JPH0274050A - 検査装置 - Google Patents
検査装置Info
- Publication number
- JPH0274050A JPH0274050A JP63227224A JP22722488A JPH0274050A JP H0274050 A JPH0274050 A JP H0274050A JP 63227224 A JP63227224 A JP 63227224A JP 22722488 A JP22722488 A JP 22722488A JP H0274050 A JPH0274050 A JP H0274050A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test head
- air cylinder
- air
- solenoid
- turned
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、テストヘッドを回転移動することができる検
査装置に関する。
査装置に関する。
(従来の技術)
例えば、半導体ウニの検査装置では、プローブ装置にて
半導体ウェハ上の各チップの電極バッドにプローブ針等
を接触させ、一方、テスタから上記グローブ針を介して
各チップに測定パターンを付与し、この各チップからの
出カバターンをテスタにてモニタすることで、半導体ウ
ェハ上の各チップの電気的特性の検査を実行している。
半導体ウェハ上の各チップの電極バッドにプローブ針等
を接触させ、一方、テスタから上記グローブ針を介して
各チップに測定パターンを付与し、この各チップからの
出カバターンをテスタにてモニタすることで、半導体ウ
ェハ上の各チップの電気的特性の検査を実行している。
ここで、近年、特に高周波測定を実行する場合にあって
は、半導体ウェハからテスタまでの入出カケ−プルを長
くするとノイズの重畳により正確な検査を実行できない
ため、検査時にあっては10−プ装置にテストヘッドを
接続状態とし、非検査時には10−プ装置上でのマイク
ロスコープの使用等を確保するために退避させる構成を
採用することが切望されている。
は、半導体ウェハからテスタまでの入出カケ−プルを長
くするとノイズの重畳により正確な検査を実行できない
ため、検査時にあっては10−プ装置にテストヘッドを
接続状態とし、非検査時には10−プ装置上でのマイク
ロスコープの使用等を確保するために退避させる構成を
採用することが切望されている。
そして、このようなテストヘッドの移動を最も簡易に実
行するには、テストヘッドを回転させる構成が有利であ
る。
行するには、テストヘッドを回転させる構成が有利であ
る。
(発明が解決しようとする問題点)
ところで、上記のようなテストヘッドは相当な重量(例
えば200 k+r程度)を有するので、これを従来の
ように人手によって回転させることはオペレータの負担
が大きく、衝撃なく所定の位置に回転させて載置するこ
とは極めて困難である。
えば200 k+r程度)を有するので、これを従来の
ように人手によって回転させることはオペレータの負担
が大きく、衝撃なく所定の位置に回転させて載置するこ
とは極めて困難である。
従って、このような相当平波のテストヘッドの回転を完
全自動化するものが好ましい、さらに、テストヘッドの
回転移動を自動化した場合には、通常プローバー本体と
の接続位置と、このプローバー本体との接続を解除した
退避位置との2点の間で停止できるものであれば良いが
、ユーザによってはその途中の角度で停止させたいとい
う要望もあり、また、メインテナンスの都合上同様にテ
ストヘッドを途中で停止させたい場合も生じていた。
全自動化するものが好ましい、さらに、テストヘッドの
回転移動を自動化した場合には、通常プローバー本体と
の接続位置と、このプローバー本体との接続を解除した
退避位置との2点の間で停止できるものであれば良いが
、ユーザによってはその途中の角度で停止させたいとい
う要望もあり、また、メインテナンスの都合上同様にテ
ストヘッドを途中で停止させたい場合も生じていた。
このようにテストヘッドを回転領域の途中で停止するこ
とは、手操作により回転する場合にあってはこの間相当
重量のテストヘッドを人手によって支持していなければ
ならないので事実上不可能であった。
とは、手操作により回転する場合にあってはこの間相当
重量のテストヘッドを人手によって支持していなければ
ならないので事実上不可能であった。
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであり、テスト
ヘッドをその回転領域の任意回転位置で自動的に停止さ
せることができる検査装置を提供することを目的とする
。
ヘッドをその回転領域の任意回転位置で自動的に停止さ
せることができる検査装置を提供することを目的とする
。
[発明の構成〕
(問題点を解決するための手段)
本発明は、テストヘッドを10−バとの接続位置と非接
続位置とに回転移動させる検査装置において、 スイッチオン操作により上記テストヘッドを回転駆動す
る駆動手段を設け、かつ、上記テストヘッドの回転移動
中でのスイ・yチオフ操作により、上記テストヘッドを
任意の回転位置で停止可能とした構成としている。
続位置とに回転移動させる検査装置において、 スイッチオン操作により上記テストヘッドを回転駆動す
る駆動手段を設け、かつ、上記テストヘッドの回転移動
中でのスイ・yチオフ操作により、上記テストヘッドを
任意の回転位置で停止可能とした構成としている。
(作用)
本発明では、スイッチオン操作に基づきテストヘッドの
回転移動を自動化でき、しかも、このテストヘッド回転
中にスイッチオフ操作を実行すると、テストヘッドをそ
のスイッチオフ操作がされたタイミングで回転領域内の
任意回転角度で停止させることができる。
回転移動を自動化でき、しかも、このテストヘッド回転
中にスイッチオフ操作を実行すると、テストヘッドをそ
のスイッチオフ操作がされたタイミングで回転領域内の
任意回転角度で停止させることができる。
従って、ユーザが希望する任意位置になんらの労力を要
せずにテストヘッドを停止制御することができ、メイン
テナンス作業等の便宜となる。
せずにテストヘッドを停止制御することができ、メイン
テナンス作業等の便宜となる。
(実施例)
以下、本発明を半導体ウェハの検査装置に適用した一実
施例について、図面を参照して具体的に説明する。
施例について、図面を参照して具体的に説明する。
まず、第2図(A)、(B)を参照してこの検査装置の
概略について説明すると、10−バー本体lOは半導体
ウェハの各チップの電極パッドにグローブ針等を触針さ
せ、各チップとの電気的接続を確保するための装置であ
