JPH0251823A

JPH0251823A - 電球用口金

Info

Publication number: JPH0251823A
Application number: JP89145562A
Authority: JP
Inventors: Albert L Suster; アルバート・リー・サスター; Winston T Bachmann; ウィンストン・ティー・バッチマン; Edward M Beesley; エドワード・ミュレイ・ビーズレイ; John Gritti; ジョン・グリッティ; Clifford W Paugh; クリフォード・ウィリアム・パウ; William H Sullivan Iii; ウィリアム・ヘンリー・サリバン，サード; Gene I Thomasson; ジーン・アービン・トマッソン
Original assignee: General Electric Co
Current assignee: General Electric Co
Priority date: 1988-03-04
Filing date: 1989-06-09
Publication date: 1990-02-21
Also published as: EP0345417A2; DE68925068D1; EP0345417A3; EP0345417B1; US4914345A; DE68925068T2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の背景］技術分野本発明は、腐食性の環境における割れに対して抵抗力の
ある調合金製の電球用口金に関する。更に具体的には、
本発明は、少（とも約６０重量％の銅と、亜鉛を含有す
る場合には１０重量％未満の亜鉛とを含有する調合金製
の電球用口金と該口金を保有する電球とに関する。

先行技術ガラス質材料製の外管と該外管の中に固定して設けた電
気光源とからなる電球には、該外管の端部又はステム部
に金属製口金が取付けてあり、しかも電流供給用の導体
が該光源から該口金へ接続されている。口金を保有する
電球は該口金を介して該電球に電流を供給するために電
気器具にねじ込み、差し込みあるいは挿入する。一般に
、電球の外管はガラス又は石英のごときガラス質材料で
製作されており、ステム部もしくはくびれ部を保ｑする
。該ステム部もしくはくびれ部は該電球外管の一部分を
形成するとともに、必ずということではないが、該電球
外管の光源を内包する部分の直径より一般に小さい直径
を存する。くびれ部の一端は口金を取付けるベース部を
端部とする。口金は少くとも部分的には金属製であり、
がっ絶縁部分を設けて電気の短絡を防止しである。

このような電球には、周知の球状の白熱電球、円柱状電
球、自動車用又はＰＡＲ電球、並びに−般にガラス製外
管の中にセラミック発光管を配置してなる高圧ナトリウ
ム蒸気アーク放電ランプ及びガラス製外管の中に一般的
に石英又は耐熱ガラスのごときガラス質材料で製作され
た発光管を配置してなるメタルハライドアーク放電ラン
プのごとき各種のアーク放電ランプがある。これらの電
球はいずれも金属製口金を保有し、しがも該口金は電球
外管のステム部又はくびれ部の一端にねじ込み、接着又
はその他の方法で結合されている。

これらの電球には２個のステムを保有するダブルエンド
の電球もあり、それにともない２個の口金を保有する電
球もある。これれらの各種の電球はすべて当業者には周
知である。金属製電球用口金の各種の例としては、米国
特許第３．７７５゜６３４号；第４，０２０，３８２号
；第４．ｏ４４．２７７号及び第４，４９６．８７４号
明細書に見い出すことができるが、これらは説明のため
の−１であって、限定を意図するものではない。現在製
造されている電球は光源に電流を供給するためにソケッ
トにねじ込むための標ｓｔ−化された寸法の金属製ねじ
口金を保有している。

アルミニウム、亜鉛めっき鋼、黄銅めっき鋼、ニッケル
めっき鋼及びある種の銅合金のごとき様々な金属が電球
用口金用として提案されてきたが、亜鉛含１４ｍの比較
的調い銅合金又は少くとも約１０％の亜鉛を含有する黄
銅がそのような電球用口金の製造に常に用いられてきた
。これらの材料は、導電性、熱伝導性、成形性、耐機械
的損傷性及び比較的良好な耐食性などとともに経済性を
も併せ持ち、これらの特性が組合わさって備わっている
ことによりこれらの材料は電球用口金に用いるのに望ま
しいものとなる。広く用いられてきた一つの具体的な銅
合金として、重量％で表わした公称値で７０％の銅及び
３０％の亜鉛からなるとともにその他の合金化成分が１
％未満である、Ｃ２６０合金として知られている薬きょ
う用黄銅がある。

