JPH0280906A - 光学像コントラストを発生させる装置 - Google Patents
光学像コントラストを発生させる装置Info
- Publication number
- JPH0280906A JPH0280906A JP1184856A JP18485689A JPH0280906A JP H0280906 A JPH0280906 A JP H0280906A JP 1184856 A JP1184856 A JP 1184856A JP 18485689 A JP18485689 A JP 18485689A JP H0280906 A JPH0280906 A JP H0280906A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- grid
- image
- contrast
- generating
- optical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 47
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 23
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 27
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 24
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 3
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims 1
- 238000010009 beating Methods 0.000 abstract 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 241000282414 Homo sapiens Species 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 2
- 238000004621 scanning probe microscopy Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 235000003913 Coccoloba uvifera Nutrition 0.000 description 1
- 206010027146 Melanoderma Diseases 0.000 description 1
- 240000008976 Pterocarpus marsupium Species 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000004888 barrier function Effects 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 238000000799 fluorescence microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000012634 optical imaging Methods 0.000 description 1
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
- 238000004441 surface measurement Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B9/00—Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
- G01B9/04—Measuring microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/60—Systems using moiré fringes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Holo Graphy (AREA)
- Display Devices Of Pinball Game Machines (AREA)
- Electrochromic Elements, Electrophoresis, Or Variable Reflection Or Absorption Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、第一グリッドと、物面の第一グリッドの像
を発生させる投影装置と、第一グリッドの像と対象物と
の間の第一相対運動を発生させる第一装置と、第一グリ
ッドに幾何学的に類似な第二グリッドと、発生した第一
グリッドの像が第二グリッドの面でこの第二グリッドに
合同となるように結像倍率を選択し、物面を第二グリッ
ドの面に結像する装置とを装備した光画像コントラスト
を発生させる装置に関する。
を発生させる投影装置と、第一グリッドの像と対象物と
の間の第一相対運動を発生させる第一装置と、第一グリ
ッドに幾何学的に類似な第二グリッドと、発生した第一
グリッドの像が第二グリッドの面でこの第二グリッドに
合同となるように結像倍率を選択し、物面を第二グリッ
ドの面に結像する装置とを装備した光画像コントラスト
を発生させる装置に関する。
古典的な光画像形成には、焦点深度と分解能に関して種
々の限界がある。これ等の深度と分解能は、特にモアレ
効果を用いた最近の装置とグリッドスケール法によって
向上しいる。この場合、光学変換器及び電子回路に関連
して、人間の目による直接的な像観察の要求とは異なっ
ている。
々の限界がある。これ等の深度と分解能は、特にモアレ
効果を用いた最近の装置とグリッドスケール法によって
向上しいる。この場合、光学変換器及び電子回路に関連
して、人間の目による直接的な像観察の要求とは異なっ
ている。
西独特許第3527074号公報から、主にステレオ操
作される顕微鏡に導入するために使用される、モアレパ
ターンを発生させる投影グリッドと基準グリッドを装備
した装置は公知である。この装置では、投影グリッドと
基準グリノドの相対位置を開閉可能な面に平行なガラス
板、主に周期的な交番開閉によって可変できる。この装
置は、モアレ効果によって生じる等高線によって対象物
の表面形態を測定するのに使用される。
作される顕微鏡に導入するために使用される、モアレパ
ターンを発生させる投影グリッドと基準グリッドを装備
した装置は公知である。この装置では、投影グリッドと
基準グリノドの相対位置を開閉可能な面に平行なガラス
板、主に周期的な交番開閉によって可変できる。この装
置は、モアレ効果によって生じる等高線によって対象物
の表面形態を測定するのに使用される。
この公知の装置は、高い顕微鏡分解能と深い焦点深度を
存する装置には適していない。投影グリッドと基準グリ
ッドは、固定した構造部品に統合する必要がある。相対
運動は後置した光学部品によって発生して周期的である
。基準グリッドは対象物に対して相対移動しないので、
物面全体だけを一様に観察するのでなく、ゴリッド開口
に結像した部分のみ観察される。
存する装置には適していない。投影グリッドと基準グリ
ッドは、固定した構造部品に統合する必要がある。相対
運動は後置した光学部品によって発生して周期的である
。基準グリッドは対象物に対して相対移動しないので、
物面全体だけを一様に観察するのでなく、ゴリッド開口
に結像した部分のみ観察される。
西独特許第2360197号公報、及びG1口、X1a
o。
o。
G、S、Kino、 5PIE Vol、 809.