り、上記のブロー1針はテストヘッド1を介して、第2
[J(AJの上側に配置されているテスタ12とケーブ
ル(図示せず)によって接続されている。
概略について説明すると、10−バー本体lOは半導体
ウェハの各チップの電極パッドにグローブ針等を触針さ
せ、各チップとの電気的接続を確保するための装置であ
り、上記のブロー1針はテストヘッド1を介して、第2
[J(AJの上側に配置されているテスタ12とケーブ
ル(図示せず)によって接続されている。
上記プローバー本体10とテストヘッド1とはコネクタ
によって電気的接続が可能となっていて、同図の実線で
示すように10−バー本体10の真上にテストヘッド1
が配置された場合にコネクタ接続が実行されるようにな
っている。
によって電気的接続が可能となっていて、同図の実線で
示すように10−バー本体10の真上にテストヘッド1
が配置された場合にコネクタ接続が実行されるようにな
っている。
そして、上記テストヘッド1は、10−バー本体10の
隣に配置されたヒンジボックス14に対して回転自在に
支持されていて、このヒンジボックス14の左側に配置
されたサイドデスク16上に移動することで、プローバ
ー本体10との接続を解除して退避可能となっている。
隣に配置されたヒンジボックス14に対して回転自在に
支持されていて、このヒンジボックス14の左側に配置
されたサイドデスク16上に移動することで、プローバ
ー本体10との接続を解除して退避可能となっている。
このなめ、第6図に示すように上記テストヘッド1は、
回転中心に対してその重心がθl (プローバー本体
側の位置)からθ2 (サイドデスク側の位置)間で
、回転可能となっている。なお、上記プローバー本体1
0及びサイドデスク16にはそれぞれテストヘッド1の
クランパー10a、16aが設けられている。また、前
記ヒンジボックス14には、前記テストヘッド1をプロ
ーバー本体1o(I!Iに移動する場合のスイングスイ
ッチ14aと、テストヘッド1をサイドデスク16側に
移動する場合のスイングスイッチ14bとが設けられて
いる。
回転中心に対してその重心がθl (プローバー本体
側の位置)からθ2 (サイドデスク側の位置)間で
、回転可能となっている。なお、上記プローバー本体1
0及びサイドデスク16にはそれぞれテストヘッド1の
クランパー10a、16aが設けられている。また、前
記ヒンジボックス14には、前記テストヘッド1をプロ
ーバー本体1o(I!Iに移動する場合のスイングスイ
ッチ14aと、テストヘッド1をサイドデスク16側に
移動する場合のスイングスイッチ14bとが設けられて
いる。
次に、上記テストヘッド1の回転移動を自動化するため
の機構について、第3図を参照して説明する。
の機構について、第3図を参照して説明する。
主軸20は、上記テストヘッド1を固着した状態で一体
回転できるように回転自在に支持されていて、この主軸
20にはアーム22が固着されている。そして、このア
ーム22の主軸中心より離れた偏心点22aは、上下動
案内部材24によって上下動可能に支持された上下動部
材26の上端に回転自在に支持されている。
回転できるように回転自在に支持されていて、この主軸
20にはアーム22が固着されている。そして、このア
ーム22の主軸中心より離れた偏心点22aは、上下動
案内部材24によって上下動可能に支持された上下動部
材26の上端に回転自在に支持されている。
上記上下動部材26は、第1の往復動手段の一例である
第1のエアーシリンダ30の可動部32にねじ止めされ
ていて、この第1のエアーシリンダ30の案内軸34の
下端は、前記上下動案内部材24に固着されている。
第1のエアーシリンダ30の可動部32にねじ止めされ
ていて、この第1のエアーシリンダ30の案内軸34の
下端は、前記上下動案内部材24に固着されている。
上記第1のエアーシリンダ30の駆動原理は、第6図に
示すIN側にエアーを導入することで可動部32か下降
し、反対にOUT側にエアーを導入することで可動部3
2が上昇するようになっている。
示すIN側にエアーを導入することで可動部32か下降
し、反対にOUT側にエアーを導入することで可動部3
2が上昇するようになっている。
また、上記第1のエアーシリンダ30は第3図(A)の
裏面−表面に向かう方向、すなわち第3図(B)の左右
方向に移動自在となっていて、このため、上記主軸20
の回転に伴って上記第1のエアーシリンダ30及びこれ
を固定する部材を確実に水平移動させるための構成が設
けられている。
裏面−表面に向かう方向、すなわち第3図(B)の左右
方向に移動自在となっていて、このため、上記主軸20
の回転に伴って上記第1のエアーシリンダ30及びこれ
を固定する部材を確実に水平移動させるための構成が設
けられている。
すなわち、上記主軸20には第1の1−リ50が固着さ
れ、また、ヒンジボックス14のブラケット14cに回
転自在に支持された第2の1−リ52が設けられ、この
第1.第2の1一リ5052間にはベルト54が張架さ
れている。また、前記第2のプーリ52を固着したプー
リ軸56の先端にはアーム58が固着されている。一方
、このアーム58の他@側は、前記上下動部材26に固
着された押動ブロック60に回転自在に支持されている
。この結果、上記主軸20が回転すると第1のプーリ5
0.ベルト54を介して第2のプーリ52が回転し、こ
れと−本釣にアーム58が回転することになる。そして
、このアーム58は第3図(C)に示す軌跡を描くこと
になるので、上記押動ブロック60が第3図(C)の左
右方向に移動し、このため第1のエアーシリンダ30等
が水平移動することになる。
れ、また、ヒンジボックス14のブラケット14cに回
転自在に支持された第2の1−リ52が設けられ、この
第1.第2の1一リ5052間にはベルト54が張架さ
れている。また、前記第2のプーリ52を固着したプー
リ軸56の先端にはアーム58が固着されている。一方
、このアーム58の他@側は、前記上下動部材26に固
着された押動ブロック60に回転自在に支持されている
。この結果、上記主軸20が回転すると第1のプーリ5
0.ベルト54を介して第2のプーリ52が回転し、こ
れと−本釣にアーム58が回転することになる。そして
、このアーム58は第3図(C)に示す軌跡を描くこと
になるので、上記押動ブロック60が第3図(C)の左
右方向に移動し、このため第1のエアーシリンダ30等
が水平移動することになる。
次に、上記第1のエアーシリンダ30によるテストヘッ
ド1の回転駆動を確実ならしめるための機構について説
明する。
ド1の回転駆動を確実ならしめるための機構について説
明する。
この第1のエアーシリンダ30を支持する前記上下動案
内部材24の下端にはベアリング38を介してレールブ
