JPH02693Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH02693Y2 JPH02693Y2 JP14539480U JP14539480U JPH02693Y2 JP H02693 Y2 JPH02693 Y2 JP H02693Y2 JP 14539480 U JP14539480 U JP 14539480U JP 14539480 U JP14539480 U JP 14539480U JP H02693 Y2 JPH02693 Y2 JP H02693Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- value
- comparison
- circuit
- lower limit
- reference value
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 7
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000003340 mental effect Effects 0.000 description 1
- 238000003908 quality control method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は、電気計測器等から出力される個々
の測定データが所定のレベル内に入つているか否
かを判定して、その結果を表示する測定値比較表
示装置に関するものである。
の測定データが所定のレベル内に入つているか否
かを判定して、その結果を表示する測定値比較表
示装置に関するものである。
公知の測定値比較表示装置では、被測定対象等
に応じて所望の上限値と下限値とがダイヤル操作
などによつてセツトできるようになつている。し
かしながら、この上限値と下限値とをある基準値
に対する±x%の範囲で規定しようとする場合に
は、暗算で簡単に求められる数値はともかくとし
て、そうでないときには計算で求めた上でセツト
しなければならず面倒であつた。
に応じて所望の上限値と下限値とがダイヤル操作
などによつてセツトできるようになつている。し
かしながら、この上限値と下限値とをある基準値
に対する±x%の範囲で規定しようとする場合に
は、暗算で簡単に求められる数値はともかくとし
て、そうでないときには計算で求めた上でセツト
しなければならず面倒であつた。
したがつて、この考案の目的は、ある基準値に
対してのパーセンテージを指定することにより、
自動的にその上限値と下限値をセツトすることが
できるようにした測定値比較表示装置を提供する
ことにある。
対してのパーセンテージを指定することにより、
自動的にその上限値と下限値をセツトすることが
できるようにした測定値比較表示装置を提供する
ことにある。
以下、この考案の実施例を添付図面を参照して
詳細に説明する。
詳細に説明する。
第1図には、この考案による測定値比較表示装
置の外観が示されているが、これは一般的にデジ
タルコンパレータと呼ばれているものの一種で、
第1のダイヤルつまみ1および第2のダイヤルつ
まみ2と、これらに関連して設けられた2つのデ
ジタル表示器3,4と、設定値切替スイツチ5と
を備え、このスイツチ5を操作することにより異
なる態様で上限値と下限値とが設定できるように
なつている。すなわち、スイツチ5を左側に切替
えた図示の状態においては、公知の如く第1およ
び第2のダイヤルつまみ1,2の操作によつて上
限値と下限値とがセツトできこれらの値は各デジ
タル表示器3,4に表示される。一方、スイツチ
5を右側に切替えた場合には、第1のダイヤルつ
まみ1にてある基準値を設定し、第2のダイヤル
つまみ2によりその基準値に対するパーセンテー
ジを指定すると、後述する演算回路によつて基準
値に対する上限値と下限値とが自動的にセツトさ
れるようになつている。そして、図示しない測定
器から供給される測定器からの測定データと上限
値および下限値とが比較判定され、その判定結果
によりパネル表面に設けられている発光表示器6
の「HI」、「IN」、「LO」に対応する発光部のいず
れか1つが点灯し、これにより測定データが所定
の許容範囲内に入つているか否かを知ることがで
きる。この場合、判定結果をブザー等による発音
表示器7によつて報知することもできる。なお、
参照符号8,8は、測定データの極性に応じて切
替えられる極性切替スイツチである。
置の外観が示されているが、これは一般的にデジ
タルコンパレータと呼ばれているものの一種で、
第1のダイヤルつまみ1および第2のダイヤルつ
まみ2と、これらに関連して設けられた2つのデ
ジタル表示器3,4と、設定値切替スイツチ5と
を備え、このスイツチ5を操作することにより異
なる態様で上限値と下限値とが設定できるように
なつている。すなわち、スイツチ5を左側に切替
えた図示の状態においては、公知の如く第1およ
び第2のダイヤルつまみ1,2の操作によつて上
