JPH0244225A - 光パルス試験装置 - Google Patents
光パルス試験装置Info
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- JPH0244225A JPH0244225A JP19454088A JP19454088A JPH0244225A JP H0244225 A JPH0244225 A JP H0244225A JP 19454088 A JP19454088 A JP 19454088A JP 19454088 A JP19454088 A JP 19454088A JP H0244225 A JPH0244225 A JP H0244225A
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- optical
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/319—Reflectometers using stimulated back-scatter, e.g. Raman or fibre amplifiers
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野〕
本発明は、光フアイバ型増幅器を用いることにより、小
型でかつ高効率に長尺被測定光ファイバの障害点探索、
破断点検出、損失測定などを行う装置に関するものであ
る。
型でかつ高効率に長尺被測定光ファイバの障害点探索、
破断点検出、損失測定などを行う装置に関するものであ
る。
［従来の技術］
光ファイバの障害点探索および破断点検出を行う方法に
は、光パルス法、Ｍｆ−列ランダムパルス変調による自
己相関法、フォトンカウンティング法、周波数掃引法、
ヘテロダイン決算様々な方法が提案され、実現されてき
ている。
は、光パルス法、Ｍｆ−列ランダムパルス変調による自
己相関法、フォトンカウンティング法、周波数掃引法、
ヘテロダイン決算様々な方法が提案され、実現されてき
ている。
光パルス法はそれらの中でも１各節便な方法であるが、
半導体レーザーを光源として用いて５０に＋ｎ以上の長
尺光ファイバの障害点探索が可能であるためよく用いら
れている。この光パルス法を実施するのに用いる装置は
光パルス試験器（ＯｐｔｉｃａｌＴｉｍｅ Ｄｏｍａｉ
ｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ 、以下０ＴＤＲと略
す）と呼ばれ、たとえば第４図のように構成されている
。
半導体レーザーを光源として用いて５０に＋ｎ以上の長
尺光ファイバの障害点探索が可能であるためよく用いら
れている。この光パルス法を実施するのに用いる装置は
光パルス試験器（ＯｐｔｉｃａｌＴｉｍｅ Ｄｏｍａｉ
ｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｅｒ 、以下０ＴＤＲと略
す）と呼ばれ、たとえば第４図のように構成されている
。
第４図において、１は電気パルス発生器、２は光パルス
光源、３は光方向性結合器、４は被測定光ファイバ、５
は光検出器、６は電気信号の増幅器、７は平均化などの
信号処理部、８は表示部である。
光源、３は光方向性結合器、４は被測定光ファイバ、５
は光検出器、６は電気信号の増幅器、７は平均化などの
信号処理部、８は表示部である。
電気パルス発生器１からの電気パルスにより光パルス光
源２を励振し、得られる光パルスを光方向性結合器３を
介して被測定光ファイバ４に入射する。光パルスが光フ
アイバ４中を伝搬するに従い、非常に微弱な後方レイリ
ー散乱が発生する。
源２を励振し、得られる光パルスを光方向性結合器３を
介して被測定光ファイバ４に入射する。光パルスが光フ
アイバ４中を伝搬するに従い、非常に微弱な後方レイリ
ー散乱が発生する。
この後方レイリー散乱は光フアイバ４内を戻って、方向
性結合器３を経て光検出器５に導かれる。この後方レイ
リー散乱に基づく光信号のレベルは入射光に対して−５
０ｄＢ程微弱な信号となるため、光検出器５の出力を増
幅器６で増幅する。さらに、その増幅出力を平均化処理
部７に供給し、ここでＳｌＮ比を改善し、最終的に表示
部８に表示する。
性結合器３を経て光検出器５に導かれる。この後方レイ
