JPH0251104A - Coレーザ用ビームスプリッタ膜 - Google Patents
Coレーザ用ビームスプリッタ膜Info
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- JPH0251104A JPH0251104A JP63202395A JP20239588A JPH0251104A JP H0251104 A JPH0251104 A JP H0251104A JP 63202395 A JP63202395 A JP 63202395A JP 20239588 A JP20239588 A JP 20239588A JP H0251104 A JPH0251104 A JP H0251104A
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- Optical Filters (AREA)
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- Lasers (AREA)
- Optical Elements Other Than Lenses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、COレーザ用光学部品として使用されるビ
ームスプリッタの光学膜に関するものである。
ームスプリッタの光学膜に関するものである。
[従来の技術]
ビームスプリッタ(光強度分岐素子)は、出力鏡より出
射してくる強力なレーザビームを、主に入射角45°で
入射させて、反射光と透過光のそれぞれの光強度を所望
の比率で分岐し、ビームの複数化を図るためのものであ
る。
射してくる強力なレーザビームを、主に入射角45°で
入射させて、反射光と透過光のそれぞれの光強度を所望
の比率で分岐し、ビームの複数化を図るためのものであ
る。
従来より、赤外レーザ加工機等に使用されているビーム
スプリッタとして、基板の上に光学膜をコーティングし
たものが知られている。このようなビームスプリッタと
しては、種々の製品が知られているが、その光学膜の組
成や構造等についてほとんど明らかにされていない。
スプリッタとして、基板の上に光学膜をコーティングし
たものが知られている。このようなビームスプリッタと
しては、種々の製品が知られているが、その光学膜の組
成や構造等についてほとんど明らかにされていない。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、このような光学膜がコーティングされて
いる従来のレーザ用ビームスプリッタは、指定波長で透
過率スペクトルの極値特性を有していないため、波長の
わずかな変動で透過率または反射率が大きく変動し、光
学特性における安定性が悪いという問題があった。
いる従来のレーザ用ビームスプリッタは、指定波長で透
過率スペクトルの極値特性を有していないため、波長の
わずかな変動で透過率または反射率が大きく変動し、光
学特性における安定性が悪いという問題があった。
この発明の目的は、指定波長で透過率の極値特性を示す
COレーザ用ビームスプリッタ膜を提供することにある
。
COレーザ用ビームスプリッタ膜を提供することにある
。
[課題を解決するための手段および作用]この発明のビ
ームスプリッタ膜は、波長λのCOレーザビームに対し
て45゛の傾斜で設置され、入射レーザビームを所定の
反射率で反射するCOレーザ用ビームスプリッタ膜であ
って、屈折率N8の高屈折率層と屈折率NLの低屈折率
層を、高屈折率層と同じ材質からなる屈折率NG(−N
ll)の基板の入射側の面の上に交互に積層して反射膜
を構成し、基板の出射側の面の上には、低屈折率層と高
屈折率層の2層構造からなる反射防止膜を構成している
。
ームスプリッタ膜は、波長λのCOレーザビームに対し
て45゛の傾斜で設置され、入射レーザビームを所定の
反射率で反射するCOレーザ用ビームスプリッタ膜であ
って、屈折率N8の高屈折率層と屈折率NLの低屈折率
層を、高屈折率層と同じ材質からなる屈折率NG(−N
ll)の基板の入射側の面の上に交互に積層して反射膜
を構成し、基板の出射側の面の上には、低屈折率層と高
屈折率層の2層構造からなる反射防止膜を構成している
。
この発明のビームスプリッタ膜における反射膜の構造に
ついて、第1図を参照して説明する。第1図に示すよう
