JPH0261529A - ダブルグレーティング型分光装置 - Google Patents
ダブルグレーティング型分光装置Info
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- JPH0261529A JPH0261529A JP21412188A JP21412188A JPH0261529A JP H0261529 A JPH0261529 A JP H0261529A JP 21412188 A JP21412188 A JP 21412188A JP 21412188 A JP21412188 A JP 21412188A JP H0261529 A JPH0261529 A JP H0261529A
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- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims abstract description 7
- 238000004611 spectroscopical analysis Methods 0.000 claims description 7
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 102100025490 Slit homolog 1 protein Human genes 0.000 description 3
- 101710123186 Slit homolog 1 protein Proteins 0.000 description 3
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は2個の分散型分光素子を光路に対して直列に介
挿したダブルグレーティング型分光装置に関する。
挿したダブルグレーティング型分光装置に関する。
[従来の技術]
回折格子(グレーティング)等の分散型分光素子を被測
定光の光路に2個直列に介挿してなるダブルグレーティ
ング型分光装置は例えば第2図に示すように構成されて
いる。すなわち、外部から入力された被測定光aは入射
スリット1を介して第1のコリメータ鏡2で平行光線に
直されて第1の回折格子3に入射される。第1の回折格
子3にて分光された被測定光は凹面鏡からなる第1のカ
メラ鏡4で集光され、中間スリット5を介して第2のコ
リメータ鏡6へ入射される。この第2のコリメータ鏡6
で再び平行光線に直された被測定光は第2の回折格子7
へ入力される。第2の回折格子7でさらに分光された被
測定光は凹面鏡からなる第2のカメラ鏡8で集光され、
出射スリット9を介して、この出射スリット9の裏面に
配設されたフォトダイオードからなる受光器10へ入射
される。
定光の光路に2個直列に介挿してなるダブルグレーティ
ング型分光装置は例えば第2図に示すように構成されて
いる。すなわち、外部から入力された被測定光aは入射
スリット1を介して第1のコリメータ鏡2で平行光線に
直されて第1の回折格子3に入射される。第1の回折格
子3にて分光された被測定光は凹面鏡からなる第1のカ
メラ鏡4で集光され、中間スリット5を介して第2のコ
リメータ鏡6へ入射される。この第2のコリメータ鏡6
で再び平行光線に直された被測定光は第2の回折格子7
へ入力される。第2の回折格子7でさらに分光された被
測定光は凹面鏡からなる第2のカメラ鏡8で集光され、
出射スリット9を介して、この出射スリット9の裏面に
配設されたフォトダイオードからなる受光器10へ入射
される。
一般に、このようなダブルグレーティング型分光装置に
おいては、第1の回折格子3の回折溝の刻線方向と第2
の回折格子7の刻線方向とを一致させるようにしている
。したがって、入射スリット1.中間スリット5および
出射スリット9のスリット方向も第1.第2の回折格子
3,7の刻線方向と一致している。そして、前述したよ
うに構成される2台の分光器を同じ構造とし、第2図に
おいて、各回折格子3,7に対する被測定光の入射角θ
は互いに一致するように、各回折格子3゜7は図示しな
い一つ又は2つの駆動機構にて連動して回動される。し
たがって、各回折格子3.7から各カメラ鏡4,8へ入
射される分光された光の中心位置の波長λは一致する。
おいては、第1の回折格子3の回折溝の刻線方向と第2
の回折格子7の刻線方向とを一致させるようにしている
。したがって、入射スリット1.中間スリット5および
出射スリット9のスリット方向も第1.第2の回折格子
3,7の刻線方向と一致している。そして、前述したよ
