JPH0264922A - 自動焦点調整装置 - Google Patents
自動焦点調整装置Info
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- JPH0264922A JPH0264922A JP63216640A JP21664088A JPH0264922A JP H0264922 A JPH0264922 A JP H0264922A JP 63216640 A JP63216640 A JP 63216640A JP 21664088 A JP21664088 A JP 21664088A JP H0264922 A JPH0264922 A JP H0264922A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ビデオディスク等のように情報記録媒体上に
記録された情報を光学的に読み取る光学的再生装置、あ
るいは情報記録媒体上に情報を光学的に記録、再生およ
び消去しようとする装置であって、特に情報記録媒体よ
りの反射光を利用して各種サーボをかけるためのサーボ
信号および再生信号を得るだめの光学系に特徴を有する
光学的記録再生装置に用いられる自動焦点調整装置に関
するものである。
記録された情報を光学的に読み取る光学的再生装置、あ
るいは情報記録媒体上に情報を光学的に記録、再生およ
び消去しようとする装置であって、特に情報記録媒体よ
りの反射光を利用して各種サーボをかけるためのサーボ
信号および再生信号を得るだめの光学系に特徴を有する
光学的記録再生装置に用いられる自動焦点調整装置に関
するものである。
従来の技術
一般に、ビデオディスクや光学的記録再生装置において
は、情報を高密度に記録、再生するために、ディスク上
のトラックは、例えばその幅が０．６μｍ、そのピッチ
が１．６μｍと微細なスパイラルあるいは同心円の形状
となっている。前記ディスクにはφ１μｍ以下に絞り込
まれた微小スポット光が照射され、その反射光からディ
スク上の情報が読み出されている。
は、情報を高密度に記録、再生するために、ディスク上
のトラックは、例えばその幅が０．６μｍ、そのピッチ
が１．６μｍと微細なスパイラルあるいは同心円の形状
となっている。前記ディスクにはφ１μｍ以下に絞り込
まれた微小スポット光が照射され、その反射光からディ
スク上の情報が読み出されている。
かかる装置においては、少くとも２つのサーボ技術が必
要である。１つはディスクの回転に伴い回転方向と垂直
な方向にディスクが面ブレをおこすが、前記面ブレに対
し前記φ１μｍ以下に絞られた微小スポット光が常にデ
ィスク上に照射できるように光学系を追従させるサーボ
で、このサーボはフォーカスサーボと呼ばれている。他
方はディスクの回転に伴い前記トラックが偏心等により
ディスクの半径方向に移動するが、これに対し常に前記
微小スポット光が前記トラック上を照射するように光学
系を追従させるサーボで、このサーボはトラッキングサ
ーボと呼ばれている。
要である。１つはディスクの回転に伴い回転方向と垂直
な方向にディスクが面ブレをおこすが、前記面ブレに対
し前記φ１μｍ以下に絞られた微小スポット光が常にデ
ィスク上に照射できるように光学系を追従させるサーボ
で、このサーボはフォーカスサーボと呼ばれている。他
方はディスクの回転に伴い前記トラックが偏心等により
ディスクの半径方向に移動するが、これに対し常に前記
微小スポット光が前記トラック上を照射するように光学
系を追従させるサーボで、このサーボはトラッキングサ
ーボと呼ばれている。
前記７オーカスおよびトラッキングサーボを行うための
サーボ信号（誤差信号）はディスクの反射光より得てお
り、具体的な光学系としては例えば第３図、第４図、第
６図、第７図に示すような光学系が提案されている。
サーボ信号（誤差信号）はディスクの反射光より得てお
り、具体的な光学系としては例えば第３図、第４図、第
６図、第７図に示すような光学系が提案されている。
第６図（ＩＬ）はその光学系の正面図、第６図（ｂ）は
同側面図を示す。第６図において、ディスク７よりの反
射光は凸レンズ８により結像される。前記結像する光路
中に分割プリズム１２を傾けて置くと、前記分割プリズ
ムの上面’１２１Ｌより得られる第１の反射光と、下面
１２ｂより得られる第２の反射光は分離して各々光検出
器１３に導かれる。ここで前記分割プリズムは例えば１
枚のガラス板からなシ、上面１２１Ｌの光反射率をＲａ
