JPH0281324A - Method for correcting reproduced signal - Google Patents
Method for correcting reproduced signalInfo
- Publication number
- JPH0281324A JPH0281324A JP23240088A JP23240088A JPH0281324A JP H0281324 A JPH0281324 A JP H0281324A JP 23240088 A JP23240088 A JP 23240088A JP 23240088 A JP23240088 A JP 23240088A JP H0281324 A JPH0281324 A JP H0281324A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pulse
- reproduced
- correction
- reproduction
- signal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は光デイスク装置における再生信号の閾値の設定
および再生パルス幅あるいは間隔の補正方式に係り、特
に記録時に生じるピット長あるいはピット間隔の変動に
対しても安定な復調を可能とする再生信号補正方法に関
する。[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method for setting a threshold value of a reproduction signal in an optical disk device and a correction method for reproduction pulse width or interval, and in particular, it relates to a method for correcting the reproduction pulse width or interval, and in particular, it relates to a method for correcting the fluctuation in pit length or pit interval that occurs during recording. The present invention relates to a reproduced signal correction method that enables stable demodulation even for
従来は、特開昭56−1115024号に記載のように
、再生信号の閾値を生成する場合、該信号波形の正の包
絡線と負の包絡線を検出し、両者包絡線レベルの平均値
を基準に決定している。このような閾値の設定回路によ
れば、信号振幅の比較的緩慢な変動な、信号の直流成分
が変動する場合にも正しく2値化することができる。し
かし光デイスク装置などにおいては、記録媒体や記録条
件のばらつき等によって信号振幅と最適スライスレベル
との間に比例関係が成立しない場合があり、十分な効果
が期待できない。このような場合に再生信号の0レベル
とルベルとが均等な確率で発生する場合、すなわち変調
方式として直流フリー性の高い場合は、2値化のための
比較器の出力を積分した信号を閾値の誤差信号として負
帰還する方法が有効である。しかしながら、直流フリー
性に乏しい変調方式の場合、データ列の疎密により再生
信号の平均レベルが急変することがあるため、上記の方
法では十分に正確な復調ができないことが考えられる。Conventionally, as described in JP-A-56-1115024, when generating a threshold value for a reproduced signal, the positive envelope and negative envelope of the signal waveform are detected, and the average value of the levels of both envelopes is calculated. It has been decided as a standard. According to such a threshold value setting circuit, it is possible to correctly binarize even when the direct current component of the signal fluctuates, such as when the signal amplitude fluctuates relatively slowly. However, in optical disk devices and the like, there are cases where a proportional relationship does not hold between the signal amplitude and the optimum slice level due to variations in the recording medium or recording conditions, and a sufficient effect cannot be expected. In such a case, if the 0 level and the level of the reproduced signal occur with equal probability, that is, if the modulation method is highly DC-free, the signal obtained by integrating the output of the comparator for binarization is used as the threshold value. An effective method is to provide negative feedback as an error signal. However, in the case of a modulation method with poor DC-free properties, the average level of the reproduced signal may change suddenly due to the sparseness or density of the data string, so it is conceivable that the above method cannot perform sufficiently accurate demodulation.
特開昭62−254514号ではこの点を解決する方法
を提案している。すなわち、スライスレベル設定回路に
エツジ検出回路と、同期クロック発生回路等を付加し、
あるスライスレベルで2値化された再生パルスの前エツ
ジに同期した再生クロックを該クロック発生回路により
生成し、この再生クロックにより再度再生パルスを同期
化する。ここで元々の再生パルスと再同期再生パルスと
の差信号をとると、再生クロックに対する再生パルスの
後エツジ位置のずれ分が検出できる。この差信号を低域
通過フィルタを通すことにより誤差信号を生成し、該誤
差信号を零にするようにスライスレベルを増減させるこ
とにより、常に最適な値にスライスレベルを制御するこ
とができる。しかしながら上記方式では、再生信号の前
エツジ位置に対する後エツジ位置の変動が再生クロック
1周期の時間に対応する距離以内に納まっていることが
正確なデータ復調のための最低条件となる。再生クロッ
クの1周期分はデータ検出窓幅に対応することから、換
言すればデータ記録時に許されるエツジ変動は必らず検
出窓幅に入っていなければならないことになる。ところ
が実際の記録状態においては、記録パルス幅な記録パワ
ーの変動、記録媒体の感度変動、記録・再生光スポット
の強度分布の偏りなどにより、検出窓幅を越えるような
変動が生じることも考えられる。第3図は光デイスク上
に記録されたピットと再生信号波形、および再生信号の
平均値を閾値として2値化した再生パルスの例を示した
ものである。ピットはトラック310上に記録される。Japanese Patent Laid-Open No. 62-254514 proposes a method to solve this problem. That is, by adding an edge detection circuit, a synchronous clock generation circuit, etc. to the slice level setting circuit,
The clock generation circuit generates a reproduced clock synchronized with the previous edge of the reproduced pulse binarized at a certain slice level, and the reproduced pulse is synchronized again with this reproduced clock. Here, by taking a difference signal between the original reproduction pulse and the resynchronized reproduction pulse, it is possible to detect the deviation of the trailing edge position of the reproduction pulse with respect to the reproduction clock. By passing this difference signal through a low-pass filter to generate an error signal and increasing or decreasing the slice level so as to make the error signal zero, the slice level can always be controlled to an optimal value. However, in the above system, the minimum condition for accurate data demodulation is that the variation in the trailing edge position relative to the leading edge position of the reproduced signal is within a distance corresponding to one cycle of the reproduced clock. Since one cycle of the reproduced clock corresponds to the data detection window width, in other words, the edge fluctuation allowed during data recording must necessarily fall within the detection window width. However, in actual recording conditions, fluctuations that exceed the detection window width may occur due to fluctuations in the recording power such as the recording pulse width, fluctuations in the sensitivity of the recording medium, and deviations in the intensity distribution of the recording/reproducing light spot. . FIG. 3 shows an example of a pit recorded on an optical disk, a reproduction signal waveform, and a reproduction pulse that is binarized using the average value of the reproduction signal as a threshold. The pits are recorded on track 310.
第3図(b)は目標のピット長が形成された場合を示し
ている。第3図の例ではピットの前エツジと後エツジそ
れぞれに符号化ピットを対応させる場合を示した。第3
図(b)は各々のエツジ位置間隔がすべて検出窓@31
2のほぼ中央に対応している場合である。ピット301
部は一般に反射率が低下するための再生信号321はピ
ット部で低下し。FIG. 3(b) shows the case where the target pit length is formed. The example shown in FIG. 3 shows a case where encoded pits are made to correspond to the leading edge and trailing edge of the pit, respectively. Third
In Figure (b), each edge position interval is all detection window @31
This is the case where it corresponds to approximately the center of 2. pit 301
Generally, the reproduced signal 321 decreases in the pit area because the reflectance decreases in the pit area.
ピット間で上昇する。この再生信号321を平均値であ
るスライスレベル311で2値化することで再生パルス
331が得られる。例として、再生信号はピットの反射
率変化として検出される場合を示したが、光磁気記録に
見られるように磁化ドメイン部の磁化方向に対応する偏
光面回転を検出した光磁気信号の場合や、光デイスク以
外の記録媒体から得られるものでも同様である。実際に
は。Rise between pits. A reproduction pulse 331 is obtained by binarizing this reproduction signal 321 at a slice level 311 which is an average value. As an example, we have shown a case where the reproduced signal is detected as a change in the reflectance of a pit, but there is also a case where a magneto-optical signal is detected as a rotation of the plane of polarization corresponding to the magnetization direction of a magnetized domain, as seen in magneto-optical recording. The same applies to those obtained from recording media other than optical disks. in fact.
記録媒体や記録条件の変動により極端な場合として、ピ
ットの前エツジ位置を基準に表現したとき。As an extreme case due to fluctuations in the recording medium and recording conditions, it is expressed based on the front edge position of the pit.
