JPH0267094A - 通話路導通試験方式 - Google Patents
通話路導通試験方式Info
- Publication number
- JPH0267094A JPH0267094A JP21933188A JP21933188A JPH0267094A JP H0267094 A JPH0267094 A JP H0267094A JP 21933188 A JP21933188 A JP 21933188A JP 21933188 A JP21933188 A JP 21933188A JP H0267094 A JPH0267094 A JP H0267094A
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- circuit
- line
- signal
- switch
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- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 18
- 238000010998 test method Methods 0.000 claims description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
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- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 3
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
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- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
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- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、中継回線から交換機を介してアナログ回線に
接続され交換機内の通話路が形成されたとき、交換機に
接続する中継回線を切替えて所定レベルの試験信号を交
換機へ送入するとともに、この切替えた回線へ交換機か
ら送出された信号がら試験信号を検出して調査する通話
路導通試験方式に関する。
接続され交換機内の通話路が形成されたとき、交換機に
接続する中継回線を切替えて所定レベルの試験信号を交
換機へ送入するとともに、この切替えた回線へ交換機か
ら送出された信号がら試験信号を検出して調査する通話
路導通試験方式に関する。
従来、この種の通話路導通試験方式は、中継回線側から
交換機を介してアナログ回線側までの導通試験を実施し
、正常性を確認してのちアナログ回線側から中継回線側
までの導通試験を実施し正常性を確認していた。
交換機を介してアナログ回線側までの導通試験を実施し
、正常性を確認してのちアナログ回線側から中継回線側
までの導通試験を実施し正常性を確認していた。
これについて第2図を参照して説明する。第2図は従来
の一例を示すブロック図である。第2図によれば、ディ
ジタル回線を収容接続するディジタル回線装置1は試験
装置2を介してディジタル交換機3に接続する。アナロ
グ回線である加入者回線を収容接続する加入者回線装置
4はアナログ・ディジタル変換器であるコーデック41
.2線4線変換器のハイブリッド42、および加入者回
線を試験装置50に切替接続する切替回路43を有する
。
の一例を示すブロック図である。第2図によれば、ディ
ジタル回線を収容接続するディジタル回線装置1は試験
装置2を介してディジタル交換機3に接続する。アナロ
グ回線である加入者回線を収容接続する加入者回線装置
4はアナログ・ディジタル変換器であるコーデック41
.2線4線変換器のハイブリッド42、および加入者回
線を試験装置50に切替接続する切替回路43を有する
。
試験装置2は挿入回路21、信号送出器22、引抜回路
23、および信号検出器24を有する。
23、および信号検出器24を有する。
挿入回路21はディジタル回線装置1からディジタル交
換機3へ接続される通話路へ信号送出器22から発生す
る試験信号を、例えばほぼ500回のうち1回の呼ごと
の割合いで挿入し、各回線ごとに配備される。信号送出
器22は各回線に共通に配備される。
換機3へ接続される通話路へ信号送出器22から発生す
る試験信号を、例えばほぼ500回のうち1回の呼ごと
の割合いで挿入し、各回線ごとに配備される。信号送出
器22は各回線に共通に配備される。
引抜回路23はディジタル交換機3からディジタル回線
装置1に伝送される信号を傍受し信号検出器24へ接続