ロック40が設けられ、このレールブロック40は、ヒ
ンジボックス14に固着されたレールブラケット44内
に配置されているレール42上を水平移動可能となって
いる。
内部材24の下端にはベアリング38を介してレールブ
ロック40が設けられ、このレールブロック40は、ヒ
ンジボックス14に固着されたレールブラケット44内
に配置されているレール42上を水平移動可能となって
いる。
そして、このレールブロック40に対して水平方向に外
力を付与するための第2の往復動手段の一例である第2
のエアーシリンダ60が、前記レールブラケット44上
に固定されている。
力を付与するための第2の往復動手段の一例である第2
のエアーシリンダ60が、前記レールブラケット44上
に固定されている。
この第2のエアーシリンダ60は、エアー駆動によって
ピストン62を水平駆動するもので、上記ピストン62
の先端側は、前記レールブロック40と連結板64を介
して連結され、従って第2のエアーシリンダ60の駆動
によって上記レールブロック40に対して水平方向への
外力を付与可能となっている。
ピストン62を水平駆動するもので、上記ピストン62
の先端側は、前記レールブロック40と連結板64を介
して連結され、従って第2のエアーシリンダ60の駆動
によって上記レールブロック40に対して水平方向への
外力を付与可能となっている。
次に、上記スイングスイッチ14a、14bのオン操作
に基づき、上記第1.第2のエアーシリンダ30.60
を駆動し、かつ、上記スイッチ14a、14bのオフ操
作に基づき、テストヘッド1を任意回転位置で停止させ
るためのエアー回路について、第1図を参照して説明す
る。
に基づき、上記第1.第2のエアーシリンダ30.60
を駆動し、かつ、上記スイッチ14a、14bのオフ操
作に基づき、テストヘッド1を任意回転位置で停止させ
るためのエアー回路について、第1図を参照して説明す
る。
第1のエアーシリンダ30を駆動するためのエアー回路
として、まず、同シリンダー30のOUT側にエアーを
導入するための2つのエアー導入経路が設けられ、上段
の経路途中には第1.第2のソレノイド70.71が設
けられ、下段の経路途中には第3のソレノイド72が設
けられている。
として、まず、同シリンダー30のOUT側にエアーを
導入するための2つのエアー導入経路が設けられ、上段
の経路途中には第1.第2のソレノイド70.71が設
けられ、下段の経路途中には第3のソレノイド72が設
けられている。
ここで、第2のソレノイド71は電源オンによりオン状
態とされ、第1のソレノイド70はテストヘッド1の回
転中にスイングスイッチ14aまたは14bがオフされ
た場合にオン状態とされ、第1のエアーシリンダ30の
INfllJのエアー圧力と同一の出力となるエアー圧
力を0UTIII!Iに導入することで、テストヘッド
1を任意回転位置に停止させるものである。一方、前記
第3のソレノイド72は、可動部32を上昇する際にオ
ンされる。
態とされ、第1のソレノイド70はテストヘッド1の回
転中にスイングスイッチ14aまたは14bがオフされ
た場合にオン状態とされ、第1のエアーシリンダ30の
INfllJのエアー圧力と同一の出力となるエアー圧
力を0UTIII!Iに導入することで、テストヘッド
1を任意回転位置に停止させるものである。一方、前記
第3のソレノイド72は、可動部32を上昇する際にオ
ンされる。
また、第1のエアーシリンダ30のINIIに工アーを
導入する経路途中には第4のソレノイド73が配置され
、同様に第2のエアーシリンダ60のIN側、OUT側
にエアーを導入する経路途中には、第5.第6のソレノ
イド74.75がそれぞれ設けられている。なお、各ソ
レノイドの前段側、後段側には、それぞれエアー圧力ゲ
ージGと、シリンダ内圧力を急速に大気圧に戻すための
急速排気弁EVとが設けられている。
導入する経路途中には第4のソレノイド73が配置され
、同様に第2のエアーシリンダ60のIN側、OUT側
にエアーを導入する経路途中には、第5.第6のソレノ
イド74.75がそれぞれ設けられている。なお、各ソ
レノイドの前段側、後段側には、それぞれエアー圧力ゲ
ージGと、シリンダ内圧力を急速に大気圧に戻すための
急速排気弁EVとが設けられている。
さらに、テストヘッド1の回転領域での途中の停止状態
を安全に維持するため、本実施例ではロックビン81に
よってテストヘッド1を停止可能となっていて、このた
め上記ロックビン81を圧縮コイルスゲリング82によ
り常時突出付勢して支持するシリンダ80内にエアーを
導入可能であり、このエアーの導入によりロックビン8
1をシリンダ80の中側に引っ込めることが可能である
。
を安全に維持するため、本実施例ではロックビン81に
よってテストヘッド1を停止可能となっていて、このた
め上記ロックビン81を圧縮コイルスゲリング82によ
り常時突出付勢して支持するシリンダ80内にエアーを
導入可能であり、このエアーの導入によりロックビン8
1をシリンダ80の中側に引っ込めることが可能である
。
このような動作を実現するために、テストヘッド1の回
転中にあってはエアーを導入し、スイングスイッチ14
a、またはスイングスイッチ14bがオフされた際にエ
アーの導入を遮断するための第7のソレノイド83か、
上記シリンダ80へのエアー導入経路途中に設けられて
いる。そして5このロックビン81が突出する位置で前
記テストヘッド1と共に回転する部位には、例えば20
゜おきに9つの穴(図示せず)が設けられ、この穴に上
記ロックビン81が挿入されることで、テストヘッドl
を20°毎の回転位置でR械的に停止可能となっている
。
転中にあってはエアーを導入し、スイングスイッチ14
a、またはスイングスイッチ14bがオフされた際にエ
アーの導入を遮断するための第7のソレノイド83か、
上記シリンダ80へのエアー導入経路途中に設けられて
いる。そして5このロックビン81が突出する位置で前
記テストヘッド1と共に回転する部位には、例えば20
゜おきに9つの穴(図示せず)が設けられ、この穴に上
記ロックビン81が挿入されることで、テストヘッドl
を20°毎の回転位置でR械的に停止可能となっている
。
次に、作用について説明する。
まず、退避状態にあるテストヘッド1を、サイドデスク
16上よりプローバー本体101FIに移動する場合に
ついて、第4図の操作フローチャートを参照して説明す
る。
16上よりプローバー本体101FIに移動する場合に
ついて、第4図の操作フローチャートを参照して説明す
る。
グローバー本体10の電源をオンとしくステップ1)、
イニシャルスイッチ(図示せず)をブツシュしてイニシ
ャルオン状態とする(ステップ2゜3)、なお、上記t
