JPH0262980A - パネル試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 Ｃ４既　要〕 複数種類の被試験パネルを短時間にしかも確実に試験す
るためのパネル試験装置に関し、被試験パネルの出力と
位相同期した擬似試験パネルの出力信号を用いて被試験
パネルの試験を短時間にしかも確実に行うことが出来る
パネル試験装置を提供することを目的とし、 複数種類の被試験パネルに対応した試験用データや信号
及び基準信号を発生するデータ発生部と、試験対象の被
試験パネルと同−杓容のデータを出力する擬似試験パネ
ルブロックと、被試験パネルから出力される出力データ
と、被試験パネルと対応する擬似試験パネルブロックか
ら出力される擬似出力データの内容を比較する比較部と
、被試験パネルと同一タイミングで擬似試験パネルブロ
ックからｌ１ｄ（Ｕ出力データを出力させるため、デー
タ発生部から出力される基準パルスを引き込み擬似試験
パネルブロックをリセットするためのリセットパルスを
送出する位相同期化部とを備え構成する。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、複数種類の被試験パネルを短時間にしかも確
実に試験するためのパネル試験装置に関する。

ディジタル伝送装置等に使用される電子回路は、集積回
路技術の発達に伴い集積回路化されることにより、小型
化されしかも低消費電力化される傾向にある。

かかる集積回路化された複数種類の電子回路により、所
定機能を構成するプリントパッケージ等のパネルを試験
するためには、その入力端子へ試験用信号を送り込み、
それにより出力される出力信号を観察してその良否を判
定することになるが、より簡易な方法でしかも確実に試
験することが要求される。

〔従来の技術〕

第７図は従来例を説明する図を示す。第７図に示す符号
１は各種の信号を発生するパルスジェネレーク（以下Ｐ
Ｃと称する）装置であり、符号２は複数種類の電子回路
にである決められた電気的機能を構成しているもので試
験対象となる被試験パネルであり、符号３は被試験パネ
ル２の出力側から出力される信号を解析するための装置
であるディジタルアナライザ３である。

尚、ＰＧ装置１やディジタルアナライザ３はそれぞれ別
個に市販されている測定機器であり、他目的にも一般に
使用されているものである。

被試験パネル２の電気的特性を試験するためには、第７
図に示す従来例ではＰＣ装置ｌから複数種類の信号を被
試験パネル２の入力端へ送出し、その時出力側に出力さ
れる信号をディジタルアナライザ３で解析し確認するこ
とにより、被試験パネル２の電気的特性が確認される。

尚、ディジタルアナライザ３の代わりに図示省略してい
る例えば複数の発光ダイオードを被試験パネル２の出力
側に接続して出力側の信号をモニタする方法等も実施さ
れる。

〔発明が解決しようとする課題〕

上述の方法で被試験パネル２の電気的特性を試験する場
合、被試験パネル２の電気的特性を確実に試験するため
にはＰＣ装置１がら入力する信号の周波数やパルスの幅
や速度等を複数回変更しながら送出する必要があり、か
なりの時間を要することになる。

又、入力した信号に対応して被試験パネル２がら出力さ
れる信号をディジタルアナライザ３で観察する場合も１
目でその良否が確認出来ないため、時間をかけて解析し
しかもこれを解析するためにはかなりの経験を要する等
の問題点がある。

本発明は、被試験パネルの出力と位相同期した擬似試験
パネルの出力信号を用いて被試験パネルの試験を短時間
にしかも確実に行うことが出来るパネル試験装置を提供
することを目的とする。

第１図に示す本発明の実施例のブロック図中の１１０は
複数種類の被試験パネル２に対応した試験用データや信
号及び基準信号を発生するデータ発生部であり、 １２０は試験対象の該被試験パネル２と同一内容のデー
タを出力する擬似試験パネルブロックであり、 １３０は被試験パネル２から出力される出力データと、
被試験パネル２と対応する擬似試験パネルブロック１２
０から出力される擬（以出力データの内容を比較する比
較部であり、 １４０は被試験パネル２と同一タイミングで擬似試験パ
ネルブロック１２０から擬似出力データを出力させるた
め、データ発生部１１０から出力される基準パルスを引
き込み擬似試験パネルブロック１２０をリセットするた
めのリセットパルスを送出する位相同期化部であり、 かかる手段を具備するパネル試験装置１０を構成するこ
とにより本課題を解決するための手段とする。