用いられてきたもう一つの黄銅合金には、公称値で８０
９６の銅と２０％の亜鉛とを含有する低黄銅０２４０合
金がある。米国特許第４，４９６，８７４号明細書には
重信９６で４５〜６７％の銅、１２〜４５％の亜鉛及び
１０〜２６％のニッケルを含有するとともに少量の様々
なその他の合金化成分を添加してもよい好適な鋼合金が
開示されている。

電球工業界が出合った問題の一つとして、保管中及び使
用中にそのような金属製の口金の割れがある。そのよう
な割れは金属製口金の長手方向軸に対し平行なこともあ
りまた直角であることもあり、そのような割れは電球の
破損及び／又は電球用ソケット、照明器具あるいはその
他の電流供給器具からの電球の取外し困難という結果と
なることがある。そのような割れは、ステーキング法（
Ｓｔａｋ４ｎｇ　ｍｅｔｈｏｄ）により外管に取付けた
口金のステーク穴からもまた発生することがある。これ
は使用者／取付者に対する潜在的な災害を意味する。も
し口金がソケットの中で折れ外れた場合、ソケットへの
電気を切ってから破損した口金部分を外しかつ新しい電
球を取付けなければならない。

ニッケル、亜鉛及び銅のごとき各種のめっきを黄銅の」
二に行うことが試されてきており、場合によってはその
ような環境における口金の寿命とともに電球の寿命を少
し増加したことがあるが、結果は十分ではなかった。

従って、自然及び人工の腐食環境に対して抵抗力がある
とともに使用中又は保管中に割れを示さない金属製の電
球用口金の必要は存在する。

［発明の要約〕本発明は、銅合金により製作されており腐食性の環境に
おける割れに対して抵抗力のある電球用口金に関する。

実施の一態様において、少くとも約９４重量％の銅と、
Ｃｄ、Ｚｎ、Ｆｅ、Ｐ、Ｚｒ、Ｓｎ。

Ｃｏ、Ｓｔ、ＡＩ、Ｃｒ及びそれらの混合物から本質的
になる群から選択された少くとも一つの他の金属とから
なる銅含有量の高い銅合金により電球用口金は製作され
るだろう。この実施の態様における電球用口金は、好ま
しくは少くとも約９６重量％の銅と、Ｆｅ、Ｐ、Ｓｎ及
びそれらの混合物から本質的になる群から選択された少
くとも２種類のその他の金属とからなる高い銅含有量の
銅合金により製作されるだろう。もう一つの実施の態様
においては、少くとも約６０重量％の銅と少くとも約８
重二％のニッケルを含み、任意に約１０重回％未満のｒ
：Ｌの亜鉛を含有する比較的高いニッケル含有量の銅合
金により電球用口金は製作されるだろう。好ましくは、
この実施の態様における電球用口金は、少くとも約８５
重量％の銅、８゜５重量％のニッケル、及びＦｅ及びＳ
ｎから本質的になる群から選択された約３重量％未満の
金属を含有する比較的高いニッケル含有量の銅合金によ
り製作されるだろう。

かくして、本発明は、ベース部を端部とするステム又は
くびれ部を一端に保有するとともに該ベース部に実質的
に金属製の電球用口金を設けたガラス質材料の外管と、
電流供給用の導体により該金属製口金に接続された、該
外管の中に設けられた電気光源とからなる電球に係わる
。かかる電球の実施の一態様においては、少くとも約９
４重量％の銅と、Ｃｄ、Ｚｎ、Ｆｅ、Ｐ、Ｚｒ、Ｓｎ。

Ｃｏ、Ｓｉ、Ａｇ、Ｃｒ及びそれらの混合物から本質的
になる群から選択された少くとも１種の他金属とを含む
高い鋼含有口の鋼合金により該金属製口金は製造される
。あるいは好ましくは少くとも９６重量％の銅と、Ｆｅ
、Ｐ、Ｓｎ及びそれらの混合物から本質的になる群から
選択された少くとも２ＰＪの他の金属とを含む高い鋼含
有量の銅合金により該金属製口金は製造される。もう一
つの実施の態様においては、少くとも約６０重量％の銅
と少くとも約８型温％のニッケルを含み、任意に少くと
も亜鉛を約１０重量％未満の量含有する比較的高いニッ
ケル含ＲＱの鋼合金により製作された口金を電球が保有
している。この実施の態様において好ましくは、少くと
も約８５重量％の銅、８．５重量％のニッケル、及びＦ
ｅとＳｎとから本質的になる群から選択された約３重量
％未満の量の金属を含有する比較的高いニッケル含有量
の銅合金により製作された口金を電球が保有する。

