JPH0265520A - 信号分析装置 - Google Patents
信号分析装置Info
- Publication number
- JPH0265520A JPH0265520A JP21763088A JP21763088A JPH0265520A JP H0265520 A JPH0265520 A JP H0265520A JP 21763088 A JP21763088 A JP 21763088A JP 21763088 A JP21763088 A JP 21763088A JP H0265520 A JPH0265520 A JP H0265520A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- chirp signal
- chirp
- frequency
- value
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、電波逆探知装置等に使用される信号分析装
置に関するものである。
置に関するものである。
第３図は従来の信号分析装置を示す０図において、１は
ディジタル高周波信号メモリ （以下ＤＲＦＭと称す）
、３ａ、３ｂはＦＦ７回路、５ａ。
ディジタル高周波信号メモリ （以下ＤＲＦＭと称す）
、３ａ、３ｂはＦＦ７回路、５ａ。
６ｂはスペクトル最大値検出回路、５はチャープ信号判
定回路を示す。
定回路を示す。
次に動作について説明する。受信信号はディジタル化さ
れてＤＲＦＭＩに記録される。ＤＲＦＭｌの機能を第２
図に示す、ＤＲＦＭＩは受信信号を一定のサンプリング
間隔Δｔでサンプルし、その時点の電圧の正、負に応じ
て１．−１の値を記録するものである。ＤＲＦＭｌ内の
データは２個のＦＦＴ回路３ａ、３ｂにそれぞれ伝達さ
れる。
れてＤＲＦＭＩに記録される。ＤＲＦＭｌの機能を第２
図に示す、ＤＲＦＭＩは受信信号を一定のサンプリング
間隔Δｔでサンプルし、その時点の電圧の正、負に応じ
て１．−１の値を記録するものである。ＤＲＦＭｌ内の
データは２個のＦＦＴ回路３ａ、３ｂにそれぞれ伝達さ
れる。
２個０ＦＦＴ回路３ａ、３ｂの内１個はＤＲＦＭｌの前
半１／２のデータのＦＦＴを行なうためのものであり、
残りの１個は後半１／２のデータのＦＦＴ処理を行なう
ためのものである。各ＦＦＴ回路で処理されたデータは
２個のスペクトル最大値検出回路５ａ、５ｂに送られ、
各々の周波数が検出される。スペクトル最大値検出回路
６ａ、６ｂで求められた受信信号の前半及び後半の周波
数データはチャープ信号判定回路５に送られ、その周波
数差が規定値以上であればチャープ信号と判定され、そ
うでなければ通常信号と判定される。
半１／２のデータのＦＦＴを行なうためのものであり、
残りの１個は後半１／２のデータのＦＦＴ処理を行なう
ためのものである。各ＦＦＴ回路で処理されたデータは
２個のスペクトル最大値検出回路５ａ、５ｂに送られ、
各々の周波数が検出される。スペクトル最大値検出回路
６ａ、６ｂで求められた受信信号の前半及び後半の周波
数データはチャープ信号判定回路５に送られ、その周波
数差が規定値以上であればチャープ信号と判定され、そ
うでなければ通常信号と判定される。
チャープ信号と判定された場合、チャープ信号判定回路
５は２個の検出周波数差からチャープ信号の傾斜、即ち
単位時間当りの周波数変調量を算出する。
５は２個の検出周波数差からチャープ信号の傾斜、即ち
単位時間当りの周波数変調量を算出する。
従来の信号分析装置は以上のように構成されているので
以下のような問題点があった。
以下のような問題点があった。
■ ＦＦ７回路はチャープ信号を周波数分析するため、
算出された周波数がチャープ信号のどの周波数に対応す
るかがあいまいであり、算出されたチャープ信号傾斜デ
ータの誤差が大きい。
算出された周波数がチャープ信号のどの周波数に対応す
るかがあいまいであり、算出されたチャープ信号傾斜デ
ータの誤差が大きい。
■ ＦＦＴはＤＲＦＭ内のデータを２分割して分析を行
なうため、１回に行なうＦＦＴで扱うデータ数が全デー
タの１／２のため、周波数分析精度が低い。
なうため、１回に行なうＦＦＴで扱うデータ数が全デー
タの１／２のため、周波数分析精度が低い。
■ ＦＦ７回路が２個必要になるためハードウェアが大
