JPH0251122A - 一定の軸に平行でかつ厳密に平面な光束の走査用の装置 - Google Patents
一定の軸に平行でかつ厳密に平面な光束の走査用の装置Info
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- JPH0251122A JPH0251122A JP1126546A JP12654689A JPH0251122A JP H0251122 A JPH0251122 A JP H0251122A JP 1126546 A JP1126546 A JP 1126546A JP 12654689 A JP12654689 A JP 12654689A JP H0251122 A JPH0251122 A JP H0251122A
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- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 3
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 3
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-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、一定の与えられた軸に対し平行で厳密に平面
な光束の走査を行なうための装置、さらに限定的に言う
と、前記一定の与えられた軸にほぼ垂直な回転軸上にと
りつけられ、かかる回転軸をほぼ含んでいる平面をもつ
走査用ミラー、ならびに前記回転軸に対し垂直で前記一
定の与えられた軸を含む平面内にほぼ配置ささている光
源といった光学装置を含んでいるような前述の装置に関
する。
な光束の走査を行なうための装置、さらに限定的に言う
と、前記一定の与えられた軸にほぼ垂直な回転軸上にと
りつけられ、かかる回転軸をほぼ含んでいる平面をもつ
走査用ミラー、ならびに前記回転軸に対し垂直で前記一
定の与えられた軸を含む平面内にほぼ配置ささている光
源といった光学装置を含んでいるような前述の装置に関
する。
〈従来の技術〉
かかる装置はすでに当該技術分野において良く知られた
ものである。例えば、1987年2月4日付けのフラン
ス特許出願明細門弟87.01360号は、検流計の作
用の下で1本の軸を中心として旋回するミラーにより反
射されたレーザービームを用いた連続するラインによる
観察場面の走査が関すする装置を開示している。
ものである。例えば、1987年2月4日付けのフラン
ス特許出願明細門弟87.01360号は、検流計の作
用の下で1本の軸を中心として旋回するミラーにより反
射されたレーザービームを用いた連続するラインによる
観察場面の走査が関すする装置を開示している。
走査中に光束が一定の与えられた軸に平行な同一平面内
に含まれたままにとどまることが必要となることは多い
。
に含まれたままにとどまることが必要となることは多い
。
特に上述の特許出願明細書において、レーザービームが
その場面の一定の場所に光のスポットを形成する場合、
或いは又このスポットの像を感光要素のロッド上に形成
させる場合などがそれである。従って、このスポットの
像はロッドの各要素上に完全にセンタリングされており
、従って走査が完全に平面で走査平面がこのロッドの軸
と平行であることが大切である。
その場面の一定の場所に光のスポットを形成する場合、
或いは又このスポットの像を感光要素のロッド上に形成
させる場合などがそれである。従って、このスポットの
像はロッドの各要素上に完全にセンタリングされており
、従って走査が完全に平面で走査平面がこのロッドの軸
と平行であることが大切である。
この装置に対して望まれる精度は、反射ビームの高低角
について、約数秒の弧である。
について、約数秒の弧である。
逆に、感光レセプタを含む装置が利用可能になり、この
レセプタ上では、一定の与えられた軸に平行な一定の平
面からくる光を感光レセプタの方に反射する旋回ミラー