に、基板1上に、低屈折率層2および高屈折率層3を交
互に積層して、反射膜10を構成する。基板1は、高屈
折率層3と同じ材質からなり、したがって高屈折率層の
屈折率NHと基板1の屈折率NGとは等しい。また、低
屈折率層2は、屈折率NHを有する。
ついて、第1図を参照して説明する。第1図に示すよう
に、基板1上に、低屈折率層2および高屈折率層3を交
互に積層して、反射膜10を構成する。基板1は、高屈
折率層3と同じ材質からなり、したがって高屈折率層の
屈折率NHと基板1の屈折率NGとは等しい。また、低
屈折率層2は、屈折率NHを有する。
第2図に示すように、この発明のビームスプリッタ膜は
、上述のような反射膜10を入射側の面1aに有すると
ともに、出射側の而1bには、反射防止@20を有する
。反射防止膜20は、低屈折率層2と高屈折率層3の2
層構造からなる。
、上述のような反射膜10を入射側の面1aに有すると
ともに、出射側の而1bには、反射防止@20を有する
。反射防止膜20は、低屈折率層2と高屈折率層3の2
層構造からなる。
第3図に示すように、この発明のビームスプリッタ膜は
、入射レーザビーム30に対して45゜の傾斜で設置さ
れ、所定の反射率Rでレーザビーム30を反射する。入
射レーザビーム30の中で基板1内に入ったビーム光は
、反射防止膜20を通り透過する。反射防止膜20は、
このような基板1内に入った光が反射するのを防止する
ためのものである。基板1内に入ったビーム光は透過光
となり、その透過率はTで表わされる。
、入射レーザビーム30に対して45゜の傾斜で設置さ
れ、所定の反射率Rでレーザビーム30を反射する。入
射レーザビーム30の中で基板1内に入ったビーム光は
、反射防止膜20を通り透過する。反射防止膜20は、
このような基板1内に入った光が反射するのを防止する
ためのものである。基板1内に入ったビーム光は透過光
となり、その透過率はTで表わされる。
この発明において、反射膜中の高屈折率層の膜厚り、お
よび低屈折率層の膜厚DLは、成る仮定をもとにして求
められる。第4図は、この仮定を説明するための模式断
面図である。すなわち、この発明においては、反射膜1
0の積層構造の中で、低屈折率層2の両側を高屈折率層
の一部3cおよび3aまたは基板の一部3dで挾んだ3
層構造の対称3層膜4と、該対称3層膜4と交互に積層
されるとみなすことのできる高屈折率層の残りの部分で
ある高屈折率残部層3bの2つの層の積層構造を仮定す
る。そして、対称3層膜4および高屈折率残部層3bの
それぞれの光学厚みをλ/4(λは入射レーザビームの
波長)であるとする。
よび低屈折率層の膜厚DLは、成る仮定をもとにして求
められる。第4図は、この仮定を説明するための模式断
面図である。すなわち、この発明においては、反射膜1
0の積層構造の中で、低屈折率層2の両側を高屈折率層
の一部3cおよび3aまたは基板の一部3dで挾んだ3
層構造の対称3層膜4と、該対称3層膜4と交互に積層
されるとみなすことのできる高屈折率層の残りの部分で
ある高屈折率残部層3bの2つの層の積層構造を仮定す
る。そして、対称3層膜4および高屈折率残部層3bの
それぞれの光学厚みをλ/4(λは入射レーザビームの
波長)であるとする。
なお、高屈折率残部層3bは、高屈折率層3の一部であ
るので、その屈折率Naは、高屈折率層の屈折率N8と
等しい。
るので、その屈折率Naは、高屈折率層の屈折率N8と
等しい。
このような仮定は、本発明者が既に出願している特願昭
61−233708号の出願明細書における仮定と同様
のものである。この既出願は、垂直入射に対する部分反
射膜について開示しているが、この発明のように45゛
入射のような斜め入射の場合には既出願の発明の内容を
そのまま適用することができない。
61−233708号の出願明細書における仮定と同様
のものである。この既出願は、垂直入射に対する部分反
射膜について開示しているが、この発明のように45゛
入射のような斜め入射の場合には既出願の発明の内容を
そのまま適用することができない。
この発明においでは、斜め入射であるため、偏光を考慮
する必要がある。まず、S偏光およびP偏光についての
基板および高屈折率残部層のそれぞれの有効屈折率ηG
、νおよびηB、vを求める必要がある。有効屈折率η
l iVは、次の一般的な(1)式から求めることがで
きる。
する必要がある。まず、S偏光およびP偏光についての