リー散乱に基づく光信号のレベルは入射光に対して−５
０ｄＢ程微弱な信号となるため、光検出器５の出力を増
幅器６で増幅する。さらに、その増幅出力を平均化処理
部７に供給し、ここでＳｌＮ比を改善し、最終的に表示
部８に表示する。
第５図は２木の光ファイバ４Ａと４８との接続点および
光ファイバ４Ｂの破断点に対する後方散乱信号の表示部
８における表示の様子を示すものである。このよ）に接
続点は段差により判断でき、また破断点は急激なレベル
の低下から判断できる。
光ファイバ４Ｂの破断点に対する後方散乱信号の表示部
８における表示の様子を示すものである。このよ）に接
続点は段差により判断でき、また破断点は急激なレベル
の低下から判断できる。
ここで、方向性結合器３としては、（ａ）方解石の偏光
特性を用いるもの、（ｂ）超音波光偏光器による光スィ
ッチを用いるもの、（Ｃ）光フアイバカップラを用いる
方法などが提案されている。これら方法（ａ） 、 （
ｂ）および（Ｃ）を、それぞれ、第６図（ａ） 、 （
ｂ）および（Ｃ）に示す。（ａ）の方法は自然偏光して
いる入力に対して３ｄＢカツプラになっているため、入
力で一３ｄＢ、散乱光の受光に一３ｄＢの合計６ｄＢの
損失がある。（ｂ）の方法は超音波偏光器をＯＦＦで被
測定光ファイバ４に結合し、ＯＮで散乱光を受光するこ
とにより、有効なスイッチとなる。
特性を用いるもの、（ｂ）超音波光偏光器による光スィ
ッチを用いるもの、（Ｃ）光フアイバカップラを用いる
方法などが提案されている。これら方法（ａ） 、 （
ｂ）および（Ｃ）を、それぞれ、第６図（ａ） 、 （
ｂ）および（Ｃ）に示す。（ａ）の方法は自然偏光して
いる入力に対して３ｄＢカツプラになっているため、入
力で一３ｄＢ、散乱光の受光に一３ｄＢの合計６ｄＢの
損失がある。（ｂ）の方法は超音波偏光器をＯＦＦで被
測定光ファイバ４に結合し、ＯＮで散乱光を受光するこ
とにより、有効なスイッチとなる。
（Ｃ）の方法は光ファイバを２本題着することにより（
ａ） と同様の３ｄＢカツプラを構成しているもので
ある。
ａ） と同様の３ｄＢカツプラを構成しているもので
ある。
［発明が解決しようとする課題］
以上に述べた光パルス法においては、光パルス光源２か
らの光パルスを被測定単一モード光ファイバ４に入射さ
せる場合に、少なくとも３ｄＢ程度の光レベルの低下が
存在した。しかもまた、同じことは光検出器５において
微弱な後方レイリー散乱信号を受光する場合にも存在し
、結合損失を取り除くことは不可避であった。従って、
ダイナミックレンジの拡大を行うためには、高出力光源
を用いる必要があった。
らの光パルスを被測定単一モード光ファイバ４に入射さ
せる場合に、少なくとも３ｄＢ程度の光レベルの低下が
存在した。しかもまた、同じことは光検出器５において
微弱な後方レイリー散乱信号を受光する場合にも存在し
、結合損失を取り除くことは不可避であった。従って、
ダイナミックレンジの拡大を行うためには、高出力光源
を用いる必要があった。
そこで、本発明の目的は、光ファイバに対して先パルス
を送り込んで、その光ファイバの各種試験を行なう０Ｔ
ＤＲ法において、その光ファイバに対する光パルスの結
合の際に生ずる光損失を光フアイバ中の光増幅で補償す
るとともに、光ファイバからの後方散乱光を光増幅する
ことにより、０ＴＤＲ法のダイナミックレンジの拡大を
図り、以て長尺光ファイバの障害点探索、破断点検出、
損失測定などを可能にする光パルス試験装置を提供する
ことにある。
を送り込んで、その光ファイバの各種試験を行なう０Ｔ
ＤＲ法において、その光ファイバに対する光パルスの結
合の際に生ずる光損失を光フアイバ中の光増幅で補償す
るとともに、光ファイバからの後方散乱光を光増幅する
ことにより、０ＴＤＲ法のダイナミックレンジの拡大を
図り、以て長尺光ファイバの障害点探索、破断点検出、
損失測定などを可能にする光パルス試験装置を提供する
ことにある。
［課題を解決するための手段］
このような目的を達成するために、本発明は、光パルス
を光方向性結合器を介して被測定光ファイバに供給して
、被測定光ファイバについての障害声探索、破断点検出
、損失測定等を行なう光パルス試験装置において、光方
向性結合器と被測定ファイバとの間に光ファイバ形結合
器および光ファイバのコア部分に希土類元素をドープし
て構成したファイバ光増幅器を配設したことを特徴とす
る。