、光透過率をＴａまた下面１２ｂの光反射率をＲｂとし
た時、以下の第（１）式に示す様な関係になるように各
光反射率、光透過率は選べば前記第１の反射光の強さと
、前記第２の反射光の強さは等しくなる。
同側面図を示す。第６図において、ディスク７よりの反
射光は凸レンズ８により結像される。前記結像する光路
中に分割プリズム１２を傾けて置くと、前記分割プリズ
ムの上面’１２１Ｌより得られる第１の反射光と、下面
１２ｂより得られる第２の反射光は分離して各々光検出
器１３に導かれる。ここで前記分割プリズムは例えば１
枚のガラス板からなシ、上面１２１Ｌの光反射率をＲａ
、光透過率をＴａまた下面１２ｂの光反射率をＲｂとし
た時、以下の第（１）式に示す様な関係になるように各
光反射率、光透過率は選べば前記第１の反射光の強さと
、前記第２の反射光の強さは等しくなる。
Ｒａ ＝ Ｔａ２ｘ Ｒｂ ・・・・・・・・曲・
・・（１）前記第１．第２の反射光の結像位置は、第６
図に示すように、前記分割プリズムで生ずる光路差の分
だけｐ、 、 ｐ２とＸ方向にズした位置となる。
・・（１）前記第１．第２の反射光の結像位置は、第６
図に示すように、前記分割プリズムで生ずる光路差の分
だけｐ、 、 ｐ２とＸ方向にズした位置となる。
前記両結像位置Ｐ１とＰ２のほぼ中央の位置に光入射方
向から見れば６分割された検出面１３＆〜１３ｆを有す
る光検出器１３が置かれており、分割された光検出器１
３の検出面１３＋５，１３ｂより幅が広く、かつお互い
の直径がほぼ等しい光スボッ）１４．１５が光検出器１
３に照射されている。６分割された光検出器１３の検出
面１３１Ｌ〜１３ｆの出力電流をＩａ−Ｉｆとすると、
フォーカス誤差信号ＰＫは第（２）式より、 ＦＸ＝ （Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉ ｆ ） −（Ｉａ＋Ｉｃ＋
４ｅ ）−・−・−＠）あるいは、 ＦＩＣ＝Ｉｂ−Ｉｓ となる。
向から見れば６分割された検出面１３＆〜１３ｆを有す
る光検出器１３が置かれており、分割された光検出器１
３の検出面１３＋５，１３ｂより幅が広く、かつお互い
の直径がほぼ等しい光スボッ）１４．１５が光検出器１
３に照射されている。６分割された光検出器１３の検出
面１３１Ｌ〜１３ｆの出力電流をＩａ−Ｉｆとすると、
フォーカス誤差信号ＰＫは第（２）式より、 ＦＸ＝ （Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉ ｆ ） −（Ｉａ＋Ｉｃ＋
４ｅ ）−・−・−＠）あるいは、 ＦＩＣ＝Ｉｂ−Ｉｓ となる。
前記誤差信号が得られる原理については以下に述べる。
第７図はフォーカス誤差信号を得る方法についてのみ説
明するために第７図を簡略化した図であり、第６図と同
様の構成要素については同一の信号を付している。第７
図において、第７図（ＩＬ）は絞りレンズ６とディスク
７面が所望の距離より近づきすぎた場合、第７図（ｂ）
は丁度所望の距離、すなわちディスク面上に丁度入射光
がフォーカスされた場合（以下これをフォーカス位置に
あると呼ぶ）、第７図（（１）は前記所望の距離よシ長
くなった場合をそれぞれ示している。
明するために第７図を簡略化した図であり、第６図と同
様の構成要素については同一の信号を付している。第７
図において、第７図（ＩＬ）は絞りレンズ６とディスク
７面が所望の距離より近づきすぎた場合、第７図（ｂ）
は丁度所望の距離、すなわちディスク面上に丁度入射光
がフォーカスされた場合（以下これをフォーカス位置に
あると呼ぶ）、第７図（（１）は前記所望の距離よシ長
くなった場合をそれぞれ示している。
まず、第７図（ＩＬ）に示したように、絞りレンズ６と
ディスク７とが前記所望の距離よシ近づきすぎると、凸
レンズ８により絞られる反射光の結像位置ｐ１． ｐ２
は光検出器１３より遠くなる。従ってこの場合、光検出
器上の前記第１の反射光の光スポット１４の直径より前
記第２の反射光の光スポット１６の直径が小さくなり、
光検出器１３の検出面１３＆、１３０，１３６に受光さ
れる光量より光検出器１３の検出面１３ｂ、１３１１，
１３ｆに受光される光量の方が多くなる。逆に第７図（
（１）に示すように絞りレンズ６とディスク７とが前記
所望の距離より遠ざかると、前記光スポット１４の直径
より前記光スポット１６の直径の方が太きくなり、検出
面１３ｂ 、１３ｄ 、１３ｆに受光される光量より検
出面１３１Ｌ、１３０．１３１５に受光される光量の方
が多くなる。
