JPH0252988B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0252988B2 JPH0252988B2 JP19195883A JP19195883A JPH0252988B2 JP H0252988 B2 JPH0252988 B2 JP H0252988B2 JP 19195883 A JP19195883 A JP 19195883A JP 19195883 A JP19195883 A JP 19195883A JP H0252988 B2 JPH0252988 B2 JP H0252988B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flaw
- flaws
- signal
- filter
- roll
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ロールの表面疵検査のための渦流探
傷方法に関する。
傷方法に関する。
圧延に使用されるロールは、ロール原単位低減
を目的とした、耐事故性、耐摩耗性確保の観点よ
り、高い硬化深度と高硬度を備えている。ところ
が、その反面熱衝撃的、及び機械的に表面層がも
ろいという問題がある。
を目的とした、耐事故性、耐摩耗性確保の観点よ
り、高い硬化深度と高硬度を備えている。ところ
が、その反面熱衝撃的、及び機械的に表面層がも
ろいという問題がある。
最近の圧延機の高速化・WR（アウークロール）
径小化等に伴ない圧延ロールの使用条件はますま
す厳しくなり、その結果としてロールのスポーリ
ング等の事故が増加する傾向にある。
径小化等に伴ない圧延ロールの使用条件はますま
す厳しくなり、その結果としてロールのスポーリ
ング等の事故が増加する傾向にある。
そこで現在は、使用ロール疵管理手段として、
酸液を用いた表面エツチング法により表面疵検出
方法や、渦流探傷方法が知られているが、エツチ
ング法は人手を要する上に作業能率も低いという
問題点がある。また、渦流探傷方法では、疵だけ
でなく被検査材の材質、表面性状リフトオフ等に
よつて疑似信号が出力される場合がある。
酸液を用いた表面エツチング法により表面疵検出
方法や、渦流探傷方法が知られているが、エツチ
ング法は人手を要する上に作業能率も低いという
問題点がある。また、渦流探傷方法では、疵だけ
でなく被検査材の材質、表面性状リフトオフ等に
よつて疑似信号が出力される場合がある。
特に圧延用ロールの表面疵検査に適用すると、
クラツクの他に硬度落ち（焼き戻り）した部分の
材質変化信号が疵信号以上に出力することがあ
る。この種のものは、軽度なものは手入れする必
要はないが、クラツクは軽度なものでも手入れを
する必要がある。両者を識別する方法として、周
波数弁別により分離識別する方法が報告されてい
るが、表面疵についてはその寸法（巾、深さ、長
さ）、形状等千差万別であり、手入れ研削に必要
な深さ情報と渦流探傷信号とは相関関係が弱いこ
と、すなわち、特定な疵について条件を整えてや
れば、疵深さと欠陥信号との相関を強めることが
できるが、表面性状・材質・表面疵形態等、種々
異なるロール探傷については、信頼性の高い疵リ
ジエクト判定レベルの決定は困難であるという問
題があつた。
クラツクの他に硬度落ち（焼き戻り）した部分の
材質変化信号が疵信号以上に出力することがあ
る。この種のものは、軽度なものは手入れする必
要はないが、クラツクは軽度なものでも手入れを
する必要がある。両者を識別する方法として、周
波数弁別により分離識別する方法が報告されてい
るが、表面疵についてはその寸法（巾、深さ、長
さ）、形状等千差万別であり、手入れ研削に必要
な深さ情報と渦流探傷信号とは相関関係が弱いこ
と、すなわち、特定な疵について条件を整えてや
れば、疵深さと欠陥信号との相関を強めることが
できるが、表面性状・材質・表面疵形態等、種々
異なるロール探傷については、信頼性の高い疵リ
ジエクト判定レベルの決定は困難であるという問
題があつた。
本発明は、上述の問題点を解決した新しい渦流
探傷方法を提案するもので、その骨子は、検出器
により検出されたロール表面の探傷信号をフイル
ター、ピークエキスパンダを介し、疵位置に対応
した２次元のアナログ表示を行なうとともに、該