限値と下限値とがセツトできこれらの値は各デジ
タル表示器3,4に表示される。一方、スイツチ
5を右側に切替えた場合には、第1のダイヤルつ
まみ1にてある基準値を設定し、第2のダイヤル
つまみ2によりその基準値に対するパーセンテー
ジを指定すると、後述する演算回路によつて基準
値に対する上限値と下限値とが自動的にセツトさ
れるようになつている。そして、図示しない測定
器から供給される測定器からの測定データと上限
値および下限値とが比較判定され、その判定結果
によりパネル表面に設けられている発光表示器6
の「HI」、「IN」、「LO」に対応する発光部のいず
れか1つが点灯し、これにより測定データが所定
の許容範囲内に入つているか否かを知ることがで
きる。この場合、判定結果をブザー等による発音
表示器7によつて報知することもできる。なお、
参照符号8,8は、測定データの極性に応じて切
替えられる極性切替スイツチである。
次に、この実施例をより詳しく説明するため第
2図を参照すると、この装置の回路構成は、演算
回路9と、一対の比較回路10,11と、この比
較回路10および11からの各出力に応じて発光
表示器6内に収納されている3つの発光ダイオー
ド15,16,17のいずれか1つを選択的に発
光させる判定回路14とからなり、これらの回路
は、実際にはマイクロコンピユータに内蔵されて
いる。第1および第2のダイヤルつまみ1,2に
て設定された値は、スイツチ5を介して演算回路
9もしくは比較回路10,11のいずれかに入力
されるようになつている。すなわち、スイツチ5
を固定接点a側(第1図において左側)に切替え
ると、第1のダイヤルつまみ1にて設定された値
は一方の比較回路10に上限値として入力され、
第2のダイヤルつまみ2にて設定された値は他方
の比較回路11に下限値として入力される。これ
に対してスイツチ5を固定接点b側(第1図にお
いて右側)に切替えると、第1および第2のダイ
ヤルつまみにて設定された各々の値は、ともに演
算回路9に入力される。この場合、第1のダイヤ
ルつまみ1により所定の基準値が設定され、第2
のダイヤルつまみ2にてその基準値に対するパー
センテージの値が設定されることになる。したが
つて、演算回路9はこれらの値から上限値および
下限値を演算して、上限値を一方の比較回路10
に出力し、下限値を他方の比較回路10に出力す
る。このようにして、比較回路10および11に
は、それぞれ上限値と下限値とがセツトされる。
そして、これらの比較回路10および11には、
入力端子12および公知のA/D変換器13を介
して図示しない測定器からの測定データがそれぞ
れ入力される。この場合、測定データ>上限値の
とき各比較回路10,11の出力はともに「H」、
「H」、上限値>測定データ>下限値のとき一方の
比較回路10の出力は「L」、他方の比較回路1
1の出力は「H」、測定データ<下限値のとき各
比較回路出力はともに「L」、「L」となる。判定
回路14は、これらの各出力に応じて発光ダイオ
ード15,16,17のいずれかを発光させるよ
うに動作する。すなわち、比較回路10および1
1の各出力が「H」、「H」のときには発光表示装
置6の「HI」に対応する発光ダイオード15が
発光し、各出力が「L」、「H」のときには「IN」
に対応する発光ダイオード16が発光し、また、
各出力が「L」、「L」のときには「LO」に対応
する発光ダイオード17が発光する。このように
して、個々の測定データに関する比較判定表示が
なされる。また、この判定回路14によつて発音
装置7を動作させることもできる。
2図を参照すると、この装置の回路構成は、演算
回路9と、一対の比較回路10,11と、この比
較回路10および11からの各出力に応じて発光
表示器6内に収納されている3つの発光ダイオー
ド15,16,17のいずれか1つを選択的に発
光させる判定回路14とからなり、これらの回路
は、実際にはマイクロコンピユータに内蔵されて
いる。第1および第2のダイヤルつまみ1,2に
て設定された値は、スイツチ5を介して演算回路
9もしくは比較回路10,11のいずれかに入力
されるようになつている。すなわち、スイツチ5
を固定接点a側(第1図において左側)に切替え
ると、第1のダイヤルつまみ1にて設定された値
は一方の比較回路10に上限値として入力され、
第2のダイヤルつまみ2にて設定された値は他方
の比較回路11に下限値として入力される。これ
に対してスイツチ5を固定接点b側(第1図にお
いて右側)に切替えると、第1および第2のダイ
ヤルつまみにて設定された各々の値は、ともに演
算回路9に入力される。この場合、第1のダイヤ
ルつまみ1により所定の基準値が設定され、第2
のダイヤルつまみ2にてその基準値に対するパー
センテージの値が設定されることになる。したが
つて、演算回路9はこれらの値から上限値および
下限値を演算して、上限値を一方の比較回路10
に出力し、下限値を他方の比較回路10に出力す
る。このようにして、比較回路10および11に
は、それぞれ上限値と下限値とがセツトされる。