ディスク７とが前記所望の距離よシ近づきすぎると、凸
レンズ８により絞られる反射光の結像位置ｐ１． ｐ２
は光検出器１３より遠くなる。従ってこの場合、光検出
器上の前記第１の反射光の光スポット１４の直径より前
記第２の反射光の光スポット１６の直径が小さくなり、
光検出器１３の検出面１３＆、１３０，１３６に受光さ
れる光量より光検出器１３の検出面１３ｂ、１３１１，
１３ｆに受光される光量の方が多くなる。逆に第７図（
（１）に示すように絞りレンズ６とディスク７とが前記
所望の距離より遠ざかると、前記光スポット１４の直径
より前記光スポット１６の直径の方が太きくなり、検出
面１３ｂ 、１３ｄ 、１３ｆに受光される光量より検
出面１３１Ｌ、１３０．１３１５に受光される光量の方
が多くなる。
また第７図（ｂ）に示すようにフォーカス位置にある場
合、前記両光スポット１４と１６の径がほぼ等しくなり
、検出面１３ｂ、１３（１，１３ｆに受光される光量と
、検出面１３！Ｌ、１３０，１３ｅ！１に受光される光
量とは等しくなる。従って第（２）式に示す各光検出器
の出力電流の差をとればフォーカス誤差信号ＦＩＣが得
られ、 ＩＮ＋ＩＯ＋ｌ１５＝Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉｆとなるようにサ
ーボをかければフォーカスサーボが実現できる。
合、前記両光スポット１４と１６の径がほぼ等しくなり
、検出面１３ｂ、１３（１，１３ｆに受光される光量と
、検出面１３！Ｌ、１３０，１３ｅ！１に受光される光
量とは等しくなる。従って第（２）式に示す各光検出器
の出力電流の差をとればフォーカス誤差信号ＦＩＣが得
られ、 ＩＮ＋ＩＯ＋ｌ１５＝Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉｆとなるようにサ
ーボをかければフォーカスサーボが実現できる。
第６図の構成において、例えば温度変動、ショック等の
環境条件の変化により、 （１）光検出器１３がＹ、Ｚ方向に変位する。
環境条件の変化により、 （１）光検出器１３がＹ、Ｚ方向に変位する。
＠）凸レンズ８へ入射する平行光が一点鎖線にて示す様
に角度θだけずれる。
に角度θだけずれる。
（３光源１（第６図）がＹ、Ｚ方向に変位する。
等の光学部品の変位、光軸移動が生じると、前記両光ス
ボッ）１４．１５はＹ、Ｚ方向に移動するが、両光スポ
ット間の距離２が前記変位より十分大きければ、第（２
）式に示す ＦＫ＝（Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉｆ）−（Ｉａ＋Ｉｃ＋Ｉｅ）に
はお互いキャンセルされて何等の影響はでない。
ボッ）１４．１５はＹ、Ｚ方向に移動するが、両光スポ
ット間の距離２が前記変位より十分大きければ、第（２
）式に示す ＦＫ＝（Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉｆ）−（Ｉａ＋Ｉｃ＋Ｉｅ）に
はお互いキャンセルされて何等の影響はでない。
前記キャンセルの１例を両光スボッ）１４．１５がＺ方
向にずれた場合で説明する。例えば両光スポットが＋２
方向にズレると各検出面１３ａ。
向にずれた場合で説明する。例えば両光スポットが＋２
方向にズレると各検出面１３ａ。
１３（１に受光される光量は増え、検出面１３ｂ。
１３θおよび１３０，１３ｆに受光される光量は減る。
両光スポットの形状は全く同じなのでＦＫ＝（（Ｉｂ−
α）＋（Ｉｄ＋β）＋（Ｉｆ’−γ））−［（Ｉｓ−α
）＋（ｘａ＋β）＋（Ｉｏ−７））＝（Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉ
ｆ） −（Ｉｅ＋Ｉａ＋Ｉｃ）となりＦＫ変動（７オ一
カス位置の変化）は生じない。
α）＋（Ｉｄ＋β）＋（Ｉｆ’−γ））−［（Ｉｓ−α
）＋（ｘａ＋β）＋（Ｉｏ−７））＝（Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉ
ｆ） −（Ｉｅ＋Ｉａ＋Ｉｃ）となりＦＫ変動（７オ一
カス位置の変化）は生じない。
１Ｅ＝Ｉｂ−Ｉｅ の時も同じ原理となる。
また各光検出器の出力信号Ｉａ〜Ｘｒに含まれるノイズ
信号Ｈａ−Ｎｆ’において、光軸中心に近い光を受は出
力するＮｂ、Ｎｅ と、光軸中心より離れた光を受は出
力するＮＩＬ、Ｎ（１およびＮｃ。
信号Ｈａ−Ｎｆ’において、光軸中心に近い光を受は出
力するＮｂ、Ｎｅ と、光軸中心より離れた光を受は出
