JPH0233128Y2 - - Google Patents

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JPH0233128Y2
JPH0233128Y2 JP1981193476U JP19347681U JPH0233128Y2 JP H0233128 Y2 JPH0233128 Y2 JP H0233128Y2 JP 1981193476 U JP1981193476 U JP 1981193476U JP 19347681 U JP19347681 U JP 19347681U JP H0233128 Y2 JPH0233128 Y2 JP H0233128Y2
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  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、被測定物と接する検知手段の移動位
置から例えば被測定物の孔径等を計測する計測装
置に関するものである。 従来、マシニングセンタに自動計測機能を付加
する際に、検出器として接点型の検出器を使用し
た場合、その検出器が被測定物としてのワークに
接したときに発生する接触信号で機械に装着され
ている座標スケール、例えばインダクトシンやレ
ゾルバ等の値を読み取ることが必要である。この
接触信号は機械が移動中に発生するので、信号伝
達系の遅れ(電気信号の遅れ、接触信号を演算処
理部へ取込むときの認識遅れ等)があると、機械
が行きすぎた点の座標を読みとることになる。こ
の誤差は、機械の送り速度が速くなるほど大きく
なる。 このようなことから、精度の高い計測を行うた
めには機械の送り速度をできるだけ遅くすればよ
いわけであるが、機械の送り速度を遅くすると、
計測に時間がかかりすぎ実用的でないという難点
が生じる。 一方、このようにワークと検出器との接触を伴
う計測方式の場合、ワークの計測位置に例えば切
粉等の異物が付着していると、大きな計測誤差を
生じる問題がある。従つて、このような問題を防
ぐためには計測する前にワークに付着している異
物を除去すればよいが、特に加工機械上での自動
計測では実際上困難な作業である。 本考案の目的は、このような2つの課題を同時
に解決すること、つまり計測精度を維持しつつ計
測能率を向上させ、かつ異物による計測誤差をな
くす計測装置を提供することにある。 本考案の計測装置は、被測定物との接触および
離脱に伴い検知信号を発生する検知手段と、この
検知手段と被測定物とを相対移動させる駆動手段
と、この駆動手段に前記相対移動に関する指令値
データを出力する指令手段と、前記検知手段と被
測定物との相対位置を検出しその相対位置データ
を出力する位置検出手段と、前記検知信号に基づ
き駆動手段を制御して被測定物と検知手段との接
触位置を計測する制御手段とを設ける。そして、
制御手段として、前記接触に伴う検知信号を受け
た際に接触状態信号を出力する接触状態指示手段
と、予め設定された一定の制動距離を記憶する制
動距離記憶手段と、前記被測定物と検知手段とを
第一速度で近接方向に相対移動させかつ前記接触
状態信号を受けた際に同方向に前記制動距離だけ
相対移動させる第一移動指令手段と、前記第一移
動指令手段に続いて起動されて前記被測定物と検
知手段とを第二速度で逆方向に前記制動距離だけ
相対移動させる第二移動指令手段と、前記第二移
動指令手段に続いて起動されて前記検知信号が接
触状態ならば前記逆方向を指定しかつ前記検知信
号が離脱状態ならば前記近接方向を指定する計測
方向判定手段と、前記計測方向判定手段に続いて
起動されて指定された方向に前記被測定物と検知
手段とを前記第一速度および第二速度よりも低速
の第三速度で相対移動させる第三移動指令手段
と、前記第三移動指令手段とともに起動されて前
記検知信号が接触または離脱の何れかに変化した
際に前記相対位置データを計測位置として出力す
る計測位置出力手段と、を設ける。 このような構成により、被測定物と検知手段と
は、まず第一速度で近接され、接触したのち同方
向に所定距離行き過ぎ、それまでとは逆方向に第
二速度で所定距離戻される。そして、この時点で
の接触状態に応じて計測方向が選択され、接触し
ていれば逆方向つまり離脱する方向へ、離脱して
いれば近接方向つまり再度接触する方向へ、それ
