JPH0283433A - 流体の密度測定装置 - Google Patents
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- JPH0283433A JPH0283433A JP1002175A JP217589A JPH0283433A JP H0283433 A JPH0283433 A JP H0283433A JP 1002175 A JP1002175 A JP 1002175A JP 217589 A JP217589 A JP 217589A JP H0283433 A JPH0283433 A JP H0283433A
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- 239000012530 fluid Substances 0.000 title claims abstract description 23
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims abstract description 8
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 17
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 12
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 10
- 230000005284 excitation Effects 0.000 abstract description 9
- 239000011521 glass Substances 0.000 abstract description 8
- 238000001739 density measurement Methods 0.000 abstract description 4
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 abstract description 4
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 5
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000003044 adaptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 1
- 230000005520 electrodynamics Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 230000000750 progressive effect Effects 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
- 230000002747 voluntary effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N9/00—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity
- G01N9/002—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity using variation of the resonant frequency of an element vibrating in contact with the material submitted to analysis
-
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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- G01N2009/006—Investigating density or specific gravity of materials; Analysing materials by determining density or specific gravity using variation of the resonant frequency of an element vibrating in contact with the material submitted to analysis vibrating tube, tuning fork
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は一般的には流体の密度を測定する装置に関する
ものであり、特に詳しくは、流体の密度をより精密に測
定することを可能とするために液体を正確な温度に維持
するためのシステムに関するものである。
ものであり、特に詳しくは、流体の密度をより精密に測
定することを可能とするために液体を正確な温度に維持
するためのシステムに関するものである。
〔従来の技術］
密度の測定装置において、公知技術としてパイプレーク
−として設計され、そして電磁気的、電気力学的或いは
圧電式トランスデユーサ−又はそれに類するもの等の手
段によって振動の周波数及び／又は周期を測定するため
に装置に作動的に接続されている機械的発振器、ねじれ
発振器或いはそれに類するもの等を使用することが知ら
れている。
−として設計され、そして電磁気的、電気力学的或いは
圧電式トランスデユーサ−又はそれに類するもの等の手
段によって振動の周波数及び／又は周期を測定するため
に装置に作動的に接続されている機械的発振器、ねじれ
発振器或いはそれに類するもの等を使用することが知ら
れている。
密度の決定は次でサンプルを充満した機械的発振器の共
振周波数の測定に変化されている。最も適したものであ
る発振器はガラスにより作られており、電子的に非減衰
発振にまで励起され、その周波数は発振器の質量に依存
しそれ故サンプルの密度に依拠するものである。
振周波数の測定に変化されている。最も適したものであ
る発振器はガラスにより作られており、電子的に非減衰
発振にまで励起され、その周波数は発振器の質量に依存
しそれ故サンプルの密度に依拠するものである。
精密な測定を行う場合には、周波数の決定は最も好まし
くは水晶時計に関連したディジタルカウンターの手段に
より達成される。
くは水晶時計に関連したディジタルカウンターの手段に
より達成される。
かかるシステムにおいて正確な測定をうるためには、二
位置温度制御器（ｔｗｏ ｐｏｉｎｔ ｔｅｍｐｅｒａ
ｔｕｒｅｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）が提供されていること
が知られている。
位置温度制御器（ｔｗｏ ｐｏｉｎｔ ｔｅｍｐｅｒａ
ｔｕｒｅｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）が提供されていること
が知られている。
この二位置制御型システムにおいては、上部基準点と下
部基準点の２つの基準点が設けられている。
部基準点の２つの基準点が設けられている。
流体の温度が上部基準点を越えて上昇した時、システム
は冷却され液体の温度が上部と下部の基準点の間の範囲
に留められる。
は冷却され液体の温度が上部と下部の基準点の間の範囲
に留められる。
該温度が下部基準点より下がった時は、熱がシステムに
加えられ、該温度を該上部と下部の基準点の間に戻され
る。このように、かかる二点温度制御においては実際の
温度は密度測定のための好ましい水準に留まるよりもむ
しろ上部と下部の基準点との間を上下に変化しがちであ
ることが判っている。
加えられ、該温度を該上部と下部の基準点の間に戻され
る。このように、かかる二点温度制御においては実際の
温度は密度測定のための好ましい水準に留まるよりもむ
しろ上部と下部の基準点との間を上下に変化しがちであ
ることが判っている。
この二位置温度制御器に関しての第２の問題は熱の流れ
の方向を切り換えることと、設定された点の交叉を検出
することとの間の時間遅れ（ｌａｙｔｉｎｇｅ）である
。
の方向を切り換えることと、設定された点の交叉を検出
することとの間の時間遅れ（ｌａｙｔｉｎｇｅ）である
。
この時間遅れは測定セルにおける熱時間定数（ｔｈｅｒ
ｍａｌ ｔｉｍｅ ｃｏｎ：Ｌａｎｔ）に基因している
測定温度が高い温度（３７°Ｃ）と低い温度（１０℃）
である時に、かかる時間遅れは設定点の値との関係で実
際の温度についての極めて非対象的な逸脱を引き起こす
。
ｍａｌ ｔｉｍｅ ｃｏｎ：Ｌａｎｔ）に基因している
測定温度が高い温度（３７°Ｃ）と低い温度（１０℃）
である時に、かかる時間遅れは設定点の値との関係で実
際の温度についての極めて非対象的な逸脱を引き起こす
。
本発明の目的は、温度が二つの基準点間を上下に変動す
ることがなく又密度の正確な測定を可能とするため温度
は予め決められた温度値に近い値に維持されるような密
度測定装置を提供するものである。
ることがなく又密度の正確な測定を可能とするため温度
は予め決められた温度値に近い値に維持されるような密
度測定装置を提供するものである。
又本発明の他の目的は切り換えと基準点の交叉の検出と
の間の時間遅れを除去するものである。