Scanning ImagingTechnolog
y 1987. p、 107により、多数の物点を同
時観測する共焦点走査顕微鏡は公知である。この場合、
回転する点状グリッド円板にプコウ板)が使用されてい
る。
Scanning ImagingTechnolog
y 1987. p、 107により、多数の物点を同
時観測する共焦点走査顕微鏡は公知である。この場合、
回転する点状グリッド円板にプコウ板)が使用されてい
る。
照明するため、この円板は対象物上に結像される。検出
すため、この対象物は前記円板上に逆結像される。
すため、この対象物は前記円板上に逆結像される。
共焦点装置によって物面での分解能を改善でき、古典的
な顕微鏡に比べて深い焦点深度を得ることができる。多
くの点を同時観測することによって、公知の単一照明走
査顕微鏡に比べて、改善された光効率とより早い撮像が
行える。
な顕微鏡に比べて深い焦点深度を得ることができる。多
くの点を同時観測することによって、公知の単一照明走
査顕微鏡に比べて、改善された光効率とより早い撮像が
行える。
照明ビーム光路と検出ビーム光路は、円板と対象物の間
で合致する。この合致は、検出光を散乱光と区別する場
合、重大な問題を引き起こし、この分離によって検出に
かなりな光の損失が生じる。
で合致する。この合致は、検出光を散乱光と区別する場
合、重大な問題を引き起こし、この分離によって検出に
かなりな光の損失が生じる。
Xlao等著に引用された同じ原理によるPetran
等の装置は、回転する円板の種々の領域から二つの穴を
照明ビーム光路と検出ビーム光路のために利用している
。従って、充分正確なニブコラ板を作製し、光学系を調
整することは非常に困難になる。何故なら、照明側の穴
のビーム光路が、物点を通過して照明側の穴に必ず正確
に一致し、しかも円板の全ての穴に対して一致する必要
があるからである。
等の装置は、回転する円板の種々の領域から二つの穴を
照明ビーム光路と検出ビーム光路のために利用している
。従って、充分正確なニブコラ板を作製し、光学系を調
整することは非常に困難になる。何故なら、照明側の穴
のビーム光路が、物点を通過して照明側の穴に必ず正確
に一致し、しかも円板の全ての穴に対して一致する必要
があるからである。
この発明の課題は、モアレ装置と同時走査装置の利点を
統合し、その場合、部品経費を低減し簡単に調節できる
光学像のコントラストを発生させる装置を提供すること
にある。
統合し、その場合、部品経費を低減し簡単に調節できる
光学像のコントラストを発生させる装置を提供すること
にある。
上記の課題は、上記種類に属する装置の場合、第二グリ
ッドの面内で対象物の像と第一グリッドの像とが第二グ
リッドに比べて何時でも異なった相対運動速度を示し、
第二グリッドの面内で対象物の画像と第二グリッドの間
の第二相対運動を発生させる第二装置が配設してあり、
空間変調は物面中の対象物の光学特性に依存し、また時
間変調は第二グリッドとこのグリッド上に生じる第一グ
リッドの像の間の速度差に依存し、第二グリッドを通過
して空間変調と時間変調した光に対する検出装置を装備
していることによって解決されている。
ッドの面内で対象物の像と第一グリッドの像とが第二グ
リッドに比べて何時でも異なった相対運動速度を示し、
第二グリッドの面内で対象物の画像と第二グリッドの間
の第二相対運動を発生させる第二装置が配設してあり、
空間変調は物面中の対象物の光学特性に依存し、また時
間変調は第二グリッドとこのグリッド上に生じる第一グ
リッドの像の間の速度差に依存し、第二グリッドを通過
して空間変調と時間変調した光に対する検出装置を装備
していることによって解決されている。
他の有利な構成は、従属請求項2〜14に記載されてい
る。
る。
この発明による装置は、公知光学装置、特に顕微鏡に簡
単に組み込むことができる。
単に組み込むことができる。
白色光に対してどんな光源でも使用できる。フリッカ−
測光法は、検出の光強度ないし結像時間と照明による対
象物の負担との間の効果的な妥協を与える。散乱光と反
射を防止し、光学の深度の段階変化を可能に1.2、超
分解能を達成できる。最良な分解能と焦点深度はグリッ
ドとし2て二次元点グリッドを用いて得られる。しかし
、装置の分解能と光強度の間をうまく妥協させることは
直線グレーテ・イングを用いても得られる。対象物を反
射光及び透過光の明視野と暗視野で観察できる。蛍光顕
微鏡の場合種々の利点が生じる。
測光法は、検出の光強度ないし結像時間と照明による対
象物の負担との間の効果的な妥協を与える。散乱光と反
射を防止し、光学の深度の段階変化を可能に1.2、超
分解能を達成できる。最良な分解能と焦点深度はグリッ
ドとし2て二次元点グリッドを用いて得られる。しかし
、装置の分解能と光強度の間をうまく妥協させることは
直線グレーテ・イングを用いても得られる。対象物を反
射光及び透過光の明視野と暗視野で観察できる。蛍光顕
微鏡の場合種々の利点が生じる。
適当な演算処理回路を用いると、付加的な光学及び光電
部品を用いないで自動焦点合わせが可能になる、 〔実施例] この発明による装置の具体例を図面に模式的に示し、詳
しく説明する。
部品を用いないで自動焦点合わせが可能になる、 〔実施例] この発明による装置の具体例を図面に模式的に示し、詳
しく説明する。
第1図にtよ、先ず公知の顕微鏡が示し1.である。
対象物lは入射絞り3を備えた対物レンズ2とフィール
ド【/ンズ4とを通過して(中間)像面5上に結像し、
検出系6によって捕捉される。この検出系6は、目視観
察の場合、接眼レンズと11で構成されるが、好ましく
は光電画像変換器、例えばCCDカメラでも構成できる
。
ド【/ンズ4とを通過して(中間)像面5上に結像し、
検出系6によって捕捉される。この検出系6は、目視観
察の場合、接眼レンズと11で構成されるが、好ましく
は光電画像変換器、例えばCCDカメラでも構成できる
。
対象物1の反射照明には、光源7、集束レンズ8とレン
ズつと10を装備した装置が使用される。
ズつと10を装備した装置が使用される。
ビームスプリッタ−12を用いて、反射ビーム光路が結
像ビーム光路に導入される。
像ビーム光路に導入される。
この発明によれば、上記の顕微鏡には第一グリッド13
が挿入される。このグリッドは透明な円板に放射状の直
線グリッドに作製されていて、反射照明装置の照明絞り
面11に配設してある。従って、グリッド13の鮮明な
像が物面1に投影される。モータI4はグリッド円板I
3を回転させ、二の発明による第一相対運動である物面
のグリッド13像の移動を発生させる。
が挿入される。このグリッドは透明な円板に放射状の直
線グリッドに作製されていて、反射照明装置の照明絞り
面11に配設してある。従って、グリッド13の鮮明な
像が物面1に投影される。モータI4はグリッド円板I
3を回転させ、二の発明による第一相対運動である物面
のグリッド13像の移動を発生させる。
物面5には、更に第二グリッド15が配設してある。こ
のグリッドは第一グリッド13と同じように、グリッド
円板として形成してあり、同じパターンから再生技術に