ぞれ低速の第三速度で移動され、この移動の間に
離脱または再度接触した時点で接触位置が計測さ
れる。つまり、位置計測を行う際の第三速度を低
速にすることで精度を確保するとともに、第三速
度で移動する距離を短い区間に限定し、他の区間
での移動速度を高めて全体として迅速な動作を実
現し、さらに異物の有無による影響を自動的に回
避できるようにして上記目的を達成しようとする
ものである。 要するに、検知手段と被測定物との間に異物が
あれば逆方向への相対移動により脱落した状態に
あるためそのときの状態を判別し、検知信号が接
触に伴う信号つまり異物が無い状態のときは検知
手段と被測定物とを離れる方向へ、検知信号が離
脱に伴う信号つまり異物が有る状態のときは検知
信号と被測定物とを接する方向へそれぞれ相対移
動させることにより、異物による計測誤差をなく
し、またこれら相対移動の各工程を区分けするこ
とにより検知工程のみを低速度に、他を高速度と
することを可能にし、計測精度を維持しつつ計測
能率の向上を達成しようとするものである。 以下、本考案の一実施例を図面について説明す
る。 第1図は本実施例の全体のシステムを示してい
る。同システムは、被測定物としての工作物Wの
計測方向、つまり本実施例では穴Hの直径方向
(以下、x方向とする)に対して、例えばマシニ
ングセンタに装着された検知手段としての接点型
或いは圧電素子等からなる接触検出器1が駆動装
置2の作動によつて往復移動できるようになつて
いる。検出器1は、先端に前記工作物Wと接する
プローブ1Aを備え、このプローブ1Aが工作物
Wに接している間、信号検出回路3を通じて検知
信号を本発明の要部である制御手段としての制御
部4へ与える。制御部4は、前記信号検出回路3
を通じて与えられる検知信号に基づき、予め設定
された処理手順に従つてNC装置5へ各種の制御
信号を与えるとともに、所定の条件下において、
そのNC装置5へ入力されているデータを取込む
ようになつている。NC装置5は、前記検出器1
の移動位置を表わすところの駆動装置2に取付け
られた位置検出置6からの位置データ(Position
Feedback Signal、以下PFSという)と指令値デ
ータとの差に基づき前記駆動装置2を駆動させる
とともに、前記制御部4からの制御信号に従つて
その駆動を制御する。 第2図は前記制御部4とNC装置5との回路構
成を示している。前記NC装置5には、指令手段
および第一ないし第三の移動指令手段を兼ねる
NC装置要部51と、第1、第2の記憶手段5
2,53と、加算部54と、差レジスタ55とが
含まれている。前記NC装置要部51には、シー
ケンス情報を扱うシーケンス部51A、テープ読
取部7からのデータをデコードするデコード部5
1Bおよび一定時間毎に移動指令値(Δx/Δt)
を出力する補間演算部51C等が含まれている。
また、前記第1の記憶手段52は、前記位置検出
装置6からの逐次入力される位置データPFSを順
次記憶するフイードバツクカウンタで構成されて
いる。また、前記第2の記憶手段53は、前記
NC装置要部51の補間演算部51Aから一定時
間毎に出力される移動指令値Δx/Δtを順次加
算、記憶する指令値カウンタによつて構成されて
いる。これら第1、第2の記憶手段52,53の
差は、前記加算部54を介して差レジスタ55
に、いわゆるサーボエラー量SVEとして与えら
れる。このサーボエラー量SVEは、D/A変換
部を含む前記駆動装置2に与えられる。ちなみ
に、前記加算部54および差レジスタ55は可逆
カウンタとして構成することができる。 前記制御部4は、前記信号検出回路3からの検
知信号がアンド回路21,22にそれぞれ入力さ
れるようになつているとともに、インバータ23
を介してアンド回路24に入力されるようになつ
ている。前記アンド回路21には、前記検知信号
のほかに、タイマ回路25から一定時間Δt毎に
出力されるクロツク信号およびフリツプフロツプ
26のセツト出力端Qからの信号がそれぞれ入力
されている。また、このアンド回路21からの出
力は、前記フリツプフロツプ26をリセツトし、
かつ前記NC装置要部51にその指令値Δx/Δt
の分配を停止させるための停止指令信号STPと
して入力されているとともに、ゲート回路27に
与えられている。 ここにおいて、アンド回路21およびフリツプ
