JPH0277677U - - Google Patents

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JPH0277677U
JPH0277677U JP15584788U JP15584788U JPH0277677U JP H0277677 U JPH0277677 U JP H0277677U JP 15584788 U JP15584788 U JP 15584788U JP 15584788 U JP15584788 U JP 15584788U JP H0277677 U JPH0277677 U JP H0277677U
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JP
Japan
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tab10
tester
test
reel
stamp
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JP15584788U
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図はこの考案による実施例の構成図、第２
図はスタンプ４の外観図、第３図〜第５図はスタ
ンプ４の作用説明図、第６図はスタンプが押され
たＴＡＢ１０の外観図、第７図はパンチでＩＣを
打ち抜いたＴＡＢの外観図である。 １……リール、２……スプロケツト、３……試
験器、４……スタンプ、５……スプロケツト、６
……リール、７……アクチユエータ、８Ａ……ブ
ロツク、８Ｂ……バネ、９……スタンプ部、１０
……ＴＡＢ、１１……打抜き穴、１２……分類用
穴。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 試験前のＴＢ１０を巻いたリール１と、リール
    １から送り出されるＴＡＢ１０をガイドするスプ
    ロケツト２と、ＴＡＢ１０を試験する試験器３と
    、試験器３で試験されたＴＡＢ１０をガイドする
    スプロケツト５と、試験後のＴＡＢ１０を巻き取
    るリール６とを備えるＴＡＢ試験分類装置におい
    て、 試験器３の試験結果により駆動されるアクチユ
    エータ７でスタンプ部９を上下に移動させ、バネ
    ８Ｂの弾性でＴＡＢ１０への接触圧力が調整され
    るスタンプ４を試験器３の次に配置し、試験器３
    の試験結果により、スタンプ４でＴＡＢ１０に印
    をつけることを特徴とするＴＡＢ試験分類装置。
JP15584788U 1988-11-30 1988-11-30 Pending JPH0277677U (ja)

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JP15584788U JPH0277677U (ja) 1988-11-30 1988-11-30

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JPH0277677U true JPH0277677U (ja) 1990-06-14

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JP15584788U Pending JPH0277677U (ja) 1988-11-30 1988-11-30

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53104177A (en) * 1977-02-23 1978-09-11 Hitachi Ltd Characteristic discrimination classification method for electronic parts
JPS5834062B2 (ja) * 1979-06-04 1983-07-23 日本電信電話株式会社 時分割多重信号分岐插入装置
JPS63206672A (ja) * 1987-02-23 1988-08-25 Nec Corp Ｔａｂｉｃのハンドリング装置

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53104177A (en) * 1977-02-23 1978-09-11 Hitachi Ltd Characteristic discrimination classification method for electronic parts
JPS5834062B2 (ja) * 1979-06-04 1983-07-23 日本電信電話株式会社 時分割多重信号分岐插入装置
JPS63206672A (ja) * 1987-02-23 1988-08-25 Nec Corp Ｔａｂｉｃのハンドリング装置

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