JPH027292A - Eepromのワードラインを荷電する回路 - Google Patents
Eepromのワードラインを荷電する回路Info
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- JPH027292A JPH027292A JP1011749A JP1174989A JPH027292A JP H027292 A JPH027292 A JP H027292A JP 1011749 A JP1011749 A JP 1011749A JP 1174989 A JP1174989 A JP 1174989A JP H027292 A JPH027292 A JP H027292A
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- 238000009825 accumulation Methods 0.000 claims 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 18
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 2
- 101100521334 Mus musculus Prom1 gene Proteins 0.000 description 1
- 230000037303 wrinkles Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/10—Programming or data input circuits
- G11C16/12—Programming voltage switching circuits
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/08—Address circuits; Decoders; Word-line control circuits
Landscapes
- Read Only Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業−にの利用分野
本発明は、一般に、プログラム式のメモリに係り、より
詳細には、低い電圧レベルで動作することのできるプロ
グラミング回路に係る。
詳細には、低い電圧レベルで動作することのできるプロ
グラミング回路に係る。
従来の技術
P ROMやEEPROMのような電気メモリをプログ
ラミングする場合には、20ボルト程度のプログラミン
グ電圧が必要である。F ROM装置の場合には、外部
電源が使用される。然し乍ら、ErE P ROMのプ
ログラミングは、典型的に5ボルトのチップ作動電圧を
使用し、チップ内の高電圧発生回路が所要のプログラミ
ング電圧を発生するようにして行なわれる。プログラミ
ング作動モードにおいては、電荷ポンプを用いることに
より、選択されたワードラインが順次にプログラミング
電圧レベルに上昇される。これについては、ブラームハ
ット氏の[低電力デコーダ回路(I、Ovk・POll
IerDecoder C1rcuit)」と題する米
国特許第4,442.481号、及びガプタ氏の「半導
体メモリアレイにおいてワードラインにプログラミング
電圧を供給する電荷ポンプ(Charge Pump
for Providing Programming
Voltage to the Word Llne
s ina Sem1conductor Memor
y Array) J と題する米国特許筒4,511
,811号を参照されたい。
ラミングする場合には、20ボルト程度のプログラミン
グ電圧が必要である。F ROM装置の場合には、外部
電源が使用される。然し乍ら、ErE P ROMのプ
ログラミングは、典型的に5ボルトのチップ作動電圧を
使用し、チップ内の高電圧発生回路が所要のプログラミ
ング電圧を発生するようにして行なわれる。プログラミ
ング作動モードにおいては、電荷ポンプを用いることに
より、選択されたワードラインが順次にプログラミング
電圧レベルに上昇される。これについては、ブラームハ
ット氏の[低電力デコーダ回路(I、Ovk・POll
IerDecoder C1rcuit)」と題する米
国特許第4,442.481号、及びガプタ氏の「半導
体メモリアレイにおいてワードラインにプログラミング
電圧を供給する電荷ポンプ(Charge Pump
for Providing Programming