フロツプ26により接触状態指示手段が構成さ
れ、アンド回路21のH出力が接触状態信号とな
る。 ゲート回路27は、前記アンド回路21からの
出力がHレベル(論理値1)になつたとき、予め
制動距離記憶手段である第3の記憶手段28に記
憶された一定の制動距離ΔXTを前記NC装置要部
51に与えるようになつている。これにより、
NC装置要部51は、第3の記憶手段28からの
制動距離ΔXTに基づく一定寸法検出器1を同方向
へ移動させた後停止させ、再びその制動距離ΔXT
に基づく一定寸法検出器1を逆方向へ移動させ
る。 また、前記アンド回路22,24には、前記信
号検出回路3からの信号のほかに、前記NC装置
要部51から前記制動距離ΔXTに基づく動作終
了後一定時間出力される判別指令信号HSが入力
されている。そして、各アンド回路22,24の
出力端にはそれぞれフリツプフロツプ29,30
のセツト入力端Sが接続されている。一方のフリ
ツプフロツプ29のセツト出力端Qからの信号
は、前記NC装置要部51に対して前記検出器1
が工作物Wから離れる方向へ前記駆動装置2を駆
動させるための順送り指令信号FSとして入力さ
れているとともに、アンド回路31に与えられて
いる。また、前記他方のフリツプフロツプ30の
セツト出力端Qからの信号は、前記NC装置要部
51に対して前記検出器1が工作物Wに接する方
向へ前記駆動装置2を駆動させるための逆送り指
令信号RSとして出力されているとともに、アン
ド回路33に与えられている。 ここにおいて、アンド回路22,24およびフ
リツプフロツプ29,30により計測方向判定手
段が構成され、順送り指令信号FSまたは逆送り
指令信号RSにより計測方向が指定される。 一方、アンド回路31には、順送り指令信号
FSの他に、信号検出回路3からの検知信号がイ
ンバータ32で反転された信号、およびタイマー
回路25からのクロツク信号がそれぞれ入力され
ている。また、アンド回路31には、逆送り指令
信号RSの他に、信号検出回路3からの検知信号、
およびタイマー回路25からのクロツク信号がそ
れぞれ入力されている。これらのアンド回路3
1,33からの出力はオア回路34を通つてゲー
ト回路35に与えられている。ゲート回路35
は、前記アンド回路31,33のいずれかの出力
がHレベルになつたとき開放され、前記第1の記
憶手段52のデータを第4の記憶手段36へ取込
む。 ここにおいて、アンド回路31,33ないし第
4の記憶手段により計測位置出力手段が構成さ
れ、第4の記憶手段36に取込まれたデータは、
計測値として例えば表示器等へ出力される。 なお前記フリツプフロツプ26は前記NC装置
要部のシーケンス部51Aからの初期設定指令信
号SSによりセツト状態に設定される。また、前
記フリツプフロツプ29,30は、オア回路37
を介して与えられる前記NC装置要部51のシー
ケンス部51Aからの指令信号SSおよび前記オ
ア回路34からの出力により、それぞれリセツト
される。 次に、本実施例の作用を第3図をも参照して説
明する。 まず、NC装置要部51のシーケンス部51A
からの初期設定指令信号SSによりフリツプフロ
ツプ26をセツト状態に、フリツプフロツプ2
9,30をリセツト状態にそれぞれ初期設定した
後、NC装置要部51からの指令により、駆動装
置2を介して検出器1を測定開始点となる基準位
置P0から高速の第一速度V1で移動させると(第
3図参照)、位置データPFSが駆動装置2に取付
けられた位置検出装置6から逐次与えられ、その
位置データPFSが第1の記憶手段52に記憶され
ていく。 一方、検出器1が速度V1で移動する過程にお
いて、プローブ1Aが工作物Wと接、する位置P
に達すると、信号検出回路3を通じてHレベルの
検知信号(接触信号)が制御部4のアンド回路2
1へ与えられる。このとき、工作物Wの被測定面
に例えば切粉等の異物が付着していると、プロー
ブ1Aがその異物と接する位置P′、つまり工作物
Wの真の被測定面と接する位置より手前の時点で
Hレベルの検知信号がアンド回路21に与えられ
る。アンド回路21は、フリツプフロツプ26が
セツトされた状態つまりそのセツト出力端Qから
Hレベルの信号が与えられている状態にあるか
ら、タイマ回路25からのクロツク信号が与えら
れたとき、Hレベルの出力を発生する。すると、
そのアンド回路21からのHレベルの出力によ
