JPH0247444Y2 - - Google Patents

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JPH0247444Y2
JPH0247444Y2 JP14809484U JP14809484U JPH0247444Y2 JP H0247444 Y2 JPH0247444 Y2 JP H0247444Y2 JP 14809484 U JP14809484 U JP 14809484U JP 14809484 U JP14809484 U JP 14809484U JP H0247444 Y2 JPH0247444 Y2 JP H0247444Y2
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JP
Japan
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axis
linear image
reflecting mirror
lens
camera
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JP14809484U
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JPS6163103U (ja
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Publication date
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Priority to JP14809484U priority Critical patent/JPH0247444Y2/ja
Priority to US06/776,892 priority patent/US4664520A/en
Priority to DE8585306844T priority patent/DE3581870D1/de
Priority to EP85306844A priority patent/EP0177273B1/en
Publication of JPS6163103U publication Critical patent/JPS6163103U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0247444Y2 publication Critical patent/JPH0247444Y2/ja
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Landscapes

  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Cameras In General (AREA)
  • Structure And Mechanism Of Cameras (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本考案は形状複雑な対象物の表面欠陥の有無等
を光学的に検査するために使用される欠陥検査カ
メラに関するものである。
(従来の技術) 従来、板ガラスや綱板のような板状体の欠陥検
査には多数の画素を直線状に配列させた直線撮像
素子(リニアイメ−ジセンサ)をテレビカメラの
レンズの軸線上に配置した欠陥検査用カメラが使
用されているが、このような欠陥検査用カメラは
対象物表面の明るさを直線電気信号に変換するも
のであるから、例えば碍子のような複雑な凹凸面
を有する対象物に使用したときには照明むらによ
る明るさの変化と欠陥による明るさの変化とを識
別することができない欠点がある。そこで本考案
者はテレビカメラの撮像面に2本の直線撮像素子
を近接させて並列に配置し、双方の直線撮像素子
から生ずる出力信号の差を演算することにより照
明むらの影響をキヤンセルするようにした視覚セ
ンサシステムを開発して先に特願昭59−67016号
として提案したところである。
(考案が解決しようとする問題点) ところが一般に直線撮像素子はそのセンサチツ
プの周囲にシフトレジスタ回路や出力回路が一体
的に組込まれて全体の幅が約10mm程度もあるため
に10mm以下の距離に近接配置することができず、
レンズ倍率をMとすれば対象物表面上においては
10×Mmmも離れた線上の明るさを対比することと
なつて検査精度を一定値以上に向上させることが
できぬ問題があることが分つた。
(問題点を解決すための手段) 本考案は上記のような従来の問題点を解決し、
通常の直線撮像素子を利用して対象物表面の非常
に近接した2本の線上の明るさの対比を行わせる
ことができる欠陥検査用カメラを目的として完成
されたものであり、レンズの軸線上に該軸線に直
交する稜線を挟んで軸線に対して等角度に傾斜す
る対称な2つの反射面を持つ反射鏡を取付けると
ともにこれらの反射面からの反射光を受けるカメ
ラ内面上の2位置には、それぞれ直線撮像素子を
配したことを特徴とするものである。
(実施例) 次に本考案を図示の実施例について詳細に説明
すれば、1はレンズ2を備えたカメラ主体であ
り、3はレンズ2の軸線l上に送りねじ4及びガ
イド5によつて進退動自在に取付けられた5角柱
状の反射鏡である。この反射鏡3は軸線lに直交
するよう位置付けられた稜線6を挟んで軸線lに
対して45゜の等角度で左右に傾斜した対称な2つ
の反射面7,8を持つものであり、また、カメラ
内面上のこれらの反射面7,8からの反射光を受
ける2位置にはそれぞれ直線撮像素子9,10が
配置されている。第3図、第4図は本考案の第2
の実施例を示すもので、反射鏡3の反射面7,8
がレンズ2の軸線lに対してなす角度を約85゜と
し、従つて直線撮像素子9,10をカメラ内面の
前方位置に配置したものである。また、第2の実
施例では反射鏡3をピエゾ電気駆動装置11によ
り軸線l方向に進退させるようにし、進退動の精
度を向上させるようにしたものである。
(作用) このように構成されたものは、第5図に示され
るように懸垂碍子等の対象物20の上方に対象物
20の半径方向と反射鏡3の稜線6の長手方向と
を一致させてセツトし、対象物20を自転させつ
つその表面からの反射光をレンズ2により受光さ