よって作製できる。
のグリッドは第一グリッド13と同じように、グリッド
円板として形成してあり、同じパターンから再生技術に
よって作製できる。
第二モータ16は第二グリッド円板15を回転させ、像
面5中の物面の像に対して第二相対運動を発生させる。
面5中の物面の像に対して第二相対運動を発生させる。
従って、この光学装置は照明絞り面11を物面で反射さ
せて像面5に倍率1:1で結像させるように構成されて
いる。両方のグリッド13と15上では、それぞれ一つ
の平面が照明されるか、あるいは検出系6によって捕捉
される。
せて像面5に倍率1:1で結像させるように構成されて
いる。両方のグリッド13と15上では、それぞれ一つ
の平面が照明されるか、あるいは検出系6によって捕捉
される。
この平面は、対象’Thlに対して顕微鏡の視野を完全
に利用させる。
に利用させる。
第一グリッド13の照明された面は、対象物1が構造の
ない状態で反射した場合、第二グリッド15の検出面上
に同一形状に結像される。この場合、回転するグリッド
円板13と15の間に一定の相対角度関係が生じる。こ
の角度関係では、第一プリント13の像が第二グリッド
15で遮蔽される。モータ14によって第一グリッド円
板13は角速度w+、で回転し、モータ16は第二グリ
ッド円板15を上記の角速度とは異なる角速度W、。
ない状態で反射した場合、第二グリッド15の検出面上
に同一形状に結像される。この場合、回転するグリッド
円板13と15の間に一定の相対角度関係が生じる。こ
の角度関係では、第一プリント13の像が第二グリッド
15で遮蔽される。モータ14によって第一グリッド円
板13は角速度w+、で回転し、モータ16は第二グリ
ッド円板15を上記の角速度とは異なる角速度W、。
で回転させる。
回転軸から付属するグリッド点までの半径方向の距離r
と第一グリッド13の位置周期又は格子定数から、対象
物1の点の照明を時間的に変調する円周間w、=W、、
−r・Ωが生じる。
と第一グリッド13の位置周期又は格子定数から、対象
物1の点の照明を時間的に変調する円周間w、=W、、
−r・Ωが生じる。
第二グリッド15が運動すると、対象物1の像が像面5
でサンプリング走査され、検出系6に現れる。対象物1
の点の像は、図示した具体例のように「とΩが、両方の
グリッド13.15で同じ場合、周!1JIW、=W、
、・r・Ωで時間的に変調される。
でサンプリング走査され、検出系6に現れる。対象物1
の点の像は、図示した具体例のように「とΩが、両方の
グリッド13.15で同じ場合、周!1JIW、=W、
、・r・Ωで時間的に変調される。
従って、像点の光強度の変調は二つの周期W1とw2の
重畳によって生じて、周期w、=W+w2の唸りが生じ
る(ヘテロダイン効果)。
重畳によって生じて、周期w、=W+w2の唸りが生じ
る(ヘテロダイン効果)。
即ち、検出系6によって像が捕捉され、その光強度は全
ての点で同時に唸り周期w、で変調する。
ての点で同時に唸り周期w、で変調する。
変調が遅い場合、即ちWs < 20 Hzで変調する
場合、上記像を人間の目で充分観察できる。この像は光
強度の振動の振幅コントラストを示す。即ち、典型的な
明るい個所は振動の強い振幅を示し、典型的な暗い個所
は変調されていない。
場合、上記像を人間の目で充分観察できる。この像は光
強度の振動の振幅コントラストを示す。即ち、典型的な
明るい個所は振動の強い振幅を示し、典型的な暗い個所
は変調されていない。
この発明による上記振幅コントラストを用いると、両方
のメンシュ又はグリッド13と15が適切に形成された
時、同時共焦点走査顕微鏡の全ての利点が得られる。従
って、高い空間周波数又は格子定数は、主に顕微鏡から
非コヒーレンス伝送できる半分から全空間周波数までの
範囲にある。
のメンシュ又はグリッド13と15が適切に形成された
時、同時共焦点走査顕微鏡の全ての利点が得られる。従
って、高い空間周波数又は格子定数は、主に顕微鏡から
非コヒーレンス伝送できる半分から全空間周波数までの
範囲にある。
検出系6によって捕捉した像には、正確に計算した場合
、唸り周期w8では変調していない成分、特に−様な光
と加算周期w、+w、及びw2を有する成分が含まれて
いる。これ等の成分は簡単に濾波できる。従って、周期
WIとW2をその差W5より大きく選定し、検出系6(
目、CCDカメラ)の時定数に合わせると有利である。
、唸り周期w8では変調していない成分、特に−様な光
と加算周期w、+w、及びw2を有する成分が含まれて
いる。これ等の成分は簡単に濾波できる。従って、周期
WIとW2をその差W5より大きく選定し、検出系6(
目、CCDカメラ)の時定数に合わせると有利である。
格子の向きにほぼ垂直に移動するグリッドを直線グレー
ティングで形成することを説明する。従って、装置は特
に光強度が強く、視野の10%〜20%を同時に良好に
観察できる。もちろん、超分解能はグリッドの向きに垂
直な方向でのみ住しる。従って、直線グレーティングを
使用する場合、超分解能の方向を対象物の優先方向に回
転させることのできる画像回転用の光学手段を装備する
と有利である。例えば、これにはビームスプリッタ−1
2と対物レンズ2の間の光路に回転プリズムを挿入する
ことができる。この方法は、例えば半導体素子の構造幅
の測定に特に適している。
ティングで形成することを説明する。従って、装置は特
に光強度が強く、視野の10%〜20%を同時に良好に
観察できる。もちろん、超分解能はグリッドの向きに垂
直な方向でのみ住しる。従って、直線グレーティングを
使用する場合、超分解能の方向を対象物の優先方向に回
転させることのできる画像回転用の光学手段を装備する
と有利である。例えば、これにはビームスプリッタ−1
2と対物レンズ2の間の光路に回転プリズムを挿入する
ことができる。この方法は、例えば半導体素子の構造幅
の測定に特に適している。
グリッド13と15を点状開口を有する二次元グリッド
で形成すると、共焦点走査顕微鏡の最高の分解と焦点深
度が得られる。しかし、直線グレーティングを使用する
のに比べて、光強度の損失が生じる。
で形成すると、共焦点走査顕微鏡の最高の分解と焦点深
度が得られる。しかし、直線グレーティングを使用する
のに比べて、光強度の損失が生じる。
回転する円板グリッド13.15による外に、運動する
二つのグリッドと相対運動を発生させる装置14.16
を他の系によっても構成することができる。
二つのグリッドと相対運動を発生させる装置14.16
を他の系によっても構成することができる。
透過光顕微鏡の場合、これに対する例が第2図に示して
ある。照明用の絞り3aを装備した集光レンズ2aは、
透過光顕微鏡の場合、更に絞り3bを装備した対物レン
ズ2bに対して必要になる。
ある。照明用の絞り3aを装備した集光レンズ2aは、
透過光顕微鏡の場合、更に絞り3bを装備した対物レン
ズ2bに対して必要になる。
照明装置の照明絞り面11には、例えば平行直線格子で
ある第一グリッド13が固定配設してある。
ある第一グリッド13が固定配設してある。
このグリッドは物面に結像されている。この像と物体l