り、フリツプフロツプ26がリセツトされると同
時に、NC装置要部51に対して停止指令信号
STPが与えられる。これにより、NC装置要部5
1の補間演算部51Cから第2の記憶手段53へ
の指令値Δx/Δtの分配が停止される。更に、ア
ンド回路21からのHレベルの出力によりゲート
回路27が開放される。すると、第3の記憶手段
28の制動距離ΔXTがNC装置要部51に与えら
れ、第2の記憶手段53にセツトされる。従つ
て、検出器1は、駆動手段2により、第1の記憶
手段52と第2の記憶手段53とのデータの差が
零になる位置P1、もしくはP1′まで移動されて停
止される。つまり、制動距離ΔXTに基づく一定寸
法だけ移動されて停止される。なお、制動距離
ΔXTは、第一速度V1におけるSVE等、予め機械
が安全に停止できる距離に設定されている。 ここで、検出器1のプローブ1Aが工作物Wと
接し、それに伴う検知信号が出力されてから停止
するまでの検出器1の行きすぎ量lは、 l=ΔXT+V1・Δt …(1) で表わされる。ここで、V1・Δt1は、制動にあた
つて生じる遅れ誤差Δt1に伴う停止位置のずれ量
であり、Δt1は、検出器1のプローブ1Aが工作
物Wに接して検知信号が出力された時点からタイ
マ回路25のクロツク信号が与えられるまでの時
間つまり制御部4が検知信号を認識するまでの遅
れで、少なくともクロツク信号の周期Δtより小
さい。 次に、検出器1が停止した位置P1、もしくは
P1′から検出器1を、前記制動距離ΔXTに基づく
寸法だけ逆方向へ比較的高速の第二速度V2で移
動させる。この移動が停止すると、NC装置要部
51からは判別指令信号HSが制御部4のアンド
回路22,24に与えられる。ここで、アンド回
路22,24は、信号検出回路3を通じて与えら
れる検知信号がHレベルであるか、Lレベルであ
るかを判別する。通常、はじめにプローブ1Aが
接触信号を出力したとき、工作物Wとプローブ1
Aとの間に異物が介在されていない場合には、プ
ローブ1Aが工作物Wに実際に接触してから制御
部4が接触を認識するまでの時間遅れがあるた
め、Hレベルの検知信号、つまりプローブ1Aが
工作物Wに接触している状態にあるが、工作物W
とプローブ1Aとの間に異物が介在されていた場
合には、そのプローブ1Aが異物に接触した際そ
の接触に伴つて異物が脱落するためLレベルの検
知信号、つまりプローブ1Aが工作物Wから離れ
た状態にある。 いま、はじめにプローブ1Aが接触信号を出力
したとき異物が無かつたとすると、Hレベルの検
知信号がアンド回路22に与えられている状態に
あるから、アンド回路22からTレベルの信号が
出力される。すると、フリツプフロツプ29がセ
ツトされるため、そのフリツプフロツプ29のセ
ツト出力端QからのHレベルの信号がアンド回路
31へ与えられるとともに、順送り指令信号FS
としてNC装置要部51に与えられる。これによ
り、NC装置要部51は、前行程で検出器1を
ΔXTだけ逆方向へ移動させた位置P2から、検出
器1も低もしくは微小速度である第三速度V3で
同方向へ移動させる。 検出器1が速度V3で移動する過程において、
そのプローブ1Aが工作物Wから離脱する位置P
に達すると、信号検出回路3を通じてLレベルの
検知信号(離脱信号)が制御部4のインバータ3
2で反転された後、アンド回路31へ与えられ
る。アンド回路31は、フリツプフロツプ29が
セツトされた状態つまりセツト出力端QからHレ
ベルの信号が与えられている状態にあるから、タ
イマ回路25からのクロツク信号が与えられたと
き、Hレベルの出力を発生する。すると、このア
ンド回路31からのHレベルの出力により、ゲー
ト回路35が開放され、この時の第1の記憶手段
52の位置データが第4の記憶手段36へ記憶さ
れると同時に、フリツプフロツプ29がリセツト
され、初期状態とされる。この後、第4の記憶手
段36に記憶されたデータは、計測値として例え
ば表示器等に表示することができる。 ここで、検出器1のプローブ1Aが工作物Wか
ら離脱し、その際の検知信号が出力された時点か
ら、その検知信号を認識するまでの間Δt2(Δt)
における検出器1の行きすぎ量つまり誤差δは、 δ=V3・Δt2 …(2) で表わされる。従つて、速度V3を低速もしくは
微小速度とすれば、誤差δをきわめて小さくする
ことができる。また、速度V2については測定に
