JPH0244433A - Information processor - Google Patents
Information processorInfo
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- JPH0244433A JPH0244433A JP63195475A JP19547588A JPH0244433A JP H0244433 A JPH0244433 A JP H0244433A JP 63195475 A JP63195475 A JP 63195475A JP 19547588 A JP19547588 A JP 19547588A JP H0244433 A JPH0244433 A JP H0244433A
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- circuit
- test
- automatic
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- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野ン 本発明は情報処理装置の表示パネル部に関し。[Detailed description of the invention] (Industrial application field) The present invention relates to a display panel section of an information processing device.
特にその構成の改良に関する。In particular, it relates to improvements in its configuration.
（従来の技術〕
従来、この糧の表示パネル部では第３図に示すように、
表示回路ｌＯにおいて、信号線１０上の表示信号ＱＬＥ
Ｄあるいはランプなどの表示器によって表示してい友。(Prior art) Conventionally, the display panel of this food has a display panel as shown in Fig. 3.
In the display circuit IO, the display signal QLE on the signal line 10
It is indicated by a display device such as D or a lamp.
１−ランプテスト回路１１に備えられたランプテストス
イッチを押下することによシ、信号線１３上にテスト信
号が発生するので、この信号により表示回路１０のＬＥ
Ｄやランプなどの表示器をテストしていｔｏ
（発明が瑯決しようとする課題〕
上述し几従来の表示パネル部ではランプテストスイッチ
を押下してＬＢＤやランプなトラテストしているので、
表示状態ｔ−確認する友めには、常にランプテストスイ
ッチケ押下しなければならないと云う欠点がｐ）シ、さ
らに表示器の不良を即時的に知ることができないと云う
欠点もある。1- By pressing the lamp test switch provided in the lamp test circuit 11, a test signal is generated on the signal line 13, so this signal causes the LE of the display circuit 10 to
(Problem that the invention attempts to solve) As mentioned above, in the conventional display panel section, the lamp test switch is pressed to test the LBD and lamps.
The disadvantage of checking the display status is that the lamp test switch must be pressed at all times, and there is also the disadvantage that it is not possible to instantly know if the display is defective.
本発明の目的は、自動ランプテスト回路を備えて、電源
供給時に自動的に表示回路の光示器ｔテストし、表示器
に不良があれば警報を表示することにより上記欠点を除
去し、テストを省力化できるように構成しｔ表示パネル
部を備え几情報処理装置を提供することにある。An object of the present invention is to eliminate the above-mentioned drawbacks by providing an automatic lamp test circuit, which automatically tests the light indicator of the display circuit when power is supplied, and displays an alarm if there is a defect in the display. An object of the present invention is to provide a compact information processing device that is configured to save labor and is equipped with a display panel section.
（課題を解決するための手段）
本発明番こよる情報処理装置は表示回路と、ランプテス
ト回路と、自動ランプテスト回路とを具備して表示パネ
ル部を構成したものである。(Means for Solving the Problems) An information processing device according to the present invention has a display panel section including a display circuit, a lamp test circuit, and an automatic lamp test circuit.
表示回路は、複数の表示信号を入力して複数の表示器を
点灯させるためのものである。The display circuit is for inputting a plurality of display signals to light up a plurality of indicators.
ランプテスト回路は、ランプテストスイッチ全押下する
こと多こより表示回路に内蔵された複数の表示器を同時
に点灯させてテストするためのものである。The lamp test circuit is for testing by simultaneously lighting up a plurality of indicators built into the display circuit by fully pressing the lamp test switch.
自動ランプテスト回路は、複数の表示器の電圧レベルが
確定したと含に自動テスト指示信号が発生したならば、
自動的に複数の表示器を点灯させてテスト全実施するた
めのものである。The automatic lamp test circuit performs automatic test commands once the voltage levels of multiple indicators are established and an automatic test instruction signal is generated.
This is to automatically light up multiple indicators and perform all tests.
（実施例］ 次に１本発明につ−て図面上参照して説明する。(Example] Next, one aspect of the present invention will be explained with reference to the drawings.
第１図は１本発明による情報処理装置の表示パネル部の
一実施例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a display panel section of an information processing apparatus according to the present invention.
第４図において、１は表示回路、２は自動ランプテスト
回路％３はランプテスト回路である。In FIG. 4, 1 is a display circuit, 2 is an automatic lamp test circuit, and 3 is a lamp test circuit.
第１図において、信号線４上の表示信号は表示回路１番
こ偏見られ几表示器によって表示される。また、ランプ
テスト回路３に備えられたランプテストスイッチを押下
することにより、テスト信号が信号線５上に発生し１表
示回路１の表示器をテストすることができる。In FIG. 1, the display signal on signal line 4 is displayed by a biased display in display circuit 1. Further, by pressing a lamp test switch provided in the lamp test circuit 3, a test signal is generated on the signal line 5, and the display device of the display circuit 1 can be tested.