〔詳細な説明］上記のごとくに、本発明は、銅合金により製作され腐食
性の環境に対して抵抗力のある金属製の電球用口金と該
金属製口金を採用した電球とに関する。実施の一態様に
おいて、少くとも約９４重量％の銅と、Ｃｄ、Ｚｎ、Ｆ
ｅ、Ｐ、Ｚｒ、Ｓｎ。

Ｃｏ、Ｓｉ、ＡＩ、Ｃｒ及びそれらの混合物から本質的
になる群から選択された少くとも１種類のその他の金属
とを含有する高い銅含有量の銅合金により口金は製作さ
れるだろう。好ましくは、この実施の態様の口金は、少
くとも約９６重量％の銅と、Ｆｅ、Ｐ、Ｓｎ及びそれら
の混合物から本質的になる群から選択された少くとも２
種類のその他の金属とを含有する高い銅含有２の銅合金
により製作されるだろう。特に好ましい高い銅含有量の
銅合金は銅とカドミウムを必須成分とする銅合金であっ
て銅とカドミウムの合計の含有量が少くとも約９９．９
０重量％でありしかもカドミウムの含有量が約０．０５
〜０．３０重量％の範囲である銅合金である。もう一つ
の特に好ましい高い銅含￥ｆ塁の銅合金は、少くとも約
９７．０重量％の銅、約０．０５〜０．２０重型温の亜
鉛、約２．１〜２．４重量％の鉄及び約０．０１５〜０
゜１５　Ｔｌｉ　ｍ　９ｆｉのりんを含有する。この合
金には約０゜０３ｆｆｌｆｆ１９６以下の量の鉛を食付
させることができる。

もう一つの実施の態様においては、少くとも約６０重量
％の銅と少くとも約８重量％のニッケルを含み、任意に
約１０重量％未満の亜鉛を含有する比較的高いニッケル
含有量の銅合金により口金は製作されるだろう。この実
施の態様の口金は好ましくは、少くとも８５重量％の銅
、約８．５重量０６のニッケル、及びＦｅ及びＳｎから
本質的になる群から選択された３重量９６未満の二の金
属を含有する比較的高いニッケル含有量の銅合金により
製作されるだろう。かかる実施の態様による特に好まし
い口金は、少くとも約８５盾回％の銅、少くとも約９．
　０重量％のニッケル及び約１．０〜１．５ｆｆｉＷ％
の鉄を含む比較的高いニッケル含有量の銅合金により製
作されるだろう。このような合金には、Ｐｂ、Ｚｎ、Ｍ
ｎ及びそれらの混合物から本質的になる群から選択され
た１種類以上のさらなる合金化金属を約２．５重量％以
下の量で任意に含有させることができる。

かくして、本発明による電球は、ベース部を端部とする
ステム又はくびれ部を一端に保存するとともに該ベース
部に実質的に金属製の口金を取付けたガラス質材料の外
管と、電流供給用の導体により該金属製口金に接続され
た、該外管の中に設けた電気光源とからなる。かかる電
球の実施の態様において、該金属製口金は少くとも約９
４重量％の銅と、Ｃｄ、Ｚｎ、Ｆｅ、Ｐ、Ｚｒ、Ｓｎ。

Ｃｏ、Ｓｉ、Ａｌ、Ｃｒ及びそれらの混合物から本質的
になる群から選択された少くとも１種類の他の金属とを
含む高い銅含有量の銅合金により製作され、好ましくは
少くとも約９６重量９６の銅と、Ｆｅ、Ｐ、Ｓｎ及びそ
れらの混合物から本質的になる群から選択された少くと
も２種類の他の金属とを含ａする高い銅含有量の銅合金
により製作される。この実施の態様による特に好ましい
電球には、銅ととカドミウムとを必須成分とし、銅とカ
ドミウムとの合ｊｌ゛の含Ｋｍが少くとも約９９．９０
市量％でありしかも該カドミウムの含を量が約０．０５
〜０．３０重量％である高い銅含有量の銅合金により製
作された金属製口金を用いるだろう。この実態の態様に
よる電球用口金のためのもう一つの特に好ましい高い銅
含有量の銅合金は、少くとも約９７重量％の銅、約０．
０５〜０．２０１０？６の亜鉛、約２，１〜２，４正量
％の鉄及び約０．０１５〜０．１５重量％のりんからな
るだろう。この合金には約０．０３重量％未満の鉛をも
含有させることができる。