力するＮＩＬ、Ｎ（１およびＮｃ。
Ｎｆ’とは前述の様に周波数特性は異なる。しかじ両光
スボッ）１４．１５は強度的に２分しただけで形状は全
く等しいため、Ｎａ＝Ｎｄ 、Ｎｂ＝Ｎｅ。
スボッ）１４．１５は強度的に２分しただけで形状は全
く等しいため、Ｎａ＝Ｎｄ 、Ｎｂ＝Ｎｅ。
Ｎｃ＝Ｎｆ’となり、フォーカス誤差信号ＦＫにはノイ
ズがお互いにキャンセルされ前記ＦＩＣ信号のＳ／Ｎは
非常に良くなる。
ズがお互いにキャンセルされ前記ＦＩＣ信号のＳ／Ｎは
非常に良くなる。
またトラッキング誤差信号ＴＫＯ検出はτに＝（１ａａ
−ｚ ３ｒ）−（１３０＋１３（１）となる。これは光
ヘッドの対物レンズｅ＆から出射した光ビームはディス
クのトラックに照射される。この時発生する１次光が光
検出器上で第８図に示す方向にあられれる。
−ｚ ３ｒ）−（１３０＋１３（１）となる。これは光
ヘッドの対物レンズｅ＆から出射した光ビームはディス
クのトラックに照射される。この時発生する１次光が光
検出器上で第８図に示す方向にあられれる。
したがってトラッキング誤差信号ＴＩを検出することが
できる。
できる。
発明が解決しようとする課題
しかしながら上記のような構成では、フォーカスズレを
発生する場合がある。つまり光検出器上の２つのビーム
のセンタが、光検出器のセンタから平行にずれた時、つ
まり光検出器の調整を追込むことができなくなった時対
物レンズからの出射ビームがディスクトラックにオント
ラックしていれば、ジャストフォーカスであるが、たと
えば検索をするとき、ディスクのトラックを横断するこ
とになる。その時ディスクのトラックを横断する周期に
周期して１次光の明暗が発生し、これが原因でフォーカ
スズレが発生し、ひどい時には目的番地を検索できなく
なる。
発生する場合がある。つまり光検出器上の２つのビーム
のセンタが、光検出器のセンタから平行にずれた時、つ
まり光検出器の調整を追込むことができなくなった時対
物レンズからの出射ビームがディスクトラックにオント
ラックしていれば、ジャストフォーカスであるが、たと
えば検索をするとき、ディスクのトラックを横断するこ
とになる。その時ディスクのトラックを横断する周期に
周期して１次光の明暗が発生し、これが原因でフォーカ
スズレが発生し、ひどい時には目的番地を検索できなく
なる。
従来この問題をなくすため光検出器の調整の微調整を行
ない、そのため調整にかなりの時間と労力を要していた
。
ない、そのため調整にかなりの時間と労力を要していた
。
課題を解決するための手段
上記問題点を解決するために本発明の光ヘッドは、情報
記録媒体のトラック方向に平行に生ずる１次光を有する
反射ビームを第１の反射面で透過させて第１ビームとし
、この第１の反射面で反射されたビームを第２の反射面
で透過させて第２ビームとし、この第２の反射面で反射
されたビームを第３の反射面で情報記録媒体のトラック
方向に対して９ｏ１げて情報記録媒体側に反射する第３
ビームとするように分割する分割プリズムを備え、この
第２ビームと第３ビームの光路に沿って両ビームの結像
位置の中間に配置した光検出器でフォーカス誤差信号を
検出し、第１ビームを受光する光検出器でトラッキング
誤差信号を検出するようにしたことを特徴とするもので
ある。
記録媒体のトラック方向に平行に生ずる１次光を有する
反射ビームを第１の反射面で透過させて第１ビームとし
、この第１の反射面で反射されたビームを第２の反射面
で透過させて第２ビームとし、この第２の反射面で反射
されたビームを第３の反射面で情報記録媒体のトラック
方向に対して９ｏ１げて情報記録媒体側に反射する第３
ビームとするように分割する分割プリズムを備え、この
第２ビームと第３ビームの光路に沿って両ビームの結像
位置の中間に配置した光検出器でフォーカス誤差信号を
検出し、第１ビームを受光する光検出器でトラッキング
誤差信号を検出するようにしたことを特徴とするもので
ある。
作用
本発明は、上記した構成により、フォーカス誤差信号検
出時、トラッキング誤差信号である１次光の強度に関係
なく７オーカス用光検出器を調整できることができ、調
整工数を短縮できるとともに、ディスク上の目的番地を
検索する時も、安定した動作で引込むことができる。
出時、トラッキング誤差信号である１次光の強度に関係
なく７オーカス用光検出器を調整できることができ、調
整工数を短縮できるとともに、ディスク上の目的番地を
検索する時も、安定した動作で引込むことができる。
実施例