iスイッチのオンにより、第1図の第2のソレノイド7
1がオンされる。ここで、マニュアルか否かを判別しく
ステップ4)、マニュアルでない場合にはマニュアルモ
ードとする(ステップ5)。
イニシャルスイッチ(図示せず)をブツシュしてイニシ
ャルオン状態とする(ステップ2゜3)、なお、上記t
iスイッチのオンにより、第1図の第2のソレノイド7
1がオンされる。ここで、マニュアルか否かを判別しく
ステップ4)、マニュアルでない場合にはマニュアルモ
ードとする(ステップ5)。
次に、プローバー本体10上のマイクロスコープ(図示
せず)が回避状態であるか否かを判別しくステップ6)
、回避状態でない場合にはこれを回避位置まで移動する
(ステップ7)、このようにマイクロスコーグが回避さ
れていないと、テストヘッド1をプローバー本体tot
llに移動した場合に干渉してしまうからであり、マイ
クロスコープが回避されていない場合には以降の動作が
できないように制御されている。
せず)が回避状態であるか否かを判別しくステップ6)
、回避状態でない場合にはこれを回避位置まで移動する
(ステップ7)、このようにマイクロスコーグが回避さ
れていないと、テストヘッド1をプローバー本体tot
llに移動した場合に干渉してしまうからであり、マイ
クロスコープが回避されていない場合には以降の動作が
できないように制御されている。
次に、ベースプレート1のヘッドプレートがセット状態
か否かを判別しくステップ8)、これがア・yグ状態の
場合にはセット状態に設定する(ステップ9)、なお、
上記ヘッドプレートがアップ状態の場合にも、以降の動
作ができないように安全対策がなされている。
か否かを判別しくステップ8)、これがア・yグ状態の
場合にはセット状態に設定する(ステップ9)、なお、
上記ヘッドプレートがアップ状態の場合にも、以降の動
作ができないように安全対策がなされている。
この後、10−バー本体10側のクランパー10aがオ
フされているか否かを判別しくステップIO)、オンの
場合にはオフ状態に設定する(ステップ11)、この後
、サイドデスク16側のクランパー16aをオフ状態に
設定する(ステップ12)、なお、上記クランパー10
a、16aがオン状態の場合には、以降の動作ができな
いように安全対策がなされている。
フされているか否かを判別しくステップIO)、オンの
場合にはオフ状態に設定する(ステップ11)、この後
、サイドデスク16側のクランパー16aをオフ状態に
設定する(ステップ12)、なお、上記クランパー10
a、16aがオン状態の場合には、以降の動作ができな
いように安全対策がなされている。
次に、スイングスイッチ14aをオンとし、テストへラ
ド1の回転移動を開始しくステ・y 7’ L 3 )
このテストヘッド1が10−バー本体10のクランパー
10aにてクランプ可能な状態となるまで回転が続行さ
れることになる(ステップ14)。
ド1の回転移動を開始しくステ・y 7’ L 3 )
このテストヘッド1が10−バー本体10のクランパー
10aにてクランプ可能な状態となるまで回転が続行さ
れることになる(ステップ14)。
このテストヘッド1の回転移動について説明すると、上
記スイングスイッチ14aをオンすると、第4のソレノ
イド73がオンされて第1のエアーシリンダ30の作動
方向lNl1!Iにエアーが導入され、この結果可動部
32が第3図(B)の右側の鎖線状態より下降し、アー
ム22を介して主軸20を回転させるように駆動するこ
とになる。この主軸22の回転により第1のプーリ50
が一体的に回転し、ベルト54を介して第2の1−リ5
2を回転させ、このためアーム58が揺動することで、
第1のエアーシリンダ30等が水平方向に移動すること
になる。このような可動部32の下降移動及び水平移動
により、主軸20が連続的に回転されることになる。こ
の結果、この主軸20に固定されたテストヘッド1が回
転駆動されることにな′る。
記スイングスイッチ14aをオンすると、第4のソレノ
イド73がオンされて第1のエアーシリンダ30の作動
方向lNl1!Iにエアーが導入され、この結果可動部
32が第3図(B)の右側の鎖線状態より下降し、アー
ム22を介して主軸20を回転させるように駆動するこ
とになる。この主軸22の回転により第1のプーリ50
が一体的に回転し、ベルト54を介して第2の1−リ5
2を回転させ、このためアーム58が揺動することで、
第1のエアーシリンダ30等が水平方向に移動すること
になる。このような可動部32の下降移動及び水平移動
により、主軸20が連続的に回転されることになる。こ
の結果、この主軸20に固定されたテストヘッド1が回
転駆動されることにな′る。
そして、テストへラド1が第6図の60’付近に達した
時点で(このような時期の検出は、テストヘッド1の回
転位置を検出するもの、あるいは回転初期からの経過時
間から割り出すもの等がある)、第6のソレノイド75
がオンされて第2のエアーシリンダ60のIN側にエア
ーが導入される。この結果、ピストン62が収縮し、連
結板64を介してレールブロック40を第3図(C)の
左側に押動することになる。そして、上記第2のエアー
シリンダ60の駆動により、テストヘッド1の60°か
ら120°付近までの回転領域Aでの回転をフォローす
ることになる。
時点で(このような時期の検出は、テストヘッド1の回
転位置を検出するもの、あるいは回転初期からの経過時
間から割り出すもの等がある)、第6のソレノイド75
がオンされて第2のエアーシリンダ60のIN側にエア
ーが導入される。この結果、ピストン62が収縮し、連
結板64を介してレールブロック40を第3図(C)の
左側に押動することになる。そして、上記第2のエアー
シリンダ60の駆動により、テストヘッド1の60°か
ら120°付近までの回転領域Aでの回転をフォローす
ることになる。
ここで、テストヘッド1が90°に到達した際には、上
記可動部32は最下点に達するので、このタイミングで
第1のソレノイド70がオンされて第1のエアーシリン
ダ30のOUT側にIN側圧力による出力よりも大きい
出力になるような圧力のエアーが導入され、可動部32
を最下点より上昇移動させることになる。
記可動部32は最下点に達するので、このタイミングで
第1のソレノイド70がオンされて第1のエアーシリン
ダ30のOUT側にIN側圧力による出力よりも大きい
出力になるような圧力のエアーが導入され、可動部32
を最下点より上昇移動させることになる。
この下降時から上昇時に切り替わる際には、上記第2の
エアーシリンダ60による水平外力が第1のエアーシリ
ンダ30に作用されているので、テストヘッド1の同一
方向の回転を確実に実行することができる。
エアーシリンダ60による水平外力が第1のエアーシリ
