JPH0260333B2 - - Google Patents
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- JPH0260333B2 JPH0260333B2 JP57016199A JP1619982A JPH0260333B2 JP H0260333 B2 JPH0260333 B2 JP H0260333B2 JP 57016199 A JP57016199 A JP 57016199A JP 1619982 A JP1619982 A JP 1619982A JP H0260333 B2 JPH0260333 B2 JP H0260333B2
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- ray
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- rays
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Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、異なる2方向から扇状ビームあるい
はコーンビーム状のX線を、動きのある関心部位
を含む被検査体に照射し、その透過X線を直線状
円弧状あるいは平面状凹面状に配置されたX線検
出器群によつて受けることによつて得る被検査体
の投影射像を示す計測データを用いて、動きのあ
る関心部位の時々刻々の外部形状を再構成する装
置に関するものである。
はコーンビーム状のX線を、動きのある関心部位
を含む被検査体に照射し、その透過X線を直線状
円弧状あるいは平面状凹面状に配置されたX線検
出器群によつて受けることによつて得る被検査体
の投影射像を示す計測データを用いて、動きのあ
る関心部位の時々刻々の外部形状を再構成する装
置に関するものである。
従来例を説明する。
(その1) これまでのコンピユータ断層像撮影
装置、つまり、多方向からの被検査体の投影射影
を示す多数の計測値をもとに計算処理により被検
体のX線吸収係数の2次元分布を示す断層像を得
る装置を用いた場合、動きのある関心部位の断層
像については、その時間平均的な像を得ることは
できても、瞬時瞬時のより正確な断層像を得るこ
とはできなかつた。それは、計測時間に比べて関
心部位の動きが速いため、計測データに関心部位
のさまざまな時相の情報が混入しているためであ
つた。これを改善するものとして、例えば、心臓
のように、動きのある関心部位が一定時間周期
で、その動きを繰り返す場合、その周期の同一時
相時点で計測されたデータのみを用いて、その関
心部位のその時相での断層像を得ようとする方法
が考案されている。しかし、この方法の欠点とし
ては、一般的に、各周期の同一時相における関心
部位の形状が厳密に同一であるとはいえず、した
がつて、得られる断層像はどうしても平均的な成
分を含むものになつているということがある。ま
た、心臓の場合には呼吸停止という条件下で計測
するため、高々十数心拍程度の時間で計測したデ
ータから断層像を再構成するという制約から、同
一時相という範囲をある程度(50ms〜100ms)
拡大して初めて、断層像を再構成するに足る多方
向からの計測データを確保することができる。こ
のため、時間分解能は高々50ms〜100ms程度で、
この点でも平均的な断層像である。
装置、つまり、多方向からの被検査体の投影射影
を示す多数の計測値をもとに計算処理により被検
体のX線吸収係数の2次元分布を示す断層像を得
る装置を用いた場合、動きのある関心部位の断層
像については、その時間平均的な像を得ることは
できても、瞬時瞬時のより正確な断層像を得るこ
とはできなかつた。それは、計測時間に比べて関
心部位の動きが速いため、計測データに関心部位
のさまざまな時相の情報が混入しているためであ
つた。これを改善するものとして、例えば、心臓
のように、動きのある関心部位が一定時間周期
で、その動きを繰り返す場合、その周期の同一時
相時点で計測されたデータのみを用いて、その関
心部位のその時相での断層像を得ようとする方法
が考案されている。しかし、この方法の欠点とし
ては、一般的に、各周期の同一時相における関心
部位の形状が厳密に同一であるとはいえず、した
がつて、得られる断層像はどうしても平均的な成
分を含むものになつているということがある。ま
た、心臓の場合には呼吸停止という条件下で計測
するため、高々十数心拍程度の時間で計測したデ
ータから断層像を再構成するという制約から、同
一時相という範囲をある程度(50ms〜100ms)
拡大して初めて、断層像を再構成するに足る多方
向からの計測データを確保することができる。こ
のため、時間分解能は高々50ms〜100ms程度で、
この点でも平均的な断層像である。
(その2) 28個のX線管とそれと同数のイメー
ジインテンシフアイアとビデオカメラを円周状等
間隔に配置し、それらを被検査体の周りに、1秒
間に15回転という高速で回転運動させることによ
つて得る多方向からの被検査体の投影射影を示す
多数の計測値をもとに、計算処理により、1秒間
に100枚といの高い時間分解能を有する断層像を
再構成する装置が考案・試作されている(参考文
献(1))。電子ビームを円筒形内で回転させること
によつてX線発生位置を高速で回転させ、計測時
に全く機械的運動を伴なわない方式による超高速
X線コンピユータ断層撮影装置が考案・試作され
ている(参考文献(2))。
ジインテンシフアイアとビデオカメラを円周状等
間隔に配置し、それらを被検査体の周りに、1秒
間に15回転という高速で回転運動させることによ
つて得る多方向からの被検査体の投影射影を示す
多数の計測値をもとに、計算処理により、1秒間
に100枚といの高い時間分解能を有する断層像を
再構成する装置が考案・試作されている(参考文
献(1))。電子ビームを円筒形内で回転させること
によつてX線発生位置を高速で回転させ、計測時
に全く機械的運動を伴なわない方式による超高速
X線コンピユータ断層撮影装置が考案・試作され
ている(参考文献(2))。
しかしながら、これらの新方式では、多管球方
式における多方向X線による散乱線増加に伴なう
信号対雑音比の減少や、イメージインテンシフア
イアーの低い信号対雑音比のため、得られる断層
像の濃度分解能は約5%と見込まれること、ま
た、電子ビーム回転方式においては高出力電子ビ
ームの発生とその制御方法など技術的に解決しな
ければならない問題点が多い。また、製作経費は
従来装置の約10倍以上となると予想され、性能対
価格比がそれほど高いものではなく、したがつ
て、社会に広く普及するには困難を伴なう。
式における多方向X線による散乱線増加に伴なう
信号対雑音比の減少や、イメージインテンシフア
イアーの低い信号対雑音比のため、得られる断層
像の濃度分解能は約5%と見込まれること、ま
た、電子ビーム回転方式においては高出力電子ビ
ームの発生とその制御方法など技術的に解決しな
ければならない問題点が多い。また、製作経費は
従来装置の約10倍以上となると予想され、性能対
価格比がそれほど高いものではなく、したがつ
て、社会に広く普及するには困難を伴なう。
(その3) この他、動きのある関心部位の運動
を観察しようとする目的で、古くから、X線を用
いた方法として、エレクトロキモグラフイーやレ
ーダーキモグラフイー(参考文献(4))が考案試作
されている。これらは、ともに計算処理を伴なう
ものではなく、また、関心部位の外部形状そのも
のを得るものではなく、関心部位の動きに対応し
た時系列信号を得るものである。
を観察しようとする目的で、古くから、X線を用
いた方法として、エレクトロキモグラフイーやレ
ーダーキモグラフイー(参考文献(4))が考案試作
されている。これらは、ともに計算処理を伴なう
ものではなく、また、関心部位の外部形状そのも
のを得るものではなく、関心部位の動きに対応し
た時系列信号を得るものである。
参考文献
(1) M.K.Thomas,et.al.,“The dynamie
Special neconstructor from basic concepts
to applications”,第4回CT物理技術シンポ
ジウム報文集P1〜P10(1981) (2) J.Haimson,“X−ray Source Without
moving Parts for Uitra−high Speed
tomography”,IEEE trans.NS−26,No.2
(1979) (3) G.C.Henny,et.al,“Electrokymograph
for recording heart motiom utilizing the
roentgenoscope”,Am.J.Roentgenol,
Vol.54,P−217(1945) (4) L.S.Cohen.et.al.“Heart motion video−
tracking(radarkymography)in diagnosis of