うに構成される2台の分光器を同じ構造とし、第2図に
おいて、各回折格子3,7に対する被測定光の入射角θ
は互いに一致するように、各回折格子3゜7は図示しな
い一つ又は2つの駆動機構にて連動して回動される。し
たがって、各回折格子3.7から各カメラ鏡4,8へ入
射される分光された光の中心位置の波長λは一致する。
このような構成のダブルグレーティング型分光装置にお
いて、入射スリット1を介して入力された被n1定光a
は第1の回折格子3で分光されて、分光された被測定光
がさらに第2の回折格子7で分光される。
いて、入射スリット1を介して入力された被n1定光a
は第1の回折格子3で分光されて、分光された被測定光
がさらに第2の回折格子7で分光される。
一般に回折格子の分光性能は単一波長久。の基準光を分
光した場合にこの中心波長λ0の両側の波長領域に存在
する光レベルの減衰度で示すことができるので、第1の
回折格子3にて分光された光をさらに第2の回折格子7
で分光することによって、前記中心波長λ0の両側の波
長領域に存在する前記第1の回折格子3によって減衰さ
れた光レベルをさらに減衰させることが可能となる。し
たがって、2個の回折格子3,7を入射角θが常時一致
するように連動させて使用することにより、被測定光a
に対する分光性能を大幅に向上できる。
光した場合にこの中心波長λ0の両側の波長領域に存在
する光レベルの減衰度で示すことができるので、第1の
回折格子3にて分光された光をさらに第2の回折格子7
で分光することによって、前記中心波長λ0の両側の波
長領域に存在する前記第1の回折格子3によって減衰さ
れた光レベルをさらに減衰させることが可能となる。し
たがって、2個の回折格子3,7を入射角θが常時一致
するように連動させて使用することにより、被測定光a
に対する分光性能を大幅に向上できる。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、2個の回折格子3.7を使用して分光性
能を向上させた第2図に示すダブルグレーティング型分
光装置においてもまだ次のような課題があった。すなわ
ち、第3図(b)に示すように、一般に被n1定光aの
光の振動方向は任意の方向に振動する。したがって、回
折格子3.7に入射した時点で、この入射光aの振動方
向と回折格子3,7の刻線方向との間には任意の角度α
が存在する。また、一般に、回折格子においては第3図
(a)に示すように、その回折効率が刻線の平行方向の
回折効率P(λ)と刻線の垂直方向の回折効率S(λ)
とで波長特性が異なる。したがって、同一波長成分を含
む被測定光aを分光分析を実施したとしても、被測定光
aの光の振動方向が異なれば回折格子3.7上における
刻線に平行な偏波成分(P成分)と刻線に垂直な偏波成
分(S成分)との成分比が変化するので、得られた分光
特性上の各波長λにおける光レベルが常時正しい値にな
るとは限らない。
能を向上させた第2図に示すダブルグレーティング型分
光装置においてもまだ次のような課題があった。すなわ
ち、第3図(b)に示すように、一般に被n1定光aの
光の振動方向は任意の方向に振動する。したがって、回
折格子3.7に入射した時点で、この入射光aの振動方
向と回折格子3,7の刻線方向との間には任意の角度α
が存在する。また、一般に、回折格子においては第3図
(a)に示すように、その回折効率が刻線の平行方向の
回折効率P(λ)と刻線の垂直方向の回折効率S(λ)
とで波長特性が異なる。したがって、同一波長成分を含
む被測定光aを分光分析を実施したとしても、被測定光
aの光の振動方向が異なれば回折格子3.7上における
刻線に平行な偏波成分(P成分)と刻線に垂直な偏波成
分(S成分)との成分比が変化するので、得られた分光
特性上の各波長λにおける光レベルが常時正しい値にな
るとは限らない。
また、一つの被測定光aを入射したとしても、振動方向
によっては、前記成分比が異なるので、S成分が多い場
合と、P成分が多い場合とでは、回折効率の波長特性が
異なるので、得られた分光特性上の各波長相互間におけ
る各光レベルの厳密なレベル比較を実行するとが不可能
である。
によっては、前記成分比が異なるので、S成分が多い場
合と、P成分が多い場合とでは、回折効率の波長特性が
異なるので、得られた分光特性上の各波長相互間におけ
る各光レベルの厳密なレベル比較を実行するとが不可能
である。
このように、従来のダブルグレーティング型分光装置に
おいては、どの波長λ位置にピークが存在するかを正確
に把握することが可能であるが、そのピーク波形の光レ
