JPH0249576Y2 - - Google Patents
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- JPH0249576Y2 JPH0249576Y2 JP9480679U JP9480679U JPH0249576Y2 JP H0249576 Y2 JPH0249576 Y2 JP H0249576Y2 JP 9480679 U JP9480679 U JP 9480679U JP 9480679 U JP9480679 U JP 9480679U JP H0249576 Y2 JPH0249576 Y2 JP H0249576Y2
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- circuit
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- electric circuit
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- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 8
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 13
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は複数個の電気回路装置の機能が正常か
否かをその生産ライン等で検査するための電気回
路の検査装置に関する。
否かをその生産ライン等で検査するための電気回
路の検査装置に関する。
この種の装置としては、従来より、複数個の被
検査用電気回路装置及び正常に動作することが予
め確認された１個の基準用電気回路装置に対して
夫々同一入力条件を与えて各々の出力を比較する
ようになし、その比較出力に応じて被検査用電気
回路装置の異常を検出するように構成したものが
供されている。しかしながら斯かる構成の検査装
置においては、基準用電気回路装置が故障した場
合には正常な被検査用電気回路装置が誤まつて異
常と見なされてしまうことになり、従つて検査の
信頼性が低くなつてしまう問題点がある。
検査用電気回路装置及び正常に動作することが予
め確認された１個の基準用電気回路装置に対して
夫々同一入力条件を与えて各々の出力を比較する
ようになし、その比較出力に応じて被検査用電気
回路装置の異常を検出するように構成したものが
供されている。しかしながら斯かる構成の検査装
置においては、基準用電気回路装置が故障した場
合には正常な被検査用電気回路装置が誤まつて異
常と見なされてしまうことになり、従つて検査の
信頼性が低くなつてしまう問題点がある。
本考案は上記問題点に対処してなされたもので
あり、その目的は、基準用電気回路装置を余分に
１台設けるだけの簡単な構成で基準用電気回路装
置に故障が生じた場合にこれをいち早く表示する
ことができて正常な被検査用電気回路装置を誤ま
つて異常と見なしてしまう虞がなく、以て検査の
信頼性を高めることができる電気回路の検査装置
を提供するにある。
あり、その目的は、基準用電気回路装置を余分に
１台設けるだけの簡単な構成で基準用電気回路装
置に故障が生じた場合にこれをいち早く表示する
ことができて正常な被検査用電気回路装置を誤ま
つて異常と見なしてしまう虞がなく、以て検査の
信頼性を高めることができる電気回路の検査装置
を提供するにある。
以下本考案の一実施例を図面に基づいて説明す
る。１及び２は基準用電気回路装置たる基準用回
路基板で、これは電気機器の一機能部分を構成す
るものである。そして、各基準用回路基板１，２
は前記電気機器内に実装する等して正常に動作す
ることが予め確認されている。３1乃至３ｎは複
数個即ちｎ個の被検査用電気回路装置たる被検査
用回路基板で、各々は前記基準用回路基板１，２
と同一の構成をなす。４は信号発生装置で、これ
は前記各回路基板１，２，３1乃至３ｎの入力と
して考えられるすすべての組合せの一連の模擬信
号Ｓ１をシーケンシヤルに発生し、その模擬信号
Ｓ１を各回路基板１，２，３1乃至３ｎの入力端
子群Ｐ１にライン群LAを介して順次与える構成
であり、一連の模擬信号Ｓ１を全部発生し終えた
ときに終了信号Ｓ２を出力して報知ブザー５を鳴
動させるようになつている。６及び７1乃至７ｎ
は前記基準用回路基板２及び被検査用回路基板３
１乃至３ｎに夫々対応して設けられた比較装置で、
各々は排他的NOR回路群９とこの排他的NOR回
路群９からの出力を各別に受ける多入力NAND
回路１０とから成る。そして、比較装置６，７1
乃至７ｎ内の排他的NOR回路群９において、各
一方の入力端子が前記基準用回路基板１の出力端
子群Ｐ２に対してライン群LBを介して各別に接