そして、これらの比較回路10および11には、
入力端子12および公知のA/D変換器13を介
して図示しない測定器からの測定データがそれぞ
れ入力される。この場合、測定データ>上限値の
とき各比較回路10,11の出力はともに「H」、
「H」、上限値>測定データ>下限値のとき一方の
比較回路10の出力は「L」、他方の比較回路1
1の出力は「H」、測定データ<下限値のとき各
比較回路出力はともに「L」、「L」となる。判定
回路14は、これらの各出力に応じて発光ダイオ
ード15,16,17のいずれかを発光させるよ
うに動作する。すなわち、比較回路10および1
1の各出力が「H」、「H」のときには発光表示装
置6の「HI」に対応する発光ダイオード15が
発光し、各出力が「L」、「H」のときには「IN」
に対応する発光ダイオード16が発光し、また、
各出力が「L」、「L」のときには「LO」に対応
する発光ダイオード17が発光する。このように
して、個々の測定データに関する比較判定表示が
なされる。また、この判定回路14によつて発音
装置7を動作させることもできる。
なお、この測定値比較表示装置は、上記したデ
ジタル式のものに限定されるものではない。
ジタル式のものに限定されるものではない。
上記した実施例の説明から明らかなように、こ
の考案によれば、所定の基準値と、これに対する
パーセンテージとをダイヤル上で設定するだけ
で、自動的に演算がなされてその上限値と下限値
とが回路上にセツトされるため、特に品質管理な
どにおいて多数の電気的部品の良否をチエツクす
る場合、パーセンテージで指定される製品の許容
範囲をきわめて簡単にセツトすることができて実
用的である。
の考案によれば、所定の基準値と、これに対する
パーセンテージとをダイヤル上で設定するだけ
で、自動的に演算がなされてその上限値と下限値
とが回路上にセツトされるため、特に品質管理な
どにおいて多数の電気的部品の良否をチエツクす
る場合、パーセンテージで指定される製品の許容
範囲をきわめて簡単にセツトすることができて実
用的である。
第1図はこの考案によるデジタルコンパレータ
の外観図、第2図はそのブロツク線図である。 図中、1,2はダイヤルつまみ、3,4はデジ
タル表示器、5は設定値切替スイツチ、6は発光
表示器、9は演算回路、10,11は比較回路、
14は判定回路、15〜17は発光ダイオードで
ある。
の外観図、第2図はそのブロツク線図である。 図中、1,2はダイヤルつまみ、3,4はデジ
タル表示器、5は設定値切替スイツチ、6は発光
表示器、9は演算回路、10,11は比較回路、
14は判定回路、15〜17は発光ダイオードで
ある。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 測定データの基準値に対する許容範囲の上限値
と下限値とを設定するために設けられた第1およ
び第2の入力手段と、前記測定データを前記上限
値および下限値の各々と比較する比較回路と、こ
の比較回路の出力を判定する判定回路とを含む測
定値比較表示装置において、 前記第1の入力手段は前記基準値を入力し、前
記第2の入力手段は前記基準値に対する許容範囲
の百分率値を入力するようになつており、かつこ
れらの値から前記上限値および下限値を演算する
演算回路が設けられていることを特徴とする測定
値比較表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14539480U JPH02693Y2 (ja) | 1980-10-13 | 1980-10-13 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14539480U JPH02693Y2 (ja) | 1980-10-13 | 1980-10-13 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5768566U JPS5768566U (ja) | 1982-04-24 |
| JPH02693Y2 true JPH02693Y2 (ja) | 1990-01-09 |
Family
ID=29505037
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14539480U Expired JPH02693Y2 (ja) | 1980-10-13 | 1980-10-13 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH02693Y2 (ja) |
-
1980
- 1980-10-13 JP JP14539480U patent/JPH02693Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5768566U (ja) | 1982-04-24 |
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