congeital and acquired heart disease”,
Am.J.Cardiol.Vol.22.P678〜(1968) 本発明の目的は、心臓のような動きのある関心
部位の時々刻々の外部形状を、比較的簡易な装置
構成で、また、高い時間分解能を保ちつつ、得よ
うとする装置を提供することにある。
Special neconstructor from basic concepts
to applications”,第4回CT物理技術シンポ
ジウム報文集P1〜P10(1981) (2) J.Haimson,“X−ray Source Without
moving Parts for Uitra−high Speed
tomography”,IEEE trans.NS−26,No.2
(1979) (3) G.C.Henny,et.al,“Electrokymograph
for recording heart motiom utilizing the
roentgenoscope”,Am.J.Roentgenol,
Vol.54,P−217(1945) (4) L.S.Cohen.et.al.“Heart motion video−
tracking(radarkymography)in diagnosis of
congeital and acquired heart disease”,
Am.J.Cardiol.Vol.22.P678〜(1968) 本発明の目的は、心臓のような動きのある関心
部位の時々刻々の外部形状を、比較的簡易な装置
構成で、また、高い時間分解能を保ちつつ、得よ
うとする装置を提供することにある。
本発明は、異なる2方向から扇状ビームあるい
はコーンビーム状のX線を動きのある関心部位を
含む被検査体に数msから十数msの一定時間間隔
で照射し、その透過X線を、直線状、円弧状ある
いは平面状・凹面状の検出器群によつて計測する
ことによつて得られる被検査体の投影射影を示す
2つの時系列データから、計算処理により、動き
のある関心部位の時々刻々の外部形状を算出し、
表示する装置を提供するものである。ここで、外
部形状を算出するとき、外部形状を得ようとする
関心部位は内部一様のX線吸収係数を持つという
仮定を設ける。この仮定は、多くの人体臓器にお
いて許容できるものであり例えば、心臓において
心筋と血液のX線吸収係数の差は、0.1〜1%で
あり、最大で約15cm程度の厚みを持つ心臓の場
合、得られるX線吸収値から、そのX線ビームに
沿う厚みに換算するとき、すべて心筋とみなして
も、血液とみなしても、その換算誤差は1mm以内
とごくわずかなものである。
はコーンビーム状のX線を動きのある関心部位を
含む被検査体に数msから十数msの一定時間間隔
で照射し、その透過X線を、直線状、円弧状ある
いは平面状・凹面状の検出器群によつて計測する
ことによつて得られる被検査体の投影射影を示す
2つの時系列データから、計算処理により、動き
のある関心部位の時々刻々の外部形状を算出し、
表示する装置を提供するものである。ここで、外
部形状を算出するとき、外部形状を得ようとする
関心部位は内部一様のX線吸収係数を持つという
仮定を設ける。この仮定は、多くの人体臓器にお
いて許容できるものであり例えば、心臓において
心筋と血液のX線吸収係数の差は、0.1〜1%で
あり、最大で約15cm程度の厚みを持つ心臓の場
合、得られるX線吸収値から、そのX線ビームに
沿う厚みに換算するとき、すべて心筋とみなして
も、血液とみなしても、その換算誤差は1mm以内
とごくわずかなものである。
次の手順として、一定時間間隔で得られる2方
向からの投影射影を示す計測データの各検出素子
毎の値について時間的平均値との差を求める。こ
れによつて得られるデータは、被検査体内の動き
のない部位の寄与を差し引いた値となり、X線源
と各検出素子を結ぶビームに沿う動きのある関心
部位の厚さの時間的変化量に対応した値を示して
いる。
向からの投影射影を示す計測データの各検出素子
毎の値について時間的平均値との差を求める。こ
れによつて得られるデータは、被検査体内の動き
のない部位の寄与を差し引いた値となり、X線源
と各検出素子を結ぶビームに沿う動きのある関心
部位の厚さの時間的変化量に対応した値を示して
いる。
一方、多方向からの被検査体投影射影を示す多
数の計測データをもとに計算処理により被検査体
の2次元または3次元X線吸収係数分布像を得る
ことができるが、これによつて得られる動きのあ
る関心部位の像は従来技術(その1)で示したよ
うに、時間的平均像となつている。そこで、この
動きのある関心部位の時間的平均像から、閾値処
理により、関心部位の時間的平均形状を算出す
る。先に述べた計測X線ビームに沿う方向の厚さ
の時間的変化量は、この関心部位の時間的平均形
状と、2方向からの計測データを得た時相におけ
る関心部位の外部形状の計測X線ビームに沿う方
向の厚さの差を示していると考えられる。そこで
この異なる2方向からの計測データから得られる
関心部位の厚さの時間的変化を示すデータに基づ
き、時間的平均形状を修正することによつて、そ
の時相における外部形状を算出する。以下詳述す
る。
数の計測データをもとに計算処理により被検査体
の2次元または3次元X線吸収係数分布像を得る
ことができるが、これによつて得られる動きのあ
る関心部位の像は従来技術(その1)で示したよ
うに、時間的平均像となつている。そこで、この
動きのある関心部位の時間的平均像から、閾値処
理により、関心部位の時間的平均形状を算出す
る。先に述べた計測X線ビームに沿う方向の厚さ
の時間的変化量は、この関心部位の時間的平均形
状と、2方向からの計測データを得た時相におけ
る関心部位の外部形状の計測X線ビームに沿う方
向の厚さの差を示していると考えられる。そこで
この異なる2方向からの計測データから得られる
関心部位の厚さの時間的変化を示すデータに基づ
き、時間的平均形状を修正することによつて、そ
の時相における外部形状を算出する。以下詳述す
る。
先ず、CT像の算出について述べる。
第1図はCTシステムの計測系を示す。回転
フレーム1は回転ローラ2によつて回転する。
X線源3とX線検出器群4とは被検体7を挟ん
で回転フレーム1の内部に対向して設けられて
いる。X線源3は高電圧発生部(或いはX線制
御部)5の高電圧に基づきフアン状X線を発生
する。X線検出器群4は、被検体7を透過して
くるフアン状の透過X線を検出すべくフアン状
に配列している。積分増巾器8はX線検出器群
4に対応して設けられており、1回のX線照射
時間の透過X線を積分する。X線源3と検出器
群4とはシーケンサ(図示せず)の指示に基づ
き被検体7を挟んで回転運動を行う。この回転
運動を基準点(開始点)に比して180゜又は360゜
の区間にわたつて行う。この区間にわたつて得
られる積分増巾器8の出力をデイジタルデータ
として処理部(図示せず)に取込み、画像再構
成等の処理を行い、被検体のX線吸収係数分布
を示す断層像(いわゆるCT像)を得る。
フレーム1は回転ローラ2によつて回転する。
X線源3とX線検出器群4とは被検体7を挟ん
で回転フレーム1の内部に対向して設けられて
いる。X線源3は高電圧発生部(或いはX線制
御部)5の高電圧に基づきフアン状X線を発生
する。X線検出器群4は、被検体7を透過して
くるフアン状の透過X線を検出すべくフアン状
に配列している。積分増巾器8はX線検出器群
4に対応して設けられており、1回のX線照射
時間の透過X線を積分する。X線源3と検出器
群4とはシーケンサ(図示せず)の指示に基づ
き被検体7を挟んで回転運動を行う。この回転
運動を基準点(開始点)に比して180゜又は360゜
の区間にわたつて行う。この区間にわたつて得
られる積分増巾器8の出力をデイジタルデータ
として処理部(図示せず)に取込み、画像再構
成等の処理を行い、被検体のX線吸収係数分布
を示す断層像(いわゆるCT像)を得る。
次にCT像から動きのある関心部位6の概略
的な形状を検出する。この検出は以下の通りと
なる。動きのある関心部位6は、CT像内では
計測時間に関連した時間的平均像となつてい
る。従つて、この時間的平均像を関心部位の概
略的な形状として扱う。時間的平均像は、閾値
処理により2値化することによつて算出する。
的な形状を検出する。この検出は以下の通りと
なる。動きのある関心部位6は、CT像内では
計測時間に関連した時間的平均像となつてい
る。従つて、この時間的平均像を関心部位の概
略的な形状として扱う。時間的平均像は、閾値
処理により2値化することによつて算出する。
次に、動きのある関心部位6の実際の動きを
検出するための計測方法及びその計測に基づく
投影射像を述べる。計測は、CT像検出の際の
回転移動点上の2つの異なる位置にX線源3
(該X線源と検出器群4とは対向して連動する
故、正確にはX線源3及び検出器群4である)
を置き、その異なる2つの位置でそれぞれキモ
グラフ的なデータを得る。そこで、キモグラフ
