JPH0283786A - 画像処理方法および装置 - Google Patents
画像処理方法および装置Info
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- JPH0283786A JPH0283786A JP63234835A JP23483588A JPH0283786A JP H0283786 A JPH0283786 A JP H0283786A JP 63234835 A JP63234835 A JP 63234835A JP 23483588 A JP23483588 A JP 23483588A JP H0283786 A JPH0283786 A JP H0283786A
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- Japan
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- template
- image
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- hadamard
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06V—IMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
- G06V10/00—Arrangements for image or video recognition or understanding
- G06V10/40—Extraction of image or video features
- G06V10/42—Global feature extraction by analysis of the whole pattern, e.g. using frequency domain transformations or autocorrelation
- G06V10/431—Frequency domain transformation; Autocorrelation
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Image Analysis (AREA)
- Compression Or Coding Systems Of Tv Signals (AREA)
- Compression Of Band Width Or Redundancy In Fax (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、テンプレート画像に一致する画像を求めるパ
ターン・マッチング法による画像処理方法と、その装置
に関するものである。
ターン・マッチング法による画像処理方法と、その装置
に関するものである。
（発明の背景）
対象画像の中から所定の画像（以下テンプレート画像と
いう）を探し出すパターン・マッチング法が画像処理分
野で広く知られている。この方法は、対象画像の中から
抽出した一定領域とテンプレート画像とを画素に分割し
、対応画素間の濃度の差分を求め、各画素に対するこれ
らの差分の絶対値の総和をミスマツチの測度として用い
、これが最小となる領域をマツチング領域とするもので
ある。しかしこの方法は照明条件の変動が有ると、これ
が直接測度の変動となるために精度が悪くなるという問
題がある。
いう）を探し出すパターン・マッチング法が画像処理分
野で広く知られている。この方法は、対象画像の中から
抽出した一定領域とテンプレート画像とを画素に分割し
、対応画素間の濃度の差分を求め、各画素に対するこれ
らの差分の絶対値の総和をミスマツチの測度として用い
、これが最小となる領域をマツチング領域とするもので
ある。しかしこの方法は照明条件の変動が有ると、これ
が直接測度の変動となるために精度が悪くなるという問
題がある。
そこでこの照明条件の変動に対しては、テンプレート画
像と対象画像との相互相関を求め、これをマツチングの
測度とする方法が提案されている。しかしこの方法は対
象画像の画素数をＮＸＮとするとＮ２回の乗算とＮ２−
１回の加算が必要であり、この演算を対象画像領域が変
わる度に繰り返さねばならず、計算量が膨大となってし
まうという問題があった。
像と対象画像との相互相関を求め、これをマツチングの
測度とする方法が提案されている。しかしこの方法は対
象画像の画素数をＮＸＮとするとＮ２回の乗算とＮ２−
１回の加算が必要であり、この演算を対象画像領域が変
わる度に繰り返さねばならず、計算量が膨大となってし
まうという問題があった。
（発明の目的）
この発明はこのような事情に鑑みなされたものであり、