の間の時間遅れを除去するものである。
〔課題を解決するための手段〕
本発明は上記目的を達成するため次の構成を有するもの
である。即ち、 流体により満たされている振動チューブ１４の振動周波
数を決定することにより流体の密度を測定する装置１０
であって、 振動の周波数が、流体の密度と温度を代表するものであ
る機械的振動手段、 振動手段の振動周波数を測定する手段、振動中に流体の
温度を制御するための温度制御手段とを含み、かつ該温
度制御手段は、単一の温度設定点を保持するための単一
設定点手段、 当該サンプルの温度を測定するための検温手段測定され
た温度を該単一の温度設定点と比較し、測定された温度
が該単一の温度設定点より高いか低いかを決定し、更に
比較に応答して比較信号を発生するための比較手段、 該サンプルを加熱及び冷却するための熱手段及び、該比
較信号に応答して測定された温度が該単一の設定点より
低い時には該サンプルを加熱し、又該測定された温度が
該単一の設定点より高い場合に該サンプルを冷却するた
めに該熱手段を制御するための熱制御手段を含んでいる
流体の密度測定装置である。
である。即ち、 流体により満たされている振動チューブ１４の振動周波
数を決定することにより流体の密度を測定する装置１０
であって、 振動の周波数が、流体の密度と温度を代表するものであ
る機械的振動手段、 振動手段の振動周波数を測定する手段、振動中に流体の
温度を制御するための温度制御手段とを含み、かつ該温
度制御手段は、単一の温度設定点を保持するための単一
設定点手段、 当該サンプルの温度を測定するための検温手段測定され
た温度を該単一の温度設定点と比較し、測定された温度
が該単一の温度設定点より高いか低いかを決定し、更に
比較に応答して比較信号を発生するための比較手段、 該サンプルを加熱及び冷却するための熱手段及び、該比
較信号に応答して測定された温度が該単一の設定点より
低い時には該サンプルを加熱し、又該測定された温度が
該単一の設定点より高い場合に該サンプルを冷却するた
めに該熱手段を制御するための熱制御手段を含んでいる
流体の密度測定装置である。
本発明に係る密度測定装置は流体を満たした振動チュー
ブの発振周波数を決定することによって流体の密度を測
定するものである。
ブの発振周波数を決定することによって流体の密度を測
定するものである。
本発明においては電気的励起システムが該チューブを振
動させ発振周波数は密度と温度を代表するものである。
動させ発振周波数は密度と温度を代表するものである。
この周波数は正確に測定される。
温度制御システムは流体の温度を、振動中に一つの温度
設定点とサンプルの測定温度とを連続的に比較すること
によって制御する。かかる比較にもとづいて、第１の方
向における電流或いは第２の方向における電流がサンプ
ルを加熱或いは冷却するためにペルチェ要素（Ｐｅｌｔ
ｉｅｒ ｅｌｅｍｅｎｔ）に印加される。電流による実
質的に連続した温度の読み出しと調整がこのようにして
提供される。温度情報は外部のデーターリンク部或いは
表示部に供給される。
設定点とサンプルの測定温度とを連続的に比較すること
によって制御する。かかる比較にもとづいて、第１の方
向における電流或いは第２の方向における電流がサンプ
ルを加熱或いは冷却するためにペルチェ要素（Ｐｅｌｔ
ｉｅｒ ｅｌｅｍｅｎｔ）に印加される。電流による実
質的に連続した温度の読み出しと調整がこのようにして
提供される。温度情報は外部のデーターリンク部或いは
表示部に供給される。
以下、本発明に係る密度測定装置を実施例の形で図面を
参照しながら説明する。
参照しながら説明する。
第１図を参照すると、本発明の密度測定装置１０が示さ
れている。該密度測定装置１０は密度測定のためのサン
プルを内蔵している０字型をした振動ガラスチューブ１
４を含んでいる。
れている。該密度測定装置１０は密度測定のためのサン
プルを内蔵している０字型をした振動ガラスチューブ１
４を含んでいる。
該チューブ１４は励起増幅器（３４）の制御の下に振動
せしめられる。該励起増幅器３４はコイル１６の間にあ
るマグネット１８の相対的動きを表す信号を該励起増幅
器３４に印加するライン３０の手段によりチューブ１４
の動きを検出し、かつ該チューブの振動数を測定する。
せしめられる。該励起増幅器３４はコイル１６の間にあ
るマグネット１８の相対的動きを表す信号を該励起増幅
器３４に印加するライン３０の手段によりチューブ１４
の動きを検出し、かつ該チューブの振動数を測定する。
かかるチューブの動きを表す信号は該励起増幅器３４に
より増幅され該増幅器３４は次で該ライン３０の手段に
より検出された減衰力（ｄａｍｐｉｎｇｆｏｒｃｅ）の
位相に位相的に反対の位相をもつ信号を発生する。