規模になる。
規模になる。
この発明は上記のような従来のものの問題点を解消する
ためになされたもので、高精度にチャープ信号の検出９
分析を行える信号分析装置を得ることを目的としている
。
ためになされたもので、高精度にチャープ信号の検出９
分析を行える信号分析装置を得ることを目的としている
。
この発明に係る信号分析装置は、ＤＲＦＭ内のデータに
関し、規定時間Ｔ、たけ遅らせた自己相関データを算出
し、それをＦＦ７回路で周波数分析するか、あるいはＤ
ＲＦＭ内のデータをずらせて周波数分析しそれらのたた
み込み演算を行なうかしてチャープ信号か通常信号かを
判定し、更にチャープ信号の傾斜を算出するようにした
ものである。
関し、規定時間Ｔ、たけ遅らせた自己相関データを算出
し、それをＦＦ７回路で周波数分析するか、あるいはＤ
ＲＦＭ内のデータをずらせて周波数分析しそれらのたた
み込み演算を行なうかしてチャープ信号か通常信号かを
判定し、更にチャープ信号の傾斜を算出するようにした
ものである。
この発明における自己相関関数に対するＦＦＴ処理ある
いはＦＦＴ分析結果のたたみ込み処理は次のような意味
を持つ。
いはＦＦＴ分析結果のたたみ込み処理は次のような意味
を持つ。
■ 入力信号が通常信号の場合、自己相関関数の低周波
数成分は直流信号となる。
数成分は直流信号となる。
■ 入力信号がチャープ信号の場合、自己相関関数の低
周波数成分は周波数傾斜に比例した交流信号となる。
周波数成分は周波数傾斜に比例した交流信号となる。
従って、本発明においては自己相関関数に対するＦＦＴ
処理結果もしくはＦＦＴ分析処理に対するたたみ込み処
理結果の周波数を測定し、それが交流であればチャープ
信号と判定し、直流であれば通常信号と判定することに
より、両者の判定を容易にでき、しかも交流信号の周波
数を測定することでチャープ信号の傾きを算出するので
、傾きの算出が容易にできる。
処理結果もしくはＦＦＴ分析処理に対するたたみ込み処
理結果の周波数を測定し、それが交流であればチャープ
信号と判定し、直流であれば通常信号と判定することに
より、両者の判定を容易にでき、しかも交流信号の周波
数を測定することでチャープ信号の傾きを算出するので
、傾きの算出が容易にできる。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図は本発明の一実施例による信号分析装置を示し、図に
おいて、１はＤＲＦＭ、２はＤＲＦＭ内のデータを規定
時間Ｔ０だけ遅らせた自己相関値を算出する自己相関器
、３は自己相関器２の出力データを周波数分析するＦＦ
７回路、１０は該自己相関器２およびＦＦ７回路３から
なる信号分析回路、４はＦＦ７回路の出力データの内、
低周波成分の中の最大スペクトル周波数を算出するため
の低周波スペクトル最大値検出回路、５は最大スペクト
ル周波数が直流か交流かを判定し、交流であればその周
波数からチャープ信号の傾斜を算出するためのチャープ
信号判定回路である。
図は本発明の一実施例による信号分析装置を示し、図に
おいて、１はＤＲＦＭ、２はＤＲＦＭ内のデータを規定
時間Ｔ０だけ遅らせた自己相関値を算出する自己相関器
、３は自己相関器２の出力データを周波数分析するＦＦ
７回路、１０は該自己相関器２およびＦＦ７回路３から
なる信号分析回路、４はＦＦ７回路の出力データの内、
低周波成分の中の最大スペクトル周波数を算出するため
の低周波スペクトル最大値検出回路、５は最大スペクト
ル周波数が直流か交流かを判定し、交流であればその周
波数からチャープ信号の傾斜を算出するためのチャープ
信号判定回路である。
次に動作について説明する。ＤＲＦＭＩに入力される受
信信号をｃｏｓ（２π（ｆ＋Δｆｔ）ｔ）と表わす（ｔ
は時間）、この表現においてΔｆがチャープ信号の傾斜
を表わしており、Δｆ−００場合が通常の信号である。
信信号をｃｏｓ（２π（ｆ＋Δｆｔ）ｔ）と表わす（ｔ
は時間）、この表現においてΔｆがチャープ信号の傾斜
を表わしており、Δｆ−００場合が通常の信号である。
自己相関器２はＤＲＦＭＩ内に記録されたデータに関し
、時間Ｔ、だけ遅らせた自己相関値を計算する。即ち下
式の（１）式を算出する。
、時間Ｔ、だけ遅らせた自己相関値を計算する。即ち下
式の（１）式を算出する。
ｃｏｓ（２π（ｆ＋Δｆｔ）ｔ）
