JPH026363Y2 - - Google Patents
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- JPH026363Y2 JPH026363Y2 JP2204683U JP2204683U JPH026363Y2 JP H026363 Y2 JPH026363 Y2 JP H026363Y2 JP 2204683 U JP2204683 U JP 2204683U JP 2204683 U JP2204683 U JP 2204683U JP H026363 Y2 JPH026363 Y2 JP H026363Y2
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- Japan
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- scratch
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- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 239000006249 magnetic particle Substances 0.000 claims description 9
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 239000006247 magnetic powder Substances 0.000 description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 229920001342 Bakelite® Polymers 0.000 description 1
- 239000004637 bakelite Substances 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、磁粉探傷において認められた磁粉に
よる傷模様を工業用テレビカメラ等で撮影して傷
を検出する装置に使用するテストパターンに関す
るものである。
よる傷模様を工業用テレビカメラ等で撮影して傷
を検出する装置に使用するテストパターンに関す
るものである。
かかる磁粉探傷においては磁粉探傷で検出した
傷磁粉模様をテレビカメラで撮影し画像処理を行
い傷の判定をしている。この際テレビカメラの性
能をチエツクする必要を要求される。すなわちチ
エツクの手段は実際の傷模様に似せた人工の疑似
模様を作りこれをテレビカメラで撮影し診断する
方法をとつている。この場合に実際の傷模様に使
用される蛍光磁粉にはメーカーの違い等により性
能の差があり、この差は色調、蛍光輝度、粒度、
その他があるが、この内テレビカメラの性能上に
関係するのは信号レベルとなる輝度が最も重要と
なる。従つてテストパターンも使用する磁粉の輝
度と同等のものにしなければ疑似傷模様としての
テストパターンの役目にならない。
傷磁粉模様をテレビカメラで撮影し画像処理を行
い傷の判定をしている。この際テレビカメラの性
能をチエツクする必要を要求される。すなわちチ
エツクの手段は実際の傷模様に似せた人工の疑似
模様を作りこれをテレビカメラで撮影し診断する
方法をとつている。この場合に実際の傷模様に使
用される蛍光磁粉にはメーカーの違い等により性
能の差があり、この差は色調、蛍光輝度、粒度、
その他があるが、この内テレビカメラの性能上に
関係するのは信号レベルとなる輝度が最も重要と
なる。従つてテストパターンも使用する磁粉の輝
度と同等のものにしなければ疑似傷模様としての
テストパターンの役目にならない。
本考案は、発光した傷模様の撮影に使用するテ
レビカメラ等の性能をチエツクするためのテスト
パターンを提供することを目的とするものであ
る。
レビカメラ等の性能をチエツクするためのテスト
パターンを提供することを目的とするものであ
る。
本考案の特徴は、紫外光線の照射によつて発光
する材料を用いて人工の疑似傷模様を作り、これ
に照射する紫外光線の量を調整しうるようにした
点にある。以下、図面により本考案を具体的に説
明する。
する材料を用いて人工の疑似傷模様を作り、これ
に照射する紫外光線の量を調整しうるようにした
点にある。以下、図面により本考案を具体的に説
明する。
第１図は、傷模様をテレビカメラで撮影する状
況を示す斜視図である。図において、１は被探傷
物、２はテレビカメラ、３は紫外光線、４は発光
した傷模様を示す。なお、図では磁粉液を供給す
る手段は図示を省略してある。
況を示す斜視図である。図において、１は被探傷
物、２はテレビカメラ、３は紫外光線、４は発光
した傷模様を示す。なお、図では磁粉液を供給す
る手段は図示を省略してある。
第２図は、本考案によるテストパターンの一例
を示す斜視図である。図において、１′は適当な
材料より成る基板、４′は基板１′の上に紫外光線
の照射により発光する材料で形成した疑似傷模
様、５は紫外光線の量を調整するための遮光片で
ある。疑似傷模様４′の長さ、太さは、実際の傷
模様に似せて各種のものを設定する。このような
テストパターンを紫外光線で照射してテレビカメ
ラで撮影するのであるが、磁粉の種類によつて発
光量が異なるので、磁粉の種類が変わつても常に
最適のテストパターン画像が得られるようにする
必要がある。そのため、本例では、疑似傷模様
４′の両側に照射される紫外光線の光路を遮るこ
とにより光量を調節しうる遮光片５を設ける。図
では、簡単のため１対の遮光片５のみを示した
が、遮光片５は各疑似傷模様４′に対応して設け
るものとする。
を示す斜視図である。図において、１′は適当な
材料より成る基板、４′は基板１′の上に紫外光線
の照射により発光する材料で形成した疑似傷模
様、５は紫外光線の量を調整するための遮光片で
ある。疑似傷模様４′の長さ、太さは、実際の傷
模様に似せて各種のものを設定する。このような
テストパターンを紫外光線で照射してテレビカメ
ラで撮影するのであるが、磁粉の種類によつて発
光量が異なるので、磁粉の種類が変わつても常に