ベルが該当波長の光の振動方向によって大きく変動する
ので、正しい光レベルを得ることは困難であった。
おいては、どの波長λ位置にピークが存在するかを正確
に把握することが可能であるが、そのピーク波形の光レ
ベルが該当波長の光の振動方向によって大きく変動する
ので、正しい光レベルを得ることは困難であった。
本発明はこのような事情に鑑みてなされたものであり、
第1の分散型分光素子から出力された光の振動方向を等
価的に90″回転させて第2の分散型分光素子へ人力す
ることによって、各測定波長における得られた光レベル
から彼alll定光の振動方向に依存する変動成分を除
去することができ、常時安定した正確な光レベルの測定
が実施でき、ひいては装置全体の測定精度を向上できる
ダブルグレーティング型分光装置を提供することを目的
とする。
第1の分散型分光素子から出力された光の振動方向を等
価的に90″回転させて第2の分散型分光素子へ人力す
ることによって、各測定波長における得られた光レベル
から彼alll定光の振動方向に依存する変動成分を除
去することができ、常時安定した正確な光レベルの測定
が実施でき、ひいては装置全体の測定精度を向上できる
ダブルグレーティング型分光装置を提供することを目的
とする。
[課題を解決するための手段]
上記課題を解消するために本発明は、刻線の平行方向お
よび刻線の直角(垂直)方向の各回折効率がそれぞれ互
いに等しい2個の分散型分光素子を用い、人力された被
測定光を第1の分散型分光素子で分光し、この第1の分
散型分光素子で分光された被測定光を第2の分散型分光
素子を用いてさらに分光するダブルグレーティング型分
光装置であって、 第1の分散型分光素子から出力されこの第1の分散型分
光素子の刻線方向に垂直な偏波成分の光を第2の分散型
分光素子の刻線方向に平行に入射させ、かつ第1の分散
型分光素子から出力されこの第1の分散型分光素子の刻
線方向に平行な偏波成分の光を第2の分散型分光素子の
刻線方向に垂直に入射させるようにしたものである。
よび刻線の直角(垂直)方向の各回折効率がそれぞれ互
いに等しい2個の分散型分光素子を用い、人力された被
測定光を第1の分散型分光素子で分光し、この第1の分
散型分光素子で分光された被測定光を第2の分散型分光
素子を用いてさらに分光するダブルグレーティング型分
光装置であって、 第1の分散型分光素子から出力されこの第1の分散型分
光素子の刻線方向に垂直な偏波成分の光を第2の分散型
分光素子の刻線方向に平行に入射させ、かつ第1の分散
型分光素子から出力されこの第1の分散型分光素子の刻
線方向に平行な偏波成分の光を第2の分散型分光素子の
刻線方向に垂直に入射させるようにしたものである。
1作用]
このような構成のダブルグレーティング型分光装置であ
れば、第1の分散型分光素子へ入射され、振動方向がこ
の第1の分散型分光素子の刻線方向に対して任意角αを
有する被測定光は、この第1の分散型分光素子にて分光
される。この第1の分散型分光素子にて分光された光は
第2の分散型分光素子へ入射される。この場合、第1の
分散型分光素子から出力された光の刻線方向に垂直な偏
波成分(S成分)は第2の分散型分光素子の刻線方向に
平行に入射される。また、第1の分散型分光素子から出
力された光の刻線方向に平行な偏波成分(P成分)は第
2の分散型分光素子の刻線方向に垂直に入射される。す
なわち、第1の分散分光素子から出力された光はその振
動方向が等価的に90″回転されて第2の分散分光素子
へ入射される。
れば、第1の分散型分光素子へ入射され、振動方向がこ
の第1の分散型分光素子の刻線方向に対して任意角αを
有する被測定光は、この第1の分散型分光素子にて分光
される。この第1の分散型分光素子にて分光された光は
第2の分散型分光素子へ入射される。この場合、第1の
分散型分光素子から出力された光の刻線方向に垂直な偏
波成分(S成分)は第2の分散型分光素子の刻線方向に
平行に入射される。また、第1の分散型分光素子から出
力された光の刻線方向に平行な偏波成分(P成分)は第
2の分散型分光素子の刻線方向に垂直に入射される。す
なわち、第1の分散分光素子から出力された光はその振
動方向が等価的に90″回転されて第2の分散分光素子
へ入射される。
その結果、第1の分散型分光素子の一方の回折効率P(
λ)の影響を受けた入射光成分は第2の分散型分光素子
にて他方の回折効率S(λ)の影響を受ける。逆に、第
1の分散型分光素子の他方の回折効率S(λ)の影響を
受けた入射光成分は第2の分散型分光素子にて一方の回
折効率P(λ)の影響を受ける。したがって、前記入射
光のいずれの成分も両方の回折効率P(λ)、S(λ)
