JPH0267839A - Test function control system for exchange - Google Patents

Test function control system for exchange

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JPH0267839A
JPH0267839A JP63220886A JP22088688A JPH0267839A JP H0267839 A JPH0267839 A JP H0267839A JP 63220886 A JP63220886 A JP 63220886A JP 22088688 A JP22088688 A JP 22088688A JP H0267839 A JPH0267839 A JP H0267839A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
data
test
test function
storage circuit
Prior art date
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Pending
Application number
JP63220886A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Osamu Yamato
大和 理
Akira Sekinishi
関西 晶
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Abstract

PURPOSE:To efficiently execute the test by supplying command data from an arbitrary data terminal stored in a data terminal storage circuit to test a desired terminal or terminal storage circuit from an arbitrary place. CONSTITUTION:A central controller 20 has a test function in dicating means 210 and controls a main switch 10 to control a terminal storage circuit 30 and a data terminal storage circuit 40 through an internal control bus 70. The terminal storage circuit 30 has a test function control means 310 and stores a terminal 50, and the data terminal storage circuit 40 has a command data transmitting and receiving means 410 and stores a data terminal 60. Command data is supplied from the arbitrary data terminal 60 stored in the data terminal storage circuit 40 to test the desired terminal 50 or terminal storage circuit 30 from an arbitrary place. Thus, the data terminal nearest to the terminal to be tested is used to efficiently execute the test.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、交換機の試験機能制御方式に関する。[Detailed description of the invention] [Industrial application field] The present invention relates to a test function control method for an exchange.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来の交換機の試験機能制御方式は、それぞれのシステ
ムで、あらかじめ定められた保守端末からのみ試験の実
行が可能であった。これを図面を参照して説明する。
The conventional test function control method for switching equipment allows tests to be executed only from predetermined maintenance terminals in each system. This will be explained with reference to the drawings.

第2図は従来の交換機の試験機能制御方式を示すブロッ
ク図である。
FIG. 2 is a block diagram showing a conventional test function control method for an exchange.

第2図において、中央制御装置20は、試験機能制御手
段220を含み、主スィッチ10と端末収容回路30と
を内部制御バス70を介して制御している。端末収容回
路30は端末50を収容している。保守端末80は、内
部制御バス70を介して中央制御装置20に接続してい
る。
In FIG. 2, the central control device 20 includes a test function control means 220, and controls the main switch 10 and the terminal accommodation circuit 30 via an internal control bus 70. The terminal accommodating circuit 30 accommodates a terminal 50. Maintenance terminal 80 is connected to central control unit 20 via internal control bus 70 .

次に試験動作について説明する。Next, the test operation will be explained.

まず試験動作を行いたい保守者は、保守端末80から、
実行したい試験のコマンドを投入する。保守端末80か
ら投入されたコマンドは内部制御バス70を介して中央
制御装置20に送信される。中央制御装置20は受信し
たコマンドを解析し、試験機能制御手段220を用いて
試験を実行する。そして、それが端末50の通話路試験
であれば試験結果を確認する為に試験動作を実行した保
守者が保守端末50の設置されている場所に移動するか
他の者に依頼して確認していた。
First, a maintenance person who wants to perform a test operation can use the maintenance terminal 80 to
Enter the command for the test you want to execute. Commands input from the maintenance terminal 80 are sent to the central control unit 20 via the internal control bus 70. The central controller 20 analyzes the received command and uses the test function control means 220 to execute the test. If it is a call path test for the terminal 50, the maintenance person who performed the test operation should move to the location where the maintenance terminal 50 is installed or ask another person to confirm the test result. was.