〔作　用〕

データ発生部１１０から出力される基準パルスを引き込
むことにより位相間・期化部１４０を、被試験パネル２
からデータが出力されるまでのタイミングを取った後リ
セットパルスを擬似試験パネルブロック１２０に出力し
てリセットして、比較部１３０に引き込む双方のデータ
の位相を同期化することで正確な被試験パネル２の試験
を短時間に簡易な方法で行うことが可能となる。

〔実施例〕

以下本発明の要旨を第２図〜第６図に示す実施例により
具体的に説明する。

第２図は本発明の実施例におけるタイムチャートを説明
する図、第３図は本発明におけるデータ発生部の実施例
を説明する図、第４図は本発明における擬似試験パネル
の実施例を説明する図、第５図は本発明における比較部
の実施例を説明する図、第６図は本発明における位相同
期化部の実施例を説明する図をそれぞれ示す。尚、全図
を通じて同一符号は同一対象物を示す。

本発明の実施例は第１図で説明したデータ発生部１１０
として、第３図に示すように一定パターンのパルスを発
生するパルスパターン発生回路１１１と、基準信号や各
種タイミング信号を発生する信号発生回路１１２と、パ
ルスパターン発生回路Ｉｌｌの出力を送出させるための
バッファ回路１１３からなる複数のＰＧユニット（以下
ＰＧＵと称する＞１１０　　（１）　〜１１０　（ｎ）
を備えて構成し、 擬似試験パネルブロック１２０として、第４図に示すよ
うに被試験パネル２に対応する電気的機能を有する擬似
試験バネルユニッ）１２０（１）〜（ｎ）からなり、 比較部１３０として、第５図に示すようにＰＧＵｌ　１
０　（１）　〜ｌ　１０　（ｎ）の出力と擬似試験パネ
ルユニッ）１２０（１）〜（ｎ）の出力をそれぞれ対応
して比較する比較ユニット１３０　（１）〜１３０（ｎ
）と、これら比較ユニット１３０　（１）〜１３０（ｎ
、）に対応して設置してあり、比較結果が不一致の場合
点灯するＮＧクランプ−致の場合点灯するＯＫランプを
有してなり、位相同期化部１４０として、第６図に示す
ようにデータ発生部１１０からの基準パルス（マスクク
ロック）をロードして計数するカウンタ１４１と、カウ
ンタ１４１の計数開始を指示するイネーブル信号（カウ
ンタイネーブル）をラッチするラッチ回路１４２と、カ
ウンタ１４１の計数値を設定された時点でデコードして
リセットパルス（Ｘ　ＲＳ　Ｔ）として出力するデコー
ダ回路１４３とから構成された例である。

尚、本実施例は第２図に示すようにマルヂフレーム形式
（その時の信号を第２図の＊ＭＦＰＳで表示する）であ
る。又、データ全生部ｌｌｏ等の内部には図示省略した
メインカウンタを有するものとする。

更に、データ発生部１１０．擬似試験パネルブロック１
２０．比較部１３０及びデコーダ回路１４３のデコード
ポイントの設定は図示省略した操作パルスの設定により
行われる。

即ち、被試験パネル２の電気的特性を試験するために図
示省略した操作パルスにてＰＧＵＩＩＯ（ｉ）が設定さ
れると、ＰＧＵＩ　１０　（ｉ）内パルスパターン発生
回路１１１から被試験パネル２の電気的特性を試験する
ためデータパターンを信号発生回路１１２からのタイミ
ング信号に同期してバッファ回路１１３を介して送出す
ると共に、信号発生回路１１２から基準パルス等のタイ
ミング信号を被試験パネル２へ送出する。

被試験パネル２はＰＧＵＩ　１０　（ｉ）からのデータ
パターンを受けて所定出力データをＰＧＵｌｌｏ（ｉ）
に対応する比較ユニット１３０　　（ｉ）へ送出する。

一方、第２図にそのタイムチャートを示す位相同期化部
１４０は、ＰＧＵＩ　１０　（ｉ）からの基準パルス（
マスタクロック）を引き込むとそれをラッチ回路１４２
にラッチすると共にカウンタ１４１のロード端子へ送出
する。

そして、ラッチ回路１４２からのラッチ信号によりカウ
ンタ１４１をカウンタイネーブルし、ＰＧＵＩＩＯ（ｉ
）からの基準クロック（マスタクロック）の計数を開始
する。