フイルターの疵レベルを判別してデイジタル化を
行ない、さらに前記探傷信号を分析して、前記フ
イルターと異なる周波数帯域に設定されたフイル
ターで同時処理し、両フイルター出力の比較値に
もとづいて疵種類を判別し、これら疵レベルと疵
種類信号を疵位置に対応した２次元のデイジタル
表示を行なわせ、両表示よりロール表面疵の有
無、種類、形状、大きさ等を判断することを特徴
とするロール表面疵の渦流探傷方法、にある。以
下、本発明を比較回路に割り算器を用いた例につ
き図面により詳細に説明する。
探傷方法を提案するもので、その骨子は、検出器
により検出されたロール表面の探傷信号をフイル
ター、ピークエキスパンダを介し、疵位置に対応
した２次元のアナログ表示を行なうとともに、該
フイルターの疵レベルを判別してデイジタル化を
行ない、さらに前記探傷信号を分析して、前記フ
イルターと異なる周波数帯域に設定されたフイル
ターで同時処理し、両フイルター出力の比較値に
もとづいて疵種類を判別し、これら疵レベルと疵
種類信号を疵位置に対応した２次元のデイジタル
表示を行なわせ、両表示よりロール表面疵の有
無、種類、形状、大きさ等を判断することを特徴
とするロール表面疵の渦流探傷方法、にある。以
下、本発明を比較回路に割り算器を用いた例につ
き図面により詳細に説明する。
第１図は本発明の方法を実施するための渦流探
傷器電気信号回路ブロツクダイヤグラムである。
１は被検査材であるロール、２は検査用周波数の
信号を発振する発振器、３は発振器２の信号を増
幅するパワーアンプ、４はロール表面の渦流探傷
信号を出力する検出器、５は検出器信号のアンバ
ランス電圧を除去するバランサー、６，１０（６
と１０、のこと、以下これに準ずる）は探傷信号
を増幅するアンプ、７，１３は位相角を回転する
移相器、８，１１は疵信号の位相に合わせて同期
検波する位相検波器、９，１２は疵を検出しやす
い周波数帯域に設定したバンドパスフイルター
（以後フイルターという）、１４は疵信号をのばし
て記録計の応答速度まで周波数を下げるピークエ
キスパンダ（ローパスフイルタ）、１９はアナロ
グ表示するＸ−Ｙレコーダー、１６はフイルター
９，１２の出力信号を割算する割り算回路、１７
は割り算回路１６の値をもとに疵の種類を判定す
るコンパレーター、１５はフイルター９の出力信
号レベルを３ランクに分け、デイジタル化して出
力するコンパレーター、２３はロール１回転毎に
１パルスの信号を発生し、疵位置を認識するプロ
ーブ位置検出器、１８はコンパレーター１５，１
７、及びプローブ位置検出器２３の情報をもとに
疵マツプを製作するデイジタル処置回路
（CPU）、２０は疵情報を表示するデイスプレイ
装置、２１はプリンター、２２は疵情報を記憶す
るフロツピーデイスクである。
傷器電気信号回路ブロツクダイヤグラムである。
１は被検査材であるロール、２は検査用周波数の
信号を発振する発振器、３は発振器２の信号を増
幅するパワーアンプ、４はロール表面の渦流探傷
信号を出力する検出器、５は検出器信号のアンバ
ランス電圧を除去するバランサー、６，１０（６
と１０、のこと、以下これに準ずる）は探傷信号
を増幅するアンプ、７，１３は位相角を回転する
移相器、８，１１は疵信号の位相に合わせて同期
検波する位相検波器、９，１２は疵を検出しやす
い周波数帯域に設定したバンドパスフイルター
（以後フイルターという）、１４は疵信号をのばし
て記録計の応答速度まで周波数を下げるピークエ
キスパンダ（ローパスフイルタ）、１９はアナロ
グ表示するＸ−Ｙレコーダー、１６はフイルター
９，１２の出力信号を割算する割り算回路、１７
は割り算回路１６の値をもとに疵の種類を判定す
るコンパレーター、１５はフイルター９の出力信
号レベルを３ランクに分け、デイジタル化して出
力するコンパレーター、２３はロール１回転毎に
１パルスの信号を発生し、疵位置を認識するプロ
ーブ位置検出器、１８はコンパレーター１５，１
７、及びプローブ位置検出器２３の情報をもとに
疵マツプを製作するデイジタル処置回路
（CPU）、２０は疵情報を表示するデイスプレイ
装置、２１はプリンター、２２は疵情報を記憶す
るフロツピーデイスクである。
次に上記構成にもとづく作用について説明す
る。発振器２およびパワーアンプ３で励振され、