の間の第一相対運動は、回転可能な面平行ガラス板34
と駆動部14aで構成された装置によって生じる。
の間の第一相対運動は、回転可能な面平行ガラス板34
と駆動部14aで構成された装置によって生じる。
第二グリッド15と第二相対運動を発生させる第二装置
も同じ手段で構成すると有利である。
も同じ手段で構成すると有利である。
例えば、基板に圧電的に発生させた連続する超音波も、
又はグリッド15bとして及び同時に相対運動用の装置
16bとしての他の光学的手段も使用できる。この場合
、部品から生じる振動問題を伴うこの部品の運動を防止
できる。
又はグリッド15bとして及び同時に相対運動用の装置
16bとしての他の光学的手段も使用できる。この場合
、部品から生じる振動問題を伴うこの部品の運動を防止
できる。
第2図の例では、第二グリッド15bと第二相対運動用
の第二装置16bがそれに応じて形成される。更に、像
面5aにブラング・セル35が配設してある。二枚のレ
ンズ36.38及びその間に配設した位相板37は、第
二グリッド15bを通過した像を発生させる装置を補完
している。この像は、検出系6によって捕捉され、第1
図の例の場合のように処理される。ここでも、通常照明
ビーム光路に同じ装置が装備される。
の第二装置16bがそれに応じて形成される。更に、像
面5aにブラング・セル35が配設してある。二枚のレ
ンズ36.38及びその間に配設した位相板37は、第
二グリッド15bを通過した像を発生させる装置を補完
している。この像は、検出系6によって捕捉され、第1
図の例の場合のように処理される。ここでも、通常照明
ビーム光路に同じ装置が装備される。
第1図が適切な回路の例を示す、検出系6によって捕捉
された像を電子的に評価すると効果的である。
された像を電子的に評価すると効果的である。
光バリヤ17と18によって、グリッド13と15が周
期W1とWzをサンプリングし、マルチプレクサ19と
後置した低域濾波器20によって唸り周uM w sを
有する電子信号が形成される。この信号は光機械通路で
検出系6の像に刻み込まれている。この信号から、しき
い値検出器21はシーケンス周期w、の同期信号を形成
する。この同期信号は以下の動作を制御する。
期W1とWzをサンプリングし、マルチプレクサ19と
後置した低域濾波器20によって唸り周uM w sを
有する電子信号が形成される。この信号は光機械通路で
検出系6の像に刻み込まれている。この信号から、しき
い値検出器21はシーケンス周期w、の同期信号を形成
する。この同期信号は以下の動作を制御する。
1、左カメラCCDカメラ6)の内容をリセットする。
2、切換開閉器22は接点位置MからAに切り換わる。
3、画像を蓄積する間撮像し、第一画像記憶器23に伝
送する(画像A)。
送する(画像A)。
4、切換開閉器22は接点位置AからMに切り換わる。
5、カメラの内容をリセットする。
6、切換開閉器22は接点位置MからBに切り換わる。
7、上記3項と同じようであるが、第二画像記憶器24
に伝送する(画像B)。
に伝送する(画像B)。
8、切換開閉器22は接点位置BらMに切り換わる。
こうして、経過は再び最初から始まる。同時に、しきい
値検出器21の同期信号によって、画像記憶器23と2
4からの画像AとBが減算回路25中で減算される、画
像の差Cの第三画像記憶器26への伝送、及びデータを
、例えば画像表示装置27に出力することが行われる。
値検出器21の同期信号によって、画像記憶器23と2
4からの画像AとBが減算回路25中で減算される、画
像の差Cの第三画像記憶器26への伝送、及びデータを
、例えば画像表示装置27に出力することが行われる。
画像AとBの一定位相関係によって画像の差Cは、もは
や唸り周期w5で変調されなくて、画像表示装置27上
で通常の方法によって観察できる。カメラ6に達する像
の変調に対して同期信号の位相を調節して、変調画像が
最大強度の時、一方の画像Aが、また最小強度の時、他
方の画像が撮像されるように、画像AとBに対する↑最
像時間の間隔43.44を設定すると有利である。画像
の差Cは、この時最大コントラストを示す。
や唸り周期w5で変調されなくて、画像表示装置27上
で通常の方法によって観察できる。カメラ6に達する像
の変調に対して同期信号の位相を調節して、変調画像が
最大強度の時、一方の画像Aが、また最小強度の時、他
方の画像が撮像されるように、画像AとBに対する↑最
像時間の間隔43.44を設定すると有利である。画像
の差Cは、この時最大コントラストを示す。
第3図には、検出系6の入力端での明るい物点、灰色の
物点及び黒い物点に対する光強度の時間変調が示してあ
る。これ等の曲線は、唸り周期W%で変調されている。
物点及び黒い物点に対する光強度の時間変調が示してあ
る。これ等の曲線は、唸り周期W%で変調されている。
例えばこの発明による装置の周囲の明かりから生じる−
様な光成分の強度が零にならない。、黒い点42の場合
でも零と異なる一定の値になるように作用する。時間間
隔43では、最大強度の場合、操作3、つまり画像Aの
撮像が行われる。時間間隔44では、最小強度の場合、
操作7、つまり画像Bの撮影が行われる。
様な光成分の強度が零にならない。、黒い点42の場合
でも零と異なる一定の値になるように作用する。時間間
隔43では、最大強度の場合、操作3、つまり画像Aの
撮像が行われる。時間間隔44では、最小強度の場合、
操作7、つまり画像Bの撮影が行われる。
画像AとBの差は、明るい点40に対して大きな強度差
を、灰色の点41に対して中間の強度差を、そして黒い
点42に対して零の強度差を示す。
を、灰色の点41に対して中間の強度差を、そして黒い
点42に対して零の強度差を示す。
均一光成分は抑制され、画像変調の時間的に高い周波数
成分は画像蓄積時間によって時間間隔43.44にわた
って算定される。
成分は画像蓄積時間によって時間間隔43.44にわた
って算定される。
図示したこの発明による装置は、種々の変わった光学系
にも有利に利用できる。
にも有利に利用できる。
第4図により、センター絞り45を用いて投影ビーム光
路で第一プリント13の暗視野照明を行うと、検出系6
によって検出される像の一様成分を大幅に低減できる。
路で第一プリント13の暗視野照明を行うと、検出系6
によって検出される像の一様成分を大幅に低減できる。
適当な(短波長の)光#7と、場合によって照明ビーム
光路中のフィルター29、及び主に二色分離器であるビ
ームスプリッタ−12と検出系6との間に配設されてい
る照明ビーム光路用の阻1トフィルター30を用いて蛍
光コントラストを付けことが達成される。しかも、蛍光
減衰時間を空間に依存して測定できる。
光路中のフィルター29、及び主に二色分離器であるビ
ームスプリッタ−12と検出系6との間に配設されてい
る照明ビーム光路用の阻1トフィルター30を用いて蛍
光コントラストを付けことが達成される。しかも、蛍光
減衰時間を空間に依存して測定できる。
更に、第一グリッド13の像と対象物1々の間の第一相
対運動を発生させる装置14ムこは、速度調節装置28