無関係であるから速い送りとし、速度V1につい
ては多少誤差があつてもよいので、最も速い検出
器1の許容速度とすれば、速度V3も低送もしく
は微小速度としたとしてもその移動距離が僅かな
範囲に限られるため、計測精度を落すことなく、
かつ計測能率を上げることが可能である。 一方、前記アンド回路22,24における判別
において、はじめにプローブ1Aが接触信号を出
力したとき異物が有り、その異物がΔXTだけの逆
方向移動時に落下しプローブ1Aが工作物Wから
離れたとすると、信号検出回路3からはLレベル
の検知信号が出力されている。従つて、アンド回
路24にはその反転信号が与えられている状態に
あるから、アンド回路24からのHレベルの信号
が出力される。すると、フリツプフロツプ30が
セツトされるため、このフリツプフロツプ30の
セツト出力端QからのHレベルの信号がアンド回
路33に与えられるとともに、逆送り指令信号
RSとしてNC装置要部51に与えられる。これに
より、NC装置要部51は、前行程で検出器1を
ΔXTだけ逆方向へ移動させた位置P2′から、検出
器1を低もしくは微小速度である第三速度V3で
前行程とは逆方向、つまり、工作物Wに当接する
方向に移動させる。 検出器1が速度V3で移動する過程において、
そのプローブ1Aが工作物Wに接する位置Pに達
すると、信号検出回路3を通じてHレベルの検知
信号が制御部4のアンド回路33へ与えられる。
アンド回路33は、フリツプフロツプ30がセツ
トされた状態つまりセツト出力端QからHレベル
の信号が与えられている状態にあるから、タイマ
回路25からのクロツク信号が与えられたとき、
Hレベルの出力を発生する。すると、このアンド
回路33からのHレベルの出力により、前記と同
様にゲート回路35が開放され、この時の第1記
憶手段52の位置データが第4の記憶手段36へ
記憶されると同時に、フリツプフロツプ29がリ
セツトされ初期状態に設定される。 従つて、工作物Wに異物が付着している場合で
も、ΔXTだけ逆方向へ移動した時点で、それを判
別し、再びプローブ1Aが工作物Wに接する方向
へ移動させて計測する結果、異物に伴う計測誤差
を防止できる。また、この場合の計測能率につい
ては、異物の大きさにもよるが、工作物Wに付着
する程度の異物であることを考えれば、前述した
例と略同程度の高能率が達成できる。 なお、以上の説明ではプローブ1Aの接触端の
径を無視したが、実際にはその接触端の径を補正
する必要がある。また、計測の対象としては、穴
径の計測のほか、穴芯の測定、自動芯出し、同芯
穴加工等に利用することができる。 また、前記実施例における第2図では、制御部
4をハードウエアとしての論理回路による構成を
示したが、最近の如く、CNC(Computerized
Numerical Control device)タイプの数値制
御装置の場合には、制御部4を具体的な論理回路
の構成とする必要がなくなり、一群のプログラム
指令に置換えることができる。こうしたプログラ
ム指令群はCNC装置において、サブプログラム
としてΔtごとの割込み信号に応答して読み出さ
れ、実行される。 そこで、このプログラム指令の主なステツプを
説明する。 今、機械(検出器)が速度V1で移動中におい
て、割込み信号が与えられると、信号検出回路3
の出力の有無がチエツクされ、この信号検出回路
3の出力が“有”のときには、CNC装置内での
補間演算を停止させるとともに、機械をΔXTだけ
移動させた後停止させる。この後、ΔXTを機械の
駆動系に指令値として与え、機械を前記速度V1
での移動方向とは逆方向に速度V2で移動させる
ように指令する。 ついで、ΔXT分の移動が終ると、信号検出回路
3の出力の有無をチエツクし、それが“有”のと
きには低(微)速度V3で速度V2と同一方向への
移動指令を、“無”のときには低(微)速度V3で
速度V2とは逆方向への移動指令を与える。この
低速度V3での移動中に、信号検出回路3の出力
の変化をチエツクし、変化していたらコマンドパ
ルス(Δx/Δt)の供給を停止させる。そして、
このときの第1の記憶手段の内容を出力用のレジ
スタ等へ転送し、必要ならその値を表示させるよ
うに指令する。 以上、プログラム指令の中の主なものを説明し
たが、熟練したプログラマーであれば、第2図を
参照することによつて、割込み指令に応答して作