ンダ30に作用されているので、テストヘッド1の同一
方向の回転を確実に実行することができる。
そして、テストヘッド1が120”付近に達すると、第
6のソレノイド75がオフされ、上記第2のエアーシリ
ンダ60のOUT側に入っていたエアーは、急速排気弁
EVのオープン状態により大気圧と等しくなり、第2の
エアーシリンダ60の役割が終了する。
6のソレノイド75がオフされ、上記第2のエアーシリ
ンダ60のOUT側に入っていたエアーは、急速排気弁
EVのオープン状態により大気圧と等しくなり、第2の
エアーシリンダ60の役割が終了する。
そして、以降は第1のエアーシリンダ30の可動部32
の上昇によりテストヘッド1が回転駆動され、テストヘ
ッド1がθ2°の位置に到達し、プローバー本体101
Flへ移動されることになる。
の上昇によりテストヘッド1が回転駆動され、テストヘ
ッド1がθ2°の位置に到達し、プローバー本体101
Flへ移動されることになる。
そして、この際に例えばテストヘッド1に付いている位
置検知スイッチがONとなり、テストヘッドlの停止と
同時に第1のエアーシリンダ30のINII!Iに入っ
ていたエアーは、急速排気弁EVのオープン状態により
大気圧と等しくなり、テストへラド1の跳ね上がりが防
止される。
置検知スイッチがONとなり、テストヘッドlの停止と
同時に第1のエアーシリンダ30のINII!Iに入っ
ていたエアーは、急速排気弁EVのオープン状態により
大気圧と等しくなり、テストへラド1の跳ね上がりが防
止される。
このような状態でプローバー本体10がクランプができ
る状態となるので、クランパー10aの操作によりテス
トヘッド1を10−バー本体10にクランプしくステッ
プ15)、テストヘッド1のサイドテーブル16より1
0−バー本体10側への移動が完了する。
る状態となるので、クランパー10aの操作によりテス
トヘッド1を10−バー本体10にクランプしくステッ
プ15)、テストヘッド1のサイドテーブル16より1
0−バー本体10側への移動が完了する。
また、上記動作とは逆にテストヘッド1をプローバー本
体10よりサイドテーブル16側に移動する場合には、
上記とは逆の経路をたどるように第5図の操作フローに
従って動作が行われる。この際、第1のエアーシリンダ
30は可動部32が第3図(B)の左側のgtm状態よ
り下降するように動作し、テストヘッド1が90°に達
したところで可動部32を上昇するように切り換え動作
されることになる。また、第2のエアーシリンダ60は
、テストヘッド1が120゛付近の時にビスント62を
第3図(C)の右側に伸張するように動作し、この動作
はテストヘッド1が60゛付近に達するまで、すなわち
第6図の回転領域はBの間で続行されることになる。
体10よりサイドテーブル16側に移動する場合には、
上記とは逆の経路をたどるように第5図の操作フローに
従って動作が行われる。この際、第1のエアーシリンダ
30は可動部32が第3図(B)の左側のgtm状態よ
り下降するように動作し、テストヘッド1が90°に達
したところで可動部32を上昇するように切り換え動作
されることになる。また、第2のエアーシリンダ60は
、テストヘッド1が120゛付近の時にビスント62を
第3図(C)の右側に伸張するように動作し、この動作
はテストヘッド1が60゛付近に達するまで、すなわち
第6図の回転領域はBの間で続行されることになる。
このように、本実施例によれば第1のエアーシリンダ3
0の可動部32の移動方向が切り換えられる際には、第
2のエアーシリンダ60により第1のエアーシリンダ3
0の水平移動方向を一義的に決定する外力を付与してい
るので、第1のエアーシリンダ30が下死点に達した場
合のように、水平方向が定まらない場合にも、上記外力
の付与によって同一方向の回転を円滑に実行することが
できる。
0の可動部32の移動方向が切り換えられる際には、第
2のエアーシリンダ60により第1のエアーシリンダ3
0の水平移動方向を一義的に決定する外力を付与してい
るので、第1のエアーシリンダ30が下死点に達した場
合のように、水平方向が定まらない場合にも、上記外力
の付与によって同一方向の回転を円滑に実行することが
できる。
次に、テストヘッド1を任意の回転位置で停止する場合
の作用について、第7図のフローチャートを参照して説
明する。
の作用について、第7図のフローチャートを参照して説
明する。
例えば、サイドデスク16PIよりテストヘッド1の回
転移動を開始し、この回転移動中にスイングスイッチ1
4aをオフすると(ステップ1)、第1のエアーシリン
ダ30のINIIIIのエアー圧力はそのまま維持され
(ステップ2)、第1のソレノイド70がオン、第7の
ソレノイド83がオフされる(ステップ3.4)。
転移動を開始し、この回転移動中にスイングスイッチ1
4aをオフすると(ステップ1)、第1のエアーシリン
ダ30のINIIIIのエアー圧力はそのまま維持され
(ステップ2)、第1のソレノイド70がオン、第7の
ソレノイド83がオフされる(ステップ3.4)。
第1のソレノイド70がオンすると、このエアー導入経
路を介して第1のエアーシリンダ30のOU T il
lに、IN側と同出力となるように調整されたエアー圧
力が加わることで、可動部32の下降移動が停止される
(ステップ5)、また、第7のソレノイド83がオフす
ることで、シリンダ80内のロックビン81が圧縮コイ
ルスプリング82の付勢力によって突出され(ステップ
6)、もし、その突出位置に上述したいずれかの穴が存
在すればこの穴に挿入されてテストへラド1を機械的に
停止してロック状態とし、穴が存在しない場合ではその
その表面にロックビン81が当接した状態となる。
路を介して第1のエアーシリンダ30のOU T il
lに、IN側と同出力となるように調整されたエアー圧
力が加わることで、可動部32の下降移動が停止される
(ステップ5)、また、第7のソレノイド83がオフす
ることで、シリンダ80内のロックビン81が圧縮コイ
ルスプリング82の付勢力によって突出され(ステップ
6)、もし、その突出位置に上述したいずれかの穴が存
在すればこの穴に挿入されてテストへラド1を機械的に
停止してロック状態とし、穴が存在しない場合ではその
その表面にロックビン81が当接した状態となる。
この結果、テストヘッド1が回転移動途中で停止される
ことになる(ステップ7)、なお、第1のエアーシリン
ダ30のIN、OUT側のエアー圧力のバランスを収る
ことだけでテストヘッドIを停止維持することは可能で
ある。また、テストヘッド1の停止維持をより確実にす
るためロックビン81による機械的な停止状態を併せて
採用している。そして、前述した穴にロックビン81が
挿入されている場合には、この位置で確実にテストヘッ