さらに、情報処理装置の電源？オンにし、電圧が確定さ
れ几ときに自動テスト指示信号を信号線７上に発生する
ことにより、自動ランプテスト回路２においては、表示
回路ｌから信号線６を介して送出されてくるチエツク信
号の電圧レベルと、比較電圧レベルとを比較する。これ
によシ、表示回路ｌのＬＥＤやランプなどの表示器がチ
エツクできる。Furthermore, the power supply of information processing equipment? By turning on the lamp and generating an automatic test instruction signal on the signal line 7 when the voltage is determined, the automatic lamp test circuit 2 detects the check signal sent from the display circuit l via the signal line 6. The voltage level is compared with a comparison voltage level. This makes it possible to check indicators such as LEDs and lamps in the display circuit 1.
第２図は、第１図の表示パネル部の詳細実施例を示すブ
ロック図である。FIG. 2 is a block diagram showing a detailed embodiment of the display panel section of FIG. 1.
第２図において、１は表示回路、２は自動ランプテスト
回路、３はランプテスト回路、２Ｇは論理和ゲート、２
１は表示器、２２は論理和ゲート、２３はランプテスト
スイッチ、２５は論理和ゲート、２６は論理積ゲート、
２７はフリップフロップ、２８は比較回路、２９は警報
界示器、３０はリセットスイッチである。In Figure 2, 1 is a display circuit, 2 is an automatic lamp test circuit, 3 is a lamp test circuit, 2G is an OR gate, 2
1 is a display, 22 is an OR gate, 23 is a lamp test switch, 25 is an OR gate, 26 is an AND gate,
27 is a flip-flop, 28 is a comparison circuit, 29 is an alarm indicator, and 30 is a reset switch.
信号線４上の表示信号が論理値′″Ｏ”ｌこｌると、論
理和グー）２０の出力が論理値″′０”となって表示器
２１が点灯する。When the display signal on the signal line 4 reaches the logical value ``O'', the output of the logical sum 20 becomes the logical value ``0'' and the display 21 lights up.
表示器２１をテストする場合、ランプテスト回路３のラ
ンプテストスイッチ２３ｔ−押下することによシ、論理
和ゲート２２が論理値″０”になシ、テスト信号として
信号線５から論理和ゲート２０に入力される。論理和ゲ
ート２０の出力が論理和″′０′″となシ１表示器２１
の点灯全確認することができる。When testing the display 21, by pressing the lamp test switch 23t of the lamp test circuit 3, the OR gate 22 becomes the logical value "0", and a test signal is sent from the signal line 5 to the OR gate 20. is input. If the output of the OR gate 20 becomes the OR ``'0'''', the 1 indicator 21
All lights can be confirmed.
本発明の情報処理装置において、電源をオンにした後ｔ
こ電圧レベルが確定したならば、自動テスト指示信号が
信号線７上に発生し、自動的に表示回路１の表示器２１
がテストされる。In the information processing device of the present invention, after turning on the power,
Once this voltage level is determined, an automatic test instruction signal is generated on the signal line 7 and the display 21 of the display circuit 1 is automatically activated.
is tested.
つまヤ、自動テスト指示信号が信号線７から論理和ゲー
ト２２に入力され、論理和ゲート２２の出力が論理値′
Ｉ Ｏ＃となる。この値が論理和グー）２０に入力され
、論理和グー）２０の論理値が００”となシ１表表示回
路１番灯を確認する。Finally, the automatic test instruction signal is input from the signal line 7 to the OR gate 22, and the output of the OR gate 22 becomes the logical value '
It becomes IO#. This value is input to the logical sum 20, and if the logical value of the logical sum 20 is 00'', the 1st table display circuit light 1 is checked.
表示器２１が点灯しな論場合ｌこは、信号線６上でチエ
ツク信号の電圧レベルが低下しない几め、信号線２４か
ら比較回路２８に入力され几比較電圧との比較で不良と
判定され、その情報が論理和ゲート２５に入力される。If the display 21 does not light up, check that the voltage level of the check signal on the signal line 6 does not drop, and it is input to the comparison circuit 28 from the signal line 24 and is determined to be defective by comparison with the comparison voltage. , the information is input to the OR gate 25.
