JPH027A - Range-finding device for camera - Google Patents

Range-finding device for camera

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JPH027A
JPH027A JP21689A JP21689A JPH027A JP H027 A JPH027 A JP H027A JP 21689 A JP21689 A JP 21689A JP 21689 A JP21689 A JP 21689A JP H027 A JPH027 A JP H027A
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JP
Japan
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signal
distance measurement
light
set position
lens set
Prior art date
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Pending
Application number
JP21689A
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Japanese (ja)
Inventor
Takaaki Kotani
高秋 小谷
Seiji Takada
誠司 高田
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH027A publication Critical patent/JPH027A/en
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Abstract

PURPOSE:To accomplish focusing operation on a main object independent of the intensity of reflected light by connecting first and second comparators provided with high and low reference voltages to respective photodetectors and obtaining first and second range-finding signals from the group of the comparators. CONSTITUTION:The first and the second comparators 31a-35a and 31b-35b provided with the high reference voltages V1a-V5a, the low reference voltages V1b-V5b are connected to the photodetectors S1-S5 which receive reflected light from an object. Signals A1a-A5a and A1b-A5b which respond to the intensity of the reflected light of the object are outputted from the groups of the comparators. Either lens setting position is selected depending on whether or not difference between first and second lens setting positions which are obtained in response to the first and second range-finding signals satisfies a specified condition. Therefore, focusing on the main object can be performed with high probability even if there is a level difference in the intensity of the reflected light.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はカメラに用いられるアクティブタイプの測距装
置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an active type distance measuring device used in a camera.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

最近のコンパクトカメラに多用されているアクティブタ
イプの測距装置では、被写体に向けて測距用の光ビーム
を投射し、この光ビームの投射による被写体からの反射
光を受光センサーで受けるようにしている。受光センサ
ーは複数個の微少な受光素子を基線長方向に配列したも
ので、そのいずれの受光素子に被写体からの反射光が入
射したかを電気的に識別することによって、被写体距離
に対応した測距信号を得ることができる。
Active type distance measuring devices, which are often used in recent compact cameras, project a light beam for distance measurement toward the subject, and use a light receiving sensor to receive the reflected light from the subject. There is. The light-receiving sensor has multiple tiny light-receiving elements arranged in the baseline length direction, and by electrically identifying which of the light-receiving elements the reflected light from the subject has entered, it can measure the distance to the subject. You can get the distance signal.

このような測距装置では、反射率の高い被写体や近距離
被写体等から強い反射光が特定の受光素子に入射したと
きに、これに隣接した受光素子にもクロストーク等の影
響によって一定の割合で光電出力が現れることがある。
In such distance measuring devices, when strong reflected light from a subject with high reflectivity or a close-range subject enters a specific light receiving element, adjacent light receiving elements also receive a certain percentage of light due to effects such as crosstalk. Photoelectric output may appear.

このため、受光素子に光電出力が現れている場合でも、
この光電出力が被写体から受光素子に正規に入射した光
によるものであるか、あるいは前述したクロストーク等
の影響によるものかが識別できず、測距の精度を劣化さ
せることがある。
Therefore, even if a photoelectric output appears on the photodetector,
It is not possible to determine whether this photoelectric output is due to light incident normally on the light receiving element from the subject or due to the effects of the aforementioned crosstalk, etc., which may deteriorate the accuracy of distance measurement.

すなわち第12図(A)に示したように、基線長方向に
配列された受光素子31〜56の内、被写体から高輝度
の反射光パターン40が受光素子S4に入射したときに
は、この本来の反射光パターン40の回りに同心円状の
八ロー41を伴うことが多く、隣接する受光素子S3.
S5にも同図(B)に示したように光電出力が現れるよ
うになる。また、ハロー41が小さい場合であっても、
被写体からの強い反射光が受光素子S4に入射したとき
には、クロストークの影響で、隣接の受光素子S3.S
5からも一定の比率の光電出力が現れることが多い。こ
のような場合に、各々の受光素子33〜55に接続され
ているコンパレータが1個で、その基準電圧が■、であ
ったとすると、被写体からの反射光を受光したことを表
すハイレベル信号(H信号)が各々のコンパレータから
出力され、受光素子S3,35にも被写体からの反射光
が入射したものとして誤検出される。
That is, as shown in FIG. 12(A), when a high-intensity reflected light pattern 40 from the subject is incident on the light receiving element S4 among the light receiving elements 31 to 56 arranged in the base line length direction, this original reflection is The light pattern 40 is often accompanied by eight concentric rows 41, and adjacent light receiving elements S3.
A photoelectric output also appears at S5, as shown in FIG. 4(B). Moreover, even if the halo 41 is small,
When strong reflected light from a subject enters the light receiving element S4, the adjacent light receiving elements S3. S
5, a certain ratio of photoelectric output often appears. In such a case, if there is one comparator connected to each of the light-receiving elements 33 to 55 and its reference voltage is , then a high-level signal ( H signal) is output from each comparator, and it is erroneously detected that the reflected light from the subject is also incident on the light receiving elements S3 and S35.

一方、コンパレータの基準電圧をVNに設定した場合に
は、被写体からの反射光強度が弱(、この反射光が入射
した受光素子S4から一点鎖線で示したようなレベルの
光電出力しか得られないときには、いずれのコンパレー
タからも反射光の入射を検出することができなくなる。
On the other hand, when the reference voltage of the comparator is set to VN, the intensity of the reflected light from the subject is weak (and only the photoelectric output of the level shown by the dashed-dotted line can be obtained from the light receiving element S4 where this reflected light is incident). Sometimes, it becomes impossible to detect the incidence of reflected light from any of the comparators.

こうした点を考慮し、特開昭5ロー29112号公報記
載の測距装置では、複数の受光素子から光電出力が現れ
たときには、受光素子の各々に接続されたコンパレータ
の基準電圧を、光電出力の最大レベルのものを基準にし
て変えることによって、クロストーク等の影響による偽
信号の発生を回避するようにしている。
Considering these points, in the distance measuring device described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 5-29112, when photoelectric outputs appear from a plurality of light receiving elements, the reference voltage of the comparator connected to each of the light receiving elements is set to By changing the maximum level as a reference, the generation of false signals due to the influence of crosstalk etc. is avoided.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

しかしながら上記公報に記載の測距装置では、受光素子
以降の回路構成が複雑になりコスト的にも負担が大きい
ものになる。また、例えば人間のように平均的な反射率
をもった主要被写体が近距離位置にあり、遠距離に反射
率が高い副次的な背景物があったときには、副次的な背
景物に対して測距が行われ、主要被写体に対するピント
があまくなるという欠点がある。
However, in the distance measuring device described in the above-mentioned publication, the circuit configuration after the light receiving element is complicated, resulting in a large cost burden. In addition, if the main subject with average reflectance, such as a human being, is located at a close distance, and there is a secondary background object with high reflectance at a far distance, The disadvantage is that distance measurement is performed using the same method, resulting in poor focus on the main subject.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明は以上のような従来技術の難点を解決するために
なされたもので、被写体からの反射光強度に左右される
ことな(、主要被写体に対する測距精度を向上させるこ
とができるようにしたカメラの測距装置を提供すること
を目的とする。
The present invention has been made in order to solve the above-mentioned difficulties of the conventional technology. The purpose is to provide a distance measuring device for a camera.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は上記目的を達成するために、被写体からの反射
光を受光するために基線長方向に配郊された受光素子の
それぞれに、高低2種の基準電圧が与えられた2個のコ
ンパレータを接続し、高い基準電圧が与えられたコンパ
レータからの反転信号の組み合わせによる第1測距信号
と、低い基準電圧が与えられたコンパレータからの反転
信号の組み合わせによる第2測距信号とを検出し、第1
測距信号に対応するレンズセット位置が第2測距信号に
対応するレンズセット位−よりも所定値以上遠距離側で
あったときには、第2測距信号によりレンズセット位置
を決定するものである。
In order to achieve the above object, the present invention includes two comparators each having two types of high and low reference voltages applied to each of the light receiving elements arranged in the base line length direction to receive the reflected light from the subject. Detecting a first ranging signal based on a combination of inverted signals from a comparator connected to a high reference voltage and a second ranging signal based on a combination of inverted signals from a comparator provided with a low reference voltage; 1st
When the lens set position corresponding to the distance measurement signal is farther than the lens set position corresponding to the second distance measurement signal by a predetermined value or more, the lens set position is determined by the second distance measurement signal. .