続され、また各他方の入力端子が基準用回路基板
２及び被検査用回路基板３1乃至３ｎの各出力端
子群Ｐ２に対して夫々ライン群Lc及びL1乃至Ln
を介して各別に接続されている。１１及び１２1
乃至１２ｎは前記比較装置６及び７1乃至７ｎに
夫々対応して設けられた異常表示装置で、各各は
Ｒ−Ｓフリツプフロツプ１３と表示ランプ１４と
から成る。尚、異常表示装置１１が本考案の表示
装置に相当する。そして、各Ｒ−Ｓフリツプフロ
ツプ１３のセツト入力端子Ｓが前記各NAND回
路１０の出力端子に夫々接続され、また表示ラン
プ１４は夫々に対応したＲ−Ｓフリツプフロツプ
１３がセツトされてそのセツト出力端子Ｑからハ
イレベル信号が出されたときにこれを受けて点灯
するように構成されている。１５はスタートスイ
ツチで、これは手動により開成されると、前記各
Ｒ−Ｓフリツプフロツプ１３のリセツト入力端子
Ｒに信号を送つてこれをリセツトさせると共に、
前記信号発生装置４にも信号を送つて一連の模擬
信号Ｓ１を最初のものから発生するように制御す
る。尚、基準用回路基板１，２及び被検査用回路
基板３1乃至３ｎは夫々ライン群LA，LB，LC，
L1乃至Lnに対してプラグイン方式等により簡単
に接続或は取外しできるようになされている。
る。１及び２は基準用電気回路装置たる基準用回
路基板で、これは電気機器の一機能部分を構成す
るものである。そして、各基準用回路基板１，２
は前記電気機器内に実装する等して正常に動作す
ることが予め確認されている。３1乃至３ｎは複
数個即ちｎ個の被検査用電気回路装置たる被検査
用回路基板で、各々は前記基準用回路基板１，２
と同一の構成をなす。４は信号発生装置で、これ
は前記各回路基板１，２，３1乃至３ｎの入力と
して考えられるすすべての組合せの一連の模擬信
号Ｓ１をシーケンシヤルに発生し、その模擬信号
Ｓ１を各回路基板１，２，３1乃至３ｎの入力端
子群Ｐ１にライン群LAを介して順次与える構成
であり、一連の模擬信号Ｓ１を全部発生し終えた
ときに終了信号Ｓ２を出力して報知ブザー５を鳴
動させるようになつている。６及び７1乃至７ｎ
は前記基準用回路基板２及び被検査用回路基板３
１乃至３ｎに夫々対応して設けられた比較装置で、
各々は排他的NOR回路群９とこの排他的NOR回
路群９からの出力を各別に受ける多入力NAND
回路１０とから成る。そして、比較装置６，７1
乃至７ｎ内の排他的NOR回路群９において、各
一方の入力端子が前記基準用回路基板１の出力端
子群Ｐ２に対してライン群LBを介して各別に接
続され、また各他方の入力端子が基準用回路基板
２及び被検査用回路基板３1乃至３ｎの各出力端
子群Ｐ２に対して夫々ライン群Lc及びL1乃至Ln
を介して各別に接続されている。１１及び１２1
乃至１２ｎは前記比較装置６及び７1乃至７ｎに
夫々対応して設けられた異常表示装置で、各各は
Ｒ−Ｓフリツプフロツプ１３と表示ランプ１４と
から成る。尚、異常表示装置１１が本考案の表示
装置に相当する。そして、各Ｒ−Ｓフリツプフロ
ツプ１３のセツト入力端子Ｓが前記各NAND回
路１０の出力端子に夫々接続され、また表示ラン
プ１４は夫々に対応したＲ−Ｓフリツプフロツプ
１３がセツトされてそのセツト出力端子Ｑからハ
イレベル信号が出されたときにこれを受けて点灯
するように構成されている。１５はスタートスイ
ツチで、これは手動により開成されると、前記各
Ｒ−Ｓフリツプフロツプ１３のリセツト入力端子
Ｒに信号を送つてこれをリセツトさせると共に、
前記信号発生装置４にも信号を送つて一連の模擬
信号Ｓ１を最初のものから発生するように制御す
る。尚、基準用回路基板１，２及び被検査用回路
基板３1乃至３ｎは夫々ライン群LA，LB，LC，
L1乃至Lnに対してプラグイン方式等により簡単
に接続或は取外しできるようになされている。
次に上記構成の作用を説明する。今、スタート
スイツチ１５を閉成操作すると、異常表示装置１
１，１２1乃至１２ｎ内の各Ｒ−Ｓフリツプフロ
ツプ１３がリセツトされて各表示ランプ１４が消
灯されると共に、信号発生装置４から一連の模擬
信号Ｓ１が最初のものからシーケンシヤルに発生
されて、これらが基準用回路基板１，２及び被検
査用回路基板３1乃至３ｎに対して順次入力され、
以てこれらの検査が開始される。このとき被検査
用回路基板３1乃至３ｎがすべて正常であつた場
合には、前記模擬信号Ｓ１が一巡する期間におい
て被検査用回路基板３1乃至３ｎの出力は基準用
回路基板１からの出力と常に同一であり、従つ
て、比較装置７1乃至７ｎにおいては、前記模擬
信号Ｓ１が一巡する期間中夫々の排他的NOR回
路群９の各対をなす入力端子に同一の信号が入力
されて該排他的NOR回路群９の出力がすべてハ
イレベルとなるから、多入力NAND回路１０か
らローレベル信号が出力される。このため、結果
的に各比較装置７1乃至７ｎに対応した表示ラン
