JPH027529B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH027529B2 JPH027529B2 JP58016328A JP1632883A JPH027529B2 JP H027529 B2 JPH027529 B2 JP H027529B2 JP 58016328 A JP58016328 A JP 58016328A JP 1632883 A JP1632883 A JP 1632883A JP H027529 B2 JPH027529 B2 JP H027529B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- series
- transistor
- transistors
- output
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000015654 memory Effects 0.000 description 6
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/22—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral
- H03K5/24—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral the characteristic being amplitude
- H03K5/2472—Circuits having more than one input and one output for comparing pulses or pulse trains with each other according to input signal characteristics, e.g. slope, integral the characteristic being amplitude using field effect transistors
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
- G11C7/062—Differential amplifiers of non-latching type, e.g. comparators, long-tailed pairs
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、同じ導電型の絶縁ゲート電界効果ト
ランジスタを使用する集積比較回路に関するもの
であり、それは2個の入力部に与えられた任意の
電位差から回路のゼロ点の電位に対応する可能の
ある低レベル状態か或は動作電源の電位に対応す
る可能性のある高レベル状態かの何れかの出力信
号を発生する。
ランジスタを使用する集積比較回路に関するもの
であり、それは2個の入力部に与えられた任意の
電位差から回路のゼロ点の電位に対応する可能の
ある低レベル状態か或は動作電源の電位に対応す
る可能性のある高レベル状態かの何れかの出力信
号を発生する。
そのような比較回路は例えばフリツプ・フロツ
プの原理で動作するスタテイツクなメモリセルを
使用したメモリ用のいわゆる感知増幅器として使
用することができる。そのようなメモリセルの2
つの出力の一方が高レベルで他方が低レベルであ
るような状態におけるそれら出力間の電位差に等
しい出力電圧は次のようにして取り出され或は読
み取られ(感知され)る。すなわち高レベル状態
と低レベル状態との間の間隔がこの出力において
できるだけ大きくなるように生じる。すなわち、
2つの状態は回路のゼロ点の電位または動作電圧
の電位にそれぞれできるだけ近くされる。さらに
回路は入力における小さな電位差に迅速確実に応
答することが要求される。すなわち、入力におけ
る電位差ゼロの区域内の回路の感度はできるだけ
大きくされ、したがつて応答速度は著しく増加す
る必要がある。
プの原理で動作するスタテイツクなメモリセルを
使用したメモリ用のいわゆる感知増幅器として使
用することができる。そのようなメモリセルの2
つの出力の一方が高レベルで他方が低レベルであ
るような状態におけるそれら出力間の電位差に等
しい出力電圧は次のようにして取り出され或は読
み取られ(感知され)る。すなわち高レベル状態
と低レベル状態との間の間隔がこの出力において
できるだけ大きくなるように生じる。すなわち、
2つの状態は回路のゼロ点の電位または動作電圧
の電位にそれぞれできるだけ近くされる。さらに
回路は入力における小さな電位差に迅速確実に応
答することが要求される。すなわち、入力におけ
る電位差ゼロの区域内の回路の感度はできるだけ
大きくされ、したがつて応答速度は著しく増加す
る必要がある。
最後に、そのような比較回路は低電流消費量で
あることが要求され、製造中全集積回路の一部と
して、例えばメモリマトリツクスの一部として製
造パラメータの変動に対してできる限り不感であ
り、かつ占有表面積が小さいことが要求される。
あることが要求され、製造中全集積回路の一部と
して、例えばメモリマトリツクスの一部として製
造パラメータの変動に対してできる限り不感であ
り、かつ占有表面積が小さいことが要求される。
特許請求の範囲に記載された本発明は上述の要
求を満足するような特性を有し、したがつて上述
の問題は本発明により解決される。
求を満足するような特性を有し、したがつて上述
の問題は本発明により解決される。
添附図面に示す実施例により本発明を詳細に説
明する。動作電源と回路のゼロ点との間にそれぞ
れ3個のトランジスタの被制御電流路の直列接続
より成る4組の直列装置s1,s2,s3,s4
が配置されている。第1のトランジスタo1,o
2,o3,o4は動作電源に接続されており、説
明を簡単にするために以下上部トランジスタと呼
び、以下中央トランジスタと呼ぶ第2のトランジ
スタm1,m2,m3,m4と共にデプレシヨン
型であり、互に同じ幾何学的寸法のものである。
回路のゼロ点に接続され、以下簡単にするため下
