JPH027034B2 - - Google Patents
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- JPH027034B2 JPH027034B2 JP6806584A JP6806584A JPH027034B2 JP H027034 B2 JPH027034 B2 JP H027034B2 JP 6806584 A JP6806584 A JP 6806584A JP 6806584 A JP6806584 A JP 6806584A JP H027034 B2 JPH027034 B2 JP H027034B2
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 90
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 15
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 27
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 7
- QNRATNLHPGXHMA-XZHTYLCXSA-N (r)-(6-ethoxyquinolin-4-yl)-[(2s,4s,5r)-5-ethyl-1-azabicyclo[2.2.2]octan-2-yl]methanol;hydrochloride Chemical compound Cl.C([C@H]([C@H](C1)CC)C2)CN1[C@@H]2[C@H](O)C1=CC=NC2=CC=C(OCC)C=C21 QNRATNLHPGXHMA-XZHTYLCXSA-N 0.000 description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 5
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/481—Constructional features, e.g. arrangements of optical elements
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は送出光と反射光とを用いて光学的に距
離を測定する光波距離計に関する。
離を測定する光波距離計に関する。
背景技術とその問題点
一般にこの種の光波距離計は、小型化のために
送光光学系と受光光学系とを同軸配置したものが
多い。送光量よりも反射光量が大巾に少ないの
で、大口径受光レンズ(対物レンズ)を必要と
し、従つて、送光光学系は対物レンズ鏡筒内に同
軸配置されるのが常である。
送光光学系と受光光学系とを同軸配置したものが
多い。送光量よりも反射光量が大巾に少ないの
で、大口径受光レンズ(対物レンズ)を必要と
し、従つて、送光光学系は対物レンズ鏡筒内に同
軸配置されるのが常である。
ところが光波距離計として、より長い測距性能
や測点に反射器を置かない直接測距性能力が要求
される場合、送光系の光源出力を大きくし、また
受光素子の感度を大にする必要が生ずる。
や測点に反射器を置かない直接測距性能力が要求
される場合、送光系の光源出力を大きくし、また
受光素子の感度を大にする必要が生ずる。
このような場合、受光光源の出力を強化する
と、対物レンズ内側面や鏡筒内面などを経てわず
かな機械内反射光が受光素子に迷光として受光さ
れ、測定値に大きな誤差が生ずる。また受光素子
の感度を上げると、受光素子が発光源からの電気
的誘導を受け易くなり、測定誤差の原因となる。
と、対物レンズ内側面や鏡筒内面などを経てわず
かな機械内反射光が受光素子に迷光として受光さ
れ、測定値に大きな誤差が生ずる。また受光素子
の感度を上げると、受光素子が発光源からの電気
的誘導を受け易くなり、測定誤差の原因となる。
一方、送受光同軸型の光波距離計として、送光
系と受光系とで対物レンズの像空間を光軸に沿つ
た面で二分したものが知られている。
系と受光系とで対物レンズの像空間を光軸に沿つ
た面で二分したものが知られている。
このタイプに視準望遠光学系を内蔵させる場
合、対物レンズを経て受光光学系に入射する外光
の一部を視準望遠鏡に割振ることになる。従つて