を用いてこの平面の走査を行なうことにより、この平面
から(る光のみを受は入れることも期待できる。
レセプタ上では、一定の与えられた軸に平行な一定の平
面からくる光を感光レセプタの方に反射する旋回ミラー
を用いてこの平面の走査を行なうことにより、この平面
から(る光のみを受は入れることも期待できる。
ところが、上述のように配置された装置においては、走
査平面の弯曲の原因が3つある。
査平面の弯曲の原因が3つある。
まず第一に、光源又は感光レセプタが回転軸に垂直な一
定の与えられた軸を含む平面のやや上又は下にある可能
性がある。すなわち光束はこの平面に対してゼロ入射を
もたない。
定の与えられた軸を含む平面のやや上又は下にある可能
性がある。すなわち光束はこの平面に対してゼロ入射を
もたない。
・一方、走査ミラーはその回転軸上に接着されておりそ
のため理論的には、ミラーの平面はこの軸を通過する。
のため理論的には、ミラーの平面はこの軸を通過する。
実際には、数秒の弧にも適しうる望ましい精度でこの条
件を満たすミラーを見つけることは不可能であることが
わかる;実際市販の検流計ミラーは、平行度上の欠陥を
呈し、その軸は20秒の弧を超える可能性がある。
件を満たすミラーを見つけることは不可能であることが
わかる;実際市販の検流計ミラーは、平行度上の欠陥を
呈し、その軸は20秒の弧を超える可能性がある。
最後に、ミラーの回転軸がそれ自体一定の与えられた軸
に厳密に垂直でない可能性がある。
に厳密に垂直でない可能性がある。
ここで装置を入念に作り上げることによって上述の第1
及び第3の欠点については制限できるかもしれないが、
ミラー自体に固有のものである第2の欠点についてはそ
うはいかないことがわかる。
及び第3の欠点については制限できるかもしれないが、
ミラー自体に固有のものである第2の欠点についてはそ
うはいかないことがわかる。
く課題を解決するための手段〉
本発明は、これら3つの欠点特に第2の欠点を補正する
ような装置を提供すること、すなわち、その回転軸上に
不完全に接着されたミラーを用いながら一定の与えられ
た軸に平行な面における走査を得ることをその目的とし
ている。
ような装置を提供すること、すなわち、その回転軸上に
不完全に接着されたミラーを用いながら一定の与えられ
た軸に平行な面における走査を得ることをその目的とし
ている。
このため、本発明の目的は、一定の与えられた軸に対し
ほぼ垂直な回転軸上にとりつけられかかる回転軸をほぼ
含む平面をもつ走査用ミラー及び前記回転軸に垂直な前
記一定の与えられた軸を含む平面内にほぼ配置された光
源または感光レセプタといったような光学装置を含み、
前記ミラーの回転軸に対しほぼ垂直で前記一定の与えら
れた軸を通過する予じめ定められた平面との関係におい
て光束の入射角度を調節するための第1の調節手段及び
かかる予じめ定められた平面との関係においてミラーの
回転軸の傾斜を調節するための第2の調節手段が含まれ
ていることを特徴とする、−定の与えられた軸に平行で
かつ厳密に平面な光束の走査を実現するための装置にあ
る。
ほぼ垂直な回転軸上にとりつけられかかる回転軸をほぼ
含む平面をもつ走査用ミラー及び前記回転軸に垂直な前
記一定の与えられた軸を含む平面内にほぼ配置された光
源または感光レセプタといったような光学装置を含み、
前記ミラーの回転軸に対しほぼ垂直で前記一定の与えら
れた軸を通過する予じめ定められた平面との関係におい
て光束の入射角度を調節するための第1の調節手段及び
かかる予じめ定められた平面との関係においてミラーの
回転軸の傾斜を調節するための第2の調節手段が含まれ
ていることを特徴とする、−定の与えられた軸に平行で
かつ厳密に平面な光束の走査を実現するための装置にあ
る。
これらの第1及び第2の調節は、上述の第1及び第3の
欠点に対して構じるべき補正措置にほぼ相応することが
わかる。
欠点に対して構じるべき補正措置にほぼ相応することが
わかる。
ところが本出願人は、驚くべきことにこれらの2つの調
節がそれだけでほぼ全面的に3つの欠点特に第2の欠点
つまりミラーのその回転軸上への接着に関係する欠点を