もう一つの実施の態様において本発明の電球は、少くと
も約６０屯ｎ％の銅と少くとも約８重量％のニッケルと
を含有しさらに任意に約１０重量％未満の亜鉛を含をす
る比較的高いニッケル含有量の銅合金により製作される
だろう。この実施の態様による電球は好ましくは、少く
とも約８５重冊％の銅、約８．５重量％のニッケル、及
びＦｅ及びＳｎから本質的になる群から選択された約３
市−％未満の量の金属を含有する比較的高いニッケル含
［１の銅合金により製作された金属製口金を保存する。

この実施の態様による特に好ましい電球は、少くとも約
８５重量％の銅、少（とも約９重量％のニッケル、及び
約１．θ〜１，５重量％の鉄を含有する比較的高いニッ
ケル含＊　ｒ：Ｌの銅合金により製作された金属製口金
を保存する。このような合金には、Ｐｂ、Ｚｎ、Ｍｎ及
びそれらの混合物から本質的になる群から選択された１
種類以上のその他の合金化金属をそれら３金属の合計量
で約２．５重量％以下の量任意に含有させることができ
る。

成形工程の結果として、金属製電球用口金は常に残留応
力又は内部応力を保有し、しかも銅合金製電球用口金の
場合にはそのような応力の結果、保管又は使用中に応力
腐食割れにより材料が破損することを発見した。主な腐
食性物質の一つに湿潤な環境と組合わさったアンモニア
があることがわかった。高い亜鉛含存二の薬きよう用黄
銅のような銅合金は比較的少口のアンモニアの存在にお
いてさえ応力腐食割れに対して感受性がある。この応力
腐食割れは口金の長手方向軸に対して多かれ少かれ平行
又は１α角いずれかの割れとなり電球の破損、及び／又
はソケット又はその他の電流供給器具からの電球取外し
が困難となる結果となる。

そのような口金を電球外管に取り付ける前に該口金を応
力除去することは理論的には可能であるが、多くの場合
これは実際的でない。また、電球外管のステム又はくび
れ部に口金を取り付ける時にも応力が発生する。しかる
に、本発明による電球用口金はそのような応力腐食割れ
に対して比較的高い抵抗力を保育する。

第１図は電灯に一般に用いられるねじ込み式の金属製口
金の代表的な構造を示す。第１図において、金属製口金
シェル１１は本発明による銅合金により製作されねじ部
１２と内側に曲げ又は押すことにより絶縁体１５を受け
るために径を小さくした開口を提供するフランジ端部１
３とを保育する。絶縁体１５はセラミック、ガラス又は
プラスチックのごとき非導電性材料のいずれか適切な材
料で作る。絶縁体は当業において周知のいずれか適切な
方法により成形又は加工して、電球のフィラメントの数
に応じて１以上の孔と金属接点１６のごとき１以トの導
電性金属接点１６を受けるための平たん部を端部に存す
る円すい状部分に接続されている円柱状部分とを保ａす
るボタン状部品を作る。金属接点Ｌ６は本発明による銅
合金により製作することができ、フィラメント（白熱電
球の場合）又は発光管電極（アーク放電ランプの場合）
からのリード線の１本を受ける穴を有しさらに半田付は
又は溶接によりそれを接合することができるディスクか
らなる。接点１６は、絶縁体１５中の孔に対応して係合
するようにディスクの穴をその巾に拡げて絶縁体１５に
取付けることができる。絶縁体１５の円柱状部分には環
状の溝部又はアンダーカット部１７がある。第１図には
半円形断面を保有するように説明されているが、アンダ
ーカット１７は絶縁体１５のシェル１１に対する取付は
方に応じて適切な断面形状であってよい。