照明条件の影響を受けず、しかも計算量が著しく減少し
て高速での画像処理が可能になる画像処理方法を提供す
ることを第１の目的とする。またこの方法の実施に直接
使用する画像処理装置を提供することを第２の目的とす
る。
照明条件の影響を受けず、しかも計算量が著しく減少し
て高速での画像処理が可能になる画像処理方法を提供す
ることを第１の目的とする。またこの方法の実施に直接
使用する画像処理装置を提供することを第２の目的とす
る。
（発明の構成）
この発明によればこの第１の目的は、読取り対象画像が
テンプレート画像と一致するマツチング領域を求めるパ
ターン・マッチング法による画像処理方法において、対
象画像とテンプレート画像とにアダマール変換を行ない
、両画像のアダマール係数を用いて両画像の不一致度を
求めることを特徴とする画像処理方法により達成される
。
テンプレート画像と一致するマツチング領域を求めるパ
ターン・マッチング法による画像処理方法において、対
象画像とテンプレート画像とにアダマール変換を行ない
、両画像のアダマール係数を用いて両画像の不一致度を
求めることを特徴とする画像処理方法により達成される
。
すなわちテンプレート画像と対象画像とをアダマール変
換することによって直交関数系である異なる周波数成分
に分解し、この成分のうち直流成分を比較対象から除く
ことにより照明条件の変化の影響を除く。またこの成分
のうち直流成分以外の最大側の１または複数のアダマー
ル係数のみを用いることにより演算を減少させる。
換することによって直交関数系である異なる周波数成分
に分解し、この成分のうち直流成分を比較対象から除く
ことにより照明条件の変化の影響を除く。またこの成分
のうち直流成分以外の最大側の１または複数のアダマー
ル係数のみを用いることにより演算を減少させる。
ここに対象画像とテンプレート画像の対応画素に対して
、直流成分以りの最大側の１または複数のアダマール係
数の差の絶対値の総和が最小となる画像をマツチングと
することができる。また絶対値最大のアダマール係数の
差を各ブロックに対して加算してゆき、この加算値が所
定の閾値より大となった時にミスマツチングとすること
も可能である。
、直流成分以りの最大側の１または複数のアダマール係
数の差の絶対値の総和が最小となる画像をマツチングと
することができる。また絶対値最大のアダマール係数の
差を各ブロックに対して加算してゆき、この加算値が所
定の閾値より大となった時にミスマツチングとすること
も可能である。
また第２の目的は前記特許請求の範囲第５．６項に記載
した装置により達成される。
した装置により達成される。
（実施例）
第１図は本発明の一実施例の機能ブロック図、第２図は
その動作流れ図、第３図はアダマール変換画像の図、第
４図はパターン・マッチングの説明図である。
その動作流れ図、第３図はアダマール変換画像の図、第
４図はパターン・マッチングの説明図である。
第１図で符号１０はテンプレートメモリである。テンプ
レートからは特徴テンプレートＴ′と特徴量ｄとが予め
求められ、これらがメモリ］０に予めメモリされる。こ
こに特徴テンプレートＴ′は、テンプレート画像をアダ
マール変換した時に、直交関係を有する各周波数成分の
うち直流成分を除く絶対値最大の成分を求め、この成分
をブロックの要素とするものである。また特徴量ｄはこ
の絶対値最大の成分のアダマール係数である。
レートからは特徴テンプレートＴ′と特徴量ｄとが予め
求められ、これらがメモリ］０に予めメモリされる。こ
こに特徴テンプレートＴ′は、テンプレート画像をアダ
マール変換した時に、直交関係を有する各周波数成分の
うち直流成分を除く絶対値最大の成分を求め、この成分
をブロックの要素とするものである。また特徴量ｄはこ
の絶対値最大の成分のアダマール係数である。
例えば４ｘ４の画素で構成される画像ｇは、第３図のア
ダマール変換画像に示す周波数成分子１〜ｆ１６を用い
て次式のように展開できる。
ダマール変換画像に示す周波数成分子１〜ｆ１６を用い
て次式のように展開できる。
ｇ＝ａｌ ｆＩ＋ −＋ａ＋ａｆ＋ｓこの特番アダマ
ール係数ａ、〜ａ＋６は次式で与えられる。
ール係数ａ、〜ａ＋６は次式で与えられる。
ａ ＋ ＝ （１／１６） ｇ−ｆ ＋ａ２ ＝ （１
／１６） ｇ ・ｆ ２ａ １６＝＝ （１／１Ｇ）
ｇ ’ ｆ ＋にこで画像ｇは全ての周波数成分
を用いなくても、各アダマール係数の絶対値の大きい方
がら順に８個程度を取り出せば、目に見える画像の劣化
をもたらさないことが知られている。
／１６） ｇ ・ｆ ２ａ １６＝＝ （１／１Ｇ）
ｇ ’ ｆ ＋にこで画像ｇは全ての周波数成分
を用いなくても、各アダマール係数の絶対値の大きい方
がら順に８個程度を取り出せば、目に見える画像の劣化
をもたらさないことが知られている。