解消してくれるものであることを見い出した。
節がそれだけでほぼ全面的に3つの欠点特に第2の欠点
つまりミラーのその回転軸上への接着に関係する欠点を
解消してくれるものであることを見い出した。
本発明の特定の実施例において、かかる第1の調節手段
には、前記一定の与えられた軸を中心として調節可能な
傾斜の第1の旋回構造物が含まれており、光学装置はこ
の第1の旋回構造物の上にとりつけられている。
には、前記一定の与えられた軸を中心として調節可能な
傾斜の第1の旋回構造物が含まれており、光学装置はこ
の第1の旋回構造物の上にとりつけられている。
同様に、本発明の特定の一実施例に従うと、前記第2の
調節手段には、前記子しめ定められた平面内にほぼ含ま
れている調節軸を中心とする第2の旋回構造物が含まれ
ており、ミラーの回転軸はこの第2の旋回構造物の上に
とりつけられている。
調節手段には、前記子しめ定められた平面内にほぼ含ま
れている調節軸を中心とする第2の旋回構造物が含まれ
ており、ミラーの回転軸はこの第2の旋回構造物の上に
とりつけられている。
さらに限定的に言うと、この調節軸は前記一定の与えら
れた軸に対しほぼ垂直であってよい。
れた軸に対しほぼ垂直であってよい。
〈実施例〉
ここで、添付の図面を参照しながら本発明の特定の一実
施態様を、制限的な意味をもたない一例として説明して
いく。
施態様を、制限的な意味をもたない一例として説明して
いく。
第1A図、第2図及び第3A図において各記号は次のよ
うなものを称しているニ ーM: 走査ミラー −MXYZ: MXが、それに平行に走査を行ないた
いと思っている対象である一定の与えられた軸であり、
MXY平面が走査の理論的な平面となるように(なおM
Zはミラーの理論的回転軸である)装置に結びつけられ
た基準となる3直角3面角。
うなものを称しているニ ーM: 走査ミラー −MXYZ: MXが、それに平行に走査を行ないた
いと思っている対象である一定の与えられた軸であり、
MXY平面が走査の理論的な平面となるように(なおM
Zはミラーの理論的回転軸である)装置に結びつけられ
た基準となる3直角3面角。
−IM: 入射ビーム
−MR: 反射ビーム
−MN: ミラーに対する法線
一〜tM: XMY平面内の入射ビームIMの投影(
もしあれば) −Mr: XMY平面内の反射ビームMRの投影(も
しあれば) −Mn: XMY平面内のミラーMNに対する法線の
投影(もしあれば) 一φ: 入射ビームIMの方位角 −α: 反射ビームM Nの方位角の補数−h: 入射
ビームTM(又はその投影;M)がミラーに対する法線
MN (又はその投影Mn)と成す角度 −i: XMY平面との関係における入射ビームの冑
低角 j: ミラーに対する法線MN、l!:XMY平面が成
す角度 一〇二 ミラーの回転軸とMZ軸がXMZ平面内で成す
角度 第1A図は、考えられる第1の欠点つまりXMY平面と
の関係における入射ビームIMのゼロでない入射角iを
示している。結果として生じる誤差は、反射ビームMR
の寄生的高低角r1である。
もしあれば) −Mr: XMY平面内の反射ビームMRの投影(も
しあれば) −Mn: XMY平面内のミラーMNに対する法線の
投影(もしあれば) 一φ: 入射ビームIMの方位角 −α: 反射ビームM Nの方位角の補数−h: 入射
ビームTM(又はその投影;M)がミラーに対する法線
MN (又はその投影Mn)と成す角度 −i: XMY平面との関係における入射ビームの冑
低角 j: ミラーに対する法線MN、l!:XMY平面が成
す角度 一〇二 ミラーの回転軸とMZ軸がXMZ平面内で成す
角度 第1A図は、考えられる第1の欠点つまりXMY平面と
の関係における入射ビームIMのゼロでない入射角iを
示している。結果として生じる誤差は、反射ビームMR
の寄生的高低角r1である。
第2A図は、第2の欠点すなわちミラーの平面とその回
転軸の間のゼロであい角度j (接着上の欠点)を表わ
している。その結果生じる誤差は、反射ビームMRの寄
生的高低角r2である。
転軸の間のゼロであい角度j (接着上の欠点)を表わ