基板および高屈折率残部層のそれぞれの有効屈折率ηG
、νおよびηB、vを求める必要がある。有効屈折率η
l iVは、次の一般的な(1)式から求めることがで
きる。
[iは層または膜の種別を示し、νはSまたはPの偏光
状態を示す。θ1は各膜内の屈折角を示す。
状態を示す。θ1は各膜内の屈折角を示す。
]
次に、得られた有効屈折率ηG +llおよびη8.ν
、S偏光の反射率R,およびP偏光の反射率RFの関係
を示す次の(n)式、ならびに非偏光の反射率Runと
R8およびRPの関係を示す次の(m)式から、所定の
反射率における対称3層膜の有効屈折率η8.νを算出
する。
、S偏光の反射率R,およびP偏光の反射率RFの関係
を示す次の(n)式、ならびに非偏光の反射率Runと
R8およびRPの関係を示す次の(m)式から、所定の
反射率における対称3層膜の有効屈折率η8.νを算出
する。
[之は基板上の対称3層膜および高屈折率残部層の数を
示す。] Ru n ” (Rg + RP ) / 2
・” (III)得られた対称3層膜の有効屈折率η
8.しから、(1)式を用い、対称3層膜の屈折率Nx
を求める。高屈折率残部層の光学厚みはλ/4であるの
で、高屈折率残部層の膜厚Daは、次の(rV)式から
求めることができる。
示す。] Ru n ” (Rg + RP ) / 2
・” (III)得られた対称3層膜の有効屈折率η
8.しから、(1)式を用い、対称3層膜の屈折率Nx
を求める。高屈折率残部層の光学厚みはλ/4であるの
で、高屈折率残部層の膜厚Daは、次の(rV)式から
求めることができる。
NHDB cosθ■−λ/4 ・= (IV)次
に、低屈折率層の膜厚り、および高屈折率層の膜厚り、
lとして適切な値を求めるため、まずレーザビームが垂
直に入射する反射膜の場合に対応する低屈折率層の膜厚
dL′と、その両側に位置し対称3層膜を構成する高屈
折率層の一部となる中層の膜厚dA′を次の(V)式お
よび(VI)式から求める。
に、低屈折率層の膜厚り、および高屈折率層の膜厚り、
lとして適切な値を求めるため、まずレーザビームが垂
直に入射する反射膜の場合に対応する低屈折率層の膜厚
dL′と、その両側に位置し対称3層膜を構成する高屈
折率層の一部となる中層の膜厚dA′を次の(V)式お
よび(VI)式から求める。
入射に見かけ上対応する値であるdLおよびd−に変換
する。この変換は次の(■)式により行な] 以上のようにして得られたd、およびdAの値をもとに
、計算によるシミュレーションで、DLおよびり、とじ
て最も適切な値を決定する。すなわち、dLの近傍の値
を低屈折率層の膜厚DLの仮の値とし、dAおよびDa
から計算される値の近傍の値を高屈折率層の膜厚り。の
仮の値として、計算によるシミュレーションを行なう。
する。この変換は次の(■)式により行な] 以上のようにして得られたd、およびdAの値をもとに
、計算によるシミュレーションで、DLおよびり、とじ
て最も適切な値を決定する。すなわち、dLの近傍の値
を低屈折率層の膜厚DLの仮の値とし、dAおよびDa
から計算される値の近傍の値を高屈折率層の膜厚り。の
仮の値として、計算によるシミュレーションを行なう。
なお、第4図に示すように、最も外側の高屈折率層は、
高屈折率残部層3bと高屈折率層の一部3Cとから構成
されるので、次の式から計算される値の近傍の値を用い
る。
高屈折率残部層3bと高屈折率層の一部3Cとから構成
されるので、次の式から計算される値の近傍の値を用い
る。
dA+DI11
また、最も外側の以上外の高屈折率層は、高屈折率残部
層3bと、その両側の高屈折率層の一部3aおよび3C
とから構成されるので、次の式から計算される値の近傍
の値を用いる。
層3bと、その両側の高屈折率層の一部3aおよび3C
とから構成されるので、次の式から計算される値の近傍
の値を用いる。
d A + 2 D B
計算によるシミュレーションは以下のようにして行なう
。
。
まず、D、およびり、のそれぞれの仮の値を、次の(■
)式のd「に代入して、drを算出する。
)式のd「に代入して、drを算出する。
入
[Nrは各層の屈折率、drは各層の膜厚、θ「は各層
内の屈折角を示す。「は各層を示す。]次に、各層の有
効屈折率ηr、l/および基板の有効屈折率ηG up
を(1)式から算出して、上の(■)式から得られたδ
「を用い、次の(IX)式からS偏光およびP偏光につ
いてのBνおよびC2を算出する。