ピット長が短かくなった状態を第3図(a)に、ピット
長が長くなった状態を第3図(Q)に示した。第3図(
a)では前エツジを基準にした場合の後エツジの位置が
本来入るべき検出窓幅313よりも前になっている場合
で、第3図(c)は、検出窓幅314よりも後エツジの
位置が後になっている場合である。いずれの場合も何ら
かの補正を行なわない限り異なるデータとして認識され
てしまう。予めデータパターンが分っている場合、デー
タパターンのデユーティ比を頼りにスライスレベルを第
3図(a)の場合には増加、第3図(0)の場合には減
少させることにより第3図(b)で示されるような再生
パルス331を得るようにする方法が考えられる。しか
しながら再生信号320〜322の前エツジ、後エツジ
の傾斜が十分にゆるくないとスライスレベルの増減だけ
では補正できない。また逆に再生信号320〜322の
エツジの傾斜がゆるいと信号に含まれる雑音の影響によ
りスライス後の再生パルスのエツジ位置の変動が増加す
る恐れがある。従来のスライス回路ではこのような理由
により検出窓幅を越えるような記録ピット長の変動に対
しては補正できない場合が存在する。FIG. 3(a) shows a state in which the pit length is short, and FIG. 3(Q) shows a state in which the pit length becomes long. Figure 3 (
In a), the position of the trailing edge is in front of the detection window width 313 that should be included when the front edge is taken as a reference, and in FIG. This is the case when the position is later. In either case, unless some kind of correction is made, the data will be recognized as different data. If the data pattern is known in advance, the slice level shown in FIG. 3 is increased by increasing it in the case of FIG. 3(a) and decreasing it in the case of FIG. A possible method is to obtain a reproduction pulse 331 as shown in (b). However, if the slopes of the front and rear edges of the reproduced signals 320 to 322 are not sufficiently gentle, it cannot be corrected by simply increasing or decreasing the slice level. On the other hand, if the edges of the reproduced signals 320 to 322 have a gentle slope, there is a risk that fluctuations in the edge positions of the reproduced pulses after slicing may increase due to the influence of noise contained in the signals. For these reasons, conventional slice circuits may not be able to compensate for variations in recording pit length that exceed the detection window width.
上記従来技術は、記録時に記録条件の変動等によって生
じるピット長の変動が大きい場合、スライスレベルの増
減だけでは該変動時間を検出窓幅内に補正することがで
きないという問題があった。The above-mentioned conventional technology has a problem in that when there is a large fluctuation in pit length caused by fluctuations in recording conditions during recording, it is not possible to correct the fluctuation time to within the detection window width only by increasing or decreasing the slice level.
本発明は、予めデータフォーマット上でデータパターン
が既知の領域に記録されたピット列から得られる再生信
号を標準のスライスレベル、例えばエツジ位置を符号化
ビットに対応させる記録方式であれば再生信号の微分波
形の平均値レベルにより2値化された再生パルスのデユ
ーティ比がほぼ正規の値に近くなるようにデユーティ比
がほぼ正規の値に近くなるようにディジタル信号の状態
で補正する。さらに補正残り分は、スライスレベルを微
調することにより吸収させる。これにより、ユーザデー
タ記録領域に対しても同値の補正量をかけることにより
、安定なデータ復調を実現することができる。The present invention is capable of converting a reproduced signal obtained from a pit string recorded in an area in which a data pattern is known in advance to a standard slice level, for example, by using a recording method that makes edge positions correspond to encoded bits. The digital signal is corrected so that the duty ratio of the binarized reproduced pulse becomes close to a normal value based on the average level of the differential waveform. Furthermore, the remaining correction amount is absorbed by finely adjusting the slice level. Thereby, stable data demodulation can be realized by applying the same amount of correction to the user data recording area.
上記目的を達成するために、データフォーマットパター
ンとしては大きな記録ピット長の変動をスライスレベル
の微調だけで吸収できる範囲に抑圧する目的で、デユー
ティ比が一定(例えば50%等)な領域を設ける。この
領域は再生クロック同期化パターン列を兼用しても良い
。再生時には、該パターン領域から得られる再生信号を
まず標準のスライスレベルで2値化してディジタル信号
状態の再生パルスを得る。該再生パルスのデユーティ比
を計数クロックによりカウントすることで検出し、デユ
ーティ比のずれた分のクロック数に相当する時間だけ再
生パルスを遅延させ、この遅延パルスと元の再生パルス
との論理和(OR)、あるいは論理積(AND)をとる
ことにより、はぼ所定のデユーティ比に近づくように補
正する。ここでは、この大幅な補正をマクロ補正と呼ぶ
ことにする。In order to achieve the above object, the data format pattern is provided with an area in which the duty ratio is constant (for example, 50%) in order to suppress large fluctuations in recording pit length to a range that can be absorbed by only fine adjustment of the slice level. This area may also be used as a reproduction clock synchronization pattern sequence. During reproduction, the reproduction signal obtained from the pattern area is first binarized at a standard slice level to obtain a reproduction pulse in the digital signal state. The duty ratio of the reproduced pulse is detected by counting it with a counting clock, the reproduced pulse is delayed by a time corresponding to the number of clocks corresponding to the shift in the duty ratio, and the logical sum of this delayed pulse and the original reproduced pulse ( By performing OR) or logical product (AND), the duty ratio is corrected to approach a predetermined duty ratio. Here, this significant correction will be referred to as macro correction.
計数クロックの周期をデータ検出窓幅の時間よりも十分
短くしておけば、マクロ補正によりエツジ位置を検出窓
幅内に納めることができる。マクロ補正領域の後に続く
ユーザデータパターンは、ランダムなデユーティ比にな
っているが、一般にセクター単位でデータの処理を行な
う型式の光デイスクファイル等では、記録条件は同一セ
クター内で変動することはほとんど無いため、該マクロ
補正量と同一の補正量をユーザデータパータンに対して
も適用することにより、はぼ正確なデータ復調が可能と
なる。さらなピットエツジ記録では前エツジ同士、ある
いは後エツジ同士だけを見ていくと、その間隔は記録条
件に影響されにくい。If the period of the counting clock is made sufficiently shorter than the data detection window width, the edge position can be kept within the detection window width by macro correction. The user data pattern that follows the macro correction area has a random duty ratio, but in general, in optical disk files that process data in units of sectors, recording conditions rarely vary within the same sector. Therefore, by applying the same correction amount as the macro correction amount to the user data pattern, more accurate data demodulation becomes possible. Furthermore, when recording pit edges, if we look at only the leading edges or trailing edges, the interval between them is not easily affected by the recording conditions.
マクロ補正で抑圧できなかった微少なエツジ変動を吸収
する方法としては、補正データパターン領域の後半で、
マクロ補正的の再生パターンの0レベルの持続時間の合
計とルベルの持続時間の合計とを、積分回路により積分
値として検出し、この積分値の差を誤差信号としてスラ
イスレベルを若干増減することによりさらに正確な補正
が可能である。このような微細な補正をミクロ補正と呼
ぶことにする。ミクロ補正の別の手段としては、マクロ
補正前の再生パルスの前エツジに同期した再生クロック
をPLL (フェーズロック・ループ)回路により生成
し、再生パルスを再度この再生クロックで同期化したパ
ルスを生成する0元の再生パルスと、この同期化再生パ
ルスとの差信号は。As a method to absorb minute edge fluctuations that could not be suppressed by macro correction, in the second half of the correction data pattern area,
By detecting the sum of the 0 level duration and the sum of the level duration of the macro correction reproduction pattern as an integral value by an integrating circuit, and using the difference between the integral values as an error signal, the slice level is slightly increased or decreased. More accurate correction is possible. Such fine correction will be referred to as micro correction. Another means of micro-correction is to use a PLL (phase-locked loop) circuit to generate a regenerated clock that is synchronized with the front edge of the regenerated pulse before macro correction, and then generate a pulse that is synchronized with the regenerated clock again. The difference signal between the zero original reproduction pulse and this synchronized reproduction pulse is:
再生クロックと元の再生パルスの後エツジとの位相差を
表わしている。したがってこの差信号を誤差信号として
スライスレベルに負帰還すればミクロ補正が可能である
。また差信号をとるかわりに、マクロ補正後の後エツジ
パルスをトリガとして再生クロックの0.ルベルをラッ
チすることにより、後エツジ検出パルスの立上りと再生
クロックの立上りとの位相差を進相パルス、遅相パルス
の発生頻度差として検出することもできる。さらに後エ
ツジ検出パルス発生用に、標準のスライスレベルとは別
に第2のスライスレベルを設け、上記のミクロ補正方式
で示した誤差信号により第2のスライスレベルのみを増
減させる方法もある。It represents the phase difference between the reproduced clock and the trailing edge of the original reproduced pulse. Therefore, if this difference signal is used as an error signal and is negatively fed back to the slice level, micro-correction is possible. Also, instead of taking the difference signal, the rear edge pulse after macro correction is used as a trigger to generate the 0. By latching the level, it is also possible to detect the phase difference between the rising edge of the trailing edge detection pulse and the rising edge of the reproduced clock as the difference in frequency of occurrence of leading phase pulses and slow phase pulses. Furthermore, there is also a method in which a second slice level is provided separately from the standard slice level for generation of trailing edge detection pulses, and only the second slice level is increased or decreased using the error signal shown in the above-mentioned micro correction method.