また、第1測距信号に対応するレンズセット位置が第2
測距信号に対応するレンズセット位置よりも所定値未満
だけ遠距離側であったときには、第1測距信号によって
レンズセット位置を決定することも有効な手段となる。
Also, the lens set position corresponding to the first distance measurement signal is the second distance measurement signal.
When the lens set position corresponding to the distance measurement signal is farther than the lens set position by less than a predetermined value, it is also an effective means to determine the lens set position based on the first distance measurement signal.

〔作用〕[Effect]

上記によれば、低い基準電圧が与えられたコンパレータ
を介して得られた第2測距信号中には、被写体からの強
い反射光による情報も含まれているのに対し、高い基準
電圧が与えられたコンパレータを介して得られた第1測
距信号中には被写体からの弱い反射光による情報は含ま
れないことが多く、このため第1.第2測距信号は一致
しないこともある。このような場合には、第1測距信号
に対応した第2レンズセット位置と第2測距信号に対応
した第2レンズセット位置とをそれぞれ評価してレンズ
セット位置を決定する。すなわち、第2レンズセット位
置が第2レンズセット位置よりも一定値以上遠距離側の
ものであるときには、第1測距情報には反射率が高い背
景の物体からの情報が含まれていると判断し、主要被写
体が位置している確率が高く、焦点深度も浅くなる近距
離側に対応した第2測距信号に基づいてレンズセット位
置が決定される。
According to the above, the second distance measurement signal obtained via the comparator to which a low reference voltage is applied also contains information due to strong reflected light from the subject, whereas The first distance measurement signal obtained through the comparator often does not include information due to weak reflected light from the subject, and therefore the first distance measurement signal is not included in the first distance measurement signal. The second ranging signals may not match. In such a case, the second lens set position corresponding to the first ranging signal and the second lens set position corresponding to the second ranging signal are evaluated to determine the lens set position. In other words, when the second lens set position is farther than the second lens set position by a certain value or more, the first distance measurement information includes information from a background object with high reflectance. The lens set position is determined based on the second distance measurement signal corresponding to the short distance side where the probability that the main subject is located is high and the depth of focus is shallow.

また、第2レンズセット位置が第2レンズセット位置よ
りも所定値未満しか遠距離側に離れていないときには、
第2測距信号はクロストークの影響を受けているものと
判断し、第1測距信号によりレンズセット位置を決定し
てもよい。
Furthermore, when the second lens set position is further away from the second lens set position by less than a predetermined value,
The second ranging signal may be determined to be affected by crosstalk, and the lens set position may be determined based on the first ranging signal.

以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

〔実施例〕〔Example〕

第2図はアクティブタイプの測距系の概略を示すもので
、投光部2は、近赤外光を放射する放電管3.放電管3
からの光をスリット状に整形するスリット板4.投光レ
ンズ5とからなる。また受光部7は、受光レンズ8.受
光センサー9とから構成されている。投光レンズ5と受
光レンズ8の各々の光軸5a、8aは、撮影レンズ10
の光軸10aと平行となっており、基線長しだけ隔てら
れている。受光センサー9は、詳しくは後述するように
、横長矩形の微少な受光素子31〜56を基線長し方向
に配列してなるものである。
FIG. 2 schematically shows an active type ranging system, in which a light projecting section 2 includes a discharge tube 3 that emits near-infrared light. discharge tube 3
4. A slit plate that shapes the light from the 4. It consists of a light projecting lens 5. Further, the light receiving section 7 includes a light receiving lens 8. It is composed of a light receiving sensor 9. The optical axes 5a and 8a of the light projecting lens 5 and the light receiving lens 8 are connected to the photographing lens 10.
are parallel to the optical axis 10a and separated by the base line length. As will be described in detail later, the light receiving sensor 9 is formed by arranging small horizontally long rectangular light receiving elements 31 to 56 in the baseline length direction.

投光部2から被写体に向けてスリット光を照射したとき
、その一部の光が近距離被写体12で反射されると、そ
の反射光12aは受光レンズ8を通して受光素子S3に
入射する。また、中距離被写体13あるいは遠距離被写
体14からスリット光の一部が反射されると、反射光1
3a、14aのそれぞれは受光素子S2.Slに人、射
するようになる。したがって受光センサー9のうちで、
どの受光素子に被写体からの反射光が入射したかを検出
することによって被写体距離を求めることができる。な
お、このように測距用の光ビームとしてスリット光を用
いると、主要被写体を撮影画面の中央部から外した状態
でもこれに測距用の光ビームが照射されるようになり、
測距時における照準操作や測距の後にフレーミングをし
直すという面倒な操作をしなくても済むようになるが、
スリット光の代わりにスポット光を投射して測距を行う
こともできる。
When a slit light is emitted from the light projector 2 toward the subject, a portion of the light is reflected by the close subject 12, and the reflected light 12a enters the light receiving element S3 through the light receiving lens 8. Furthermore, when a part of the slit light is reflected from the middle-distance object 13 or the long-distance object 14, the reflected light 1
3a and 14a are each light receiving elements S2. People start shooting at Sl. Therefore, among the light receiving sensors 9,
The object distance can be determined by detecting which light-receiving element the reflected light from the object is incident on. In addition, when a slit light is used as the light beam for distance measurement in this way, the light beam for distance measurement can be irradiated even when the main subject is removed from the center of the shooting screen.
This eliminates the need for troublesome operations such as aiming during distance measurement and reframing after distance measurement, but
Distance measurement can also be performed by projecting a spot light instead of a slit light.

第3図は上述した測距系に赤外発光ダイオード15(以
下、I RED 15という)を併設し、同じ受光セン
サー9を利用しながら、さらに近距離側での測距機能を
向上させた光学系を示したものである。I RED l
 5の投光光軸15aは、投光レンズ5の光軸5aに対
して角θだけ受光センサー9側に傾けられ、被写体に向
けてスポットパターンの光ビームを照射する。これによ
れば、投光部2からのスリット光によって検出できる至
近距離よりも、さらに近距離にある被写体からの反射光
でも受光センサー9で受光することができるようになる
Figure 3 shows an optical system that adds an infrared light emitting diode 15 (hereinafter referred to as I RED 15) to the above-mentioned distance measuring system, and uses the same light receiving sensor 9, but further improves the distance measuring function at short distances. This shows the system. I RED l
The light projection optical axis 15a of No. 5 is tilted toward the light receiving sensor 9 by an angle θ with respect to the optical axis 5a of the light projection lens 5, and emits a light beam in a spot pattern toward the subject. According to this, it becomes possible for the light receiving sensor 9 to receive reflected light from a subject at a closer distance than the close range that can be detected by the slit light from the light projecting section 2.

第4図は被写体距離範囲について撮影レンズ10のセッ
ト位置を対応させたもので、N、〜NI。
FIG. 4 shows the correspondence of the set position of the photographic lens 10 with respect to the subject distance range, N, to NI.

は投光部2からのスリット光で測距したときに決められ
る通常域のセット位置を表し、n、〜n5は−1RED
 15からのスポット光で測距したときに決められるマ
クロ域のセット位置を表している。
represents the set position in the normal range determined when measuring the distance with the slit light from the light projector 2, and n, ~ n5 are -1RED
It represents the set position of the macro area determined when distance measurement is performed using the spotlight from No. 15.