内の屈折角を示す。「は各層を示す。]次に、各層の有
効屈折率ηr、l/および基板の有効屈折率ηG up
を(1)式から算出して、上の(■)式から得られたδ
「を用い、次の(IX)式からS偏光およびP偏光につ
いてのBνおよびC2を算出する。
・・・ (IX)
得られたB、およびCVを次の(X)式に代入して、S
偏光の透過率T8..およびP偏光の透過率TI、Fを
算出する。
偏光の透過率T8..およびP偏光の透過率TI、Fを
算出する。
・・・ (X)
[η0は外側の媒質(空気中の場合は空気)の有効屈折
率を示し、nは反射膜の場合17反射防止膜の場合2で
ある。Re()は()内の数の実部を示す。] 得られたT71.およびTI、Pを(XI)式に代入し
て、反射膜の非偏光の透過率T++unを算出する。
率を示し、nは反射膜の場合17反射防止膜の場合2で
ある。Re()は()内の数の実部を示す。] 得られたT71.およびTI、Pを(XI)式に代入し
て、反射膜の非偏光の透過率T++unを算出する。
Tn+un−(Tn+ S+TNHP)/2・・・ (
XI) 次に、反射防止膜の透過率T2.un も同様にして算
出する。
XI) 次に、反射防止膜の透過率T2.un も同様にして算
出する。
得られた反射膜の非偏光の透過率T、、urlおよび反
射防止膜の非偏光の透過率T2+unを、次の(XII
)式に代入し、ビームスプリッタ膜全以上の計算による
シミュレーシヨンを’ Ttotalが所定の反射率と
なり、かつ波長λで極値特性を示すまで、DLおよびり
、のそれぞれの仮の値を変化させて繰返すことにより、
DLおよびり。
射防止膜の非偏光の透過率T2+unを、次の(XII
)式に代入し、ビームスプリッタ膜全以上の計算による
シミュレーシヨンを’ Ttotalが所定の反射率と
なり、かつ波長λで極値特性を示すまで、DLおよびり
、のそれぞれの仮の値を変化させて繰返すことにより、
DLおよびり。
として適切な値を決定する。
この発明のビームスプリッタ膜は、以上のようにして決
定された適切な値の膜厚で、低屈折率層と高屈折率層を
基板の入射側の面の上に交互に積層して反射膜を設けた
ことを特徴としている。
定された適切な値の膜厚で、低屈折率層と高屈折率層を
基板の入射側の面の上に交互に積層して反射膜を設けた
ことを特徴としている。
通常、ビームスプリッタ膜として最もよく用いられるも
のは、反射率50%のものである。波長5.3μmのC
oレーザビームに対して反射率50%を示すビームスプ
リッタ膜を、高屈折率層の材質としてZn5eを用い、
低屈折率層の材質としてThF4を用いて構成する場合
、光学膜厚0゜992±0.099μmのThF4層か
らなる低屈折率層をZn5eからなる基板の入射側の面
の上に設け、この低屈折率層の上に、光学膜厚1゜71
2±0.171μmのZn5e層からなる高屈折率層を
設け、この発明に従うビームスプリッタ膜とすることが
できる。
のは、反射率50%のものである。波長5.3μmのC
oレーザビームに対して反射率50%を示すビームスプ
リッタ膜を、高屈折率層の材質としてZn5eを用い、
低屈折率層の材質としてThF4を用いて構成する場合
、光学膜厚0゜992±0.099μmのThF4層か
らなる低屈折率層をZn5eからなる基板の入射側の面
の上に設け、この低屈折率層の上に、光学膜厚1゜71
2±0.171μmのZn5e層からなる高屈折率層を
設け、この発明に従うビームスプリッタ膜とすることが
できる。
また、基板の出射側の面の上に設けられる反射防止膜は
、斜め入射光に対する5chusterの2層反射防止
条件式に基づき最適な値を決定することができる。この
場合も、S偏光およびP偏光から得られた値から非偏光
についての最も適した値を決定する。高屈折率層として
Zn5e層を用い、低屈折率層としてThF4層を用い
る場合には、基板の上にまず光学膜厚1.116±0゜
112μmのThF4層を設け、その上に光学膜厚0.
175±0.018μmのZn5e層を設ける。
、斜め入射光に対する5chusterの2層反射防止
条件式に基づき最適な値を決定することができる。この
場合も、S偏光およびP偏光から得られた値から非偏光
についての最も適した値を決定する。高屈折率層として
Zn5e層を用い、低屈折率層としてThF4層を用い
る場合には、基板の上にまず光学膜厚1.116±0゜
112μmのThF4層を設け、その上に光学膜厚0.