以下、本発明の一実施例について図面を参照しながら説
明する。
明する。
第１図は本発明の一実施例における光学的記録再生装置
の光学系の要部正面図、要部平面図および要部側面図、
第２図は分割プリズムを示すものである。
の光学系の要部正面図、要部平面図および要部側面図、
第２図は分割プリズムを示すものである。
尚、各図において、第１図、第２図と同一部には同番号
を付し説明を省略する。
を付し説明を省略する。
第２図において、分割プリズム１９の反射面には、それ
ぞれ別のコーティングをした。つまシ反射面１９１Ｌの
反射率Ｒａを約７０％、反射面１９ｂの反射率Ｒｂを約
５０％、反射面１９００反射率を約１００％に設定した
。この分割プリズムを用いた本実施例の光ヘッドについ
て説明する。
ぞれ別のコーティングをした。つまシ反射面１９１Ｌの
反射率Ｒａを約７０％、反射面１９ｂの反射率Ｒｂを約
５０％、反射面１９００反射率を約１００％に設定した
。この分割プリズムを用いた本実施例の光ヘッドについ
て説明する。
第１図は本実施例の光学系の概略正面図、平面図、側面
図を示すものである。第１図において、半導体レーザ１
を出た光はコリメートレンズ２、ビーム整形用プリズム
１６を介して偏光ビームスプリッタ１７に入射される。
図を示すものである。第１図において、半導体レーザ１
を出た光はコリメートレンズ２、ビーム整形用プリズム
１６を介して偏光ビームスプリッタ１７に入射される。
偏光ビームスプリッタ１７に入射されたレーザ光は反射
されλ／４板５、対物レンズ６１Ｌを介しディスク７に
照射される。ディスク７からの反射光は同経路を通り全
反射プリズム４で全反射され、単レンズ８を介して、分
割プリズム１９に入射される。分割プリズムは入射光量
ＰＧをトラッキング誤差信号検出用のビームＰ１ と、
フォーカス誤差信号検出用のビームＰ２．Ｐ３に分割す
る。７オ一カス誤差信号検出用のビームｐ２．ｐ３は下
記に示す方向で検出する。つまり、ディスクのトラック
方向に平行に生ずる一次光を有する反射ビームを第１の
反射面１９＆で透過させて第１ビームとし、第１の反射
面１９１Ｌで反射されたビームを第２の反射面１９ｂで
透過させて第２ビームとし、第２の反射面１９ｂで反射
されたビームを第３の反射面１９０でディスクの溝方向
に対して９ｏ曲げてディスク側に反射する第３ビームと
するように分割し、この第２ビームと第３ビームに対し
て、両ビームの結像位置の中間に光検出器１３を設定す
ることによシフオーカス誤差信号を検出する。
されλ／４板５、対物レンズ６１Ｌを介しディスク７に
照射される。ディスク７からの反射光は同経路を通り全
反射プリズム４で全反射され、単レンズ８を介して、分
割プリズム１９に入射される。分割プリズムは入射光量
ＰＧをトラッキング誤差信号検出用のビームＰ１ と、
フォーカス誤差信号検出用のビームＰ２．Ｐ３に分割す
る。７オ一カス誤差信号検出用のビームｐ２．ｐ３は下
記に示す方向で検出する。つまり、ディスクのトラック
方向に平行に生ずる一次光を有する反射ビームを第１の
反射面１９＆で透過させて第１ビームとし、第１の反射
面１９１Ｌで反射されたビームを第２の反射面１９ｂで
透過させて第２ビームとし、第２の反射面１９ｂで反射
されたビームを第３の反射面１９０でディスクの溝方向
に対して９ｏ曲げてディスク側に反射する第３ビームと
するように分割し、この第２ビームと第３ビームに対し
て、両ビームの結像位置の中間に光検出器１３を設定す
ることによシフオーカス誤差信号を検出する。
検出方法は、
ＦＩＣ＝（Ｉｂ＋Ｉｄ＋Ｉｆ）−（Ｉａ＋Ｉａ＋Ｉｅ）
あるいは、 Ｆ］Ｅ＝Ｚｂ−Ｉｓ となる。
あるいは、 Ｆ］Ｅ＝Ｚｂ−Ｉｓ となる。
このとき、第２ビーム、第３ビームのセンタが、光検出
器１３のセンタからずれた時でも、溝槽断信号である１
次回折光の方向が従来方式に対して９０違うため、１次
回折光の影響をうけることなく、フォーカス誤差信号を
検出することができる。
器１３のセンタからずれた時でも、溝槽断信号である１
次回折光の方向が従来方式に対して９０違うため、１次
回折光の影響をうけることなく、フォーカス誤差信号を
検出することができる。
またトラッキング誤差信号ＴＩｃは光検出器２゜の受光
素子２０ｇ 、２０ｈから得られる電流Ｉｇ。
素子２０ｇ 、２０ｈから得られる電流Ｉｇ。
Ｉｈより
Ｔｉｃ：Ｉｇ−工り
となる。このようにトラッキング誤差信号を別の光検出
器２ｏで検出するようにしたので、調整を飛躍的に向上
させることができる。
