JPH0274856A - スケールモニタ - Google Patents
スケールモニタInfo
- Publication number
- JPH0274856A JPH0274856A JP22604888A JP22604888A JPH0274856A JP H0274856 A JPH0274856 A JP H0274856A JP 22604888 A JP22604888 A JP 22604888A JP 22604888 A JP22604888 A JP 22604888A JP H0274856 A JPH0274856 A JP H0274856A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scale
- sensor
- attached
- electric resistor
- resistance value
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- Pending
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- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はスケールモニタに係り、特にボイラ水系、冷却
水系等で使用される熱交換器等に付着生成するスケール
をモニタするためのものに関する。
水系等で使用される熱交換器等に付着生成するスケール
をモニタするためのものに関する。
(従来の技術)
従来から、熱交換器に付着生成するスケールをモニタし
、スケール付着防止剤の薬注制御を行なったり、または
その薬剤効果を確認することが行なわれている。
、スケール付着防止剤の薬注制御を行なったり、または
その薬剤効果を確認することが行なわれている。
第3図は従来のスケールモニタの一例であって、熱交換
器への循環水の一部がテストカラム30内に流出してお
り、この中に熱交換器チューブと同質材料で形成した密
閉筒状のシーブ31が配置されている。このシーブ31
は熱交換器内に配置された熱交換チューブと同一温度条
件となるようにヒータ32で加温されるとともに、シー
ブ31内の温度が温度センサ33で検出されるように構
成されている。
器への循環水の一部がテストカラム30内に流出してお
り、この中に熱交換器チューブと同質材料で形成した密
閉筒状のシーブ31が配置されている。このシーブ31
は熱交換器内に配置された熱交換チューブと同一温度条
件となるようにヒータ32で加温されるとともに、シー
ブ31内の温度が温度センサ33で検出されるように構
成されている。
したがって、温度センサ33ではシーブ31の表面にス
ケールが付着生成される以前のシーブ内の温度が計測さ
れるとともに、スケール付着生成後の温度も検出され、
この前後の温度差から演算器によりスケール付着生成m
あるいは付着生成速度が算出されている。すなわち、シ
ーブ31のスケール付着生成前後の熱伝導率の相違から
所定の演算式を用いて付着生成m等か算出されている。
ケールが付着生成される以前のシーブ内の温度が計測さ
れるとともに、スケール付着生成後の温度も検出され、
この前後の温度差から演算器によりスケール付着生成m
あるいは付着生成速度が算出されている。すなわち、シ
ーブ31のスケール付着生成前後の熱伝導率の相違から
所定の演算式を用いて付着生成m等か算出されている。
(発明が解決しようとする課題)
ところが、上記従来のスケールモニタにあってはシーブ
内にヒータと温度センサとを密閉状に内蔵し、そのシー
ブへのスケール付着生成前後の温度差を検出してスケー
ル付着生成量を演算するように構成されているため、加
温のための電気設備が大掛かりとなるだけでなく、シー
ブ内にヒータと温度計とを所定間隔保って内蔵しなけれ
ばならず高度な技術を要し、コスト高になる欠点があっ
た。
内にヒータと温度センサとを密閉状に内蔵し、そのシー
ブへのスケール付着生成前後の温度差を検出してスケー
ル付着生成量を演算するように構成されているため、加
温のための電気設備が大掛かりとなるだけでなく、シー
ブ内にヒータと温度計とを所定間隔保って内蔵しなけれ
ばならず高度な技術を要し、コスト高になる欠点があっ
た。
また、シーブ肉厚を所定の厚さにしないとスケール付着
生成後でも温度上昇が正確に検出されず、このためモニ
タが不正確になるという問題点があった。
生成後でも温度上昇が正確に検出されず、このためモニ
タが不正確になるという問題点があった。
(課題を解決するだめの手段)
本発明は、上記課題に濫みてなされたものであって、そ