の影響を等しく受けるので、第2の分散分光素子から出
力される分光された光から前記入射光の偏波状態の影響
を除去できる。
λ)の影響を受けた入射光成分は第2の分散型分光素子
にて他方の回折効率S(λ)の影響を受ける。逆に、第
1の分散型分光素子の他方の回折効率S(λ)の影響を
受けた入射光成分は第2の分散型分光素子にて一方の回
折効率P(λ)の影響を受ける。したがって、前記入射
光のいずれの成分も両方の回折効率P(λ)、S(λ)
の影響を等しく受けるので、第2の分散分光素子から出
力される分光された光から前記入射光の偏波状態の影響
を除去できる。
しかして、得られた分光特性の各波長λにおける各光レ
ベルの測定精度が向上する。
ベルの測定精度が向上する。
[実施例]
以下本発明の一実施例を図面を用いて説明する。
第1図は実施例のダブルグレーディング型分光装置を示
す模式図である。外部から入射された被βj定光aは入
射スリット11を介して第1のコリメータ鏡12で平行
光線に直されて第1の回折格子13に入射される。第1
の回折格子13にて分光された被測定光aは凹面鏡から
なる第1のカメラ鏡14で集光され、さらに第1の平面
鏡15で反射され、中間スリット16を通過する。中間
スリット16を通過した被測定光aは第2の平面鏡17
で反射されて第2のコリメータ鏡18へ入射される。こ
の第2のコリメータ鏡18で再び平行光線に直された被
測定光aは第2の回折格子19へ入力される。第2の回
折格子19でさらに分光された被測定光aは凹面鏡から
なる第2のカメラ鏡20で集光され、出射スリット21
を介して、この出射スリット21の裏面に配設されたフ
ォトダイオードからなる受光器22へ入射される。
す模式図である。外部から入射された被βj定光aは入
射スリット11を介して第1のコリメータ鏡12で平行
光線に直されて第1の回折格子13に入射される。第1
の回折格子13にて分光された被測定光aは凹面鏡から
なる第1のカメラ鏡14で集光され、さらに第1の平面
鏡15で反射され、中間スリット16を通過する。中間
スリット16を通過した被測定光aは第2の平面鏡17
で反射されて第2のコリメータ鏡18へ入射される。こ
の第2のコリメータ鏡18で再び平行光線に直された被
測定光aは第2の回折格子19へ入力される。第2の回
折格子19でさらに分光された被測定光aは凹面鏡から
なる第2のカメラ鏡20で集光され、出射スリット21
を介して、この出射スリット21の裏面に配設されたフ
ォトダイオードからなる受光器22へ入射される。
前記第1の回折格子13と第2の回折格子19とは同一
構成を有している。したがって、第1の回折格子13に
おける刻線の平行方向の回折効率P、(λ)と第2の回
折格子19における刻線の平行方向の回折効率P2 (
λ)とは等しい。また、第1の回折格子13における刻
線の垂直方向の回折効率S+ (λ)と第2の回折格
子19における刻線の垂直方向の回折効率S2 (λ
)とは等しい。
構成を有している。したがって、第1の回折格子13に
おける刻線の平行方向の回折効率P、(λ)と第2の回
折格子19における刻線の平行方向の回折効率P2 (
λ)とは等しい。また、第1の回折格子13における刻
線の垂直方向の回折効率S+ (λ)と第2の回折格
子19における刻線の垂直方向の回折効率S2 (λ
)とは等しい。
また、第2の回折格子19の刻線方向は第1の回折格子
13の刻線方向に対して90°だけ回転させている。さ
らに、第1のコリメータ鏡12と第1の回折格子13と
第1のカメラ鏡14の成す角と、第2のコリメータ鏡1
8と第2の回折格子19と第2のカメラ鏡20の成す角
とを等しくしている。各回折格子13.19はそれぞれ
刻線方向と平行する各軸心13a、19a回りに回動自
在に設けられている。そして、図示するように各回折格
子13.19に対する被測定光aの入射角θは常に一致
するように、各回折格子13゜19は図示しない一つの
駆動機溝にて連動して回動される。したがって、各回折
格子13.19から各カメラ鏡14.20へ入射される
分光された光の中心位置の波長λは一致する。
13の刻線方向に対して90°だけ回転させている。さ
らに、第1のコリメータ鏡12と第1の回折格子13と
第1のカメラ鏡14の成す角と、第2のコリメータ鏡1
8と第2の回折格子19と第2のカメラ鏡20の成す角
とを等しくしている。各回折格子13.19はそれぞれ
刻線方向と平行する各軸心13a、19a回りに回動自
在に設けられている。そして、図示するように各回折格
子13.19に対する被測定光aの入射角θは常に一致