このような口金を製作するにおいて、導電性接点１６は
上記のごとき適切な方法で絶縁体１５に取付ける。絶縁
体１５はシェル１１に挿入してその円すい部分が自動調
心の座となるようにフランジ１３に係合させる。シェル
１２は適切な工具により押し又は曲げてシェルの一部を
変形させてアンダーカット１７の１囲に係合するように
する。

前述のごとく、機械的に組立てた口金を用いることによ
りシェル１１は薄い材料とすることができる。しかし、
ブランクをベースシェルに成形することにより発生する
金属の加工硬化のために後の再加工工程中にシェルを損
傷する機会が増加するとともに応力腐食割れ感受性をも
増加する。アンダーカット１７に対してビードを形成す
ることにより金属を支持してシェルに対する損傷の危険
が減少される。かくして、アンダーカット１７は２つの
機能を提供する。絶縁体を所定位置に固定すること、お
よび絶縁体に係合させるために金属を変形させる時に金
属を支持すること。

現在一般に広く用いられているもう一つの口金を製作す
る方法は金属製シェル１１と接点１６とを作成し次にそ
れらを相互に適切な間隔をおいて置くとともにガラス、
プラスチック又は当業で周知のその他の適切な材料で作
成した絶縁体重５を所定の位置に配置することからなる
。

本発明に関して有用な各種の電球用口金の例には、ねじ
込み式と非ねじ込み式とがあり、また口金は電球外管に
対いてねじ込み、接着、ステーキ又はその他の方法で取
付ける。これらの例は説明のためであって限定的な意図
はない。たとえば、米国特許第３，７７５．６３４号、
第４．０２０゜３８２号、第４，０４４，２７７号及び
第４，４９６．８７４号明細書に本発明に有用な金属製
電球用口金を見い出すことができそれらの開示内容をこ
こで引用して取り入れる。この例もまた説明のためであ
って限定的な意図はない。

次に、第２図において、窩輝度放電ランプに適した組成
を保育するガラスのごときガラス質ｔオ科でできた外管
と適切な電力源に電気的に接続するための適切な電気接
点を保有する口金２２とから電球１８はなる。口金２２
は、本発明による銅合金により製作された金属製シェル
１２、絶縁部分１５及び金属接点ディスク１６とからな
る。外管内の空間は真空に引くか又は窒素ガスで満すか
してよい。エンドキャップ１４は外管のステム２４を取
り囲み、該ステムから導電性の端部導入線２６及び２８
が出ている。端部導入線２６はサポートロッド３０の一
端にたとえば溶接により接続する。導電性部材３２をサ
ポートロッド３０の他端に取付けるとともに、発光（ア
ーク）管３８の発光管ステム３６の中を通って延びてい
る導電性のリード線の内の１本３４に接続する。外管２
０の閉じられた端部４２には固定用のデインプル４０が
設けである。デインプル４０のまわりには金属製のカラ
ー４４を配設するとともに該カラーにはサポートロッド
４６の一端をたとえば溶接により接続してよい。この場
合、該サポートロッド４６の他端は、外管２０内の発光
管３８のだめのささえとなる発光管ステム５２の周囲の
リング５０を含む支承部材４８にたとえば溶接などによ
り取付ける。導電性のリード線５４は一端はたとえば溶
接により端子２８に接続し、さらに発光管３８のステム
部材５２を通しである導電性リード線５６にたとえば溶
接により接続する。外管２０の内側の水蒸気及び水素を
吸収する材料を被覆したゲッタストリップ５３はサポー
トロッド４６にたとえば溶接により取付けてよい。