ｘ ｃｏｓ （２π（ｆ＋Δｒ（ｔ−Ｔｏ））（ｔ−Ｔ
ｏ）） ・（ｉ）（１）式は次のように書き換え
られる。
ｏ）） ・（ｉ）（１）式は次のように書き換え
られる。
ｃｏｓ（２π（２ｆｔ＋２Δｆｔ”−ｆＴａ＋ΔｆＴａ
”−２ｔΔｆ↑。））＋ｃｏｓ（２π （−２ΔｆＴＯ
ｔ−ｆＴｏ＋ ΔｆＴｏ”））−（２）従ってＦＦＴ回
路３の出力は（２）式の値となる。ここで（２）式の第
１項は高周波数成分であるため、低周波スペクトル最大
値検出回路４は（２）式の第２項の周波数（２ΔｆＴｏ
）のみを算出する。
”−２ｔΔｆ↑。））＋ｃｏｓ（２π （−２ΔｆＴＯ
ｔ−ｆＴｏ＋ ΔｆＴｏ”））−（２）従ってＦＦＴ回
路３の出力は（２）式の値となる。ここで（２）式の第
１項は高周波数成分であるため、低周波スペクトル最大
値検出回路４は（２）式の第２項の周波数（２ΔｆＴｏ
）のみを算出する。
チャープ信号判定回路５は２ΔｆＴ、の値を評価し、０
であれば（Δｆ−０）通常信号と判定し、Ｏでなければ
（Δｆ≠Ｏ）チャープ信号と判定する。またチャープ信
号の場合、Ｔ、は既知であるため２ΔｆＴ、の値からΔ
ｆ （チャープ信号の傾斜）を算出する。
であれば（Δｆ−０）通常信号と判定し、Ｏでなければ
（Δｆ≠Ｏ）チャープ信号と判定する。またチャープ信
号の場合、Ｔ、は既知であるため２ΔｆＴ、の値からΔ
ｆ （チャープ信号の傾斜）を算出する。
このように、本実施例によれば、ＤＲＦＭ内に記録され
たディジタルデータの自己相関データを周波数分析する
ことにより、チャープ信号か否かを判定するようにした
ので、チャープ信号の検出。
たディジタルデータの自己相関データを周波数分析する
ことにより、チャープ信号か否かを判定するようにした
ので、チャープ信号の検出。
分析が１個のＦＦ７回路で可能となり、しかもその検出
１分析精度を向上することができる。
１分析精度を向上することができる。
なお、上記実施例の自己相関器を、第４図に示すように
、たたみ込み計算回路に置き替えるようにしてもよい、
即ち、この第４図の装置は、第１図の自己相関器２とＦ
ＦＴ回路３に替えて、２台のＦＦＴ回路３ａ、３ｂとた
たみ込み計算回路７とからなる信号分析回路２０を設け
たもので、２台０ＦＦＴ回路３ａ、３ｂの一方で通常の
ＦＦＴ処理を、他方で時間をＴ、たけ遅らせた信号のＦ
ＦＴ処理をそれぞれ行ない、この２個０ＦＦＴ回路３ａ
、３ｂの出力をたたみ込み計算回路７で処理するように
したもので、以上のような構成によっても、第１図０Ｆ
ＦＴ回路３の出力と全く同一の信号を得ることができ、
従って、この実施例によっても第１図の実施例と同様、
高精度の検出。
、たたみ込み計算回路に置き替えるようにしてもよい、
即ち、この第４図の装置は、第１図の自己相関器２とＦ
ＦＴ回路３に替えて、２台のＦＦＴ回路３ａ、３ｂとた
たみ込み計算回路７とからなる信号分析回路２０を設け
たもので、２台０ＦＦＴ回路３ａ、３ｂの一方で通常の
ＦＦＴ処理を、他方で時間をＴ、たけ遅らせた信号のＦ
ＦＴ処理をそれぞれ行ない、この２個０ＦＦＴ回路３ａ
、３ｂの出力をたたみ込み計算回路７で処理するように
したもので、以上のような構成によっても、第１図０Ｆ
ＦＴ回路３の出力と全く同一の信号を得ることができ、
従って、この実施例によっても第１図の実施例と同様、
高精度の検出。
分析結果を得ることができる。
これは一般に下式が成立することからも明らかである。
Ｆ（ｆ（ｔ） ｘｆ（ｔ−Ｔｏ））−Ｆ（ｆ（ｔ））＊
Ｆ（ｆ（ｔ−Ｔｏ））但し、ＦはＦＦＴ処理 ＊はたたみ込み ｆ（ｔ）は入力信号（−ｃｏｓ （２πｆｔ））である
。
Ｆ（ｆ（ｔ−Ｔｏ））但し、ＦはＦＦＴ処理 ＊はたたみ込み ｆ（ｔ）は入力信号（−ｃｏｓ （２πｆｔ））である
。
以上のように、この発明に係る信号分析装置によれば、
自己相関値の周波数成分あるいは周波数分析結果のたた
み込み値を分析してチャープ信号を検出するようにした
ので、以下のような効果がある。
自己相関値の周波数成分あるいは周波数分析結果のたた
み込み値を分析してチャープ信号を検出するようにした
ので、以下のような効果がある。
■ ＤＲＦＭ内のデータの全てを用いてＦＦＴ処理する
ため分析精度が高い。
ため分析精度が高い。
■ チャープ信号を、自己相関処理によって固定周波数
信号に変換するかあるいは周波数分析結果をたたみ込み