する。信号検出器24は試験信号を検出し、信号レベル
の調整を実施する。
装置1に伝送される信号を傍受し信号検出器24へ接続
する。信号検出器24は試験信号を検出し、信号レベル
の調整を実施する。
加入者回線装置4ではディジタル交換機3を介して着呼
接続があったとき、ディジタル交換機3、コーデック4
1およびハイブリッド42を順次経由して接続される通
話路を切替回路43により切替えて試験装置50に接続
する。試験装置50は切替回路51でまず試験信号を検
出受信して正常性を確認する信号検出器52を通話路に
接続し、次いで切替回路51を駆動して信号発生器53
が発生する試験信号を接続する。
接続があったとき、ディジタル交換機3、コーデック4
1およびハイブリッド42を順次経由して接続される通
話路を切替回路43により切替えて試験装置50に接続
する。試験装置50は切替回路51でまず試験信号を検
出受信して正常性を確認する信号検出器52を通話路に
接続し、次いで切替回路51を駆動して信号発生器53
が発生する試験信号を接続する。
従って、試験手順は通話路形成、一方向で試験信号を送
出して試験、次いで逆方向の試験となる。
出して試験、次いで逆方向の試験となる。
また、試験装置2はディジタル信号を、試験装置50は
アナログ信号をそれぞれ取扱う。これらの処理は交換装
置の中央処理装置が制御する。
アナログ信号をそれぞれ取扱う。これらの処理は交換装
置の中央処理装置が制御する。
上述した従来の通話路導通試験方式は、アナログ信号を
扱う回線に送られてきた試験信号を信号検出器に引込み
調査したのち、信号発生器から試験信号を送出する処理
手順、並びにアナログ回線側に試験装置の配備それぞれ
が余分に必要であるという欠点があった。
扱う回線に送られてきた試験信号を信号検出器に引込み
調査したのち、信号発生器から試験信号を送出する処理
手順、並びにアナログ回線側に試験装置の配備それぞれ
が余分に必要であるという欠点があった。
本発明の目的は、アナログ回線側に単純負荷(例えば抵
抗)を配備して受信した信号をそのまま折返して返送す
る手段を講じることにより、上記欠点を解決した通話路
導通試験方式を提供することにある。
抗)を配備して受信した信号をそのまま折返して返送す
る手段を講じることにより、上記欠点を解決した通話路
導通試験方式を提供することにある。
本発明の通話路導通試験方式は、中継回線から交換機を
介してアナログ回線に接続され交換機内の通話路が形成
されたとき、交換機に接続する中継回線を切替えて所定
レベルの試験信号を交換機ノ゛\送入するとともに、こ
の切替えた回線へ交換機から送出された信号から試験信
号を検出調査して試験する通話路導通試験方式において
、前記アナログ回線が交換機により接続され所定の試験
指示を受けたとき、ハイブリッド回路の二線側にアナロ
グ回線を切替えてディジタル回線側へ所定の反射減衰量
を与える負荷を所定時間だけ接続する終端回路を有する
。
介してアナログ回線に接続され交換機内の通話路が形成
されたとき、交換機に接続する中継回線を切替えて所定
レベルの試験信号を交換機ノ゛\送入するとともに、こ
の切替えた回線へ交換機から送出された信号から試験信
号を検出調査して試験する通話路導通試験方式において
、前記アナログ回線が交換機により接続され所定の試験
指示を受けたとき、ハイブリッド回路の二線側にアナロ
グ回線を切替えてディジタル回線側へ所定の反射減衰量
を与える負荷を所定時間だけ接続する終端回路を有する
。
1述の手段によれば、中継回線がアナログ回線に交換機
を介して接続されたとき、中継回線側から送信された試
験信号はアナログ回線側の終端回路で折返さえて中継回
線側で受信検出され、正常性の確認ができる。
を介して接続されたとき、中継回線側から送信された試
験信号はアナログ回線側の終端回路で折返さえて中継回
線側で受信検出され、正常性の確認ができる。
次に、本発明の通話路導通試験方式について図面を参照
して説明する。
して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すブロック構成図である
。
。
第1図において、従来の一例を示す第2図の構成要素と
同一のものには同一の番号符号を付与して、その説明を
省略する。第1図が第2図と相違する点は加入者回線装
置4の切替回路43に接続する終端回路5にある。
同一のものには同一の番号符号を付与して、その説明を
省略する。第1図が第2図と相違する点は加入者回線装
置4の切替回路43に接続する終端回路5にある。
加入者回線装置4はアナログ回線の加入者回線を切替え
る切替回路43に抵抗器による終端回路5を接続する。
る切替回路43に抵抗器による終端回路5を接続する。
2線4線変換回路のハイブリッド42は加入者回線に対
するインピーダンス平衡をとる、例えば900Ωの、平
衡回路網を備えるが、終端回路5は4線側へ反射減衰量