を光方向性結合器を介して被測定光ファイバに供給して
、被測定光ファイバについての障害声探索、破断点検出
、損失測定等を行なう光パルス試験装置において、光方
向性結合器と被測定ファイバとの間に光ファイバ形結合
器および光ファイバのコア部分に希土類元素をドープし
て構成したファイバ光増幅器を配設したことを特徴とす
る。
［作 用］
本発明では、希土類元素Ｅｒ（エルビウム）もしくはＮ
ｄ（ネオジウム）を光ファイバのコア内にドープした光
フアイバ増幅器を被測定ファイバの前段に取り付けるが
、従来技術においては、このような光フアイバ増幅器を
ＱＴＤＲの一部に採り入れたものはない。
ｄ（ネオジウム）を光ファイバのコア内にドープした光
フアイバ増幅器を被測定ファイバの前段に取り付けるが
、従来技術においては、このような光フアイバ増幅器を
ＱＴＤＲの一部に採り入れたものはない。
本発明では、結合損失が存在しても、光フアイバ増幅器
により２０ｄＢ程度の増幅ができるため、むしろ入射し
た光パルスを高出力化して被測定ファイバに導くことが
できる。光フアイバ増幅器と被測定ファイバは両方とも
通常の単一モートファイバであるため、−数的には結合
損失を０．５ｄＢ以下に抑えることができる。さらにま
た、後方レイリー散乱の受光に関しても、もともとレイ
リー散乱レベルは一５０ｄＢ程度入射レベルに比べて小
さいため、検出が卸しいが、本発明においては、先ファ
イバ光増幅器の増幅特性を用いてＳ／Ｎ比を改善するこ
とかできるため、ダイナミックレンジを拡大することが
でき、その結果、破断点の診断距離を飛躍的に増大させ
ることができる。
により２０ｄＢ程度の増幅ができるため、むしろ入射し
た光パルスを高出力化して被測定ファイバに導くことが
できる。光フアイバ増幅器と被測定ファイバは両方とも
通常の単一モートファイバであるため、−数的には結合
損失を０．５ｄＢ以下に抑えることができる。さらにま
た、後方レイリー散乱の受光に関しても、もともとレイ
リー散乱レベルは一５０ｄＢ程度入射レベルに比べて小
さいため、検出が卸しいが、本発明においては、先ファ
イバ光増幅器の増幅特性を用いてＳ／Ｎ比を改善するこ
とかできるため、ダイナミックレンジを拡大することが
でき、その結果、破断点の診断距離を飛躍的に増大させ
ることができる。
［実施例］
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第１図は本発明の第１の実施例を示し、ここで、１は電
気パルス発生器、２はレーザー光源、３は第６図（ｂ）
に示した超音波光偏向器を用いた方向性結合器、４は障
害点探索の対象たる被測定ファイバ、５は光検出器、６
は電気信号の増幅器、７は信号処理部、８は表示部であ
る。以上の構成は第４図示の従来例と同様である。９は
超音波光偏向形方向性結合器９に対する駆動回路である
。本実施例では、方向性結合器３と光ファイバ４との間
に次の構成をもつ光増幅部１４を配置する。すなわち、
光増幅部１４において、ｌＯは光ファイバ形結合器、１
１は希土類元素（ＥｒもしくはＮｄ）をコア部にドープ
した光フアイバ増幅器、１２は光フアイバ増幅器１１を
励起するための光源である。
気パルス発生器、２はレーザー光源、３は第６図（ｂ）
に示した超音波光偏向器を用いた方向性結合器、４は障
害点探索の対象たる被測定ファイバ、５は光検出器、６
は電気信号の増幅器、７は信号処理部、８は表示部であ
る。以上の構成は第４図示の従来例と同様である。９は
超音波光偏向形方向性結合器９に対する駆動回路である
。本実施例では、方向性結合器３と光ファイバ４との間
に次の構成をもつ光増幅部１４を配置する。すなわち、
光増幅部１４において、ｌＯは光ファイバ形結合器、１
１は希土類元素（ＥｒもしくはＮｄ）をコア部にドープ
した光フアイバ増幅器、１２は光フアイバ増幅器１１を
励起するための光源である。
すなわち、結合器１０には方向性結合器３からの光パル
スと光源１２からの励起光を結合器ｌＯを介して光フア
イバ増幅器１１に導き、その増幅出力光を光ファイバ４
に導く。
スと光源１２からの励起光を結合器ｌＯを介して光フア
イバ増幅器１１に導き、その増幅出力光を光ファイバ４
に導く。
ここで、まず、電気パルス発生器１からの電気パルスに
より光源２を励振して光パルスを発生させる。この光パ
ルスは光ファイバ１３を通過し、超音波形光方向性結合