視準光学系の光軸が対物レンズの光軸と一致しな
いので、視準望遠鏡で見た像が歪み、また視準が
不正確となる問題がある。
合、対物レンズを経て受光光学系に入射する外光
の一部を視準望遠鏡に割振ることになる。従つて
視準光学系の光軸が対物レンズの光軸と一致しな
いので、視準望遠鏡で見た像が歪み、また視準が
不正確となる問題がある。
また送受光同軸型の光波距離計の他のタイプと
して、対物レンズの光軸に対して45゜を成す半透
鏡を設け、この半透鏡の透過路を例えば受光光路
としたものが知られている。
して、対物レンズの光軸に対して45゜を成す半透
鏡を設け、この半透鏡の透過路を例えば受光光路
としたものが知られている。
このタイプに視準望遠光学系を内蔵させる場合
には、半透鏡の後方に小径反射面を設けて対物レ
ンズに入射する外光の一部を視準光学系に導出す
るような構成となる。従つて半透鏡を通ることに
より、望遠鏡の視野が暗くなつたり、また像が歪
むことがある。半透鏡に視準光学系のための小孔
を開けたものも知られているが、製造が容易でな
く、コスト高となる。更に、このような半透鏡を
対物レンズの後方に設けて送受光学系を二分する
方式では、送受光学系が光学的に干渉し易く、従
つて高性能の光波距離計には適さない。
には、半透鏡の後方に小径反射面を設けて対物レ
ンズに入射する外光の一部を視準光学系に導出す
るような構成となる。従つて半透鏡を通ることに
より、望遠鏡の視野が暗くなつたり、また像が歪
むことがある。半透鏡に視準光学系のための小孔
を開けたものも知られているが、製造が容易でな
く、コスト高となる。更に、このような半透鏡を
対物レンズの後方に設けて送受光学系を二分する
方式では、送受光学系が光学的に干渉し易く、従
つて高性能の光波距離計には適さない。
発明の目的
本発明は上述の問題にかんがみ、送光光学系と
受光光学系との光学的及び電気的分離を確実に
し、より高性能で測距誤差が少ない光波距離計を
得ると共に、この光波距離計に簡単な構成で正確
な視準光学系を内蔵させることを目的とする。
受光光学系との光学的及び電気的分離を確実に
し、より高性能で測距誤差が少ない光波距離計を
得ると共に、この光波距離計に簡単な構成で正確
な視準光学系を内蔵させることを目的とする。
実施例
以下本発明の構成を実施例に基いて説明する。
第1図は本発明を適用した光波距離計の縦断面
図である。
図である。
第1図において、外筒1(本体鏡筒)内には大
口径の受光レンズ2が取付けられ、その後方光軸
上の焦点には受光素子3及び検出回路4が設けら
れている。受光レンズ2の前方における外筒1の
開口端には平行ガラス板5が嵌め込まれている。
この平行ガラス板5の内側面における光軸中心に
は、光軸に対して45度を成す斜面8を有する直角
プリズム6が貼付けられている。そして外筒1の
外側に設けられた送光部7からの送出光9が平行
ガラス板5と平行に直角プリズム6の斜面8に入
射され、全反射又は鏡面反射によつて直角に折り
曲げられて、平行ガラス板5を通して測定点に向
かつて導出される。
口径の受光レンズ2が取付けられ、その後方光軸
上の焦点には受光素子3及び検出回路4が設けら
れている。受光レンズ2の前方における外筒1の
開口端には平行ガラス板5が嵌め込まれている。
この平行ガラス板5の内側面における光軸中心に
は、光軸に対して45度を成す斜面8を有する直角
プリズム6が貼付けられている。そして外筒1の
外側に設けられた送光部7からの送出光9が平行
ガラス板5と平行に直角プリズム6の斜面8に入
射され、全反射又は鏡面反射によつて直角に折り
曲げられて、平行ガラス板5を通して測定点に向
かつて導出される。
送光部7は外筒1の側部に取付けられたハウジ
ング10内に収容されていて、送出光9の発光源
である発光素子11、その駆動回路12及びコリ
メータレンズ13を備えている。発光素子11か
らの光はコリメータレンズ13で平行光束に直さ
れ、外筒1に形成された孔14を介して前記の直
角プリズム6の斜面8に入射される。
ング10内に収容されていて、送出光9の発光源
である発光素子11、その駆動回路12及びコリ
メータレンズ13を備えている。発光素子11か
らの光はコリメータレンズ13で平行光束に直さ
れ、外筒1に形成された孔14を介して前記の直
