JPH0274854A - 透視装置 - Google Patents
透視装置Info
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- JPH0274854A JPH0274854A JP63226349A JP22634988A JPH0274854A JP H0274854 A JPH0274854 A JP H0274854A JP 63226349 A JP63226349 A JP 63226349A JP 22634988 A JP22634988 A JP 22634988A JP H0274854 A JPH0274854 A JP H0274854A
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- Japan
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- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
し発明の目的]
(産業上の利用分野〉
本発明は、被測定物を透過した放射線を検出して被測定
物の透視画像を得る透視装置に関する。
物の透視画像を得る透視装置に関する。
(従来の技術)
この種の透視装置のうち、いわゆる第3世代の従来のC
Tスキャナを用いた透視画像データの収集方法を第8図
に示ず。同図(a )に示すように、当該透視装置は、
X線発生装置1から発生づる、例えばファン角34°の
ファンビーム状のX線が1回の放射で被測定物3の被測
定領域の全範囲を透過し、この透過したX線を検出器5
がすべて受光するように画像エリア全体をカバーするよ
うに構成される。従って、被測定物3を相対的に上下方
向に移動させることにより被測定物3の透視画像を得る
ことができる。また、同図(b )はファンビーム状の
X線によるファンデータによつて得られた画像データを
示し、検出器5を構成する多数の検出子の数に対応した
チャンネル数の行と上下方向のデータピッチとで構成さ
れる画像データとなる。
Tスキャナを用いた透視画像データの収集方法を第8図
に示ず。同図(a )に示すように、当該透視装置は、
X線発生装置1から発生づる、例えばファン角34°の
ファンビーム状のX線が1回の放射で被測定物3の被測
定領域の全範囲を透過し、この透過したX線を検出器5
がすべて受光するように画像エリア全体をカバーするよ
うに構成される。従って、被測定物3を相対的に上下方
向に移動させることにより被測定物3の透視画像を得る
ことができる。また、同図(b )はファンビーム状の
X線によるファンデータによつて得られた画像データを
示し、検出器5を構成する多数の検出子の数に対応した
チャンネル数の行と上下方向のデータピッチとで構成さ
れる画像データとなる。
(発明が解決しようとづる課題)
上述した従来の方法では、X線のやや広いファン角を右
で−るファンビームを用いる投影のために、画像はヂt
・ンネル方向に幾何学的拡大が生じる。一方上下方向に
は被測定物3の上下方向の移動によるため拡大が生じな
い。従って、画像は左右方向と上下方向とで歪を有する
という不都合が生じていた。
で−るファンビームを用いる投影のために、画像はヂt
・ンネル方向に幾何学的拡大が生じる。一方上下方向に
は被測定物3の上下方向の移動によるため拡大が生じな
い。従って、画像は左右方向と上下方向とで歪を有する
という不都合が生じていた。
また、被測定物3を回転(ローテーション) 83よび
平行移動によって横断(トラバース)させる、いわゆる
第2世代のC−「スキャナでは、ファン角の狭いファン
ビーム状のX線を用いるため第3世代のように全画像エ
リアを検出器がカバーすることがなく、このような透視
画像を得ることはしていなかった。
平行移動によって横断(トラバース)させる、いわゆる
第2世代のC−「スキャナでは、ファン角の狭いファン
ビーム状のX線を用いるため第3世代のように全画像エ
リアを検出器がカバーすることがなく、このような透視
画像を得ることはしていなかった。
本発明は、上記事情に篤みてなされたもので、その目的
とするところは、平行データによる無歪透視画像を取り
、連続的に表示して立体表示を得ることができる透視装
置を提供することにある。
とするところは、平行データによる無歪透視画像を取り
、連続的に表示して立体表示を得ることができる透視装
置を提供することにある。
[発明の構成1
(課題を解決覆るための手段)