器３を経て光ファイバ形結合器１０に入射する。すなわ
ち、超音波スイッチがＯＦＦの場合、レーザー光源２は
この方向性結合器３を経て結合器１０に接続される。従
来、光源２から結合器ｌＯへの光パルスの結合に際して
は少なくとも３ｄＢの光損失をともなっていたが、本実
施例では、その損失を、破線ブロックで示した光増幅部
１４によって補償し、かつ増幅したパルスとして、被測
定ファイバ４に入射させる。光フアイバ増幅器１１の励
起には光源１２を用い、その励起光を光ファイバ形結合
器ｌＯにより、光源２からの光パルスと合波させて光フ
アイバ増幅器１１に導く。
より光源２を励振して光パルスを発生させる。この光パ
ルスは光ファイバ１３を通過し、超音波形光方向性結合
器３を経て光ファイバ形結合器１０に入射する。すなわ
ち、超音波スイッチがＯＦＦの場合、レーザー光源２は
この方向性結合器３を経て結合器１０に接続される。従
来、光源２から結合器ｌＯへの光パルスの結合に際して
は少なくとも３ｄＢの光損失をともなっていたが、本実
施例では、その損失を、破線ブロックで示した光増幅部
１４によって補償し、かつ増幅したパルスとして、被測
定ファイバ４に入射させる。光フアイバ増幅器１１の励
起には光源１２を用い、その励起光を光ファイバ形結合
器ｌＯにより、光源２からの光パルスと合波させて光フ
アイバ増幅器１１に導く。
これにより、２０ｄＢ程度の利得は容易に得られるため
、０．２ｄＢ／に＋ｕの光ファイバの障害点探索を考え
ると、片道当り２０／（２・０．２）・５０ｋｍの探索
距離の拡大が図れることになり、大変優れた方法と言え
る。
、０．２ｄＢ／に＋ｕの光ファイバの障害点探索を考え
ると、片道当り２０／（２・０．２）・５０ｋｍの探索
距離の拡大が図れることになり、大変優れた方法と言え
る。
特に、光源２が半導体レーザー等の低出力レーザー（数
ＩＩＩＷ出力）の場合、破線で示した光パルス増幅部１
４は有効であり、光ファイバ４に対するファイバ結合出
力を数１００ｍＷまで増大させることができる。このよ
うに光パルス増幅部１４で増幅された光パルスが被測定
ファイバ４を伝搬するにしたかい、レイリー散乱が発生
し、そのうち後方に伝搬する（後方レイリー散乱）成分
は、光ファイバ４の入射端に戻ってくる。後方散乱光は
非常に微弱であるが、ここでまた光フアイバ増幅部１４
が大きな役割を果たす。すなわち、光フアイバ増幅器１
１の２０ｄＢ程度の利得により、入射パルスと同様にレ
イリー散乱光を増幅し、ダイナミックレンジの拡大が図
れることになる。
ＩＩＩＷ出力）の場合、破線で示した光パルス増幅部１
４は有効であり、光ファイバ４に対するファイバ結合出
力を数１００ｍＷまで増大させることができる。このよ
うに光パルス増幅部１４で増幅された光パルスが被測定
ファイバ４を伝搬するにしたかい、レイリー散乱が発生
し、そのうち後方に伝搬する（後方レイリー散乱）成分
は、光ファイバ４の入射端に戻ってくる。後方散乱光は
非常に微弱であるが、ここでまた光フアイバ増幅部１４
が大きな役割を果たす。すなわち、光フアイバ増幅器１
１の２０ｄＢ程度の利得により、入射パルスと同様にレ
イリー散乱光を増幅し、ダイナミックレンジの拡大が図
れることになる。
このようにして増幅された後方レイリー散乱光は、超音
波先方向性結合器３に入射する。その際、方向性結合器
用駆動回路９をＯＮさせると、ブラッグ回折により光検
出器５に導かれる。もし、光フアイバ増幅部１４での利
得が足りなければ、電気信号の増幅器６によりさらに増
幅し、平均化処理部７によりＳ／Ｎ比の改善を行う。そ
の結果得られる出力を表示部８に表示する。
波先方向性結合器３に入射する。その際、方向性結合器
用駆動回路９をＯＮさせると、ブラッグ回折により光検
出器５に導かれる。もし、光フアイバ増幅部１４での利
得が足りなければ、電気信号の増幅器６によりさらに増
幅し、平均化処理部７によりＳ／Ｎ比の改善を行う。そ
の結果得られる出力を表示部８に表示する。
次に、先ファイバ増幅器ＩＩの増幅度の特性を第２図に
示す。この場合、光パルス光源２の波長は１．５３５μ
ｍに設定し、励起光源１２はＡ「レーザー（波長５１４
ｒ＋＋ａ）を用い、その励起人力は２．５Ｗとした。第
２図より、ファイバ増幅器ＩＩの長さを２ｍとした場合
、約２０ｄＢの利得が得られていることがわかる。この
光フアイバ増幅器１１においては、希土類であるＥｒを
