JPH0283824A - 磁気ディスク媒体の吸着力検査方法 - Google Patents
磁気ディスク媒体の吸着力検査方法Info
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- JPH0283824A JPH0283824A JP23352688A JP23352688A JPH0283824A JP H0283824 A JPH0283824 A JP H0283824A JP 23352688 A JP23352688 A JP 23352688A JP 23352688 A JP23352688 A JP 23352688A JP H0283824 A JPH0283824 A JP H0283824A
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- magnetic head
- magnetic
- disk medium
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野〕
本発明は、磁気記録再生装置に使用される磁気ディスク
媒体の磁気ヘッドとの間に生じる吸着力の大きさを検査
する方法に係り、特に検査効率を改善するのに好適な方
法に関する。
媒体の磁気ヘッドとの間に生じる吸着力の大きさを検査
する方法に係り、特に検査効率を改善するのに好適な方
法に関する。
磁気ディスク媒体の磁気ヘッドとの間に生じる吸着力を
検査する従来技術としては、例えば特開昭５６−３４３
７号公報に示す技術のものがある。 その従来技術は、
スピンドルに取付けた磁気ディスク上の所定位置に、通
常の使用時の数倍の圧で磁気ヘッドを載せ、スピンドル
に取付けたひもを引張って磁気ディスクを回転させ、そ
のときひもに働く力をテンションゲージで測定すること
により、通常使用時の長期ロード圧による磁気ディスク
及び磁気間の飽和吸着力を求めるようにしている。
検査する従来技術としては、例えば特開昭５６−３４３
７号公報に示す技術のものがある。 その従来技術は、
スピンドルに取付けた磁気ディスク上の所定位置に、通
常の使用時の数倍の圧で磁気ヘッドを載せ、スピンドル
に取付けたひもを引張って磁気ディスクを回転させ、そ
のときひもに働く力をテンションゲージで測定すること
により、通常使用時の長期ロード圧による磁気ディスク
及び磁気間の飽和吸着力を求めるようにしている。
また他の従来技術としては、アンシイ・スタンダードｒ
Ｘ３Ｂ７／１９８３−５９ＪアペンデイツクスＩＩＩ（
ＡＮＳＹ ５ＴＡＮＤＡＲＤ’Ｘ３Ｂ？／１９８３−
５９ＪＡＰＥＮＤＩＸｍ）に、スピンドルに取付けた磁
気ディスクに磁気ヘッドを載せ、スピンドルによって磁
気ディスクを回転させたとき、磁気ヘッドに取付けたひ
もに働く力を、歪ゲージの抵抗変化を検出するロードセ
ルの電気信号として出力することにより、磁気ディスク
及び磁気ヘッド間の吸着力を求めるようにしている。
Ｘ３Ｂ７／１９８３−５９ＪアペンデイツクスＩＩＩ（
ＡＮＳＹ ５ＴＡＮＤＡＲＤ’Ｘ３Ｂ？／１９８３−
５９ＪＡＰＥＮＤＩＸｍ）に、スピンドルに取付けた磁
気ディスクに磁気ヘッドを載せ、スピンドルによって磁
気ディスクを回転させたとき、磁気ヘッドに取付けたひ
もに働く力を、歪ゲージの抵抗変化を検出するロードセ
ルの電気信号として出力することにより、磁気ディスク
及び磁気ヘッド間の吸着力を求めるようにしている。
ところで、上記に示す従来技術では、何れも磁気ディス
クの磁気ヘッドとの間に生じる吸着力を検査するため、
磁気ディスク上の半径位置に磁気ヘッドを載せて磁気デ
ィスクを回転するようにしている。しかし、磁気ディス
クの半径位置による吸着力の差を検査する場合、磁気デ
ィスクの半径位置の夫々に磁気ヘッドを載せ、その度に
磁気ディスクを回転させなければならないので、検査効
率が悪いと云う問題がある。しかも、検査に際しては、
テンションゲージ或いはロードセル等の専用の測定系が
必要であり、それらを用意しなければならない問題があ
る。
クの磁気ヘッドとの間に生じる吸着力を検査するため、
磁気ディスク上の半径位置に磁気ヘッドを載せて磁気デ
ィスクを回転するようにしている。しかし、磁気ディス
クの半径位置による吸着力の差を検査する場合、磁気デ