本発明では直流成分（ｆｌ）を除く成分中で最大側の１
または複数の係数ａ２〜ａ１６のみを用いて画像の不一
致度を求める。
または複数の係数ａ２〜ａ１６のみを用いて画像の不一
致度を求める。
例えば１６ｘ１６画素の大きさのテンプレート画像を第
４図（１）に示すように４ｘ４画素で構成されるブロッ
クに分Ｇづ、このブロック１＋についてアダマール変換
しく第２図、ステップ１００）、アダマール係数ａ２〜
ａ＋６のうち最大の係数ａ０を求める。そしてこの係数
ａｎに対応する成分子ｎをこのブロックｔ、にっき代表
させ、これをブロックｔ１に対するテンブレ＝１・画像
ｔ′とし、同時に係数ａｎをブロックｔ１に対する特徴
量ｄ１とする。
４図（１）に示すように４ｘ４画素で構成されるブロッ
クに分Ｇづ、このブロック１＋についてアダマール変換
しく第２図、ステップ１００）、アダマール係数ａ２〜
ａ＋６のうち最大の係数ａ０を求める。そしてこの係数
ａｎに対応する成分子ｎをこのブロックｔ、にっき代表
させ、これをブロックｔ１に対するテンブレ＝１・画像
ｔ′とし、同時に係数ａｎをブロックｔ１に対する特徴
量ｄ１とする。
残りのブロックｔ２〜ｔＩ６につき同様にテンプレート
画像ｔ′と特徴量ｄ２〜ｄ＋ａを求める。そしてｔ′を
用いて第４図（２）に示す特徴テンプレートＴ′を求め
、特徴量ｄと共にメモリ１０内の特徴テンプレートメモ
リＩＯＡと特徴量メモリ１０Ｂとにメモリするものであ
る（第２図、ステップ１０２．１０４）。
画像ｔ′と特徴量ｄ２〜ｄ＋ａを求める。そしてｔ′を
用いて第４図（２）に示す特徴テンプレートＴ′を求め
、特徴量ｄと共にメモリ１０内の特徴テンプレートメモ
リＩＯＡと特徴量メモリ１０Ｂとにメモリするものであ
る（第２図、ステップ１０２．１０４）。
第１図で１２はフレームメモリ、１４はアダマール変換
手段である。第４図（３）に示す対象画像りはイメージ
センサ（図示せず）などで読み取られ、Ａ／Ｄ変換され
てフレームメモリ１２に一時メモリされる。この画像り
に対し、特徴テンプレートＴ′を用いてアダマール変換
を行う（ステップ１０６）。すなわち画像り内の位置（
ｕ。
手段である。第４図（３）に示す対象画像りはイメージ
センサ（図示せず）などで読み取られ、Ａ／Ｄ変換され
てフレームメモリ１２に一時メモリされる。この画像り
に対し、特徴テンプレートＴ′を用いてアダマール変換
を行う（ステップ１０６）。すなわち画像り内の位置（
ｕ。
■）に対してアダマール変換をした時に、特徴テンプレ
ートＴ′ との対応ブロックの同一周波数成分に対する
アダマール係数を求め、これを位置（ｕ、ｖ）の各ブロ
ックに対する特徴量ｄ′とする（ステップ１０８）。こ
の演算結果は第１図の特徴量メモリ１６にメモリされる
。
ートＴ′ との対応ブロックの同一周波数成分に対する
アダマール係数を求め、これを位置（ｕ、ｖ）の各ブロ
ックに対する特徴量ｄ′とする（ステップ１０８）。こ
の演算結果は第１図の特徴量メモリ１６にメモリされる
。
１８は不一致度演算手段であり、テンプレート画像ｔの
各ブロックの特徴量ｄと、対象画像りの位置（ｕ、ｖ）
における各ブロックの特徴量ｄ′との差の絶対値を全ブ
ロックにつき加算した不一致度Ａ、 Ａ＝Σ ｄ−ｄ′ を求めるものである（ステップ１１０）。
各ブロックの特徴量ｄと、対象画像りの位置（ｕ、ｖ）
における各ブロックの特徴量ｄ′との差の絶対値を全ブ
ロックにつき加算した不一致度Ａ、 Ａ＝Σ ｄ−ｄ′ を求めるものである（ステップ１１０）。
２０はこの不一致度Ａを所定値と比較する比較手段であ
る。この実施例においてはこの所定値は最小の不一致度
Ａ。とする。すなわち比較手段２０は適宜の値と比較し
て（ステップ１１２）、それ以上なら画像移動を行ない
（ステップ１１４）、以下ならばこの時の不一致度Ａを
最小不一致度Ａ。に置き換え（ステップ１１６）、全て
の画像領域につき繰り返す（ステップ１１８）。最小不
一致度Ａ。を入れ換えるたびに新しい最小不一致度Ａ。
る。この実施例においてはこの所定値は最小の不一致度
Ａ。とする。すなわち比較手段２０は適宜の値と比較し
て（ステップ１１２）、それ以上なら画像移動を行ない
（ステップ１１４）、以下ならばこの時の不一致度Ａを
最小不一致度Ａ。に置き換え（ステップ１１６）、全て
の画像領域につき繰り返す（ステップ１１８）。最小不
一致度Ａ。を入れ換えるたびに新しい最小不一致度Ａ。
が最小不一致度メモリ２２にメモリされ、そのアドレス
がアドレスメモリ２４にメモリされる。すると画像移動
手段２６は次の領域をフレームメモリ１２から読み出さ
せ、以上の動作を全画像域に対して繰り返す。この結果
全画像域に対して不一致度Ａが最小値Ａ。
がアドレスメモリ２４にメモリされる。すると画像移動
手段２６は次の領域をフレームメモリ１２から読み出さ