の構成は、スケール付着生成面がボイラ水あるいは冷却
水、かつ面が電気抵抗体により加温される熱膜式のスケ
ールセンサと、 前記スケール付着面にスケールが付着生成されることに
よるその面の熱伝導率の変化を前記電気抵抗体の抵抗値
変化として検出し、該検出信号に基づいてスケール付着
生成面またはスケール付着生成速度を演算するための演
算手段と、からなることを特徴とするものである。
の構成は、スケール付着生成面がボイラ水あるいは冷却
水、かつ面が電気抵抗体により加温される熱膜式のスケ
ールセンサと、 前記スケール付着面にスケールが付着生成されることに
よるその面の熱伝導率の変化を前記電気抵抗体の抵抗値
変化として検出し、該検出信号に基づいてスケール付着
生成面またはスケール付着生成速度を演算するための演
算手段と、からなることを特徴とするものである。
(作用)
本発明では、ボイラ水等の流出水中に設けられた熱膜式
のセンサ表面にスケールが付着生成されると、そのセン
サ表面の熱伝導率が変化し、これがセンサの電気抵抗体
の抵抗値の変化として検出され、その変化量からスケー
ル付着生成量または付着生成速度が演算手段により算出
される。
のセンサ表面にスケールが付着生成されると、そのセン
サ表面の熱伝導率が変化し、これがセンサの電気抵抗体
の抵抗値の変化として検出され、その変化量からスケー
ル付着生成量または付着生成速度が演算手段により算出
される。
(実施例)
以下、本発明を図面に基づいて説明する。
第1図は、本発明装置の概略構成を示すブロック図であ
って、図中aはセンサ部およびbは演算手段である。
って、図中aはセンサ部およびbは演算手段である。
センサ部aは、熱交換器(図示せず)の循環水の一部が
分岐して流出するテストカラム1と、このテストカラム
1の内壁に貼着されたスケールセンサ2.流速センサ3
および周知の温度センサ4とから構成されている。
分岐して流出するテストカラム1と、このテストカラム
1の内壁に貼着されたスケールセンサ2.流速センサ3
および周知の温度センサ4とから構成されている。
これらセンサのうち、スケールセンサ2および流速セン
サ3は周知の熱膜式のセンサから構成されている。すな
わち、これらセンサ2,3は流出する循環水と接する面
を有するとともに、その内部に電気抵抗体(図示せず)
が内蔵されており、この電気抵抗体に所定の微弱な電流
が印加されると上記面が所定温度に加温されるように構
成されている。なお、スケールセンサ2の面(循環水と
接する面(スケール付着生成面))は熱交換器のチュー
ブ材質と同質材料で形成されている。
サ3は周知の熱膜式のセンサから構成されている。すな
わち、これらセンサ2,3は流出する循環水と接する面
を有するとともに、その内部に電気抵抗体(図示せず)
が内蔵されており、この電気抵抗体に所定の微弱な電流
が印加されると上記面が所定温度に加温されるように構
成されている。なお、スケールセンサ2の面(循環水と
接する面(スケール付着生成面))は熱交換器のチュー
ブ材質と同質材料で形成されている。
演算手段すは、CPU5を中心に形成されている。すな
わち、このCPU5はROM6に格納されているシステ
ムプログラムにより装置全体を統括的に制御するととも
に、RAM7に格納されているワーキングプログラムに
よりスケール付着生成量または付着生成速度の演算を行
ない、この演算結果はパスライン8を介して表示手段と
してのCRT9へ送出して表示されるように形成されて
いる。
わち、このCPU5はROM6に格納されているシステ
ムプログラムにより装置全体を統括的に制御するととも
に、RAM7に格納されているワーキングプログラムに
よりスケール付着生成量または付着生成速度の演算を行
ない、この演算結果はパスライン8を介して表示手段と
してのCRT9へ送出して表示されるように形成されて
いる。
さらに、CPU5はパスライン8を介してスケールセン
サ駆動回路10および流速センサ駆動回路11を駆動し
、センサ部aの各センサ2,3に駆動電流を供給制御す
るとともに、各センサ2゜3.4からの検出信号を各バ
ッファ12. 13゜14を介してRAM7内に取り込
むように制御が行なわれている。
サ駆動回路10および流速センサ駆動回路11を駆動し
、センサ部aの各センサ2,3に駆動電流を供給制御す
るとともに、各センサ2゜3.4からの検出信号を各バ
ッファ12. 13゜14を介してRAM7内に取り込
むように制御が行なわれている。
以上の構成からなる本実施例の動作を第2図のフローチ
ャートを参照して説明する。
ャートを参照して説明する。
今、テストカラム1内に熱交換器の循環水が流出される