(第1図)を装備する必要がある。
対運動を発生させる装置14ムこは、速度調節装置28
(第1図)を装備する必要がある。
第一グリッド13の像を経由して対象物1上の光変調の
局部周波数W、が値2π/′P(T−蛍光減衰時間)に
近ずくと、変調した蛍光が検出系6中で強(減衰する。
局部周波数W、が値2π/′P(T−蛍光減衰時間)に
近ずくと、変調した蛍光が検出系6中で強(減衰する。
第二相対運動を前記速度で発生させる第二装置16も調
節でき、唸り周期W、を一定に維持すると有利である。
節でき、唸り周期W、を一定に維持すると有利である。
特別な光学的な経費をかけなくても、この装置を用いて
自動スポット焦点合わせ又はインテグレーション焦点合
わせを行うことができる。例えば、広い視野中の著しい
像領域を特定することができ、この領域に焦点を合わせ
ることができる。
自動スポット焦点合わせ又はインテグレーション焦点合
わせを行うことができる。例えば、広い視野中の著しい
像領域を特定することができ、この領域に焦点を合わせ
ることができる。
そのため、検出系6によって検出された画像の調節可能
な面範囲の光強度振幅は、平面を介して統合される付加
的な組込装置31が必要である。
な面範囲の光強度振幅は、平面を介して統合される付加
的な組込装置31が必要である。
対象物1と対物レンズ2の相対位置に対する位置決め装
置33も同様に必要である。それには、鏡筒(対物レン
ズ2等)用のモータZ方向駆動(33a)と対象物Iの
xy方向電子位置決め装置33bを組み合わせると効果
的である。第1図には、この様子が示してある。
置33も同様に必要である。それには、鏡筒(対物レン
ズ2等)用のモータZ方向駆動(33a)と対象物Iの
xy方向電子位置決め装置33bを組み合わせると効果
的である。第1図には、この様子が示してある。
組込装置31は、画像記憶器26から一定又は調節可能
な画像Cの領域を受は取り、この領域の全ての画素の光
強度に関して積分値を形成する。
な画像Cの領域を受は取り、この領域の全ての画素の光
強度に関して積分値を形成する。
検出系6にも点検出器上に画像領域をフォーカスさせる
ことができる。つまり、光学的な組込装置を使用できる
。選択した画像領域の焦点位置は、空間的に積算される
フリッカ−測光信号が一時的に最大振幅を示すとき定ま
る。この最大値は対物レンズ調整部33Aの制御回路3
2を用いて自動的に見出すことができる。
ことができる。つまり、光学的な組込装置を使用できる
。選択した画像領域の焦点位置は、空間的に積算される
フリッカ−測光信号が一時的に最大振幅を示すとき定ま
る。この最大値は対物レンズ調整部33Aの制御回路3
2を用いて自動的に見出すことができる。
調べる対象物1が7三の付帯条件を満たせば、表面測定
も効果的に行える。古典的な光学装置の焦点深度の範囲
内の凹凸構造を有するコントラスのない対象物lの場合
、この発明による装置で検出できる深度の表面を主要な
フリッカ−測光信号の振幅の最大値から導ける。つまり
、異なった深度の表面状況を簡単に測定できる。このこ
とは、例えば半導体の構造を検査する場合に有利である
。
も効果的に行える。古典的な光学装置の焦点深度の範囲
内の凹凸構造を有するコントラスのない対象物lの場合
、この発明による装置で検出できる深度の表面を主要な
フリッカ−測光信号の振幅の最大値から導ける。つまり
、異なった深度の表面状況を簡単に測定できる。このこ
とは、例えば半導体の構造を検査する場合に有利である
。
透過光装置の場合、同じ位相のずれを有する面が決定さ
える。
える。
両方のグリッド13.15がこの発明による異なった速
度でなく同じ速度で運動する場合、つまりグリッド円板
13.15が同じ速度で運動する場合、この発明による
装置を原理的にX1ao等及び西独特許第236019
7号公報の公知技術と同じ同時共焦点走査顕微鏡に変換
することができる。
度でなく同じ速度で運動する場合、つまりグリッド円板
13.15が同じ速度で運動する場合、この発明による
装置を原理的にX1ao等及び西独特許第236019
7号公報の公知技術と同じ同時共焦点走査顕微鏡に変換
することができる。
しかし、そうすると、各県の利点を実際に得るため、両
グリッド円板の位相を最高精度で調節して一定に維持す
る必要がある。この問題は、二つのグリッドが異なる速
度を有するこの発明の装置の場合、明らかに生じること
はない。
グリッド円板の位相を最高精度で調節して一定に維持す
る必要がある。この問題は、二つのグリッドが異なる速
度を有するこの発明の装置の場合、明らかに生じること
はない。
PeLran等の系に反して、グリッド円板の対称性に
関して極端な要求、つまりどの格子開口にも一定角度の
第二間隔を正確に合わせる必要があること、及び光学系
の調整を省略できると言う利点がある。これに反して、
両方のグリッド13.15に対するこの発明による類似
性ないしは合同条件を非常に簡単に達成でき、非常に狭
い範囲にも維持される筈である。
関して極端な要求、つまりどの格子開口にも一定角度の
第二間隔を正確に合わせる必要があること、及び光学系
の調整を省略できると言う利点がある。これに反して、
両方のグリッド13.15に対するこの発明による類似
性ないしは合同条件を非常に簡単に達成でき、非常に狭
い範囲にも維持される筈である。
X1ao等及び西独特許第2360197号公報による
系に反して、更に照明側のグリッドによって濾波された
光は明らかに検出系に達することができないので、−様
成分の光の問題を大幅に低減すると言う利点がある。こ
の発明による装置の場合にのみ、二つの画像の差を取る
ことによって(第1図と第3図;22〜26)説明した
簡単な一様光の抑制が可能になる。
系に反して、更に照明側のグリッドによって濾波された
光は明らかに検出系に達することができないので、−様
成分の光の問題を大幅に低減すると言う利点がある。こ
の発明による装置の場合にのみ、二つの画像の差を取る
ことによって(第1図と第3図;22〜26)説明した
簡単な一様光の抑制が可能になる。
第1図は、公知反射光顕微鏡に組み込んだ光学像のコン
トラストを発生させるこの発明による装置の具体例の模
式図を示す。 第2図は、異なったグリッド構成と相対運動を発生させ
る装置を装備したこの発明による透過光装置の具体例の
模式図を示す。 第3図は、種々の明るい対象点の光強度の時間変調グラ
フを示す。 第4図は、第一グリッドの暗視野照明のこの発明による
装置の模式図を示す。 図中引用記号: 1・・・対象物、 2・・・対物レンズ、 5・・・像面、 6・・・検出系、 7・・・光源、 13.15・・・グリッド円板。 代理人 弁理士 伊 藤 武 久
トラストを発生させるこの発明による装置の具体例の模
式図を示す。 第2図は、異なったグリッド構成と相対運動を発生させ
る装置を装備したこの発明による透過光装置の具体例の
模式図を示す。 第3図は、種々の明るい対象点の光強度の時間変調グラ
フを示す。 第4図は、第一グリッドの暗視野照明のこの発明による