上記目的を達成するため、本発明の透視装置は、被測定
物に向けてファンビーム状の放射線を発生する放射線発
生手段と、被測定物を挾んで前記放射線発生手段に対向
して配設され、被測定物を透過した前記放射線発生手段
からの放射線を検出する複数の連設される検出子からな
る検出手段と、前記放射線発生手段および前記検出手段
に対して被測定物を相対的に横方向および上下方向に移
動させる移動手段と、この移動手段で被測定物の相対的
な移動を行なうと共に前記検出手段で当該被測定物を透
過した放射線を検出づることによって得られるデータを
収集するデータ収集手段と、このデータ収集手段で収集
したデータを前記検出子毎に再編集する再編集手段と、
この再編集手段で再編集したデータを画像として出力す
る出力手段とを有することを要旨とする。
物に向けてファンビーム状の放射線を発生する放射線発
生手段と、被測定物を挾んで前記放射線発生手段に対向
して配設され、被測定物を透過した前記放射線発生手段
からの放射線を検出する複数の連設される検出子からな
る検出手段と、前記放射線発生手段および前記検出手段
に対して被測定物を相対的に横方向および上下方向に移
動させる移動手段と、この移動手段で被測定物の相対的
な移動を行なうと共に前記検出手段で当該被測定物を透
過した放射線を検出づることによって得られるデータを
収集するデータ収集手段と、このデータ収集手段で収集
したデータを前記検出子毎に再編集する再編集手段と、
この再編集手段で再編集したデータを画像として出力す
る出力手段とを有することを要旨とする。
(作用)
本発明の透視装置では、被測定物にファンビーム状の放
射線を照射しながら被測定物を相対的に横方向に移動さ
せるとともに上下方向に移動させC1被測定物を透過し
た放射線を検出手段によって検出する。次にこの検出デ
ータを1−夕収集手段を用いて収集し、この収集した被
測定物の透視画像データを前記検出手段を構成する検出
子毎に再編集して立体透視画像を得る。
射線を照射しながら被測定物を相対的に横方向に移動さ
せるとともに上下方向に移動させC1被測定物を透過し
た放射線を検出手段によって検出する。次にこの検出デ
ータを1−夕収集手段を用いて収集し、この収集した被
測定物の透視画像データを前記検出手段を構成する検出
子毎に再編集して立体透視画像を得る。
(実施例)
以下、画面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の一実施例に係る透視装置の構成を示す
図である。同図に示す透視装置は、放射線源としてのX
線を発生するX線管11に対向して配設されている検出
器13を有し、これらのX線管11と検出器13との間
にはスキャン機構部15が配設され、このスキャン礪構
部15上に被測定物17が配置されている。この被測定
物17はスキャン機構部15により回転しながらX線管
11と検出器13との間を横切るように移I−Jる。
図である。同図に示す透視装置は、放射線源としてのX
線を発生するX線管11に対向して配設されている検出
器13を有し、これらのX線管11と検出器13との間
にはスキャン機構部15が配設され、このスキャン礪構
部15上に被測定物17が配置されている。この被測定
物17はスキャン機構部15により回転しながらX線管
11と検出器13との間を横切るように移I−Jる。
また、X線管11および検出器13はU字形の支持アー
ム18を介して互いに連結されるとともに、エレベータ
19により上下方向、すなわち図面に対して垂直な方向
に移動し得るように構成されている。なお、X線管11
の直曲にはコリメータ12が設けられ、X線管11から
のX線をファン角15″′の厚さの薄いファンビームに
絞っている。
ム18を介して互いに連結されるとともに、エレベータ
19により上下方向、すなわち図面に対して垂直な方向
に移動し得るように構成されている。なお、X線管11
の直曲にはコリメータ12が設けられ、X線管11から
のX線をファン角15″′の厚さの薄いファンビームに
絞っている。
第2図はX線管11、検出器13および被測定物17に
対するスキャン機構部15およびエレベータ19の構造
を示す第1図の装置の機構部の側面図であるが、この第
2図に示すように、対向するX線管11と検出器13と
の間に配設されている被測定物17はスキシン機構部1
5を構成するローテーション/トラバーステーブル15
aの上に載置され、このローテーション/トラバーステ
ーブル15aは架台15b上に設けられている。
