JPH0245515B2 - Kotakusenbetsusochi - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は被選別物に光を投射し被選別物を光学
的に選別する光沢選別装置にかんするものであ
る。

選別しようとする物品に光を投射し、その反射
光の光量を選別基準となる光量と比較して物品の
選別を行うという方法は従来より知られている。
たとえば、穀類等のような粒状物を選別するため
に、所定のガイドから連続的に流下する粒状物に
光を投射し、この投射光の反射光をセンサで検知
して基準値と比較して選別を行う方法がある。

さらに、被選別物の形状がたとえば真珠のよう
な球形物に対しては、本願と同一出願人および発
明者による特許出願“球形物の選別装置”（特願
昭58−247325号〜特開昭60−137477号公報〜）に
開示したように、選別の精度を高めるためにガイ
ドで搬送される被選別物を搬送中に回転させその
全周に光を投射し得る構造を用いる選別方法があ
る。この選別方法においても通常の光源から光を
投射しその反射光をセンサで検知することは同一
である。

このような従来の方法においては、被選別物に
光が投射する面からの反射光をすべてセンサに受
けてその光量を検出していた。換言すれば、被選
別物の光反射面全体からの反射光を積分した光量
でる。このため、光反射面を細区分した一領域に
効沢の異なる所が存在しても全体としての光量を
比較するのでこれを選別することが困難であり選
別精度の向上が望まれていた。

従つて、本発明は選別精度を向上させた新規な
光沢選別装置を提供することを目的とする。

本発明者は、線状光源を被選別物に投射してそ
れによつてつくられる被選別物表面の線状の高輝
度部位のみをセンサによつて検知することによつ
て以下の知見を得た。すなわち、センサ信号の中
心部付近は、被選別物からの反射光が支配的であ
り、一方、波形のすその部分は散乱光が支配的と
なる。そして被選別物の表面の光沢の大小によつ
て反射光および散乱光の量が異なる。従つて、こ
のセンサ信号を波形処理することによつて、被選
別物の表面の光沢を選別できることが判明した。
ここで線状光源とは、光源からの光が被選別物に
対して直線状に集束されて投射できる機能を具え
たもののすべてを含むものであり、例えばライン
フイラメント型のランプのように筒状管にフイラ
メントが長く線状に張架されてそれ自体が直線状
の投射を行うように構成されたものは勿論のこ
と、螢光灯或いは白熱灯の前面に細幅の投光用ス
リツトを有する遮光板を具え前記スリツト部分か
ら線状の光を透過させるようにしたものであつて
も差支えない。なお、光源が白熱灯の場合にはス
リツト面に乳白色の合成樹脂薄板などの光を散乱
させる性質を有するものを当接することが望まし
い。

本願において開示される発明のうち代表的なも
のの概要を簡単に説明すれば、下記のとおりであ
る。

すなわち、順次搬送される被選別物に光を投射
する線状光源を、搬送方向と直交するように配設
し、この線状光源によつて被選別物表面に照射さ
れる線状の高輝度部位のみを、スリツトを有した
光遮蔽板とレンズによつて集束し光センサによつ
て検出している。そして光センサの出力を波形処
理することによつて光沢の相異を検出し被選別物
の選別を行つている。被選別物の搬送方向と線状
の高輝度部位とは直交しているので、あたかも被
選別物上を順次搬送方向逆方向にリニア走査して
いるのと等価である。従つて、選別精度の飛躍的
な向上を達成するものである。

以下本発明の光沢選別装置の一実施例を第１図
から第４図を参照して説明する。

第１図において、符号１は被選別物を示す。こ
の被選別物は、たとえば真珠等の球形物、金属ペ
レツト等の円柱状物であり搬送装置（図示せず）
上を図の矢印方向に順次連続的に選別のために搬
送されている。この搬送装置は、前述した特許出
願“球形物の選別装置”において開示した基盤お
よび円形の回転盤等のを用いることができる。

符号２は線状光源を示す。この線状光源２は搬
送装置上に配設されて被選別物１の表面に光を投
射する。投射された光は、反射光および散乱光と
して実施例では１枚のレンズで示されている光学
レンズ系３を介して光センサ４に集束するように
なされている。この光センサ４の電気出力は、信
号処理回路５に入力され所定の処理を径た後に判
定信号として出力される。この判定出力によつて
エジエクター（図示せず）を作動させ被選別物の
選択的排除が行なわれる。エジエクターの作動は
圧縮空気の噴出による公知の強制排除方法を用い
ることができる。

