JPH0262173B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH0262173B2 JPH0262173B2 JP61095726A JP9572686A JPH0262173B2 JP H0262173 B2 JPH0262173 B2 JP H0262173B2 JP 61095726 A JP61095726 A JP 61095726A JP 9572686 A JP9572686 A JP 9572686A JP H0262173 B2 JPH0262173 B2 JP H0262173B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- modulator
- light
- drive source
- output
- optical fiber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 19
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 7
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3181—Reflectometers dealing with polarisation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
- G01N21/3151—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths using two sources of radiation of different wavelengths
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
- G01N2021/3181—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths using LEDs
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、波長の違う光源を偏光ビームスプ
リツタを介してA/O変調器に入射し、A/O変
調器の駆動源を調節することにより、波長の違う
光源を共用する光フアイバ測定装置についてのも
のである。
リツタを介してA/O変調器に入射し、A/O変
調器の駆動源を調節することにより、波長の違う
光源を共用する光フアイバ測定装置についてのも
のである。
[従来の技術]
光フアイバ測定装置では、光源のレーザダイオ
ード(以下、LDという。)からの出射光と、その
光源に対する光フアイバからの後方散乱光などに
よる戻り光の入出力を1つの光コネクタで処理し
なければならないので、各種の光切換器や光分岐
器が必要になる。
ード(以下、LDという。)からの出射光と、その
光源に対する光フアイバからの後方散乱光などに
よる戻り光の入出力を1つの光コネクタで処理し
なければならないので、各種の光切換器や光分岐
器が必要になる。
光切換器としては、偏波特性の少ないことや、
切り換えた信号間のアイソレーシヨンが大きいこ
となどの理由から音響光学機器(以下、A/O変
調器という。)が広く使用されている。
切り換えた信号間のアイソレーシヨンが大きいこ
となどの理由から音響光学機器(以下、A/O変
調器という。)が広く使用されている。
[発明が解決しようとする課題]
現在、光フアイバの特性測定には、光源として
1.3μm帯と1.55μm帯の2つの波長を使用している
が、測定用としては、この2波長の光源と光切換
器ユニツトをそれぞれ用意しなければならない。
1.3μm帯と1.55μm帯の2つの波長を使用している
が、測定用としては、この2波長の光源と光切換
器ユニツトをそれぞれ用意しなければならない。
また、光フアイバの特性測定には、測定器類の
持ち運びを繰り返すことが多いので、特に機器の
小型化と、軽量化が要望されている。
持ち運びを繰り返すことが多いので、特に機器の
小型化と、軽量化が要望されている。
これらのユニツトが1つの機器内に収容され、
パネル面からのスイツチ操作により、2波長の切
換えができるようになつていれば、測定を効率的
に処理することができる。
パネル面からのスイツチ操作により、2波長の切
換えができるようになつていれば、測定を効率的
に処理することができる。
この発明は、切換スイツチを切り換えることに
より、波長の違う光源を共用することができ、ま
た、挿入損失の少ない偏光ビームスプリツタを採
用するとともに、光源の波長に対応した駆動源を
切り換えてA/O変調器を駆動することにより、
高速で信頼性の高い光フアイバ測定測置の提供を
目的とする。
より、波長の違う光源を共用することができ、ま
た、挿入損失の少ない偏光ビームスプリツタを採
用するとともに、光源の波長に対応した駆動源を
切り換えてA/O変調器を駆動することにより、
高速で信頼性の高い光フアイバ測定測置の提供を
目的とする。
[課題を解決するための手段]
この目的を達成するため、この発明では、第1
のLD3aと、第1のLD3aと波長の違う第2の
LD3bと、第1のLD3aの電源2aのオンオフ
と第2のLD3bの電源2bのオンオフを切り換
える第1の切換スイツチ1aと、第1のLD3a
の出力光と第2のLD3bの出力光を入力とする
偏光ビームスプリツタ5と、偏光ビームスプリツ
タ5の出力光を入力とするA/O変調器6と、
A/O変調器6を駆動する第1の駆動源7aと、
A/O変調器6を駆動する第2の駆動源7bと、
第1の切換スイツチ1aと連動し、第1のLD3
aがオンのときは第1の駆動源7aの出力を取り
出し、第2のLD3bがオンのときは第2の駆動