デコーダ回路１４３は設定されたカウンタ１４１の計数
値をリセットパルス（ＸＲ３Ｔ）にデコードして、これ
をＰＧＵＩ　１０　（ｉ）と対応する擬似試験パネルユ
ニッ）１２０（ｉ）に送出してリセットする。

尚、この時の擬似試験パネルユニット１２０（ｉ）は、
被試験パネル２と同一内容の電気的特性を有するもので
、従ってその出力データも同一内容のものとなり、この
出力データをＰＧＵＩＩＯ（ｉ）に対応する比較ユニッ
ト１３０（ｉ）へ送出する。

又、擬似試験パネルユニット１２０（ｉ）をリセッＩ−
するタイミングは、被試験パネル２ヘデータパターンを
入力して、出力データが出力される時点と同期したもの
となる。

即ち、リセットが擬似試験パネルユニット１２０（ｉ）
にかかった時点で被試験パネル２と擬似試験パネルユニ
ット１２０　（ｉ）の双方の図示省略したメインカウン
タ動作が一致し、位相同期状態となることにより上述の
同期化された出力データが得られる。

比較ユニット１３０　（ｉ）は被試験パネル２と擬似試
験パネルユニッ）１２０（ｉ）からの出力データ内容を
比較し、一致した場合は“ＯＫ”ランプを、不一致の場
合は“ＮＧ”ランプを点灯されせると共に、”ＮＧ″信
号をＰＧＵＩＩＯ（ｉ）及び擬似試験パネルユニット１
２０　（ｉ）に送出し、試験動作を停止させる。

〔発明の効果〕

以上のような本発明によれば、複数種類の被試験パネル
の電気的特性の正確な試験が短時間に容易に実行出来る
。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の詳細な説明するブロック図、第２図は
本発明の実施例におけるタイムチャートを説明する図、 第３図は本発明におけるデータ発生部の実施例を説明す
る回、 第４図は本発明における擬似試験パネルの実施例を説明
する図、 第５図は本発明における比較部の実施例を説明する図、 第６図は本発明における位相同期化部の実施例を説明す
る図、 第７図は従来例を説明する図、 をそれぞれ示す。 図において、 １はＰＧ装置、　　　　　２は被試験パネル、３はディ
ジタルアナライザ、 １０はパネル試験装置、　１１０はデータ発生部、１１
０（１）〜１１０（ｎ）はＰＧＵ。 １２０は擬似試験パネルブロック、 １２０（１）　〜１２０（ｎ）は擬似試験パネルユニ・
ノド、１３０は比較部、 １３０（１）〜１３０（ｎ）は比較ユニット、１４０は
位相同期化部、　１４１はカウンタ、はうソチ回路、 はデコーダ回路、 ｒオー９ 本発明の詳細な説明するブロック図 第１図 第３図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 複数の電子素子を装着して所定電子回路を構成する被試
   験パネル（２）の入力側へ試験用の入力データやクロッ
   ク信号を供給し、その出力側から出力されるデータを引
   き込み前記被試験パネル（２）の電気的特性を試験する
   パネル試験装置（１０）であって、 複数種類の被試験パネル（２）に対応した試験用データ
   や信号及び基準信号を発生するデータ発生部（１１０）
   と、 試験対象の該被試験パネル（２）と同一内容のデータを
   出力する擬似試験パネルブロック（１２０）と、 前記被試験パネル（２）から出力される出力データと、
   前記被試験パネル（２）と対応する前記擬似試験パネル
   ブロック（１２０）から出力される擬似出力データの内
   容を比較する比較部（１３０）と、 前記被試験パネル（２）と同一タイミングで前記擬似試
   験パネルブロック（１２０）から擬似出力データを出力
   させるため、前記データ発生部（１１０）から出力され
   る基準パルスを引き込み前記擬似試験パネルブロック（
   １２０）をリセットするためのリセットパルスを送出す
   る位相同期化部（１４０）とを備え、 前記被試験パネル（２）から出力する出力データを前記
   比較部（１３０）で比較するために引き込む時前記擬似
   試験パネルブロック（１２０）から出力される擬似出力
   データは、前記位相同期化部（１４０）にて前記擬似試
   験パネルブロック（１２０）をリセットして、前記被試
   験パネル（２）から出力される出力データと位相を同期
   化することを特徴とするパネル試験装置。