部トランジスタと呼ばれる第3のトランジスタu
1,u2,u3,u4は同様に互に幾何学的寸法
であつてエンフアンスメント型である。
明する。動作電源と回路のゼロ点との間にそれぞ
れ3個のトランジスタの被制御電流路の直列接続
より成る4組の直列装置s1,s2,s3,s4
が配置されている。第1のトランジスタo1,o
2,o3,o4は動作電源に接続されており、説
明を簡単にするために以下上部トランジスタと呼
び、以下中央トランジスタと呼ぶ第2のトランジ
スタm1,m2,m3,m4と共にデプレシヨン
型であり、互に同じ幾何学的寸法のものである。
回路のゼロ点に接続され、以下簡単にするため下
部トランジスタと呼ばれる第3のトランジスタu
1,u2,u3,u4は同様に互に幾何学的寸法
であつてエンフアンスメント型である。
各直列装置s1…s4の入力部はそれぞれ上部
トランジスタo1…o4のゲートであり、その出
力部はそれぞれ中央トランジスタm1…m4と下
部トランジスタu1…u4との接続点である。第
1および第3の直列装置s1,s3の入力部は一
緒に比較回路の第1の入力部e1に接続され、第
2および第4の直列装置s2,s4の入力部は第
2の入力部e2に接続される。
トランジスタo1…o4のゲートであり、その出
力部はそれぞれ中央トランジスタm1…m4と下
部トランジスタu1…u4との接続点である。第
1および第3の直列装置s1,s3の入力部は一
緒に比較回路の第1の入力部e1に接続され、第
2および第4の直列装置s2,s4の入力部は第
2の入力部e2に接続される。
第1、第3、第4の直列装置s1,s3,s4
の中央トランジスタm1,m3,m4は抵抗とし
て接続され、そのためそれらトランジスタのゲー
トは関係する上部トランジスタとの接続点に接続
されている。第2の直列装置s2の中央トランジ
スタm2のゲートは第4の直列装置s4の上部ト
ランジスタo4と中央トランジスタm4との接続
点に接続され、それによつて比較回路内のフイー
ドバツクを行なつている。
の中央トランジスタm1,m3,m4は抵抗とし
て接続され、そのためそれらトランジスタのゲー
トは関係する上部トランジスタとの接続点に接続
されている。第2の直列装置s2の中央トランジ
スタm2のゲートは第4の直列装置s4の上部ト
ランジスタo4と中央トランジスタm4との接続
点に接続され、それによつて比較回路内のフイー
ドバツクを行なつている。
第1の直列装置s1の下方トランジスタu1の
ゲートは出力部に接続され、その出力部にはまた
第2の直列装置s2の下部トランジスタu2のゲ
ートが接続されている。同様に第3、第4の直列
装置s3,s4の下部トランジスタu3,u4の
ゲートは第2の直列装置s2と第3の直列装置s
3の出力部にそれぞれ接続されている。最後に第
4の直列装置s4の出力部は比較回路の出力部a
である。動作中、上部トランジスタo1…o4は
電圧で制御される抵抗として作用する。第1の直
列装置s1は第2の直列装置s2と共に直列装置
中の対応する電流に関してカレントミラー回路を
形成し、電流は入力部e1の電位により決定され
る。
ゲートは出力部に接続され、その出力部にはまた
第2の直列装置s2の下部トランジスタu2のゲ
ートが接続されている。同様に第3、第4の直列
装置s3,s4の下部トランジスタu3,u4の
ゲートは第2の直列装置s2と第3の直列装置s
3の出力部にそれぞれ接続されている。最後に第
4の直列装置s4の出力部は比較回路の出力部a
である。動作中、上部トランジスタo1…o4は
電圧で制御される抵抗として作用する。第1の直
列装置s1は第2の直列装置s2と共に直列装置
中の対応する電流に関してカレントミラー回路を
形成し、電流は入力部e1の電位により決定され
る。
2つの入力部e1,e2における電位差ゼロの
区域内において4個の直列装置の出力はそれぞれ
同じ電位をとり、それ故4個の直列装置s1…s
4によつて形成されたインバータはそれぞれ最大
の相互コンダクタンスを有する。
区域内において4個の直列装置の出力はそれぞれ
同じ電位をとり、それ故4個の直列装置s1…s
4によつて形成されたインバータはそれぞれ最大
の相互コンダクタンスを有する。
今、第1の入力部e1の第2の入力部e2に対
する電位差uがゼロから正方向に変化する、すな
わち第1の入力部e1の電位が第2の入力部e2
の電位よりも正になる方向に変化すると仮定す
る。第1および第2の入力部e1,e2は最初の
状態で所定の電流値になるように適当なバイアス
が与えられており、前記のような入力電圧の変化
は第1の入力部e1を最初の状態よりも正方向の
電位に変化させ、また第2の入力部e2を最初の
状態よりも負方向の電位に変化させる。上部トラ
ンジスタを通常使用されているn型とすると、上
部トランジスタo1,o3はさらにオーム抵抗が
低くなり、上部トランジスタo2,o4はオーム
抵抗が高くなる。それ故下部トランジスタu1,
u3の電流は増加する。したがつて第2および第
4の直列装置s2,s4の両出力電圧は減少し、
第3の直列装置s3の出力電圧は増加する。同時
に中央トランジスタm2のゲートにおける電圧は
降下し、これは第2の直列装置s2の出力電圧の
降下を助ける。このことから装置の迅速なスイツ
チングが生じ、それ故比較回路はその良好な応答
性に加えて非常に良好な応答速度を有する。
する電位差uがゼロから正方向に変化する、すな
わち第1の入力部e1の電位が第2の入力部e2
の電位よりも正になる方向に変化すると仮定す
る。第1および第2の入力部e1,e2は最初の
状態で所定の電流値になるように適当なバイアス
が与えられており、前記のような入力電圧の変化
は第1の入力部e1を最初の状態よりも正方向の
電位に変化させ、また第2の入力部e2を最初の
状態よりも負方向の電位に変化させる。上部トラ
ンジスタを通常使用されているn型とすると、上
部トランジスタo1,o3はさらにオーム抵抗が
低くなり、上部トランジスタo2,o4はオーム
抵抗が高くなる。それ故下部トランジスタu1,
u3の電流は増加する。したがつて第2および第
4の直列装置s2,s4の両出力電圧は減少し、
第3の直列装置s3の出力電圧は増加する。同時