源7bの出力を取り出す第2の切換スイツチ1b
とを備え、A/O変調器6の出力光を光フアイバ
10に入射する。第1の駆動源7aの出力周波数
と第2の駆動源7bの出力周波数を調節し、第1
のLD3aと第2のLD3bの波長の戻り光に対し
てA/O変調器6による1次回折光角度を等しく
する。
のLD3aと、第1のLD3aと波長の違う第2の
LD3bと、第1のLD3aの電源2aのオンオフ
と第2のLD3bの電源2bのオンオフを切り換
える第1の切換スイツチ1aと、第1のLD3a
の出力光と第2のLD3bの出力光を入力とする
偏光ビームスプリツタ5と、偏光ビームスプリツ
タ5の出力光を入力とするA/O変調器6と、
A/O変調器6を駆動する第1の駆動源7aと、
A/O変調器6を駆動する第2の駆動源7bと、
第1の切換スイツチ1aと連動し、第1のLD3
aがオンのときは第1の駆動源7aの出力を取り
出し、第2のLD3bがオンのときは第2の駆動
源7bの出力を取り出す第2の切換スイツチ1b
とを備え、A/O変調器6の出力光を光フアイバ
10に入射する。第1の駆動源7aの出力周波数
と第2の駆動源7bの出力周波数を調節し、第1
のLD3aと第2のLD3bの波長の戻り光に対し
てA/O変調器6による1次回折光角度を等しく
する。
[作用]
次に、この発明による光フアイバ測定装置の構
成を第1図により説明する。
成を第1図により説明する。
第1図の1aと1bは切換スイツチ、2aと2
bは電源、3aは1.3μm帯のLD、3bは1.55μm
帯のLD、4aと4bは集光レンズ、5は偏光ビ
ームスプリツタ、6はA/O変調器、7aと7b
は駆動源、8は集光レンズ、9は光コネクタ、1
0は光フアイバ、11は光検出器である。
bは電源、3aは1.3μm帯のLD、3bは1.55μm
帯のLD、4aと4bは集光レンズ、5は偏光ビ
ームスプリツタ、6はA/O変調器、7aと7b
は駆動源、8は集光レンズ、9は光コネクタ、1
0は光フアイバ、11は光検出器である。
第1図では、LD3aの出力光を集光レンズ4
aで平行ビームにし、光軸と直交する面上を回転
させてS偏光波にする。
aで平行ビームにし、光軸と直交する面上を回転
させてS偏光波にする。
同じように、LD3bの出力光を集光レンズ4
bで平行ビームにし、光軸と直交する面上を回転
させてP偏光波にする。
bで平行ビームにし、光軸と直交する面上を回転
させてP偏光波にする。
S偏光波とP偏光波を偏光ビームスプリツタ5
に入射し、A/O変調器6を通した後、集光レン
ズ8で集光して光コネクタ9から光フアイバ10
に測定光を入射する。
に入射し、A/O変調器6を通した後、集光レン
ズ8で集光して光コネクタ9から光フアイバ10
に測定光を入射する。
駆動源7a,7bはA/O変調器6を駆動する
信号発生器であり、駆動源7aの出力周波数によ
る波長1.3μmの1次回折光角度と、駆動源7bの
出力周波数による波長1.55μmの1次回折光角度
が一致するように、出力周波数を調節する。
信号発生器であり、駆動源7aの出力周波数によ
る波長1.3μmの1次回折光角度と、駆動源7bの
出力周波数による波長1.55μmの1次回折光角度
が一致するように、出力周波数を調節する。
なお、1次回折光角度Θは次式で表される。
Θ=λf/2nv ……(1)
ここに、λ:入射光の波長
f:駆動信号周波数
n:A/O変調器6の素子の屈折率
v:A/O変調器6の素子内部の音速
切換スイツチ1aはLD3a用の電源2aとLD
3b用の電源2bを切り換え、切換スイツチ1b
は切換スイツチ1aと連動して駆動源7a,7b
を切り換える。
3b用の電源2bを切り換え、切換スイツチ1b
は切換スイツチ1aと連動して駆動源7a,7b
を切り換える。
切換スイツチ1aで電源2aをLD3aに供給
しているときは切換スイツチ1bは駆動源7aの
出力周波数をA/O変調器6に供給しており、切
換スイツチ1aで電源2bをLD3bに供給して
いるときは切換スイツチ1bは駆動源7bの出力
周波数をA/O変調器6に供給している。
しているときは切換スイツチ1bは駆動源7aの
出力周波数をA/O変調器6に供給しており、切
換スイツチ1aで電源2bをLD3bに供給して
いるときは切換スイツチ1bは駆動源7bの出力
周波数をA/O変調器6に供給している。
光フアイバ10から後方散乱光などが戻つてく
ると、LD3aによる戻り光もLD3bによる戻り
光もA/O変調器6により1次回折光角度が等し
くされるので、1つの光検出器11で検出され、
光フアイバ10の特性を測定することができる。
ると、LD3aによる戻り光もLD3bによる戻り
光もA/O変調器6により1次回折光角度が等し
くされるので、1つの光検出器11で検出され、
光フアイバ10の特性を測定することができる。
[発明の効果]
この発明によれば、波長の違うLDの出力を偏
光ビームスプリツタとA/O変調器を介して光フ
アイバに入射しており、LDの電源とA/O変調
器の駆動周波数を連動して切り換えているので、
複数の光源を共用することができる光フアイバ測
定装置を提供することができる。
光ビームスプリツタとA/O変調器を介して光フ
アイバに入射しており、LDの電源とA/O変調
器の駆動周波数を連動して切り換えているので、
複数の光源を共用することができる光フアイバ測
定装置を提供することができる。
第1図はこの発明による光フアイバ測定装置の
構成図である。 1a,1b……切換スイツチ、2a,2b……
電源、3a,3b……LD(レーザダイオード)、
4a,4b……集光レンズ、5……偏光ビームス
プリツタ、6……A/O変調器(音響光学機器)、
7a,7b……駆動源、8……集光レンズ、9…
…光コネクタ、10……光フアイバ。
構成図である。 1a,1b……切換スイツチ、2a,2b……
電源、3a,3b……LD(レーザダイオード)、