これらのセット位置n I−n sa N 1〜N 1
6は、被写体距離l、〜j!Isを最適合焦距離として
いるものであるが、合焦と見做せる錯乱円の径を例えば
0.025mmとすると、撮影レンズ10の被写界深度
を考慮したときには、略!、から無限遠までの被写体距
離範囲に対して連続的に合焦させることができる。
These set positions n I-n sa N 1 to N 1
6 is the subject distance l, ~j! Is is set as the optimum focusing distance, but if the diameter of the circle of confusion that is considered to be in focus is, for example, 0.025 mm, then when the depth of field of the photographic lens 10 is taken into account, approximately! It is possible to continuously focus on a subject distance range from , to infinity.

上述した測距用の放電管3.受光センサー9゜1 RE
D l 5は、第5図に示した回路とともに用いられる
。測距用の放電管3は、撮影時の被写体照明用の放電管
17とともにストロボ駆動回路18によって作動制御さ
れ、I RED 15はIRED駆動回路19によって
駆動制御される。受光センサー9を構成している受光素
子Sl−36は信号処理回路20に接続され、受光素子
S1に36の各々からの光電出力は信号処理回路20に
よって信号変換される。信号処理回路20にはAF制御
回路21が接続され、AFillll回路21は信号処
理回路20からの信号出力を測距データに変換してマイ
クロコンピュータ22に入力する。なお、詳しくは後述
するように、AF制御回路21からは適宜のタイミング
で放電管3.IRED15を点灯させるための信号が出
力される。
Discharge tube for distance measurement described above 3. Light receiving sensor 9゜1 RE
D l 5 is used with the circuit shown in FIG. The discharge tube 3 for distance measurement is operated and controlled by a strobe drive circuit 18 together with the discharge tube 17 for illuminating the object during photographing, and the I RED 15 is drive-controlled by an IRED drive circuit 19. The light receiving element Sl-36 constituting the light receiving sensor 9 is connected to a signal processing circuit 20, and the photoelectric output from each of the light receiving elements S1 and 36 is converted into a signal by the signal processing circuit 20. An AF control circuit 21 is connected to the signal processing circuit 20 , and the AF Illll circuit 21 converts the signal output from the signal processing circuit 20 into ranging data and inputs it to the microcomputer 22 . Note that, as will be described in detail later, the AF control circuit 21 controls the discharge tubes 3. A signal for lighting the IRED 15 is output.

マイクロコンピュータ22には、前記ストロボ駆動回路
18.AF制御回路21の他、プログラムシャッタ23
の開閉を制御するためのシャッタ駆動回路24.被写体
輝度を測定する測光回路25、モータ26を駆動するモ
ータ制御回路27゜AF制御回路21から入力された測
距データごとに撮影レンズ10のセット位置を対応付け
たAFテーブル28が接続されている。
The microcomputer 22 includes the strobe drive circuit 18. In addition to the AF control circuit 21, the program shutter 23
A shutter drive circuit 24 for controlling opening and closing of the shutter drive circuit 24. A photometric circuit 25 for measuring subject brightness, a motor control circuit 27 for driving a motor 26, and an AF table 28 that associates the set position of the photographing lens 10 with each distance measurement data input from the AF control circuit 21 are connected. .

前記信号処理回路20は第1図に示したような回路構成
となっており、受光素子51〜56からの各光電流信号
は、それぞれ基準電圧V3gが印加された初段のオペア
ンプによって電圧信号に変換される。この電圧信号には
直流成分、すなわち太陽光等の外光による光電信号も含
まれているが、初段のオペアンプの出力端にはそれぞれ
低周波成分カット用のコンデンサが接続されているから
、基準電圧V3gの次段のオペアンプには直流成分を含
まない信号成分だけが入力される。次段のオペアンプに
よってそれぞれ一定の増幅率で増幅された光電出力は、
受光素子Sl−35の各1個ごと′に2個ずつ設けられ
たコンパレータ31a、31b、32a、32b、・・
・、35a、35bに入力され、また受光素子S6から
の光電出力はコンパレータ36aに入力される。
The signal processing circuit 20 has a circuit configuration as shown in FIG. 1, and each photocurrent signal from the light receiving elements 51 to 56 is converted into a voltage signal by a first-stage operational amplifier to which a reference voltage V3g is applied. be done. This voltage signal also includes a DC component, that is, a photoelectric signal caused by external light such as sunlight, but since a capacitor for cutting low frequency components is connected to the output terminal of each first-stage operational amplifier, the reference voltage Only signal components that do not include DC components are input to the operational amplifier at the next stage of V3g. The photoelectric output amplified by the next-stage operational amplifier at a constant amplification factor is
Two comparators 31a, 31b, 32a, 32b, . . . are provided for each light receiving element Sl-35.
, 35a and 35b, and the photoelectric output from the light receiving element S6 is input to the comparator 36a.

同じ光電出力が入力されるコンパレータ31a。A comparator 31a to which the same photoelectric output is input.

31b、32a、32b、−−−,35a、35bのそ
れぞれには、分圧器38によって各々基準電圧V ma
n Vmhが与えられている。この基準電圧のレベルは
V−>V−bに設定されており、したがって受光素子の
各々から出力され、初段及び第2段のオペアンプで一定
比率に増幅された光電出力は、高低2種類の基準電圧V
 file Vmkと比較される。そして、光電出力が
基準電圧V amあるいは基準電圧V。以上であるとき
にはハイレベル信号(H信号)、基準電圧V amある
いはV。以下であるとローレベル信号(L信号)が各コ
ンパレータ31a、31b、32a、32b、−−・、
35a、35bの出力端に現れる。このように、各受光
素子からの光電出力を高低2種類の基準電圧V□、vo
が与えられたコンパレータで比較することによって、2
値化された2系列の信号出力A0.。
31b, 32a, 32b, ---, 35a, 35b are each supplied with a reference voltage V ma by a voltage divider 38.
n Vmh is given. The level of this reference voltage is set to V->V-b, so the photoelectric output output from each photodetector and amplified to a certain ratio by the first and second stage operational amplifiers is based on two types of high and low standards. Voltage V
It is compared with file Vmk. Then, the photoelectric output is the reference voltage V am or the reference voltage V. When it is above, a high level signal (H signal), reference voltage Vam or V. If it is below, the low level signal (L signal) of each comparator 31a, 31b, 32a, 32b, --...
Appears at the output ends of 35a and 35b. In this way, the photoelectric output from each light-receiving element is adjusted to two different reference voltages, high and low, V□ and vo.
By comparing with a comparator given, 2
Valued two-series signal output A0. .

Aabを得ることができる。すなわち、第12図で説明
した基準電圧vI1.vLに対応した基準電圧をそれぞ
れのコンパレータ31a、31b、32a、32b1・
・・、35a、35bにV、lI、 Vlとして供給す
るものである。これにより、被写体からの反射光の強度
に応じ、信号出力A、、、 A0のiずれかを選択して
用いることができるようになる。
Aab can be obtained. That is, the reference voltage vI1. explained in FIG. The reference voltage corresponding to vL is applied to each comparator 31a, 31b, 32a, 32b1.
..., 35a, 35b as V, lI, Vl. This makes it possible to select and use one of the signal outputs A, .

なお本実施例においては、この基準電圧V、。。Note that in this embodiment, this reference voltage V. .

voは遠距離被写体からの反射光を受光する受光素子S
l側はど低く、近距離被写体からの反射光を受光する受
光素子S6側はど高くなるように、v、、>vs、>v
、lI> −−>Via、またvsh>vah〉・・〉
voのように設定されている。これは、一般的に遠距離
被写体の反射光強度が近距離被写体からのものよりも低
くなることを考慮して決め−られたものである。これに
よれば、初段及び第2段のオペアンプの増幅率を一定に
したままでも、人間の肌などのような平均的な反射率を
もった被写体からの反射光について良好な検出機能を得
ることができる。
vo is a light receiving element S that receives reflected light from a distant subject.
v, >vs, >v, so that the l side is low and the light receiving element S6 side, which receives reflected light from a close object, is high.
, lI>--> Via, also vsh>vah>...>
It is set like vo. This was determined in consideration of the fact that the intensity of reflected light from a distant object is generally lower than that from a close object. According to this, even if the amplification factors of the first and second stage operational amplifiers are kept constant, it is possible to obtain a good detection function for reflected light from a subject with an average reflectance such as human skin. I can do it.