角プリズム6の斜面8に入射される。
平行ガラス板5を通して測定点に向かつて導出
された送出光8は、測定点上の反射物に当たつて
反射される。反射光15は、平行ガラス板5を通
つて受光レンズ2に入射され、受光素子3に集光
される。受光素子3の光電変換出力は検出回路4
に入力され、位相検出によつて測定点までの距離
が算出される。
された送出光8は、測定点上の反射物に当たつて
反射される。反射光15は、平行ガラス板5を通
つて受光レンズ2に入射され、受光素子3に集光
される。受光素子3の光電変換出力は検出回路4
に入力され、位相検出によつて測定点までの距離
が算出される。
なお送光光路には絞り17が介在され、絞り調
整モータ18によつて駆動ギヤ19を介して絞り
17が回動されることにより、送出光の光量調整
が行われる。
整モータ18によつて駆動ギヤ19を介して絞り
17が回動されることにより、送出光の光量調整
が行われる。
以上の構成によれば、送光光学系と受光光学系
とが直交し、また受光レンズの前方に送光光学系
が位置するので、相互の光学的干渉を著しく減小
させることができる。つまり従来の受光レンズ2
の後方に送光光学系を配置した構成のように受光
レンズ2の内側面や外筒1の内側面からの反射光
が迷光(漏れ光)として受光素子3に入射するこ
とが無くなり、発光素子11の出力を増強する
か、或いは受光素子3の感度を上げることによ
り、測距限界を延長し、又分解能を高めることが
できる。
とが直交し、また受光レンズの前方に送光光学系
が位置するので、相互の光学的干渉を著しく減小
させることができる。つまり従来の受光レンズ2
の後方に送光光学系を配置した構成のように受光
レンズ2の内側面や外筒1の内側面からの反射光
が迷光(漏れ光)として受光素子3に入射するこ
とが無くなり、発光素子11の出力を増強する
か、或いは受光素子3の感度を上げることによ
り、測距限界を延長し、又分解能を高めることが
できる。
また受光部と送光部7とは夫々外筒1及びハウ
ジング10によつて電気的にも分離し得る。この
ため駆動回路12内のキヤリア発振器などからの
放射電界を遮へいすることができ、従つて受光素
子3及び検出回路4への電気的誘導を排除して、
より高出力の受光又はより高感度の受光が可能と
なる。
ジング10によつて電気的にも分離し得る。この
ため駆動回路12内のキヤリア発振器などからの
放射電界を遮へいすることができ、従つて受光素
子3及び検出回路4への電気的誘導を排除して、
より高出力の受光又はより高感度の受光が可能と
なる。
また送光部7を受光系外筒1外に配置している
ので、受光レンズ2の有効面積が送光部7の駆動
回路12等によつて妨害されて減少することが無
く、従つて従来と同じ光量の送出光を用いて受光
感度をより高めることが可能である。
ので、受光レンズ2の有効面積が送光部7の駆動
回路12等によつて妨害されて減少することが無
く、従つて従来と同じ光量の送出光を用いて受光
感度をより高めることが可能である。
しかも第1図のように送出光8の光束径を受光
レンズ径に対して十分に小さく絞り込むことが可
能である。これは測定点に反射プリズムを置かな
いような所謂ダイレクト測距の場合に有効であ
る。即ち、測定点に反射プリズムを置く場合に
は、反射光は送出光とほぼ同じ径の平行光束であ
るが、ダイレクト測距の場合には、第2図に示す
ように、被測定物20に当たつた平行送出光9
は、反射後に発散(乱反射)して反射光15とし
て受光レンズ2に入射する。従つて送出光8の光
束径を小さくして、被測定物20に当てる光エネ
ルギーの分散をより少なくすると共に、有効面積
の大きい受光レンズ2によつて発散した反射光1
5を効率良く集めることにより、高分解能のダイ
レクト測距が可能となる。
レンズ径に対して十分に小さく絞り込むことが可
能である。これは測定点に反射プリズムを置かな
いような所謂ダイレクト測距の場合に有効であ
る。即ち、測定点に反射プリズムを置く場合に
は、反射光は送出光とほぼ同じ径の平行光束であ
るが、ダイレクト測距の場合には、第2図に示す
ように、被測定物20に当たつた平行送出光9
は、反射後に発散(乱反射)して反射光15とし
て受光レンズ2に入射する。従つて送出光8の光
束径を小さくして、被測定物20に当てる光エネ