動する一連のプログラムを作成することは容易で
ある。 また、前記実施例では、マシニングセンタに装
着するようにしたが、本考案はこれに限られるも
のではなく、例えばNC横中ぐり盤等でも可能で
あり、さらには工作機械に限らず一般の計測装
置、例えば座標測定装置にも適用できる。 上述のように、本考案によれば、計測精度を維
持しつつ計測能率を向上させることができ、更に
異物による計測誤差をなくすことができる計測装
置を提供できるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
図は本考案の一実施例を示すもので、第1図は
全体のシステムを示す説明図、第2図は制御部と
NC装置の回路構成を示す回路図、第3図は検出
器の移動を示す説明図である。 1……検知手段としての検出器、2……駆動手
段としての駆動装置、4……制御手段としての制
御部、5……NC装置、6……位置検出手段とし
ての位置検出装置、21,26……接触状態指示
手段であるアンド回路およびフリツプフロツプ、
22,24,29,30……計測方向判定手段で
あるアンド回路およびフリツプフロツプ、28…
…制動距離記憶手段である…第3の記憶手段、3
1,33,36……計測位置出力手段を構成する
アンド回路および第4の記憶手段、51……指令
手段および第一ないし第三の移動指令手段を兼ね
るNC装置要部。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 被測定物との接触および離脱に伴い検知信号を
    発生する検知手段と、この検知手段と被測定物と
    を相対移動させる駆動手段と、この駆動手段に前
    記相対移動に関する指令値データを出力する指令
    手段と、前記検知手段と被測定物との相対位置を
    検出しその相対位置データを出力する位置検出手
    段と、前記検知信号に基づき駆動手段を制御して
    被測定物と検知手段との接触位置を計測する制御
    手段とを備え、この制御手段は、 前記接触に伴う検知信号を受けた際に接触状態
    信号を出力する接触状態指示手段と、 予め設定された一定の制動距離を記憶する制動
    距離記憶手段と、 前記被測定物と検知手段とを第一速度で近接方
    向に相対移動させかつ前記接触状態信号を受けた
    際に同方向に前記制動距離だけ相対移動させる第
    一移動指令手段と、 前記第一移動指令手段に続いて起動されて前記
    被測定物と検知手段とを第二速度で逆方向に前記
    制動距離だけ相対移動させる第二移動指令手段
    と、 前記第二移動指令手段に続いて起動されて前記
    検知信号が接触状態ならば前記逆方向を指定しか
    つ前記検知信号が離脱状態ならば前記近接方向を
    指定する計測方向判定手段と、 前記計測方向判定手段に続いて起動されて指定
    された方向に前記被測定物と検知手段とを前記第
    一速度および第二速度よりも低速の第三速度で相
    対移動させる第三移動指令手段と、 前記第三移動指令手段とともに起動されて前記
    検知信号が接触または離脱の何れかに変化した際
    に前記相対位置データを計測位置として出力する
    計測位置出力手段と、 を備えていることを特徴とする計測装置。
JP19347681U 1981-12-28 1981-12-28 計測装置 Granted JPS5899612U (ja)

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JPS5899612U JPS5899612U (ja) 1983-07-06
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JPS53149354A (en) * 1977-06-01 1978-12-26 Mitsubishi Electric Corp Position detector
US4334266A (en) * 1980-04-21 1982-06-08 Westinghouse Electric Corp. Numerical control system with following error monitor

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