するように、各回折格子13゜19は図示しない一つの
駆動機溝にて連動して回動される。したがって、各回折
格子13.19から各カメラ鏡14.20へ入射される
分光された光の中心位置の波長λは一致する。
第1.第2の回折格子13.19がそれぞれ上述した各
分光特性を得るために、入射スリ・ント11および中間
スリット16のスリット方向と第1の回折格子13の刻
線方向とを一致させている。
分光特性を得るために、入射スリ・ント11および中間
スリット16のスリット方向と第1の回折格子13の刻
線方向とを一致させている。
また、出射スリット21のスリット方向と第2の回折格
子の刻線方向とを一致させている。
子の刻線方向とを一致させている。
このような構成のダブルグレーティング型分光装置にお
いて、入射スリット11を介して入射された被a1定光
aは第1の回折格子13で上下方向に分光される。上下
方向に分光された披M1定光aは第1のカメラ鏡14.
第1の平面鏡15.中間スリット16.第2の平面鏡1
7および第2のコリメータ鏡18を介して第2の回折格
子19へ入射される。そして、被測定光aがさらにこの
第2の回折格子19で水平方向に分光される。水平方向
に分光された被測定光aは第2のカメラ鏡20および出
射スリット21を介して受光器22へ入射される。
いて、入射スリット11を介して入射された被a1定光
aは第1の回折格子13で上下方向に分光される。上下
方向に分光された披M1定光aは第1のカメラ鏡14.
第1の平面鏡15.中間スリット16.第2の平面鏡1
7および第2のコリメータ鏡18を介して第2の回折格
子19へ入射される。そして、被測定光aがさらにこの
第2の回折格子19で水平方向に分光される。水平方向
に分光された被測定光aは第2のカメラ鏡20および出
射スリット21を介して受光器22へ入射される。
したがって、第1の回折格子13にて分光された被M1
定光aの振動方向は第2の回折格子19へ入射した時点
においては、第2の回折格子19側から見ると振動方向
が刻線に対して90″回転することになる。
定光aの振動方向は第2の回折格子19へ入射した時点
においては、第2の回折格子19側から見ると振動方向
が刻線に対して90″回転することになる。
そして、被測定光aの第1の回折格子13の刻線方向に
垂直な偏波成分(S成分)の光強度をIXとし、刻線方
向に平行な偏波成分(P成分)の光強度をIYとすると
、第1の回折格子13から出力される波長λの光強度I
l (λ)は(1)式となる。
垂直な偏波成分(S成分)の光強度をIXとし、刻線方
向に平行な偏波成分(P成分)の光強度をIYとすると
、第1の回折格子13から出力される波長λの光強度I
l (λ)は(1)式となる。
1+ (λ)−IX(λ)Sl (λ)+IX−(λ
)PI(λ) ・・・(1)そして、この第1の回折格
子13から出力された光強度11 (λ)の被測定光a
は、振動方向が90″回転されて第2の回折格子19へ
入射されるので、第2の回折格子19から出力される波
長λの光強度12 (λ)は(2)式となる。
)PI(λ) ・・・(1)そして、この第1の回折格
子13から出力された光強度11 (λ)の被測定光a
は、振動方向が90″回転されて第2の回折格子19へ
入射されるので、第2の回折格子19から出力される波
長λの光強度12 (λ)は(2)式となる。
12 (λ)−1x(λ)S、(λ)P2 (λ)+I
Y (λ) Pl (λ) S2 (λ)・・・(2
) 前述したように第1の回折格子13と第2の回折格子1
9とは同一構成であるので、 Sl (λ)−32(λ)−8(λ) Pl (λ)−P2 (λ)諺P(λ)となるので、(
2)式は(3)式で示される。
Y (λ) Pl (λ) S2 (λ)・・・(2
) 前述したように第1の回折格子13と第2の回折格子1
9とは同一構成であるので、 Sl (λ)−32(λ)−8(λ) Pl (λ)−P2 (λ)諺P(λ)となるので、(
2)式は(3)式で示される。
12 (λ)−11x(λ)+1y(λ))× (P(
λ)S(λ)) ・・・(3)また、被測定光aの光
強度! (λ)は第1の回折格子13へ入射されるS成
分の光強度Ix (λ)とP成分の光強度IY (
λ)との和で示されるので、(3)式は(4)式となる
。
λ)S(λ)) ・・・(3)また、被測定光aの光
強度! (λ)は第1の回折格子13へ入射されるS成
分の光強度Ix (λ)とP成分の光強度IY (
λ)との和で示されるので、(3)式は(4)式となる
。
12 (λ)−1(λ)P(λ)S(λ)・・・(4
) したがって、第2の回折格子19で分光されて第2のカ