より増幅され該増幅器３４は次で該ライン３０の手段に
より検出された減衰力（ｄａｍｐｉｎｇｆｏｒｃｅ）の
位相に位相的に反対の位相をもつ信号を発生する。
かかる反対位相の信号はライン２８の手段によりコイル
１７に印加されそしてチューブ１４の正確な振動を維持
するためマグネット１９に作用する。
１７に印加されそしてチューブ１４の正確な振動を維持
するためマグネット１９に作用する。
１９７０年８月１１日付でクラドキー（Ｋｒａｔｋｙ）
等に与えられた米国特許第３５２３４４６号にはこのタ
イプのシステムが開示されており、それは以下に明記さ
れる本発明の詳細な説明の中に参考例として組み込まれ
ている。
等に与えられた米国特許第３５２３４４６号にはこのタ
イプのシステムが開示されており、それは以下に明記さ
れる本発明の詳細な説明の中に参考例として組み込まれ
ている。
チューブ１４の周期は一定量のサンプルを含んだ全体的
な振動質量に依拠するものであるから、サンプルの密度
の決定は、約１ ｃｆｆｌ（ｏｎｅ ｃｕｂｉｃ ｃｅ
ｎｔｉ−ｍｅ ｔｅｒ）のサンプルで満たされたチュー
ブ１４の共鳴或いは周波数特性の決定に変換される。
な振動質量に依拠するものであるから、サンプルの密度
の決定は、約１ ｃｆｆｌ（ｏｎｅ ｃｕｂｉｃ ｃｅ
ｎｔｉ−ｍｅ ｔｅｒ）のサンプルで満たされたチュー
ブ１４の共鳴或いは周波数特性の決定に変換される。
測定装置ｌＯ内におけるかかる振動測定は極めて正確で
なければならない。
なければならない。
又励起増幅器３４内には、図示されてはいないが上述し
たように振動するガラスチューブ１４の振動の周期を正
確に測定する周期メーター（ｐｅｒｉｏｄｍｅｔｅｒ）
が設けられている。
たように振動するガラスチューブ１４の振動の周期を正
確に測定する周期メーター（ｐｅｒｉｏｄｍｅｔｅｒ）
が設けられている。
この周波数測定は、ガラスチューブ１４０周期の間、水
晶発振器（図示せず）によるクロックパルスを計数する
ことにより実行される。
晶発振器（図示せず）によるクロックパルスを計数する
ことにより実行される。
この周期メーターはＩｎｔｅｌ ８０Ｃ３１マイクロコ
ンピュータ−を含んでいる。
ンピュータ−を含んでいる。
温度検出器２０が装置１０の銅製ブロック１°２内に埋
め込まれておりチェーブ１４内のサンプルの温度を決定
する。銅ブロック１２の温度は振動ガラスチューブ１４
内のサンプルの測定時の温度である。
め込まれておりチェーブ１４内のサンプルの温度を決定
する。銅ブロック１２の温度は振動ガラスチューブ１４
内のサンプルの測定時の温度である。
このように比抵抗温度検出器（ｒｅｓｉｓｔｉｖｅｔｅ
ｍｐｅｒａｔｕｒｅ ５ｅｎｓｏｒ） ２０によって検
出された温度を代表する電気信号はガラスチューブ１４
内のサンプルの温度を又代表している、この電気信号は
ライン３２を経由して電気検温計３６に供給される。電
気検温計３６は比抵抗温度検出器２０を基準抵抗（図示
せず）と比較する。温度検出器２０はイエロースプリン
グ機器（Ｙｅｌｌｏｗ ＳｐｒｉｎｇＩｎｓｔｒｕｏ＋
ｅｎｔ）のＮ（Ｌ ４４０３１である。
ｍｐｅｒａｔｕｒｅ ５ｅｎｓｏｒ） ２０によって検
出された温度を代表する電気信号はガラスチューブ１４
内のサンプルの温度を又代表している、この電気信号は
ライン３２を経由して電気検温計３６に供給される。電
気検温計３６は比抵抗温度検出器２０を基準抵抗（図示
せず）と比較する。温度検出器２０はイエロースプリン
グ機器（Ｙｅｌｌｏｗ ＳｐｒｉｎｇＩｎｓｔｒｕｏ＋
ｅｎｔ）のＮ（Ｌ ４４０３１である。
電気的検温針３６内の集積されたアナログ／デジタル変
換器は二つの抵抗の比をデジタル化する。
換器は二つの抵抗の比をデジタル化する。
このデジタル化された抵抗比は銅ブロック１２の温度そ
れ故振動チューブ１４内のサンプルに関する情報を提供
する。この温度情報はライン４８を経て電気的検温針３
６により設定点比較器４０に供給される。このように測
定された温度の測定範囲は０．０１℃の分解能を用いて
０〜８０°Ｃとした。
れ故振動チューブ１４内のサンプルに関する情報を提供
する。この温度情報はライン４８を経て電気的検温針３
６により設定点比較器４０に供給される。このように測
定された温度の測定範囲は０．０１℃の分解能を用いて
０〜８０°Ｃとした。
マイクロコンピュータ−３８は、振動ガラスチューブ１
４内のサンプルについて単一の好ましい基準温度設定点
に関する情報を含んだインテル（Ｉｎｔｅｌ）８０５２
ＡＨ−１３ＡＳＴＣシステムである。このマイクロコ
ンピュータ−３８内における単一の基準温度設定点はラ
イン５０を経て設定点比較器４０に供給される。
４内のサンプルについて単一の好ましい基準温度設定点