している。その結果生じる誤差は、反射ビームMRの寄
生的高低角r2である。
第3A図は、第3の欠点すなわちミラーの回転軸とMZ
軸の間のゼロでない角度を表わしている。
軸の間のゼロでない角度を表わしている。
その結果生じる誤差は、反射ビームMRの寄生的高低角
r、である。
r、である。
第1B図、第2B図、第3B図は、ミラーがその回転軸
を中心に回転するときすなわちαが変化する場合に、ミ
ラーMから一定の距離のところに置かれたMY軸に垂直
なスクリーンによる反射ビームMRの遮断の結果生じた
光のスポットすなわちこのスクリーンの平面内における
反射ビームMRの軌道がたどる曲線を示している。OH
軸は、YMZ平面内に含まれているスクリーンの軸であ
る。
を中心に回転するときすなわちαが変化する場合に、ミ
ラーMから一定の距離のところに置かれたMY軸に垂直
なスクリーンによる反射ビームMRの遮断の結果生じた
光のスポットすなわちこのスクリーンの平面内における
反射ビームMRの軌道がたどる曲線を示している。OH
軸は、YMZ平面内に含まれているスクリーンの軸であ
る。
第1B図の曲線10aは、角度α(φ+21−90°に
等しい)が変化するときのゼロでない角度iの結果生じ
る走査の平面性の欠陥を表わしている。この曲線が、Y
MZ平面内に存在する垂直な軸をもつ双曲線であるとい
うことを実証することができる。
等しい)が変化するときのゼロでない角度iの結果生じ
る走査の平面性の欠陥を表わしている。この曲線が、Y
MZ平面内に存在する垂直な軸をもつ双曲線であるとい
うことを実証することができる。
第2B図の曲線10bは角度が変化したときのゼロでな
い角度jを原因とする平面性の欠陥を表わしている。こ
の曲線が、n=oで最大に達する正弦形の弧である、す
なわち標準値に対し角度nだけ「傾斜した」弧であるこ
とを実証することができる。
い角度jを原因とする平面性の欠陥を表わしている。こ
の曲線が、n=oで最大に達する正弦形の弧である、す
なわち標準値に対し角度nだけ「傾斜した」弧であるこ
とを実証することができる。
最後に、第3B図の曲線10cは、ゼロでない角度θの
結果として生じる平面正の欠陥を示している。この曲線
がXMZ平面に対して角度θだけ傾斜している軸をもつ
双曲線であるということが実証できる。
結果として生じる平面正の欠陥を示している。この曲線
がXMZ平面に対して角度θだけ傾斜している軸をもつ
双曲線であるということが実証できる。
本発明は、装置の構造によってゼロにできるかぎり近い
固定値まで角度i及びθを小さくする代りにこれらの角
度を定まっていない何らかの値に調整可能なものにする
ことから成る。
固定値まで角度i及びθを小さくする代りにこれらの角
度を定まっていない何らかの値に調整可能なものにする
ことから成る。
第4図及び第5図に示されている本発明に基づく装置は
、台座21と支柱22で形成されたフレーム20を含ん
でいる。
、台座21と支柱22で形成されたフレーム20を含ん
でいる。
台座21は、図示されていない軸受の中に、この例にお
いては正方形の断面の管の形で作られた旋回構造物24
の回転シャフト23を受は入れる。
いては正方形の断面の管の形で作られた旋回構造物24
の回転シャフト23を受は入れる。
軸受の軸30は、それに対し平行に走査を行ないたいと
思っている対象である−・一定の与えられた軸にほぼ平
行である。
思っている対象である−・一定の与えられた軸にほぼ平
行である。
ベース21と一体化されたサポート26の中に形成され
たネジ山と連動する調節用ネジ25により、シャフト2
3のまわりの構造物24の傾斜を調節することができる
。
たネジ山と連動する調節用ネジ25により、シャフト2
3のまわりの構造物24の傾斜を調節することができる
。
支柱22は軸受27の中に、シャフト23の軸30に対
し垂直でほぼ同一平面状にある軸29を中心として旋回
する第2の構造物28を受は入れる。
し垂直でほぼ同一平面状にある軸29を中心として旋回
する第2の構造物28を受は入れる。
旋回構造物28は、同様に構造物28の上にとりつけら