装置の模式図を示す。 図中引用記号: 1・・・対象物、 2・・・対物レンズ、 5・・・像面、 6・・・検出系、 7・・・光源、 13.15・・・グリッド円板。 代理人 弁理士 伊 藤 武 久
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、第一グリッド(13)と、 物面の第一グリッド(13)の像を発生させる投影装置
と、 第一グリッド(13)の像と対象物との間の第一相対運
動を発生させる第一装置(14)と、第一グリッド(1
3)に対して幾何学的に類似な第二グリッド(15)と
、 発生した第一グリッド(13)の像が第二グリッド(1
5)の面でこの第二グリッドに合同となるように結像倍
率を選択し、物面を第二グリッド(15)の面に結像す
る装置と、を装備した光学像のコントラストを発生させ
る装置において、 第二グリッド(15)の面内で対象物(1)の像と第一
グリッド(13)の像とが第二グリッド(15)に比べ
て何時でも異なった相対運動速度を示し、第二グリッド
(15)の面内で対象物の画像と第二グリッド(15)
の間の第二相対連動を発生させる第二装置(16)が配
設してあり、 空間変調は物面の対象物(1)の光学特性に依存し、ま
た時間変調は第二グリッド(15)とそれから生じる第
一グリッド(13)の像の間の速度差に依存し、第二グ
リッド(15)を通過し、空間変調と時間変調した光に
対する検出装置(6)を装備している、 ことを特徴とする光学像のコントラストを発生させる装
置。 2、この装置は光学顕微鏡を使用していることを特徴と
する請求項1記載の光学像のコントラストを発生させる
装置。 3、両方のグリッド(13、15)は、直線グレーテイ
ングで形成してあることを特徴とする請求項1記載の光
学像のコントラストを発生させる装置。 4、両グリッド(13、15)と対象物(1)の間で像
を回転させる可動光学手段が装備してあることを特徴と
する請求項3記載の光学像のコントラストを発生させる
装置。 5、両方のグリッド(13、15)は、二次元グリッド
として形成されていることを特徴とする請求項1記載の
光学像のコントラストを発生させる装置。 6、二つのグリッド(13、15)を透過振幅フィルタ
ーとして円板に装着し、第一相対運動と第二相対運動を
異なった角速度で発生させるモータ(14、16)によ
って両方のグリッドを回転させる(第1図)ことを特徴
とする請求項1記載の光学像のコントラストを発生させ
る装置。 7、両方のグリッド(13、15)と対象物(1)との
間に、可動するビーム偏向光学手段(34)が第一又は
第二相対運動を発生させる第一又は第二装置として配設
してある(第2図)ことを特徴とする請求項1記載の光
学像のコントラストを発生させる装置。 8、両方のグリッドを移動させる駆動部は、第一又は第
二相対運動を発生させる第一又は第二装置として配設し
てある(第1図)ことを特徴とする請求項1記載の光学
像のコントラストを発生させる装置。 9、両グリッド(13、15)の各一個と相対運動を発
生させる付属装置(14、16)は、制御可能な光学部
材として共通に形成してある(第2図)ことを特徴とす
る請求項1記載の光学像のコントラストを発生させる装
置。 10、両方のグリッド(13、15)は、同じパターン
による再生技術を用いて作製されていることを特徴とす
る請求項1記載の光学像のコントラストを発生させる装
置。 11、検出装置として、第二グリッド(15)の面(5
)に直接接続する光電画像変換系(6)が配設してあり
、この系はある時間周期で第二グリッド(15)を通過
した光の像を形成することを特徴とする請求項1記載の
光学像のコントラストを発生させる装置。 12、時間をずらして検出した二つの像の差を形成する
系(22、23、24、25、26)が後置してあり、
この系は対象物(1)の像を光強度の時間変調なしに発
生させることを特徴とする請求項11記載の光学像のコ
ントラストを発生させる装置。 13、投影装置(2、3、7〜12)は、第一グリッド
(13)の像を対象物(1)中で蛍光励起に適した光を
用いて物面に発生させ、 対象物(1)と第二グリッド(15)との間に、投影装
置(2、3、7〜12)の光の波長に対する阻止フィル
ター(30)が配設してあり、 第一相対運動を発生させる第一装置(14)は、少なく
とも速度調節装置を保有している、ことを特徴とする請
求項1記載の光学像のコントラストを発生させる装置。 14、投影装置(2、3、7〜12)に対して対象物(
1)の位置用の位置決め装置(33a、b)と物面の結
像装置(2、3、4、12)が装備してあり、 光電画像変換系(6)には、発生した像の調節可能な平
面範囲の光強度の振幅をこの面に渡って積分する積分装
置(31)が後置してあることを特徴とする請求項11
記載の光学像のコントラストを発生させる装置。 15、第一グリッド(13)の像を物面に発生させる投
影装置(7〜12)は、第一グリッド(13)の暗視野
照明用の絞り(45、46)を装備していることを特徴
とする請求項1記載の光学像のコントラストを発生させ
る装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE3826317.3 | 1988-08-03 | ||
| DE3826317A DE3826317C1 (ja) | 1988-08-03 | 1988-08-03 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0280906A true JPH0280906A (ja) | 1990-03-22 |
| JPH0830648B2 JPH0830648B2 (ja) | 1996-03-27 |
Family
ID=6360128
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1184856A Expired - Fee Related JPH0830648B2 (ja) | 1988-08-03 | 1989-07-19 | 光学像コントラストを発生させる装置 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4963724A (ja) |
| EP (1) | EP0353495B1 (ja) |
| JP (1) | JPH0830648B2 (ja) |
| AT (1) | ATE105943T1 (ja) |
| DE (2) | DE3826317C1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0527714U (ja) * | 1991-09-13 | 1993-04-09 | 横河電機株式会社 | 透過型共焦点用光スキヤナ |
| JP2010540998A (ja) * | 2007-09-28 | 2010-12-24 | カール ツァイス マイクロイメージング ゲーエムベーハー | 照明された試料を光学的に捕捉するための方法および装置 |