的なデータとは、照射方向を一定にしたままで
所定の時間X線を照射し、その透過X線を時系
列的に検出した時の時系列的なデータを云う。
以下、相異なる2点での計測について別々に述
べる。
検出するための計測方法及びその計測に基づく
投影射像を述べる。計測は、CT像検出の際の
回転移動点上の2つの異なる位置にX線源3
(該X線源と検出器群4とは対向して連動する
故、正確にはX線源3及び検出器群4である)
を置き、その異なる2つの位置でそれぞれキモ
グラフ的なデータを得る。そこで、キモグラフ
的なデータとは、照射方向を一定にしたままで
所定の時間X線を照射し、その透過X線を時系
列的に検出した時の時系列的なデータを云う。
以下、相異なる2点での計測について別々に述
べる。
先ず、第1の点にX線源3と検出器群4とを
固定し、一定時間間隔(数ms〜+数ms間隔)
でパルスX線を照射し、被検査体透過後のX線
吸収量を時系列的に測定する。被検査体透過前
のX線量をI0、透過後検出器番号sに入射する
X線量をI(s)、被検査体のX線ビームに沿う
方向の吸収係数をμ(z)とすると、 I(s)=I0exp〔−∫μ(z)d(z)〕 ……(1) の関係があるので、X線吸収量は X線吸収量=log I0−log I(s)=∫μ(z)dz
……(2) となる。この値は、検出素子sに到達したX線
ビームに沿う被検査体組織のX線吸収係数の積
分値に対応し、先に述べたCT像によつて求め
られるX線吸収係数を用い、X線ビームに沿う
組織の大きさに変換される。すなわち、動きの
ある関心部位のX線吸収係数を一様にμc,X
線ビームに沿う関心部位の厚さをlc(s,t)
(検出器番号sと時間tの関数)とし、他の動
きのない部位のX線吸収係数をμ(s,z)、X
線ビームに沿う方向zについての平均値を
(s)、その厚さをl(s)(時間に対して一定)
とすると、 X線吸収量=−logI(s,t)/I0 =l(s)+μclc(s,t) …(3) となる。もし、心臓のように動きのある関心部
位が一定時間Tを周期とする周期関数とする
と、(3)式の一周期についての時間平均をとる
と、 1/T∫T 0(−logI(s,t)/Ic)dt=(s)l
(s)+μC/T∫T 0lc(s,t)dt……(4) となる。そしてlc(s,t)の一周期について
の平均の厚さをlcp(s)とすると、 1/T∫T 0(−logI(s,t)/I0)dt=(s)l
(s)+μclcp(s)……(5) となる。(3)式から(5)式を引くと、 −logI(s,t)/I0dt−1/T∫T 0(−logI(s,
t)/I0)dt=μc(lc(s,t)−lc0(s))……(6
) となる。(6)式の左辺第1項は(3)式に示すX線吸
収量であり、第2項は、その一周期にわたる平
均値である。両者は第1図の計測システムでと
もに測定可能であり、また、μc,lcp(s)はCT像
によつて求められるので、(6)式によつて、lc
(s,t)すなわち動きのある関心部位6の時
刻tにおけるX線ビームに沿う厚さを求めるこ
とができる。つまり、動きのある関心部位6の
扇状X線ビーム方向の時々刻々の投影射影を得
ることができる。
固定し、一定時間間隔(数ms〜+数ms間隔)
でパルスX線を照射し、被検査体透過後のX線
吸収量を時系列的に測定する。被検査体透過前
のX線量をI0、透過後検出器番号sに入射する
X線量をI(s)、被検査体のX線ビームに沿う
方向の吸収係数をμ(z)とすると、 I(s)=I0exp〔−∫μ(z)d(z)〕 ……(1) の関係があるので、X線吸収量は X線吸収量=log I0−log I(s)=∫μ(z)dz
……(2) となる。この値は、検出素子sに到達したX線
ビームに沿う被検査体組織のX線吸収係数の積
分値に対応し、先に述べたCT像によつて求め
られるX線吸収係数を用い、X線ビームに沿う
組織の大きさに変換される。すなわち、動きの
ある関心部位のX線吸収係数を一様にμc,X
線ビームに沿う関心部位の厚さをlc(s,t)
(検出器番号sと時間tの関数)とし、他の動
きのない部位のX線吸収係数をμ(s,z)、X
線ビームに沿う方向zについての平均値を
(s)、その厚さをl(s)(時間に対して一定)
とすると、 X線吸収量=−logI(s,t)/I0 =l(s)+μclc(s,t) …(3) となる。もし、心臓のように動きのある関心部
位が一定時間Tを周期とする周期関数とする
と、(3)式の一周期についての時間平均をとる
と、 1/T∫T 0(−logI(s,t)/Ic)dt=(s)l
(s)+μC/T∫T 0lc(s,t)dt……(4) となる。そしてlc(s,t)の一周期について
の平均の厚さをlcp(s)とすると、 1/T∫T 0(−logI(s,t)/I0)dt=(s)l
(s)+μclcp(s)……(5) となる。(3)式から(5)式を引くと、 −logI(s,t)/I0dt−1/T∫T 0(−logI(s,
t)/I0)dt=μc(lc(s,t)−lc0(s))……(6
) となる。(6)式の左辺第1項は(3)式に示すX線吸
収量であり、第2項は、その一周期にわたる平
均値である。両者は第1図の計測システムでと
もに測定可能であり、また、μc,lcp(s)はCT像
によつて求められるので、(6)式によつて、lc
(s,t)すなわち動きのある関心部位6の時
刻tにおけるX線ビームに沿う厚さを求めるこ
とができる。つまり、動きのある関心部位6の
扇状X線ビーム方向の時々刻々の投影射影を得
ることができる。
次に第2の測定位置まで、X線源3と検出器
群4を回転し固定する。この位置でX線照射す
る。以上の,により、異なる2方向からの
関心部位cの時々刻々の投影射影li(s,t),
lj(s,t)を求める。
群4を回転し固定する。この位置でX線照射す
る。以上の,により、異なる2方向からの
関心部位cの時々刻々の投影射影li(s,t),
lj(s,t)を求める。
この2つのデータの時間関係については、関
心部位6の動きの時相をモニタする信号(たと
えば、心臓の場合、心電図)で、両者の時相を
一致させる。そして、この2つのデータli(s,
t),lj(s,t)と、CT像によつて得られる
関心部位6の平均形状F0とから次の手順によ
つて、関心部位6の時刻tにおける形状F(t)
を算出する。この具体的算出方法を第2図を用
いて説明する。第2図は、(1)項で得たCT像か
らの動きのある関心部位6の形状即ち平均形状
を特定の2つの計測位置(前述した相異なる第
1,第2の計測点に相当する)の座標軸i,j
に投影する様子を示している。以下、順を追つ
て説明する。
心部位6の動きの時相をモニタする信号(たと
えば、心臓の場合、心電図)で、両者の時相を
一致させる。そして、この2つのデータli(s,
t),lj(s,t)と、CT像によつて得られる
関心部位6の平均形状F0とから次の手順によ
つて、関心部位6の時刻tにおける形状F(t)
を算出する。この具体的算出方法を第2図を用
いて説明する。第2図は、(1)項で得たCT像か
らの動きのある関心部位6の形状即ち平均形状
を特定の2つの計測位置(前述した相異なる第
1,第2の計測点に相当する)の座標軸i,j
に投影する様子を示している。以下、順を追つ
て説明する。
(6‐1) 修正対象形状Fとして平均形状F0を用い
る。そして、li(s,t),lj(s,t)を得る
のに用いたX線ビーム方向への、修正対象形
状Fの投影射影をPi(s),Pj(s)とする。
る。そして、li(s,t),lj(s,t)を得る
のに用いたX線ビーム方向への、修正対象形
状Fの投影射影をPi(s),Pj(s)とする。
(6‐2) 修正対象形状Fを、その投影射影Pi(s)と
計測データli(s,t)との差に応じて修正
し、修正後形状F〓を算出する。
計測データli(s,t)との差に応じて修正
し、修正後形状F〓を算出する。
ここで、修正量εi1,εi2はPi(s)とli(s,
t)との差εを次式に示すδ1,δ2の量によつ
て重み付け配分した量である。
t)との差εを次式に示すδ1,δ2の量によつ
て重み付け配分した量である。
εi=li(s,t)−Pi(s) ……(7)
εi1=δ1/δ1+δ2εi ……(8)
εi2=δ2/δ1+δ2εi ……(9)
δ1,δ2は、検出器番号SにおけるPi(s)
とli(s,t)における誤差εiを修正しようと
するとき、その検出器に入射するX線ビーム
と修正用形状Fとの交点a1,a2を通るもう一
つの方向jからのX線ビームに沿う修正用形
状Fの厚さを示すPj(s1),Pj(s2)と、その
方向からの計測データであるlj(s,t)が
同じ厚さとなる検出器番号s1′,s2′を求め、
そのs1とs1′,s2とs2′の距離差に相当する量で
ある。
とli(s,t)における誤差εiを修正しようと
するとき、その検出器に入射するX線ビーム
と修正用形状Fとの交点a1,a2を通るもう一
つの方向jからのX線ビームに沿う修正用形
状Fの厚さを示すPj(s1),Pj(s2)と、その