れている検流計(図示せず)により回転駆動されうるミ
ラー32の回転軸31を受は入れる。
れている検流計(図示せず)により回転駆動されうるミ
ラー32の回転軸31を受は入れる。
軸29のまわりの構造物28の傾斜は、台座21と一体
化された機構34内にとりつけられ旋回構造物28の延
長部分35と連動するストッパを形作る調節用ネジ33
を用いて調節することができる。
化された機構34内にとりつけられ旋回構造物28の延
長部分35と連動するストッパを形作る調節用ネジ33
を用いて調節することができる。
回転軸31は、調節手段33の平均値に対し軸30にほ
ぼ垂直にとりつけられる。
ぼ垂直にとりつけられる。
レーザー線エミッタ36は、管24の中で、調節用手段
25及び33の平均値に対してミラーの回転軸31に垂
直でかつ軸30を通る平面内にほぼとりつけられる。こ
の管の中に形成されている窓37によりこのエミッタか
らミラー32を照明することができる。
25及び33の平均値に対してミラーの回転軸31に垂
直でかつ軸30を通る平面内にほぼとりつけられる。こ
の管の中に形成されている窓37によりこのエミッタか
らミラー32を照明することができる。
ミラー32の検流計の作用の下で旋回すると、ダイオー
ド36から出た光束38は、ミラー32上で39に反射
し、2つの場の境界40及び41の間で走査を行なう。
ド36から出た光束38は、ミラー32上で39に反射
し、2つの場の境界40及び41の間で走査を行なう。
この走査は、ネジ25及び33を適当に調節することを
条件として、軸30に対し平行な平面内でほぼ行なわれ
る。
条件として、軸30に対し平行な平面内でほぼ行なわれ
る。
軸30の中には第1A図、第2A図及び第3図のMX軸
を再び認めることができ、又軸29は、MY軸にほぼ一
致する。軸31は、ネジ33の一定の与えられた調節値
についてのみMZ軸とほぼ合致する。
を再び認めることができ、又軸29は、MY軸にほぼ一
致する。軸31は、ネジ33の一定の与えられた調節値
についてのみMZ軸とほぼ合致する。
いずれにせよ、前述したものとの根本的な相異点は、軸
29及び30を中心とする構造物24及び28の回転角
度が、第1A図及び第3A図の角度iと がそうであっ
たように誤差ではなく、装置の調節値であるということ
にある。
29及び30を中心とする構造物24及び28の回転角
度が、第1A図及び第3A図の角度iと がそうであっ
たように誤差ではなく、装置の調節値であるということ
にある。
またいずれかの方向におけるその変化によってのみ定義
づけられるこれらの回転角度について基準値つまりゼロ
は全(存在しないことがわかるだろう。単独で1つの基
準を構成することのできる軸29及び30の相対的位置
づけでは、実際には、望ましい精度を得るにはあまりに
も大ざっばすぎるものである。
づけられるこれらの回転角度について基準値つまりゼロ
は全(存在しないことがわかるだろう。単独で1つの基
準を構成することのできる軸29及び30の相対的位置
づけでは、実際には、望ましい精度を得るにはあまりに
も大ざっばすぎるものである。
調節は、軸30に対して平行に装置から一定の距離をお
いて配置され、上にはそれに沿ってスライド式双方向セ
ンサーがとりつけられているような1つの定規を用いて
、逐次近似により行なわれる。このセンサにより、定規
のさまざまな地点において、軸29及び30により定め
られる平面の上又は下のビームの高さを計測することが
できる。
いて配置され、上にはそれに沿ってスライド式双方向セ
ンサーがとりつけられているような1つの定規を用いて
、逐次近似により行なわれる。このセンサにより、定規
のさまざまな地点において、軸29及び30により定め
られる平面の上又は下のビームの高さを計測することが
できる。
以下の表1は、かかる調節のシミュレーションの結果を
示している。
示している。
このシミュレーションにおいて、ミラー1のその軸上の
接着不良すなわち角度jが25分の弧に等しいこと、角
度φつまりビーム38と軸30の間の角度が45°に等
しいことそして上述の定規が軸30から距離I)”4.