プ１４は終始点灯することがなく、信号発生装置
４から一連の模擬信号Ｓ１が全部発生されて被検
査用回路基板３1乃至３ｎの検査がすべて終了す
ると該信号発生装置４から終了信号Ｓ２が出力さ
れて報知ブザー５が鳴動し、以て被検査用回路基
板３1乃至３ｎがすべて正常に動作することが報
知されてこれらの検査が終了する。一方、被検査
用回路基板３1乃至３ｎのうち例えば被検査用回
路基板３1に異常があつた場合には、これらの検
査中に比較装置７1内の排他的NOR回路群９の少
なくとも１個に対して基準用回路基板１からの出
力信号と異なる信号が与えられ、このため該比較
装置７1内の多入力NAND回路１０からハイレベ
ル信号が出力されるから、これに対応したＲ−Ｓ
フリツプフロツプ１３がセツトされて表示ランプ
１４が点灯し、以て被検査用回路基板３1に異常
があることを報知する。以上のようにして被検査
用回路基板３1乃至３ｎの検査が生産ライン等で
行なわれる。
スイツチ１５を閉成操作すると、異常表示装置１
１，１２1乃至１２ｎ内の各Ｒ−Ｓフリツプフロ
ツプ１３がリセツトされて各表示ランプ１４が消
灯されると共に、信号発生装置４から一連の模擬
信号Ｓ１が最初のものからシーケンシヤルに発生
されて、これらが基準用回路基板１，２及び被検
査用回路基板３1乃至３ｎに対して順次入力され、
以てこれらの検査が開始される。このとき被検査
用回路基板３1乃至３ｎがすべて正常であつた場
合には、前記模擬信号Ｓ１が一巡する期間におい
て被検査用回路基板３1乃至３ｎの出力は基準用
回路基板１からの出力と常に同一であり、従つ
て、比較装置７1乃至７ｎにおいては、前記模擬
信号Ｓ１が一巡する期間中夫々の排他的NOR回
路群９の各対をなす入力端子に同一の信号が入力
されて該排他的NOR回路群９の出力がすべてハ
イレベルとなるから、多入力NAND回路１０か
らローレベル信号が出力される。このため、結果
的に各比較装置７1乃至７ｎに対応した表示ラン
プ１４は終始点灯することがなく、信号発生装置
４から一連の模擬信号Ｓ１が全部発生されて被検
査用回路基板３1乃至３ｎの検査がすべて終了す
ると該信号発生装置４から終了信号Ｓ２が出力さ
れて報知ブザー５が鳴動し、以て被検査用回路基
板３1乃至３ｎがすべて正常に動作することが報
知されてこれらの検査が終了する。一方、被検査
用回路基板３1乃至３ｎのうち例えば被検査用回
路基板３1に異常があつた場合には、これらの検
査中に比較装置７1内の排他的NOR回路群９の少
なくとも１個に対して基準用回路基板１からの出
力信号と異なる信号が与えられ、このため該比較
装置７1内の多入力NAND回路１０からハイレベ
ル信号が出力されるから、これに対応したＲ−Ｓ
フリツプフロツプ１３がセツトされて表示ランプ
１４が点灯し、以て被検査用回路基板３1に異常
があることを報知する。以上のようにして被検査
用回路基板３1乃至３ｎの検査が生産ライン等で
行なわれる。
ところで、上述のような被検査用回路基板３1
乃至３ｎの検査中において、基準用回路基板１，
２の何れか一方に故障が発生した場合には、夫々
からの出力が不一致になることがあるから、この
ときに比較装置６内の排他的NOR回路群９の少
なくとも１個に対してその対をなす入力端子に異
なる信号が与えられる。このため比較装置６内の
多入力NAND回路１０からハイレベル信号が出
力されてこれに対応した表示ランプ１４が点灯さ
れ、以て基準用回路基板１，２の何れか一方が故
障したことを報知する。
乃至３ｎの検査中において、基準用回路基板１，
２の何れか一方に故障が発生した場合には、夫々
からの出力が不一致になることがあるから、この
ときに比較装置６内の排他的NOR回路群９の少
なくとも１個に対してその対をなす入力端子に異
なる信号が与えられる。このため比較装置６内の
多入力NAND回路１０からハイレベル信号が出
力されてこれに対応した表示ランプ１４が点灯さ
れ、以て基準用回路基板１，２の何れか一方が故
障したことを報知する。
上記した本実施例によれば、２個の基準用回路
基板１，２を設けてそのうちの一方を複数個の被
検査用回路基板３1乃至３ｎとの比較用になすと
共に、その比較時即ち検査時において各基準用回
路基板１，２に同一入力条件を与えて夫々の出力
を比較装置６により比較し、その比較出力が不一
致になつたときに基準用回路基板２に対応した表
示ランプ１４を点灯させるように構成したから、
基準用回路基板１，２の何れか一方が故障したこ
とを容易に知ることができ、従つて従来のように
正常な被検査用回路基板を誤まつて異常と見なし
てしまう虞がなく、検査の信頼性が低下してしま
うことがないものである。この場合、２個の基準
用回路基板１，２が同時に故障する確率は極めて
低く、この面から検査の信頼性が低下してしまう
こともないものであり、従つて基準用回路基板
１，２としては、特別仕様の信頼性の高いものを