175±0.018μmのZn5e層を設ける。
この発明のビームスプリッタ膜は、所定の波長λで極値
特性を有するように高屈折率層および低屈折率層の光学
膜厚が設定されているため、波長の変動に対し安定して
機能させることができる。
特性を有するように高屈折率層および低屈折率層の光学
膜厚が設定されているため、波長の変動に対し安定して
機能させることができる。
さらに高屈折率層としてZn5e層を用いた場合には、
最も外側の層がZn5e層となるため、耐光性能を向上
させることができる。
最も外側の層がZn5e層となるため、耐光性能を向上
させることができる。
[寅施例]
この発明に従うビームスプリッタ膜の一実施例の反射膜
を構成する高屈折率層および低屈折率層の光学膜厚を求
めた。基板としてはZn5eを用い、高屈折率層として
は基板と同じZn5eを用い、低屈折率層としてはTh
F4を用いて、種々の反射率のビームスプリッタ膜につ
いて求めた。
を構成する高屈折率層および低屈折率層の光学膜厚を求
めた。基板としてはZn5eを用い、高屈折率層として
は基板と同じZn5eを用い、低屈折率層としてはTh
F4を用いて、種々の反射率のビームスプリッタ膜につ
いて求めた。
表1に、この結果を示す。表1において、偶数番目の層
は高屈折率層であるZn5e層を示し、奇数番目の層は
低屈折率層であるThF、層を示している。光学膜厚の
値は、士を用いて範囲を持たせて示している。これは、
ビームスプリッタ膜が有する極値特性の許容誤差および
ビームスプリッタ膜に許容される反射率の許容誤差を考
慮したものである。
は高屈折率層であるZn5e層を示し、奇数番目の層は
低屈折率層であるThF、層を示している。光学膜厚の
値は、士を用いて範囲を持たせて示している。これは、
ビームスプリッタ膜が有する極値特性の許容誤差および
ビームスプリッタ膜に許容される反射率の許容誤差を考
慮したものである。
この発明においては、上述のように高屈折率層および低
屈折率層の光学膜厚として適切な値を決定するにあたり
、透過率を計算で求め透過率スペクトルをシミュレーシ
ョンしている。反射率30%、50%、70%および9
0%の各ビームスプリッタ膜についてのシミュレーショ
ンによる透過率スペクトルを第5図に示す。第5図に示
されるように、各ビームスプリッタ膜のシミュレーショ
ンによる透過率スペクトルでは、波長5.3μmの近傍
に透過率、すなわち吸収率の極値が存在していることが
わかる。
屈折率層の光学膜厚として適切な値を決定するにあたり
、透過率を計算で求め透過率スペクトルをシミュレーシ
ョンしている。反射率30%、50%、70%および9
0%の各ビームスプリッタ膜についてのシミュレーショ
ンによる透過率スペクトルを第5図に示す。第5図に示
されるように、各ビームスプリッタ膜のシミュレーショ
ンによる透過率スペクトルでは、波長5.3μmの近傍
に透過率、すなわち吸収率の極値が存在していることが
わかる。
反射防止膜については5chusterの2層反射防止
条件式に基づき、決定した。高屈折率層としてはZn5
eを用い、低屈折率層としてはThF、を用いた。求め
られた光学膜厚を表2に示す。表2において、第1層は
Zn5e層を示し、第2層はThF4層を示している。
条件式に基づき、決定した。高屈折率層としてはZn5
eを用い、低屈折率層としてはThF、を用いた。求め
られた光学膜厚を表2に示す。表2において、第1層は
Zn5e層を示し、第2層はThF4層を示している。
なお、この光学膜厚を求める際にも、S偏光およびP偏
光に対して得られたIli!厚の値を用い、シミュレー
ションにより非偏光に対する最適な値を求めている。
光に対して得られたIli!厚の値を用い、シミュレー
ションにより非偏光に対する最適な値を求めている。
表2
以上のようにして求められた光学膜厚で、反射膜および
反射防止膜を基板上に形成し、反射率50%および反射
率10%のビームスプリッタ膜を作製した。反射率50
%のビームスプリッタ膜の寸法は、直径2.5インチ、
厚み3mmとし、反射率10%のビームスプリッタ膜の
寸法は直径2゜0インチ、厚み3mrnとした。このよ
うにして得られた反射率50%のビームスプリッタ膜の
垂直入射に対する透過率スペクトルを、第6図に示す。
反射防止膜を基板上に形成し、反射率50%および反射
率10%のビームスプリッタ膜を作製した。反射率50
%のビームスプリッタ膜の寸法は、直径2.5インチ、
厚み3mmとし、反射率10%のビームスプリッタ膜の