器２ｏで検出するようにしたので、調整を飛躍的に向上
させることができる。
以上のように本実施例によれば、光検出器の調整を高精
度に完成させることができ、かつ量産性に富んだ光学的
記録再生装置の光ヘッドを得ることができる。
度に完成させることができ、かつ量産性に富んだ光学的
記録再生装置の光ヘッドを得ることができる。
発明の効果
以上のように、本発明は、フォーカス誤差検出時の１次
回折光の向きを従来方式に対して９ｏ曲げることと、Ｆ
Ｋ信号検出とτ！信号検出を分離することにより、光学
的記録再生装置の光学系調整を簡便化することができ、
かつディスク上の目的番地検索を安定させることができ
、その実用的効果は大なるものがある。
回折光の向きを従来方式に対して９ｏ曲げることと、Ｆ
Ｋ信号検出とτ！信号検出を分離することにより、光学
的記録再生装置の光学系調整を簡便化することができ、
かつディスク上の目的番地検索を安定させることができ
、その実用的効果は大なるものがある。
第１図は本発明の一実施例における光学的記録再生装置
の要部正面図、開平面図、同側面図、第２図は同装置の
分割プリズムの概略図、第３図は従来例の要部正面図、
同側面図、第４図は同概略側面図、第５図はその検出面
の正面図、第６図は従来例の正面図、同側面図、第７図
はその概略側面図、第８図はその概略図である。 １・・・・・・半導体レーザ、２・・・・・・コリメー
トレンズ、４・・・・・・全反射プリズム、５・・・・
・・λ／４板、６・・・・・・対物レンズ、７・・・・
・・ディスク、８・・・・・・半凸レンズ１２・・・・
・・分割プリズム、１３・・・・・・光検出器、１６・
・・・・・ビーム整形用プリズム、１了・・・・・・偏
光ビームスプリッタ、１９・・・・・・分割プリズム、
２０・・・・・・光検出器。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝 ほか１名ｌ−
一手譚イネシーヂ ８−一車凸しンス′。 ／Ｙｌ） 第 ノ −一手貞イ本＆ −ザ。 ど−一−コリスートνンズ ４−＝ Ａ、女射アソズム ６−７’Ａ ６ａ−苅勿シンス゛ 第 図 １７−−ｊＡ尤ご−ムスプソーノタ ｌδ−分割プリス゛ム １９ｃ＜ 第 図 第 図
の要部正面図、開平面図、同側面図、第２図は同装置の
分割プリズムの概略図、第３図は従来例の要部正面図、
同側面図、第４図は同概略側面図、第５図はその検出面
の正面図、第６図は従来例の正面図、同側面図、第７図
はその概略側面図、第８図はその概略図である。 １・・・・・・半導体レーザ、２・・・・・・コリメー
トレンズ、４・・・・・・全反射プリズム、５・・・・
・・λ／４板、６・・・・・・対物レンズ、７・・・・
・・ディスク、８・・・・・・半凸レンズ１２・・・・
・・分割プリズム、１３・・・・・・光検出器、１６・
・・・・・ビーム整形用プリズム、１了・・・・・・偏
光ビームスプリッタ、１９・・・・・・分割プリズム、
２０・・・・・・光検出器。 代理人の氏名 弁理士 粟 野 重 孝 ほか１名ｌ−
一手譚イネシーヂ ８−一車凸しンス′。 ／Ｙｌ） 第 ノ −一手貞イ本＆ −ザ。 ど−一−コリスートνンズ ４−＝ Ａ、女射アソズム ６−７’Ａ ６ａ−苅勿シンス゛ 第 図 １７−−ｊＡ尤ご−ムスプソーノタ ｌδ−分割プリス゛ム １９ｃ＜ 第 図 第 図
Claims (2)
- （１）光源と、前記光源から発光された光ビームを情報
記録媒体に集束する対物レンズと、前記情報記録媒体の
トラックによって生ずる、次回折光を有する反射ビーム
を第１のビーム分割面で第１ビームとして透過させ、前
記ビーム分割面で反射されたビームを第２のビーム分割
面で第２ビームとして透過させ、第２の前記ビーム分割
面で反射されたビームを第３の全反射ミラーで前記情報
記録媒体のトラック方向に対して直角曲げて第３ビーム
として前記情報記録媒体側に反射させるように分割する
分割プリズムと、前記第２ビームと第３ビームの光路に
沿って両ビームの結像位置の中間に配置された光検出器
と、第１ビームを受光する光検出器とを備えた自動焦点
調整装置。 - （２）請求項１において、分割プリズムは、反射光を２
分割して一方を第１ビームとして透過させる第１のビー
ムスプリッタと、その第１のビームスプリッタで反射し
たビームを２分割して一方を第２ビームとして透過させ
る第２のビームスプリッタと、この第２のビームスプリ
ッタで反射したビームを全反射させて前記第２ビームと
同方向に反射させ第３のビームを得る反射プリズムとを