Voltage to the Word Llne
s ina Sem1conductor Memor
y Array) J と題する米国特許筒4,511
,811号を参照されたい。
EEPROM装置をバッテリソースから動作することが
所望されるようになってきた。然し乍ら、バッチリソー
スから得られるのは、5ボルトのVccではなくて約2
.2ボルトのVccに過ぎない。低いVccを用いた場
合、回路の動作は禁11.されないが、EEPROM装
置のプログラミング(電荷ボンピング)は影響を受ける
。前記ブラームハット及びガプタ氏の特許に開示された
装置の場合、エンハンスメントモードのトランジスタが
使用され、このようなトランジスタはスレッシュホール
ド電圧が約1.5ボルトである。2つのこのようなトラ
ンジスタがVpp回路に直列に効果的に接続され、従っ
て、動作には少なくとも3ボルトを必要とし、これは、
バッテリ電源を用いて得られる2、2ボルトよりもかな
り上である。
所望されるようになってきた。然し乍ら、バッチリソー
スから得られるのは、5ボルトのVccではなくて約2
.2ボルトのVccに過ぎない。低いVccを用いた場
合、回路の動作は禁11.されないが、EEPROM装
置のプログラミング(電荷ボンピング)は影響を受ける
。前記ブラームハット及びガプタ氏の特許に開示された
装置の場合、エンハンスメントモードのトランジスタが
使用され、このようなトランジスタはスレッシュホール
ド電圧が約1.5ボルトである。2つのこのようなトラ
ンジスタがVpp回路に直列に効果的に接続され、従っ
て、動作には少なくとも3ボルトを必要とし、これは、
バッテリ電源を用いて得られる2、2ボルトよりもかな
り上である。
発明の構成
そこで、本発明の目的は、2.2ボルト程度の低いVc
cを供給するバッチリソースから作動することのできる
EEPROM装置を提供することである。
cを供給するバッチリソースから作動することのできる
EEPROM装置を提供することである。
本発明の特徴は、E E P ROMの電荷ポンプ回路
にネーティブモードのトランジスタを使用したことにあ
る。
にネーティブモードのトランジスタを使用したことにあ
る。
本発明の別の特徴は、電荷ポンプ回路のネーティブモー
ドのトランジスタと共に使用するバイアス手段であっ゛
て、そのネーティブモードのトランジスタが空乏モード
で作動するのを防止するようなバイアス手段にある。
ドのトランジスタと共に使用するバイアス手段であっ゛
て、そのネーティブモードのトランジスタが空乏モード
で作動するのを防止するようなバイアス手段にある。
簡単に述べると、アドレス回路によってプログラミング
のために作動されるワードラインは、第1及び第2の直
列接続されたネーティブモードのトランジスタ(即ち、
約Oボルトのスレッシュホールド)を通して、プログラ
ミング電圧Vppに接続される。第1トランジスタの端
子はワードラインに接続され、第2トランジスタの端子
はプログラミング電圧に接続され、そして第1及び第2
トランジスタの共通の端子は、これら第1及び第2トラ
ンジスタが空乏モードで作動するのを防止するようにバ
イアスされる。第1及び第2トランジスタのゲートは、
電荷ポンプキャパシタの一方の端子(電荷ポンプノード
)に接続され、該電荷ポンプキャパシタの他方の端子は
クロック電圧に接続される。作動されたワードラインは
、このワードラインかはゾ電荷ポンプキャパシタの一方
の端子の電圧になるまで第1及び第2のトランジスタを
通して増分的に荷電される。
のために作動されるワードラインは、第1及び第2の直
列接続されたネーティブモードのトランジスタ(即ち、
約Oボルトのスレッシュホールド)を通して、プログラ
ミング電圧Vppに接続される。第1トランジスタの端
子はワードラインに接続され、第2トランジスタの端子
はプログラミング電圧に接続され、そして第1及び第2
トランジスタの共通の端子は、これら第1及び第2トラ
ンジスタが空乏モードで作動するのを防止するようにバ
イアスされる。第1及び第2トランジスタのゲートは、
電荷ポンプキャパシタの一方の端子(電荷ポンプノード
)に接続され、該電荷ポンプキャパシタの他方の端子は
クロック電圧に接続される。作動されたワードラインは
、このワードラインかはゾ電荷ポンプキャパシタの一方
の端子の電圧になるまで第1及び第2のトランジスタを
通して増分的に荷電される。
電荷ポンプキャパシタの電荷ポンプノード、即ち一方の
端子は、第3及び第4の直列接続されたネーティブモー