ルギーの分散をより少なくすると共に、有効面積
の大きい受光レンズ2によつて発散した反射光1
5を効率良く集めることにより、高分解能のダイ
レクト測距が可能となる。
反射光15が平行光束でないようなダイレクト
測距を行う場合、受光レンズ2と受光素子3との
間に介在させた補正レンズ21を調整することに
より、受光素子3の入射光量を最大にすることが
でき、よりS/Nの高い測距情報を得ることがで
きる。これは特に数m〜十数mの至近距離を測定
する場合に有効であつて、反射光15を受光レン
ズ2で収束させ、更に補正レンズ21の光軸方向
位置を調整することにより、受光素子3の光電変
換面において合焦させることができる。補正レン
ズ21は外筒1の外から位置調整可能になつてい
て、例えば受光レベルの表示器を見ながら調整操
作することにより、或いは予め機械的に距離目盛
を刻んだ位置に合わせることにより、合焦状態を
得ることができる。
測距を行う場合、受光レンズ2と受光素子3との
間に介在させた補正レンズ21を調整することに
より、受光素子3の入射光量を最大にすることが
でき、よりS/Nの高い測距情報を得ることがで
きる。これは特に数m〜十数mの至近距離を測定
する場合に有効であつて、反射光15を受光レン
ズ2で収束させ、更に補正レンズ21の光軸方向
位置を調整することにより、受光素子3の光電変
換面において合焦させることができる。補正レン
ズ21は外筒1の外から位置調整可能になつてい
て、例えば受光レベルの表示器を見ながら調整操
作することにより、或いは予め機械的に距離目盛
を刻んだ位置に合わせることにより、合焦状態を
得ることができる。
補正レンズ21は、視準望遠鏡の合焦調整部に
機械的に連動関係になつているのが望ましい。視
準望遠鏡は外筒1に沿つて外側に取付けられた鏡
筒23内に収容されている。この望遠鏡に外光を
導入するために、送受光系の平行ガラス板5の内
側面中心に貼付けられた直角プリズム6の斜面8
には、更にもう一つの直角プリズム24が貼付け
られている。この直角プリズム24を貼付けた場
合には、直角プリズム6の斜面8における全反射
性能が失われるので、この場合には、プリズム6
及び24の接合面である一方側の斜面8にコーテ
イングを施して斜面8を半透鏡として使用してい
る。コーテイング材としては、外部からの可視光
は通過するが、発光素子11(発光ダイオードや
半導体レーザなど)から放出される特定の波長の
光に対しては斜面8において95%以上の鏡面反射
が生ずるような材料が選ばれている。
機械的に連動関係になつているのが望ましい。視
準望遠鏡は外筒1に沿つて外側に取付けられた鏡
筒23内に収容されている。この望遠鏡に外光を
導入するために、送受光系の平行ガラス板5の内
側面中心に貼付けられた直角プリズム6の斜面8
には、更にもう一つの直角プリズム24が貼付け
られている。この直角プリズム24を貼付けた場
合には、直角プリズム6の斜面8における全反射
性能が失われるので、この場合には、プリズム6
及び24の接合面である一方側の斜面8にコーテ
イングを施して斜面8を半透鏡として使用してい
る。コーテイング材としては、外部からの可視光
は通過するが、発光素子11(発光ダイオードや
半導体レーザなど)から放出される特定の波長の
光に対しては斜面8において95%以上の鏡面反射
が生ずるような材料が選ばれている。
従つて測定点からの外光25は、平行ガラス板
5、プリズム6を通り、その斜面8のコーテイン
グ膜を透過し、更に直角プリズム24の反対側の
斜面26にて全反射され、外筒1に形成された孔
27を通して望遠鏡筒23の前端部に配設された
直角プリズム28に入射される。この直角プリズ
ム28で更に90度折り曲げられた外光は、望遠鏡
の対物レンズ29、正立レンズ30,31を通
り、接眼レンズ系32に導びかれる。
5、プリズム6を通り、その斜面8のコーテイン
グ膜を透過し、更に直角プリズム24の反対側の
斜面26にて全反射され、外筒1に形成された孔
27を通して望遠鏡筒23の前端部に配設された
直角プリズム28に入射される。この直角プリズ
ム28で更に90度折り曲げられた外光は、望遠鏡
の対物レンズ29、正立レンズ30,31を通
り、接眼レンズ系32に導びかれる。
接眼レンズ系32の一部のレンズ33は通常の
