなる積層体であるこ
とを特徴とするものである。
の上に形成された遮光層と、遮光層に設けられた採光窓
と、その近傍に形成された複数の光電変換素子よりなる
光な変換素子列と、少なくとも前記採光窓と光電変換素
子列とを覆うように設けられた透明保護層からなる密着
型イメージセンサにおいて、前記透明保護層が、透明絶
縁層、透明導電層、透明絶縁層よりなる積層体であるこ
とを特徴とするものである。
本発明を図面に基づいて説明する。
第1図は光電変換素子の一ヒ部に設けた透明絶縁層6上
に透明導電層7を設け、更に透明絶縁層8を設けたもの
である。このようにすることによって、透明1[暦8の
保護作用のため、多数回の使用に亘って静電気ノイズの
防止ができ机 また、第2図においては、透明絶DM6が薄板ガラスで
形成されている例を示すが、この場合も全く同様な効果
が得られると共に表面が平滑であるため第1図のものに
くらべて、ゴミなどの汚れがつまるおそれがない。
に透明導電層7を設け、更に透明絶縁層8を設けたもの
である。このようにすることによって、透明1[暦8の
保護作用のため、多数回の使用に亘って静電気ノイズの
防止ができ机 また、第2図においては、透明絶DM6が薄板ガラスで
形成されている例を示すが、この場合も全く同様な効果
が得られると共に表面が平滑であるため第1図のものに
くらべて、ゴミなどの汚れがつまるおそれがない。
本発明で用いることのできる透明導電層としてはS n
02 + I n 20:iおよびそれらの混合物で
あるITOなどがあり、作製法としては真空蒸着法、ス
パッタリング法などが使用できる。
02 + I n 20:iおよびそれらの混合物で
あるITOなどがあり、作製法としては真空蒸着法、ス
パッタリング法などが使用できる。
また膜厚としては200人〜1μmが適当である。
これよりも薄いと静電気防止効果が実質的になくなり、
また余り厚いと光透過率が低試し充電変換素子の実動感
度を低下させる。
また余り厚いと光透過率が低試し充電変換素子の実動感
度を低下させる。
この上に設ける透明絶縁層としてはS i O2゜、S
iN、5iON、AQ、03膜などが使用できる。作製
法としてはCVD、スパッタリング法などが好適に用い
ることができる。また膜厚としては0.3〜5μmの範
囲が適当である。これよりも薄いとM粍に対する保護性
が失なわれ、またこれ以上厚い場合は、原稿と光電変換
素子との距離の影響が生じ、読み取り精度を低下させる
。
iN、5iON、AQ、03膜などが使用できる。作製
法としてはCVD、スパッタリング法などが好適に用い
ることができる。また膜厚としては0.3〜5μmの範
囲が適当である。これよりも薄いとM粍に対する保護性
が失なわれ、またこれ以上厚い場合は、原稿と光電変換
素子との距離の影響が生じ、読み取り精度を低下させる
。
また本発明の別の例を第3図に示す。これは光電変換素
子の選択用の回路素子を同一基板に薄膜1〜ランジスタ
12を形成したものである。この薄膜トランジスタ駆動
型においては本発明はとくに有効である。なお、10は
層間絶縁層であり、6は薄板ガラスからなる透明保護層
である〔実施例〕 (1)石英基板上に減圧CVD法でポリシリコン膜を形
成し、これをフォトリソエツチング法で加工する。
子の選択用の回路素子を同一基板に薄膜1〜ランジスタ
12を形成したものである。この薄膜トランジスタ駆動
型においては本発明はとくに有効である。なお、10は
層間絶縁層であり、6は薄板ガラスからなる透明保護層
である〔実施例〕 (1)石英基板上に減圧CVD法でポリシリコン膜を形
成し、これをフォトリソエツチング法で加工する。
(2)ポリシリコンを1020℃で加熱し、ゲート酸化
膜を形成する。
膜を形成する。
(3) この表面にポリシリコンを減圧CVD法でI
I摸する。
I摸する。
(4) ボロシリケートガラス溶液を塗布乾燥し、9
00℃で拡散することによりポリシリコンにボロンをド
ーピングする。
00℃で拡散することによりポリシリコンにボロンをド
ーピングする。
(5) フォトリソエツチングにより前記ボロンドー
プシリコン層を加工し、ゲート配線を形成する。
プシリコン層を加工し、ゲート配線を形成する。
(6) レジス1へパターンを形成し、イオン注入法
でリンをドーピングし、n型薄膜トランジスタ(TPT
)のソース・ドレインを形成する。
でリンをドーピングし、n型薄膜トランジスタ(TPT
)のソース・ドレインを形成する。
(7) 同じ(Iノジスl−パターンを形成し、ボロ
ンをドーピングし、P型TFTのソース・ドレインを形
成する。
ンをドーピングし、P型TFTのソース・ドレインを形
成する。
(8) 900℃に加熱し、ソース・ドレインのドー
ピング剤の活性化を行う。
ピング剤の活性化を行う。
(9)減圧CVD法で層間絶縁膜の5in2を形成する
。
。
(10)水素ガスのプラズマ放電にさらすことによりポ
リシリコンの欠陥を補償する。
リシリコンの欠陥を補償する。
このようにして’I’ F TのシフトIノジスタ及び
光電変換素子選択用のアナログスイッチを形成する。
光電変換素子選択用のアナログスイッチを形成する。
(]I1 その後Cr電極形成及びパターンニングを