せ、以上の動作を全画像域に対して繰り返す。この結果
全画像域に対して不一致度Ａが最小値Ａ。
どなるアドレスをメモリ２４から求めることができ、こ
のアドレスの領域をマツチング領域とする（ステップ１
２０）。
のアドレスの領域をマツチング領域とする（ステップ１
２０）。
この実施例では全画像領域に対して不一致度Ａを求める
必要があるので、処理速度の増大にも限界が生じる。
必要があるので、処理速度の増大にも限界が生じる。
第５図は処理速度をさらに増大させ得る他の実施例の機
能ブロック図である。この実施例では特徴テンプレート
メモリＩＯＡ′には全てのブロックについての直流成分
を除きアダマール係数が最大となる周波数成分だけをメ
モリし、この時のアダマール係数（特徴量ｄ）も同様に
全てのブロックについて絶対値が最大のものだけメモリ
しておく。この特徴量ｄが最大側から何番目であるかは
順位メモリＩＯＣにメモリされている。そしてまず最大
時微量を持つブロックについて不一致度Ａ１を求め、こ
れを閾値設定手段２８で設定された閾値Ｔｈと比較する
。
能ブロック図である。この実施例では特徴テンプレート
メモリＩＯＡ′には全てのブロックについての直流成分
を除きアダマール係数が最大となる周波数成分だけをメ
モリし、この時のアダマール係数（特徴量ｄ）も同様に
全てのブロックについて絶対値が最大のものだけメモリ
しておく。この特徴量ｄが最大側から何番目であるかは
順位メモリＩＯＣにメモリされている。そしてまず最大
時微量を持つブロックについて不一致度Ａ１を求め、こ
れを閾値設定手段２８で設定された閾値Ｔｈと比較する
。
ＡＩ ＞Ｔｈ
ならばこの領域はミスマツチングとして他の領域に移る
。
。
ＡＩ ＜Ｔｈ
ならば、２番目に大きい特徴量を持つブロックに対して
同様に不一致度Ａ２を求め、ＡＩ ＋Ａ２を閾値Ｔｈと
比較する。
同様に不一致度Ａ２を求め、ＡＩ ＋Ａ２を閾値Ｔｈと
比較する。
Ａ ＋ ＋ Ａ ２ ＞ Ｔ ｈ
ならミスマツチングとする。
このように不一致度Ａを閾値と比較すれば、全画像域に
対して演算するまでもなく速やかに不一致領域を判別で
きるから、処理速度が著しく増大する。
対して演算するまでもなく速やかに不一致領域を判別で
きるから、処理速度が著しく増大する。
（発明の効果）
本発明は以上のように、対象画像とテンプレート画像を
アダマール変換し、画像の直流成分を除く最大側の１ま
たは複数のアダマール係数を用いて不一致度を求めるも
のであるから、照度変化による影響を受けることなく高
精度な処理が可能となる。また演算量が著しく少なくな
るので、高速４゜ 処理が可能である。ここに直流成分を除く最大側の１ま
たは複数のアダマール係数の差を各ブロックにつき加算
してゆき、この加算値が所定の閾値より大となったらそ
の時点でミスマツチングとすれば、演算量はさらに減少
し、処理速度はさらに増大する。
アダマール変換し、画像の直流成分を除く最大側の１ま
たは複数のアダマール係数を用いて不一致度を求めるも
のであるから、照度変化による影響を受けることなく高
精度な処理が可能となる。また演算量が著しく少なくな
るので、高速４゜ 処理が可能である。ここに直流成分を除く最大側の１ま
たは複数のアダマール係数の差を各ブロックにつき加算
してゆき、この加算値が所定の閾値より大となったらそ
の時点でミスマツチングとすれば、演算量はさらに減少
し、処理速度はさらに増大する。
さらに本発明の装置によれば、この発明の方法を直接利
用する画像処理装置が得られる。
用する画像処理装置が得られる。
第１図は本発明の一実施例の機能ブロック図、第２図は
その動作流れ図、グイ３図はアダマール変換画像の図、
第４図はパターン・マッチングの説明図である。また第
５図は他の実施例の機能ブロック図である。 １０・・・テンプレートメモリ、 １０Ａ、１０Ａ′・・・特徴テンブレー１〜メモリ、ｊ
−ＯＢ、１０Ｂ′・・・特徴量メモリ、１４・・・アダ
マール変換手段、 １６・・・特徴量メモリ、 １８・・・不一致度演算手段、 ２０・・・比較手段、２８・・・閾値設定手段。 特許出願人 ヤマハ発動機株式会社
その動作流れ図、グイ３図はアダマール変換画像の図、
第４図はパターン・マッチングの説明図である。また第
５図は他の実施例の機能ブロック図である。 １０・・・テンプレートメモリ、 １０Ａ、１０Ａ′・・・特徴テンブレー１〜メモリ、ｊ
−ＯＢ、１０Ｂ′・・・特徴量メモリ、１４・・・アダ
マール変換手段、 １６・・・特徴量メモリ、 １８・・・不一致度演算手段、 ２０・・・比較手段、２８・・・閾値設定手段。 特許出願人 ヤマハ発動機株式会社
Claims (6)
- （１）読取り対象画像がテンプレート画像と一致するマ
ッチング領域を求めるパターン・マッチング法による画
像処理方法において、 対象画像とテンプレート画像とにアダマール変換を行な