メラ鏡20および出射スリット21を介して受光器22
へ入射される被測定光の各波長λにおける光強度! (
λ)は(4)式に示すように、この分光装置へ入射され
る被測定光aの各波長λにおける光強度I (λ)と各
回折格子13,9の各方向の回折効率の積[P (λ)
S(λ)]の関数になる。
) したがって、第2の回折格子19で分光されて第2のカ
メラ鏡20および出射スリット21を介して受光器22
へ入射される被測定光の各波長λにおける光強度! (
λ)は(4)式に示すように、この分光装置へ入射され
る被測定光aの各波長λにおける光強度I (λ)と各
回折格子13,9の各方向の回折効率の積[P (λ)
S(λ)]の関数になる。
各回折格子13.19の各方向における回折効率P(λ
)、S(λ)は第3図(a)に示すように既知であるの
で、各波長λにおける上記積[P (λ)S(λ)〕は
一美的に定まる。その結果、受光器22へ入射される光
の各波長λにおける光強度■2 (λ)は入射されたm
API定、光aの各波長λにおける光強度! (λ)
に対応して変化し、被測定光aの振動方向、すなわち第
1の回折格子13に対するP成分とS成分の比には依存
しない。
)、S(λ)は第3図(a)に示すように既知であるの
で、各波長λにおける上記積[P (λ)S(λ)〕は
一美的に定まる。その結果、受光器22へ入射される光
の各波長λにおける光強度■2 (λ)は入射されたm
API定、光aの各波長λにおける光強度! (λ)
に対応して変化し、被測定光aの振動方向、すなわち第
1の回折格子13に対するP成分とS成分の比には依存
しない。
したがって、得られた分光特性の各波長λにおける光レ
ベル(光強度I(λ))から入射光の偏波状態の影響を
完全に除去できるので、各波長λにおける各光レベルの
測定制度を大幅に向上できる。
ベル(光強度I(λ))から入射光の偏波状態の影響を
完全に除去できるので、各波長λにおける各光レベルの
測定制度を大幅に向上できる。
[発明の効果]
以上説明したように本発明のダブルグレーティング型分
光装置によれば、第1の分散型分光素子から出力された
光の振動方向を等価的に90’回転させて第2の分散型
分光素子へ人力するようにしている。よって、各測定波
長における光レベルから被測定光の振動方向に依存する
変動成分を除去することができ、常に安定した正確な光
レベルの測定が実施でき、ひいては装置全体の測定精度
を向上できる。
光装置によれば、第1の分散型分光素子から出力された
光の振動方向を等価的に90’回転させて第2の分散型
分光素子へ人力するようにしている。よって、各測定波
長における光レベルから被測定光の振動方向に依存する
変動成分を除去することができ、常に安定した正確な光
レベルの測定が実施でき、ひいては装置全体の測定精度
を向上できる。
第1図は本発明の一実施例に係わるダブルグレーティン
グ型分光装置の概略構成を示す模式図、第2図は従来の
ダブルグレーティング型分光装置の概略構成を示す模式
図、第3図(a)は回折格子における各回折効率を示す
特性図、同図(b)は被測定光の振動方向と回折格子の
刻線方向との間の関係を示す図である。 11・・・入射スリット、12・・・第1のコリメータ
鏡、13・・・第1の回折格子、14・・・第1のカメ
ラ鏡、15・・・第1の平面鏡、16・・・中間スリッ
ト、17・・・第2の平面鏡、18・・・第2のコリメ
ータ鏡、19・・・第2の回折格子、20・・・第2の
カメラ鏡、21・・・出射スリット、22・・・受光器
。
グ型分光装置の概略構成を示す模式図、第2図は従来の
ダブルグレーティング型分光装置の概略構成を示す模式
図、第3図(a)は回折格子における各回折効率を示す
特性図、同図(b)は被測定光の振動方向と回折格子の
刻線方向との間の関係を示す図である。 11・・・入射スリット、12・・・第1のコリメータ
鏡、13・・・第1の回折格子、14・・・第1のカメ
ラ鏡、15・・・第1の平面鏡、16・・・中間スリッ
ト、17・・・第2の平面鏡、18・・・第2のコリメ
ータ鏡、19・・・第2の回折格子、20・・・第2の
カメラ鏡、21・・・出射スリット、22・・・受光器
。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 刻線の平行方向および刻線の直角方向の各回折効率がそ
れぞれ互いに等しい2個の分散型分光素子(13、19
)を用い、入力された被測定光を第1の分散型分光素子
(13)で分光し、この第1の分散型分光素子で分光さ
れた被測定光を第2の分散型分光素子(19)を用いて