論理和ゲート２５の出力は比較回路２８からの不良判定
情報によって論理値″１”となシ、この値が論理積ゲー
ト２６に入力される。論理積ゲート２６では、信号線７
上の自動テスト指示信号と論理和ゲート２５の出力との
論理積をとシ、論理値′″１″を７リツプフロツプ２７
に入力する。これにょシ、フリップフロップ２７に論理
値１１”がセットされる。The output of the OR gate 25 has a logical value of "1" according to the defect determination information from the comparison circuit 28, and this value is input to the AND gate 26. In the AND gate 26, the signal line 7
The above automatic test instruction signal is ANDed with the output of the OR gate 25, and the logical value ``1'' is output from the 7 lip-flop 27.
Enter. At this time, the logic value 11'' is set in the flip-flop 27.
フリップフロップ２７に論理値”１”がセットされると
、Ｗ報表示器２９が点灯する。フリップフロップ２７は
リセットスイッチ３０によってリセットされ、論理値′
″０”に戻る。When the logic value "1" is set in the flip-flop 27, the W information display 29 lights up. The flip-flop 27 is reset by the reset switch 30, and the logic value '
Returns to "0".
（発明の効果）
以上説明し友よりに本発明は、自動ランプテスト回路を
備えて、電源供給時に自動的に表示回路の表示器のテス
トを行い、表示器に不良があれば警報を表示することに
よシ、表示状態を確認するときに電番こランプテストス
イッチを押下する必要がない九め、操作が容易になると
云う効果がある。ま几、警報表示によシ懺示器の不良を
即時的に知ることができる九め、テストが単純、簡易化
されると云う効果がある。(Effects of the Invention) As explained above, the present invention is equipped with an automatic lamp test circuit, automatically tests the display of the display circuit when power is supplied, and displays an alarm if there is a defect in the display. Particularly, it is not necessary to press the phone number lamp test switch when checking the display status, which makes the operation easier. Additionally, the alarm display allows immediate notification of a malfunction in the indicator, and has the effect of simplifying and simplifying the test.
第１図は１本発明による情報処理装置の表示パネル部の
一実施例を示すブロック図である。
第２図は、第１図に示す表示パネル部の詳細を示すブロ
ック図である。
第３図は、従来技術による情報処理装置の表示パネル部
の一例を示すブロック図である。
１．１０・・・表示回路
２・・・自動ランプテスト回路
３．１１・・・ランプテスト回路
２０．２２．２５・・・論理和ゲート
２１・・・表示器
２３・・・ランプテストスイッチ
２６・・・論理積ゲート
２７・・・フリップフロップ
２８・・・比較回路
２９・・・警報表示器
３０・・・リセットスイッチ
４〜７，１２．２４・・・信号線
特許出願人 日本電気株式会社FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a display panel section of an information processing apparatus according to the present invention. FIG. 2 is a block diagram showing details of the display panel section shown in FIG. 1. FIG. 3 is a block diagram showing an example of a display panel section of an information processing apparatus according to the prior art. 1.10 Display circuit 2 Automatic lamp test circuit 3.11 Lamp test circuit 20.22.25 OR gate 21 Display 23 Lamp test switch 26 ...Logic gate 27...Flip-flop 28...Comparison circuit 29...Alarm indicator 30...Reset switch 4-7, 12.24...Signal line Patent applicant NEC Corporation
Claims (1)
めの表示回路と、ランプテストスイッチを押下すること
により前記表示回路に内蔵された複数の表示器を同時に
点灯させてテストするためのランプテスト回路と、前記
複数の表示器の電圧レベルが確定したと含に自動テスト
指示信号が発生したならば自動的に前記複数の表示器を
点灯させてテストを実施するための自動ランプテスト回
路とを具備して表示パネル部を構成したことを特徴とす
る情報処理装置。A display circuit for lighting a plurality of indicators by inputting a plurality of display signals, and a lamp for testing by simultaneously lighting a plurality of indicators built into the display circuit by pressing a lamp test switch. a test circuit; and an automatic lamp test circuit for automatically lighting up the plurality of indicators to carry out a test when an automatic test instruction signal is generated, including when the voltage levels of the plurality of indicators are determined. An information processing device comprising: a display panel unit comprising:
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63195475A JPH0244433A (en) | 1988-08-05 | 1988-08-05 | Information processor |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63195475A JPH0244433A (en) | 1988-08-05 | 1988-08-05 | Information processor |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0244433A true JPH0244433A (en) | 1990-02-14 |
Family
ID=16341703
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63195475A Pending JPH0244433A (en) | 1988-08-05 | 1988-08-05 | Information processor |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0244433A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011220693A (en) * | 2010-04-02 | 2011-11-04 | Nishi Nippon Electric Wire & Cable Co Ltd | Operation checker |
-
1988
- 1988-08-05 JP JP63195475A patent/JPH0244433A/en active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011220693A (en) * | 2010-04-02 | 2011-11-04 | Nishi Nippon Electric Wire & Cable Co Ltd | Operation checker |
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