と、スケールセンサ2および流速センサ3にスケールセ
ンサ駆動回路10および流速センサ駆動回路11から所
定の駆動電流が供給される(ステップ100)。上記各
センサ2,3は電流供給により上記各センサに内蔵され
ている電気抵抗体が発熱することにより加温されるが、
゛流出する循環水に熱が奪われて所定の温度に収束する
(ステップ102)。この収束の温度はセンサの電気抵
抗体の発熱量、センサの熱伝導率1センサ面一1−の循
環水流速および循環水温度によって決められ、この温度
における各センサ2,3の電気抵抗体の抵抗値は各セン
サ2,3の供給電流値から読み取ることができるので、
この値が各バッファ12.13を介してRAMV内に取
り込まれて記憶される(ステップ104)。
と、スケールセンサ2および流速センサ3にスケールセ
ンサ駆動回路10および流速センサ駆動回路11から所
定の駆動電流が供給される(ステップ100)。上記各
センサ2,3は電流供給により上記各センサに内蔵され
ている電気抵抗体が発熱することにより加温されるが、
゛流出する循環水に熱が奪われて所定の温度に収束する
(ステップ102)。この収束の温度はセンサの電気抵
抗体の発熱量、センサの熱伝導率1センサ面一1−の循
環水流速および循環水温度によって決められ、この温度
における各センサ2,3の電気抵抗体の抵抗値は各セン
サ2,3の供給電流値から読み取ることができるので、
この値が各バッファ12.13を介してRAMV内に取
り込まれて記憶される(ステップ104)。
CPU5では、RAM7に格納された流速センサ3から
の値を基に、循環水流速Fの算出が行なわれる。すなわ
ち、流速センサ3の電気抵抗体の所定温度における抵抗
値およびこれに供給される電流が既知であるので、その
発熱量は既知であり、またこのセンサ3の熱伝導率が既
知であるので、所定温度の循環水がセンサ3と接して放
熱されることによる電気抵抗体の温度低下からその循環
水の流速が算出される。
の値を基に、循環水流速Fの算出が行なわれる。すなわ
ち、流速センサ3の電気抵抗体の所定温度における抵抗
値およびこれに供給される電流が既知であるので、その
発熱量は既知であり、またこのセンサ3の熱伝導率が既
知であるので、所定温度の循環水がセンサ3と接して放
熱されることによる電気抵抗体の温度低下からその循環
水の流速が算出される。
同様に、CPU5ではRAM7に格納されたスケールセ
ンサ2からの値を基にスケール付着生成量が算出される
。すなわち、スケールセンサ2からも上記流速センサ3
の放熱と同じく循環水中に放熱されて所定の温度に収束
される。モニタ開始時はまだスケールセンサ2の面にス
ケールが付着生成されていない初期熱伝導率で放熱され
ている。
ンサ2からの値を基にスケール付着生成量が算出される
。すなわち、スケールセンサ2からも上記流速センサ3
の放熱と同じく循環水中に放熱されて所定の温度に収束
される。モニタ開始時はまだスケールセンサ2の面にス
ケールが付着生成されていない初期熱伝導率で放熱され
ている。
したがってこのときのスケールセンサ2の電気抵抗体の
抵抗値に基づく値が初期のスケール付着生成量S。とじ
て算出されて、これがRAM7に記憶される(ステップ
106)。
抵抗値に基づく値が初期のスケール付着生成量S。とじ
て算出されて、これがRAM7に記憶される(ステップ
106)。
なお、通常テストカラム内の循環水流速は既知であるこ
とが多く、このような場合は流速Fを予めRAM7に記
憶させておくことにより流速を検出するための流速セン
サ3を省略することができる。
とが多く、このような場合は流速Fを予めRAM7に記
憶させておくことにより流速を検出するための流速セン
サ3を省略することができる。
そして、所定時間循環水の流出が経過した後、再びスケ
ールセンサ2からの出力値がRAM7に取り込まれる。
ールセンサ2からの出力値がRAM7に取り込まれる。
このときは、スケール付着生成面にカルシウム等を成分
とするスケールが付着生成されているのでその熱伝導率
が変化し、つまりその熱伝導率が低下しスケールセンサ
2からの放熱■が低下してスケールセンサ2の温度も上
昇する。
とするスケールが付着生成されているのでその熱伝導率
が変化し、つまりその熱伝導率が低下しスケールセンサ
2からの放熱■が低下してスケールセンサ2の温度も上
昇する。
この温度上昇によりスケールセンサ2内の電気抵抗体の
抵抗値が変化するので、CPU5ではこの変化量からス
ケール付着生成面の熱伝導率の変化が算出されるととも
に、その算出された熱伝導率の変化分を基にスケール付