〔発明が解決しようとする課題〕[Problem to be solved by the invention]

上述した従来の交換機の試験機能制御方式は、システム
であらかじめ定められた保守端末からのみ試験動作を実
行していたため、保守端末が接続されている制御回路や
制御バスが故障していると、試験を実行することができ
ないという問題点があった。又、試験を実行する場合は
、保守端末の設置されている場所に行かなければならな
いと言う問題点もあった。このことは、試験しようとす
る端末の設置場所と保守端末の設置場所とが大きく離れ
ている場合には、試験の実行を効率的に進める事を難し
くしていた。
In the conventional exchange test function control method described above, test operations were executed only from maintenance terminals predefined in the system, so if the control circuit or control bus to which the maintenance terminal is connected is malfunctioning, the test The problem was that it was not possible to execute. Another problem was that when testing was to be carried out, it was necessary to go to the location where the maintenance terminal was installed. This makes it difficult to proceed with the test efficiently when the installation location of the terminal to be tested and the installation location of the maintenance terminal are far apart.

本発明の目的は、データ端末収容回路に収容された任意
のデータ端末からコマンドデータを投入することにより
、任意の場所から希望する端末あるいは端末収容回路の
試験を行うことが可能な交換機の試験機能制御方式を提
供することにある。
An object of the present invention is to provide a test function of an exchange that allows testing of a desired terminal or terminal accommodation circuit from any location by inputting command data from any data terminal accommodated in the data terminal accommodation circuit. The objective is to provide a control method.

〔課題を解決するための手段〕[Means to solve the problem]

本発明の交換機の試験機能制御方式は、データ端末収容
回路を介してデータ端末を収容する交換機の試験機能制
御方式において、端末を収容する端末収容回路内には前
記交換機の中央制御装置からの指示に従ってループバッ
ク等の試験機能を実行する試験機能制御手段を設け、前
記データ端末収容回路内には前記データ端末から送出さ
れるコマンドデータを前記中央制御装置との間で送受信
するコマンドデータ送受信手段を設け、前記中央制御装
置内には受信した前記コマンドデータを解析し指定され
た端末収容回路に対し試験機能の実行を指示する試験機
能指示手段を設ける構成である。
A test function control method for an exchange according to the present invention is a test function control method for an exchange that accommodates data terminals via a data terminal accommodating circuit, in which instructions from a central control unit of the exchange are transmitted within the terminal accommodating circuit that accommodates the terminals. A test function control means for executing a test function such as a loopback according to the above is provided, and a command data transmitting/receiving means for transmitting and receiving command data sent from the data terminal to and from the central control device is provided in the data terminal accommodating circuit. A test function instructing means is provided in the central control unit for analyzing the received command data and instructing a designated terminal accommodation circuit to execute a test function.

〔実施例〕〔Example〕

次に、本発明について図面を参照して説明する。 Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.

第1図は本発明の一実施例を示すブロック図である。FIG. 1 is a block diagram showing one embodiment of the present invention.

第1図において、中央制御装置20は、試験機能指示手
段210持ち、主スィッチ10を制御し、端末収容回路
30とデータ端末収容回路4゜とを内部制御バス70を
介して制御している。端末収容回路30は、試験機能制
御手段310を持ち、端末50を収容している。データ
端末収容回路40は、コマンドデータ送受信手段410
を持ちデータ端末60を収容している。
In FIG. 1, the central control unit 20 has a test function instruction means 210, controls the main switch 10, and controls the terminal accommodating circuit 30 and the data terminal accommodating circuit 4° via an internal control bus 70. The terminal accommodating circuit 30 has a test function control means 310 and accommodates the terminal 50. The data terminal accommodation circuit 40 includes a command data transmitting/receiving means 410
and houses a data terminal 60.

次に、試験動作について説明する。Next, the test operation will be explained.