ド1の移動を制限でき、穴よりも外れた位置にロックビ
ン81が当接している場合にあっては、テストヘッド1
が、かりに落下しはじめた場合でも、落下開始後設も近
いいずれかの穴に即座にこのロックビン81が挿入され
るので、同様にロックビン81による機械的なロック状
態を確保することができる。
ことになる(ステップ7)、なお、第1のエアーシリン
ダ30のIN、OUT側のエアー圧力のバランスを収る
ことだけでテストヘッドIを停止維持することは可能で
ある。また、テストヘッド1の停止維持をより確実にす
るためロックビン81による機械的な停止状態を併せて
採用している。そして、前述した穴にロックビン81が
挿入されている場合には、この位置で確実にテストヘッ
ド1の移動を制限でき、穴よりも外れた位置にロックビ
ン81が当接している場合にあっては、テストヘッド1
が、かりに落下しはじめた場合でも、落下開始後設も近
いいずれかの穴に即座にこのロックビン81が挿入され
るので、同様にロックビン81による機械的なロック状
態を確保することができる。
次に、この停止状態のテストヘッド1を再度回転移動さ
せる場合には、mlえばスイングスイッチ14aをオン
とする(ステップ8)、そうすると、第1のエアーシリ
ンダ30のIN側のエアー圧力はそのまま維持されると
共に(ステップ9)、第1のソレノイド70がオフされ
、第7のソレノイド83がオンされることになる(ステ
ップ10゜11 )。
せる場合には、mlえばスイングスイッチ14aをオン
とする(ステップ8)、そうすると、第1のエアーシリ
ンダ30のIN側のエアー圧力はそのまま維持されると
共に(ステップ9)、第1のソレノイド70がオフされ
、第7のソレノイド83がオンされることになる(ステ
ップ10゜11 )。
第1のソレノイド70がオフされると、第1のエアーシ
リンダ30のOUT側のエアー圧力は大気圧と同等にな
り、しかも、前記第7のソレノイド83のオンによりロ
ックビン81がエアー圧力によって引っ込められること
になり、従って、テストヘッドIの停止ロック状態が解
除されることになる(ステップ14)。
リンダ30のOUT側のエアー圧力は大気圧と同等にな
り、しかも、前記第7のソレノイド83のオンによりロ
ックビン81がエアー圧力によって引っ込められること
になり、従って、テストヘッドIの停止ロック状態が解
除されることになる(ステップ14)。
このため、第1のエアーシリンダ30のIN側のエアー
圧力によって可動部32が下降し、テストヘッド1の回
転移動が再開されることになる。
圧力によって可動部32が下降し、テストヘッド1の回
転移動が再開されることになる。
次に、第1のエアーシリンダ30の可動部32の上昇移
動の場合の、停止動作について第8図のフローチャート
を参照して説明する。
動の場合の、停止動作について第8図のフローチャート
を参照して説明する。
例えば90゛より、プローバ本体to(litへ回転移
動中にスイングスイッチ14aをオフするとくステップ
1)、第1のエアーリンダ30のIN側のエアー圧力は
そのまま維持され(ステップ2)第1のエアーシリンダ
30の可動部32の上昇移動をさせるための第3のソレ
ノイド72がオフと同時に第1のソレノイド70がON
され(ステップ3.4)、かつ第7のソレノイド83が
オフされる(ステップ5)。
動中にスイングスイッチ14aをオフするとくステップ
1)、第1のエアーリンダ30のIN側のエアー圧力は
そのまま維持され(ステップ2)第1のエアーシリンダ
30の可動部32の上昇移動をさせるための第3のソレ
ノイド72がオフと同時に第1のソレノイド70がON
され(ステップ3.4)、かつ第7のソレノイド83が
オフされる(ステップ5)。
第3のソレノイド72がオフし、第1のエアーシリンダ
30の0UTIIilのエアーが大気圧と同等になると
同時に、第1のソレノイド70がオンとなり、切換弁9
0により第1のソレノイド70を経路とする、第1のエ
アーシリンダ30のOUT側にINIIIIと同出力と
すなるように調整されたエアー圧力が加わることで可動
部32の上昇移動が停止される(ステップ8)。
30の0UTIIilのエアーが大気圧と同等になると
同時に、第1のソレノイド70がオンとなり、切換弁9
0により第1のソレノイド70を経路とする、第1のエ
アーシリンダ30のOUT側にINIIIIと同出力と
すなるように調整されたエアー圧力が加わることで可動
部32の上昇移動が停止される(ステップ8)。
また、第7のソレノイド83がオフすることで、シリン
ダ80内のロックビン81が圧縮コイルスプリング82
の付勢力によって突出され(ステップ6)、らし、その
突出位置に上述したいずれかの穴が存在すればこの穴に
挿入されてテストへラド1を機械的に停止してロック状
態とし、穴が存在しない場合ではそのその表面にロック
ビン81が当接した状態となる(ステツブフン。
ダ80内のロックビン81が圧縮コイルスプリング82
の付勢力によって突出され(ステップ6)、らし、その
突出位置に上述したいずれかの穴が存在すればこの穴に
挿入されてテストへラド1を機械的に停止してロック状
態とし、穴が存在しない場合ではそのその表面にロック
ビン81が当接した状態となる(ステツブフン。
この結果、テストヘッド1が回転移動途中で停止される
ことになる(ステップ8)、なお、第1のエアーシリン
ダ30のIN、OUT側のエアー圧力のバランスを取る
ことだけでテストヘッド1を停止維持することは可能で
ある。また、テストヘッド1の停止維持をより確実にす
るためロックビン81による機械的な停止状態を併せて
採用している。そして、前述した穴にロックビン81が
挿入されている場合には、この位置で確実にテストヘッ
ドエの移動を制限でき、穴よりも外れた位置にロックビ
ン81が当接している場合にあっては、テストヘッド1
が、かりに落下しはじめた場合でも落下開始後肢も近い
いずれかの穴に即座にこのロックビン81か挿入される
ので、同様にロックビン81による機械的なロック状Q
iを確保することができる。
ことになる(ステップ8)、なお、第1のエアーシリン
ダ30のIN、OUT側のエアー圧力のバランスを取る
ことだけでテストヘッド1を停止維持することは可能で
ある。また、テストヘッド1の停止維持をより確実にす
るためロックビン81による機械的な停止状態を併せて
採用している。そして、前述した穴にロックビン81が
挿入されている場合には、この位置で確実にテストヘッ
ドエの移動を制限でき、穴よりも外れた位置にロックビ
ン81が当接している場合にあっては、テストヘッド1
が、かりに落下しはじめた場合でも落下開始後肢も近い
いずれかの穴に即座にこのロックビン81か挿入される