4a,4b……集光レンズ、5……偏光ビームス
プリツタ、6……A/O変調器(音響光学機器)、
7a,7b……駆動源、8……集光レンズ、9…
…光コネクタ、10……光フアイバ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 第1のLD3aと、 第1のLD3aと波長の違う第2のLD3bと、 第1のLD3aの電源2aのオンオフと第2の
LD3bの電源2bのオンオフを切り換える第1
の切換スイツチ1aと、 第1のLD3aの出力光と第2のLD3bの出力
光を入力とする偏光ビームスプリツタ5と、 偏光ビームスプリツタ5の出力光を入力とする
A/O変調器6と、 A/O変調器6を駆動する第1の駆動源7a
と、 A/O変調器6を駆動する第2の駆動源7b
と、 第1の切換スイツチ1aと連動し、第1のLD
3aがオンのときは第1の駆動源7aの出力を取
り出し、第2のLD3bがオンのときは第2の駆
動源7bの出力を取り出す第2の切換スイツチ1
bとを備え、 A/O変調器6の出力光を光フアイバ10に入
射し、 第1の駆動源7aの出力周波数と第2の駆動源
7bの出力周波数を調節し、第1のLD3aと第
2のLD3bの波長に対して光フアイバ10から
の戻り光のA/O変調器6による1次回折光角度
を等しくすることを特徴とする光フアイバ測定装
置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61095726A JPS62251633A (ja) | 1986-04-24 | 1986-04-24 | 光フアイバ測定装置 |
| US07/042,408 US4737027A (en) | 1986-04-24 | 1987-04-24 | Optical fiber measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61095726A JPS62251633A (ja) | 1986-04-24 | 1986-04-24 | 光フアイバ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62251633A JPS62251633A (ja) | 1987-11-02 |
| JPH0262173B2 true JPH0262173B2 (ja) | 1990-12-25 |
Family
ID=14145477
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61095726A Granted JPS62251633A (ja) | 1986-04-24 | 1986-04-24 | 光フアイバ測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4737027A (ja) |
| JP (1) | JPS62251633A (ja) |
Families Citing this family (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2646711A1 (fr) * | 1989-05-02 | 1990-11-09 | Labo Electronique Physique | Dispositif capteur de pression a fibre optique |
| US5196867A (en) * | 1991-04-08 | 1993-03-23 | Eastman Kodak Company | Extension of dynamic range for continuous tone laser printers |
| US5715224A (en) * | 1991-07-05 | 1998-02-03 | Sony Corporation | Recording medium with synthesis method default value and reproducing device |
| US5137351A (en) * | 1991-07-24 | 1992-08-11 | So Vincent C Y | Optical time domain reflectometer for selective testing of optical fibers with different core diameters |
| US5305078A (en) * | 1992-01-21 | 1994-04-19 | Exfo Electro-Optical Engineering Inc. | Measurement of attenuation of optical fibers using transmitted wavelength and power information |
| US5641954A (en) * | 1993-09-09 | 1997-06-24 | The United States Of American As Represented By The Secretary Of The Air Force | Programmable delay line using laser diode taps |
| US5534994A (en) * | 1994-06-29 | 1996-07-09 | Corning Incorporated | Optical waveguide spectral attenuation using an OTDR |
| US5589933A (en) * | 1994-10-24 | 1996-12-31 | Photon Kinetics, Inc. | Optical fiber test instrument with mechanically positioned attenuator |