上記コンパレータ31a、31b、32a、32b、・
・・、36aの出力端に現れたI(信号もしくはL信号
の信号出力A 111. AHI、 Az@、  ・・
・A&、は、AF制御回路21に入力される。AF制御
回路21は第6図のように構成され、信号出力A、、、
 Amb−tよ各コンパレータごとに対応して設けられ
たD−フリップフロップ回路FF、、、FF0(以下、
単にFF□、FF、、という)のクロック端子にアンド
ゲートを介して入力される。
The comparators 31a, 31b, 32a, 32b, .
..., signal output A of I (signal or L signal) appearing at the output terminal of 36a 111. AHI, Az@, ...
-A& is input to the AF control circuit 21. The AF control circuit 21 is configured as shown in FIG. 6, and has signal outputs A,...
Amb-t, D-flip-flop circuits FF, ..., FF0 (hereinafter referred to as
It is input to the clock terminal of FF□, FF, etc. via an AND gate.

このAF制御回路21は、上述したFF、、、FFob
の他、電源■Ccを印加してから一定時間後にリセット
パルスを出力するリセットパルス発生回路43.マイク
ロコンピュータ22から供給されるクロックパルスを計
数するカウンタ45.カウンタ45の計数値に応じて測
距シーケンスを遂行するための制御パルスを出力するデ
コーダ46゜FF、、、FF、、からの信号を受け、こ
れを測距データとして出力するシフトレジスタ48等を
備えている。
This AF control circuit 21 includes the above-mentioned FF, ..., FFob.
In addition, there is a reset pulse generating circuit 43 which outputs a reset pulse after a certain period of time after applying the power supply ■Cc. A counter 45 that counts clock pulses supplied from the microcomputer 22. A shift register 48 and the like receives signals from a decoder 46°FF, . We are prepared.

第7図はストロボ駆動回路18の回路構成を示している
。このストロボ駆動回路18は、測距用の放電管3と、
撮影時に被写体に補助照明光を照射する撮影用の放電管
17との両者の作動を制御する。コンデンサC1,Cz
は放電管17.3のそれぞれに発光エネルギーを供給す
るためのもので昇圧回路49を介して充電される。一方
のコンデンサC,には直列にスイッチ装ff50が接続
されている。このスイッチ装置50はマイクロコンピュ
ータ22から端子T&にH信号が入力されたときにオン
し、L信号が入力されたときにオフする。なお、このス
イッチ装置50に第8図に示した半導体スイッチを用い
ると、コンデンサC,に充電を行うときに端子T、にH
信号を与え続けなくても済むようになる。また、ストロ
ボ駆動回路18に設けられた各端子T、、T、、T3.
T。
FIG. 7 shows the circuit configuration of the strobe drive circuit 18. This strobe drive circuit 18 includes a distance measuring discharge tube 3,
It controls the operation of both the discharge tube 17 for photographing and the discharge tube 17 for illuminating the subject with auxiliary illumination light during photographing. Capacitor C1, Cz
is for supplying luminous energy to each of the discharge tubes 17.3, and is charged via the booster circuit 49. A switch device ff50 is connected in series to one capacitor C. This switch device 50 is turned on when an H signal is input from the microcomputer 22 to the terminal T&, and turned off when an L signal is input. Note that when the semiconductor switch shown in FIG. 8 is used as the switch device 50, when charging the capacitor C, H is applied to the terminal
It becomes unnecessary to keep giving signals. Further, each terminal T, , T, , T3 . provided in the strobe drive circuit 18 is provided.
T.

8TSは、それぞれ昇圧回路46の発振開始信号入力端
子、発振禁止信号入力端子、コンデンサC2の充電完了
信号送出端子、撮影用放電管17の発光トリガ信号入力
端子、測距用放電管3の発光トリガ信号入力端子として
用いられる。
8TS are respectively an oscillation start signal input terminal of the booster circuit 46, an oscillation prohibition signal input terminal, a charging completion signal sending terminal of the capacitor C2, a light emission trigger signal input terminal of the photographing discharge tube 17, and a light emission trigger of the distance measuring discharge tube 3. Used as a signal input terminal.

以上のように構成された測距装置の作用は次のとおりで
ある。例えばレンズ力バーの開放操作等によって電源ス
イッチが投入されると、第7図に示した昇圧回路49が
作動してコンデンサC2゜Czが充電される。コンデン
サC2の充電完了信号がマイクロコンピュータ22に入
力されることによって撮影準備が完了する。
The operation of the distance measuring device configured as described above is as follows. For example, when the power switch is turned on by opening the lens force bar, the booster circuit 49 shown in FIG. 7 is activated and the capacitor C2°Cz is charged. The preparation for photographing is completed by inputting the charge completion signal of the capacitor C2 to the microcomputer 22.

シャッタボタン(図示省略)の押圧操作の初期に、測距
装置の電源スイッチが投入されると、AF制御回路21
に電源vccが印加される。この電源■。の安定を待っ
て、第6図に示したリセットパルス発生回路43からリ
セットパルスが出力され、これによりアンドゲート44
の開閉制御用のFF、かリセットされ、Q端子にH信号
が現れ、アンドゲート44がオープンされる。また、こ
れと同時にカウンタ45がリセットされる。
When the power switch of the distance measuring device is turned on at the beginning of the pressing operation of the shutter button (not shown), the AF control circuit 21
Power supply VCC is applied to. ■This power supply. After waiting for the stability of the AND gate 44, a reset pulse is output from the reset pulse generating circuit 43 shown in FIG.
The FF for opening/closing control is reset, an H signal appears at the Q terminal, and the AND gate 44 is opened. Further, at the same time, the counter 45 is reset.

マイクロコンピュータ22は、測距装置の電源スイッチ
の投入から100m5ecの遅延の後、AP制御回路2
1にクロックパルスを出力する。
After a delay of 100m5ec from turning on the power switch of the distance measuring device, the microcomputer 22 starts the AP control circuit 2.
Outputs a clock pulse to 1.

この100m5ecの遅延の間に、信号処理回路20の
各コンパレータ31a、31b、32a。
During this 100m5ec delay, each comparator 31a, 31b, 32a of the signal processing circuit 20.

32b、・・・、35a、35b、36aに与えられる
基準電圧■□、voの安定化等が行われる。
The reference voltages □ and vo applied to 32b, . . . , 35a, 35b, 36a are stabilized, etc.

マイクロコンピュータ22からのクロックパルスは、ア
ンドゲート44を通ってカウンタ45に供給される。カ
ウンタ45にはデコーダ46が接続され、デコーダ46
はカウンタ45でのクロックパルスの計数値に対応して
測距シーケンスをコントロールする。
A clock pulse from the microcomputer 22 is supplied to a counter 45 through an AND gate 44. A decoder 46 is connected to the counter 45.
controls the distance measurement sequence in accordance with the clock pulse count value of the counter 45.

デコーダ46は、まず信号処理回路20からの信号出力
A□、AoをラッチするためのFF□。
The decoder 46 is an FF□ for latching the signal outputs A□ and Ao from the signal processing circuit 20.

FF−bにリセットパルス51g4を出力する。その後
、デコーダ46はIRED駆動回路19に第1トリガ信
号を出力する。これによりI RED 15が所定時間
点灯して被写体に近赤外光を投射し、マクロ域での測距
が開始される。第1トリガ信号が出力されて一定時間後
、デコーダ46から章程時間のパルス幅をもった読み込
みパルス51g5が出力される。この読み込みパルスは
、FF、、、FFebの各クロック端子に接続されたア
ンドゲートの一方の端子に入力される。
A reset pulse 51g4 is output to FF-b. Thereafter, the decoder 46 outputs the first trigger signal to the IRED drive circuit 19. As a result, the I RED 15 lights up for a predetermined period of time, projects near-infrared light onto the subject, and distance measurement in the macro range is started. After a predetermined period of time after the first trigger signal is output, the decoder 46 outputs a read pulse 51g5 having a pulse width of about the same time. This read pulse is input to one terminal of an AND gate connected to each clock terminal of FF, . . . , FFeb.