60mのところに配置されていること、を仮定した。
接着不良すなわち角度jが25分の弧に等しいこと、角
度φつまりビーム38と軸30の間の角度が45°に等
しいことそして上述の定規が軸30から距離I)”4.
60mのところに配置されていること、を仮定した。
走査の場は、+15°と一35°の間に含まれている、
すなわち境界40及び41が軸29とそれぞれ15°と
35°の角度を成すこと、が仮定された。
すなわち境界40及び41が軸29とそれぞれ15°と
35°の角度を成すこと、が仮定された。
これらの表は、度数で表わされた角度の異なる値につい
て連続的に次のものを与えている二度数及びラジアン(
弧度)で表わしたnの相応する値。
て連続的に次のものを与えている二度数及びラジアン(
弧度)で表わしたnの相応する値。
ミリラジアン単位で表わした角度r、% rz及びr、
の値。
の値。
ミリラジアン単位で表わした和r、+rz +r3の値
。
。
定規の上の光束のミリメートル単位で表わした高さrl
)/cosα 場の中央におけるこの高さをゼロに戻すように軸30を
中心として装置を回転さたせ後のミクロン単位で表わし
た相当高さr。D/cosα。
)/cosα 場の中央におけるこの高さをゼロに戻すように軸30を
中心として装置を回転さたせ後のミクロン単位で表わし
た相当高さr。D/cosα。
そして、ビームの平面性不良の特徴である角度r0の弧
の秒単位の値。
の秒単位の値。
任意に、出発時点の角度i及びθがゼロの値を有してい
ると仮定したため、表1において、角度r、及びr、も
同様にゼロに等しい。
ると仮定したため、表1において、角度r、及びr、も
同様にゼロに等しい。
この同じ表において、ミラーの接着不良がきわめて重大
な平面性不良を生み出すことがわかる。
な平面性不良を生み出すことがわかる。
というのも、光束は、場の一方の端部において、−10
8,42秒の弧、そして場の他方の端部において+60
9.30秒の弧という基準としてとられたその中央値か
ら離れているためであり、これは定規のレベルでの2セ
ンチ以上の高さの差に相当する。
8,42秒の弧、そして場の他方の端部において+60
9.30秒の弧という基準としてとられたその中央値か
ら離れているためであり、これは定規のレベルでの2セ
ンチ以上の高さの差に相当する。
表5は、場の中央の誤差をゼロに戻した後場の各端部に
おける誤差の方向に従ってどのパラメータi又は に対
してそしてどの方向に働きかけるべきかを示している。
おける誤差の方向に従ってどのパラメータi又は に対
してそしてどの方向に働きかけるべきかを示している。
表■の場合、roは負の値から正の値に変化し、そのた
め角度θについて負の補正を適用する必要がある。
め角度θについて負の補正を適用する必要がある。
従って、−10分の弧に等しい補正をθについて適用し
た。
た。
その結果得られた表2においてすでに、顕著な平面性の
改善がみられる。というのも、ビームはその中央値から
決して280.13分の弧以上離れることがなく、これ
は、定規のレベルでの8ミリ未満の高さに相当するので
ある。
改善がみられる。というのも、ビームはその中央値から
決して280.13分の弧以上離れることがなく、これ
は、定規のレベルでの8ミリ未満の高さに相当するので
ある。
roはこの場合1つの正の値からもう1つの負の値に変
化するので、表5は、角度iに対し正の補正を適用する
必要があることを示している。
化するので、表5は、角度iに対し正の補正を適用する
必要があることを示している。
表3は、角度iに対する+28分の弧の補正で得られた
結果を示している。
結果を示している。
このとき平面性不良はもはや約13秒の弧つまり定規の
レベルで約300ミクロンでしかない。
レベルで約300ミクロンでしかない。
roはこのとき正の値から負の値に変化するため、表5
は、θに対して正の補正を適用する必要があることを示
している。
は、θに対して正の補正を適用する必要があることを示
している。
表 1
(1−Oi θ−〇)
(1−Oi e −−10’)
表 4
(L−28,go’ 、θ−−9.64’)表 3
(L−28’ ;θ−−10’)
その後続く段階は例示されていないが、表4は、角度i
に対する2 8.80分の弧の正の補正そして角度θに
対する9、64分の弧の負の補正による最終的結果を与
えている。
に対する2 8.80分の弧の正の補正そして角度θに
対する9、64分の弧の負の補正による最終的結果を与
えている。
角度の誤差はもはやおよそ2秒の弧又は定規レベルで約
50ミクロンでしかない。
50ミクロンでしかない。
このシミュレーションにより、本発明のおかげで、25
分の弧のミラーの接着不良にもかかわらず平面性不良を