最適のテストパターン画像が得られるようにする
必要がある。そのため、本例では、疑似傷模様
４′の両側に照射される紫外光線の光路を遮るこ
とにより光量を調節しうる遮光片５を設ける。図
では、簡単のため１対の遮光片５のみを示した
が、遮光片５は各疑似傷模様４′に対応して設け
るものとする。
第３図は、第２図の実施例の作用を示す断面図
である。図において、既に説明した部分には同じ
符号を付してある。遮光片５は、その位置によつ
て疑似傷模様４′に照射する光量を変えることが
できる。よつて、図の矢印で示すように、遮光片
５の位置を調節し、最適のテストパターン画像が
得られる位置で遮光片５を固定する。遮光片５の
位置調整及び固定には、種々の方法が考えられる
がどんな方法を用いてもよい。
である。図において、既に説明した部分には同じ
符号を付してある。遮光片５は、その位置によつ
て疑似傷模様４′に照射する光量を変えることが
できる。よつて、図の矢印で示すように、遮光片
５の位置を調節し、最適のテストパターン画像が
得られる位置で遮光片５を固定する。遮光片５の
位置調整及び固定には、種々の方法が考えられる
がどんな方法を用いてもよい。
なお蛍光磁粉には通常メーカーによつて蛍光輝
度相対値が表示されている。そこで上述のテスト
パターンの入光量を調節する遮光片５に蛍光輝度
相対値に対応する目盛を付けこれを調節する事で
磁粉の蛍光輝度と同等に発光する様較正する事も
出来る。
度相対値が表示されている。そこで上述のテスト
パターンの入光量を調節する遮光片５に蛍光輝度
相対値に対応する目盛を付けこれを調節する事で
磁粉の蛍光輝度と同等に発光する様較正する事も
出来る。
また、本例では、疑似傷模様４′を固定して遮
光片５を動かすようにしたが、遮光物を固定して
おいて傷模様４′の方を動かすようにしてもよい。
第４図にその一例を示す。
光片５を動かすようにしたが、遮光物を固定して
おいて傷模様４′の方を動かすようにしてもよい。
第４図にその一例を示す。
第４図において、５′は基板１′の上に形成した
黒色ベークライト等の遮光層、６は疑似傷模様体
４″の位置を上下に動かすためのネジを示す。ネ
ジ６を廻すことにより、疑似傷模様体４″を昇降
させて照射される光量を調整することができる。
ネジ６は、１つの疑似傷模様体４″に対し１本な
いし複数本設けるものとする。
黒色ベークライト等の遮光層、６は疑似傷模様体
４″の位置を上下に動かすためのネジを示す。ネ
ジ６を廻すことにより、疑似傷模様体４″を昇降
させて照射される光量を調整することができる。
ネジ６は、１つの疑似傷模様体４″に対し１本な
いし複数本設けるものとする。
以上説明したとおり、本考案によれば、疑似傷
模様に照射される紫外光線の量を磁粉の種類に応
じて任意に調節することができ、磁粉の種類が変
わつても常に最適の輝度をもつテストパターン画
像を得ることができるので、本考案は、実際に傷
模様の撮影に使用するテレビカメラ等の性能をチ
エツクするための傷模様テストパターンとして好
適である。
模様に照射される紫外光線の量を磁粉の種類に応
じて任意に調節することができ、磁粉の種類が変
わつても常に最適の輝度をもつテストパターン画
像を得ることができるので、本考案は、実際に傷
模様の撮影に使用するテレビカメラ等の性能をチ
エツクするための傷模様テストパターンとして好
適である。
第１図はテレビカメラによる傷模様の撮影状況
を示す斜視図、第２図は本考案の一実施例を示す
斜視図、第３図は第２図のものの作用を示す断面
図、第４図は本考案の他の実施例を示す要部拡大
断面図である。 ３……紫外光線、４′，４″……疑似傷模様、
５，５′……遮光物体。
を示す斜視図、第２図は本考案の一実施例を示す
斜視図、第３図は第２図のものの作用を示す断面
図、第４図は本考案の他の実施例を示す要部拡大
断面図である。 ３……紫外光線、４′，４″……疑似傷模様、
５，５′……遮光物体。
Claims (1)
- 紫外光線の照射によつて発光する物体で形成し
た疑似傷模様と、この疑似傷模様の近傍に配置し
て上記疑似傷模様に照射する紫外光線の光量を減
少しうる遮光物体とからなり、この遮光物体によ
り上記疑似傷模様に照射する紫外光線の光量を調
整して、上記疑似傷模様の発光量を調整しうるよ
うにした磁粉探傷に用いるテストパターン。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2204683U JPS59128564U (ja) | 1983-02-17 | 1983-02-17 | 磁粉探傷に用いるテストパタ−ン |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2204683U JPS59128564U (ja) | 1983-02-17 | 1983-02-17 | 磁粉探傷に用いるテストパタ−ン |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59128564U JPS59128564U (ja) | 1984-08-29 |
| JPH026363Y2 true JPH026363Y2 (ja) | 1990-02-15 |
Family
ID=30153161
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2204683U Granted JPS59128564U (ja) | 1983-02-17 | 1983-02-17 | 磁粉探傷に用いるテストパタ−ン |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59128564U (ja) |
-
1983
- 1983-02-17 JP JP2204683U patent/JPS59128564U/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS59128564U (ja) | 1984-08-29 |
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