対するスキャン機構部15およびエレベータ19の構造
を示す第1図の装置の機構部の側面図であるが、この第
2図に示すように、対向するX線管11と検出器13と
の間に配設されている被測定物17はスキシン機構部1
5を構成するローテーション/トラバーステーブル15
aの上に載置され、このローテーション/トラバーステ
ーブル15aは架台15b上に設けられている。
また、X線管11および検出器13は上述したように支
持アーム18によって互いに連結されるとともに、X線
管11は第2図に示すようにエレベータ19に取り付け
られ、このエレベータ19によりX線管11および検出
器13は被測定物17に対して上下方向に移動し、被測
定物17の−F下方向の透視画像データを収集し得るよ
うになっている。
持アーム18によって互いに連結されるとともに、X線
管11は第2図に示すようにエレベータ19に取り付け
られ、このエレベータ19によりX線管11および検出
器13は被測定物17に対して上下方向に移動し、被測
定物17の−F下方向の透視画像データを収集し得るよ
うになっている。
第1図に戻って、検出器13はデータ収集装置(DAS
)21に接続されている。このデータ収集装置21は検
出器13で検出した被測定物17の透視データを収集し
、中央制御装置25に供給する。また、スキャン機構部
15およびエレベータ1つはR横制御部(M−CON)
23に接続され、この機構制御部23は中央制御装置2
5に接続されている。
)21に接続されている。このデータ収集装置21は検
出器13で検出した被測定物17の透視データを収集し
、中央制御装置25に供給する。また、スキャン機構部
15およびエレベータ1つはR横制御部(M−CON)
23に接続され、この機構制御部23は中央制御装置2
5に接続されている。
中央制御装置25はCPU27を有し、このCPU27
はDMAバス2つを介してメインメモリ(MM)31、
フロッピーディスク(FD)33、固定ディスク(DI
SK)35およびデータ入出力インタフェース(010
)37に接続されるとともに、インタフェース(I/F
)39を介してマルチパス41に1a続され、このマル
チパス41を介してインタフェース(I/F)43、画
像データメモリ(IM>45、データセレクタ47、デ
イスプレィメモリ(DISP−’M)49、デイスプレ
ィインタフェース(D l5P−[/F)51およびデ
ータシフタ53に接続されている。前記デイスプレィイ
ンタフ1−ス51にはCRT等のアイスプレイ57が接
続されている。また、インタフェース([/F)43、
画像メモリ([M)45、データセレクタ47、デイス
プレィメモリ(D ISP−M)49、デイスプレィイ
ンタフェース(DISP−1/F)51およびデータシ
フタ53は画像バス55を介して互いに接続されている
。
はDMAバス2つを介してメインメモリ(MM)31、
フロッピーディスク(FD)33、固定ディスク(DI
SK)35およびデータ入出力インタフェース(010
)37に接続されるとともに、インタフェース(I/F
)39を介してマルチパス41に1a続され、このマル
チパス41を介してインタフェース(I/F)43、画
像データメモリ(IM>45、データセレクタ47、デ
イスプレィメモリ(DISP−’M)49、デイスプレ
ィインタフェース(D l5P−[/F)51およびデ
ータシフタ53に接続されている。前記デイスプレィイ
ンタフ1−ス51にはCRT等のアイスプレイ57が接
続されている。また、インタフェース([/F)43、
画像メモリ([M)45、データセレクタ47、デイス
プレィメモリ(D ISP−M)49、デイスプレィイ
ンタフェース(DISP−1/F)51およびデータシ
フタ53は画像バス55を介して互いに接続されている
。
前記機構制御部23はデータ入出力インタフェース37
に接続され、またデータ収集装置21はインタフェース
43に接続されている。そして、データ収集装置21で
収集した検出器13からの収集データはインタフェース
43を介してCPU27の制御のもとに画像データメモ
リ45に記憶される。
に接続され、またデータ収集装置21はインタフェース
43に接続されている。そして、データ収集装置21で
収集した検出器13からの収集データはインタフェース
43を介してCPU27の制御のもとに画像データメモ
リ45に記憶される。
第3図は本実施例のデータ収集動作を説明Jる説明図で
ある。
ある。
検出器13はXLa管11からのX線をファン角α(本
実施例では15°)でカバーする検出子チャンネル数N