望遠鏡のように光軸方向に位置調整可能であり、
その調整により合焦状態を得て、光波距離計の光
軸を被測定物の測定中心点に正しく合わせること
ができる。
望遠鏡のように光軸方向に位置調整可能であり、
その調整により合焦状態を得て、光波距離計の光
軸を被測定物の測定中心点に正しく合わせること
ができる。
既述の如くにこの接眼レンズ系32のレンズ3
3の調整操作機構と受光系の補正レンズ21の調
整機構とを第1図の点線34で示すように機械的
に連動させることにより、非常に使い勝手のよい
距離計を得ることができる。即ち、視準望遠鏡の
接眼レンズ調整により被測定物に正しく視準させ
れば、受光光学系補正レンズ21も自動的にほぼ
合焦位置に移動され、受光素子3において最大感
度の受光を行うことができる。
3の調整操作機構と受光系の補正レンズ21の調
整機構とを第1図の点線34で示すように機械的
に連動させることにより、非常に使い勝手のよい
距離計を得ることができる。即ち、視準望遠鏡の
接眼レンズ調整により被測定物に正しく視準させ
れば、受光光学系補正レンズ21も自動的にほぼ
合焦位置に移動され、受光素子3において最大感
度の受光を行うことができる。
第1図の実施例に示す視準光学系によれば、視
準光学系の光軸と測定光学系の光軸とを一致させ
ることができるので、正確な視準が可能である。
また受光レンズ2の前方に視準光学系のためのプ
リズム24が置かれているから、受光光学系を妨
害することが少ない。つまり受光レンズ2の後方
に視準光学系のためのプリズムを置けば、入射外
光が受光レンズ2で収束された分だけ受光素子3
への妨害度は増えることになる。また視準光学系
に受光レンズ2(対物レンズ)が介在されないか
ら、視準像が歪むことが少ない。
準光学系の光軸と測定光学系の光軸とを一致させ
ることができるので、正確な視準が可能である。
また受光レンズ2の前方に視準光学系のためのプ
リズム24が置かれているから、受光光学系を妨
害することが少ない。つまり受光レンズ2の後方
に視準光学系のためのプリズムを置けば、入射外
光が受光レンズ2で収束された分だけ受光素子3
への妨害度は増えることになる。また視準光学系
に受光レンズ2(対物レンズ)が介在されないか
ら、視準像が歪むことが少ない。
更に、第1図の実施例では、上述の視準光学系
の直角プリズム24を利用して校正光路を構成し
ている。校正光学系は、測定点からの反射を介在
させずに発光源の光を鏡筒内において受光素子に
直接導入する光学系であつて、この校正光によ
り、装置内の光路長及び電気回路の位相変化に基
く測定誤差を除去する修正演算を行うことができ
る。
の直角プリズム24を利用して校正光路を構成し
ている。校正光学系は、測定点からの反射を介在
させずに発光源の光を鏡筒内において受光素子に
直接導入する光学系であつて、この校正光によ
り、装置内の光路長及び電気回路の位相変化に基
く測定誤差を除去する修正演算を行うことができ
る。
校正光路はハウジング10内において送光光路
に2回反射形の菱形プリズム36が介在されるこ
とによつて構成される。この菱形プリズム36は
回転シヤツター板37上に取付けられていて、測
距時には送出光9が回転シヤツター板37の孔を
透過し、また校正時にはシヤツターモータ38に
よつて回転シヤツター板37が回転されて、菱形
プリズム36が送光光路中に介在されるようにな
つている。
に2回反射形の菱形プリズム36が介在されるこ
とによつて構成される。この菱形プリズム36は
回転シヤツター板37上に取付けられていて、測
距時には送出光9が回転シヤツター板37の孔を
透過し、また校正時にはシヤツターモータ38に
よつて回転シヤツター板37が回転されて、菱形
プリズム36が送光光路中に介在されるようにな
つている。
校正時には、送光素子11からの光がコリメー
タレンズ8を経て菱形プリズム36に入射され、
2回反射によつて送光光軸に対して光路が平行移
動される。菱形プリズム36の出射光は、外筒1
に送光系の孔14に隣接して形成された孔39を
通して視準系の直角プリズム24の斜面26に入
射され、ここで90度折り曲げられてから受光レン
ズ2の光軸中心部を通して受光素子3に導びかれ
る。これにより装置内において発光素子11から
送光素子3に至る直接の校正光路40(点線)が
形成され、必要な校正演算を行うことができる。
タレンズ8を経て菱形プリズム36に入射され、
2回反射によつて送光光軸に対して光路が平行移
動される。菱形プリズム36の出射光は、外筒1
に送光系の孔14に隣接して形成された孔39を
通して視準系の直角プリズム24の斜面26に入
射され、ここで90度折り曲げられてから受光レン
ズ2の光軸中心部を通して受光素子3に導びかれ
る。これにより装置内において発光素子11から
送光素子3に至る直接の校正光路40(点線)が
形成され、必要な校正演算を行うことができる。
なお視準系の直角プリズム24の斜面26を反
射面として利用するために、斜面26にはコーテ
イングが施されている。視準光路では直角プリズ
ム24の斜面26を全反射面として利用している
から、斜面26のコーテイングが視準系に影響を
与えることはない。直角プリズム24の両斜面
8,26のコーテイング材は同種のものであつて
よい。
射面として利用するために、斜面26にはコーテ
イングが施されている。視準光路では直角プリズ
ム24の斜面26を全反射面として利用している
から、斜面26のコーテイングが視準系に影響を
与えることはない。直角プリズム24の両斜面
8,26のコーテイング材は同種のものであつて
よい。
この校正光路では、直角プリズム24を視準光
路と兼用しているから、構成が簡単であり、また
製造組立時の光路調整作業も容易である。また送
光系のコリメータレンズ13及び受光系の受光レ
ンズ2が共に校正光路に含まれるような構成であ
るから、校正光路が測定光学系の物理条件により
近くなり、従つて校正を正確にして測距精度を向
上させることができる。この結果、第1図の構成
において高出力発光素子11及び高感度受光素子
3を用いて測長限界を延ばしても、高い測距精度
を得ることができる。
路と兼用しているから、構成が簡単であり、また
製造組立時の光路調整作業も容易である。また送
光系のコリメータレンズ13及び受光系の受光レ
ンズ2が共に校正光路に含まれるような構成であ
るから、校正光路が測定光学系の物理条件により
近くなり、従つて校正を正確にして測距精度を向
上させることができる。この結果、第1図の構成
において高出力発光素子11及び高感度受光素子
3を用いて測長限界を延ばしても、高い測距精度
を得ることができる。
発明の効果
本発明は上述の如く、受光レンズの前方に平行
ガラス板を配置し、その内側面に光軸に対して45
度を成す小半透鏡を設けて、この小半透鏡に向か
つて測定光を導出するようにすると共に、上記小
半透鏡を透過した外光を90度折り曲げて視準望遠
光学系に導入するようにしたものである。この構
成により、送光光学系と受光光学系とを光学的及
び電気的にほぼ完全に分離できるから、迷光や電
気的誘導によつて測長誤差が増えることがなく、
従つて高出力発光素子や高感度受光素子を用い
て、測長距離がより長くしかも測長精度がより高
い光波路距離計が得られる。
ガラス板を配置し、その内側面に光軸に対して45
度を成す小半透鏡を設けて、この小半透鏡に向か
つて測定光を導出するようにすると共に、上記小
半透鏡を透過した外光を90度折り曲げて視準望遠
光学系に導入するようにしたものである。この構
成により、送光光学系と受光光学系とを光学的及
び電気的にほぼ完全に分離できるから、迷光や電
気的誘導によつて測長誤差が増えることがなく、
従つて高出力発光素子や高感度受光素子を用い
て、測長距離がより長くしかも測長精度がより高
い光波路距離計が得られる。
また受光レンズ(対物レンズ)の前方光軸上に
半透鏡面及び外光の折り曲げ用の鏡面を設けたの
で、送受光光学系の光軸と視準光学系の光軸とを
合致させた構造を容易に採用することができ、従
つて簡単な構造で正確な視準光学系が得られる。
また受光光学系の像空間が視準光学系及び受光光
学系によつて妨害される度合いも少ないから、受
光レンズの径を有効に使つてより高精度の測距を
行うことができる。
半透鏡面及び外光の折り曲げ用の鏡面を設けたの
で、送受光光学系の光軸と視準光学系の光軸とを
合致させた構造を容易に採用することができ、従
つて簡単な構造で正確な視準光学系が得られる。
また受光光学系の像空間が視準光学系及び受光光
学系によつて妨害される度合いも少ないから、受
光レンズの径を有効に使つてより高精度の測距を
行うことができる。
第1図は本発明の一実施例を示す光波距離計の
縦断面図、第2図は測定点における光路図であ
る。 なお図面に用いられた符号において、1……外
筒、2……受光レンズ、3……受光素子、4……
検出回路、5……平行ガラス板、6……直角プリ
ズム、7……送光部、8……斜面、9……送出
光、10……ハウジング、11……発光素子、1
3……コリメータレンズ、14……孔、15……
反射光、20……被測定物、21……補正レン
ズ、24……直角プリズム、25……外光、26
……斜面、29……対物レンズ、36……菱形プ
リズム、37……回転シヤツター板、40……校
正光路である。
縦断面図、第2図は測定点における光路図であ
る。 なお図面に用いられた符号において、1……外
筒、2……受光レンズ、3……受光素子、4……
検出回路、5……平行ガラス板、6……直角プリ
ズム、7……送光部、8……斜面、9……送出
光、10……ハウジング、11……発光素子、1
3……コリメータレンズ、14……孔、15……
反射光、20……被測定物、21……補正レン
ズ、24……直角プリズム、25……外光、26
……斜面、29……対物レンズ、36……菱形プ
リズム、37……回転シヤツター板、40……校
正光路である。
Claims (1)
- 1 受光レンズ及びその光軸焦点位置に置かれた
受光部を鏡筒内に収容して成る受光光学系と、上
記受光レンズの光軸前方において上記鏡筒の開口
端部に嵌め込まれた平行ガラス板と、この平行ガ
ラス板の内側の光軸中心において光軸に対して略
45度を成すように光軸前方に向けて付設された小
半透鏡と、上記鏡筒外から上記小半透鏡に向けて
送出光を導出して上記平行ガラス板を介して上記
送出光を対象物に送出するようにした送光光学系
と、上記平行ガラス板及び小半透鏡面を透過した
外光を略90度折り曲げて上記鏡筒外に導出する反
射面と、上記鏡筒外に導出された外光に基づいて
対象物を視準する望遠光学系とを具備する視準付
き光波距離計。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6806584A JPS60211381A (ja) | 1984-04-05 | 1984-04-05 | 視準付き光波距離計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6806584A JPS60211381A (ja) | 1984-04-05 | 1984-04-05 | 視準付き光波距離計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60211381A JPS60211381A (ja) | 1985-10-23 |
| JPH027034B2 true JPH027034B2 (ja) | 1990-02-15 |
Family
ID=13363000
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6806584A Granted JPS60211381A (ja) | 1984-04-05 | 1984-04-05 | 視準付き光波距離計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60211381A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5208642A (en) * | 1992-04-29 | 1993-05-04 | Optec Co. Ltd. | Electro-optical distance meter |
| JP2002267442A (ja) * | 2001-03-07 | 2002-09-18 | Sokkia Co Ltd | 半導体レーザ測距装置 |
-
1984
- 1984-04-05 JP JP6806584A patent/JPS60211381A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60211381A (ja) | 1985-10-23 |
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