Families Citing this family (21)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5099363A (en) * | 1987-09-24 | 1992-03-24 | Washington University | Method and apparatus for slow aperture scanning in a single aperture confocal scanning EPI-illumination microscope |
| DE3826317C1 (ja) | 1988-08-03 | 1989-07-06 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar, De | |
| DE4023292A1 (de) * | 1990-07-21 | 1992-01-23 | Leica Lasertechnik | Anordnung zur simultanen konfokalen bilderzeugung |
| US5280336A (en) * | 1991-03-29 | 1994-01-18 | Optikos Corporation | Automated radius measurement apparatus |
| US5416574A (en) * | 1991-03-29 | 1995-05-16 | Optikos Corporation | Automated optical measurement apparatus |
| US5648652A (en) * | 1993-09-22 | 1997-07-15 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Optical focus evaluation and focus adjustment methods, focus evaluation and focus adjustment apparatus, and screen apparatus |
| FR2716003B1 (fr) * | 1994-02-04 | 1996-04-26 | Biocom Sa | Procédé d'analyse automatique d'éléments en faible concentration sur un support d'objets de faible occurrence et dispositif pour la mise en Óoeuvre dudit procédé. |
| JP3515162B2 (ja) * | 1994-03-02 | 2004-04-05 | 株式会社ニデック | 観察装置 |
| JP3386269B2 (ja) * | 1995-01-25 | 2003-03-17 | 株式会社ニュークリエイション | 光学検査装置 |
| DE19511937C2 (de) * | 1995-03-31 | 1997-04-30 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Konfokales Auflichtmikroskop |
| GB9704967D0 (en) * | 1997-03-11 | 1997-04-30 | Howard Foundation | Flicker photometer |
| US6483641B1 (en) * | 1997-10-29 | 2002-11-19 | Digital Optical Imaging Corporation | Apparatus and methods relating to spatially light modulated microscopy |
| WO2000029876A2 (de) * | 1998-11-16 | 2000-05-25 | Leica Microsystems Heidelberg Gmbh | Verfahren zum betrieb eines vorzugsweise konfokalen laser scanning mikroskops |
| US6995903B1 (en) * | 1999-12-23 | 2006-02-07 | Oldfield Sciences Limited | Microscope, a method for manufacturing a microscope and a method for operating a microscope |
| DE10338472B4 (de) | 2003-08-21 | 2020-08-06 | Carl Zeiss Meditec Ag | Optisches Abbildungssystem mit erweiterter Schärfentiefe |
| WO2007043314A1 (ja) * | 2005-10-13 | 2007-04-19 | Nikon Corporation | 顕微鏡装置 |
| DE102005061834B4 (de) | 2005-12-23 | 2007-11-08 | Ioss Intelligente Optische Sensoren & Systeme Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum optischen Prüfen einer Oberfläche |
| DE102007047465A1 (de) | 2007-09-28 | 2009-04-02 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Verfahren und Anordnung zur optischen Erfassung einer beleuchteten Probe |
| US20130083997A1 (en) * | 2011-10-04 | 2013-04-04 | Alcatel-Lucent Usa Inc. | Temporally structured light |
| EP3301431B1 (en) | 2016-09-29 | 2019-08-28 | Roche Diagniostics GmbH | Multi-chamber analysis device and method for analyzing |
| KR102632562B1 (ko) | 2018-08-22 | 2024-02-02 | 삼성전자주식회사 | Si 기반 검사 장치와 검사 방법, 및 그 검사 방법을 포함한 반도체 소자 제조방법 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3853398A (en) * | 1972-07-05 | 1974-12-10 | Canon Kk | Mask pattern printing device |