個、例えば88個の検出子で構成され、このファン角α
の領域を横切るように被測定物17がトラバースし、そ
の間にデータ収集を行っている。そして、1回のトラバ
ース毎に前記エレベータ19が画素間の距離に相当する
規定ピッチ下降または上昇する動作を繰り返し、所定数
のデータ列を収集でるようになっている。
実施例では15°)でカバーする検出子チャンネル数N
個、例えば88個の検出子で構成され、このファン角α
の領域を横切るように被測定物17がトラバースし、そ
の間にデータ収集を行っている。そして、1回のトラバ
ース毎に前記エレベータ19が画素間の距離に相当する
規定ピッチ下降または上昇する動作を繰り返し、所定数
のデータ列を収集でるようになっている。
第4図(a)はこのように収集したデータを示している
が、横方向にトラバース方向のデータ列(N)を示し、
縦方向に上下方向(n )を示し、(Nxn )のデー
タが収集される。すなわち、1回のトラバースで得られ
るデータ列は、検出子の数のN列であり、上下方向の下
降した回数nとの積の(NXn )列のデータとなる。
が、横方向にトラバース方向のデータ列(N)を示し、
縦方向に上下方向(n )を示し、(Nxn )のデー
タが収集される。すなわち、1回のトラバースで得られ
るデータ列は、検出子の数のN列であり、上下方向の下
降した回数nとの積の(NXn )列のデータとなる。
データ列におけるデータ点数りはトラバース中の機構に
設けられたエンコーダからのパルス信号によりトリガさ
れたデータ収集タイミングパルスで制御され、規定数取
られる。この収集データは検出器13からデータ収集8
置21およびインタフェース43を介して画像データメ
モリ45に一旦蓄積される。
設けられたエンコーダからのパルス信号によりトリガさ
れたデータ収集タイミングパルスで制御され、規定数取
られる。この収集データは検出器13からデータ収集8
置21およびインタフェース43を介して画像データメ
モリ45に一旦蓄積される。
このように画像データメモリ45に蓄積された画像デー
タは、データセレクタ47により、第4図(b)に1.
2,3.・・・・・・、Nとして示ずように最大検出子
チャンネル数、すなわちN枚の画像データとして編集さ
れる。
タは、データセレクタ47により、第4図(b)に1.
2,3.・・・・・・、Nとして示ずように最大検出子
チャンネル数、すなわちN枚の画像データとして編集さ
れる。
第5図はこのデータセレクタ47で行われる変換方法の
説明図である。
説明図である。
検出器13で収集された投影データは第5図に示すよう
にデータ列りとPl、P2.・・・・・・、Pnの1ト
ラバース毎のブロックであるが、N個の検出子のうちの
第1の検出子で得られる画像は同図において矢印で示す
ようにPi−1,P2−1゜P3−1.・・・・・・、
Pn−1を選択し、デイスプレィメモリ49の第1の画
像のデータエリアに蓄積される。同様に、第2の画像は
Pl−2,P’2−2、P3−2.・・・・・・、PN
−2を選択する。この動作をN個の検出器のすべてにつ
いて行うと、フッノン角αをすべてカバーし、全検出器
13で個々に透視した画像を得ることができる。
にデータ列りとPl、P2.・・・・・・、Pnの1ト
ラバース毎のブロックであるが、N個の検出子のうちの
第1の検出子で得られる画像は同図において矢印で示す
ようにPi−1,P2−1゜P3−1.・・・・・・、
Pn−1を選択し、デイスプレィメモリ49の第1の画
像のデータエリアに蓄積される。同様に、第2の画像は
Pl−2,P’2−2、P3−2.・・・・・・、PN
−2を選択する。この動作をN個の検出器のすべてにつ
いて行うと、フッノン角αをすべてカバーし、全検出器
13で個々に透視した画像を得ることができる。
次に、第6図のフローチャートを参照して作用を説明す
る。
る。
まず、X線管11をオンするとともに、機構制御部23
を介してスキャン機構部15を駆動し、被測定物17を
X線管11および検出器13の間を横切るようにトラバ
ースさせながら、被測定物17からのX線透過データを
検出器13で検出し、このデータをデータ収集装置21
およびインタフェース43を介して画像データメモリ4
5に収集づる(ステップ110,120)。
を介してスキャン機構部15を駆動し、被測定物17を
X線管11および検出器13の間を横切るようにトラバ
ースさせながら、被測定物17からのX線透過データを
検出器13で検出し、このデータをデータ収集装置21