に関する情報を含んだインテル（Ｉｎｔｅｌ）８０５２
ＡＨ−１３ＡＳＴＣシステムである。このマイクロコ
ンピュータ−３８内における単一の基準温度設定点はラ
イン５０を経て設定点比較器４０に供給される。
該設定点比較器４０は、シーメンス（Ｓｉｅｍｅｎｓ）
ＳＡＢ ８０５３５マイクロコントローラーから構成さ
れている適応制御装置であり、該装置は、ライン４８を
経て受は入れた測定温度をライン５０を経て受は入れた
好ましい温度設定値と比較し、そして測定された温度を
望ましい温度と等・しい値に至らしめるのに要求される
加熱或いは冷却の程度を決定する。
ＳＡＢ ８０５３５マイクロコントローラーから構成さ
れている適応制御装置であり、該装置は、ライン４８を
経て受は入れた測定温度をライン５０を経て受は入れた
好ましい温度設定値と比較し、そして測定された温度を
望ましい温度と等・しい値に至らしめるのに要求される
加熱或いは冷却の程度を決定する。
かかる加熱或いは冷却の程度に関する情報はライン５２
を経て加熱又は冷却要素２４に正又は負の電力信号を供
給する電力増幅器４２に供給される。加熱及び冷却要素
２４はベルチェ効果要素２４のような双方向熱変換要素
はマルロープ工業■（Ｍａｒｌｏｗｅ Ｉｎｄｕｓｔｒ
ｉｅｓ Ｉｎｃ、）により製造されている。ベルチェ効
果要素２４は第２図に示される一般的にはルーチン８０
表示されている方法において比較器４０により制御され
る。
を経て加熱又は冷却要素２４に正又は負の電力信号を供
給する電力増幅器４２に供給される。加熱及び冷却要素
２４はベルチェ効果要素２４のような双方向熱変換要素
はマルロープ工業■（Ｍａｒｌｏｗｅ Ｉｎｄｕｓｔｒ
ｉｅｓ Ｉｎｃ、）により製造されている。ベルチェ効
果要素２４は第２図に示される一般的にはルーチン８０
表示されている方法において比較器４０により制御され
る。
温度検知器２０により測定されたチューブ１４と銅ブロ
ック１２の温度はルーチン８０の判断８２で示されるよ
うに基準温度と比較される。
ック１２の温度はルーチン８０の判断８２で示されるよ
うに基準温度と比較される。
もし測定された温度が基準温度より高い場合には、そこ
で要素２４はブロック８６に示されるように冷却される
。もし測定された温度が基準温度よりも低い場合には、
要素２４は加熱される。
で要素２４はブロック８６に示されるように冷却される
。もし測定された温度が基準温度よりも低い場合には、
要素２４は加熱される。
このように簡単な熱すぎる／冷えすぎるという決定（ｔ
ｏｏ ｈｏｔ／ｌｏｏ ｃｏｌｄ ｄｅｃｉｓｉｏｎ）
がなされる。
ｏｏ ｈｏｔ／ｌｏｏ ｃｏｌｄ ｄｅｃｉｓｉｏｎ）
がなされる。
ベルチェ要素２４はこのように熱すぎる／冷えすぎる判
断にもとづいて熱エネルギーの流れを装置１０の中へ又
は外へと制御する。該密度測定装置１０を製造する際、
要素２４は密度測定装置１０の集積要素の中に形成され
る。
断にもとづいて熱エネルギーの流れを装置１０の中へ又
は外へと制御する。該密度測定装置１０を製造する際、
要素２４は密度測定装置１０の集積要素の中に形成され
る。
これはその半導体接合を通して流れる電流の方向に基因
して該装置１０の内に向かうか或いは外に流出するかの
いずれかの方向に熱を移動させるし一トポンプとして作
動する。
して該装置１０の内に向かうか或いは外に流出するかの
いずれかの方向に熱を移動させるし一トポンプとして作
動する。
該要素２４の半導体接合を通して流れる電流の方向はル
ーチン８０の判断８２に従って制御される。
ーチン８０の判断８２に従って制御される。
この方法により、サンプルは要素２４を通して流れる電
流の方向を制御することにより周囲雰囲気との関連で加
熱或いは冷却される。
流の方向を制御することにより周囲雰囲気との関連で加
熱或いは冷却される。
第３図を参照すると、電力増幅器４２は温度制御器４０
から動作周期変調信号９８の手段により情報を受は入れ
る。
から動作周期変調信号９８の手段により情報を受は入れ
る。
この信号は増幅器４２のローパスフィルター９０により
低域フィルター化され、そして分相器（ｐｈａｓｅ ５
ｐｌｉｔｔｅｒ）９２によってレンジの５０パーセント
レベルでスプリントされ累進的な加熱或いは冷却命令と
する。
低域フィルター化され、そして分相器（ｐｈａｓｅ ５
ｐｌｉｔｔｅｒ）９２によってレンジの５０パーセント
レベルでスプリントされ累進的な加熱或いは冷却命令と
する。
これ等の加熱或いは冷却命令は電流にコード化される。
これ等の電流はルーチン８０のブロック８６或いはブロ
ック８８が実行されたかどうかに基づいてカレントミラ
ー（ｃｕｒｒｅｎｔ ｍ１ｒｒｏｒ）９４＋ ９６によ