寸法は直径2゜0インチ、厚み3mrnとした。このよ
うにして得られた反射率50%のビームスプリッタ膜の
垂直入射に対する透過率スペクトルを、第6図に示す。
第6図に示されるように、このビームスプリッタ膜は、
垂直入射に対しては波長5.3μmより若干長波長側に
極値を有している。45°入射の場合の透過率スペクト
ルは、垂直入射の場合の透過率スペクトルから短波長側
にシフトすることを考慮すると、このビームスプリッタ
膜は45@入射において波長5.3μmの近傍に極値特
性を有することが明らかである。
垂直入射に対しては波長5.3μmより若干長波長側に
極値を有している。45°入射の場合の透過率スペクト
ルは、垂直入射の場合の透過率スペクトルから短波長側
にシフトすることを考慮すると、このビームスプリッタ
膜は45@入射において波長5.3μmの近傍に極値特
性を有することが明らかである。
第7図は、反射率10%のビームスプリッタ膜の垂直入
射に対する透過率スペクトルを示す図である。この場合
も反射率50%のビームスプリッタ膜と同様に、波長5
.3μmよりも長波長側に極値特性を示しているが、4
5゛入肘の際のスペクトルの短波長シフトを考慮すると
、45°入肘においては波長5.3μmの近傍に極値特
性を有することが明らかである。
射に対する透過率スペクトルを示す図である。この場合
も反射率50%のビームスプリッタ膜と同様に、波長5
.3μmよりも長波長側に極値特性を示しているが、4
5゛入肘の際のスペクトルの短波長シフトを考慮すると
、45°入肘においては波長5.3μmの近傍に極値特
性を有することが明らかである。
以上の実施例から明らかなように、この発明のビームス
プリッタ膜は所定の波長で45°入射に対し透過率の極
値特性を有しており、このことは反射率においても所定
の波長で極値特性を有することを示している。よって、
この発明に従うビームスプリッタ膜は、入射レーザビー
ムの変動に対し、反射率の変動がわずかであり、優れた
安定性を示す。
プリッタ膜は所定の波長で45°入射に対し透過率の極
値特性を有しており、このことは反射率においても所定
の波長で極値特性を有することを示している。よって、
この発明に従うビームスプリッタ膜は、入射レーザビー
ムの変動に対し、反射率の変動がわずかであり、優れた
安定性を示す。
[発明の効果]
この発明のCOレーザ用ビームスプリッタ膜は、入射レ
ーザビームの波長の近傍に反射率の極値特性を有するた
め、入射レーザビームの波長の変動に対し安定性を有し
ている。したがって、この発明のビームスプリッタ膜は
、高出力レーザ加工機等の光強度分岐用光学部品として
有効に用いられるものである。
ーザビームの波長の近傍に反射率の極値特性を有するた
め、入射レーザビームの波長の変動に対し安定性を有し
ている。したがって、この発明のビームスプリッタ膜は
、高出力レーザ加工機等の光強度分岐用光学部品として
有効に用いられるものである。
第1図は、この発明のビームスプリッタ膜中の反射膜の
構造について説明するための模式断面図である。第2図
は、この発明のビームスプリッタ膜の一例を示す模式断
面図である。第3図は、この発明のビームスプリッタ膜
の使用状態を示す側面図である。第4図は、第1図に示
すビームスプリッタ膜に対し、この発明において仮定す
る対称3層膜と高屈折率残部層を示す模式断面図である
。 第5図は、種々の反射率を有するこの発明に従うビーム
スプリッタ膜のシミュレーションによる透過率スペクト
ルを示す図である。第6図は、この発明の一実施例のビ
ームスプリッタ膜の垂直入射で測定された赤外透過スペ
クトルを示す図である。 第7図は、この発明の他の実施例のビームスプリッタ膜
の垂直入射で測定された赤外透過スペクトルを示す図で
ある。 図において、1は基板、1aは入射側の面、1bは出射
側の面、2は低屈折率層、3は高屈折率層、3a、3c
は高屈折率層の一部、3bは高屈折率残部層、4は対称
3層膜、10は反射膜、20は反射防止膜、30は入射
レーザビームを示す。 第5図 波 数(cr’ )
構造について説明するための模式断面図である。第2図
は、この発明のビームスプリッタ膜の一例を示す模式断
面図である。第3図は、この発明のビームスプリッタ膜
の使用状態を示す側面図である。第4図は、第1図に示
すビームスプリッタ膜に対し、この発明において仮定す
る対称3層膜と高屈折率残部層を示す模式断面図である
。 第5図は、種々の反射率を有するこの発明に従うビーム
スプリッタ膜のシミュレーションによる透過率スペクト