およびインタフェース43を介して画像データメモリ4
5に収集づる(ステップ110,120)。
X線管11および検出器13の間を横切るトラバース動
作を終了し、このトラバースによるデータを収集すると
、エレベータ19によってX線管11および検出器13
を規定ピッチ下降しくステップ130) 、この下降し
た位置で同様にトラバースしてデータを収集する。この
下降動作を所定の規定回数のn回行うと、データ収集動
作が完了する(ステップ140.150)。それから、
画像データメモリ45に収集された画像データをデータ
セレクタ47によって前述した第5図r:説明したよう
にデータ変換、すなわちデータの再編集を行って、デイ
スプレィメモリ49に記憶しくステップ160,170
)、この再編集されて記憶された画像データをデイスプ
レィインタフェース51を介して順次読み出し、デイス
プレィ57に肉眼の残像時間に近い速度で表示の切り替
えを行うことにより、順次異なる方向の、すなわちファ
ン角αを視角とする立体透視画像として表示される(ス
テップ180)。
作を終了し、このトラバースによるデータを収集すると
、エレベータ19によってX線管11および検出器13
を規定ピッチ下降しくステップ130) 、この下降し
た位置で同様にトラバースしてデータを収集する。この
下降動作を所定の規定回数のn回行うと、データ収集動
作が完了する(ステップ140.150)。それから、
画像データメモリ45に収集された画像データをデータ
セレクタ47によって前述した第5図r:説明したよう
にデータ変換、すなわちデータの再編集を行って、デイ
スプレィメモリ49に記憶しくステップ160,170
)、この再編集されて記憶された画像データをデイスプ
レィインタフェース51を介して順次読み出し、デイス
プレィ57に肉眼の残像時間に近い速度で表示の切り替
えを行うことにより、順次異なる方向の、すなわちファ
ン角αを視角とする立体透視画像として表示される(ス
テップ180)。
第7図は、本実施例のローテーショントラバース(RT
)の2世代方式で得られる各検出チャンネル毎の透視方
向を示す図であり、角度0の異なる方向(例えば、ファ
ン角15°で88CHなら15°/87間隔で88方向
)から投影したものが検出器各チャンネル出力として得
られることを示す。
)の2世代方式で得られる各検出チャンネル毎の透視方
向を示す図であり、角度0の異なる方向(例えば、ファ
ン角15°で88CHなら15°/87間隔で88方向
)から投影したものが検出器各チャンネル出力として得
られることを示す。
また、第1図に設けられているデータシフタ53は画像
のファン角方向のデータシフトを任意に行う機能、すな
わら画像データをトラバース方向のシフトして加咋する
機能を有するものである。
のファン角方向のデータシフトを任意に行う機能、すな
わら画像データをトラバース方向のシフトして加咋する
機能を有するものである。
各チャンネルの画像データをファン角方向にシフトした
後加偉し、表示することにより立体画像表示が可能にな
る。また、カラー化と陰影処理を加えることにより更に
進んだ立体画像の表示が可能になる。
後加偉し、表示することにより立体画像表示が可能にな
る。また、カラー化と陰影処理を加えることにより更に
進んだ立体画像の表示が可能になる。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明によれば、被測定物に放射
線を照射しながら被測定物を相対的に横方向に移動させ
るとともに上下方向に移動させて収集した被測定物の透
視画像データを検出子毎に再編集して立体透視画像を表
示するので、平行ビームによる歪のない透視画像が得ら
れるとともに、各検出器の角度が異なることによりファ
ン角度を視角とする立体透視画像が得られる。また、画
像の情報量が増大することにより高精度透視画像が得ら
れる。
線を照射しながら被測定物を相対的に横方向に移動させ
るとともに上下方向に移動させて収集した被測定物の透
視画像データを検出子毎に再編集して立体透視画像を表
示するので、平行ビームによる歪のない透視画像が得ら
れるとともに、各検出器の角度が異なることによりファ
ン角度を視角とする立体透視画像が得られる。また、画
像の情報量が増大することにより高精度透視画像が得ら
れる。
第1図は本発明の一実施例に係る平行投影データによる
透視装置の構成を示す図、第2図は第1図の透視装置の
機構部の構造を示す側面図、第3図は第1図の透視装置
におけるデータ収集動作を示す説明図、第4図は第1図