| DE2360197A1 (de) * | 1973-12-03 | 1975-06-05 | Ibm Deutschland | Verfahren zur erhoehung der schaerfentiefe und/oder des aufloesungsvermoegens von lichtmikroskopen |
| US3926500A (en) * | 1974-12-02 | 1975-12-16 | Ibm | Method of increasing the depth of focus and or the resolution of light microscopes by illuminating and imaging through a diaphragm with pinhole apertures |
| US4634880A (en) * | 1982-04-19 | 1987-01-06 | Siscan Systems, Inc. | Confocal optical imaging system with improved signal-to-noise ratio |
| DD228089A1 (de) * | 1984-11-01 | 1985-10-02 | Zeiss Jena Veb Carl | Anordnung zur bestimmung der oberflaechengestalt von objekten mittels moiretechnik |
| DE3826317C1 (ja) | 1988-08-03 | 1989-07-06 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar, De |
-
1988
- 1988-08-03 DE DE3826317A patent/DE3826317C1/de not_active Expired
-
1989
- 1989-07-11 EP EP89112641A patent/EP0353495B1/de not_active Expired - Lifetime
- 1989-07-11 AT AT89112641T patent/ATE105943T1/de not_active IP Right Cessation
- 1989-07-11 DE DE58907677T patent/DE58907677D1/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-07-19 JP JP1184856A patent/JPH0830648B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1989-08-02 US US07/388,375 patent/US4963724A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0527714U (ja) * | 1991-09-13 | 1993-04-09 | 横河電機株式会社 | 透過型共焦点用光スキヤナ |
| JP2010540998A (ja) * | 2007-09-28 | 2010-12-24 | カール ツァイス マイクロイメージング ゲーエムベーハー | 照明された試料を光学的に捕捉するための方法および装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0830648B2 (ja) | 1996-03-27 |
| DE58907677D1 (de) | 1994-06-23 |
| DE3826317C1 (ja) | 1989-07-06 |
| EP0353495A2 (de) | 1990-02-07 |
| EP0353495A3 (de) | 1991-08-28 |
| US4963724A (en) | 1990-10-16 |
| ATE105943T1 (de) | 1994-06-15 |
| EP0353495B1 (de) | 1994-05-18 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH0280906A (ja) | 光学像コントラストを発生させる装置 | |
| JP4256783B2 (ja) | 画像発生用の顕微鏡使用画像化装置および方法 | |
| JPH08211282A (ja) | オートフォーカス式顕微鏡 | |
| JP3747471B2 (ja) | 偏光方位検出型2次元受光タイミング検出装置およびそれを用いた表面形状計測装置 | |
| JP2002517774A (ja) | 顕微鏡における対象物画像生成のための装置および方法 | |
| GB2321517A (en) | Confocal microscopic equipment for measuring solid shapes | |
| JP5955505B2 (ja) | 照明された試料を光学的に捕捉するための方法および装置 | |
| JP2017015856A (ja) | 位相差顕微鏡および撮像方法 | |
| JP3509088B2 (ja) | 3次元形状計測用光学装置 | |
| JP4186263B2 (ja) | 顕微鏡 | |
| JP5822067B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
| JP5765569B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
| US4048492A (en) | Method and apparatus for automatic focusing an optical system with a scanning grating | |
| JPH07318806A (ja) | 位相差顕微鏡装置 | |
| CN110945398A (zh) | 数字化确定焦点位置 | |
| JPH10288741A (ja) | 顕微鏡 | |
| JP4433662B2 (ja) | 自動焦点合わせ装置およびそれを備えた顕微鏡 | |
| JPH05164970A (ja) | 高分解能顕微鏡 | |
| Horikawa et al. | Laser scanning microscope: differential phase images | |
| JP3661353B2 (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
| JP3971023B2 (ja) | M2測定装置 | |
| JPH02300707A (ja) | 顕微鏡自動焦点装置 | |
| JP3851701B2 (ja) | 焦点検出装置 | |
| JP2001311874A (ja) | 光スキャナ及びこれを用いた断層画像取得装置 | |
| JPWO2020016971A1 (ja) | 標本観察装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |