JPH0280564A - スパッタリング装置 - Google Patents
スパッタリング装置Info
- Publication number
- JPH0280564A JPH0280564A JP23232788A JP23232788A JPH0280564A JP H0280564 A JPH0280564 A JP H0280564A JP 23232788 A JP23232788 A JP 23232788A JP 23232788 A JP23232788 A JP 23232788A JP H0280564 A JPH0280564 A JP H0280564A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- shield
- target
- mask
- sputtering
- shape
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はスパッタリング装置に係り、特にプレーナマグ
ネトロンカソードを有するスパッタリング装置を用いて
基板に成膜するためのシールドマスクの構造に関する。
ネトロンカソードを有するスパッタリング装置を用いて
基板に成膜するためのシールドマスクの構造に関する。
従来より、スパッタ法で薄膜を形成する技術の中には、
高速で基板温度上昇の少ないプレーナマグネトロン方式
のスパッタリング法がある。プレーナマグネトロン方式
は、ターゲット後方に磁場印加機構を設け、ターゲット
表面のプラズマ密度を局部的に高めて、効率良くスパッ
タリングを行う方式である。しかし、この方法はスパッ
タリング速度及び効率は高いが、円形、楕円形の局部的
な部分でのみスパッタリングが行われるため、ターゲッ
トと基板の位置関係より、基板上に膜厚の分布を生じや
すく、基板の有効面積に制限を受けやすい、これを改善
するために、特開昭60−19786号公報に記載され
ているようにターゲットと基体との間にシールドマスク
を挿入したり、特開昭60−19407号公報に記載の
ように膜厚を一様化するようなシールドマスク形状を特
定したりしている。また、特開昭60−202543号
公報に記載のように二ロージJン領域に変更をかけたり
、特開昭60−200962号公報に記載のように成膜
速度をターゲット形状を変えることにより変化させ、−
様な膜を付けることを行ってきている。
高速で基板温度上昇の少ないプレーナマグネトロン方式
のスパッタリング法がある。プレーナマグネトロン方式
は、ターゲット後方に磁場印加機構を設け、ターゲット
表面のプラズマ密度を局部的に高めて、効率良くスパッ
タリングを行う方式である。しかし、この方法はスパッ
タリング速度及び効率は高いが、円形、楕円形の局部的
な部分でのみスパッタリングが行われるため、ターゲッ
トと基板の位置関係より、基板上に膜厚の分布を生じや
すく、基板の有効面積に制限を受けやすい、これを改善
するために、特開昭60−19786号公報に記載され
ているようにターゲットと基体との間にシールドマスク
を挿入したり、特開昭60−19407号公報に記載の
ように膜厚を一様化するようなシールドマスク形状を特
定したりしている。また、特開昭60−202543号
公報に記載のように二ロージJン領域に変更をかけたり
、特開昭60−200962号公報に記載のように成膜
速度をターゲット形状を変えることにより変化させ、−
様な膜を付けることを行ってきている。
上記従来技術において、シールドマスク、ターゲットの
一定形状選定による方法では、経時変化つまりターゲッ
トの寿命範囲内経時侵食によって生ずる膜厚分布が成膜
速度の変化に追従できないため、−様な膜厚の成膜が困
難になることについて、考慮されていなかった。
一定形状選定による方法では、経時変化つまりターゲッ
トの寿命範囲内経時侵食によって生ずる膜厚分布が成膜
速度の変化に追従できないため、−様な膜厚の成膜が困
難になることについて、考慮されていなかった。
そこで、本発明の目的は、上記問題点をなくし−様なタ
ーゲット寿命範囲において可能なシールドマスクの構造
を有するスパッタリング装置を提供することにある。
ーゲット寿命範囲において可能なシールドマスクの構造
を有するスパッタリング装置を提供することにある。
上記目的を達成するために1本発明のスパッタリング装
置では形状可変型シールドマスクを適用する。つまり、
上下左右の4点から構成されるシールドマスクにより、
開口部のサイズを任意に4系統の駆動系により制御する
ことで、ターゲット寿命内における成膜速度、膜厚分布
の変動を解消するものである。
置では形状可変型シールドマスクを適用する。つまり、
上下左右の4点から構成されるシールドマスクにより、
開口部のサイズを任意に4系統の駆動系により制御する
ことで、ターゲット寿命内における成膜速度、膜厚分布
の変動を解消するものである。
〔作 用〕
形状可変型マスクは1通常の定形型シールドマスクの形
状を基本とし、膜形成初期時には1例えば膜厚分布を均
一にするようなマスク形状を持つ。
状を基本とし、膜形成初期時には1例えば膜厚分布を均
一にするようなマスク形状を持つ。
これは、ターゲット中央部では膜厚が厚く、外周部では
薄いために外側の領域を大きく取った形状になっている
。この場合において、マスクは薄膜を均一にするために
最適な形状となっている。膜形状により、ターゲットに
経時変化が起こり二ロージョンが進行すると、外周部の
成膜速度は落ちる。この場合、マスク形状をその外周部
領域を広げたものとし、成膜の相対速度を経時変化に伴
なわないように変化させる。これにより、膜厚の均一性
、成膜速度は最適な状態に保持される。
薄いために外側の領域を大きく取った形状になっている
。この場合において、マスクは薄膜を均一にするために
最適な形状となっている。膜形状により、ターゲットに
経時変化が起こり二ロージョンが進行すると、外周部の
成膜速度は落ちる。この場合、マスク形状をその外周部
領域を広げたものとし、成膜の相対速度を経時変化に伴
なわないように変化させる。これにより、膜厚の均一性
、成膜速度は最適な状態に保持される。
以下、本発明の一実施例について図面により説明する。
第1図は本発明のシールドマスクの構成図の一例である
。第1図に示すように、シールドマスクは上部シールド
板1.下部シールド板2、横シールド板(右)3、横シ
ールド板(左)4で構成される。上下、左右のシールド
板で構成されるシールドマスク開口部形状は、直線また
は曲線または直線と曲線により定められる。本実施例は
、直線構成の開口部形状を持つシールドマスクである。
。第1図に示すように、シールドマスクは上部シールド
板1.下部シールド板2、横シールド板(右)3、横シ
ールド板(左)4で構成される。上下、左右のシールド
板で構成されるシールドマスク開口部形状は、直線また
は曲線または直線と曲線により定められる。本実施例は
、直線構成の開口部形状を持つシールドマスクである。
上下のシールド板は縦方向に可動し、左右シールド板は
横方向に可動する。また、シールド板は可動部の収納領
域確保のために、一部シャッター構造となっている。ま
た、それぞれのシールド板はガイドレール3を持ち、シ
ールド板を円滑に直線的に動くように導びく、また、各
シールド板シャッター巻部には駆動モータが組合わされ
、各シールド板はそれぞれ独立に動くようチャンバー外
のコントローラにつながっている。コントローラはシー
ルド板の位置決めを行えるようになっている。
横方向に可動する。また、シールド板は可動部の収納領
域確保のために、一部シャッター構造となっている。ま
た、それぞれのシールド板はガイドレール3を持ち、シ
ールド板を円滑に直線的に動くように導びく、また、各
シールド板シャッター巻部には駆動モータが組合わされ
、各シールド板はそれぞれ独立に動くようチャンバー外
のコントローラにつながっている。コントローラはシー
ルド板の位置決めを行えるようになっている。
シールドマスクは第2図に示すように、ターゲットと基
体との間に位置する。
体との間に位置する。
成膜初期状態では、膜厚を設定値±2%以下になるよう
にマスク形状を定める。その後、ターゲット使用状況に
より膜厚±2%をはずれないようにシールド板をコント
ローラにて動かすことにより、ターゲット使用限界まで
良品を生産することができる。
にマスク形状を定める。その後、ターゲット使用状況に
より膜厚±2%をはずれないようにシールド板をコント
ローラにて動かすことにより、ターゲット使用限界まで
良品を生産することができる。
基本シールドマスク開口形状及びシールドマスク構成板
枚数は、スパッタリング装置及び使用するターゲツト材
に応じて最適化することにより、膜厚の均一化をねらう
、第3図に各種シールド開口形状及び構成枚数の例を示
す。シールド板の構成枚数は任意であるが、その−例と
して4枚板で構成されている場合と、6枚板で構成され
ている場合を示す。ターゲット形状によりシールドマス
ク関口形状は異なるが、ターゲット形状が長方形の場合
、シールドマスク開口形状は外周部に大きなスパッタリ
ング領域をもうけるのが良い。
枚数は、スパッタリング装置及び使用するターゲツト材
に応じて最適化することにより、膜厚の均一化をねらう
、第3図に各種シールド開口形状及び構成枚数の例を示
す。シールド板の構成枚数は任意であるが、その−例と
して4枚板で構成されている場合と、6枚板で構成され
ている場合を示す。ターゲット形状によりシールドマス
ク関口形状は異なるが、ターゲット形状が長方形の場合
、シールドマスク開口形状は外周部に大きなスパッタリ
ング領域をもうけるのが良い。
また、ターゲットの二ローション領域とシールドマスク
の位置関係により、上下、左右方向のシールド板形状は
非対称ともなる。
の位置関係により、上下、左右方向のシールド板形状は
非対称ともなる。
本装置を使用することにより、ターゲットの磁石は強磁
性体ターゲットに使用するS、−C0などや非磁性体タ
ーゲットに使用する一般永久磁石についても膜厚の均一
化に有効な結果を得る。
性体ターゲットに使用するS、−C0などや非磁性体タ
ーゲットに使用する一般永久磁石についても膜厚の均一
化に有効な結果を得る。
また、スパッタ電源はRF、DC共に使用可能である。
以下に示す実施例においては、第1図に示した開口形状
のシールドマスクを用い、長方形型ターゲツト材につい
て成膜を行った。スパッタリング条件は、DCN源を用
い、チャンバー内真空圧力I X 10’Torr以下
にて、メタルターゲットではArガス圧I Q m T
orr、カーボンターゲットではArガス圧1.5mT
orrで各種ターゲットに表に示す投入電力にて成膜を
行った。
のシールドマスクを用い、長方形型ターゲツト材につい
て成膜を行った。スパッタリング条件は、DCN源を用
い、チャンバー内真空圧力I X 10’Torr以下
にて、メタルターゲットではArガス圧I Q m T
orr、カーボンターゲットではArガス圧1.5mT
orrで各種ターゲットに表に示す投入電力にて成膜を
行った。
膜厚分布は平均膜厚に対するばらづき量をパーセントで
表示した。
表示した。
尚、比較のために、従来技術の固定開口シールドマスク
で同一条件により評価を行い、比較例として第1表に示
した。
で同一条件により評価を行い、比較例として第1表に示
した。
第1表より1本発明による膜厚分布は、ターゲットの使
用開始直後の状態で約2%、ターゲット寿命終了直前で
2〜3%と、安定した膜厚分布を得ることができる。
用開始直後の状態で約2%、ターゲット寿命終了直前で
2〜3%と、安定した膜厚分布を得ることができる。
本発明によれば、膜厚分布は従来の経時変化によるばら
つきで±10%であったものが約2%以下にでき、性能
及び歩留りを大幅に向上させる効果がある。
つきで±10%であったものが約2%以下にでき、性能
及び歩留りを大幅に向上させる効果がある。
第1図は本発明の一実施例のスパッタリング用形状可変
型シールドマスクの構成図、第2図はそのシールドマス
クの構成配置図、第3図はシールドマスクの各種開口部
形状及びシールド板4枚と6枚とで構成されるシールド
マスクの一例の説明図である。 1・・・上シールド板、 2・・・下シールド板。 3・・・横シールド板(右)。 4・・・横シールド板(左)、 5・・・ガイドレール
、6・・・駆動モータ、 7・・・コントローラ。 第 1 図
型シールドマスクの構成図、第2図はそのシールドマス
クの構成配置図、第3図はシールドマスクの各種開口部
形状及びシールド板4枚と6枚とで構成されるシールド
マスクの一例の説明図である。 1・・・上シールド板、 2・・・下シールド板。 3・・・横シールド板(右)。 4・・・横シールド板(左)、 5・・・ガイドレール
、6・・・駆動モータ、 7・・・コントローラ。 第 1 図
Claims (1)
- (1)真空排気系、真空チャンバ、スパッタリングカソ
ード、シールドマスク、スパッタ電源、イナートガス供
給装置及び基板からなるスパッタリング装置において、
該シールドマスクが2点以上の品目から構成され、かつ
それぞれが横または縦方向に動作する機構及び駆動系を
有し、基板上の膜厚分布を真空中で制御できる機構とな
っていることを特徴とするスパッタリング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23232788A JPH0280564A (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | スパッタリング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23232788A JPH0280564A (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | スパッタリング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0280564A true JPH0280564A (ja) | 1990-03-20 |
Family
ID=16937457
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23232788A Pending JPH0280564A (ja) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | スパッタリング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0280564A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20100126848A1 (en) * | 2005-10-07 | 2010-05-27 | Tohoku University | Magnetron sputtering apparatus |
| US8470142B2 (en) * | 2005-06-13 | 2013-06-25 | Lg Display Co., Ltd. | Sputtering apparatus and driving method thereof |
| US20220208534A1 (en) * | 2020-12-24 | 2022-06-30 | Tokyo Electron Limited | Sputtering apparatus and method of controlling sputtering apparatus |
-
1988
- 1988-09-19 JP JP23232788A patent/JPH0280564A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8470142B2 (en) * | 2005-06-13 | 2013-06-25 | Lg Display Co., Ltd. | Sputtering apparatus and driving method thereof |
| US20100126848A1 (en) * | 2005-10-07 | 2010-05-27 | Tohoku University | Magnetron sputtering apparatus |
| US20220208534A1 (en) * | 2020-12-24 | 2022-06-30 | Tokyo Electron Limited | Sputtering apparatus and method of controlling sputtering apparatus |
| US12002667B2 (en) * | 2020-12-24 | 2024-06-04 | Tokyo Electron Limited | Sputtering apparatus and method of controlling sputtering apparatus |
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