前記アンドゲートの他方の端子には、信号処理回路18
の各々のコンパレータ31a、31b。
A signal processing circuit 18 is connected to the other terminal of the AND gate.
comparators 31a, 31b, respectively.

32a、32b、−−,35a、35b、36aの出力
端が接続されているから、読み込みパルスがHレベルの
間に、L信号もしくはH信号の2値化された信号出力A
 1111. A@>がFF、、、FF、、に供給され
る。そして、被写体がマクロ域内に存在している場合に
は、低い基準電圧LI&が与えられている方のコンパレ
ータ31b、32b・・35bの出力端のいずれかにH
信号が現れることになるから、これに対応したFF、が
セットされる。
Since the output ends of 32a, 32b, --, 35a, 35b, and 36a are connected, while the read pulse is at H level, the binary signal output A of L signal or H signal is output.
1111. A@> is supplied to FF, , FF, . When the subject exists within the macro range, H
Since a signal will appear, the FF corresponding to this is set.

なお、被写体からの反射光が強い場合には、高い基準電
圧V□が与えられている方のコンパレータ31a、32
a、++、36aの出力端にもH信号が含taるように
なる。
Note that when the reflected light from the subject is strong, the comparators 31a and 32 to which the higher reference voltage V□ is applied
The output terminals of a, ++, and 36a also contain H signals.

前記読み込みパルスが出力された後−定時間経過すると
、デコーダ46からシフトレジスタ48のrONloF
FJ端子に51g2によりH信号が出力されるようにな
る。また、このH信号によりアンドゲート55はオープ
ン状態となる。したがって、アンドゲート44を介して
シフトレジスタ48のrCK (クロック〕」端子に入
力されるクロックパルスは、このアンドゲート55をも
通過し、測距クロックパルスとしてマイクロコンピュー
タ22に供給される。
After the read pulse is output - after a certain period of time has elapsed, rONloF of the shift register 48 is output from the decoder 46.
An H signal is output to the FJ terminal by 51g2. Further, this H signal causes the AND gate 55 to be in an open state. Therefore, the clock pulse inputted to the rCK (clock) terminal of the shift register 48 via the AND gate 44 also passes through the AND gate 55 and is supplied to the microcomputer 22 as a ranging clock pulse.

シフトレジスタ48のr ON10FF J端子にH信
号が人力された状態でrCK、端子にクロックパルスが
供給されると、このクロックパルスはシフトレジスタ4
8の各ビット位置にメモリされたデータを次段のビット
位置へ順次に移動させるーシフトパルスとして作用する
。そしてFF、、、FF、、からのQ端子出力を各ビッ
ト位置ごとに格納していたシフトレジスタ48からは、
信号出力A 6 B及び信号出力A。のそれぞれが、シ
フトレジスタ48内のビット位置配列を保った測距デー
タとしてマイクロコンピュータ22に転送され名、すな
わち、信号出力A、。のうちでA4.だけがH信号でF
F、。
When a clock pulse is supplied to the rCK terminal with an H signal input to the rON10FF J terminal of the shift register 48, this clock pulse is sent to the shift register 4.
Acts as a shift pulse to sequentially move the data stored in each of the 8 bit positions to the next bit position. Then, from the shift register 48 that stored the Q terminal output from FF, , FF, for each bit position,
Signal output A 6 B and signal output A. are transferred to the microcomputer 22 as ranging data maintaining the bit position arrangement in the shift register 48, that is, signal output A. Among them, A4. Only H signal and F
F.

のみがセットされた場合には、マイクロコンピュータ、
22にroooiooJの第1測距データが転送される
If only is set, the microcomputer,
22, the first ranging data of roooiooJ is transferred.

なお、デコーダ46からのH信号Siglがシフトレジ
スタ48のD8端子に入力されると、シフトレジスタ4
8はコンパレータ31a、32a。
Note that when the H signal Sigl from the decoder 46 is input to the D8 terminal of the shift register 48, the shift register 4
8 are comparators 31a and 32a.

・・、36aからの信号出力A、。すなわちFF、。..., signal output A from 36a. That is, FF.

からのデータに代えて、コンパレータ31b、32b、
  ・・、35bからの信号出力A11bすなわち、F
F、。からのデータを取り込む。そして、例えば信号出
力A。のうちでAah、 /ksbがH信号であって、
F F 4b、  F、F shがセットされたときに
は、ro、ootlJの第2測距データが転送される。
In place of the data from comparators 31b, 32b,
..., signal output A11b from 35b, that is, F
F. Ingest data from. For example, signal output A. Among them, Aah and /ksb are H signals,
When F F 4b, F, and F sh are set, the second distance measurement data of ro and ootlJ are transferred.

こうして転送される第1及び第2測距データには、それ
がマクロ域の測距データであるか通常域の測距データで
あるかを識別するためのフラグD7と、信号出力A□、
Aoのいずれに属するデータであるかを識別するための
フラグD8も付加されている。− こうしてシフトレジスタ48に所定個数のシフトパルス
が入力された後に−は、デコーダ46からナントゲート
56の入力端にマクロ域での測距完了を表すH信号Si
g6が供給される。このナントゲート56の他方にはオ
アゲート52からのH信号が与えられているから、デコ
ーダ46からH信号が出力されるとナントゲート56の
出力端にL信号が現れる。このL信号がアンドゲート5
7゜インバータ58を介し、H信号−としてFF、のセ
ット端子に人力されると、FFoがセットされアンドゲ
ート44がクローズする。これによりクロックパルスが
遮断され、カウンタ45の計数も停止してマクロ域の測
距シーケンスが完了する。
The first and second distance measurement data transferred in this way include a flag D7 for identifying whether it is macro range range measurement data or normal range range measurement data, and a signal output A□.
A flag D8 is also added to identify which category of Ao the data belongs to. - After a predetermined number of shift pulses are thus input to the shift register 48, - an H signal Si indicating completion of distance measurement in the macro range is sent from the decoder 46 to the input terminal of the Nant gate 56.
g6 is supplied. Since the H signal from the OR gate 52 is applied to the other side of the Nant gate 56, when the H signal is output from the decoder 46, the L signal appears at the output terminal of the Nant gate 56. This L signal is the AND gate 5
When an H signal - is inputted to the set terminal of FF via the 7° inverter 58, FFo is set and the AND gate 44 is closed. As a result, the clock pulse is cut off, the counter 45 also stops counting, and the distance measurement sequence in the macro area is completed.

マクロ域の測距により測距データが得られると、第9図
のフローチャートに示したように、マイクロコンピュー
タ22は信号出力A11bによって得られた第1測距デ
ータから第2レンズセット位置を決定し、、また信号出
力A。によって得られた第2測距データから第2レンズ
セット位置を決定する。
When the distance measurement data is obtained by distance measurement in the macro range, the microcomputer 22 determines the second lens set position from the first distance measurement data obtained by the signal output A11b, as shown in the flowchart of FIG. ,, also signal output A. The second lens set position is determined from the second distance measurement data obtained by.

そして、例えば第1測距データがroooloo」であ
ると、第4図の「n2」が第2レンズセット位置として
決められ、第2測距データが[00011Jであると、
近距離側を優先させて「n、」−が第2レンズセット位
置として決められる。
For example, if the first distance measurement data is "roooloo", "n2" in FIG. 4 is determined as the second lens set position, and if the second distance measurement data is [00011J],
"n,"- is determined as the second lens set position, giving priority to the short distance side.

なお、マクロ域での測距時においては、被写体にはスポ
ット状の光ビームが照射されるから、受光素子St−3
6のなかの3個に反射光が入射することはなく最大2個
までの受光素子に反射光が入射する。したがって、近距
離側の受光素子からの光電出力を優先させることにより
、第1.第2測距データから而単に第1.第2レンズセ
ット位置を対応づけることができる。
Note that during distance measurement in the macro range, the subject is irradiated with a spot-shaped light beam, so the light receiving element St-3
The reflected light does not enter three of the 6 light receiving elements, but the reflected light enters up to two light receiving elements at most. Therefore, by prioritizing the photoelectric output from the light receiving element on the short distance side, the first. From the second distance measurement data, simply select the first distance measurement data. The second lens set positions can be associated.