ルを示す図である。第6図は、この発明の一実施例のビ
ームスプリッタ膜の垂直入射で測定された赤外透過スペ
クトルを示す図である。 第7図は、この発明の他の実施例のビームスプリッタ膜
の垂直入射で測定された赤外透過スペクトルを示す図で
ある。 図において、1は基板、1aは入射側の面、1bは出射
側の面、2は低屈折率層、3は高屈折率層、3a、3c
は高屈折率層の一部、3bは高屈折率残部層、4は対称
3層膜、10は反射膜、20は反射防止膜、30は入射
レーザビームを示す。 第5図 波 数(cr’ )
Claims (3)
- (1)波長λのCOレーザビームに対して45°の傾斜
で設置され、入射レーザビームを所定の反射率で反射す
るCOレーザ用ビームスプリッタ膜であって、 屈折率N_Hの高屈折率層と屈折率N_Lの低屈折率層
を、前記高屈折率層と同じ材質からなる、屈折率N_G
(=N_H)の基板の入射側の面の上に交互に積層して
反射膜を構成し、 基板の出射側の面の上には、低屈折率層と高屈折率層の
構造からなる反射防止膜を構成し、前記反射膜の積層構
造の中で、低屈折率層の両側を高屈折率層の一部または
基板の一部で挾んだ3層構造の対称3層膜と、該対称3
層膜と交互に積層されるとみなすことのできる高屈折率
層の残りの部分である高屈折率残部層(屈折率N_B=
N_H)の2つの層を仮定し、 S偏光およびP偏光について、基板および高屈折率残部
層のそれぞれの有効屈折率η_G、およびη_B_,_
νを( I )式から求め、 η_i_,_ν={N_i/cosθ_i(ν=Pのと
き)N_icosθ_i(ν=Sのとき)}・・・(
I )〔iは層または膜の種別を示し、νはSまたはPの
偏光状態を示す。θ_iは各膜内の屈折角を示す。 有効屈折率η_G_,_νおよびη_B_,_νと、S
偏光の反射率R_SおよびP偏光の反射率R_Pの関係
を示す(II)式、ならびに非偏光の反射率R_u_nと
R_SおよびR_Pの関係を示す(III)式から、所定
の反射率における対称3層膜の有効屈折率η_x_,_
νを算出し、( I )式から対称3層膜の屈折率N_x
を求め、 ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(II) [lは基板上の対称3層膜および高屈折率残部層の数を
示す。] R_u_n=(R_S+R_P)/2・・・(III)高
屈折率残部層の膜厚D_B(IV)式から求め、N_HD
_Bcosθ_H=λ/4・・・(IV)低屈折率層の膜
厚D_Lおよび高屈折率層の膜厚D_Hとして適切な値
を求めるため、まずレーザビームが垂直に入射する反射
膜の場合に対応する低屈折率層の膜厚d_L^0および
その両側に位置し対称3層膜を構成する高屈折率層の一
部の層の膜厚d_A^0を(V)式および(VI)式から
求め、▲数式、化学式、表等があります▼・・・(V) ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(VI) 次に(VII)式から、d_L^0およびd_A^0を4
5°入射に見かけ上対応する値であるd_L^4^5お
よびd_A^4^5に変換し、 d^4^5=d^0/√{1−/(1/2N^2)}・
・・(VII)[Nはd_A^0の場合N_Hで、d_L
^0の場合N_Lである。 d_L^4^5の近傍の値を低屈折率層の膜厚D_Lの
仮の値とし、d_A^4^5およびD_Bから計算され
る値の近傍の値を高屈折率層の膜厚D_Hの仮の値とし
て、(VIII)式のd_rにD_LおよびD_Hのそれぞ
れの仮の値を代入してδ_rを算出し、 δ_r=2πN_rd_rcosθ_r/λ・・・(V
III)[N_rは各層の屈折率、d_rは各層の膜厚、
θ_rは各層内の屈折角を示す。_rは各層を示す。]
各層の有効屈折率η_r_,_νおよび基板の有効屈折
率η_G_,_νを( I )式から算出して、(IX)式
からS偏光およびP偏光についてB_νおよびC_νを
算出し、 ▲数式、化学式、表等があります▼・・・(IX) B_νおよびC_νを(X)式に代入してS偏光の透過
率T_1_,_SおよびP偏光の透過率T_1_,_P
を算出し、 T_n_,_ν=4η_0Re(η_G_,_ν)/(
η_0B_ν+C_ν)(η_0B_ν+C_ν)^*
・・・(X) [η_0は外側の媒質(空気中の場合は空気)の有効屈
折率を示し、nは反射膜の場合1、反射防止膜の場合2
である。Re()は()内の数の実部を示す。] T_1_,_SおよびT_1_,_Pを(X I )式に