に中央トランジスタm2のゲートにおける電圧は
降下し、これは第2の直列装置s2の出力電圧の
降下を助ける。このことから装置の迅速なスイツ
チングが生じ、それ故比較回路はその良好な応答
性に加えて非常に良好な応答速度を有する。
この発明によれば上記のような直列装置の各第
1、第2、第3のトランジスタo1,o2…、m
1,m2…、u1,u2…等は集積回路であるた
めそれぞれ同じ幾何学的形状で同様の処理によつ
て製作され、製造パラメータの変動は同様の影響
を与え、オフセツト電圧の影響等が相殺されるた
め比較回路の比較特性には影響しない。したがつ
て製造パラメータの変動に対して不感にすること
ができる。また全てのトランジスタを比較的小面
積のトランジスタとすることが可能となるためチ
ツプの占有面積も小さくてすむ利点がある。
1、第2、第3のトランジスタo1,o2…、m
1,m2…、u1,u2…等は集積回路であるた
めそれぞれ同じ幾何学的形状で同様の処理によつ
て製作され、製造パラメータの変動は同様の影響
を与え、オフセツト電圧の影響等が相殺されるた
め比較回路の比較特性には影響しない。したがつ
て製造パラメータの変動に対して不感にすること
ができる。また全てのトランジスタを比較的小面
積のトランジスタとすることが可能となるためチ
ツプの占有面積も小さくてすむ利点がある。
本発明の比較回路はクロツク周波数17MHzで
動作するランダムアクセス型のスタテイツクメモ
リに実際に使用され、この周波数で行なわれたメ
モリの状態変化を読み取る(感知する)ことがで
きた。
動作するランダムアクセス型のスタテイツクメモ
リに実際に使用され、この周波数で行なわれたメ
モリの状態変化を読み取る(感知する)ことがで
きた。
図は本発明の比較回路の1実施例の回路図であ
る。 s1,s2,s3,s4…直列装置、o1,o
2,o3,o4…上部トランジスタ、m1,m
2,m3,m4…中央トランジスタ、u1,u
2,u3,u4…下部トランジスタ、e1,e2
…入力部、a…出力部。
る。 s1,s2,s3,s4…直列装置、o1,o
2,o3,o4…上部トランジスタ、m1,m
2,m3,m4…中央トランジスタ、u1,u
2,u3,u4…下部トランジスタ、e1,e2
…入力部、a…出力部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 2個の入力部における任意の電位差から低レ
ベル状態か高レベル状態かいずれかの出力信号を
生成する、同じ導電型の絶縁ゲート電界効果トラ
ンジスタを使用する集積比較回路において、 デプレシヨン型であり動作電圧電源に接続され
た第1のトランジスタと、エンフアンスメント型
であり回路のゼロ点に接続された第3のトランジ
スタと、これら第1および第3のトランジスタ間
に接続されているデプレシヨン型の第2のトラン
ジスタとの3個のトランジスタの被制御電流路が
直列に接続された直列装置が4組動作電圧電源と
回路のゼロ点との間に設けられ、 各直列装置の入力部と出力部はそれぞれ第1の
トランジスタのゲートおよび第2のトランジスタ
と第3のトランジスタとの各接続点であり、 第1、第3、および第4の直列装置の第2のト
ランジスタはゲートがそれぞれの第1のトランジ
スタとの接続点に接続されてそれぞれ抵抗として
接続され、 第1の直列装置の第3のトランジスタのゲート
は該第1の直列装置の出力部に接続され、 第2、第3、および第4の直列装置の第3のト
ランジスタのゲートは第1、第2、第3の直列装
置の出力部にそれぞれ接続され、 第2の直列装置の第2のトランジスタのゲート
は第4の直列装置の第1と第2のトランジスタの
接続点に接続され、 第1と第3の直列装置の入力部および第2と第
4の直列装置の入力部はそれぞれ互に接続されて
比較回路の第1と第2の入力部にそれぞれ接続さ
れ、 第4の直列装置の出力部は比較回路の出力部と
されていることを特徴とする集積比較回路。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| EP82100870A EP0085727B1 (de) | 1982-02-06 | 1982-02-06 | Integrierte Komparatorschaltung |
| EP82100870.3 | 1982-02-06 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58146124A JPS58146124A (ja) | 1983-08-31 |
| JPH027529B2 true JPH027529B2 (ja) | 1990-02-19 |
Family
ID=8188862
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58016328A Granted JPS58146124A (ja) | 1982-02-06 | 1983-02-04 | 集積比較回路 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4544853A (ja) |
| EP (1) | EP0085727B1 (ja) |
| JP (1) | JPS58146124A (ja) |
| DE (1) | DE3270832D1 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4618785A (en) * | 1984-09-06 | 1986-10-21 | Thomson Components - Mostek Corporation | CMOS sense amplifier with level shifter |
| USRE33725E (en) * | 1984-10-05 | 1991-10-22 | North American Philips Corporation | Self referenced sense amplifier |
| US4584493A (en) * | 1984-10-05 | 1986-04-22 | Signetics Corporation | Self referenced sense amplifier |
| JPS62214597A (ja) * | 1986-03-17 | 1987-09-21 | Fujitsu Ltd | 不揮発性メモリ回路 |
| US4812681A (en) | 1987-05-11 | 1989-03-14 | Hewlett-Packard Company | NMOS analog voltage comparator |
| DE4138860C1 (ja) * | 1991-11-26 | 1993-06-03 | Siemens Ag, 8000 Muenchen, De |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4079332A (en) * | 1976-11-22 | 1978-03-14 | Rockwell International Corporation | High gain differential amplifier |
| JPS5824874B2 (ja) * | 1979-02-07 | 1983-05-24 | 富士通株式会社 | センス回路 |
| US4240039A (en) * | 1979-06-11 | 1980-12-16 | National Semiconductor Corporation | MOS Differential amplifier |
-
1982
- 1982-02-06 DE DE8282100870T patent/DE3270832D1/de not_active Expired
- 1982-02-06 EP EP82100870A patent/EP0085727B1/de not_active Expired
-
1983
- 1983-01-04 US US06/455,447 patent/US4544853A/en not_active Expired - Fee Related
- 1983-02-04 JP JP58016328A patent/JPS58146124A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0085727B1 (de) | 1986-04-30 |
| EP0085727A1 (de) | 1983-08-17 |
| DE3270832D1 (en) | 1986-06-05 |
| US4544853A (en) | 1985-10-01 |
| JPS58146124A (ja) | 1983-08-31 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4158239A (en) | Resistive gate FET flip-flop storage cell | |
| US4837520A (en) | Fuse status detection circuit | |
| US5390143A (en) | Non-volatile static memory devices and operational methods | |
| US4692689A (en) | FET voltage reference circuit with threshold voltage compensation | |
| CA1110765A (en) | High speed igfet sense amplifier/latch | |
| US4868483A (en) | Power voltage regulator circuit | |
| US3662351A (en) | Alterable-latent image monolithic memory | |
| KR890016675A (ko) | 프로그램 가능 셀을 포함하는 집적 회로 | |
| JPS59232472A (ja) | 感度が流れる電流の関数である素子の温度補償方法ならびに回路 | |
| US5834967A (en) | Semiconductor integrated circuit device | |
| US3427445A (en) | Full adder using field effect transistor of the insulated gate type | |
| US3530443A (en) | Mos gated resistor memory cell | |
| KR100188359B1 (ko) | 파워 온 리셋 회로 | |
| JPH027529B2 (ja) | ||
| US5341046A (en) | Threshold controlled input circuit for an integrated circuit | |
| US4114055A (en) | Unbalanced sense circuit | |
| JPH02264310A (ja) | 集積回路の温度特性を制御する装置 | |
| US4075609A (en) | On-chip voltage source for integrated circuits | |
| USRE28905E (en) | Field effect transistor memory cell | |
| US3414740A (en) | Integrated insulated gate field effect logic circuitry | |
| JPH022713A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JP2001118389A (ja) | 強誘電体メモリ | |
| KR930011012B1 (ko) | 2개의 인버터를 갖춘 증폭회로 | |
| JP2815177B2 (ja) | 高い速度と改善されたセル・スタビリティーを持つスタティックramセル | |
| JPS62103719A (ja) | 基準電圧発生回路 |