方向からの計測データであるlj(s,t)が
同じ厚さとなる検出器番号s1′,s2′を求め、
そのs1とs1′,s2とs2′の距離差に相当する量で
ある。
(6‐3) 前項(6−2)の操作によつて修正用形状
Fが修正され修正後形状F〓が求められるが、
この形状F〓のもう一つの方向jについての投
影射影であるP〓j(s)とその方向jにおける
計測データlj(s,t)は必ずしも一致しな
い。そこで、その差を次式によつて評価す
る。
Fが修正され修正後形状F〓が求められるが、
この形状F〓のもう一つの方向jについての投
影射影であるP〓j(s)とその方向jにおける
計測データlj(s,t)は必ずしも一致しな
い。そこで、その差を次式によつて評価す
る。
E〓=SM
〓S=1
(P〓j(s)−lj(s,t))2 ……(10)
E=SM
〓S=1
(Pj(s)−lj(s,t))2 ……(11)
E〓は修正後の誤差量を表わし、Eは修正前の誤差
量を表わす。そしてこの誤差量を表わす。そして
この誤差量の改善度がある値以下になつたとき、
すなわち |E〓−E|<ΔE ……(12) のとき、そのときの修正後形状F〓を時刻tにおけ
る関心部位6の外部形状F(t)として、その手
順を終了する。また(12)式の条件を満たさないと
き、修正後形状F〓を再び修正用形状Fとして次項
へ進む。
量を表わす。そしてこの誤差量を表わす。そして
この誤差量の改善度がある値以下になつたとき、
すなわち |E〓−E|<ΔE ……(12) のとき、そのときの修正後形状F〓を時刻tにおけ
る関心部位6の外部形状F(t)として、その手
順を終了する。また(12)式の条件を満たさないと
き、修正後形状F〓を再び修正用形状Fとして次項
へ進む。
(6‐4) ここでは前項(6−2),(6−3)におけ
るiとjを入れかえて、同じ計算を行なう。
つまり、修正用形状Fのj方向の投影射影Pj
(s)と計測データlj(s,t)に差により、
修正用形状Fを修正し、修正後形状F〓を求め
る。そして、(10),(11)式におけるiとjを入れ
かえることによつて定義される誤差量を求め
誤差の改善度がある値以下となつたとき、そ
のときの修正後形状F〓を時刻tにおける関心
部位6の外部形状F(t)として、この手順
を終了する。そうでないとき、修正後形状F
を再び修正用形状Fとして、(6−2)項に
もどる。
るiとjを入れかえて、同じ計算を行なう。
つまり、修正用形状Fのj方向の投影射影Pj
(s)と計測データlj(s,t)に差により、
修正用形状Fを修正し、修正後形状F〓を求め
る。そして、(10),(11)式におけるiとjを入れ
かえることによつて定義される誤差量を求め
誤差の改善度がある値以下となつたとき、そ
のときの修正後形状F〓を時刻tにおける関心
部位6の外部形状F(t)として、この手順
を終了する。そうでないとき、修正後形状F
を再び修正用形状Fとして、(6−2)項に
もどる。
上記の手順を各時刻tについて行なうことによ
つて、関心部位6の時々刻々の外部形状を算出す
ることができる。
つて、関心部位6の時々刻々の外部形状を算出す
ることができる。
以上の説明の中でiとjは直角である事を必ず
しも必要としない。
しも必要としない。
実際の波形を用いて相異なる2点i,jでのキ
モグラフ的なデータの検出を説明する。第3図
は、i点及びj点での動きのある関心部位6の計
測状態を説明する。説明の簡単のため略平行なX
線を想定している。動きのある関心部位6の動き
をモニタするべくモニタ信号を必要とする。この
ために、例えば関心部位6を心臓とした場合、モ
ニタ信号は心電図信号となる。第4図イは心電図
信号ECG(t)を示し、第4図ロ,ハ,ニはi点
(i軸方向とみてもよい)の各検出器位置での投
影射影li(s1,t),li(s2,t),li(so,t)を示
す。
第4図ホ,ヘ,トはj点(j軸方向とみてもよ
い)の各検出器位置での投影射影lj(s1,t),lj
(s2,t)、lj(so,t)を示す。第4図ロ〜ハは時
間系列で計測されていることは注目すべきであ
る。第3図でF0がCT像から得られる関心部位6
の平均形状を示す。この平均形状F0に対して関
心部位は実線円の如く大きくなつたり、小さくな
つたりする。心電図信号ECG(t)の時刻t0でi,
j軸での投影射影li,ljをモニタすると、その時
のi軸上でのs1ではPi(s1)+εi,j軸上ではPj(s2)
+
εjとなる。εi,εjは全体の変位を示しており、εi=
ε1+ε2,εj=ε1′+ε2′である。他の検出器番号
でも
同様である。εi(εjも同じ)の算出式は(7)式で示さ
れ、このεiからεi1,εi2の算出式は(8),(9)式で与
え
られる。
モグラフ的なデータの検出を説明する。第3図
は、i点及びj点での動きのある関心部位6の計
測状態を説明する。説明の簡単のため略平行なX
線を想定している。動きのある関心部位6の動き
をモニタするべくモニタ信号を必要とする。この
ために、例えば関心部位6を心臓とした場合、モ
ニタ信号は心電図信号となる。第4図イは心電図
信号ECG(t)を示し、第4図ロ,ハ,ニはi点
(i軸方向とみてもよい)の各検出器位置での投
影射影li(s1,t),li(s2,t),li(so,t)を示
す。
第4図ホ,ヘ,トはj点(j軸方向とみてもよ
い)の各検出器位置での投影射影lj(s1,t),lj
(s2,t)、lj(so,t)を示す。第4図ロ〜ハは時
間系列で計測されていることは注目すべきであ
る。第3図でF0がCT像から得られる関心部位6
の平均形状を示す。この平均形状F0に対して関
心部位は実線円の如く大きくなつたり、小さくな
つたりする。心電図信号ECG(t)の時刻t0でi,
j軸での投影射影li,ljをモニタすると、その時
のi軸上でのs1ではPi(s1)+εi,j軸上ではPj(s2)
+
εjとなる。εi,εjは全体の変位を示しており、εi=
ε1+ε2,εj=ε1′+ε2′である。他の検出器番号
でも
同様である。εi(εjも同じ)の算出式は(7)式で示さ
れ、このεiからεi1,εi2の算出式は(8),(9)式で与
え
られる。
次に、以上の処理を処理フローで示すと第5図
になる。この第5図は後述する実施例の全体の処
理フローにも該当する。
になる。この第5図は後述する実施例の全体の処
理フローにも該当する。
CT計測システムで、CT像を得る(100)。この
CT像の関心部位である心臓の辺縁Fを平均画像
として算出する(101)。この算出した辺縁Fをi
方向、j方向に投影し、投影射影データを得る
(102,103)。一方、i方向投影データを対時間と
の関係で計測(104)し、且つj方向投影データ
を対時間との関係で計測(108)する。更に、モ
ニタ用のタイミング信号として心電図信号ECG
を計測する(115)。計測したi方向投影データ及
びj方向投影データを心電図信号に基づき設定さ
れた時間(116)によりモニタする(105,109)。
このモニタとは取込みタイミングでのi,j方向
での投影データを取込ませる処理である(106,
110)。次に(7)式によつてi方向での辺縁よりの投
影データと計測によるi方向での投影データとの
差を求める(107)。更に、δ1,δ2を求める
(111)。δ1,δ2と上記差演算結果とからε1,ε2を
求める(112)。この算出式は(8),(9)式であり、
ε1,ε2はεi1,εi2に相当する。次にF〓を求める
(113)。j方向の投影データ(117)と実際の計測
データとからE〓を求める(117)と実際の計測デ
ータとからE〜を求める(117)。この算出式は(10)式
である。また、(11)式でEを算出する(118)。E〓と
Eとの偏差を(12)式に基づき算出する(119)。次
に、FをF〓とし、iとjとを入れ換え、処理101
に処理を戻す。以下、点線部で示す処理部につい
て、FがF〓に代り、iがjに代つて同じ演算がな
される。そして、偏差が所定の値ΔEに収束でき
れば処理が終了する。偏差が所定の値ΔEに収束
できなければ、jをiと入れかえ且つ新たなF〓に
基づき点線部について演算を行う。以下、これら
の処理が繰返されΔEよりも小さな値になるまで
処理がなされる。
CT像の関心部位である心臓の辺縁Fを平均画像
として算出する(101)。この算出した辺縁Fをi
方向、j方向に投影し、投影射影データを得る
(102,103)。一方、i方向投影データを対時間と
の関係で計測(104)し、且つj方向投影データ
を対時間との関係で計測(108)する。更に、モ
ニタ用のタイミング信号として心電図信号ECG
を計測する(115)。計測したi方向投影データ及
びj方向投影データを心電図信号に基づき設定さ
れた時間(116)によりモニタする(105,109)。
このモニタとは取込みタイミングでのi,j方向
での投影データを取込ませる処理である(106,
110)。次に(7)式によつてi方向での辺縁よりの投
影データと計測によるi方向での投影データとの
差を求める(107)。更に、δ1,δ2を求める