一体にしたものである自動焦点調整装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63216640A JPH077518B2 (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 自動焦点調整装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63216640A JPH077518B2 (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 自動焦点調整装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0264922A true JPH0264922A (ja) | 1990-03-05 |
| JPH077518B2 JPH077518B2 (ja) | 1995-01-30 |
Family
ID=16691609
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63216640A Expired - Lifetime JPH077518B2 (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 自動焦点調整装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH077518B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108375453A (zh) * | 2018-04-27 | 2018-08-07 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种x射线聚焦镜垂直装调系统及方法 |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60169721U (ja) * | 1985-03-22 | 1985-11-11 | 三菱電機株式会社 | 光学式情報再生装置 |
| JPS61224144A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-04 | Hitachi Ltd | 焦点誤差検出装置 |
| JPS61258339A (ja) * | 1985-05-13 | 1986-11-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的記録再生装置 |
-
1988
- 1988-08-31 JP JP63216640A patent/JPH077518B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60169721U (ja) * | 1985-03-22 | 1985-11-11 | 三菱電機株式会社 | 光学式情報再生装置 |
| JPS61224144A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-04 | Hitachi Ltd | 焦点誤差検出装置 |
| JPS61258339A (ja) * | 1985-05-13 | 1986-11-15 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光学的記録再生装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108375453A (zh) * | 2018-04-27 | 2018-08-07 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种x射线聚焦镜垂直装调系统及方法 |
| CN108375453B (zh) * | 2018-04-27 | 2024-04-12 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种x射线聚焦镜垂直装调系统及方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH077518B2 (ja) | 1995-01-30 |
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