マクロ補正回路は、セクターフォーマットの先頭に設け
たマーカから補正領域を指示するためのゲート信号を入
力することにより、マクロ補正処理を開始する。始めに
、標準のスライスレベルで2値化された再生パルスのデ
ユーティ比を計数クロックで検出する。計数クロックの
周期が短いほど、つまり周波数が高いほどクロック補正
後の補正誤差は少なくなる。少なくともデータ検出窓幅
の時間よりもクロック周期を短かくする必要がある。ま
たミクロ補正でのスライスレベルの増減量をあまり大き
くしないこともクロック周波数設定の基準となる。計数
クロックは、アップダウンカウンタに入力され、再生パ
ルスが1のときアップ。The macro correction circuit starts macro correction processing by inputting a gate signal for indicating a correction area from a marker provided at the beginning of the sector format. First, the duty ratio of a reproduced pulse binarized at a standard slice level is detected using a counting clock. The shorter the period of the counting clock, that is, the higher the frequency, the smaller the correction error after clock correction. It is necessary to make the clock cycle shorter than at least the data detection window width. Another criterion for setting the clock frequency is not to increase or decrease the slice level too much in micro-correction. The counting clock is input to the up/down counter, and goes up when the reproduction pulse is 1.
Oのときダウンさせるようにし、マクロ補正頭領終了時
にカウンタの値を参照し、再生パルスの1と0の区間の
比率または差を検出する0次にこのカウント値の差を零
とするように、再生パルスの遅延量を選択し、元の再生
パルスと、この遅延パルスとから、補正パルスを得る。When the macro correction head is completed, the counter value is referred to and the ratio or difference between the 1 and 0 sections of the reproduction pulse is detected.The difference between the count values is set to zero. The amount of delay of the reproduction pulse is selected, and a correction pulse is obtained from the original reproduction pulse and this delayed pulse.
例えば再生パルスの1のレベル(パH”レベル)区間の
計数値が0のレベル(″′L″レベル)区間の計数値よ
りも2クロック分だけ多かった場合には、1クロック分
に相当する時間だけ再生パルスを遅延させ、元の再生パ
ルスとの論理積(AND)をとれば1のレベルを1クロ
ック分だけ短く、0のレベルを1クロック分だけ長くす
ることができるため、補正パルスとしてほぼデユーティ
比が50%のものが得られる。逆に2クロック分だけ、
0のレベル区間のほうが長かった場合は、1クロック分
に相当する分だけ遅延させたパルスと元の再生パルスと
の論理和(OR)をとれば同様の補正パルスが得られる
。For example, if the count value in the 1 level (H" level) section of the reproduction pulse is 2 clocks more than the count value in the 0 level (''L" level) section, it will correspond to 1 clock. By delaying the reproduction pulse by a certain amount of time and performing a logical product (AND) with the original reproduction pulse, it is possible to shorten the 1 level by 1 clock and lengthen the 0 level by 1 clock, so it can be used as a correction pulse. You can get a duty ratio of almost 50%.On the contrary, only for 2 clocks,
If the 0 level section is longer, a similar correction pulse can be obtained by performing a logical sum (OR) of the pulse delayed by one clock and the original reproduction pulse.
ミクロ補正回路としては、マクロ補正後の再生パルスの
デユーティを積分回路を用いることにより検出する方法
、再生パルスの前エツジに同期させた再生クロックによ
り再び該再生パルスを同期化したパルスを生成し、両者
の再生パルス・幅の差を差動増幅器で検出する方法と、
位相比較器により進相パルスおよび遅相パルスの発生頻
度の差として検出する方法がある。The micro correction circuit includes a method of detecting the duty of the reproduced pulse after macro correction by using an integrating circuit, a method of generating a pulse that is synchronized with the reproduced pulse again using a reproduced clock synchronized with the front edge of the reproduced pulse, A method of detecting the difference between the reproduction pulses and widths of the two using a differential amplifier,
There is a method of detecting the difference in frequency of occurrence of leading phase pulses and delayed phase pulses using a phase comparator.
またミクロ補正の制御対象となるスライスレベルを標準
のスライスレベルとは別に設ける方法がある。すなわち
前エツジの位置を基準として後エツジ位置のみを前後さ
せるべく別のステイスレベルを用いるわけである0水力
式では、前エツジ位置はミクロ補正によっても変動しな
いため、前エツジのみから再生クロックを生成する場合
に、再生クロック生成回路の応答帯域を、ミクロ補正回
路の帯域と独立に設定することができる。There is also a method of providing a slice level to be controlled by micro-correction separately from the standard slice level. In other words, another stay level is used to move only the rear edge position forward or backward based on the front edge position.In the 0 hydraulic type, the front edge position does not change even with micro correction, so the regenerated clock is generated only from the front edge. In the case of generation, the response band of the recovered clock generation circuit can be set independently of the band of the micro correction circuit.
以下、本発明の詳細な説明する。第1図は第3図で示し
たような記録ピットのエツジ位置に符号ビットを対応さ
せるような記録方式により記録された情報を再生するた
めの回路例であり、再生補正回路を含んでいる。第2図
は再生補正を特に意識せずに、エツジ位置検出パルスを
発生する回路部分についての動作を説明するためのタイ
ムチャートである。第1図では光ディスクの場合であれ
ば光ピツクアップに相当する部分は省略しているが、特
に検出部の構成は限定されない。光デイスク以外の記憶
手段や伝送手段から得られた信号であっても本発明の目
的とするところの再生補正対象となるものでれば適用す
ることができる。The present invention will be explained in detail below. FIG. 1 is an example of a circuit for reproducing information recorded by a recording method in which a code bit corresponds to the edge position of a recording pit as shown in FIG. 3, and includes a reproduction correction circuit. FIG. 2 is a time chart for explaining the operation of a circuit portion that generates an edge position detection pulse without paying particular attention to reproduction correction. In FIG. 1, a portion corresponding to an optical pickup is omitted in the case of an optical disc, but the configuration of the detection section is not particularly limited. The present invention can be applied to signals obtained from storage means or transmission means other than optical disks as long as they are subject to reproduction correction as the object of the present invention.
第1図と第2図を用いて説明する。再生信号100.1
01は差動信号としてバッファ200に入力される。第
2図では再生信号101を記していないが、これは再生
信号100の反転信号である。バッファ200の出力は
微分器201に入力され1階微分信号を得る。この後、
適当なレベルまで増幅器202で増幅し、低域フィルタ
203を通過した後、再びバッファ204へ入力され、
結果出力として1階微分信号102゜103を得る。こ
こでバッファ200,204、増幅器202は一般に用
いられている構成で良い。This will be explained using FIGS. 1 and 2. Playback signal 100.1
01 is input to the buffer 200 as a differential signal. Although the reproduced signal 101 is not shown in FIG. 2, it is an inverted signal of the reproduced signal 100. The output of the buffer 200 is input to a differentiator 201 to obtain a first-order differential signal. After this,
After being amplified to an appropriate level by an amplifier 202 and passing through a low-pass filter 203, it is inputted again to a buffer 204.
A first-order differential signal 102°103 is obtained as a result output. Here, the buffers 200, 204 and the amplifier 202 may have commonly used configurations.
また微分器201、低域フィルタ203は受動素子、能
動素子いずれを用いたものでも支障はない。Further, the differentiator 201 and the low-pass filter 203 may be either passive elements or active elements.