まず、ループバック等の試験機能を行いたい保守者はデ
ータ端末60から、試験を行いたい相手の収容位置情報
又は内線番号と、試験機能識別番号(例えば、1ならR
OMチエツク、2ならループバックチエツク等)を投入
する。データ端末60から投入されたデータをデータ端
末収容回路40内のコマンドデータ送受信手段410が
受信し、次にコマンドデータとして、データ端末収容回
路40内から内部制御バス70を介して中央制御装置2
0に送信する。中央制御装置20は、データ端末収容回
路40から送信されたコマンドデータを受信し、受信し
たコマンドデータを解析し、試験を実施する対象の端末
収容回路30を選択し、選択した端末収容回路30に、
試験機能指示手段210を用いて、受信したコマンドデ
ータに基づいた試験機能IIJ御を指示するための制御
コマンドを、内部制御バス70を介して指示する。
First, a maintenance person who wants to perform a test function such as loopback inputs the accommodation location information or extension number of the party he wants to test from the data terminal 60 and the test function identification number (for example, if 1 is R
OM check, if 2, loopback check, etc.). The command data transmitting/receiving means 410 in the data terminal accommodating circuit 40 receives the data input from the data terminal 60, and then sends the data as command data from the data terminal accommodating circuit 40 to the central control unit 2 via the internal control bus 70.
Send to 0. The central control device 20 receives the command data transmitted from the data terminal accommodation circuit 40, analyzes the received command data, selects the terminal accommodation circuit 30 to be tested, and sends the data to the selected terminal accommodation circuit 30. ,
The test function instructing means 210 is used to instruct, via the internal control bus 70, a control command for instructing the control of the test function IIJ based on the received command data.

試験機能指示手段210は一最に中央制御装置20内の
1つのソフトウェアプログラムとして実現することがで
きる。端末収容回路30は、端末収容回路30内の試験
機能制御手段310を用いて中央制御装置20からの指
示に従った試験を実行する。
The test function instruction means 210 can be realized primarily as a single software program within the central control unit 20. The terminal accommodating circuit 30 uses the test function control means 310 in the terminal accommodating circuit 30 to execute a test according to instructions from the central controller 20.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、データ端末収容回路に収
容された任意のデータ端末からコマンドデータを投入す
ることにより、任意の場所から希望する端末あるいは端
末収容回路の試験を行うことが可能となるという効果が
ある。この結果、試験をしようとする端末に最も近いデ
ータ端末を使用して試験を実行することができる。
As explained above, the present invention makes it possible to test a desired terminal or terminal accommodation circuit from any location by inputting command data from any data terminal housed in the data terminal accommodation circuit. There is an effect. As a result, the test can be performed using the data terminal closest to the terminal to be tested.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例のブロック図、第2図は従来
の交換機の試験機能制御方式を示すブロック図である。 10・・・主スィッチ、20・・・中央制御装置、30
・・・端末収容回路、40・・・データ端末収容回路、
50・・・端末、60・・・データ端末、70・・・内
部制御バス、80・・・保守端末、210,220・・
・試験機能指示手段、310・・・試験機能制御手段、
410・・・コマンドデータ送受信手段。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a block diagram showing a conventional test function control method for an exchange. 10... Main switch, 20... Central control device, 30
...terminal accommodation circuit, 40...data terminal accommodation circuit,
50...Terminal, 60...Data terminal, 70...Internal control bus, 80...Maintenance terminal, 210, 220...
・Test function instruction means, 310...Test function control means,
410...Command data transmission/reception means.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] データ端末収容回路を介してデータ端末を収容する交換
機の試験機能制御方式において、端末を収容する端末収
容回路内には前記交換機の中央制御装置からの指示に従
つてループバック等の試験機能を実行する試験機能制御
手段を設け、前記データ端末収容回路内には前記データ
端末から送出されるコマンドデータを前記中央制御装置
との間で送受信するコマンドデータ送受信手段を設け、
前記中央制御装置内には受信した前記コマンドデータを
解析し指定された端末収容回路に対し試験機能の実行を
指示する試験機能指示手段を設けることを特徴とする交
換機の試験機能制御方式。
In a test function control method for an exchange that accommodates data terminals via a data terminal accommodation circuit, the terminal accommodation circuit that accommodates the terminal executes test functions such as loopback according to instructions from the central control unit of the exchange. a test function control means for transmitting and receiving command data sent from the data terminal to and from the central control device in the data terminal accommodation circuit;
A test function control method for an exchange, characterized in that a test function instructing means for analyzing the received command data and instructing a designated terminal accommodation circuit to execute a test function is provided in the central control unit.
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