第３図は高圧ナトリウムガス放電ランプもしくはΔ圧ナ
トリウムガスアークランプを図示する。

該ランプは、内側に入り込んだステムブレスシール４に
より一端に本発明による標桑ムガール（ｍｏｇｕｌ　）
ねじ口金３を保有するガラス質外管からなり、しかも外
側端が金属ねじシェル１２もしくは該口金のアイレット
又はディスク１δに接続されている一対の比較的厚い導
入線導体が該ステムブレスシール４を通して延長されて
いる。シェルフ、及び任意にアイレットもしくはディス
ク１６は、本発明の銅合金により製作する。絶縁体部分
１５はシェルフとディスクもしくはアイレット１６との
間を電気的に絶縁する。該外管内で中央に位置する内管
もしくは発光管９は、光を伝達する、閉じておりかつ長
く透明な多結晶質アルミナセラミック管からなる。該発
光管の１一端は多結晶質アルミナ製の端部１．■止部材
１０により気密に封止されており、しかも発光管内にあ
る電極（示してない）を支承する該端部封１に部材に気
密に封入されているニオブ製リード線６０は該端部封止
部材１０を通って延びている。リード線６０の外側部分
は側部棒状部材６４に取付けられたサイドロッド６２に
接続されている。該発光管の下端封止部材６６は中央に
孔があり該孔を通って底部電極（示してない）が延びて
いる。気密に封止されている発光管はサイドロッド６４
に溶接されている金属リボン６８によって外管の中で物
理的に支承されているが、しかし該金属リボンは絶縁ブ
ッシング７０により発光管と電気的に隔絶されている。

二次の導入線７２は底部電極用のニオブリード線７４に
電気的に接続されている。

上述は説明を意図するものであって、いかなる点におい
ても本発明を限定するものと解釈されてはならない。か
くして、代表的なメタルハライドランプ及びナトリウム
蒸気ランプのみを簡単に説明したが、本発明がダブルエ
ンド電球、車端電球、白熱電球、自動車用又はＰＡＲ電
球、タングステン−ハロゲンランプ、管状石英熱電球等
に適用できることは当業者に明らかとなろう。

本発明は以下の実施例を参照することにより更に理解さ
れるだろう。

［実施例〕以下の実施例では、容量が一般に少くとも約１０ｇであ
りかつ試験空間の試験溶液に対する比を約２０：１〜１
０＝１に維持することができて密閉できるガラス容器、
たとえばすりつきの縁及びふたのある簡単なガラス容器
あるいはデシケータにより塩化アンモニウム応力腐食試
験を実施した。

試験溶液は塩化アンモニウムのアルカリ土類金属た。た
とえば、１１の塩化アンモニウム腐食試験溶液の調製に
おいては、約７５０　ｃｍρの蒸溜水又は脱イオン水に
１０７ｇの試薬級の塩化アンモニウムを溶解し、試薬級
の水酸化ナトリウムと蒸溜水又は脱イオン水とから、”
ａｆＡした３０％水酸化ナトリウム溶液を添加してｐ　
Ｈ（（ｌｉを１０とした。

般に、これには３０％Ｎａ０１１溶液約２５０ｔａｆｌ
を必要とした。

応力腐食試験の実施において、試験片は、試験片同志が
相互に接触したり試験片が試験溶液に接触したりしない
ように、閉じた容器中にしかも塩化アンモニウム溶液の
上にぶらさげた。以下の実施例において、すべての応力
腐食試験は３０℃の温度で２４時間行った。

実施例１この実施例においては、第１図に開示した一般的タイブ
の金属製ムガールねじ口金（各種鋼合金により製作され
しかも最大直径が３９．５ｍｍ（１゜５５インチ）及び
全長が４２．５關（１，６６インチ）である）を保々す
る多数の電球を製作した。

口金はベース部に約３５ボンド・インチのトルクをかけ
て締め込んだ。これらの電球を塩化アンモニウムを収容
したデシケータ中に前記のように３０℃で２４時間装い
た。このような試験の結果を下記第１表に示す。すべて
の事例において、合金をベース部にねじ込む前に該合金
を表に示した温度において炉中に５分間置くことにより
、それぞれの合金を該温度で所定の時間応力除去した。

第１表電球用口金の合金及び応力除去条件　試験数合金２６０
（比較用）　　　　　　　　　　３０（７５０″Ｆ応力
除去）合金１９４　　応力除去なし　　　　　　　３０ノ”　
　　　　　　　　　”　　　　　　十ＮＰ　　　　　　
　　　２９〃〃６５０″Ｆ（５分）　　　　　　　３０
／／〃〃十ＮＰ　　　　　３０／メ〃７５０下（５分）　　　　　　　３０／／　ｕ　
　　　　　／／　　　＋ＮＰ　　　　　３Ｑ〃７０６　
　応力除去なし　　　　　　　３６〃〃　　６５０′Ｆ
（５分）３６〃〃７５０　”Ｆ　（５分）２８破損数注記：ＮＰは銅合金口金にニッケルめっきを応力除去後
に施したことを示す。