ので、同様にロックビン81による機械的なロック状Q
iを確保することができる。
次に、この停止状態のテストヘッド1を再度回転移動さ
せる場合には、例えばスイングスイッチ14aをオンと
する(ステップ9)、そうすると、第1のエアーシリン
ダ30のIN側のエアー圧力はそのまま維持されると共
に(ステップ16)、第1のソレノイド70がオフされ
、第3のソレノイド72がオンし、かつ第7のソレノイ
ド83がオンされることになる(ステップto、ti。
せる場合には、例えばスイングスイッチ14aをオンと
する(ステップ9)、そうすると、第1のエアーシリン
ダ30のIN側のエアー圧力はそのまま維持されると共
に(ステップ16)、第1のソレノイド70がオフされ
、第3のソレノイド72がオンし、かつ第7のソレノイ
ド83がオンされることになる(ステップto、ti。
12)。
第1のソレノイド70がオフされると、エアーシリンダ
30のOUT側のエアー圧力は大気圧と同等になると同
時に第3のソレノイドがオンし、切換弁90により第3
のソレノイド72を経路とする第1のエアーシリンダI
NrllJのエアー圧力も大きい出力のエアー圧力が加
わり、しかし、前記第7のソレノイド83のオンにより
ロックビン81がエアー圧力によって引っ込められるこ
とになり、従って、テストヘッド1の停止ロック状態が
解除されることになる(ステップ13,14゜15)。
30のOUT側のエアー圧力は大気圧と同等になると同
時に第3のソレノイドがオンし、切換弁90により第3
のソレノイド72を経路とする第1のエアーシリンダI
NrllJのエアー圧力も大きい出力のエアー圧力が加
わり、しかし、前記第7のソレノイド83のオンにより
ロックビン81がエアー圧力によって引っ込められるこ
とになり、従って、テストヘッド1の停止ロック状態が
解除されることになる(ステップ13,14゜15)。
このため、第1のエアーシリンダ30の0IJT側のエ
アー圧力によって可動部32が上昇し、テストヘッド1
の回転移動が再開されることになる。
アー圧力によって可動部32が上昇し、テストヘッド1
の回転移動が再開されることになる。
上記の説明によりテストヘッド1が180@の回転領域
のいずれの位置にある場きでも、同様な動作によってテ
ストヘッド1を途中で停止することが可能である。
のいずれの位置にある場きでも、同様な動作によってテ
ストヘッド1を途中で停止することが可能である。
なお、本発明は上記実施例に限定されるものではなく、
本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
本発明の要旨の範囲内で種々の変形実施が可能である。
例えば、テストヘッド1をオン時に駆動し、オフ時に停
止させるスイッチとしては、例えばそのスイッチを押し
続けることでオン状態が維持され、離すことでオフに設
定されるノンロックスイッチ、−度プッシュすれば手を
離してもオン状態が維持され、再度ブツシュした場合に
オフされるロック付きスイッチ、あるいは、オン、オフ
専用の2種のスイッチなど、いずれのスイッチであって
もよい。
止させるスイッチとしては、例えばそのスイッチを押し
続けることでオン状態が維持され、離すことでオフに設
定されるノンロックスイッチ、−度プッシュすれば手を
離してもオン状態が維持され、再度ブツシュした場合に
オフされるロック付きスイッチ、あるいは、オン、オフ
専用の2種のスイッチなど、いずれのスイッチであって
もよい。
また、テストヘッド1の回転駆動を実現するための駆動
手段としては、上記実施例のような垂直方向および水平
方向の2種のエアーシリンダを採用するものに限らず、
回転領域の途中で停止M#可能な種々の駆動機構を採用
できる。
手段としては、上記実施例のような垂直方向および水平
方向の2種のエアーシリンダを採用するものに限らず、
回転領域の途中で停止M#可能な種々の駆動機構を採用
できる。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によればテストヘッドの回
転駆動を自動化し、さらに、このテストヘッドの回転領
域の途中でテストヘッドを停止させることができ、ユー
ザーのニーズに応じた検査装置を提供することができる
。
転駆動を自動化し、さらに、このテストヘッドの回転領
域の途中でテストヘッドを停止させることができ、ユー
ザーのニーズに応じた検査装置を提供することができる
。
第1図は、本発明を適用した検査装置のテストヘッド駆
動用及び途中位置での停止用のエアー回路の一例を説明
するための概略説明図、第2図(A)、(B)は、本発
明の一実施例装置の平面図、正面図、第3図は、テスト
ヘッドの回転R桐を示す図で、同図(A)は第1のエア
ーシリンダの正面図、同図(B)は同図(A)の側面図
、同図(C)は第2のエアーシリンダの平面図、第4図
はテストヘッドをサイドデスク側より10−バー本体側
に移動する場合の操作フローチャート、第5図は、テス
トヘッドを10−バー本体側よりサイドデスク側に移動
する場合の操作フローチャート、第6図は、実施例装置
の作動原理を概略的に説明するための概略説明図、第7
図、第8図は、テストヘッドを途中で停止させる場合の
動作を説明するための動作フローチャートである。 1・・・テストヘッド、 10・・・プローバー本体、 12・・・テスタ、 14a、14b・・・スイッチ、 16・・・サイドデスク、 30・・・第1のエアーシリンダ 60・・・第2のエアーシリンダ、 70〜75.83・・・ソレノイド、 81・・・ロックビン。
動用及び途中位置での停止用のエアー回路の一例を説明
するための概略説明図、第2図(A)、(B)は、本発
明の一実施例装置の平面図、正面図、第3図は、テスト
ヘッドの回転R桐を示す図で、同図(A)は第1のエア
ーシリンダの正面図、同図(B)は同図(A)の側面図
、同図(C)は第2のエアーシリンダの平面図、第4図
はテストヘッドをサイドデスク側より10−バー本体側
に移動する場合の操作フローチャート、第5図は、テス
トヘッドを10−バー本体側よりサイドデスク側に移動
する場合の操作フローチャート、第6図は、実施例装置
の作動原理を概略的に説明するための概略説明図、第7
図、第8図は、テストヘッドを途中で停止させる場合の
動作を説明するための動作フローチャートである。 1・・・テストヘッド、 10・・・プローバー本体、 12・・・テスタ、 14a、14b・・・スイッチ、 16・・・サイドデスク、 30・・・第1のエアーシリンダ 60・・・第2のエアーシリンダ、 70〜75.83・・・ソレノイド、 81・・・ロックビン。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 テストヘッドのプローブ針を被検査体の電極端子に接触