検出器４により検知されたロール表面の渦流探傷
信号は、バランサー５でアンバランス電圧を除去
され、出力信号は２つに分枝される。一方の信号
はアンプ６で増幅され、位相検波器８に入力さ
れ、もう一方の信号はアンプ１０で増幅され、位
相検波器１１に入力される。他方発振器２の信号
も分枝され、移相器７，１３に入力される。移相
器７では、クラツク疵をＳ／Ｎ比よく検出する位
相角に回転され、移相器１３では硬度落ちをＳ／
Ｎ比よく検出する位相角に回転されて、各々位相
検波器８，１１に入力されて、同期検波を行な
う。位相検波器８の出力信号は、クラツク疵を検
出しやすい高周波帯域に設定したフイルター９で
フイルタリングされる。フイルタリングされた出
力Ａは、ピークエキスパンダ１４により疵信号周
波数レベルを下げ、プローブ位置検出器２３と同
期してＸ−Ｙレコーダー１９にアナログ記録され
る。
る。発振器２およびパワーアンプ３で励振され、
検出器４により検知されたロール表面の渦流探傷
信号は、バランサー５でアンバランス電圧を除去
され、出力信号は２つに分枝される。一方の信号
はアンプ６で増幅され、位相検波器８に入力さ
れ、もう一方の信号はアンプ１０で増幅され、位
相検波器１１に入力される。他方発振器２の信号
も分枝され、移相器７，１３に入力される。移相
器７では、クラツク疵をＳ／Ｎ比よく検出する位
相角に回転され、移相器１３では硬度落ちをＳ／
Ｎ比よく検出する位相角に回転されて、各々位相
検波器８，１１に入力されて、同期検波を行な
う。位相検波器８の出力信号は、クラツク疵を検
出しやすい高周波帯域に設定したフイルター９で
フイルタリングされる。フイルタリングされた出
力Ａは、ピークエキスパンダ１４により疵信号周
波数レベルを下げ、プローブ位置検出器２３と同
期してＸ−Ｙレコーダー１９にアナログ記録され
る。
又、位相検波器１１の出力信号は硬度落ちを検
出しやすい低周波数域に設定したフイルター１２
でフイルタリングされ、その出力Ｂはフイルター
９の出力Ａとともに、割り算回路１６に入力さ
れ、Ｂ／Ａの計算が行なわれる。割り算回路１６
の計算結果はコンパレーター１７に入力される。
コンパレーター１７はＢ／Ａ≦α（αは定数）は
クラツク疵、Ｂ／Ａ＞αは硬度は硬度落ちという
判定回路に作成されており、信号レベルの如何に
かかわらずクラツク疵（１，２，３で表示）と硬
度落ち（Ｂで表示）に弁別される。弁別された疵
信号はデイジタル処理回路１８に入力される。さ
らに該処理回路１８には、フイルター９の出力を
コンパレーター１５で疵レベルを大(3)・中(2)・小
(1)信号に判別した信号と、プローブ位置検出器２
３からの疵位置を認識した信号とが入力されて、
デイジタル処理し、CRTデイスプレイ装置２０
に表示される。必要によりプリンター２１に出力
してコピーにもとれる。又、出力信号は、フロツ
ピーデイスク２２に記憶される。
出しやすい低周波数域に設定したフイルター１２
でフイルタリングされ、その出力Ｂはフイルター
９の出力Ａとともに、割り算回路１６に入力さ
れ、Ｂ／Ａの計算が行なわれる。割り算回路１６
の計算結果はコンパレーター１７に入力される。
コンパレーター１７はＢ／Ａ≦α（αは定数）は
クラツク疵、Ｂ／Ａ＞αは硬度は硬度落ちという
判定回路に作成されており、信号レベルの如何に
かかわらずクラツク疵（１，２，３で表示）と硬
度落ち（Ｂで表示）に弁別される。弁別された疵
信号はデイジタル処理回路１８に入力される。さ
らに該処理回路１８には、フイルター９の出力を
コンパレーター１５で疵レベルを大(3)・中(2)・小
(1)信号に判別した信号と、プローブ位置検出器２
３からの疵位置を認識した信号とが入力されて、
デイジタル処理し、CRTデイスプレイ装置２０
に表示される。必要によりプリンター２１に出力
してコピーにもとれる。又、出力信号は、フロツ
ピーデイスク２２に記憶される。
第２図は出力表示の一例であり、イは被探傷ロ
ールの展開した疵の２次元情報を示し、このロー
ルを本発明の疵検出方法で得た疵情報が、ロ，ハ
であり、ロはプリンター２１により出力されたデ
イジタルマツプ表示で、数字がクラツク疵の位置
を示し、数の大きさが疵信号出力の大きさを表わ
し、Ｂが硬度落ちの位置を示す。ハはＸ−Ｙレコ
ーダーに出力されたアナログ表示を示し、山の高