用いなくとも、生産ラインで生産したものをその
まま用いても十分実用になる利点がある。
基板１，２を設けてそのうちの一方を複数個の被
検査用回路基板３1乃至３ｎとの比較用になすと
共に、その比較時即ち検査時において各基準用回
路基板１，２に同一入力条件を与えて夫々の出力
を比較装置６により比較し、その比較出力が不一
致になつたときに基準用回路基板２に対応した表
示ランプ１４を点灯させるように構成したから、
基準用回路基板１，２の何れか一方が故障したこ
とを容易に知ることができ、従つて従来のように
正常な被検査用回路基板を誤まつて異常と見なし
てしまう虞がなく、検査の信頼性が低下してしま
うことがないものである。この場合、２個の基準
用回路基板１，２が同時に故障する確率は極めて
低く、この面から検査の信頼性が低下してしまう
こともないものであり、従つて基準用回路基板
１，２としては、特別仕様の信頼性の高いものを
用いなくとも、生産ラインで生産したものをその
まま用いても十分実用になる利点がある。
尚、上記実施例では、表示ランプ１４を異常時
に点灯させるようにしたが、これを正常時に点灯
させるように構成しても良いことは勿論である。
に点灯させるようにしたが、これを正常時に点灯
させるように構成しても良いことは勿論である。
本考案によれば以上の説明から理解されるよう
に、基準用電気回路装置を余分に１台設けるだけ
の簡単な構成で基準用電気回路装置に故障が生じ
た場合にこれをいち早く表示することができて正
常な被検査用電気回路装置を誤まつて異常と見な
してしまう虞がなく、以て検査の信頼性を高める
ことができる等の効果を奏する電気回路の検査装
置を提供することができる。
に、基準用電気回路装置を余分に１台設けるだけ
の簡単な構成で基準用電気回路装置に故障が生じ
た場合にこれをいち早く表示することができて正
常な被検査用電気回路装置を誤まつて異常と見な
してしまう虞がなく、以て検査の信頼性を高める
ことができる等の効果を奏する電気回路の検査装
置を提供することができる。
図面は本考案の一実施例を示すブロツク図であ
る。 図中、１，２は基準用回路基板（基準用電気回
路装置）、３1乃至３ｎは被検査用回路基板（被検
査用電気回路装置）、１１は異常表示装置（表示
装置）、１２1乃至１２ｎは異常表示装置である。
る。 図中、１，２は基準用回路基板（基準用電気回
路装置）、３1乃至３ｎは被検査用回路基板（被検
査用電気回路装置）、１１は異常表示装置（表示
装置）、１２1乃至１２ｎは異常表示装置である。
Claims (1)
- 複数個の被検査用電気回路装置と正常に動作す
ることが予め確認された基準用電気回路装置とに
同一入力条件を与えて各々の出力を比較すること
により前記被検査用電気回路装置の異常を検出す
るようにしたものにおいて、前記基準用電気回路
装置を２個設けてそのうちの一方を前記被検査用
電気回路装置との比較用になすと共にその比較時
において他方の基準用電気回路装置にも同一入力
条件を与えるように構成し、さらに、各基準用電
気回路装置からの出力が不一致になつたときにこ
れを表示する表示装置を設けたことを特徴とする
電気回路の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9480679U JPH0249576Y2 (ja) | 1979-07-10 | 1979-07-10 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9480679U JPH0249576Y2 (ja) | 1979-07-10 | 1979-07-10 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5612873U JPS5612873U (ja) | 1981-02-03 |
| JPH0249576Y2 true JPH0249576Y2 (ja) | 1990-12-27 |
Family
ID=29327679
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9480679U Expired JPH0249576Y2 (ja) | 1979-07-10 | 1979-07-10 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0249576Y2 (ja) |
-
1979
- 1979-07-10 JP JP9480679U patent/JPH0249576Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5612873U (ja) | 1981-02-03 |
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