約数秒の弧といった値に戻すことが可能でるあというこ
とがわかる。
分の弧のミラーの接着不良にもかかわらず平面性不良を
約数秒の弧といった値に戻すことが可能でるあというこ
とがわかる。
第1A図、第2A図及び第3A図は各々、前記先行技術
に基づく装置の3つの欠点のうちの1つを例示している
。 第1B図、第2B図及び第3B図は、一定の与えられた
軸及びミラーの回転軸に平行で、装置から一定の距離の
ところに配置されたスクリーン上に示されるこれらの欠
点各々の結果を表わしている。 第4図は、本発明に基づく装置の、一部断面図になって
いる立面図である。 第5図は、同様に部分的に断面図になっている上面図で
ある。 20・・・フレーム、 21・・・台座、 22・・・支柱、 23・・・回転シャフト、 24.28・・・旋回構造物、 25.33・・・調節用ネジ、 27・・・軸受、 29.30・・・軸、 32・・・走査用ミラー 36・・・光学装置、 37・・・窓、 40.41・・・境界。
に基づく装置の3つの欠点のうちの1つを例示している
。 第1B図、第2B図及び第3B図は、一定の与えられた
軸及びミラーの回転軸に平行で、装置から一定の距離の
ところに配置されたスクリーン上に示されるこれらの欠
点各々の結果を表わしている。 第4図は、本発明に基づく装置の、一部断面図になって
いる立面図である。 第5図は、同様に部分的に断面図になっている上面図で
ある。 20・・・フレーム、 21・・・台座、 22・・・支柱、 23・・・回転シャフト、 24.28・・・旋回構造物、 25.33・・・調節用ネジ、 27・・・軸受、 29.30・・・軸、 32・・・走査用ミラー 36・・・光学装置、 37・・・窓、 40.41・・・境界。
Claims (6)
- (1)一定の与えられた軸に対しほぼ垂直な回転軸29
上にとりつけられかかる回転軸をほぼ含む平面をもつ走
査用ミラー32及び前記回転軸に垂直な前記一定の与え
られた軸を含む平面内にほぼ配置された光学装置36を
含み、一定の与えられた軸30に平行でかつ厳密に平面
な光束の走査用の装置において、前記ミラーの回転軸に
対しほぼ垂直で前記一定の与えられた軸を通過する予じ
め定められた平面との関係において光束の入射角度を調
節するための第1の調節手段35及びかかる予じめ定め
られた平面との関係においてミラーの回転軸の傾斜を調
節するための第2の調節手段33が含まれていることを
特徴とする装置。 - (2)前記光学装置は光源であることを特徴とする、請
求項(1)に記載の装置。 - (3)前記光学装置は感光レセプタであることを特徴と
する、請求項(1)に記載の装置。 - (4)前記第1の調節手段は、前記一定の軸を中心とし
て調節可能な傾斜の第1の旋回構造物を含み、光学装置
はこの第1の旋回構造物の上にとりつけられていること
を特徴とする、請求項(1)乃至(3)のいずれかに記
載の装置。 - (5)前記第2の調節手段には、予め定められた前記平
面内にほぼ含まれている調節軸を中心とした第2の旋回
構造物28が含まれ、ミラーの回転軸はこの第2の旋回
構造物上にとりつけられていることを特徴とする、請求
項(1)乃至(2)のいずれかに記載の装置。 - (6)前記調節軸は前記一定の軸にほぼ垂直であること
を特徴とする、請求項(1)乃至(5)のいずれかに記
載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR8806702 | 1988-05-19 | ||
| FR8806702A FR2631711B1 (fr) | 1988-05-19 | 1988-05-19 | Appareil pour realiser le balayage d'un faisceau lumineux dans un plan parallele a un axe donne |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0251122A true JPH0251122A (ja) | 1990-02-21 |
| JP2755427B2 JP2755427B2 (ja) | 1998-05-20 |
Family
ID=9366432
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1126546A Expired - Fee Related JP2755427B2 (ja) | 1988-05-19 | 1989-05-19 | 一定の軸に平行でかつ厳密に平面な光束の走査用の装置 |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4956552A (ja) |