処理して分析するため分析誤差が少ない。
信号に変換するかあるいは周波数分析結果をたたみ込み
処理して分析するため分析誤差が少ない。
■ チャープ信号の傾斜を信号分析回路の出力値の結果
から求めているため分析精度が高い。
から求めているため分析精度が高い。
第１図はこの発明の一実施例によるチャープ信号分析装
置を示す図、第２図はＤＲＦＭ機能を示す図、第３図は
従来の信号分析装置を示す図、第４図は本発明の他の実
施例による信号分析装置の構成を示す図である。 図中、１はＤＲＦＭ、２は自己相関器、３，３ａ、３ｂ
はＦＦ７回路、４は低周波スペクトル最大値検出回路、
５はチャープ信号判定回路、６はスペクトル最大値検出
回路、７はたたみ込み計算回路、１０．２０は信号分析
回路である。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
置を示す図、第２図はＤＲＦＭ機能を示す図、第３図は
従来の信号分析装置を示す図、第４図は本発明の他の実
施例による信号分析装置の構成を示す図である。 図中、１はＤＲＦＭ、２は自己相関器、３，３ａ、３ｂ
はＦＦ７回路、４は低周波スペクトル最大値検出回路、
５はチャープ信号判定回路、６はスペクトル最大値検出
回路、７はたたみ込み計算回路、１０．２０は信号分析
回路である。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- （１）受信電波のパルス内位相を記録するディジタル高
周波信号メモリを有し、パルス信号を分析する装置にお
いて、 上記ディジタル高周波信号メモリ内に記録されたディジ
タルデータの自己相関データを周波数分析するかあるい
は上記記録されたディジタルデータの周波数分析結果に
たたみ込み処理を行なう信号分析手段と、 該信号分析手段により得られる出力データの内の低周波
成分のスペクトルの最大値を検出する手段と、 上記低周波スペクトルの最大値を用いて上記受信電波が
チャープ信号であるか否か及びそのチャープ信号の傾斜
を算出するチャープ信号判定手段とを備えたことを特徴
とする信号分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21763088A JPH0265520A (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 信号分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21763088A JPH0265520A (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 信号分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0265520A true JPH0265520A (ja) | 1990-03-06 |
Family
ID=16707283
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21763088A Pending JPH0265520A (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 信号分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0265520A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012233824A (ja) * | 2011-05-06 | 2012-11-29 | Toshiba Corp | パッシブレーダ装置、誘導装置及び電波検出方法 |
-
1988
- 1988-08-31 JP JP21763088A patent/JPH0265520A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012233824A (ja) * | 2011-05-06 | 2012-11-29 | Toshiba Corp | パッシブレーダ装置、誘導装置及び電波検出方法 |
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