さが疵信号出力のレベルを表わしている。
ールの展開した疵の２次元情報を示し、このロー
ルを本発明の疵検出方法で得た疵情報が、ロ，ハ
であり、ロはプリンター２１により出力されたデ
イジタルマツプ表示で、数字がクラツク疵の位置
を示し、数の大きさが疵信号出力の大きさを表わ
し、Ｂが硬度落ちの位置を示す。ハはＸ−Ｙレコ
ーダーに出力されたアナログ表示を示し、山の高
さが疵信号出力のレベルを表わしている。
このように、アナログとデイジタルに表示され
た２次元の疵マツプにより、両者を比較検討する
ことにより、疵の有無、クラツク疵か硬度落ちか
の種類、疵の寸法（深さ、長さ等）、又、疵の形
状が即座に判断出来、総合的に評価して、疵手入
れ研削への反映が可能となつた。次に実施例を示
す。
た２次元の疵マツプにより、両者を比較検討する
ことにより、疵の有無、クラツク疵か硬度落ちか
の種類、疵の寸法（深さ、長さ等）、又、疵の形
状が即座に判断出来、総合的に評価して、疵手入
れ研削への反映が可能となつた。次に実施例を示
す。
実施例
一般鍛鋼ロールを下記の条件で探傷した。
ロール周速 60ｍ／min
検出器移動速度 24mm／１回転
探傷周波数 32KHz
位相回転角 40゜
フイルター 60〜220Hz（クラツク用）
20〜 80Hz（硬度落ち用）
判定回路の定数 α＝1.3
コンパレーター ３：1.0v，２：0.5v，１：0.2v
探傷結果と実疵を比較したところ、微細なクラ
ツク疵も精度良く検知出来、クラツク疵と硬度落
ちの判別、疵の形状・大きさ・等実疵に対応した
結果が得られた。
ツク疵も精度良く検知出来、クラツク疵と硬度落
ちの判別、疵の形状・大きさ・等実疵に対応した
結果が得られた。
以上、本発明の渦流探傷方法により、次の様な
効果が期待できる。
効果が期待できる。
１ 疵見落しによるスポーリング・チルハゲ・ク
ラツク等の進展防止によるロール原単位が向上
する。
ラツク等の進展防止によるロール原単位が向上
する。
２ ロール疵マツプ情報のメモリー機能によるロ
ール使用履歴と対応させたロール疵管理が可能
となる。
ール使用履歴と対応させたロール疵管理が可能
となる。
３ デイジタルマツプによる疵種類、及びアナロ
グマツプによる疵レベルとの対応データの蓄積
により、千差万別の疵の手入れを万全に実施す
ることが可能となり、最適なロール研削代によ
る手入れが期待できる。
グマツプによる疵レベルとの対応データの蓄積
により、千差万別の疵の手入れを万全に実施す
ることが可能となり、最適なロール研削代によ
る手入れが期待できる。
第１図は本発明の実施例を示すブロツク図、第
２図は出力表示の一例を示す説明図である。 図面で４は検出器、１はロール、９，１２はフ
イルタ、１４はピークエキスパンダ、２０はデイ
スプレイ、１５，１７は判別回路、１６は比較を
行なう割算回路、１８はデジタル処理回路であ
る。
２図は出力表示の一例を示す説明図である。 図面で４は検出器、１はロール、９，１２はフ
イルタ、１４はピークエキスパンダ、２０はデイ
スプレイ、１５，１７は判別回路、１６は比較を
行なう割算回路、１８はデジタル処理回路であ
る。
Claims (1)
- １ 検出器４により検出されたロール表面の探傷
信号をフイルター９、ピークエキスパンダ１４を
介し、疵位置に対応した２次元のアナログ表示を
行う１９，ハとともに、該フイルターの疵レベル
を判別して１５デイジタル化を行い、さらに前記
探傷信号を分岐して前記フイルターと異なる周波
数帯域に設定されたフイルター１２で同時処理
し、両フイルター出力の比較値１６にもとづいて
疵種類を判別し、これら疵レベルと疵種類信号を
疵位置に対応した２次元のデイジタル表示ロを行
なわせ、両表示よりロール表面疵の有無、種類、
形状、大きさ等を判断することを特徴とするロー
ル表示疵の渦流探傷方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19195883A JPS6082958A (ja) | 1983-10-14 | 1983-10-14 | ロ−ル表面疵の渦流探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19195883A JPS6082958A (ja) | 1983-10-14 | 1983-10-14 | ロ−ル表面疵の渦流探傷方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6082958A JPS6082958A (ja) | 1985-05-11 |