着生成ff1F+が算出される。さらに、今回のスケー
ル付着生成量F1から前回のスケール付着生成量Foを
減算して単位時間当たりのスケール付着生成量(スケー
ル付着生成速度)が算出され、これらはCRT9に表示
される。このスケール付着生成量検出は所定時間毎に繰
り返される(ステップ108肯定、110゜112.1
14否定)。
抵抗値が変化するので、CPU5ではこの変化量からス
ケール付着生成面の熱伝導率の変化が算出されるととも
に、その算出された熱伝導率の変化分を基にスケール付
着生成ff1F+が算出される。さらに、今回のスケー
ル付着生成量F1から前回のスケール付着生成量Foを
減算して単位時間当たりのスケール付着生成量(スケー
ル付着生成速度)が算出され、これらはCRT9に表示
される。このスケール付着生成量検出は所定時間毎に繰
り返される(ステップ108肯定、110゜112.1
14否定)。
なお、この算出されたスケール付着生成量ないし付着生
成速度の増加傾向によりスケール付着防止剤の薬注割合
を制御するようにしてもよいことは勿論である。
成速度の増加傾向によりスケール付着防止剤の薬注割合
を制御するようにしてもよいことは勿論である。
以」二のように、本実施例においては付着生成量または
付着生成速度を熱膜式のセンサの電気抵抗体の抵抗値か
ら求めるように構成したので、センサ部構造が極めて簡
単となり安価に製作することができる。
付着生成速度を熱膜式のセンサの電気抵抗体の抵抗値か
ら求めるように構成したので、センサ部構造が極めて簡
単となり安価に製作することができる。
なお、上述の実施例では各センサをテストカラム内に設
けるようにしたが、これを直接熱交換器本体に設けても
よく、また循環水経路に直接設けるようにしてもよい。
けるようにしたが、これを直接熱交換器本体に設けても
よく、また循環水経路に直接設けるようにしてもよい。
この場合、スケールセンサをその経路の直線部や屈曲部
等の任意の場所に複数設け、各部のスケール付着生成状
態をモニタするようにしてもよい。
等の任意の場所に複数設け、各部のスケール付着生成状
態をモニタするようにしてもよい。
(効果)
本発明は、上述のようにスケール付着生成量を熱膜式の
センサの電気抵抗体の抵抗値変化から求めるように構成
したので、センサ部構造が極めて簡単となり安価に製作
することができる。
センサの電気抵抗体の抵抗値変化から求めるように構成
したので、センサ部構造が極めて簡単となり安価に製作
することができる。
第1図は本発明装置の概略構成を示すブロック図、第2
図は制御動作を示すフローチャートおよび第3図は従来
のスケールモニタ装置の構成を示す断面図である。 1・・・テストカラム 2・・・熱膜式のスケールセンサ 3・・・流速センサ 4・・・温度センサ 5・・・CPU 6・・・ROM 7・・・RAM 10・・・スケールセンサ駆動回路 11・・・流速センサ駆動回路 a・・・センサ部 b・・・演算手段
図は制御動作を示すフローチャートおよび第3図は従来
のスケールモニタ装置の構成を示す断面図である。 1・・・テストカラム 2・・・熱膜式のスケールセンサ 3・・・流速センサ 4・・・温度センサ 5・・・CPU 6・・・ROM 7・・・RAM 10・・・スケールセンサ駆動回路 11・・・流速センサ駆動回路 a・・・センサ部 b・・・演算手段
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、スケール付着生成面がボイラ水あるいは冷却水等の
流出水と接するように設けられ、かつその面が電気抵抗
体により加温される熱膜式のスケールセンサと、 前記スケール付着面にスケールが付着生成されることに
よるその面の熱伝導率の変化を前記電気抵抗体の抵抗値
変化として検出し、該検出信号に基づいてスケール付着
生成量またはスケール付着生成速度を演算するための演
算手段と、 からなることを特徴とするスケールモニタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22604888A JPH0274856A (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | スケールモニタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22604888A JPH0274856A (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | スケールモニタ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0274856A true JPH0274856A (ja) | 1990-03-14 |