エツジ記録の場合は1階微分信号の正負のピーク位置が
それぞれ再生信号の前エツジ、後エツジ位置に対応する
。第2図のタイムチャートでは微分作操および回路の遅
延による影響は無視して示しである。1階微分信号10
2,103はさらに微分器205で微分された後、上記
と同様に増幅器206、低域フィルタ207、バッファ
208を通り、2階微分信号104,105を得る。2
階微分信号104,105の零クロス点は1丁度1隋微
分信号102,103のピーク位置に対応しており、エ
ツジ位置そのものになっている。比較器208,210
にそれぞれ1階微分信号102゜103を入力ることで
ゲートパルス108゜109を得る。ここでスライスレ
ベル106は、ゲートパルス生成の際の閾値である。こ
のゲートパルス108.109は、2階微分信号104
゜105の零りロス点以外から発生する誤パルスをデー
タとして認識させないためのものである。該ゲートパル
ス108,109はフリップフロップ211のそれぞれ
セット(S)端子、リセット(R)端子に入力され、出
力してパルス110゜111が得られる。一方、2階微
分信号104゜105はスライス設定W!212に入力
される。スライス設定器212の入力としては、これ以
外にスライスレベル107がある。スライスレベルは、
マクロ補正領域である一定値のレベル112が該補正領
域を指示する信号113により選択されている。一般に
は2階微分信号104,105の平均レベルに選ぶ、こ
こでは、ミクロ補正動作以前の回路動作の説明を行なう
。比較器213は差動比較器であり、2階微分信号10
4.105に対し、パルス114,115を出力する。In the case of edge recording, the positive and negative peak positions of the first-order differential signal correspond to the front edge and rear edge positions of the reproduced signal, respectively. In the time chart of FIG. 2, the effects of differential operations and circuit delays are ignored. 1st order differential signal 10
After being further differentiated by a differentiator 205, the signals 2 and 103 pass through an amplifier 206, a low-pass filter 207, and a buffer 208 in the same manner as described above to obtain second-order differential signals 104 and 105. 2
The zero crossing points of the differential signals 104 and 105 correspond to exactly one peak position of the differential signals 102 and 103, and are the edge positions themselves. Comparators 208, 210
Gate pulses 108° 109 are obtained by inputting first-order differential signals 102° 103 to , respectively. Here, the slice level 106 is a threshold value when generating a gate pulse. This gate pulse 108, 109 is the second-order differential signal 104
This is to prevent erroneous pulses generated from points other than the zero loss point of .degree. 105 from being recognized as data. The gate pulses 108 and 109 are inputted to the set (S) terminal and reset (R) terminal of the flip-flop 211, respectively, and outputted to obtain pulses 110° and 111. On the other hand, the second-order differential signal 104°105 indicates the slice setting W! 212. In addition to this, the slice setter 212 also has a slice level 107 as an input. The slice level is
A constant value level 112, which is a macro correction area, is selected by a signal 113 instructing the correction area. Generally, the average level of the second-order differential signals 104 and 105 is selected.Here, the circuit operation before the micro-correction operation will be explained. Comparator 213 is a differential comparator, and second-order differential signal 10
4. Output pulses 114 and 115 for 105.
さらに先はど1階微分信号102,103から生成され
たパルス110,111とともに、フリップフロップ2
14,215のトリガ(T)端子へ、それぞれパルス1
14とパルス115を入力する。これによりパルス11
4の立ち上がりをトリガとしてパルス110を取り込み
、パルス111の11 HItレベル状態でリセットさ
れることによりパルス116が得られる。パルス117
についても同様である。最後にオア(OR)ゲート21
6により。Further forward, along with the pulses 110 and 111 generated from the first-order differential signals 102 and 103, the flip-flop 2
Pulse 1 to the trigger (T) terminals of 14 and 215, respectively.
14 and pulse 115 are input. This causes pulse 11
The pulse 110 is taken in using the rising edge of the pulse 111 as a trigger, and the pulse 116 is obtained by being reset at the 11 HIt level of the pulse 111. pulse 117
The same applies to Finally, OR gate 21
By 6.
再生パルス118,119が得られる0本実施例では再
生パルス118では立ち上がりが、再生パルス119で
は立ち下がりがエツジ位置に対応する。第5図に、スラ
イス設定器212と比較器213の構成例を示した。ス
ライスレベル107は、微分信号104に対してのバイ
アス電圧として、コンデンサ500で直流分をカットし
た後、抵抗502を介して印加される。また微分信号1
05に対してのバイアス電圧としてコンデンサ501で
直流分をカットした後、抵抗503を介して印加される
1反転槽幅@504は、スライスレベル107の極性を
反転させるためのものであり、図の形式の場合、入力抵
抗505と、帰還抵抗506は同値である。比較器21
3は差動入出力型のものでり、一般にラインレシーバと
して用いられているもので良い。In this embodiment, the rising edge of the reproducing pulse 118 and the falling edge of the reproducing pulse 119 correspond to the edge position. FIG. 5 shows an example of the configuration of the slice setter 212 and the comparator 213. The slice level 107 is applied as a bias voltage to the differential signal 104 via a resistor 502 after the DC component is cut by a capacitor 500 . Also, the differential signal 1
After cutting the DC component with a capacitor 501 as a bias voltage for 05, 1 inversion tank width @ 504 is applied via a resistor 503 to invert the polarity of the slice level 107, and is as shown in the figure. In this case, the input resistance 505 and the feedback resistance 506 have the same value. Comparator 21
Reference numeral 3 is a differential input/output type, and may be one that is generally used as a line receiver.
次に再生補正、特にマクロ補正を行なう場合のセクター
フォマットについて説明する。第4図(a)はディスク
上のあるセクターのフォーマット構成例を示した図であ
る。光ディスクでは一般にディスク作成時に予め作りつ
けたプリフォーマット領域400とそれ以外のデータ領
域40..1とに分れられる。プリフォーマット領域4
00はさらにセクターの先頭を指示するためのセクター
マーク410、再生クロック生成のためのVFO(バリ
アプル・フレクエンシー・オシレータ)同期パターン4
11およびトラック番地、セクター番地の記録されたア
ドレス412等に分類される。Next, the sector format for reproduction correction, particularly macro correction, will be explained. FIG. 4(a) is a diagram showing an example of the format structure of a certain sector on the disk. Optical discs generally have a preformat area 400 created in advance when creating the disc, and other data areas 40. .. It can be divided into 1. Preformat area 4
00 further includes a sector mark 410 for indicating the beginning of the sector, and a VFO (variable frequency oscillator) synchronization pattern 4 for generating a reproduced clock.
11, and addresses 412 where track addresses and sector addresses are recorded.
ユーザがデータを記録する場合にはデータ領域401に
記録することになるが、このデータ領域401のフォー
マット構成としては、第4図(b)に示す様なものが一
般的である。すなわちVFO同期パターン420、ユー
ザデータの復調開始を指示するための復調同期パターン
421.およびユーザデータ領域422から成っている
0以上で述べたパターンの内容については既知であるだ
めここでは詳細説明は省<、VFO同期パターン411
.420は一般にある一定のデユーティ比を持つ繰り返
しパターンが用いられる0例えば2−7変調の場合、デ
ータビット長をT (see)とした場合、最密パター
ンである1、5Tの繰り返しパターンが用いられること
が多いが、これはPLLの引込み特性を向上させるため
で、あり、記録条件としてはピット間隔が最も接近した
パターンであるため必らずしも最適なパターンではない
。When the user records data, the data is recorded in the data area 401, and the format of this data area 401 is generally as shown in FIG. 4(b). That is, a VFO synchronization pattern 420, a demodulation synchronization pattern 421 for instructing the start of demodulation of user data. Since the contents of the above-mentioned patterns are already known, detailed explanation will be omitted here.<, VFO synchronization pattern 411
.. In 420, a repeating pattern with a certain duty ratio is generally used. For example, in the case of 2-7 modulation, if the data bit length is T (see), a repeating pattern of 1,5T, which is the closest pattern, is used. This is often done to improve the pull-in characteristics of the PLL, and it is not necessarily the optimal pattern because it is the pattern with the closest pit intervals under the recording conditions.
PLL特性に問題がなければむしろ記録の面からは2.
OTの繰り返し、ないしはそれ以上のパターン長の繰り
返しが望ましいと考えられる。マクロ補正は、標準のス
ライスレベル、例えば前述のスライスレベル112によ
り2値化された再生パルス118,119のデユーティ
比を検出し、デイレイ補正により、再生パルス幅を目標
のデユーティ比に近づけるようにさせるものである6例
えば、VFO同期パターン等は、デユーティ比が50%
で記録されるべきパターンであるから、この部分の再生
パルスのデユーティ比が50%近傍になるように補正す
れば、マクロ補正の目的が達せられる。また−度マクロ
補正量が決定されれば、同一セクター内の他のデータパ
ターンに対しても同一量だけ補正すれば良い、これは同
一セクター内では記録条件はほぼ一定と考えられるから
である0例えば、あるセクターに本来デユーティ比が5
0%になるべきデータパターンを記録したところ第3図
(、)のようにピット長が短くなってしまったとすれば
、少なくとも同一セクター内のデータパターンに対する
ピット長も同じ量だけ短くなっている事実に基づく補正
方法である。もちろん、ユーザデータ領域422の中に
も再同期化パターンのようなユーザデータに依存しない
特定パターンあるいはデユーティ比が一定となるような
パターンを入れれば、この領域でもマクロ補正を行なわ
せることもできる。第4図(c)は、VF○同期パター
ン420の前にマクロ補正のためのパターン領域430
を設けたフォーマット例である。この場合、オーバヘッ
ドは若干増加するが、VFO同期パターン420には最
密パターンの繰り返しを用いて引込み特性を向上させ、
マクロ補正領域430には、若干周期の長い繰り返しパ
ターンを用いて記録の安定化を図ることも可能である。If there is no problem with the PLL characteristics, 2.
It is considered desirable to repeat OT or repeat the pattern with a longer pattern length. Macro correction detects the duty ratio of the reproduced pulses 118 and 119 binarized by a standard slice level, for example, the aforementioned slice level 112, and causes the reproduced pulse width to approach the target duty ratio by delay correction. For example, VFO synchronization pattern etc. has a duty ratio of 50%.
Since this is a pattern that should be recorded in this area, the objective of the macro correction can be achieved by correcting the duty ratio of the reproduction pulse in this portion to approximately 50%. Furthermore, once the amount of macro correction is determined, it is sufficient to correct other data patterns within the same sector by the same amount. This is because the recording conditions are considered to be almost constant within the same sector. For example, if a certain sector originally has a duty ratio of 5.
If a data pattern that should be 0% is recorded and the pit length becomes shorter as shown in Figure 3 (,), then at least the pit length for the data pattern in the same sector has also become shorter by the same amount. This is a correction method based on Of course, if a specific pattern such as a resynchronization pattern that does not depend on user data or a pattern in which the duty ratio is constant is inserted into the user data area 422, macro correction can also be performed in this area. FIG. 4(c) shows a pattern area 430 for macro correction before the VF○ synchronization pattern 420.
This is an example format with . In this case, although the overhead increases slightly, the VFO synchronization pattern 420 uses repeating of the close-packed pattern to improve the pull-in characteristic.
It is also possible to stabilize recording by using a repeating pattern with a slightly longer period in the macro correction area 430.
では、以下マクロ補正について第6図、第7図を用いて
説明する。第6図はマクロ再生補正回路217の構成例
、第7図は該回路の動作を示すタイムチャートである。Now, macro correction will be explained below using FIGS. 6 and 7. FIG. 6 is a configuration example of the macro reproduction correction circuit 217, and FIG. 7 is a time chart showing the operation of the circuit.
補正領域ゲート600はマクロ補正領域を指示する信号
であり、第4図で示したフォーマットではセクターマー
ク410から生成することができる。該補正領域ゲート
600は、完全にデータ信号と同期化させるのは一般に
困難なので、カウンタ700のイネーブル(E)に補正
領域ゲート60oを入力し、該ゲート信号600が“H
″の区間だけデータパルス601の立ち上がりをカウン
ト用クロックとして用いることで同期化を図ることがで
きる。データパルス601およびその反転信号602は
前述した再生パルス118,119から生成することが
できる。The correction area gate 600 is a signal indicating a macro correction area, and can be generated from the sector mark 410 in the format shown in FIG. Since it is generally difficult to completely synchronize the correction area gate 600 with the data signal, the correction area gate 60o is input to the enable (E) of the counter 700 so that the gate signal 600 is "H".
Synchronization can be achieved by using the rising edge of the data pulse 601 as a counting clock only during the section ``.The data pulse 601 and its inverted signal 602 can be generated from the reproduction pulses 118 and 119 described above.
第7図では2階微分信号104から前エツジパルス55
0.後エツジパルス551を生成し、フリップフロップ
等を用いてデータパルス601゜602を生成している
が、第2図で示した再生パルス118又は119によっ
て生成しても同様である。カウンタ700の出力Q。6
03゜Q、604、Qa605はそれぞれ2° 21,
2!のビット出力に対応している。まずQ。603が“
H”レベルになると、フリッププロップ701の出力Q
606が“H”になる。その後、第6図の例では、カウ
ンタ700の出力が11511、すなわちQ、603が
“H”、Qよ604が“L IIQ2605がII H
IIになった瞬間にフリップフロップ701がリセット
され、出力Q606が“L”になる。またデータパルス
602はフリップフロップ702のトリガ(T)端子に
入力されており、出力Q606が′H″になった後、最
初のデータパルス602の立ち上がりでフリップフ口ッ
プ702がセットされ、出力Q6o7がH′′になる。In FIG. 7, from the second-order differential signal 104 to the front edge pulse 55
0. Although the rear edge pulse 551 is generated and the data pulses 601 and 602 are generated using a flip-flop or the like, the same effect can be obtained if the data pulses 601 and 602 are generated using the reproduction pulse 118 or 119 shown in FIG. Output Q of counter 700. 6
03°Q, 604, Qa605 are respectively 2° 21,
2! It supports bit output. First of all, Q. 603 is “
When it reaches H” level, the output Q of flip-flop 701
606 becomes "H". After that, in the example of FIG. 6, the output of the counter 700 is 11511, that is, Q, 603 is "H", Q and 604 are "L", and IIQ2605 is IIH.
The moment it becomes II, the flip-flop 701 is reset and the output Q606 becomes "L". Further, the data pulse 602 is input to the trigger (T) terminal of the flip-flop 702, and after the output Q606 becomes 'H', the flip-flop 702 is set at the rising edge of the first data pulse 602, and the output Q6o7 becomes H''.
それ後、出力606がL”になった時点で、出力607
は“L”に戻る。また、ANDゲート703.704は
それぞれ、カウンタ705のカウントアツプ、カウント
ダウン状態を選択する信号608,609を生成する。After that, when the output 606 becomes "L", the output 607
returns to “L”. Additionally, AND gates 703 and 704 generate signals 608 and 609 for selecting the count-up and count-down states of counter 705, respectively.
すなわち、再生信号100が未記録レベル側にあるとき
(図中では高レベル)、カウンタ705はカウントアツ
プ状態になり、逆に再生信号100がビットレベル側に
あるとき(図中では低レベル)カウンタ705はカウン
トダウン状態になる。データパルス601 (602)
のデユーティ比を計測するための計数クロック610は
、カウンタ705のクロック(CK)端子に入力される
。但し、カウントアツプ、カウントダウンのいずれの状
態も選択されないとき、クロック610は入力されない
ようにしである。該クロック610によって、第6図の
例ではデータパルス601 (602)の4周期分だけ
計数する。カウンタ705の出力値の様子をカウンタ出
力値611として示した。該出力値611の値は最終的
には16進数で“10’″となった場合を示しである。That is, when the reproduced signal 100 is on the unrecorded level side (high level in the figure), the counter 705 is in a count-up state, and conversely, when the reproduced signal 100 is on the bit level side (low level in the figure), the counter 705 is in a count-up state. 705 enters a countdown state. Data pulse 601 (602)
A counting clock 610 for measuring the duty ratio of is input to the clock (CK) terminal of the counter 705. However, when neither the count up nor count down state is selected, the clock 610 is not input. In the example of FIG. 6, four periods of data pulses 601 (602) are counted by the clock 610. The state of the output value of the counter 705 is shown as a counter output value 611. The value of the output value 611 is finally "10'" in hexadecimal.