合金２６０は組成の公称値がｍ７０７０重量亜鉛３０重
量％である亜鉛含有量の高い薬きょう用黄銅型銅合金で
ある。合金１９６は組成の公称値が銅９７．４重量％、
鉄２．４型温％、亜鉛０゜１３重量％及びりん０．０４
重；％の合金であり、該合金には約０．０３重量％以下
の二の鉛を食前させてもよい。合金７０６は銅８８．６
重量％、鉄１．４重量％、ニッケル１０重量％の公称組
成を保有するとともに、任意に船釣０．０５重量％以下
、亜船釣１．０重量％以下及びマンガン約１６０重量％
以下をそれぞれ食前させてもよい。

これらの応力腐食試験の結果から、２６０銅合金により
作製したすべての電球用口金は試験で不合格となったの
に対し、銅含有量の高い合金１９４及び７０６で製作し
たすべての電球用口金は試験に合格したことがわかる。

実施例２この実施例においては、ゼネラルエレクトリック社以外
の電球製造業者により製作されたメタルハライド蒸気（
ＭＶ）アーク放電ランプ及び高圧ナトリウム（ＨＰＳ）
アーク放電ランプを多数購入し、それらをデシケータ中
に置いて３０℃で２４時間の応力腐食試験に供し、次に
デシケータから取り出し、それらについて電球外管と接
触する口金のリム部分の割れ及びねじ込み用ねじ内又は
該ねじに平行な割れの検査をした。これら金属製の電球
用口金を分析しした結果は、前記実施例で言及した亜鉛
食前鐙の高い型の薬きょう用黄銅合金２６０により該口
金が製造されていることを示した。結果を第２表に示す
。