行う。
行う。
(I2)プラズマCVD法によるa−3i膜形成パター
ンニングを行う。
ンニングを行う。
(13) プラズマCVD法による5iON膜の層間
絶縁膜形成及びコンタクトホール形成を行う。
絶縁膜形成及びコンタクトホール形成を行う。
(14) AQの上部電極形成及びパターンニングを
行う。
行う。
(15) プラズマCVD法によるSiN膜の保護膜
を形成する。
を形成する。
(16)別途50μm厚のガラスにITOを001μm
スパッタリング法で形成し、更にSiNをプラズマCV
D法で005μm形成したものを、エポキシ接着剤で貼
りつけた。
スパッタリング法で形成し、更にSiNをプラズマCV
D法で005μm形成したものを、エポキシ接着剤で貼
りつけた。
このようにして光電変換素子密度8素子/mn+、読み
取り[11210mmのイメージセンサ−を作製した。
取り[11210mmのイメージセンサ−を作製した。
このようにして得られたセンサーを蛍光灯を光源として
、完全密着型スキャナーユニットとして評価した。
、完全密着型スキャナーユニットとして評価した。
その結果2.5m5ec/ Qの速度まで良好なS/N
が得られた。また原稿をI2万枚まで通紙しても特性に
全く変化がなかった。これに比べて、前記(16)で透
明導電体が基板側に向くように貼りつけたものでは5
m5ec/ 12の速度しか得られなかった。
が得られた。また原稿をI2万枚まで通紙しても特性に
全く変化がなかった。これに比べて、前記(16)で透
明導電体が基板側に向くように貼りつけたものでは5
m5ec/ 12の速度しか得られなかった。
また(16)でSiNの無いものは原稿通紙枚数が3万
枚以上ではノイズの上昇が顕著となった。
枚以上ではノイズの上昇が顕著となった。
本発明の構造により、静電気ノイズ防止効果が確実にか
つ長期間にわたって得られる。また光電変換素子ないし
は薄膜トランジスタで駆動するものにあってはそれを含
めた配線部と透明導電体との距離が大きいので、これら
の間に生じる浮遊容量が小さく、高速駆動が可能となる
。
つ長期間にわたって得られる。また光電変換素子ないし
は薄膜トランジスタで駆動するものにあってはそれを含
めた配線部と透明導電体との距離が大きいので、これら
の間に生じる浮遊容量が小さく、高速駆動が可能となる
。
第1図、第2図は、本発明の密着型イメージセンサの具
体例を示す断面図である。 第3図は、密着型イメージセンサとその離動回路を同−
基体上に形成した場合の本発明の1例を示す。 l・・・透明基体 2・・・下部電極3・・・光
電変換素子 4・・・透明絶aWJ5・・・上部電極
6・・・透明#@縁層7・・・透明導電層
8・・・透明絶縁層10・・・層間絶縁層 11
・・・接着層12・・・薄膜トランジスタ
体例を示す断面図である。 第3図は、密着型イメージセンサとその離動回路を同−
基体上に形成した場合の本発明の1例を示す。 l・・・透明基体 2・・・下部電極3・・・光
電変換素子 4・・・透明絶aWJ5・・・上部電極
6・・・透明#@縁層7・・・透明導電層
8・・・透明絶縁層10・・・層間絶縁層 11
・・・接着層12・・・薄膜トランジスタ
Claims (1)
- 1、透明絶縁基板と、その上に形成された遮光層と、遮
光層に設けられた採光窓と、その近傍に形成された複数
の光電変換素子よりなる光電変換素子列と、少なくとも
前記採光窓と光電変換素子列とを覆うように設けられた
透明保護層からなる密着型イメージセンサにおいて、前
記透明保護層が、透明絶縁層、透明導電層、透明絶縁層
よりなる積層体であることを特徴とする密着型イメージ
センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1119659A JPH02298071A (ja) | 1989-05-12 | 1989-05-12 | 密着型イメージセンサー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1119659A JPH02298071A (ja) | 1989-05-12 | 1989-05-12 | 密着型イメージセンサー |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02298071A true JPH02298071A (ja) | 1990-12-10 |
Family
ID=14766898
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1119659A Pending JPH02298071A (ja) | 1989-05-12 | 1989-05-12 | 密着型イメージセンサー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02298071A (ja) |
-
1989
- 1989-05-12 JP JP1119659A patent/JPH02298071A/ja active Pending
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