せて使用するものであるが、レンズ2からの入射
光はその軸線l上に設けられた反射鏡3の軸線l
に直交する稜線6を挟んで軸線lに対して等角度
に傾斜させた対称な2つの反射面7,8によつて
左右に2分され、これらの反射面7,8からの反
射光を受けるカメラ内面上の2位置に配された直
線撮像素子9,10によつて受光されて対象物2
0の半径方向の明るさの変化を示す電気信号に変
換され、演算処理部12によつて処理されること
となる。このとき、第1図及び第3図からも明ら
かなように、軸線lから左右いずれかにわずかに
外れた光路から入射する光線が反射面7,8のい
ずれかにより振り分けられて直線撮像素子9また
は10へ入ることとなり、このようなわずかな光
路の差を持つ光線の振り分けは反射鏡3によつて
行われるので、従来のように直線撮像素子9,1
0を近接配置しなくとも対象物20の表面の非常
に近接した2本の線21,22上の明るさを適確
に把えて直線撮像素子9,10により電気信号に
変換させることが可能となる。また、反射鏡3を
軸線lに沿つて進退自在にしておけば、この反射
鏡3を前進させると直線撮像素子9,10へ入る
光線の光路が軸線lから離れ、逆に反射鏡3を後
退させると軸線lに近い光路の光線が直線撮像素
子9,10へ入ることとなつて、対象物20の表
面上の対比される線21,22の間隔をある範囲
内において自由に変化させることが可能となる。
このような直線撮像素子9,10からの出力信
号は、対象物20の表面に欠陥がない場合にはそ
れぞれの長手方向には変化があるものの各直線撮
像素子9,10の相対応する画素からの出力信号
はそれぞれ同一であるために、直線撮像素子9か
らの出力信号と直線撮像素子10からの出力信号
との差を演算すれば差信号はゼロとなる。これに
対して第5図に示すように対象物20の表面に欠
陥30が存在すれば線21を把えた直線撮像素子
9の出力信号は第6図上段のように欠陥30によ
る明るさの変化を含む波形となり、線22を把え
た直線撮像素子10の出力信号は第6図中段のよ
うな波形となる。従つて両者の差を演算すれば第
6図下段に示されるように欠陥信号のみとなつた
差信号を取り出すことができる。しかも、対比さ
れる線21と線22との間隔を極めて接近させる
ことができるので、非常に徴細な欠陥30をも検
出することができ、検査精度を著しく向上させる
ことができる。なお、反射鏡3に代えて先端が2
本に分れた光フアイバ−ケ−ブルを用いて光線を
各直線撮像素子10に導くこともできるが、構造
が複雑化するため本考案のように反射鏡3を使用
することが好ましい。
(考案の効果) 本考案は以上の説明からも明らかなように、通
常の直線撮像素子を利用して対象物表面の極めて
近接した2本の線上の明るさを電気信号に変換し
て対比することができ、しかも対比の対象となる
2本の線の間隔を自由に調節することもできるか
ら対象物に応じてその表面の欠陥を精度良く適確
に検査することができるものであり、従つて、本
考案は碍子その他の複雑な凹凸面を有する対象物
の欠陥をオンラインで適確に検査できる欠陥検査
用カメラとしてその実用的価値は極めて大なもの
である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の第1の実施例を示す水平断面
図、第2図はその垂直断面図、第3図は第2の実
施例を示す水平断面図、第4図はその垂直断面
図、第5図は本考案の欠陥検査用カメラの使用状
態を示す一部切欠斜視図、第6図は各撮像素子の
出力信号及びその差信号の波形図である。 2……レンズ、3……反射鏡、6……稜線、
7,8……反射面、9,10……直線撮像素子、
l……レンズ2の軸線。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 1 レンズ2の軸線l上に該軸線lに直交する稜
    線6を挟んで軸線lに対して等角度に傾斜する
    対称な2つの反射面7,8を持つ反射鏡3を取
    付けるとともにこれらの反射面7,8からの反
    射光を受けるカメラ内面上の2位置には、それ
    ぞれ直線撮像素子9,10を配したことを特徴
    とする欠陥検査用カメラ。 2 反射鏡3が軸線lに沿つて進退自在である実
    用新案登録請求の範囲第1項記載の欠陥検査用
    カメラ。
JP14809484U 1984-09-29 1984-09-29 Expired JPH0247444Y2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14809484U JPH0247444Y2 (ja) 1984-09-29 1984-09-29
US06/776,892 US4664520A (en) 1984-09-29 1985-09-17 Camera for visual inspection
DE8585306844T DE3581870D1 (de) 1984-09-29 1985-09-26 Kamera zur optischen untersuchung.
EP85306844A EP0177273B1 (en) 1984-09-29 1985-09-26 Camera for visual inspection

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14809484U JPH0247444Y2 (ja) 1984-09-29 1984-09-29

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6163103U JPS6163103U (ja) 1986-04-28
JPH0247444Y2 true JPH0247444Y2 (ja) 1990-12-13

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JP14809484U Expired JPH0247444Y2 (ja) 1984-09-29 1984-09-29

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JPS6163103U (ja) 1986-04-28

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