ランプタイプＨＰＳ）ＩＰＳＶＶＶＶＶＶＶＶＶＶＶＶＶワット数第

【図面の簡単な説明】第１図は本発明のねじ式の口金の横断面の説明図である
。第２図は本発明の銅合金により製作された金属製ねじ口
金を保有するメタルハライドランプの構造図である。第３図は本発明の銅合金により製作された金属製ねじ口
金を保有する高圧ナトリウムランプの構造図である。Ｆ／ｇ、ｌ　　、。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）少くとも約９４重量％の銅と、Ｃｄ、Ｚｎ、Ｆｅ
、Ｐ、Ｚｒ、Ｓｎ、Ｃｏ、Ｓｉ、Ａｌ、Ｃｒ及びそれら
の混合物から本質的になる群から選択した少くとも１種
類の金属を含む高い銅含有量の銅合金により製作された
、電球用の実質的に金属製の口金。
（２）該合金が、少くとも約９６重量％の銅と、Ｆｅ、
Ｐ、Ｓｎ及びそれらの混合物から本質的になる群から選
択した少くとも他の２種類の金属とを含むことを特徴と
する、請求項（１）記載の口金。
（３）該合金が銅とカドミウムを必須成分として含み、
銅とカドミウムの合計の含有量が少くとも約９９．９０
重量％でしかもカドミウムの含有量が約０．０５〜０．
３０重量％であることを特徴とする、請求項（１）記載
の口金。
（４）該銅合金が少くとも約９７重量％の銅と少量の亜
鉛、鉄及びりんとを含むことを特徴とする、請求項（１
）記載の口金。
（５）該合金中の亜鉛、鉄及びりんの含有量がそれぞれ
約０．０５〜０．２０重量％、約２．１〜２．４重量％
及び約０．０１５〜０．１５重量％であることを特徴と
する、請求項（４）記載の口金。
（６）該合金が鉛を約０．０３重量％以下の量含有する
ことを特徴とする、請求項（５）記載の口金。
（７）少くとも約６０重量％の銅と少くとも約８重量％
のニッケルとを含み、任意に約１０重量％未満の亜鉛を
含有する比較的高いニッケル含有量の銅合金により製作
されている、電球用の実質的に金属製の口金。
（８）該高いニッケル含有量の銅合金が少くとも約８５
重量％の銅、約８．５重量％のニッケル、及びＦｅとＳ
ｎとから本質的になる群から選択された金属を含有する
ことを特徴とする、請求項（７）記載の口金。
（９）ＦｅとＳｎから本質的になる群から選択された該
金属が該合金中に約３重量％未満の量含まれていること
を特徴とする、請求項（８）記載の口金。
（１０）該比較的高いニッケル含有量の銅合金が少くと
も約８５重量％の銅、少くとも約９．０重量％のニッケ
ル及び約１．０〜１．５重量％の鉄を含むことを特徴と
する、請求項（７）記載の口金。
（１１）Ｐｂ、Ｚｎ、Ｍｎ及びそれらの混合物から本質
的になる群から選択された１種類以上のその他の合金化
金属をも該合金が含有することを特徴とする、請求項（
１０）記載の口金。
（１２）該その他の合金化金属が該合金中に合計で約２
．５重量％以下の量含有されていることを特徴とする、
請求項（１１）記載の口金。
（１３）ベース部を端部とするステム又はくびれ部を少
くとも一端に保有するとともに該ベース部に実質的に金
属製の電球口金を設けたガラス質材料の外管と、電流供
給用導体により該金属製口金に接続され、かつ、該外管
の中に収納された電気光源を具えた電球において、少く
とも約９４重量％の銅と、Ｃｄ、Ｚｎ、Ｆｅ、Ｐ、Ｚｒ
、Ｓｎ、Ｃｏ、Ｓｉ、Ａｌ、Ｃｒ及びそれらの混合物か
ら本質的になる群から選択された少くとも１種類のその
他の金属とを含む、高い銅含有量の銅合金により該金属
製口金が製作されていることを特徴とする電球。
（１４）該合金が、少くとも約９６重量％の銅と、Ｆｅ
、Ｐ、Ｓｎ及びそれらの混合物から本質的になる群から
選択された少くとも２種類の他の金属とを含むことを特
徴とする、請求項（１３）記載の電球。
（１５）該合金が、銅とカドミウムを必須成分として含
み、銅とカドミウムの合計の含有量が少くとも約９９．
９０重量％でしかもカドミウムの含有量が約０．０５〜
０．３０重量％であることを特徴とする、請求項（１３
）記載の電球。
（１６）該銅合金が少くとも約９７重量％の銅と少量の
亜鉛、鉄及びりんとを含むことを特徴とする、請求項（
１３）記載の電球。
（１７）該合金が約０．０５〜０．２０重量％の亜鉛、
約２．１〜２．４重量％の鉄及び約０．０１５〜０．１
５重量％のりんを含有していることを特徴とする、請求
項（１６）記載の電球。
（１８）該合金が約０．０３重量％以下の鉛を含有する
ことを特徴とする、請求項（１７）記載の電球。
（１９）ベース部を端部とするステム又はくびれ部を少
くとも一端に保有するとともに該ベース部に実質的に金
属製の電球用口金を設けたガラス質材料の外管と、電流
供給用の導体により該金属製口金に接続され、かつ、該
外管の中に収納された電気光源を具えた電球において、
少くとも約６０重量％の銅と少くとも約８重量％のニッ
ケルとを含み、任意に約１０重量％未満の亜鉛を含有す
る比較的高いニッケル含有量の銅合金により該口金が製
作されていることを特徴とする電球。
（２０）該比較的高いニッケル含有量の銅合金が少くと
も約８５重量％の銅、約８．５重量％のニッケル、並び
にＦｅ及びＳｎから本質的になる群から選択された金属
を含むことを特徴とする、請求項（１９）記載の電球。
（２１）Ｆｅ及びＳｎから本質的になる群から選択され
た該金属が該合金中に約３重量％未満の量含有されてい
ることを特徴とする、請求項（２０）記載の電球。
（２２）該比較的高いニッケル含有量の銅合金が少くと
も約８５重量％の銅、少くとも約９．０％のニッケル及
び約１．０〜１．５重量％の鉄を含むことを特徴とする
、請求項（１９）記載の電球。
（２３）該合金がＰｂ、Ｚｎ、Ｍｎ、及びそれらの混合
物から本質的になる群から選択された１種類以上のその
他の合金化金属をも含有することを特徴とする、請求項
（２２）記載の電球。
（２４）該その他の合金化金属が該合金中に合計で約２
．５重量％以下の量含有されていることを特徴とする、
請求項（２３）記載の電球。