| DE19649594A1 (de) * | 1996-11-29 | 1998-06-04 | Deutsche Telekom Ag | Optisches Impulsreflektometer |
| US7187861B2 (en) | 2003-10-15 | 2007-03-06 | Exfo Electro-Optical Engineering Inc. | Method and apparatus for testing optical networks |
| WO2006096668A2 (en) * | 2005-03-07 | 2006-09-14 | Nettest North America, Inc. | Passive optical network loss test apparatus and method of use thereof |
| US10270554B2 (en) | 2015-09-22 | 2019-04-23 | Exfo Inc. | Optical power measurement in a passive optical network |
| US9831948B2 (en) | 2015-09-22 | 2017-11-28 | Exfo Inc. | Optical power measurement in a passive optical network |
| CN106153297B (zh) * | 2016-08-24 | 2018-12-04 | 杭州全盛机电科技有限公司 | 光纤滑环旋转插损值在线检测系统及其检测方法 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58106526A (ja) * | 1981-12-19 | 1983-06-24 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光分岐回路 |
-
1986
- 1986-04-24 JP JP61095726A patent/JPS62251633A/ja active Granted
-
1987
- 1987-04-24 US US07/042,408 patent/US4737027A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4737027A (en) | 1988-04-12 |
| JPS62251633A (ja) | 1987-11-02 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4474435A (en) | Polarization-insensitive optical switch and multiplexing apparatus | |
| US4474434A (en) | Polarization-insensitive optical switch apparatus | |
| GB2361324A (en) | Combining laser light beams | |
| US4737027A (en) | Optical fiber measuring apparatus | |
| CA2265236A1 (en) | Polarizing beam splitter/combiner | |
| JP5659631B2 (ja) | 偏波制御装置 | |
| JPH11119275A (ja) | 波長変換器 | |
| JP2005266362A (ja) | 偏波無依存型光学機器 | |
| US6775005B2 (en) | Low-coherence reflectometer with polarization control | |
| US20050174919A1 (en) | Optical polarization controller | |
| JPH01140134A (ja) | 光スイッチ | |
| WO2022118790A1 (ja) | 光モジュール | |
| JP2003069141A (ja) | 波長検出装置および光伝送装置 | |
| US20030138182A1 (en) | Device for converting light having a polarisation pe into light having a predetermined polarisation pa | |
| JP2014196912A (ja) | 光周波数特性測定装置及び方法 | |
| JP2744295B2 (ja) | 偏波結合器 | |
| SU932219A1 (ru) | Двухлучевой интерферометр | |
| JP2647488B2 (ja) | 偏波カプラ | |
| CN108132549A (zh) | 一种偏振无关光纤声光滤光器及其装配方法 | |
| JPH07122597B2 (ja) | 発光スペクトル幅測定装置 | |
| JP6586186B1 (ja) | 波長掃引光源、それを用いたofdr装置及び測定方法 | |
| McCarthy et al. | Free-space optical interconnect system using polarization-rotating modulator arrays | |
| JPS62250402A (ja) | 無偏光発光装置 | |
| JPH03148641A (ja) | 偏波スクランブラ | |
| JPH02107988A (ja) | レーザードップラ速度計 |