ドのトランジスタを通してプログラミング電圧に接続さ
れる。第3トランジスタの端子は電荷ポンプキャパシタ
に接続され、第4トランジスタの端子はプログラミング
電圧に接続され、そして第3及び第4トランジスタの共
通の端子は、これら第3及び第4トランジスタが空乏モ
ードで作動するのを防止するようにバイアスされる。第
3及び第4トランジスタのゲートは、ワードラインに接
続されていて、電荷ポンプキャパシタの一方の端子かは
S゛ワードライン電圧まで周期的に荷電されるようにな
っている。その後、クロックが高レベルになったときに
、キャパシタの一方の端子の電荷が、2.2ボルト程度
の電圧だけワードライン電圧よりも」二昇即ちポンプさ
れる。この上昇された電圧は第1及び第2トランジスタ
のゲートに接続され、これにより、トランジスタを導通
させ、そしてワードラインを電荷ポンプキャパシタの一
方の端子の電圧にはS゛等しい値まで増分的に荷電させ
る。
端子は、第3及び第4の直列接続されたネーティブモー
ドのトランジスタを通してプログラミング電圧に接続さ
れる。第3トランジスタの端子は電荷ポンプキャパシタ
に接続され、第4トランジスタの端子はプログラミング
電圧に接続され、そして第3及び第4トランジスタの共
通の端子は、これら第3及び第4トランジスタが空乏モ
ードで作動するのを防止するようにバイアスされる。第
3及び第4トランジスタのゲートは、ワードラインに接
続されていて、電荷ポンプキャパシタの一方の端子かは
S゛ワードライン電圧まで周期的に荷電されるようにな
っている。その後、クロックが高レベルになったときに
、キャパシタの一方の端子の電荷が、2.2ボルト程度
の電圧だけワードライン電圧よりも」二昇即ちポンプさ
れる。この上昇された電圧は第1及び第2トランジスタ
のゲートに接続され、これにより、トランジスタを導通
させ、そしてワードラインを電荷ポンプキャパシタの一
方の端子の電圧にはS゛等しい値まで増分的に荷電させ
る。
1つの実施例において、上記バイアス手段は、ネーテイ
ブ即ちエンハンスメントモードのトランジスタ装置ダイ
オードを含んでおり、これらダイオードは、第1及び第
2トランジスタと第3及び第4トランジスタの共通の端
子にVccを接続し、ワードラインがプログラムされな
いときにこれらトランジスタが空乏モードで作動するの
を防止し、ひいては、アースされた非選択のワードライ
ンにvppが短絡するのを防止する。
ブ即ちエンハンスメントモードのトランジスタ装置ダイ
オードを含んでおり、これらダイオードは、第1及び第
2トランジスタと第3及び第4トランジスタの共通の端
子にVccを接続し、ワードラインがプログラムされな
いときにこれらトランジスタが空乏モードで作動するの
を防止し、ひいては、アースされた非選択のワードライ
ンにvppが短絡するのを防止する。
本発明、その目的及び特徴は、添付図面を参照した以下
の詳細な説明から容易に明らかとなろう。
の詳細な説明から容易に明らかとなろう。
実施例
第1図は、本発明によるプログラミング回路の1つの実
施例を示す電気回路図である。ワードライン10は、1
2で一般的に示すデコード回路によってプログラミング
するために選択される。
施例を示す電気回路図である。ワードライン10は、1
2で一般的に示すデコード回路によってプログラミング
するために選択される。
デコード回路は、前記のブラームハット及びガプタ氏の
特許に開示されたような従来のものであり、選択されな
かったワードラインはアースされ、そして選択されたワ
ードラインは、プログラミング電圧Vl)l)まで荷電
できるようにされる。ワードラインのキャパシタンスC
Wl、は、破線で示されている。プログラミング電圧は
EEPROM内の通常の回路によって発生され、該回路
の供給電圧Vccから導出される。この回路のキャパシ
タCにまたがってプログラミングクロックが加えられる
。キャパシタCは、エンハンスメントモードのトランジ
スタ即ちネーティブなトランジスタである。
特許に開示されたような従来のものであり、選択されな
かったワードラインはアースされ、そして選択されたワ
ードラインは、プログラミング電圧Vl)l)まで荷電
できるようにされる。ワードラインのキャパシタンスC
Wl、は、破線で示されている。プログラミング電圧は
EEPROM内の通常の回路によって発生され、該回路
の供給電圧Vccから導出される。この回路のキャパシ
タCにまたがってプログラミングクロックが加えられる
。キャパシタCは、エンハンスメントモードのトランジ