こうして第1.第2レンズセット位置が求められると、
マイクロコンピュータ22はこれらのレンズセット位置
nz J、−n+ Jをもとに、どちらのレンズセット
位置が最終的なレンズセット位置として適しているかを
判断する。この判断に際しては、高い基準電圧V am
が与えられたコンパレータ31a、32a、33a、−
−を介して得られた測距データに対応するレンズセット
位置をn、、低い基準電圧vfibが与えられたコンパ
レータ31b、32b、33b、  ・・を介して得ら
れた測距データに対応するレンズセット位置をnbとし
たとき、 (i)nb≦n、−2J→nb (il)  nb −na   I J →naGiD
  ns ””nb J   →nlI (nb)Gv
) rnt、 >n、 J   →エラー処理(V) 
 n a = l J    →nbの条件により最終
的なレンズセット位置が決定される。
Thus, the first. Once the second lens set position is determined,
Based on these lens set positions nz J and -n+ J, the microcomputer 22 determines which lens set position is suitable as the final lens set position. When making this judgment, a high reference voltage V am
Comparators 31a, 32a, 33a, − are given
- the lens set position corresponding to the distance measurement data obtained through n, the lens corresponding to the distance measurement data obtained through the comparators 31b, 32b, 33b, etc. to which a low reference voltage vfib is applied. When the set position is nb, (i) nb≦n, -2J→nb (il) nb -na I J →naGiD
ns ””nb J →nlI (nb)Gv
) rnt, >n, J → error handling (V)
The final lens set position is determined by the condition n a = l J → nb.

上記(i)の条件は、背景からの反射光を無視し、焦点
深度が浅く主要被写体が位置している確率の高い近距離
側のレンズセット位置nbを優先させることを意味し、
また(ii)の条件は、被写体からの強い反射光に隣接
して現れやすい低反射光の影響、すなわちり1:#スト
ークの影響がレンズセット位置n1に含まれているもの
と判断し、レンズセット位置n、を優先させることを意
味している。
The above condition (i) means that the reflected light from the background is ignored and priority is given to the lens set position nb on the short distance side where the depth of focus is shallow and the probability that the main subject is located is high.
In addition, condition (ii) is determined to include the influence of low reflection light that tends to appear adjacent to strong reflection light from the subject, that is, the influence of ri 1:# stoke, and that the lens set position n1 This means that priority is given to set position n.

また、条件Gv)は理論的には生じ得ない状態であり、
この場合にはエラー処理、例えばファインダ内にエラー
表示を行ったり、自動的に再測距を行う等の処理シーケ
ンスが実行される。さらに、レンズセット位置nmが至
近距離に該当する条件付)の場合には、被写体からの低
い反射光に基づいて決められるレンズセット位置nbを
最終的なレンズセット位置として決めるものである。
In addition, condition Gv) is a state that cannot occur theoretically,
In this case, a processing sequence is executed to process the error, such as displaying an error in the finder or automatically re-measuring the distance. Furthermore, in the case of the condition that the lens set position nm corresponds to a close distance), the lens set position nb determined based on low reflected light from the subject is determined as the final lens set position.

したがって、上述のように第1.第2測距データがそれ
ぞれroooloo」、r00011」であり、これに
より第1.第2レンズセット位置が各々nz J、n+
 Jであると、条件(ii)によって最終的なレンズセ
ット位置は「nt」として決定される。
Therefore, as mentioned above, the first. The second distance measurement data are "roooloo" and "r00011", respectively, so that the first... The second lens set position is nz J, n+ respectively.
J, the final lens set position is determined as "nt" according to condition (ii).

ところで、マクロ域での測距を行った結果、信号出力A
 、、@、 AfibのいずれにもH信号が含まれてお
らず、FF、、、FF、bのいずれもがセットされない
ときには、オアゲート52からH信号が出力されないか
ら、ナントゲート56の出力はH信号となってFF0は
セットされない。この場合には引続き通常域での測距が
実行される。
By the way, as a result of distance measurement in the macro range, the signal output A
, @, When none of Afib contains an H signal and none of FF, , FF, and b are set, the OR gate 52 does not output an H signal, so the output of the Nant gate 56 is H. It becomes a signal and FF0 is not set. In this case, distance measurement is continued in the normal range.

通常域での測距時には、マイクロコンピュータ22から
ストロボ駆動回路18の端子T2に11信号が供給され
、昇圧回路49の作動が禁止される。
During distance measurement in the normal range, a 11 signal is supplied from the microcomputer 22 to the terminal T2 of the strobe drive circuit 18, and the operation of the booster circuit 49 is prohibited.

しかる後、デコーダ46からのリセットパルス51g4
によって、FF、、、FF、bのそれぞれが再びリセッ
トされ、さらにデコーダ46から第2トリガ信号がスト
ロボ駆動回路18の端子TSに入力される。これにより
コンデンサC2に蓄えられた電荷によって放電管3が発
光する。第2トリガ信号が出力された後、カウンタ45
によっである一定時間分のクロックパルスが計数される
と、デコーダ46から所定のパルス幅をもった読み込み
パルス51g5が出力され、信号出力A□、AoがFF
ゎ、、FFabにラッチされる。
After that, the reset pulse 51g4 from the decoder 46
As a result, each of FF, . As a result, the electric charge stored in the capacitor C2 causes the discharge tube 3 to emit light. After the second trigger signal is output, the counter 45
When clock pulses for a certain period of time are counted by the decoder 46, a read pulse 51g5 with a predetermined pulse width is output, and the signal outputs A□ and Ao are
ゎ,, latched to FFab.

こうして通常域の測距を行った後、デコーダ46からシ
フトレジスタ48のr ON10FF J端子にU信号
Sig2が出力される。この11信号によってクロック
パルスはアンドゲート55を通り、測距クロックパルス
としてマイクロコンピュータ22に供給されるようにな
る。
After distance measurement in the normal range is thus performed, the U signal Sig2 is output from the decoder 46 to the rON10FFJ terminal of the shift register 48. This 11 signal causes the clock pulse to pass through the AND gate 55 and be supplied to the microcomputer 22 as a ranging clock pulse.

マクロ域の測距時と同様に、シフトレジスタ48のro
bloFF、端子にH信号を入力しrCKJ端子にクロ
ックパルスを供給することによって、シフトレジスタ4
8からは、信号出力Afi、による第1測距データと、
信号出力A。による第2測距データとがマイクロコンピ
ュータ22に転送される。
As in the case of distance measurement in the macro range, the ro of the shift register 48
By inputting an H signal to the bloFF terminal and supplying a clock pulse to the rCKJ terminal, the shift register 4
8, the first distance measurement data by the signal output Afi,
Signal output A. The second distance measurement data is transferred to the microcomputer 22.

こうしてシフトレジスタ48に所定個数のシフトパルス
が入力された後には、デコーダ46からアンドゲート5
7の入力端に測距シーケンスが完了したことを表すし信
号51g7が供給される。この結果アンドゲート57の
出力端にL信号が現れ、これがインバータ58を介して
H信′号としてFF。のセット端子に入力される。そし
て、FF、のセットによりアンドゲート44がクローズ
し、測距シーケン・スが完了する。
After a predetermined number of shift pulses are input to the shift register 48 in this way, the decoder 46 outputs the AND gate 5.
A signal 51g7 indicating that the distance measurement sequence is completed is supplied to the input terminal of 7. As a result, an L signal appears at the output terminal of the AND gate 57, which is passed through the inverter 58 and turned into an FF as an H signal'. is input to the set terminal of Then, by setting the FF, the AND gate 44 is closed, and the ranging sequence is completed.