(111)。δ1,δ2と上記差演算結果とからε1,ε2を
求める(112)。この算出式は(8),(9)式であり、
ε1,ε2はεi1,εi2に相当する。次にF〓を求める
(113)。j方向の投影データ(117)と実際の計測
データとからE〓を求める(117)と実際の計測デ
ータとからE〜を求める(117)。この算出式は(10)式
である。また、(11)式でEを算出する(118)。E〓と
Eとの偏差を(12)式に基づき算出する(119)。次
に、FをF〓とし、iとjとを入れ換え、処理101
に処理を戻す。以下、点線部で示す処理部につい
て、FがF〓に代り、iがjに代つて同じ演算がな
される。そして、偏差が所定の値ΔEに収束でき
れば処理が終了する。偏差が所定の値ΔEに収束
できなければ、jをiと入れかえ且つ新たなF〓に
基づき点線部について演算を行う。以下、これら
の処理が繰返されΔEよりも小さな値になるまで
処理がなされる。
なお前述したμc,lcp(s)のCT像からの求め方
は次の通りである。μcはCT像より与えられ、lcp
(s)はCT像において、関心部位6の領域だけを
抽出し、関心部位CT像とし、時系列的なX線吸
収量の計測データを得るのにもちいたX線ビーム
に沿う方向の関心部位CT像の投影射影を計算す
ることによつて得られる。
は次の通りである。μcはCT像より与えられ、lcp
(s)はCT像において、関心部位6の領域だけを
抽出し、関心部位CT像とし、時系列的なX線吸
収量の計測データを得るのにもちいたX線ビーム
に沿う方向の関心部位CT像の投影射影を計算す
ることによつて得られる。
実施例 1
第6図において、符号1は回転フレームを示
す。回転フレームは円板状をなしていて、その周
面を基台に取り付けられたローラ2に支持されて
いて、ローラ上にて回転できる。X線源3はX線
管とコリメータとを含んでいて、X線管からばく
射されるX線をコリメータによつて一平面上にて
ある拡がり角を有するX線、いわゆるフアンビー
ムX線を発生するX線、いわゆるフアンビームX
線を発生する。X線検出器群4はキセノンガス電
離箱のような多数のX線検出素子をもつものから
なつており、X線の拡がりをカバーする個数の検
出素子より成る。X線源と検出器群とは回転フレ
ームに支持されていて、回転フレームの回転と共
にその相対位置を維持したまま回転する。回転フ
レームの回転はたとえばスプロケツトとチエーン
とを用いて電動機により回転ロール2を回転させ
ることによつて行う。
す。回転フレームは円板状をなしていて、その周
面を基台に取り付けられたローラ2に支持されて
いて、ローラ上にて回転できる。X線源3はX線
管とコリメータとを含んでいて、X線管からばく
射されるX線をコリメータによつて一平面上にて
ある拡がり角を有するX線、いわゆるフアンビー
ムX線を発生するX線、いわゆるフアンビームX
線を発生する。X線検出器群4はキセノンガス電
離箱のような多数のX線検出素子をもつものから
なつており、X線の拡がりをカバーする個数の検
出素子より成る。X線源と検出器群とは回転フレ
ームに支持されていて、回転フレームの回転と共
にその相対位置を維持したまま回転する。回転フ
レームの回転はたとえばスプロケツトとチエーン
とを用いて電動機により回転ロール2を回転させ
ることによつて行う。
高電圧発生部あるいはX線制御部5はあらかじ
め設定された回転角度、たとえば角度1゜ごとに一
定時間パルス状のフアンビームX線を発生させ
る。動きのある関心部位6を含む被検査体7はX
線源と検出器群との間にベツトなどで支えられ、
かつ被検査横断面が、X線が位置する前記平面に
一致するように置かれる。各検出器はあらかじめ
設定された角度ごとにX線源からばく射されたX
線を直接に、そして被検査体により減弱をうけた
X線を受知し、受知したX線量に比例した電気信
号を出力する。積分増巾器8はX線のばく射間隔
ごとにリセツトされ、且つそのばく射継続中(区
間中)にあつては、検出器出力信号を積分しかつ
その値を保持する。アナログスイツチ9がX線ば
く射の区間中に、積分器出力を順次選択して対数
変換器11に入力させる。アナログスイツチはシ
ーケンサー10により制御されている対数変換器
は11各積分器出力値Iにたいして−logIの演算を
なして、各積分器出力をX線吸収量に対応する出
力に変換する。この出力はアナログデジタル変換
器12に導かれ、デイジタル信号に変換される。
アナログデジタル変換器の出力は補正回路13に
て更正され、マルチプレクサ14を経由して画像
再構成部15に入力される。画像再構成部15は
それ自身公知のもので、各検出器の出力信号にも
とずいて所要の演算をなして被検査体のX線吸収
分布に関する像を算出し、マルチプレクサ16を
経由してビデオデイジタルアナログ変換を含む表
示器17にあるブラウン管に計測された像をデイ
スプレイする。
め設定された回転角度、たとえば角度1゜ごとに一
定時間パルス状のフアンビームX線を発生させ
る。動きのある関心部位6を含む被検査体7はX
線源と検出器群との間にベツトなどで支えられ、
かつ被検査横断面が、X線が位置する前記平面に
一致するように置かれる。各検出器はあらかじめ
設定された角度ごとにX線源からばく射されたX
線を直接に、そして被検査体により減弱をうけた
X線を受知し、受知したX線量に比例した電気信
号を出力する。積分増巾器8はX線のばく射間隔
ごとにリセツトされ、且つそのばく射継続中(区
間中)にあつては、検出器出力信号を積分しかつ
その値を保持する。アナログスイツチ9がX線ば
く射の区間中に、積分器出力を順次選択して対数
変換器11に入力させる。アナログスイツチはシ
ーケンサー10により制御されている対数変換器
は11各積分器出力値Iにたいして−logIの演算を
なして、各積分器出力をX線吸収量に対応する出
力に変換する。この出力はアナログデジタル変換
器12に導かれ、デイジタル信号に変換される。
アナログデジタル変換器の出力は補正回路13に
て更正され、マルチプレクサ14を経由して画像
再構成部15に入力される。画像再構成部15は
それ自身公知のもので、各検出器の出力信号にも
とずいて所要の演算をなして被検査体のX線吸収
分布に関する像を算出し、マルチプレクサ16を
経由してビデオデイジタルアナログ変換を含む表
示器17にあるブラウン管に計測された像をデイ
スプレイする。
画像再構成部15は、その内部にメモリを有し
算出した像を蓄積する。このメモリ内のデータ
を、アドレス生成器18により、順次走査し、そ
の出力を比較器19の端子aに入力する。比較器
19のもう一方の端子bはレジスタ20に接続さ
れており、その値は関心部位のX線吸収係数に応
じて適当な値をあらかじめ設定しておく。比較器
9の出力は、メモリ21の格納データとなる。従
つて、メモリ21には、関心部位の時間的平均形
状が生成される。
算出した像を蓄積する。このメモリ内のデータ
を、アドレス生成器18により、順次走査し、そ
の出力を比較器19の端子aに入力する。比較器
19のもう一方の端子bはレジスタ20に接続さ
れており、その値は関心部位のX線吸収係数に応
じて適当な値をあらかじめ設定しておく。比較器
9の出力は、メモリ21の格納データとなる。従
つて、メモリ21には、関心部位の時間的平均形
状が生成される。
次に、回転ローラ2によりX線源3と検出器群
4をある所望の第1の位置に移動し、回転ローラ
を停止する。この状態で、あらかじめ設定された
時間ごとに(たとえば10ms間隔で)X線源から
ばく射されたX線を直接に、及び被検査体により
減弱を受けたX線を検出器4が受知し、受知した
X線量に比例した電気信号を出力する。以下、前
述と同様の手順で各回路8,9,10,11,1
2を経由して補正回路13の出力にはX線源と各
検出器とを結ぶX線ビームに沿う、被検査体のX
線吸収量に対応したデイジタル信号を得る。この
信号をXとする。信号Xは、マルチプレクサ14
を経由して、さらにマルチプレクサ22をa接点
側に接続しておくことによつて、メモリ23に蓄
積される。ただし、動きのある関心部位6の動き
の時相をモニタする信号が、増幅器24により計
測され、アナログデジタル変換器25を通してデ
ジタル信号に変換されるが、この信号と、シーケ
ンサ10の出力がアドレス生成器26に接続され
ている。このアドレス生成器26によりメモリ2
3のアドレス値が生成されるため、信号Xはこの
アドレス値の指示に従つて順次蓄積される。した
がつてメモリ23に蓄積される信号は、モニタ信
号の時相と、検出器番号の2つのパラメータを有
している。
4をある所望の第1の位置に移動し、回転ローラ
を停止する。この状態で、あらかじめ設定された
時間ごとに(たとえば10ms間隔で)X線源から
ばく射されたX線を直接に、及び被検査体により
減弱を受けたX線を検出器4が受知し、受知した
X線量に比例した電気信号を出力する。以下、前
述と同様の手順で各回路8,9,10,11,1
2を経由して補正回路13の出力にはX線源と各
検出器とを結ぶX線ビームに沿う、被検査体のX