を与える不平衡抵抗値、例えば150Ωの負荷を備える
、従って、切替回路43により終端回路5がハイブリッ
ド42に接続されるとき、信号送出器22から送出され
た試験信号はハイブリッド42で反射信号を発生し、信
号検出器24が反射信号を検出して調査し、所定値以内
にあることを確認して正常な通話路と判断する。
するインピーダンス平衡をとる、例えば900Ωの、平
衡回路網を備えるが、終端回路5は4線側へ反射減衰量
を与える不平衡抵抗値、例えば150Ωの負荷を備える
、従って、切替回路43により終端回路5がハイブリッ
ド42に接続されるとき、信号送出器22から送出され
た試験信号はハイブリッド42で反射信号を発生し、信
号検出器24が反射信号を検出して調査し、所定値以内
にあることを確認して正常な通話路と判断する。
上記実施例によれば終端回路は単なるインピーダンス素
子で構成できるので加入者回線装置に内蔵させることが
でき、外部回路としてケーブルで接続するのに比較して
雑信号による影響を回避できる。
子で構成できるので加入者回線装置に内蔵させることが
でき、外部回路としてケーブルで接続するのに比較して
雑信号による影響を回避できる。
上記実施例では、加入者回線装置として図示し説明した
が、通常のアナログ回線装置でも同様である。
が、通常のアナログ回線装置でも同様である。
以上説明したように本発明の通話路導通試験方式は、ア
ナログ回線に所定の反射減衰量値を生じる終端回路を設
備することにより、外部に試験信号の検出回路、試験信
号送出回路を必要とすることなしに、被試験通話路の両
方向を一回の手順で調査でき、処理も簡単になるという
効果がある。
ナログ回線に所定の反射減衰量値を生じる終端回路を設
備することにより、外部に試験信号の検出回路、試験信
号送出回路を必要とすることなしに、被試験通話路の両
方向を一回の手順で調査でき、処理も簡単になるという
効果がある。
第1図は本発明の通話路導通試験方式の一実施例を示す
機能ブロック図、第2図は従来の一例を示すブロック図
である。 1・・・ディジタル回線装置、2・・・試験装置、3・
・・交換機、4・・・加入者回線装置くアナログ回線装
置〉、5・・・終端回路、21・・・挿入回路、22・
・・信号送出器、23・・・引抜回路、24・・・信号
検出器、43・・切替回路。
機能ブロック図、第2図は従来の一例を示すブロック図
である。 1・・・ディジタル回線装置、2・・・試験装置、3・
・・交換機、4・・・加入者回線装置くアナログ回線装
置〉、5・・・終端回路、21・・・挿入回路、22・
・・信号送出器、23・・・引抜回路、24・・・信号
検出器、43・・切替回路。
Claims (1)
- 中継回線から交換機を介してアナログ回線に接続され交
換機内の通話路が形成されたとき、交換機に接続する中
継回線を切替えて所定レベルの試験信号を交換機へ送入
するとともに、この切替えた回線へ交換機から送出され
た信号から試験信号を検出調査して試験する通話路導通
試験方式において、前記アナログ回線が交換機により接
続され所定の試験指示を受けたとき、ハイブリッド回路
の二線側にアナログ回線を切替えてディジタル回線側へ
所定の反射減衰量を与える負荷を所定時間だけ接続する
終端回路を有することを特徴とする通話路導通試験方式
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21933188A JPH0267094A (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 通話路導通試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21933188A JPH0267094A (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 通話路導通試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0267094A true JPH0267094A (ja) | 1990-03-07 |
Family
ID=16733790
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21933188A Pending JPH0267094A (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | 通話路導通試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0267094A (ja) |
-
1988
- 1988-08-31 JP JP21933188A patent/JPH0267094A/ja active Pending
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