スタ即ちネーティブなトランジスタである。
ネーテイブなトランジスタTI及びT2は、ワードライ
ン10とプログラミング電圧■ppとの間に直列に接続
されそしてトランジスタT3及びT4はキャパシタCの
一方の端子とプログラミング電圧Vppとの間に直列に
接続される。トランジスタTI及びT2のゲートはキャ
パシタCの電荷ポンプ端子に接続され、そしてトランジ
スタT3及びT 4のゲートはワードライン10に接続
され°Cいる。エンハンスメントモードのトランジスタ
T5はキャパシタCの電荷ポンプ端子とワードラインI
Oとの間に接続され、ワードラインがプログラミング電
位vppまで荷電されな゛かったときに蓄積電荷を放出
し尽くす。
ン10とプログラミング電圧■ppとの間に直列に接続
されそしてトランジスタT3及びT4はキャパシタCの
一方の端子とプログラミング電圧Vppとの間に直列に
接続される。トランジスタTI及びT2のゲートはキャ
パシタCの電荷ポンプ端子に接続され、そしてトランジ
スタT3及びT 4のゲートはワードライン10に接続
され°Cいる。エンハンスメントモードのトランジスタ
T5はキャパシタCの電荷ポンプ端子とワードラインI
Oとの間に接続され、ワードラインがプログラミング電
位vppまで荷電されな゛かったときに蓄積電荷を放出
し尽くす。
ネーティブトランジスタT1ないしT4には小さな電圧
降下があるので(温度によって0.2ないし0.7ボル
ト程度)、これらトランジスタはVccが+2ボルト程
度であるときでも荷電回路において動作することができ
る。というのは、直列接続された一対のトランジスタ間
に生じる電圧降下は0.4ないし1.4ボルトだからで
ある。
降下があるので(温度によって0.2ないし0.7ボル
ト程度)、これらトランジスタはVccが+2ボルト程
度であるときでも荷電回路において動作することができ
る。というのは、直列接続された一対のトランジスタ間
に生じる電圧降下は0.4ないし1.4ボルトだからで
ある。
ネーティブトランジスタを電荷ポンプ回路に使用する場
合の潜在的な問題は、トランジスタが空乏モードで作動
することがあり、従って、選択されなかったワードライ
ンとVl)l)との間に短絡が生じることである。本発
明の1つの特徴によれば、ネーティブトランジスタのこ
のような空乏モードの動作を防止するために電圧バイア
ス手段が設けられている。これは、Vccをネーティブ
トランジスタダイオードを通してトランジスタT1及び
T2の共通の端子と、トランジスタT3及びT4の共通
の端子とに接続することによって達成される。
合の潜在的な問題は、トランジスタが空乏モードで作動
することがあり、従って、選択されなかったワードライ
ンとVl)l)との間に短絡が生じることである。本発
明の1つの特徴によれば、ネーティブトランジスタのこ
のような空乏モードの動作を防止するために電圧バイア
ス手段が設けられている。これは、Vccをネーティブ
トランジスタダイオードを通してトランジスタT1及び
T2の共通の端子と、トランジスタT3及びT4の共通
の端子とに接続することによって達成される。
従って、ワードライン10がアースされたときには、ト
ランジスタT2及びT4がオンになることができず、こ
れにより、VpI)がワードラインに短絡されることも
ないしキャパシタCの一方の端子に印加されることもな
い。 トランジスタT6及びT7は、ネーティブ装置と
いうよりもむしろエンハンスメントモード装置であり、
これは、ネーティブトランジスタがトランジスタソース
のVccで空乏モードになるという問題を解消するもの
である。
ランジスタT2及びT4がオンになることができず、こ
れにより、VpI)がワードラインに短絡されることも
ないしキャパシタCの一方の端子に印加されることもな
い。 トランジスタT6及びT7は、ネーティブ装置と
いうよりもむしろエンハンスメントモード装置であり、
これは、ネーティブトランジスタがトランジスタソース
のVccで空乏モードになるという問題を解消するもの
である。
プログラミングモード中には、ワードライン10がVp
I)のプログラミング電荷を発生することができる。キ
ャパシタCはトランジスタT1及びT 2のゲートをバ
イアスし、これにより、ワードライン10は該ライン上
に全プログラミング電荷が発生するまでVppからの電
荷を増分的に受けられるようにされる。クロックが高レ
ベルであるときには、電圧VccがキャパシタC間に印
加され、ノード14の電圧をはゾ増分Vccだけワード
ライン10上の電圧より高くポンプアップする。これに
より、トランジスタT】及びT 2がオンにされ、ワー
ドライン10に電荷を供給する。やがて、これらトラン
ジスタのゲート/ソース電圧Vgsがこれらトランジス
タのスレッシュホールドに等しいか又はそれより小さく
なり、トランジスタがオフに切り換えられる。その後、
クロックがオフになった状態で、ワードライン10の電
圧がトランジスタT3及びT4のゲートに印加され、こ
れらトランジスタを導通させる。vppからの電荷がノ
ード14に加えられ、ノード14をはシワ−ドライン1
0の電圧まで上昇させる。その後、高レベルになったと
きに、ノード14上の電圧が再び増分vccだけポンプ
アップされ、従って、再びトランジスタT1及びT2を
導通させ、ワードライン10上の電圧をはゾ増分Vcc
だけ増加させる。ワードライン及びノード14のこの増
分的な荷電は、ワードライン10上に全プログラミング
電圧vppが発生されるまで続く。このとき、ワードラ
イン及びビットラインによって選択されたEEPROM
セルをプログラミングすることができる。
I)のプログラミング電荷を発生することができる。キ
ャパシタCはトランジスタT1及びT 2のゲートをバ
イアスし、これにより、ワードライン10は該ライン上
に全プログラミング電荷が発生するまでVppからの電
荷を増分的に受けられるようにされる。クロックが高レ
ベルであるときには、電圧VccがキャパシタC間に印
加され、ノード14の電圧をはゾ増分Vccだけワード
ライン10上の電圧より高くポンプアップする。これに
より、トランジスタT】及びT 2がオンにされ、ワー
ドライン10に電荷を供給する。やがて、これらトラン
ジスタのゲート/ソース電圧Vgsがこれらトランジス
タのスレッシュホールドに等しいか又はそれより小さく
なり、トランジスタがオフに切り換えられる。その後、
クロックがオフになった状態で、ワードライン10の電
圧がトランジスタT3及びT4のゲートに印加され、こ
れらトランジスタを導通させる。vppからの電荷がノ
ード14に加えられ、ノード14をはシワ−ドライン1
0の電圧まで上昇させる。その後、高レベルになったと
きに、ノード14上の電圧が再び増分vccだけポンプ
アップされ、従って、再びトランジスタT1及びT2を
導通させ、ワードライン10上の電圧をはゾ増分Vcc
だけ増加させる。ワードライン及びノード14のこの増
分的な荷電は、ワードライン10上に全プログラミング
電圧vppが発生されるまで続く。このとき、ワードラ
イン及びビットラインによって選択されたEEPROM
セルをプログラミングすることができる。
第2図は、トランジスタの良好な作動余裕を与える別の
実施例の回路図である。この回路は、第1図の回路と同
様であり、そして同様の素子は、同じ参照番号で示され
ている。この実施例においては、バイアストランジスタ
T6及び′「7のゲート電圧がワードラインからインバ
ータ20を経て供給される。従って、ワードラインがア
ースされたときには、トランジスタT6及びT7が導通
され、トランジスタT2及びT4の空乏モード動作を防
止するためのバイアス電圧を発生する。然し乍ら、選択
されたワードライン10の場合には、インバータ20の
出力が○V OHであり、トランジスタT6及びT7に
対する負のソース/ゲートバイアスを与え、これにより
、トランジスタを非導通にさせる。
実施例の回路図である。この回路は、第1図の回路と同
様であり、そして同様の素子は、同じ参照番号で示され
ている。この実施例においては、バイアストランジスタ
T6及び′「7のゲート電圧がワードラインからインバ
ータ20を経て供給される。従って、ワードラインがア
ースされたときには、トランジスタT6及びT7が導通
され、トランジスタT2及びT4の空乏モード動作を防
止するためのバイアス電圧を発生する。然し乍ら、選択
されたワードライン10の場合には、インバータ20の
出力が○V OHであり、トランジスタT6及びT7に
対する負のソース/ゲートバイアスを与え、これにより
、トランジスタを非導通にさせる。
この解決策の利点は、ネイティブ装置1゛2が空乏モー
ドで作動するときにはトランジスタT6もそのようにな
り、そしてワードラインがプログラミングに選択されな
いときにはトランジスタTl及びT2の共通のノードに
全Vcc電圧が印加されてトランジスタT 2を非導通
にす゛ることである。
ドで作動するときにはトランジスタT6もそのようにな
り、そしてワードラインがプログラミングに選択されな
いときにはトランジスタTl及びT2の共通のノードに
全Vcc電圧が印加されてトランジスタT 2を非導通
にす゛ることである。
ワードラインがプログラミングに選択されたときには、
インバータ2oを経て印加されるバイアス電圧がゼロボ
ルトに達し、トランジスタ′「5を非導通にする助けを
する。然し乍ら、トランジスタT2がエンハンスメント
モードで作動するときには、トランジスタT1及びT2
の共通のノードにより低い電圧しか必要とされず、それ
故、たとえネーティブトランジスタT5がある程度の電
圧を失う場合でも、偶発的な導通が生じることはない。
インバータ2oを経て印加されるバイアス電圧がゼロボ
ルトに達し、トランジスタ′「5を非導通にする助けを
する。然し乍ら、トランジスタT2がエンハンスメント
モードで作動するときには、トランジスタT1及びT2
の共通のノードにより低い電圧しか必要とされず、それ
故、たとえネーティブトランジスタT5がある程度の電
圧を失う場合でも、偶発的な導通が生じることはない。
第3図は、第2図の変形を示す本発明の別の実施例の回
路図である。この場合も、同様の素子が同じ参照番号で
示されている。この実施例では、ドレイントランジスタ
T5がネイティブなトランジスタであり、そのゲートは
、第2図のトランジスタT5及びT6の場合と同様にワ
ードラインlOからインバータ20を経てバイアス電圧
を受は取るように接続される。
路図である。この場合も、同様の素子が同じ参照番号で
示されている。この実施例では、ドレイントランジスタ
T5がネイティブなトランジスタであり、そのゲートは
、第2図のトランジスタT5及びT6の場合と同様にワ
ードラインlOからインバータ20を経てバイアス電圧
を受は取るように接続される。
本発明の更に別の実施例(図示せず)においては、トラ
ンジスタTI及びT2の共通のノードをトランジスタT
3及びT4の共通のノードと接続することによりトラン
ジスタT6又はトランジスタT7のいずれかを除去する
ことができる。然し乍ら、トランジスタT3が空乏モー
ドで作動する場合には潜在的な問題が発生する。という
のは、14の接続電圧がトランジスタT3及びT4の共
通のノードに達し、ひいては、トランジスタTI及びT
2の共通のノードに達するからである。これにより、ト
ランジスタT2がオフになり、このスイッチ作用によっ
て動作が停止する。
ンジスタTI及びT2の共通のノードをトランジスタT
3及びT4の共通のノードと接続することによりトラン
ジスタT6又はトランジスタT7のいずれかを除去する
ことができる。然し乍ら、トランジスタT3が空乏モー
ドで作動する場合には潜在的な問題が発生する。という
のは、14の接続電圧がトランジスタT3及びT4の共
通のノードに達し、ひいては、トランジスタTI及びT
2の共通のノードに達するからである。これにより、ト
ランジスタT2がオフになり、このスイッチ作用によっ
て動作が停止する。
以上、EEPROM装置を低い作動電圧Vccでプログ
ラミングするのに用いる改良されたプログラミングスイ
ッチについて説明した。特定の実施例について本発明を
説明したが、これは本発明を解説するものに過ぎず、本
発明をこれに限定するものではない。特許請求の範囲に
規定した本発明の精神及び範囲から逸脱せずに種々の変
更や修正がなされ得ることが当業者に明らかであろう。
ラミングするのに用いる改良されたプログラミングスイ
ッチについて説明した。特定の実施例について本発明を
説明したが、これは本発明を解説するものに過ぎず、本
発明をこれに限定するものではない。特許請求の範囲に
規定した本発明の精神及び範囲から逸脱せずに種々の変
更や修正がなされ得ることが当業者に明らかであろう。
第1図は、本発明の一実施例により構成されたEEPR
OM装置及びプログラミングスイッチの電気回路図、 第2図は、本発明の別の実施例により構成されたEEP
ROM装置及びプログラミングスイッチの電気回路図、
そして 第3図は、本発明の更に別の実施例により構成されたE
EPROM装置及びプログラミングスイッチの電気回路
図である。 10・・・ワードライン 12・・・デコード回路 T1〜T7・・・トランジスタ
OM装置及びプログラミングスイッチの電気回路図、 第2図は、本発明の別の実施例により構成されたEEP
ROM装置及びプログラミングスイッチの電気回路図、
そして 第3図は、本発明の更に別の実施例により構成されたE
EPROM装置及びプログラミングスイッチの電気回路
図である。 10・・・ワードライン 12・・・デコード回路 T1〜T7・・・トランジスタ
Claims (6)
- (1)EEPROM装置のワードラインを荷電する回路
において、 ワードラインと、 上記ワードラインに作動的に接続されたデコード手段で
あって、上記ワードラインがプログラミングに選択され
ないときには上記ワードライン上の電荷の蓄積を防止し
そして上記ワードラインがプログラミングに選択された
ときには上記ワードライン上の電荷の蓄積を許容するた
めのデコーダ手段と、 プログラミング電圧(Vpp)のソースと、クロック電
圧電圧のソースと、 第1及び第2の端子を有していて、上記第1の端子が上
記クロック電圧ソースに接続されそして上記第2の端子
が電荷ポンプノードを画成するような容量手段と、 上記プログラミング電圧のソースと上記ワードラインと
の間に直列に接続された第1及び第2のネイテイブな電
界効果トランジスタであって、これら第1及び第2のト
ランジスタは共通の端子を有していると共に、各トラン
ジスタがゲート電極を有しているような電界効果トラン
ジスタと、上記電荷ポンプノードを上記第1及び第2の
トランジスタの上記ゲート電極に接続する手段と、上記
プログラミング電圧のソースと上記電荷ポンプノードと
の間に直列に接続された第3及び第4のネイティブな電
界効果トランジスタであって、これら第3及び第4のト
ランジスタは共通の端子を有していると共にその各々が
ゲート電極を有しているような電界効果トランジスタと
、上記ワードラインを上記第3及び第4トランジスタの
ゲート電極に接続する手段と、 上記第1及び第2トランジスタの共通の端子と、上記第
3及び第4トランジスタの共通の端子とに接続されて、
上記ワードラインが選択されなかったときに上記トラン
ジスタの導通を防止するためのバイアス手段とを具備す
ることを特徴とする回路。 - (2)上記バイアス手段は、電圧(Vcc)と上記第1
及び第2のトランジスタの共通の端子との間に接続され
た第5のネイティブトランジスタダイオードと、電圧(
Vcc)と上記第3及び第4のトランジスタの共通の端
子との間に接続された第6のネイティブトランジスタダ
イオードとを備えている請求項1に記載の回路。 - (3)上記ワードラインが選択されないときに上記電荷
ポンプノードの電荷を消散するために上記ワードライン
と上記電荷ポンプノードとの間に接続されたトランジス
タ手段を更に備えた請求項1に記載の回路。 - (4)電荷ポンプノードを使用してプログラム電圧ソー
スからワードラインに増分的にプログラミング電圧を発
生するEEPROM装置のための電荷ポンプ回路におい
て、可変回路電圧Vccで動作できるスイッチが、 上記プログラミング電圧のソースと上記ワードラインと
の間に直列に接続された第1及び第2のネイティブな電
界効果トランジスタであって、これら第1及び第2のト
ランジスタは共通の端子を有していると共に、各トラン
ジスタがゲート電極を有しているような電界効果トラン
ジスタと、上記電荷ポンプノードを上記第1及び第2の
トランジスタの上記ゲート電極に接続する手段と、上記
プログラミング電圧のソースと上記電荷ポンプノードと
の間に直列に接続された第3及び第4のネイティブな電
界効果トランジスタであって、これら第3及び第4のト
ランジスタは共通の端子を有していると共にその各々が
ゲート電極を有しているような電界効果トランジスタと
、上記ワードラインを上記第3及び第4トランジスタの
ゲート端子に接続する手段と、 上記第1及び第2トランジスタの共通の端子と、上記第
3及び第4トランジスタの共通の端子とに接続されて、
上記ワードラインが選択されなかったときに上記トラン
ジスタの導通を防止するためのバイアス手段とを具備す
ることを特徴とするスイッチ。 - (5)上記バイアス手段は、電圧(Vcc)と上記第1
及び第2のトランジスタの共通の端子との間に接続され
た第5のネイティブトランジスタダイオードと、電圧(
Vcc)と上記第3及び第4のトランジスタの共通の端
子との間に接続された第6のネイティブトランジスタダ
イオードとを備えている請求項4に記載のスイッチ。 - (6)上記バイアス手段は、電圧(Vcc)と上記第1
及び第2トランジスタの共通の端子との間に接続された
エンハンスメントモードのトランジスタダイオードと、
電圧(Vcc)と上記第3及び第4トランジスタの共通
の端子との間に接続された第7のエンハンスメントモー
ドトランジスタダイオードとを備えている請求項4に記
載のスイッチ。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US146048 | 1988-01-20 | ||