りミラーされ（ｍｉｒｒｏｒｅｄ） １０００の係数に
より増幅される。
ック８８が実行されたかどうかに基づいてカレントミラ
ー（ｃｕｒｒｅｎｔ ｍ１ｒｒｏｒ）９４＋ ９６によ
りミラーされ（ｍｉｒｒｏｒｅｄ） １０００の係数に
より増幅される。
増幅された信号は次でペルチェ要素２４に供給される。
従って、加熱及び冷却の量はこの命令により制御される
のであり、ペルチェ要素２４により発生した熱起電力に
よるものではない。
のであり、ペルチェ要素２４により発生した熱起電力に
よるものではない。
外部コンピューター６４は商業的に利用可能なＩＢＭの
パーソナルコンピューターであり又、検温器３６から測
定された温度を受けそして該測定された温度を外部装置
に伝達する外部データーリンクを含んでいる。キーボー
ド／表示器４４が該装置１０を制御するために使用され
、又該キーボード／表示器４４は電子的検温器３６によ
り決定された温度を表示するために使用されてもよい。
パーソナルコンピューターであり又、検温器３６から測
定された温度を受けそして該測定された温度を外部装置
に伝達する外部データーリンクを含んでいる。キーボー
ド／表示器４４が該装置１０を制御するために使用され
、又該キーボード／表示器４４は電子的検温器３６によ
り決定された温度を表示するために使用されてもよい。
ブロック１２内における抵抗２０と共働するデジタル電
子検温器３６は極めて高い分解能システム（０，０１°
Ｃ）を形成している。
子検温器３６は極めて高い分解能システム（０，０１°
Ｃ）を形成している。
更に、検温器３６の読み出し値は密度測定装置１０内に
おいて１秒当たり数回更新される。
おいて１秒当たり数回更新される。
このように電力増幅器４２を制御するための電力増幅器
４２の電流出力は要素２４に供給される電流を小きざみ
に調整するために極めて頻繁にペルチェ要素（Ｐｅｌｔ
ｉｅｒ ｅｌｅｍｅｎｔ） ２４への電流を変化させる
ことが可能である。
４２の電流出力は要素２４に供給される電流を小きざみ
に調整するために極めて頻繁にペルチェ要素（Ｐｅｌｔ
ｉｅｒ ｅｌｅｍｅｎｔ） ２４への電流を変化させる
ことが可能である。
該装置ｌＯ内において最大（完全加熱）と最小（完全冷
却）との間に２５６ステツプが設けられておりそれが実
質的に連続した完全に滑らかな時間に関係した温度の関
係を形成する。
却）との間に２５６ステツプが設けられておりそれが実
質的に連続した完全に滑らかな時間に関係した温度の関
係を形成する。
一方、測定された実際の温度は、測定された温度に依存
している正しい較正係数（ｃｏｒｒｅｃｔｃａｌｉｂｒ
ａｔｉｏｎ ｃｏｎｓｔａｎｔｓ）の選定のため、及び
装置が暖機運転の後測定可能な状態にな、ったかを決定
するために装置自身の内部コンピューターにより処理さ
れる。
している正しい較正係数（ｃｏｒｒｅｃｔｃａｌｉｂｒ
ａｔｉｏｎ ｃｏｎｓｔａｎｔｓ）の選定のため、及び
装置が暖機運転の後測定可能な状態にな、ったかを決定
するために装置自身の内部コンピューターにより処理さ
れる。
更に、連続的な制御はスイッチがオンされた後或いは新
しい測定温度が選択された後の待ち時間を短縮する非常
に高速な遷移応答を可能にする。
しい測定温度が選択された後の待ち時間を短縮する非常
に高速な遷移応答を可能にする。
第１図は本発明における密度測定装置の概略ダイアグラ
ムである。 第２図は本発明の密度測定装置における加熱制御に対す
る第１図のシステムにより使用されるアルゴリズムを表
すフローチャートである。 第３図は第１図の密度測定装置における電力増幅器のブ
ロックダイアグラムである。 １０・・・密度測定装置、 １２・・・銅ブロック、
１４・・・チューブ、 １６．１７・・・コイル
、１８、１９・・・マグネット、 ２０・・・比抵抗温
度計、２４・・・加熱及び冷却手段、 ３４・・・増幅器、 ３６・・・検温器、３８・
・・マイクロコンピュータ−１ ４０・・・比較器、制御器、４２・・・電力増幅器、４
４・・・キーボード／表示器、 ４６・・・外部コンピューター 手 続 補 正 書（自発） 平成１年４月２ 日
ムである。 第２図は本発明の密度測定装置における加熱制御に対す
る第１図のシステムにより使用されるアルゴリズムを表
すフローチャートである。 第３図は第１図の密度測定装置における電力増幅器のブ
ロックダイアグラムである。 １０・・・密度測定装置、 １２・・・銅ブロック、
１４・・・チューブ、 １６．１７・・・コイル
、１８、１９・・・マグネット、 ２０・・・比抵抗温
度計、２４・・・加熱及び冷却手段、 ３４・・・増幅器、 ３６・・・検温器、３８・
・・マイクロコンピュータ−１ ４０・・・比較器、制御器、４２・・・電力増幅器、４