| JPH0252988B2 true JPH0252988B2 (ja) | 1990-11-15 |
Family
ID=16283272
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19195883A Granted JPS6082958A (ja) | 1983-10-14 | 1983-10-14 | ロ−ル表面疵の渦流探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6082958A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5970784B2 (ja) * | 2011-11-15 | 2016-08-17 | Ｊｆｅスチール株式会社 | ロール表層欠陥検出装置 |
-
1983
- 1983-10-14 JP JP19195883A patent/JPS6082958A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6082958A (ja) | 1985-05-11 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| Nikula et al. | Automation of low-speed bearing fault diagnosis based on autocorrelation of time domain features | |
| JP5799611B2 (ja) | 冷間圧延機のチャタリング検出方法 | |
| US4538463A (en) | Flaw detection in wire drawing | |
| JPH0252988B2 (ja) | ||
| JPH07198627A (ja) | 金属表面欠陥検査装置 | |
| JP2002350406A (ja) | 渦流探傷装置 | |
| EP0423753B1 (en) | Method and apparatus for displaying defects in tubular members | |
| JP3748228B2 (ja) | 超音波探傷における有害欠陥判定方法及びその判定結果の利用方法 | |
| JPH05312787A (ja) | 配管の渦流探傷検査判定方法 | |
| CN114332113A (zh) | 一种钢轨擦伤检测方法、装置、计算机设备和存储介质 | |
| JP5040315B2 (ja) | 検査方法、検査システムおよび検査装置 | |
| CN1258680C (zh) | 管道腐蚀缺陷类型识别方法 | |
| JPH07243944A (ja) | 軸受診断装置及びエスカレータ | |
| JPS61164151A (ja) | 鋼線の渦流探傷方法 | |
| JPS6082959A (ja) | 渦流探傷器のロ−ル疵種類判定回路 | |
| JP4812446B2 (ja) | トルク監視によるころ軸受の欠陥検出方法 | |
| JPH0643848B2 (ja) | ころがり軸受の異常診断装置 | |
| JP4674416B2 (ja) | 自己比較方式の渦流探傷装置 | |
| JP2508662Y2 (ja) | 疵検出装置 | |
| JPS60205353A (ja) | ロ−ル材の硬化深度測定方法 | |
| JPS62266454A (ja) | 渦流探傷における信号処理の方法 | |
| JPH0616001B2 (ja) | ころがり軸受の非破壊検査方法及び装置 | |
| Shanaurin et al. | New approach to testing wheel disks of railroad cars | |
| JP2009257896A (ja) | 鋼材の表面欠陥評価方法 | |
| JPH0868779A (ja) | 帯状鋼材の渦流探傷装置 |