第7図では、上位桁は省略しである。マクロ補正処理で
は該出力値611をデータパルス601 (602)の
周期の2倍の8で割った値、すなわち計数クロック61
0の2周期分だけ、データパルス601 (602)の
幅を増減すれば、はぼデユーティ比50%の補正パルス
を得ることができる。第7図ではデータパルス601の
11 HIIレベル区間が11 L″ルベル区間り長い
場合であり、このときは、データパルス601を遅延素
子706で遅延させたパルスの中からカウンタ705の
出力Q2〜QN−1(それぞれ22〜2N−1に対応)
によりセレクタ707で計数クロック610の2周期分
に相当する時間だけ遅れたものを選択し、この遅延パル
ス612と元のデータパルス601とをANDゲート7
08で論理積(AND)をとったものを得て、これをマ
クロ補正データ613.614として出力する。仮りに
、データパルス601のILH”レベル区間が11 L
”レベル区間よりも短い場合は、逆にデータパルス60
1と遅延パルス612との論理和(OR)をオアゲート
709でとってやれば、同様にマクロ補正データを得る
ことができる。なお、後者の場合はカウンタ705の出
力値611が最終的に負になるため、出力値611の最
上位ビットQNを符号ビットとして用い、セレクタ71
0で。In FIG. 7, upper digits are omitted. In the macro correction process, the output value 611 is divided by 8, which is twice the period of the data pulse 601 (602), that is, the counting clock 61
By increasing or decreasing the width of the data pulse 601 (602) by two cycles of 0, a correction pulse with a duty ratio of 50% can be obtained. In FIG. 7, the 11 HII level section of the data pulse 601 is as long as the 11 L'' level section. -1 (corresponding to 22 to 2N-1 respectively)
, the selector 707 selects a pulse delayed by a time equivalent to two periods of the counting clock 610, and this delayed pulse 612 and the original data pulse 601 are connected to the AND gate 7.
A logical product (AND) is obtained in step 08, and this is output as macro correction data 613 and 614. Suppose that the ILH” level section of the data pulse 601 is 11L.
``If it is shorter than the level interval, conversely, the data pulse 60
1 and the delayed pulse 612 using an OR gate 709, macro correction data can be similarly obtained. Note that in the latter case, the output value 611 of the counter 705 ultimately becomes negative, so the most significant bit QN of the output value 611 is used as the sign bit, and the selector 71
At 0.
ANDゲート708の出力か、○Rゲート7o9の出力
のいずれかを選択することができる。以上述べたように
、予めデユーティ比の分っている部分の信号を用い、そ
こから得られたデータパルスのデユーティ比を、概ね所
定値に近づけることができる9第7図では、デユーティ
比が50%近傍になるように補正する場合を示したが、
他のデユーティ比に対しても、カウンタ出力値611に
予め一定値を加算あるいは減算するようにしておけば、
同様の回路構成によりマクロ補正が可能である。Either the output of the AND gate 708 or the output of the ○R gate 7o9 can be selected. As mentioned above, by using a signal whose duty ratio is known in advance, the duty ratio of the data pulse obtained therefrom can be brought close to a predetermined value.9 In Fig. 7, the duty ratio is 50. We have shown the case where the correction is made to be close to %, but
If a certain value is added or subtracted from the counter output value 611 in advance for other duty ratios,
Macro correction is possible with a similar circuit configuration.
次にマロク補正後の補正パルス613.614に対し、
さらに詳細なデユーティ比補正を行なうミクロ補正につ
いて説明する。第8図、第10図、第11図は、ミクロ
補正回路218の実施例で。Next, for the correction pulses 613 and 614 after Marok correction,
Micro-correction that performs more detailed duty ratio correction will be explained. 8, 10, and 11 show examples of the micro correction circuit 218.
対応するタイムチャートをそれぞれ第9図、第12図、
第13図、に示した。第8図の例は、補正パルス613
,614のデユーティ比を積分器800,801で該パ
ルスのII HIIレベル区間をそれぞれ積分し、その
差を誤差信号として、スライスレベル107を制御する
ことにより補正パルス613,614のデユーティ比を
より詳細に50%へ近づける方式の一構成例である。第
9図において、補正パルス613,614の生成に関す
るマクロ補正は第6図、第7図で説明したのと同様であ
る。ミクロ補正ゲート900は、マクロ補正終了後に出
力されるものであり、マクロ補正ゲート600と同様に
生成できる。コントロール信号901は、該ゲート90
0が11 HITになってから直後の補正パルス613
の立ち上がりが11 HIIになり、所定数だけ補正パ
ルス613又は614の周期を数えた後、′L″に戻す
。該コントロール信号901がIt H13の区間だけ
、スイッチ803.804を信号側に切換えることでそ
れぞれ補正パルス613.614の“H”の区間の値を
積分する。積分器801 (802)の積分出力902
(903)は差動アンプ805に入力され、差信号9
04が出力される。コントロール信号901がH″の区
間、サンプルホールドはサンプル動作となり、差信号9
04が取り込まれ、コントロール信号901が“L”の
区間、その値がホールドされる。なお、コントロール信
号901が(i L 11の区間ないしは、データ記録
領域開始以外に801,802の静電容量に蓄えられた
電荷を放電させている。これにより直前のセクターでの
補正量が影響しないようにしている。ミクロ補正の別の
実施例として第10図の回路構成について、第12図の
タイムチャートとともに説明する。The corresponding time charts are shown in Figures 9 and 12, respectively.
It is shown in FIG. In the example of FIG. 8, the correction pulse 613
, 614 are integrated over the II and HII level sections of the pulses using integrators 800 and 801, and the difference is used as an error signal to control the slice level 107, thereby determining the duty ratios of the correction pulses 613 and 614 in more detail. This is an example of a configuration of a method that approaches 50%. In FIG. 9, macro correction regarding the generation of correction pulses 613 and 614 is the same as that described in FIGS. 6 and 7. The micro correction gate 900 is output after the macro correction is completed, and can be generated in the same way as the macro correction gate 600. The control signal 901 controls the gate 90
Correction pulse 613 immediately after 0 becomes 11 HIT
The rising edge of becomes 11 HII, and after counting the period of the correction pulse 613 or 614 for a predetermined number, it returns to 'L''.Switch the switches 803 and 804 to the signal side only during the period in which the control signal 901 is It H13. The values of the "H" section of the correction pulses 613 and 614 are integrated respectively.The integral output 902 of the integrator 801 (802)
(903) is input to the differential amplifier 805, and the difference signal 9
04 is output. During the period in which the control signal 901 is H'', the sample hold becomes a sample operation, and the difference signal 901 becomes a sample operation.
04 is taken in, and its value is held while the control signal 901 is "L". Note that the control signal 901 discharges the charges stored in the capacitances 801 and 802 in the interval of (i L 11 or other than the start of the data recording area. As a result, the amount of correction in the immediately preceding sector does not affect the control signal 901. As another example of micro correction, the circuit configuration shown in FIG. 10 will be explained together with the time chart shown in FIG. 12.
補正データ613は前エツジ検出器750に入力され立
ち上がりエツジパルス650が生成される。The correction data 613 is input to a front edge detector 750 and a rising edge pulse 650 is generated.
該エツジパルス650の生成方法としては補正データ6
13をわずかに遅延させたパルスの反転パルスと元のパ
ルス613との論理積(AND)をとれば良い。該パル
ス650は位相比較器751に入力され、再生クロック
652との位相誤差が検出され、この誤差信号651は
低域通過フィルタ752を介してVCO(ボルテージ・
コントロール・オシレータ)753への制御信号として
入力される。VCO753は、入力電圧の値で発振周波
数が可変できる素子である。一般に位相比較器751か
らVCO753により構成される回路はPLL (フェ
ーズロックループ)回路754と呼ばれている。PLL
回路754により補正パルス613の前エツジに同期し
た再生クロック652を得ることができる。第10図の
回路では、ミクロ補正処理を行なうに当り、スライスレ
ベル107制御のための誤差信号を以下の様にして生成
する。マクロ補正後のパルス613をフリップフロップ
754のデイレイ(D)端子に入力し、再生クロック6
52の反転パルスの立ち上がり。The edge pulse 650 is generated using correction data 6.
It is sufficient to perform a logical product (AND) of the inverted pulse of the pulse 13 slightly delayed and the original pulse 613. The pulse 650 is input to a phase comparator 751 to detect the phase error with the recovered clock 652, and this error signal 651 is passed through a low-pass filter 752 to a VCO (voltage converter).
control oscillator) 753 as a control signal. The VCO 753 is an element whose oscillation frequency can be varied depending on the value of the input voltage. Generally, the circuit comprised from the phase comparator 751 to the VCO 753 is called a PLL (phase locked loop) circuit 754. PLL
A recovered clock 652 synchronized with the leading edge of the correction pulse 613 can be obtained by the circuit 754. In the circuit shown in FIG. 10, an error signal for controlling the slice level 107 is generated in the following manner when performing micro correction processing. The macro-corrected pulse 613 is input to the delay (D) terminal of the flip-flop 754, and the reproduced clock 6
Rise of the 52 inversion pulse.