４・・・キーボード／表示器、 ４６・・・外部コンピューター 手 続 補 正 書（自発） 平成１年４月２ 日
Claims (9)
- １．流体により満たされている振動チューブの振動周波
数を決定することにより流体の密度を測定する装置であ
って、 振動の周波数が、流体の密度と温度を代表するものであ
る機械的振動手段、 振動手段の振動周波数を測定する手段、 振動中に流体の温度を制御するための温度制御手段とを
含み、かつ該温度制御手段は、 単一の温度設定点を保持するための単一設定点手段、 当該サンプルの温度を測定するための検温手段測定され
た温度を該単一の温度設定点と比較し、測定された温度
が該単一の温度設定点より高いか低いかを決定し、更に
比較に応答して比較信号を発生するための比較手段、 該サンプルを加熱及び冷却するための熱手段及び、該比
較信号に応答して測定された温度が該単一の設定点より
低い時には該サンプルを加熱し、又該測定された温度が
該単一の設定点より高い場合に該サンプルを冷却するた
めに該熱手段を制御するための熱制御手段を含んでいる
ことを特徴とする流体の密度測定装置。 - ２．該熱手段はピルチェ要素であることを特徴とする請
求項１記載の装置。 - ３．該検温手段は実質的に滑らかな熱制御を提供するた
め実質的に高分解能を持っているディジタル検温器であ
ることを特徴とする請求項１記載の装置。 - ４．該熱制御手段は該測定された温度が高すぎる時に電
流を該熱手段に対し第１の方向に供給し、又測定された
温度が低すぎる時は第２の方向に供給するための手段を
含んでいることを特徴とする請求項２記載の装置。 - ５．供給された電流を連続的に変化させるために該温度
を頻繁に比較するための手段を含んでいることを特徴と
する請求項２記載の装置。 - ６．更に外部データーリンクを含んでおり、かつ該検温
手段は該外部データーリンクに対して該測定された温度
を供給する手段を含んでいることを特徴とする請求項１
記載の装置。 - ７．表示装置を更に含んでおり、かつ該検温手段は該表
示装置に該測定された温度を供給するための手段を含む
ものであることを特徴とする請求項１記載の装置。 - ８．該比較手段は該装置が測定を実行する状態になって
いるかどうかを判断するための手段を含んでいることを
特徴とする請求項１記載の装置。 - ９．該単一温度設定点を別の単一温度設定点と置き換え
る手段が含まれていることを特徴とする請求項１記載の
装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US07/238,305 US4838084A (en) | 1988-08-30 | 1988-08-30 | Density measuring instrument |
| US238305 | 1994-05-12 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0283433A true JPH0283433A (ja) | 1990-03-23 |
Family
ID=22897328
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1002175A Pending JPH0283433A (ja) | 1988-08-30 | 1989-01-10 | 流体の密度測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4838084A (ja) |
| JP (1) | JPH0283433A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009541745A (ja) * | 2006-06-20 | 2009-11-26 | ルドルフ・リサーチ・アナリティカル・コーポレーション | 試験対象のサンプルを振動させる方法及び装置 |
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1988
- 1988-08-30 US US07/238,305 patent/US4838084A/en not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-01-10 JP JP1002175A patent/JPH0283433A/ja active Pending
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4838084A (en) | 1989-06-13 |
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