さらに分光するダブルグレーティング型分光装置であっ
て、 前記第1の分散型分光素子から出力されこの第1の分散
型分光素子の刻線方向に垂直な偏波成分の光を前記第2
の分散型分光素子の刻線方向に平行に入射させ、かつ前
記第1の分散型分光素子から出力されこの第1の分散型
分光素子の刻線方向に平行な偏波成分の光を前記第2の
分散型分光素子の刻線方向に垂直に入射させることを特
徴とするダブルグレーティング型分光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63214121A JP2755958B2 (ja) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | ダブルグレーティング型分光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63214121A JP2755958B2 (ja) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | ダブルグレーティング型分光装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0261529A true JPH0261529A (ja) | 1990-03-01 |
| JP2755958B2 JP2755958B2 (ja) | 1998-05-25 |
Family
ID=16650572
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63214121A Expired - Lifetime JP2755958B2 (ja) | 1988-08-29 | 1988-08-29 | ダブルグレーティング型分光装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2755958B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5608521A (en) * | 1995-09-18 | 1997-03-04 | Trw Inc. | Polarization compensated imaging spectrometer |
| JP2007163780A (ja) * | 2005-12-13 | 2007-06-28 | Fujitsu Ltd | 多波長分光装置 |
| US7613394B2 (en) | 2006-02-17 | 2009-11-03 | Fujitsu Limited | Optical switching device |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6318687A (ja) * | 1986-07-11 | 1988-01-26 | 株式会社東芝 | 回路基板 |
-
1988
- 1988-08-29 JP JP63214121A patent/JP2755958B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6318687A (ja) * | 1986-07-11 | 1988-01-26 | 株式会社東芝 | 回路基板 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5608521A (en) * | 1995-09-18 | 1997-03-04 | Trw Inc. | Polarization compensated imaging spectrometer |
| JP2007163780A (ja) * | 2005-12-13 | 2007-06-28 | Fujitsu Ltd | 多波長分光装置 |
| US7359051B2 (en) | 2005-12-13 | 2008-04-15 | Fujitsu Limited | Multiple-wavelength spectroscopic apparatus |
| US7613394B2 (en) | 2006-02-17 | 2009-11-03 | Fujitsu Limited | Optical switching device |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2755958B2 (ja) | 1998-05-25 |
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