前記線状光源２は、そのフイラメント２１の長
さ方向が被選別物１の搬送方向と長交するように
配設されている。従つて、線状光源２のフイラメ
ント２１からの光は、被選別物１の表面に搬送方
向と直交する線状の比較的高輝度の照射部位をつ
くりだす。この高輝度部位を選択的に検出するた
めに前記光学レンズ系３のレンズと光センサ４と
の間には光遮蔽板６が介挿されている。この光遮
蔽板６にはスリツト６１が開口されている。この
スリツト６１の幅および長さは、被選別物１上に
照射された高輝度部位を光センサ４で選択的に検
出できるように適宜設定されている。第２図は、
線状光源２、被選別物１および光遮蔽板６の間の
平面的な位置関係を示す図であつて、搬送方向と
直交する線状の高輝度部位に対応した部分のみが
スリツト６１を介して光センサ４に検出されるこ
とがわかる。

ところで、この光センサ４によつて検出される
搬送中の被選別物の波形としては、第４図ａに示
されるような波形が得られる。これら信号波形の
中心部付近は反射光が主体であり、波形のすその
部分は散乱光が支配的となる。そして光択が小さ
いものは、第４図ａの左側の波形のように、反射
が少なく散乱が多い。つまり、被選別物にうつる
線状光源の影のコントラストが小さい。一方、光
沢が大きいものは第４図ａの右側の波形のよう
に、反射が多く散乱が少ない。つまり被選別物に
うつる線状光源の影のコントラストが大きい。

このような光センサ４の出力から光沢の差異を
検知してエジエクターを作動させるための判定信
号は、波形処理回路５より得られる。この信号処
理回路５は、光センサ４の出力を増幅する増幅器
５１、増幅器５１からの出力を微分する微分回路
５２、微分波形の尖頭値を保有するピークツーピ
ーク回路５３の振幅と基準振幅値を比較してその
大小に応じて判定信号を出力する比較器５４とよ
り構成されている。

以上の構成になる光沢選別装置の作用ならびに
効果について次に説明する。

搬送装置上を順次搬送される被選別物１は、線
状光源２からの光によつて、所定位置にまでくる
と、線状に高輝度部位が現われてその表面を照射
される。この高輝度部位の光のみが光遮蔽板６の
スリツト６１によつて選択的に光センサ４によつ
て検知される。そして、被選別物１の表面の光沢
が小さいものは第４図ａの左側の波形となり、光
沢が大きいものは第４図ａの右側の波形となる。
従つて、これら波形を増幅器５１によつて増幅し
た後に、微分回路５２およびピークツーピーク回
路５３によつて処理することにより、光沢が小さ
くゆるやかな波形は振幅が小さく、光沢が大きく
急峻な波形は振幅が大きい。このため、選別のた
めに予め設定した基準レベルとこれら振幅を比較
器５４により比較することによつて判別信号が得
られる。この後エジエクターをこの判別信号によ
つて駆動することによつて選別排除が行なわれ
る。

このように、線状光源によつて照射される被選
別物表面の線状の高輝度部位のみを光遮蔽板のス
リツトによつて選択的に検出し、かつ、この検知
された出力波形の波形処理によつて選別を行つて
いるので、精度の高い選別を行うことができる。
また、線状光源が被選別物の搬送方向と直交する
ようにして配設されているので、被選別物の表面
を連続的にリニア走査しているのと同一効果を有
し高精度の選別装置を得ることができる等種々の
効果を有するものである。

【図面の簡単な説明】

図は本発明の実施例を示すもので、第１図は本
発明の光沢選別装置の構成を示す図、第２図は第
１図に示す線状光源、被選別物及び光遮蔽板の平
面的な位置関係を示す図、第３図は第１図の波形
処理回路の構成を示すブロツク図、第４図は波形
処理回路で処理される波形を示す図である。 １…被選別物、２…線状光源、２１…フイラメ
ント、３…光学レンズ系、４…光センサ、５…波
形処理回路、６…光遮蔽板、６１…スリツト。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 選別のために順次搬送される被選別物に投射
   する光源を線状に投射できる光源とし、且つこの
   光源を線状の投影が前記被選別物の搬送方向と直
   交するように配設し、さらに被選別物からの光を
   受けてこれを光センサに集束させる光学レンズ系
   を設け、前記線状光源によつてつくられる被選別
   物表面の線状の高輝度部位に対応してスリツトを
   設けた光遮蔽板を前記光学レンズ系に介挿し、も
   つて光センサの出力信号を電気的に処理してこの
   処理された信号を基準値と比較することによつて
   被選別物の選別を行うことを特徴とした光沢選別
   装置。