通常域の測距により、例えば第1測距データとしてro
lloooJ  (FF!a、FF3Mがセット状II
)、第2測距データとしてro 1110J(F F 
t−,F F sh、  F F 4−がセット状態)
が得られると、マイクロコンピュータ22はAFテーブ
ル28を対照してそれぞれの測距データに基づく第1.
第2レンズセット位置を決定する。第1θ図のAFテー
ブル2Bに示したように、通常域におけるレンズセット
位置を決めるときには、測光回路25で検出された被写
体輝度情報(EV値)も参照される。
By measuring distance in the normal range, for example, ro as the first distance measurement data.
lloooJ (FF!a, FF3M set II
), ro 1110J (F F
t-, FF sh, FF 4- are set)
Once obtained, the microcomputer 22 compares the AF table 28 and determines the first .
Determine the second lens set position. As shown in the AF table 2B of FIG. 1θ, when determining the lens set position in the normal range, the subject brightness information (EV value) detected by the photometry circuit 25 is also referred to.

今、仮にrEVlj+であったとすると、前記第1測距
データは受光素子S2.S3に反射光が入射したことを
意味するから、第1θ図のAFテーブル28により第2
レンズセット位置として「N7」が得られる。さらに、
第2測距データについては、3個以上の受光素子に光入
射があったときには近距離側の2個すなわちS3.S4
による信号が優先されるから、第2レンズセフ)位置と
してNsJが得られる。
Now, if it is rEVlj+, the first distance measurement data is the light receiving element S2. Since this means that the reflected light has entered S3, the second
"N7" is obtained as the lens set position. moreover,
Regarding the second distance measurement data, when light is incident on three or more light receiving elements, two on the short distance side, that is, S3. S4
Since the signal given by is given priority, NsJ is obtained as the second lens position.

通常域での第1.第2測距レンズセツト位置Nil J
 −Nh Jが得られると、マクロ域でのレンズセット
位置を決定する場合と同様に、(i)Nb≦N m  
2 J→Nh (ii)  Nb = Na −I J→N。
The first in the normal range. 2nd distance measuring lens set position Nil J
-Nh J is obtained, as in the case of determining the lens set position in the macro area, (i) Nb≦N m
2 J→Nh (ii) Nb = Na −I J→N.

6ω N a =N h J   →N−(Nb )6
嚇r p4 b > N * J   →エラー処理(
v)  N m = l J    →Nhの条件にし
たがって最終的なレンズセット位置が決定される。そし
て、上記の場合には第2レンズセット位置が第2レンズ
セット位置よりも2ステップ以上近距離側であるから、
最終的なレンズセット位置は「N5」として決定される
ことになる。
6ω N a = N h J → N-(Nb )6
Intimidation r p4 b > N * J → error handling (
v) The final lens set position is determined according to the condition N m = l J →Nh. In the above case, since the second lens set position is two or more steps closer to the second lens set position,
The final lens set position will be determined as "N5".

もちろん、AFテーブル28のデータを増やすことによ
って、上記のように近距離側の受光素子2個だけを優先
させるだけでなく、他の受光素子からの出力をも考慮し
てレンズセット位置を決めるようにすることもできる。
Of course, by increasing the data in the AF table 28, the lens set position can be determined not only by prioritizing only the two light receiving elements on the short distance side as described above, but also by considering the output from other light receiving elements. It can also be done.

なお、通常域での測距を行った結果、第1測距データが
roooootJすなわちF F 、、、だけがセット
状態であった場合は、最終的なレンズセット位置はrH
,1として決定される。というのは、通常域での第1測
距データがroooool」であるときには、本来マク
ロ域の測距時にいずれかの受光素子で検出できるはずの
ものである。このような状態は、マクロ域での測距時に
反射光強度が高(なることを想定してコンパレータ31
b。
As a result of distance measurement in the normal range, if the first distance measurement data is rooooootJ, that is, only F F is set, the final lens set position is rH.
, 1. This is because when the first ranging data in the normal range is "roooool", it should originally be detected by any of the light receiving elements during ranging in the macro range. In such a state, the comparator 31 assumes that the reflected light intensity is high during distance measurement in the macro range.
b.

32b、・・、36bの基準電圧vllbを高くしたと
きに生じやすい。すなわち、隣接した受光素子からの光
電出力を確実に弁別するために基準電圧Va&を高く設
定すると、マクロ域での最遠検出端が近距離側に移動す
る傾向をもつからで、上述の処理はこのような不都合を
解消するのに有効である。
This is likely to occur when the reference voltage vllb of 32b, . . . , 36b is increased. In other words, if the reference voltage Va & is set high in order to reliably discriminate the photoelectric outputs from adjacent light receiving elements, the farthest detection end in the macro area tends to move toward the short distance side, so the above processing is This is effective in resolving such inconveniences.

以上のようにしてマクロ域あるいは通常域でのレンズセ
ット位置が決定されると、このレンズセット位置に対応
した個数の駆動パルスがマイクロコンピュータ22から
モータ駆動回路27に出力され、撮影レンズ10が移動
される。撮影レンズ10の移動が完了すると、シャッタ
ボタンのロックが自動解除され撮影を行うことができる
ようになる。そして、さらにシャッタボタンを押し込む
ことによって、マイクロコンピュータ22からシャッタ
駆動回路24に作動信号が供出され、EV値に対応した
間口径でプログラムシャッタ23が開閉して撮影が行わ
れる。
When the lens set position in the macro range or normal range is determined as described above, the number of drive pulses corresponding to this lens set position is output from the microcomputer 22 to the motor drive circuit 27, and the photographing lens 10 is moved. be done. When the movement of the photographic lens 10 is completed, the shutter button is automatically unlocked and photographing can be performed. Then, by further pressing the shutter button, an actuation signal is sent from the microcomputer 22 to the shutter drive circuit 24, and the program shutter 23 opens and closes at an aperture corresponding to the EV value to take a picture.

ところで、前述したAFテーブル28には、破線で囲ん
だように被写体に補助照明を与える内蔵ストロボ17の
制御データ、すなわち内蔵ストロボ17の発光タイミン
グデータもメモリされている。そして、レンズセット位
置がAFテーブル28の破線で囲んだデータによって決
定された場合には、プログラムシャッタ23の開口径が
AFテーブル28にメモリされた開口径に達するまでマ
イクロコンピュータ22がシャッタ駆動回路24に作動
パルスを出力すると、マイクロコンピュータ22からス
トロボ駆動回路18の端子T4にトリガパルスを出力す
る。これにより、プログラムシャッタ23が被写体距離
に対応した開口径になったときに放電管17が発光する
ことになる。
Incidentally, the aforementioned AF table 28 also stores control data for the built-in strobe 17 that provides auxiliary illumination to the subject, that is, light emission timing data for the built-in strobe 17, as indicated by a broken line. When the lens set position is determined by the data surrounded by the broken line in the AF table 28, the microcomputer 22 controls the shutter drive circuit 24 until the aperture diameter of the program shutter 23 reaches the aperture diameter memorized in the AF table 28. When the actuation pulse is output to , the microcomputer 22 outputs a trigger pulse to the terminal T4 of the strobe drive circuit 18. As a result, the discharge tube 17 emits light when the program shutter 23 has an aperture diameter corresponding to the subject distance.

また、マクロ域での測距を行うことによって測距データ
が得られた場合には、第11図にフローチャートで示し
たように、IRED15の発光だけで測距が完了し、コ
ンデンサC2に充電された電荷はそのまま保存されてい
る。そして、この場合にはマイクロコンピュータ22か
らストロボ駆動回路18の端子T6にL信号が出力され
るため、コンデンサC,に直列接続されたスイッチ装置
50がオフする。したがってマクロ域での撮影時に被写
体譚度が低くストロボ撮影が行われるときには、ストロ
ボ駆動回路18の端子T4に入力されるトリガ信号によ
って、放電管17はコンデンサC2の電荷によって発光
し、コンデンサC2に蓄えられた電荷はそのまま保存さ
れる。
In addition, when distance measurement data is obtained by performing distance measurement in the macro range, as shown in the flowchart in Figure 11, distance measurement is completed simply by emitting light from the IRED 15, and the capacitor C2 is charged. The charge is conserved as is. In this case, an L signal is output from the microcomputer 22 to the terminal T6 of the strobe drive circuit 18, so that the switch device 50 connected in series to the capacitor C is turned off. Therefore, when photographing in the macro range when the subject is low and strobe photography is performed, the trigger signal input to the terminal T4 of the strobe drive circuit 18 causes the discharge tube 17 to emit light due to the charge in the capacitor C2, which is stored in the capacitor C2. The generated charge is preserved as is.