すなわち再生クロック652の立ち下がりエツジで再同
期化し、同期化パルス653を得る。That is, resynchronization is performed at the falling edge of the regenerated clock 652 to obtain a synchronization pulse 653.
第1O図の回路例では、補正パルス613の立ち上がり
エツジと再生クロック652の立ち上がりエツジの位相
を合せる形式のPLL回路の場合が示されており、この
ときは該再生クロック652の立ち下がりで再同期化す
る。こうすることにより、同期化パルス653のパルス
幅は再生クロック652の周期の整数倍となる。本来、
再生信号100の立ち上がりエツジと立ち下がりエツジ
の間隔は再生クロック周期の整数倍になっていなければ
ならないため、該同期化パルス653と補正パルス61
3との幅の差がマクロ補正における補正残り分に相当す
る。したがって、同期化パルス653と補正パルス61
3との差信号654を差動増幅器755により得た後、
低域通過フィルタ756で波形を平滑化すれば、誤差信
号655が得られる。該誤差信号655を用いてスライ
スレベル107を制御すればミクロ補正が実施できる。The circuit example in FIG. 1O shows a PLL circuit in which the phases of the rising edge of the correction pulse 613 and the rising edge of the recovered clock 652 are aligned, and in this case, resynchronization is performed at the falling edge of the recovered clock 652. become By doing this, the pulse width of the synchronization pulse 653 becomes an integral multiple of the period of the reproduction clock 652. Originally,
Since the interval between the rising edge and the falling edge of the reproduced signal 100 must be an integral multiple of the reproduced clock period, the synchronization pulse 653 and the correction pulse 61
The difference in width from 3 corresponds to the remaining amount of correction in macro correction. Therefore, the synchronization pulse 653 and the correction pulse 61
After obtaining the difference signal 654 with 3 by the differential amplifier 755,
By smoothing the waveform with a low-pass filter 756, an error signal 655 is obtained. Micro-correction can be performed by controlling the slice level 107 using the error signal 655.
次に第11図の回路例によるミクロ補正処理を第13図
のタイムチャートとともに説明する。マクロ補正処理後
の補正パルス613の前エツジパルス650の立ち上が
りの同期した再生クロック660.661をPLL回路
754により生成する6一方、後エツジ検出器760に
より補正パルス613の後エツジパルス662を生成す
る。ここで後エツジパルス662の立ち上がりエツジで
再生クロック660のレベルをフリップフロップ761
によりラッチすることで遅相パルス663が得られる。Next, micro correction processing using the circuit example shown in FIG. 11 will be explained with reference to the time chart shown in FIG. 13. The PLL circuit 754 generates reproduced clocks 660 and 661 that are synchronized with the rising edge of the leading edge pulse 650 of the corrected pulse 613 after macro correction processing, while the trailing edge detector 760 generates the trailing edge pulse 662 of the corrected pulse 613. Here, at the rising edge of the rear edge pulse 662, the level of the reproduced clock 660 is changed to the level of the flip-flop 761.
By latching, a slow phase pulse 663 is obtained.
該遅相パルス663のパルス幅は後エツジパルス662
の立ち上がりと再生クロックの立ち上がりとの位相差を
表わしている。同様に後エツジパルス662の立ち上が
りで再生クロック661をラッチすることで進相パルス
664が生成できる。進相、遅相パルスの差信号を差動
増幅器763で生成し、これを低域通過フィルタ764
で平滑化することで誤差信号655が得られる。The pulse width of the slow phase pulse 663 is equal to that of the rear edge pulse 662.
It represents the phase difference between the rising edge of the clock and the rising edge of the reproduced clock. Similarly, by latching the recovered clock 661 at the rising edge of the trailing edge pulse 662, a phase advance pulse 664 can be generated. A differential amplifier 763 generates a difference signal between leading and lagging pulses, and this is passed through a low-pass filter 764.
By smoothing with , an error signal 655 is obtained.
誤差信号655によるスライスレベル107の制御方法
について付記しておく。2階微分信号104の立ち上が
りおよび立ち下がりの傾きをθとするとスライスレベル
がVeだけずれたことに対応する2値化パルス601,
602のパルス幅変化Teは、次式で与えられる。An additional note will be made regarding the method of controlling the slice level 107 using the error signal 655. If the slope of the rise and fall of the second-order differential signal 104 is θ, the binarized pulse 601 corresponds to the slice level being shifted by Ve,
The pulse width change Te of 602 is given by the following equation.
te=Ve/lanθ
ここでは、2階微分信号104の零クロス点近傍の傾き
は直線近似できるものとする。したがって差動増幅器7
55,763の利得を傾きθに応じて適当に設定してや
ればミクロ補正が実行される。te=Ve/lanθ Here, it is assumed that the slope of the second-order differential signal 104 near the zero crossing point can be approximated by a straight line. Therefore, the differential amplifier 7
By appropriately setting the gains of 55 and 763 according to the slope θ, micro correction can be performed.
第14図で示した方式は、遅相パルス663、および進
相パルス664の生成までは第11図、第13図の方式
と同様である。第14図の方法では、該差信号655に
より第1のスライスレベル107ではなく、第2のスラ
イスレベル850を制御する。第2のスライスレベル8
50は2階微分信号104から得られ2値化パルス60
1の後エツジ位置のみを前後に制御するために使用され
る。具体的には、補正パルス613の生成即ちマクロ補
正は第1のスライスレベル107で行ない。The method shown in FIG. 14 is similar to the methods shown in FIGS. 11 and 13 up to the generation of the slow phase pulse 663 and the advanced phase pulse 664. In the method of FIG. 14, the difference signal 655 controls the second slice level 850 instead of the first slice level 107. 2nd slice level 8
50 is a binarized pulse 60 obtained from the second-order differential signal 104
1 is used to control only the rear edge position back and forth. Specifically, generation of the correction pulse 613, that is, macro correction, is performed at the first slice level 107.
該補正パルス613の後エツジ位置をマクロ補正領域通
過後にミクロ補正処理として前後させる。The rear edge position of the correction pulse 613 is moved back and forth as a micro correction process after passing through the macro correction area.
第15図は第2のスライスレベル850により補正パル
ス613から後エツジ位置のみ補正されたパルス613
′を得るための回路例である。比較器870により第2
のスライスレベル850で2階微分信号104を2値化
する。この後該2値化パルスの後エツジパルス851を
インバータ872、遅延素子671、ANDゲート87
3で構成される回路で生成する。一方、フリップフロッ
プ874により補正パルス613の立ち上がりで出力Q
は“H″になり、その後、後エツジパルス851により
リセットすることで“L”に戻せば、後エツジ位置のみ
補正することができる。マクロ補正終了後は、補正パル
ス613′を用いてミクロ補正を行なっていけばよい。FIG. 15 shows a pulse 613 in which only the rear edge position is corrected from the correction pulse 613 by the second slice level 850.
This is an example of a circuit for obtaining ′. Comparator 870 selects the second
The second-order differential signal 104 is binarized at a slice level 850. After this, the edge pulse 851 after the binarized pulse is passed through the inverter 872, the delay element 671, and the AND gate 87.
It is generated by a circuit consisting of 3. On the other hand, the flip-flop 874 outputs Q at the rising edge of the correction pulse 613.
becomes "H" and then returns to "L" by resetting with the trailing edge pulse 851, thereby making it possible to correct only the trailing edge position. After the macro correction is completed, micro correction may be performed using the correction pulse 613'.
再生補正の実施例として、ここではエツジ記録方式を例
に挙げ、2階微分検出方式における閾値制御を説明した
が、再生信号100の正、負の包絡線を検出し、その平
均値を閾値とする検出方式に対しても同様に実現するこ
とができる。As an example of reproduction correction, threshold control in the second-order differential detection method has been explained using the edge recording method as an example. This can be similarly realized for a detection method that uses the same method.
本発明によれば、記録条投の変動や媒体の記録特性の変
動等によって生じる記録ピットあるいは記録ドメイン長
の変動を、再生時において、抑圧することができる。ま
た、スライスレベルの増減のみでは補正が困難な大きな
記録時の変動に対しても効果的に抑圧できるため、安定
なデータ復調が実現できる。According to the present invention, it is possible to suppress fluctuations in recording pit or recording domain length caused by fluctuations in recording pitch, fluctuations in recording characteristics of the medium, etc. during reproduction. In addition, it is possible to effectively suppress large fluctuations during recording that are difficult to correct only by increasing or decreasing the slice level, so stable data demodulation can be achieved.