８００ｐｐｍコア部にドープしてあり、１．５：１５μ
ｍの波長で光ｉＩａ幅が起こる。
示す。この場合、光パルス光源２の波長は１．５３５μ
ｍに設定し、励起光源１２はＡ「レーザー（波長５１４
ｒ＋＋ａ）を用い、その励起人力は２．５Ｗとした。第
２図より、ファイバ増幅器ＩＩの長さを２ｍとした場合
、約２０ｄＢの利得が得られていることがわかる。この
光フアイバ増幅器１１においては、希土類であるＥｒを
８００ｐｐｍコア部にドープしてあり、１．５：１５μ
ｍの波長で光ｉＩａ幅が起こる。
第３図に第１図示の装置の動作のタイムチャートを示す
。ここで、（ａ）は光ファイバ４からの後方レイリー散
乱の超音波光方向性結合器３の直前での波形であり、（
ｂ） は光方向性結合器３をＯＦＦからＯＮにしてまた
ＯＦＦにする動作により後方散乱イ８号を光検出器５に
導き、（ｃ）は（ｂ）の動作によって得られる後方散乱
信号を示している。このようにして、光フアイバ増幅部
Ｉ４をもつ光パルス試験装置を構成できる。
。ここで、（ａ）は光ファイバ４からの後方レイリー散
乱の超音波光方向性結合器３の直前での波形であり、（
ｂ） は光方向性結合器３をＯＦＦからＯＮにしてまた
ＯＦＦにする動作により後方散乱イ８号を光検出器５に
導き、（ｃ）は（ｂ）の動作によって得られる後方散乱
信号を示している。このようにして、光フアイバ増幅部
Ｉ４をもつ光パルス試験装置を構成できる。
［発明の効果］
以上説明したように、本発明によれば、光フアイバ増幅
器を光パルス試験器に付加することにより、光レベルで
入射光パルスを直接に増幅することができ、しかもまた
微弱な後方散乱信号も増幅できるので、光パルス試験器
のダイナミックレンジを２０ｄＢ以上犬幅に拡大できる
利点がある。したがって、本発明は、長尺光ファイバの
障害点探索および損失測定にきわめて有効である。
器を光パルス試験器に付加することにより、光レベルで
入射光パルスを直接に増幅することができ、しかもまた
微弱な後方散乱信号も増幅できるので、光パルス試験器
のダイナミックレンジを２０ｄＢ以上犬幅に拡大できる
利点がある。したがって、本発明は、長尺光ファイバの
障害点探索および損失測定にきわめて有効である。
第１図は本発明装置の一実施例を示す構成図、第２図は
本発明における光フアイバ増幅器の増幅特性を示す特性
図、 第３図は本発明装置の動作タイムチャート、第４図は従
来の一般的な光パルス試験装置の一例を示す構成図、 第５図は第手図において得られる後方散乱信号の説明図
、 第６図（ａ） 、 （ｂ）および（Ｃ）は、従来用いら
れている光パルス試験器用光方向性結合器として、それ
ぞれ、方解石形の複屈折を利用した例、超音波光偏向器
形の形態の例、および光フアイバ結合器の例を示す説明
図である。 １・・・電気パルス発生器、 ２・・・レーザー光源、 ３・・・光方向性結合器、 ４．４八、４Ｂ・・・被測定光ファイバ、５・・・光検
出器、 ６・・・増幅器、 ７・・・信号処理（平均化処理）部、 ８・・・表示部、 ９・・・光方向性結合器駆動部、 ｌＯ・・・先ファイバ結合器、 １１・・・光フアイバ増幅器、 １２・・・光フアイバ増幅器励起用光源、１３・・・光
ファイバ、 １４・・・光フアイバ増幅部。
本発明における光フアイバ増幅器の増幅特性を示す特性
図、 第３図は本発明装置の動作タイムチャート、第４図は従
来の一般的な光パルス試験装置の一例を示す構成図、 第５図は第手図において得られる後方散乱信号の説明図
、 第６図（ａ） 、 （ｂ）および（Ｃ）は、従来用いら
れている光パルス試験器用光方向性結合器として、それ
ぞれ、方解石形の複屈折を利用した例、超音波光偏向器
形の形態の例、および光フアイバ結合器の例を示す説明
図である。 １・・・電気パルス発生器、 ２・・・レーザー光源、 ３・・・光方向性結合器、 ４．４八、４Ｂ・・・被測定光ファイバ、５・・・光検
出器、 ６・・・増幅器、 ７・・・信号処理（平均化処理）部、 ８・・・表示部、 ９・・・光方向性結合器駆動部、 ｌＯ・・・先ファイバ結合器、 １１・・・光フアイバ増幅器、 １２・・・光フアイバ増幅器励起用光源、１３・・・光
ファイバ、 １４・・・光フアイバ増幅部。
Claims (1)
- １）光パルスを光方向性結合器を介して被測定光ファイ
バに供給して、当該被測定光ファイバについての障害点
探索、破断点検出、損失測定等を行なう光パルス試験装
置において、前記光方向性結合器と前記被測定ファイバ
との間に光ファイバ形結合器および光ファイバのコア部
分に希土類元素をドープして構成したファイバ光増幅器
を配設したことを特徴とする光パルス試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19454088A JPH0663908B2 (ja) | 1988-08-05 | 1988-08-05 | 光パルス試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19454088A JPH0663908B2 (ja) | 1988-08-05 | 1988-08-05 | 光パルス試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0244225A true JPH0244225A (ja) | 1990-02-14 |
| JPH0663908B2 JPH0663908B2 (ja) | 1994-08-22 |
Family
ID=16326233
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19454088A Expired - Fee Related JPH0663908B2 (ja) | 1988-08-05 | 1988-08-05 | 光パルス試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0663908B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH03267923A (ja) * | 1990-03-19 | 1991-11-28 | Hitachi Cable Ltd | 光多重分配装置 |
| WO1992005466A1 (en) * | 1990-09-18 | 1992-04-02 | Fujitsu Limited | Optical amplifier |
| JPH04119017A (ja) * | 1990-09-10 | 1992-04-20 | Hitachi Cable Ltd | 光ファイバ伝送路の試験監視方法及び装置 |
| US5343286A (en) * | 1990-02-15 | 1994-08-30 | British Telecommunications Public Limited Company | OTDR having optically switched amplified output onto test fibre to suppress optical amplifier noise between OTDR pluses |
-
1988
- 1988-08-05 JP JP19454088A patent/JPH0663908B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5343286A (en) * | 1990-02-15 | 1994-08-30 | British Telecommunications Public Limited Company | OTDR having optically switched amplified output onto test fibre to suppress optical amplifier noise between OTDR pluses |
| JPH03267923A (ja) * | 1990-03-19 | 1991-11-28 | Hitachi Cable Ltd | 光多重分配装置 |
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| EP0500964B1 (en) * | 1990-09-18 | 1996-03-06 | Fujitsu Limited | Optical amplifier |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0663908B2 (ja) | 1994-08-22 |
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