JPH0277678U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0277678U JPH0277678U JP15700488U JP15700488U JPH0277678U JP H0277678 U JPH0277678 U JP H0277678U JP 15700488 U JP15700488 U JP 15700488U JP 15700488 U JP15700488 U JP 15700488U JP H0277678 U JPH0277678 U JP H0277678U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- hic
- contact
- pins
- terminal
- contact terminal
- Prior art date
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- Pending
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 3
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
図面は本考案の一実施例を示すものであつて、
第１図は一部縦断正面図、第２図は側面図で何れ
も蓋体を閉じた状態を示してある。 １……検査台、２……蓋体、４……ＨＩＣ、４
ａ……リード端子、５……接触ピン、９……接触
端子。
第１図は一部縦断正面図、第２図は側面図で何れ
も蓋体を閉じた状態を示してある。 １……検査台、２……蓋体、４……ＨＩＣ、４
ａ……リード端子、５……接触ピン、９……接触
端子。
Claims (1)
- ＨＩＣを検査台上に乗せ、その上部から接触ピ
ンをＨＩＣのリード端子に接触させて、入力信号
に対する出力信号を検出する複数の接触ピンを備
えて成るＨＩＣ用機能検査装置において、前記検
査台上の前記複数の接触ピンと対向する位置にそ
れぞれ接触端子を設けるとともに、前記接触ピン
の長さを前記ＨＩＣのリード線欠除のときに前記
接触端子に圧接する長さとしたことを特徴とする
ＨＩＣ用検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15700488U JPH0277678U (ja) | 1988-12-01 | 1988-12-01 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15700488U JPH0277678U (ja) | 1988-12-01 | 1988-12-01 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0277678U true JPH0277678U (ja) | 1990-06-14 |
Family
ID=31436060
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15700488U Pending JPH0277678U (ja) | 1988-12-01 | 1988-12-01 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0277678U (ja) |
-
1988
- 1988-12-01 JP JP15700488U patent/JPH0277678U/ja active Pending
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