い、両画像のアダマール係数を用いて両画像の不一致度
を求めることを特徴とする画像処理方法。 - （２）読取り対象画像がテンプレート画像と一致するマ
ッチング領域を求めるパターン・マッチング法による画
像処理方法において、 テンプレート画像をアダマール変換し、直流成分を除く
絶対値最大側の１または複数の成分のアダマール係数を
求め、対象画像をアダマール変換した時の同一成分に対
するアダマール係数の差の絶対値の総和を求め、この総
和が最小となる画像領域をマッチング領域とすることを
特徴とする画像処理方法。 - （３）読取り対象画像がテンプレート画像と一致するマ
ッチング領域を求めるパターン・マッチング法による画
像処理方法において、 次の各工程を有することを特徴とする画像処理方法： ［ａ］前記テンプレート画像の所定画素範囲を１つのブ
ロックとしてアダマール変換を行う； ［ｂ］直流成分を除いた成分のうち絶対値最大の成分を
求め、この成分をブロックの要素とする特徴テンプレー
トを求める； ［ｃ］またこの絶対値最大の成分のアダマール係数をブ
ロックの特徴量ｄとする； ［ｄ］対象画像に対して前記特徴テンプレートを用いて
各ブロックの特徴量ｄ’を求める； ［ｅ］テンプレートと対象画像の特徴量の差の絶対値を
全てのブロックについて加算し、Ａ＝Σ｜ｄ−ｄ’｜ を不一致度と定義する； ［ｆ］不一致度Ａが最小となる対象画像領域をマッチン
グ領域とする。 - （４）読取り対象画像がテンプレート画像と一致するマ
ッチング領域を求めるパターン・マッチング法による画
像処理方法において、 次の各工程を有することを特徴とする画像処理方法： ［ａ］前記テンプレート画像の所定画素範囲を１つのブ
ロックとしてアダマール変換を行う； ［ｂ］直流成分を除いた成分のうち絶対値最大の成分を
求め、この成分をブロックの要素とする特徴テンプレー
トを求める； ［ｃ］またこの絶対値最大の成分のアダマール係数をブ
ロックの特徴量ｄとする； ［ｄ］対象画像に対して前記特徴テンプレートを用いて
各ブロックの特徴量ｄ’を求める； ［ｅ］テンプレートの特徴量ｄの絶対値が大きいブロッ
クから順に、テンプレートと対象画像の特徴量の差の絶
対値を加算する； ［ｆ］この加算値の加算の度に所定の閾値と比較し、加
算値がこの閾値より大となった時に対象画像領域がマッ
チング領域でないとする。 ［ｇ］全てのブロックについて加算した値が閾値より小
である対象画像領域の中で、加算値が最小となる対象画
像領域をマッチング領域とする。 - （５）読取り対象画像がテンプレート画像と一致するマ
ッチング領域を求めるパターン・マッチング法による画
像処理装置において、 テンプレートをアダマール変換した時の直流成分を除く
絶対値最大の成分を要素とする特徴テンプレートを記憶
する特徴テンプレートメモリと、この絶対値最大の成分
のアダマール係数を特徴量ｄとして記憶する特徴量メモ
リと、 この特徴テンプレートを用いて対象画像をアダマール変
換するアダマール変換手段と、 アダマール係数を特徴量ｄ’として記憶するメモリと、 特徴量の差の絶対値を加算して不一致度 Ａ＝Σ｜ｄ−ｄ’｜ を求める不一致度演算手段と、 この不一致度が所定値以下ならマッチング領域と判断す
る比較手段と、 を備えることを特徴とする画像処理装置。 - （６）読取り対象画像がテンプレート画像と一致するマ
ッチング領域を求めるパターン・マッチング法による画
像処理装置において、 テンプレートをアダマール変換した時の直流成分を除く
成分の絶対値最大の成分を要素とする特徴テンプレート
を記憶する特徴テンプレートメモリと、 絶対値最大の成分のアダマール係数を特徴量ｄとして記
憶すると共に少なくともその最大となるブロックを記憶
する特徴量メモリと、 特徴テンプレートを用いて対象画像をアダマール変換す
るアダマール変換手段と、 特徴量が大きいブロックから順にテンプレートと対象画
像の特徴量の差の絶対値を求め加算する演算手段と、 この差の絶対値が所定の閾値を越えることから対象画像
が不一致と判断する比較手段と、を備えることを特徴と
する画像処理装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63234835A JP2875263B2 (ja) | 1988-09-21 | 1988-09-21 | 画像処理方法および装置 |
| US07/410,176 US5101441A (en) | 1988-09-21 | 1989-09-20 | Method of and device for processing image |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63234835A JP2875263B2 (ja) | 1988-09-21 | 1988-09-21 | 画像処理方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0283786A true JPH0283786A (ja) | 1990-03-23 |