この場合、コンデンサC2の容量はコンデンサC2の容
量よりも小さく、放電管17の発光量も小さくなるが、
これに対応してプログラムシャッタ23の開口径を大き
くしてやることによって、放電管17の発光タイミング
を正確に決めることができるようになる。もちろん、通
常域の測距によって測距データが得られると、端子T、
には[■信号が与えられスイッチ装置50がオンするか
ら、放電管17はコンデンサC,によって放電し通常の
ストロボ撮影が行われる。
In this case, the capacitance of the capacitor C2 is smaller than that of the capacitor C2, and the amount of light emitted from the discharge tube 17 is also smaller.
By correspondingly increasing the opening diameter of the program shutter 23, the timing of light emission from the discharge tube 17 can be determined accurately. Of course, when distance measurement data is obtained by normal distance measurement, terminal T,
Since the [■ signal is applied and the switch device 50 is turned on, the discharge tube 17 is discharged by the capacitor C, and normal strobe photography is performed.

上述してきた実施例においては、マクロ域での測距時に
はI RED l 5によりスポット状の光ビームが投
射されることから、受光素子ごとにレンズセット位置を
対応させているが、マクロ域では被写界深度が浅くなる
ことを考慮し、上述したAFテーブル28のように、被
写体輝度情報も加味して最終的なレンズセット位置を決
めるようにしてもよい。
In the embodiments described above, since a spot-shaped light beam is projected by I RED l 5 during distance measurement in the macro range, the lens set position is made to correspond to each light receiving element. In consideration of the fact that the depth of field becomes shallow, the final lens set position may be determined in consideration of subject brightness information, as in the AF table 28 described above.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上に説明したように、本発明によれば、被写体からの
反射光を受光する受光素子の各々に、高低2種の基準電
圧が与えられた第1.第2コンパレータを接続し、第1
.第2コンパレータ群からの反転信号の組み合わせによ
り第1.第2測距信号を得、これらに対応して求められ
る第1.第2レンズセット位置の差が所定の条件を満足
しているか否かによって、いずれのレンズセット位置か
を選択するようにしている。したがって、被写体の種類
によって受光素子に入射して(る反射光の強度にレベル
差がある場合でも、主要被写体に対して高い確率でピン
ト合わせすることができるようになる。
As described above, according to the present invention, two types of high and low reference voltages are applied to each of the light receiving elements that receive reflected light from the subject. Connect the second comparator and
.. By combining the inverted signals from the second comparator group, the first. A second ranging signal is obtained, and a first ranging signal is obtained corresponding to the second ranging signal. The lens set position is selected depending on whether the difference between the second lens set positions satisfies a predetermined condition. Therefore, even if there is a level difference in the intensity of reflected light incident on the light receiving element depending on the type of subject, it is possible to focus on the main subject with high probability.

さらに、被写体からの反射光がハローを伴うものである
とき、あるいは反射光強度が強くて複数の受光素子にク
ロストークによる光電出力が現れるようなときでも、偽
信号の影響を受けずに正確な測距を行うことができる。
Furthermore, even when the reflected light from the subject is accompanied by a halo, or when the intensity of the reflected light is so strong that crosstalk causes photoelectric output to appear on multiple photodetectors, it is possible to accurately capture images without being affected by false signals. Distance measurement can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例を示す回路図である。 第2図は本発明に用いられる通常域での測距系の一例を
示す概略図である。 第3図はマクロ域も含む本発明の測距光学系の概略図で
ある。 第4図はレンズセット位置の説明図である。 第5図は本発明の測距装置の回路構成の概略を示すブロ
ック図である。 第6図はAF制御回路の構成を示す回路図である。 第7図はストロボ駆動回路の構成を示す回路図である。 第8図はストロボ駆動回路に用いられるスイッチ装置の
一例を示す回路図である。 第9図は測距時の処理を示すフローチャートである。 第10図はAFテーブルの一例を示す概念図である。 第11図はストロボ撮影時の処理を示すフローチャート
である。 第12図(A)、(B)は、それぞれ受光素子上の光入
射パターン及び受光素子からの光電出力を示す説明図で
ある。 2・・・投光部 3・・・放電管(測距用) 7・・・受光部 9・・・受光センサー Sl−36・・受光素子 lO・・撮影レンズ 15・・I RED 17・・放電管(撮影用) 31a、31b、++、36a−−コンパレータ38・
・分圧器 FF、、、FF、&・・D−フリップフロップ回路。 ((((M
FIG. 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a schematic diagram showing an example of a distance measuring system in a normal range used in the present invention. FIG. 3 is a schematic diagram of the distance measuring optical system of the present invention including a macro range. FIG. 4 is an explanatory diagram of the lens set position. FIG. 5 is a block diagram schematically showing the circuit configuration of the distance measuring device of the present invention. FIG. 6 is a circuit diagram showing the configuration of the AF control circuit. FIG. 7 is a circuit diagram showing the configuration of a strobe drive circuit. FIG. 8 is a circuit diagram showing an example of a switch device used in a strobe drive circuit. FIG. 9 is a flowchart showing processing during distance measurement. FIG. 10 is a conceptual diagram showing an example of an AF table. FIG. 11 is a flowchart showing processing during strobe photography. FIGS. 12(A) and 12(B) are explanatory diagrams showing a light incident pattern on a light receiving element and a photoelectric output from the light receiving element, respectively. 2... Light projecting section 3... Discharge tube (for distance measurement) 7... Light receiving section 9... Light receiving sensor Sl-36... Light receiving element lO... Photographing lens 15... I RED 17... Discharge tube (for photography) 31a, 31b, ++, 36a -- Comparator 38.
・Voltage divider FF, FF, &...D-flip-flop circuit. ((((M

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)投光手段から投射された光束のうち被写体によっ
て反射されてきた光を基線長方向に配列された複数の受
光素子で受光するカメラの測距装置において、 前記複数の受光素子からのそれぞれの光電出力を、高い
基準電圧が与えられた第1のコンパレータと低い基準電
圧が与えられた第2のコンパレータとに入力し、前記第
1のコンパレータ群からの反転信号の組み合わせによる
第1測距信号と、第2のコンパレータ群からの反転信号
の組み合わせによる第2測距信号とを検出し、第1測距
信号に対応するレンズセット位置が第2測距信号に対応
するレンズセット位置よりも所定値以上遠距離側のもの
であるときには、第2測距信号によりレンズセット位置
を決定することを特徴とするカメラの測距装置。
(1) In a camera distance measuring device in which light reflected by a subject out of the luminous flux projected from a light projecting means is received by a plurality of light receiving elements arranged in the baseline length direction, each of the light from the plurality of light receiving elements is The photoelectric output of is inputted to a first comparator to which a high reference voltage is applied and a second comparator to which a low reference voltage is applied, and a first distance measurement is performed by combining the inverted signals from the first comparator group. signal and a second distance measurement signal that is a combination of the inverted signal from the second comparator group, and the lens set position corresponding to the first distance measurement signal is higher than the lens set position corresponding to the second distance measurement signal. 1. A distance measuring device for a camera, characterized in that when the distance is more than a predetermined value, the lens set position is determined based on a second distance measuring signal.
(2)前記第1測距信号によるレンズセット位置が、第
2の測距信号によるレンズセット位置よりも所定値未満
だけ遠距離側であるときには、第1測距信号によりレン
ズセット位置を決定することを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載のカメラの測距装置。
(2) When the lens set position based on the first distance measurement signal is farther than the lens set position based on the second distance measurement signal by less than a predetermined value, the lens set position is determined based on the first distance measurement signal. A distance measuring device for a camera according to claim 1, characterized in that:
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