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は2階
微分検出方式のタイムチャート、第3図は記録時のピッ
ト長変動を説明する図、第4図はフォーマット構成例を
示す図、第5図はスライス設定回路の一例を示す図、第
6図はマクロ補正回路の一例を示す図、第7図は第6図
のタイムチャート、第8図、第10図、第11図はミク
ロ補正回路の一例を示す図、第9図、第12図、第13
図はそれぞれ第8図、第10図、第11図の回路の動作
を示すタイムチャート、第14図はミクロ補正の別の実
施例を示すタイムチャート、第15図は回路構成例を示
す図である。
符号の説明
100.101・・・再生信号、217・・・マクロ補
正器、218・・・ミクロ補正器、430・・・マクロ
補正領域。
メレ支へつα−
77デ
第
?
目
第
7国
デθl
第8日
第ブ2
第7υ図
%7/図
第72目
第 73 目Figure 1 is a circuit diagram showing an embodiment of the present invention, Figure 2 is a time chart of the second-order differential detection method, Figure 3 is a diagram explaining pit length fluctuations during recording, and Figure 4 is an example of format configuration. FIG. 5 is a diagram showing an example of a slice setting circuit, FIG. 6 is a diagram showing an example of a macro correction circuit, FIG. 7 is a time chart of FIG. 6, FIGS. Figure 11 is a diagram showing an example of a micro correction circuit, Figures 9, 12, and 13.
The figures are time charts showing the operation of the circuits in Figs. 8, 10, and 11, respectively; Fig. 14 is a time chart showing another example of micro correction; and Fig. 15 is a diagram showing an example of the circuit configuration. be. Description of symbols 100.101... Reproduction signal, 217... Macro corrector, 218... Micro corrector, 430... Macro correction area. Mele branch α- 77th? 7th country de θl 8th day B2 Figure 7υ%7/Figure 72nd 73rd
Claims (1)
域を形成することにより情報の記録を行ない、該記録領
域を再生する装置において、情報の記録時に特定パター
ン部を形成しておき、再生時に該特定パターン部から得
られる再生信号を標準の閾値で2値化された再生パルス
のデューティを補正し、さらに該補正誤差を閾値の増減
により補正を加えることで記録条件の変動によって生じ
る該記録領域の長さ、あるいは間隔の変動を吸収するこ
とを特徴とする再生信号補正方法。 2、上記特定パターンとして再生クロック同期化のため
のパターンを兼用し、該パターンの再生信号を標準の閾
値で2値化することで得られた再生パルスのデューティ
を計数のためのクロックにより検出し、再生パルス幅を
補正することを特徴とする請求項1記載の再生信号補正
方法。 3、閾値の増減を制御する誤差信号を、再生パルスのデ
ューティを該再生パルスの1のレベルと、該再生パルス
の反転パルスの1のレベルをそれぞれ或る区間積分した
値の差から生成することを特徴とする請求項1記載の再
生信号補正方法。 4、閾値の増減を制御する誤差信号を、再生パルスの前
エッジに同期化した再生クロックの位相と、該再生パル
スの後エッジの位相との位相差から生成することを特徴
とする請求項1記載の再生信号補正方法。 5、標準の閾値とは別に再生パルスの後エッジ位置のみ
を制御するための第2の閾値を設け、該第2の閾値の増
減を制御する誤差信号を生成することを特徴とする請求
項1乃至4のいずれかに記載の再生信号補正方法。[Claims] 1. In an apparatus for recording information by forming a recording area on a medium in a state physically different from an unrecorded area, and reproducing the recording area, a specific pattern is used when recording information. By forming a section in advance, and correcting the duty of the binarized reproduction pulse of the reproduction signal obtained from the specific pattern section at the time of reproduction using a standard threshold value, and further correcting the correction error by increasing or decreasing the threshold value. A reproduced signal correction method characterized by absorbing fluctuations in the length or interval of the recording area caused by fluctuations in recording conditions. 2. The above specific pattern also serves as a pattern for synchronizing the reproduced clock, and the duty of the reproduced pulse obtained by binarizing the reproduced signal of the pattern with a standard threshold value is detected by the counting clock. 2. The reproduction signal correction method according to claim 1, wherein the reproduction pulse width is corrected. 3. Generating an error signal for controlling the increase/decrease of the threshold value from the difference between the duty of the reproduction pulse of the level 1 of the reproduction pulse and the level 1 of the inverted pulse of the reproduction pulse, each integrated over a certain period. The reproduced signal correction method according to claim 1, characterized in that: 4. Claim 1, wherein the error signal for controlling the increase or decrease of the threshold value is generated from the phase difference between the phase of a reproduced clock synchronized with the leading edge of the reproduced pulse and the phase of the trailing edge of the reproduced pulse. The reproduced signal correction method described. 5. Claim 1, characterized in that a second threshold for controlling only the trailing edge position of the reproduction pulse is provided separately from the standard threshold, and an error signal for controlling increase/decrease of the second threshold is generated. 5. The reproduced signal correction method according to any one of 4.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23240088A JP2675096B2 (en) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | Playback signal correction method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23240088A JP2675096B2 (en) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | Playback signal correction method |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0281324A true JPH0281324A (en) | 1990-03-22 |
| JP2675096B2 JP2675096B2 (en) | 1997-11-12 |
Family
ID=16938650
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23240088A Expired - Lifetime JP2675096B2 (en) | 1988-09-19 | 1988-09-19 | Playback signal correction method |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2675096B2 (en) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5448544A (en) * | 1992-03-19 | 1995-09-05 | Hitachi, Ltd. | Data recording/playback apparatus and signal processing method |
| US6215751B1 (en) | 1997-09-05 | 2001-04-10 | Hitachi, Ltd. | Data demodulating method and optical disk device using the method |
-
1988
- 1988-09-19 JP JP23240088A patent/JP2675096B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5448544A (en) * | 1992-03-19 | 1995-09-05 | Hitachi, Ltd. | Data recording/playback apparatus and signal processing method |
| US6215751B1 (en) | 1997-09-05 | 2001-04-10 | Hitachi, Ltd. | Data demodulating method and optical disk device using the method |
| US6320834B1 (en) | 1997-09-05 | 2001-11-20 | Hitachi, Ltd. | Data demodulating method and optical disk device using the method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2675096B2 (en) | 1997-11-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5233589A (en) | Method for recording/reproducing information having a function of correcting variations in the interval in reproduced data and apparatus for realizing same | |
| EP0763825B1 (en) | Data detection apparatus | |
| JPS63231733A (en) | optical information reproducing device | |
| JPH0223945B2 (en) | ||
| JPH0828061B2 (en) | Clocking method for pulse width modulation data | |
| KR900001593B1 (en) | Digital signal reproducing circuit | |
| US6483793B1 (en) | Restoration of data and asymmetry compensation in an optical disk reproducing system | |
| JP2002056534A (en) | Circuit for measuring time base error parameter of pulse train, and optical disk recorder | |
| US6580775B1 (en) | Method of detecting frequency of digital phase locked loop | |
| JP3485088B2 (en) | Signal processing circuit and signal processing method | |
| JPH0281324A (en) | Method for correcting reproduced signal | |
| US4580100A (en) | Phase locked loop clock recovery circuit for data reproducing apparatus | |
| JP3458494B2 (en) | Clock signal recovery circuit and data recovery circuit | |
| JPS59167813A (en) | Phase-locked loop | |
| JPH0490168A (en) | Data reproducing circuit for magneto-optical disk device | |
| JP3434421B2 (en) | Apparatus for reproducing digital information modulated and recorded with a discrete recording length | |
| JPH087468A (en) | Optical disc player | |
| JP2800772B2 (en) | Clock extraction circuit | |
| JP2529325B2 (en) | Slice circuit | |
| JP2004253056A (en) | Decoding device | |
| JPH118656A (en) | Slice level evaluation method, binarization method, circuit using the same, and device using the same | |
| JPH0612790A (en) | Data detector | |
| JP3528272B2 (en) | Digital signal playback device | |
| JP2942696B2 (en) | Optical disk data reproducing system | |
| JP3684589B2 (en) | Digital signal reproduction device |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070718 Year of fee payment: 10 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080718 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080718 Year of fee payment: 11 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090718 Year of fee payment: 12 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090718 Year of fee payment: 12 |