| US07/146,048 US4831589A (en) | 1988-01-20 | 1988-01-20 | EEPROM programming switch operable at low VCC |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH027292A true JPH027292A (ja) | 1990-01-11 |
| JP2723946B2 JP2723946B2 (ja) | 1998-03-09 |
Family
ID=22515651
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1174989A Expired - Lifetime JP2723946B2 (ja) | 1988-01-20 | 1989-01-20 | Eepromのワードラインを荷電する回路 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4831589A (ja) |
| JP (1) | JP2723946B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5196739A (en) * | 1991-04-03 | 1993-03-23 | National Semiconductor Corporation | High voltage charge pump |
| US5666309A (en) * | 1995-11-17 | 1997-09-09 | Advanced Micro Devices, Inc. | Memory cell for a programmable logic device (PLD) avoiding pumping programming voltage above an NMOS threshold |
| US5682348A (en) * | 1996-04-09 | 1997-10-28 | Myson Technology, Inc. | Programming switch for non-volatile memory |
| US6069825A (en) * | 1998-09-16 | 2000-05-30 | Turbo Ic, Inc. | Charge pump for word lines in programmable semiconductor memory array |
| JP4421009B2 (ja) * | 1999-06-02 | 2010-02-24 | 株式会社東芝 | 強誘電体メモリ |
| US7710767B2 (en) * | 2005-01-25 | 2010-05-04 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Memory cell array biasing method and a semiconductor memory device |
| US7626865B2 (en) * | 2006-06-13 | 2009-12-01 | Micron Technology, Inc. | Charge pump operation in a non-volatile memory device |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4751678A (en) * | 1985-11-12 | 1988-06-14 | Motorola, Inc. | Erase circuit for CMOS EEPROM |
-
1988
- 1988-01-20 US US07/146,048 patent/US4831589A/en not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-01-20 JP JP1174989A patent/JP2723946B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2723946B2 (ja) | 1998-03-09 |
| US4831589A (en) | 1989-05-16 |
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