| JP2875263B2 JP2875263B2 (ja) | 1999-03-31 |
Family
ID=16977118
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63234835A Expired - Fee Related JP2875263B2 (ja) | 1988-09-21 | 1988-09-21 | 画像処理方法および装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5101441A (ja) |
| JP (1) | JP2875263B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005202860A (ja) * | 2004-01-19 | 2005-07-28 | Mitsubishi Electric Corp | 検出対象識別装置 |
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| US5517585A (en) * | 1993-05-05 | 1996-05-14 | Liberty Technologies, Inc. | System and method for stable analysis of sampled transients arbitrarily aligned with their sample points |
| US5799114A (en) * | 1993-05-05 | 1998-08-25 | Liberty Technologies, Inc. | System and method for stable analysis of sampled transients arbitrarily aligned with their sample points |
| US5729548A (en) * | 1995-12-29 | 1998-03-17 | Telefonaktiebolaget Lm Ericsson (Publ.) | High-speed optical data switching system |
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| JP3496559B2 (ja) | 1999-01-06 | 2004-02-16 | 日本電気株式会社 | 画像特徴量生成装置、並びに画像特徴量生成方法 |
| EP1089214A3 (en) * | 1999-09-30 | 2005-01-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Apparatus and method for image recognition |
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| US4817176A (en) * | 1986-02-14 | 1989-03-28 | William F. McWhortor | Method and apparatus for pattern recognition |
| JPH01187630A (ja) * | 1988-01-21 | 1989-07-27 | Mitsubishi Electric Corp | 大小比較回路 |
-
1988
- 1988-09-21 JP JP63234835A patent/JP2875263B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-09-20 US US07/410,176 patent/US5101441A/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005202860A (ja) * | 2004-01-19 | 2005-07-28 | Mitsubishi Electric Corp | 検出対象識別装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5101441A (en) | 1992-03-31 |
| JP2875263B2 (ja) | 1999-03-31 |
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