Family
ID=16838973
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22604888A Pending JPH0274856A (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | スケールモニタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0274856A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09166568A (ja) * | 1995-12-14 | 1997-06-24 | Snow Brand Milk Prod Co Ltd | 製造設備の汚れ度合いおよび洗浄効果の測定方法 |
| FR2788600A1 (fr) * | 1999-01-20 | 2000-07-21 | Elf Exploration Prod | Procede de detection de la formation d'un depot de matiere contenue dans un fluide, sur une face d'un capteur de flux thermique et dispositif pour la mise en oeuvre de ce procede |
| JP2008046007A (ja) * | 2006-08-17 | 2008-02-28 | Fuji Electric Fa Components & Systems Co Ltd | 薄膜ガスセンサの異常検知方法 |
| JP2008241631A (ja) * | 2007-03-28 | 2008-10-09 | Kurita Water Ind Ltd | 蒸気経路の腐食の監視方法 |
| JP2011524981A (ja) * | 2008-06-18 | 2011-09-08 | エレクトリシテ・ドゥ・フランス | 熱交換器内のファウリングの検出及び/又は測定のための方法及び装置 |
-
1988
- 1988-09-09 JP JP22604888A patent/JPH0274856A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH09166568A (ja) * | 1995-12-14 | 1997-06-24 | Snow Brand Milk Prod Co Ltd | 製造設備の汚れ度合いおよび洗浄効果の測定方法 |
| FR2788600A1 (fr) * | 1999-01-20 | 2000-07-21 | Elf Exploration Prod | Procede de detection de la formation d'un depot de matiere contenue dans un fluide, sur une face d'un capteur de flux thermique et dispositif pour la mise en oeuvre de ce procede |
| WO2000043762A1 (fr) * | 1999-01-20 | 2000-07-27 | Elf Exploration Production | Procede et dispositif de detection de la formation d'un depot de matiere sur une face d'un capteur de flux thermique |
| JP2008046007A (ja) * | 2006-08-17 | 2008-02-28 | Fuji Electric Fa Components & Systems Co Ltd | 薄膜ガスセンサの異常検知方法 |
| JP2008241631A (ja) * | 2007-03-28 | 2008-10-09 | Kurita Water Ind Ltd | 蒸気経路の腐食の監視方法 |
| JP2011524981A (ja) * | 2008-06-18 | 2011-09-08 | エレクトリシテ・ドゥ・フランス | 熱交換器内のファウリングの検出及び/又は測定のための方法及び装置 |
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