代入して、反射膜の非偏光の透過率T_1_,_u_n
を算出し、T_n_,_u_n=(T_n_,_S+T
_n_,_P)/2・・・(X I ) 反射防止膜の透過率T_2_,_u_nを同様にして算
出して、 ビームスプリッタ膜全体の透過率T_t_o_t_a_
lを(XII)式から求め、 T_t_o_t_a_l={(1/T_i_,_u_n
+1/T_2_,_u_n)−1}・・・(XII)この
ような計算によるシミュレーションを、T_t_o_t
_a_lが所定の反射率となりかつ波長λで極値特性を
示すまで、D_LおよびD_Hのそれぞれの仮の値を変
化させて繰返すことにより、D_LおよびD_Hとして
適切な値を決定し、 この膜厚で低屈折率層と高屈折率層を基板の入射側の面
の上に交互に積層して反射膜を設けたことを特徴とする
、COレーザ用ビームスプリッタ膜。 - (2)波長5.3μmのCOレーザビームに対して45
°の傾斜で設置され、実質的な反射率50%で入射レー
ザビームを反射するCOレーザ用ビームスプリッタ膜で
あって、 ZnSeからなる基板の入射側の面の上に、低屈折率層
として光学膜厚0.992±0.099μmのThF_
4層を設け、該ThF_4層の上に高屈折率層として光
学膜厚1.712±0.171μmのZnSe層を設け
たことを特徴とする、COレーザ用ビームスプリッタ膜
。 - (3)前記基板の出射側の面の上に反射防止膜が設けら
れ、該反射防止膜が基板上に設けられる光学膜厚1.1
16±0.112μmのThF_4層と、該ThF_4
層上に設けられる光学膜厚0.175±0.018μm
のZnSe層とから構成されることを特徴とする、請求
項2記載のCOレーザ用ビームスプリッタ膜。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63202395A JP2650047B2 (ja) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | Coレーザ用ビームスプリッタ膜 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63202395A JP2650047B2 (ja) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | Coレーザ用ビームスプリッタ膜 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0251104A true JPH0251104A (ja) | 1990-02-21 |
| JP2650047B2 JP2650047B2 (ja) | 1997-09-03 |
Family
ID=16456785
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63202395A Expired - Lifetime JP2650047B2 (ja) | 1988-08-12 | 1988-08-12 | Coレーザ用ビームスプリッタ膜 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2650047B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0623001U (ja) * | 1992-08-28 | 1994-03-25 | ぺんてる株式会社 | ハーフミラー |
| CN110954981A (zh) * | 2018-09-27 | 2020-04-03 | 精工爱普生株式会社 | 光学装置及电子设备 |
-
1988
- 1988-08-12 JP JP63202395A patent/JP2650047B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0623001U (ja) * | 1992-08-28 | 1994-03-25 | ぺんてる株式会社 | ハーフミラー |
| CN110954981A (zh) * | 2018-09-27 | 2020-04-03 | 精工爱普生株式会社 | 光学装置及电子设备 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2650047B2 (ja) | 1997-09-03 |
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