| EP (1) | EP0343082B1 (ja) |
| JP (1) | JP2755427B2 (ja) |
| AT (1) | ATE91553T1 (ja) |
| DE (1) | DE68907522T2 (ja) |
| FR (1) | FR2631711B1 (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7194326B2 (en) * | 2004-02-06 | 2007-03-20 | The Boeing Company | Methods and systems for large-scale airframe assembly |
| CN108044232B (zh) * | 2017-11-02 | 2019-09-13 | 北京金橙子科技股份有限公司 | 一种同向振镜的校正方法 |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE693275C (de) * | 1935-07-26 | 1940-07-05 | Tobis Tonbild Syndikat Akt Ges | Vorrichtung zur Justierung von Saiten in Saitenoszillographen |
| US3493282A (en) * | 1968-03-19 | 1970-02-03 | Dresser Systems Inc | Rotatable mirror scanning assembly |
| CH561445A5 (ja) * | 1972-12-18 | 1975-04-30 | Oerlikon Buehrle Ag | |
| US4002830A (en) * | 1975-01-22 | 1977-01-11 | Laser Graphic Systems Corporation | Apparatus for compensating for optical error in a rotative mirror |
| JPS54111362A (en) * | 1978-02-20 | 1979-08-31 | Canon Inc | Two-dimensional scanning optical system |
| JPS5981969A (ja) * | 1982-11-02 | 1984-05-11 | Fuji Photo Film Co Ltd | 光検出装置 |
| JPS63136017A (ja) * | 1986-11-28 | 1988-06-08 | Fujitsu Ltd | 光ビ−ム走査装置 |
-
1988
- 1988-05-19 FR FR8806702A patent/FR2631711B1/fr not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-05-17 US US07/352,864 patent/US4956552A/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-05-19 AT AT89401383T patent/ATE91553T1/de not_active IP Right Cessation
- 1989-05-19 DE DE89401383T patent/DE68907522T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-05-19 EP EP89401383A patent/EP0343082B1/fr not_active Expired - Lifetime
- 1989-05-19 JP JP1126546A patent/JP2755427B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0343082B1 (fr) | 1993-07-14 |
| JP2755427B2 (ja) | 1998-05-20 |
| US4956552A (en) | 1990-09-11 |
| ATE91553T1 (de) | 1993-07-15 |
| DE68907522D1 (de) | 1993-08-19 |
| FR2631711B1 (fr) | 1992-03-06 |
| FR2631711A1 (fr) | 1989-11-24 |
| EP0343082A1 (fr) | 1989-11-23 |
| DE68907522T2 (de) | 1994-04-07 |
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