させて検査する接続位置と非接続位置とに回転選択移動
させる検査装置において、 スイッチオン操作により上記テストヘッドを回転駆動す
る駆動手段を設け、かつ、上記テストヘッドの回転移動
中でのスイッチオフ操作により、上記テストヘッドを任
意の回転位置で停止可能としたことを特徴とする検査装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63227224A JP2647162B2 (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63227224A JP2647162B2 (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0274050A true JPH0274050A (ja) | 1990-03-14 |
| JP2647162B2 JP2647162B2 (ja) | 1997-08-27 |
Family
ID=16857445
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63227224A Expired - Lifetime JP2647162B2 (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2647162B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5568056A (en) * | 1993-12-16 | 1996-10-22 | Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | Wafer prober |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54163884U (ja) * | 1978-05-09 | 1979-11-16 | ||
| JPS57186701U (ja) * | 1981-05-22 | 1982-11-26 | ||
| JPS60114972U (ja) * | 1984-01-11 | 1985-08-03 | 株式会社 光和電機 | プリント配線基板の検査装置 |
| JPS62180780U (ja) * | 1986-05-08 | 1987-11-17 | ||
| JPS63190350A (ja) * | 1987-02-02 | 1988-08-05 | Tokyo Electron Ltd | プロ−ブ装置 |
-
1988
- 1988-09-09 JP JP63227224A patent/JP2647162B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54163884U (ja) * | 1978-05-09 | 1979-11-16 | ||
| JPS57186701U (ja) * | 1981-05-22 | 1982-11-26 | ||
| JPS60114972U (ja) * | 1984-01-11 | 1985-08-03 | 株式会社 光和電機 | プリント配線基板の検査装置 |
| JPS62180780U (ja) * | 1986-05-08 | 1987-11-17 | ||
| JPS63190350A (ja) * | 1987-02-02 | 1988-08-05 | Tokyo Electron Ltd | プロ−ブ装置 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5568056A (en) * | 1993-12-16 | 1996-10-22 | Tokyo Seimitsu Co., Ltd. | Wafer prober |
| DE4444185C2 (de) * | 1993-12-16 | 1999-08-12 | Tokyo Seimitsu Co Ltd | Wafer-Prüfvorrichtung |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2647162B2 (ja) | 1997-08-27 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US20190004087A1 (en) | Electronic product test jig | |
| KR101574723B1 (ko) | 더블 사이드 테스트를 위한 프로브 스테이션 | |
| CN105834128B (zh) | 一种电位器自动检测设备 | |
| TWM322542U (en) | Testing machine | |
| CN209606573U (zh) | 一种带限位结构的芯片测试装置 | |
| CN201535789U (zh) | 探针单元及检查装置 | |
| JPH0274050A (ja) | 検査装置 | |
| CN220913301U (zh) | 一种继电器触点检测装置 | |
| CN117760750A (zh) | 车门关闭声品质测试辅助加载装置及测试方法 | |
| JP3185509B2 (ja) | 半導体デバイスの特性検査装置 | |
| KR101776631B1 (ko) | 전자부품 검사장치 | |
| KR200449174Y1 (ko) | 프로브카드 검사장치의 마더보드 고정부 | |
| TWI631352B (zh) | Measuring system | |
| JPH06230061A (ja) | 回路基板検査機の基板矯正方法 | |
| JP3372337B2 (ja) | プリント基板の検査装置 | |
| JP2648367B2 (ja) | 検査装置 | |
| KR100358323B1 (ko) | 액정표시장치(lcd) 테스트 핸들러 | |
| CN222812910U (zh) | 线路板检测装置 | |
| CN221326701U (zh) | 一种恒流芯片性能检测装置 | |
| CN223155154U (zh) | 芯片测试装置 | |
| JPH02177343A (ja) | 検査装置 | |
| JP2974482B2 (ja) | プロービング装置のテストヘッドの回動機構 | |
| JPH09257874A (ja) | Icデバイスの試験装置 | |
| CN112213788A (zh) | 气动通孔检测装置及其检测方法 | |
| KR100376699B1 (ko) | 차량용 후드 오버 오프닝 강성 시험장치 |