線吸収量に対応したデイジタル信号を得る。この
信号をXとする。信号Xは、マルチプレクサ14
を経由して、さらにマルチプレクサ22をa接点
側に接続しておくことによつて、メモリ23に蓄
積される。ただし、動きのある関心部位6の動き
の時相をモニタする信号が、増幅器24により計
測され、アナログデジタル変換器25を通してデ
ジタル信号に変換されるが、この信号と、シーケ
ンサ10の出力がアドレス生成器26に接続され
ている。このアドレス生成器26によりメモリ2
3のアドレス値が生成されるため、信号Xはこの
アドレス値の指示に従つて順次蓄積される。した
がつてメモリ23に蓄積される信号は、モニタ信
号の時相と、検出器番号の2つのパラメータを有
している。
次に、回転ローラ2により、上記第1の位置と
は異なる位置にX線源3と検出器群4を移動し、
回転ローラ2を停止する。この状態で第1の位置
の検出経過と同様に信号Xを生成する。そして、
マルチプレクサ22,27をそれぞれb接点側に
接続しておくことにより、メモリ28に、信号X
が蓄積される。このメモリ28に蓄積される信号
はやはり、モニタ信号の時相と、検出器番号の2
つのパラメータを有している。
は異なる位置にX線源3と検出器群4を移動し、
回転ローラ2を停止する。この状態で第1の位置
の検出経過と同様に信号Xを生成する。そして、
マルチプレクサ22,27をそれぞれb接点側に
接続しておくことにより、メモリ28に、信号X
が蓄積される。このメモリ28に蓄積される信号
はやはり、モニタ信号の時相と、検出器番号の2
つのパラメータを有している。
メモリ21,23,28のデータは演算装置2
9に導びかれ、前述した(4)式、(6)式および手順
(a),(b),(c),(d)による演算を行なうことによつ
て、関心部位の時々刻々の形状を算出し、メモリ
30に蓄積する。結果は、マルチプレクサ16を
経由してデイイスプレイ17により表示する。演
算装置としてはデイジタルコンピユータを用い
る。
9に導びかれ、前述した(4)式、(6)式および手順
(a),(b),(c),(d)による演算を行なうことによつ
て、関心部位の時々刻々の形状を算出し、メモリ
30に蓄積する。結果は、マルチプレクサ16を
経由してデイイスプレイ17により表示する。演
算装置としてはデイジタルコンピユータを用い
る。
以上、一連のシーケンスを制御する装置として
シーケンサ31を設け、これによつて、本装置全
体の制御を行なう。
シーケンサ31を設け、これによつて、本装置全
体の制御を行なう。
実施例 2
本実施例の特徴は、X線源−検出器群とが2つ
存在し、CT像を得るのに回転量が少なく、且つ
2つの異なる位置でのキモグラフ的なデータの検
出に際しては、両者を固定したままで測定できる
点にその特徴を持つ。第7図に於いて符号1は、
回転フレームを示す。回転フレームは円板状をな
していて、その周面を基台に取りつけられたロー
ラ2に支持されていて、ローラ上にて回転でき
る。X線源3と31は、X線管とコリメータとを
含んでいて、X線管からばく射されるX線をコリ
メータによつて一平面上にある拡がり角を有する
X線いわゆるフアンビームX線を発生する。X線
検出器群4と32はキセノンガス電離箱のような
多数のX線検出素子をもつものからなつており、
X線の拡がりをカバーする個数の検出素子を備え
ている。X線源と検出器群とは回転フレームに支
持されていて、回転フレームの回転と共にその相
対位置を維持したまま回転する。
存在し、CT像を得るのに回転量が少なく、且つ
2つの異なる位置でのキモグラフ的なデータの検
出に際しては、両者を固定したままで測定できる
点にその特徴を持つ。第7図に於いて符号1は、
回転フレームを示す。回転フレームは円板状をな
していて、その周面を基台に取りつけられたロー
ラ2に支持されていて、ローラ上にて回転でき
る。X線源3と31は、X線管とコリメータとを
含んでいて、X線管からばく射されるX線をコリ
メータによつて一平面上にある拡がり角を有する
X線いわゆるフアンビームX線を発生する。X線
検出器群4と32はキセノンガス電離箱のような
多数のX線検出素子をもつものからなつており、
X線の拡がりをカバーする個数の検出素子を備え
ている。X線源と検出器群とは回転フレームに支
持されていて、回転フレームの回転と共にその相
対位置を維持したまま回転する。
2つのX線管3と31の相対位置や2つの検出
器群4と32の相対位置は、回転中心に対し互い
に直角をなす方向にあるが、これについてはある
程度ご変更可能なようになつている。ただし、X
線管と検出器群3と4あるいは31と32の相対
位置は常に変わることなく対向しており、X線ビ
ームに沿う方向に検出器群を配置する。回転フレ
ームの回転はたとえばスプロケツトとチエーンと
を用いて電動機によりなされている。
器群4と32の相対位置は、回転中心に対し互い
に直角をなす方向にあるが、これについてはある
程度ご変更可能なようになつている。ただし、X
線管と検出器群3と4あるいは31と32の相対
位置は常に変わることなく対向しており、X線ビ
ームに沿う方向に検出器群を配置する。回転フレ
ームの回転はたとえばスプロケツトとチエーンと
を用いて電動機によりなされている。
高電圧発生部あるいはX線制御部5と33はあ
らかじめ設定された回転角度、たとえば角度1゜ご
とに5と33が交互に一度ずつ一定時間パルス状の
フアンビームX線を発生させる。動きのある関心
部位6を含む被検査体7はX線源と検出器群との
間にベツトなどで支えられ、かつ被検査横断面が
X線が位置する前記平面に一致するように置かれ
る。各検出器はあらかじめ設定された角度ごとに
X線源からばく射されたX線を直接に、そして被
検査体により減弱をうけたX線を受知し、受知し
たX線量に比例した電気信号を出力する。積分増
巾器8と34はX線のばく射間隔ごとにリセツト
され且つばく射区間中にあつては、検出器出力信
号を積分しかつその値を保持する。アナログスイ
ツチ9と35がX線ばく射の区間中に、積分器出
力を順次選択して対数変換器11と37に入力さ
せる。アナログスイツチはシーケンサ10と36
により制御されている。
らかじめ設定された回転角度、たとえば角度1゜ご
とに5と33が交互に一度ずつ一定時間パルス状の
フアンビームX線を発生させる。動きのある関心
部位6を含む被検査体7はX線源と検出器群との
間にベツトなどで支えられ、かつ被検査横断面が
X線が位置する前記平面に一致するように置かれ
る。各検出器はあらかじめ設定された角度ごとに
X線源からばく射されたX線を直接に、そして被
検査体により減弱をうけたX線を受知し、受知し
たX線量に比例した電気信号を出力する。積分増
巾器8と34はX線のばく射間隔ごとにリセツト
され且つばく射区間中にあつては、検出器出力信
号を積分しかつその値を保持する。アナログスイ
ツチ9と35がX線ばく射の区間中に、積分器出
力を順次選択して対数変換器11と37に入力さ
せる。アナログスイツチはシーケンサ10と36
により制御されている。
対数変換器11と37は各積分器出力値Iにた
いして−logIの演算をなして、各積分器出力をX
線吸収量に対応する出力に変換する。この出力は
アナログデイジタル変換器12と38に導かれ、
デイジタル信号に変換される。アナログデイジタ
ル変換器の出力は補正回路13と39にて更正さ
れ、マルチプレクサ14と40を経由して、画像
再構成部15に入力される。画像再構成部はそれ
自身公知のもので、各検出器の出力信号にもとず
いて所要の演算をなして被検査体のX線吸収分布
に関する像を算出し、マルチプレクサ16を経由
してビデオデイジタルアナログ変換を含む表示器
17にあるブラウン管に計測された像をデイスプ
レイする。
いして−logIの演算をなして、各積分器出力をX
線吸収量に対応する出力に変換する。この出力は
アナログデイジタル変換器12と38に導かれ、
デイジタル信号に変換される。アナログデイジタ
ル変換器の出力は補正回路13と39にて更正さ
れ、マルチプレクサ14と40を経由して、画像
再構成部15に入力される。画像再構成部はそれ
自身公知のもので、各検出器の出力信号にもとず
いて所要の演算をなして被検査体のX線吸収分布
に関する像を算出し、マルチプレクサ16を経由
してビデオデイジタルアナログ変換を含む表示器
17にあるブラウン管に計測された像をデイスプ
レイする。
画像再構成部15は、その内部にメモリを有
し、算出した像を蓄積する。なお、本実施例で
は、2組のX線源とX線検出器群を用いて、計測
を行なつて、回転フレームの回転は実施例1に比
べて、半分のみで、所望の像を再構成するに足る
データを得ることができる。画像再構成部内のメ
モリ内のデータをアドレス生成器18により、順
次走査し、その出力を比較器19の端子aに入力
する。
し、算出した像を蓄積する。なお、本実施例で
は、2組のX線源とX線検出器群を用いて、計測
を行なつて、回転フレームの回転は実施例1に比
べて、半分のみで、所望の像を再構成するに足る