の透pA装置における画像データの編集方法を示す説明
図、第5図は第1図の透視装置における画像データの変
換方法を示す説明図、第6図は第1図の3!!視装置の
作用を示すフローチャート、第7図は各検出チャンネル
毎の透視方向を示す図、第8図は従来の透視画像データ
の編集方法を示す説明図である。 11・・・X線管 13・・・検出器 15・・・スキャン機構部 17・・・被測定物 19・・・エレベータ 21・・・データ収集装置 25・・・中央制御装置 45・・・画像データメモリ 7・・・データセレクタ 49・・・デイスプレィメモリ 53・・・データシフタ 57・・・デイスプレィ
透視装置の構成を示す図、第2図は第1図の透視装置の
機構部の構造を示す側面図、第3図は第1図の透視装置
におけるデータ収集動作を示す説明図、第4図は第1図
の透pA装置における画像データの編集方法を示す説明
図、第5図は第1図の透視装置における画像データの変
換方法を示す説明図、第6図は第1図の3!!視装置の
作用を示すフローチャート、第7図は各検出チャンネル
毎の透視方向を示す図、第8図は従来の透視画像データ
の編集方法を示す説明図である。 11・・・X線管 13・・・検出器 15・・・スキャン機構部 17・・・被測定物 19・・・エレベータ 21・・・データ収集装置 25・・・中央制御装置 45・・・画像データメモリ 7・・・データセレクタ 49・・・デイスプレィメモリ 53・・・データシフタ 57・・・デイスプレィ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被測定物に向けてファンビーム状の放射線を発生する放
射線発生手段と、 被測定物を挾んで前記放射線発生手段に対向して配設さ
れ、被測定物を透過した前記放射線発生手段からの放射
線を検出する複数の連設される検出子からなる検出手段
と、 前記放射線発生手段および前記検出手段に対して被測定
物を相対的に横方向および上下方向に移動させる移動手
段と、 この移動手段で被測定物の相対的な移動を行なうと共に
前記検出手段で当該被測定物を透過した放射線を検出す
ることによって得られるデータを収集するデータ収集手
段と、 このデータ収集手段で収集したデータを前記検出子毎に
再編集する再編集手段と、 この再編集手段で再編集したデータを画像として出力す
る出力手段と を有することを特徴とする透視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63226349A JPH0274854A (ja) | 1988-09-12 | 1988-09-12 | 透視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63226349A JPH0274854A (ja) | 1988-09-12 | 1988-09-12 | 透視装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0274854A true JPH0274854A (ja) | 1990-03-14 |
Family
ID=16843770
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63226349A Pending JPH0274854A (ja) | 1988-09-12 | 1988-09-12 | 透視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0274854A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015161508A (ja) * | 2014-02-26 | 2015-09-07 | 日本装置開発株式会社 | X線検査装置およびx線検査装置の制御方法 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6232347A (ja) * | 1985-08-06 | 1987-02-12 | Nippon Steel Corp | 材料の非破壊劣化試験方法 |
-
1988
- 1988-09-12 JP JP63226349A patent/JPH0274854A/ja active Pending
Patent Citations (1)
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