データを得ることができる。画像再構成部内のメ
モリ内のデータをアドレス生成器18により、順
次走査し、その出力を比較器19の端子aに入力
する。
比較器19のもう一方の端子bはレジスタ20
に接続されており、その値は関心部位のX線吸収
係数に応じて適当な値をあらかじめ設定してお
く。比較器19の出力は、メモリ21に入力され
るため、メモリ21には関心部位の時間的平均形
状が生成される。
に接続されており、その値は関心部位のX線吸収
係数に応じて適当な値をあらかじめ設定してお
く。比較器19の出力は、メモリ21に入力され
るため、メモリ21には関心部位の時間的平均形
状が生成される。
次に、回転ローラによりX線源3と検出器群4
をある所望の位置(第1の位置)に移動し、且つ
X線源31と検出器群32とを他の所望の位置
(第2の位置)に移動し回転ローラを停止する。
この状態で、あらかじめ設定された時間ごとに
(たとえば10ms間隔で)2つのX線源3,31か
ら交互にばく射されたX線を直接に、そして被検
査体により減弱を受けたX線をX線検出器群4及
び32で受知し、このX線検出器群4,32は受
知したX線量に比例した電気信号を出力する。以
下、上述のCT画像用のデータを得たのと同様の
手順で8,9,10,11,12および34,3
5,36,37,38を経由して補正回路13と
39の出力にはX線源3と検出器4とを結ぶX線
ビーム、及びX線源31と検出器群32とを結ぶ
X線ビームに沿う、被検査体のX線吸収量に対応
したデイジタル信号を得る。この信号をX1とX2
とする。信号X1とX2はマルチプレクサ14と4
0を経由して、メモリ23と28に蓄積される。
ただし、メモリ23と28は、アドレス生成器2
6と41によつて生成される。アドレス値が接続
されており、その値の指示に従つて信号X1とX2
が蓄積される。アドレス生成器26と41の入力
はシーケンサ10と36になつており、これによ
り、信号X1とX2は検出器番号という1つのパラ
メータを付加されて蓄積される。
をある所望の位置(第1の位置)に移動し、且つ
X線源31と検出器群32とを他の所望の位置
(第2の位置)に移動し回転ローラを停止する。
この状態で、あらかじめ設定された時間ごとに
(たとえば10ms間隔で)2つのX線源3,31か
ら交互にばく射されたX線を直接に、そして被検
査体により減弱を受けたX線をX線検出器群4及
び32で受知し、このX線検出器群4,32は受
知したX線量に比例した電気信号を出力する。以
下、上述のCT画像用のデータを得たのと同様の
手順で8,9,10,11,12および34,3
5,36,37,38を経由して補正回路13と
39の出力にはX線源3と検出器4とを結ぶX線
ビーム、及びX線源31と検出器群32とを結ぶ
X線ビームに沿う、被検査体のX線吸収量に対応
したデイジタル信号を得る。この信号をX1とX2
とする。信号X1とX2はマルチプレクサ14と4
0を経由して、メモリ23と28に蓄積される。
ただし、メモリ23と28は、アドレス生成器2
6と41によつて生成される。アドレス値が接続
されており、その値の指示に従つて信号X1とX2
が蓄積される。アドレス生成器26と41の入力
はシーケンサ10と36になつており、これによ
り、信号X1とX2は検出器番号という1つのパラ
メータを付加されて蓄積される。
本実施例では、2つのX線管と検出器群およ
び、それに附随した装置により、2方向からの被
検査体の投影射影を示す計測値が、X線パルスの
時間差(たとえば10ms)で、計測されるため、
動きのある関心部位についてほとんど同じ時相の
計測値を得ることができ、第1の実施例の如く第
2の位置での計測のための移動操作を必要でな
く、また、メモリ23と28に蓄積された信号の
時相合わせも必要でなく、従つて、関心部位の動
きに時相をモニタする必要はない。このあと、実
施例1におけると同様にメモリ21,23,28
の格納データに対する処理を演算装置29が行う
ことにより関心部位の時々刻々の形状を算出する
ことができる。
び、それに附随した装置により、2方向からの被
検査体の投影射影を示す計測値が、X線パルスの
時間差(たとえば10ms)で、計測されるため、
動きのある関心部位についてほとんど同じ時相の
計測値を得ることができ、第1の実施例の如く第
2の位置での計測のための移動操作を必要でな
く、また、メモリ23と28に蓄積された信号の
時相合わせも必要でなく、従つて、関心部位の動
きに時相をモニタする必要はない。このあと、実
施例1におけると同様にメモリ21,23,28
の格納データに対する処理を演算装置29が行う
ことにより関心部位の時々刻々の形状を算出する
ことができる。
実施例 3
第8図において、符号1は回転フレームを示し
ている。回転フレームは円筒状をなしていて、そ
の周面を基台に取付けられたローラ2に支持され
ていて、ローラ上にて回転できるようになつてい
る。X線源3はX線管とコリメータとを含んでい
て、X線管からばく射されるX線をコリメータに
よつてある拡がり角を有するX線、いわゆるコー
ンビームX線を発生するようになつている。X線
検出器群4は例えばシンチレータと半導体光セン
サを組み合わせた多数のX線検出素子をもつもの
からなつており、X線の拡がりをカバーする個数
の検出素子を備えている。X線源と検出器群とは
回転フレームに支持されていて、回転フレームの
回転と共にその相対位置を維持したまま回転され
る。回転フレームの回転はたとえばスプロケツト
とチエーンとを用いて電動機によりなされてい
る。
ている。回転フレームは円筒状をなしていて、そ
の周面を基台に取付けられたローラ2に支持され
ていて、ローラ上にて回転できるようになつてい
る。X線源3はX線管とコリメータとを含んでい
て、X線管からばく射されるX線をコリメータに
よつてある拡がり角を有するX線、いわゆるコー
ンビームX線を発生するようになつている。X線
検出器群4は例えばシンチレータと半導体光セン
サを組み合わせた多数のX線検出素子をもつもの
からなつており、X線の拡がりをカバーする個数
の検出素子を備えている。X線源と検出器群とは
回転フレームに支持されていて、回転フレームの
回転と共にその相対位置を維持したまま回転され
る。回転フレームの回転はたとえばスプロケツト
とチエーンとを用いて電動機によりなされてい
る。
高電圧発生部あるいはX線制御部5はあらかじ
め設定された回転角度、たとえば角度1゜ごとに一
定時間パルス状のコーンビームX線を発生させら
れる。動きのある関心部位6を含む被検査体7は
X線源と検出器群との間にペツトなどで支えら
れ、かつ被検査体がX線が位置する部分に一致す
るように置かれる。各検出器はあらかじめ設定さ
れた角度ごとにX線源からばく射されたX線を直
接に、そして被検査体により減弱をうけたX線を
受知し、受知したX線量に比例した電気信号を出
力する。積分増巾器18はX線のばく射間隔毎に
リセツトされ、且つX線のばく射区間中の検出器
出力信号を積分し、かつその値を保持する。アナ
ログスイツチ9がX線ばく射の区間中に、積分器
出力を順次選択して、装置12に入力させる。ま
た、関心部位6の動きの時相をモニタする信号を
増巾器11により計測し、装置12に入力する。
さらにアナログスイツチを制御するシーケンサ1
0からも、検出器番号を示す信号が装置12に入
力される。装置12は実施例1における第4図に
示す機能のうち符号11から31までを含む(た
だし符号24は除く)装置である。そして、実施
例1と同等な処理を行なうことによつて、関心部
位の時々刻々の形状を算出することができる。た
だし、本実施例では、関心部位の3次元的形状を
得ることができる。また、第6図の画像再構成部
内のメモリに蓄積される像は、被検査体のX線吸
収係数に対応した3次元像である。
め設定された回転角度、たとえば角度1゜ごとに一
定時間パルス状のコーンビームX線を発生させら
れる。動きのある関心部位6を含む被検査体7は
X線源と検出器群との間にペツトなどで支えら
れ、かつ被検査体がX線が位置する部分に一致す
るように置かれる。各検出器はあらかじめ設定さ
れた角度ごとにX線源からばく射されたX線を直
接に、そして被検査体により減弱をうけたX線を
受知し、受知したX線量に比例した電気信号を出
力する。積分増巾器18はX線のばく射間隔毎に
リセツトされ、且つX線のばく射区間中の検出器
出力信号を積分し、かつその値を保持する。アナ
ログスイツチ9がX線ばく射の区間中に、積分器
出力を順次選択して、装置12に入力させる。ま
た、関心部位6の動きの時相をモニタする信号を
増巾器11により計測し、装置12に入力する。
さらにアナログスイツチを制御するシーケンサ1
0からも、検出器番号を示す信号が装置12に入
力される。装置12は実施例1における第4図に
示す機能のうち符号11から31までを含む(た
だし符号24は除く)装置である。そして、実施
例1と同等な処理を行なうことによつて、関心部
位の時々刻々の形状を算出することができる。た
だし、本実施例では、関心部位の3次元的形状を
得ることができる。また、第6図の画像再構成部
内のメモリに蓄積される像は、被検査体のX線吸
収係数に対応した3次元像である。
さらに、本実施例においても、実施例1から実
施例2への変更と同じように、X線管とX線検出
器群とそれに附随する装置を2組用いることも可
能である。
施例2への変更と同じように、X線管とX線検出
器群とそれに附随する装置を2組用いることも可
能である。
以上の実施例によれば、時系列的な計測値を得
る際のX線のばく射は、一定時間隔でX線パルス
をばく射する構成としてもよく、或いは連続的な
X線ばく射であつてもよい。また対数変換は、
AD変換後に行つてもよい。
る際のX線のばく射は、一定時間隔でX線パルス
をばく射する構成としてもよく、或いは連続的な
X線ばく射であつてもよい。また対数変換は、
AD変換後に行つてもよい。
本発明によれば、心臓のような動きのある関心
部位の時々刻々の形状を計測・算出できた。特
に、従来例の(その1)に比べて時間分解能が高
く、(その2)に比べて経済性に優れ、(その3)
に比べ関心部位の時々刻々の2次元あるいは3次
元形状を表示できる利点を持つ。
部位の時々刻々の形状を計測・算出できた。特
に、従来例の(その1)に比べて時間分解能が高
く、(その2)に比べて経済性に優れ、(その3)
に比べ関心部位の時々刻々の2次元あるいは3次
元形状を表示できる利点を持つ。
第1図はCTシステムの検出系を示す図、第2
図は本発明の理論的説明図、第3図は本発明の計
測例を示す図、第4図イ〜トはその波形図、第5
図は本発明の全体の処理説明図、第6図、第7
図、第8図は本発明の実施例をそれぞれ示す図で
ある。 3……X線源、4……検出器群、15……画像
再構成部、29……演算装置。
図は本発明の理論的説明図、第3図は本発明の計
測例を示す図、第4図イ〜トはその波形図、第5
図は本発明の全体の処理説明図、第6図、第7
図、第8図は本発明の実施例をそれぞれ示す図で
ある。 3……X線源、4……検出器群、15……画像
再構成部、29……演算装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 1個のフアンビーム又はコーンビームX線を
発生するX線源と、X線源に対向して配置されか
つ上記ビームX線をカバーするように配列された
複数のX線検出器からなる1個の検出器群と、X
線源と検出器群とを支持すると共にこれらの間に
ある点を中心に回転させる手段と、前記回転によ
つて各X線検出エレメントから出力される検出デ
ータにもとずいてX線源および検出器群との間に
ある領域のX線吸収量の分布像を再構成する第1
の手段と、被検査体の中に動きのある関心部位が
存在したとき、X線源と検出器群の位置を第1の
特定位置に固定して、1つのX線源からX線を所
定時間ばく射して、被検査体のそのX線ビームに
沿う方向のX線吸収値を示す第1の位置における
時系列的な計測値を得る第2の手段と、X線源と
検出器群の位置を上記第1の特定位置とは異なる
第2の位置に回転して移動し、その位置で固定し
て、1つのX線源から、X線を所定時間ばく射し
て、被検体の、そのX線ビームに沿う方向のX線
吸収値を示す第2の位置における時系列的な計測
値を得る第3の手段と、上記動きのある関心部位
の動きをモニタするための信号を計測する第4の
手段と、上記第1の分布像から動きのある関心部
位を抜き出しその輪郭形状を決定すると共に、第
2および第3の手段によつて計測された計測値を
第4の手段で得たモニター信号によつて同一の動
き位相の計測値として関連づけ、この同一位相の
2つの位置におけるX線吸収量と第1の手段によ
つて得た分布像から関心部位の厚み量を算出し、
この2つの異なる位置における厚み量に一致する
よう逐次前記輪郭形状を修正して上記関心部位の
時々刻々の輪郭形状を算出する第5の演算手段
と、この結果を表示する第6の手段より成るX線
動態像計測装置。 2 2個のフアンビーム又はコーンビームX線を
発生するX線源と、X線源に対向して配置されか
つ上記ビームX線をカバーするように配列された
複数のX線検出器からなる2個の検出器群と、X
線源と検出器群とを支持すると共にこれらの間に
ある点を中心に回転させる手段と、前記回転によ
つて各X線検出エレメントから出力される検出デ
ータにもとずいてX線源および検出器群との間に
ある領域のX線吸収量の分布像を再構成する第1
の手段と、被検査体の中に動きのある関心部位が
存在したとき、第1,第2のX線源と検出器群の
位置をそれぞれ第1,第2の特定位置に固定し
て、該第1,第2のX線源からX線を交互に所定
時間ばく射して、被検査体のそのX線ビームに沿
う方向のX線吸収値を示す第1,第2の時系列的
な計測値を上記第1,第2の対応する検出器群を
介して得る第2の手段と、上記第1の分布像から
動きのある関心部位を抜き出しその輪郭形状を決
定すると共に、第2の手段によつて計測された計
測値を同一の動き位相の計測値として関連づけ、
この同一位相の2つの位置におけるX線吸収量と
第1の手段によつて得た分布像から関心部位の厚
み量を算出し、この2つの異なる位置における厚
み量に一致するよう逐次前記輪郭形状を修正して
上記関心部位の時々刻々の輪郭形状を算出する第
3の演算手段と、この結果を表示する第4の手段
より成るX線動態像計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57016199A JPS58136334A (ja) | 1982-02-05 | 1982-02-05 | X線動態像計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57016199A JPS58136334A (ja) | 1982-02-05 | 1982-02-05 | X線動態像計測装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58136334A JPS58136334A (ja) | 1983-08-13 |
| JPH0260333B2 true JPH0260333B2 (ja) | 1990-12-17 |
Family
ID=11909837
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57016199A Granted JPS58136334A (ja) | 1982-02-05 | 1982-02-05 | X線動態像計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58136334A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09107283A (ja) * | 1995-10-11 | 1997-04-22 | Nec Corp | レベル変換回路 |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4698780B2 (ja) * | 1998-09-15 | 2011-06-08 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | 像再構成方法及び測定データ取得方法 |
| US7158610B2 (en) * | 2003-09-05 | 2007-01-02 | Varian Medical Systems Technologies, Inc. | Systems and methods for processing x-ray images |
| US7620444B2 (en) | 2002-10-05 | 2009-11-17 | General Electric Company | Systems and methods for improving usability of images for medical applications |
| US10667727B2 (en) | 2008-09-05 | 2020-06-02 | Varian Medical Systems, Inc. | Systems and methods for determining a state of a patient |
-
1982
- 1982-02-05 JP JP57016199A patent/JPS58136334A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09107283A (ja) * | 1995-10-11 | 1997-04-22 | Nec Corp | レベル変換回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58136334A (ja) | 1983-08-13 |
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