ィスクの半径位置の夫々に磁気ヘッドを載せ、その度に
磁気ディスクを回転させなければならないので、検査効
率が悪いと云う問題がある。しかも、検査に際しては、
テンションゲージ或いはロードセル等の専用の測定系が
必要であり、それらを用意しなければならない問題があ
る。
本発明の目的は、前記従来技術の問題点に鑑み、浮上特
性検査装置を利用して、簡単に吸着力を検査し得る磁気
ディスク媒体の吸着力検査方法を提供することにある。
性検査装置を利用して、簡単に吸着力を検査し得る磁気
ディスク媒体の吸着力検査方法を提供することにある。
Ｃ課題を解決するための手段〕
本発明方法においては、停止中と回転中との何れか一方
の状態にある磁気ディスク上に磁気ヘッドを半径方向に
移動させ、磁気ディスクと磁気ヘッド間に生じるすべり
接触により磁気ヘッドを振動させ、磁気ヘッドの振動の
大小に応じて電気的出力信号に変換し、その電気的出力
信号を予め設定した基準レベルと比較して磁気ディスク
の磁気ヘッドとの吸着力の大きさを判定するようにして
いる。
の状態にある磁気ディスク上に磁気ヘッドを半径方向に
移動させ、磁気ディスクと磁気ヘッド間に生じるすべり
接触により磁気ヘッドを振動させ、磁気ヘッドの振動の
大小に応じて電気的出力信号に変換し、その電気的出力
信号を予め設定した基準レベルと比較して磁気ディスク
の磁気ヘッドとの吸着力の大きさを判定するようにして
いる。
本発明方法では、前述の如く、磁気ディスク面上に磁気
ヘッドを半径方向に移動させ、両者間に生じるすべり接
触により磁気ヘッドを振動させ、磁気ヘッドの振動の大
小に応じて電気的出力信号に変換し、その電気的出力信
号を予め設定の基準レベルと比較して吸着力の大きさを
判定するようにしたので、磁気ヘッドを磁気ディスク上
の半径位置に単に移動させることによって吸着力を判定
できる。
ヘッドを半径方向に移動させ、両者間に生じるすべり接
触により磁気ヘッドを振動させ、磁気ヘッドの振動の大
小に応じて電気的出力信号に変換し、その電気的出力信
号を予め設定の基準レベルと比較して吸着力の大きさを
判定するようにしたので、磁気ヘッドを磁気ディスク上
の半径位置に単に移動させることによって吸着力を判定
できる。
その結果、検査工程が一度で済み、検査工程を短縮でき
るので、吸着力を簡単に検査でき、しかも浮上特性検査
装置をそのまま利用することによって吸着力の検査を行
なえるので、専用の装置を必要としない。
るので、吸着力を簡単に検査でき、しかも浮上特性検査
装置をそのまま利用することによって吸着力の検査を行
なえるので、専用の装置を必要としない。
以下、本発明方法を第１図乃至第５図により説明する。
第１図は本発明方法を実施するための吸着力検査装置の
一実施例を示す全体図、第２図は磁気ディスクと磁気ヘ
ッドとのすべり接触状態を示す要部の拡大図、第３図及
び第４図は潤滑剤の種々の塗布量における磁気ディスク
と出力信号との関係を示す説明図、第５図は潤滑剤量と
出力信号と吸着力との関係を示す説明図である。
一実施例を示す全体図、第２図は磁気ディスクと磁気ヘ
ッドとのすべり接触状態を示す要部の拡大図、第３図及
び第４図は潤滑剤の種々の塗布量における磁気ディスク
と出力信号との関係を示す説明図、第５図は潤滑剤量と
出力信号と吸着力との関係を示す説明図である。
本発明方法を実施するための吸着力検査装置は、磁気デ
ィスク１上を浮上する磁気ヘッド２の浮上特性検査装置
を利用したものであって、支持体３と、磁気ヘッド用の
移動機構４と、変換部としての圧電素子８と、信号判定
部１０とを育している。
ィスク１上を浮上する磁気ヘッド２の浮上特性検査装置
を利用したものであって、支持体３と、磁気ヘッド用の
移動機構４と、変換部としての圧電素子８と、信号判定
部１０とを育している。
ここで、吸着力検査装置の構成を説明する前に、浮上特
性検査装置の概要を述べると、磁気ディスク１を支持体
３により通常の使用時と同様に高速で回転させ、その磁
気ディスク１面上に磁気へラド２を移動して、該ヘッド
２を磁気ディスク１面上に浮上させ、磁気ディスク１面
の突起物に磁気へラド２が衝突したとき、該ヘッド２が
圧電素子８と共に振動することにより圧電素子８が電気
的信号を出力し、かくして磁気ディスク１面の平滑度を
検査するようにしている。
性検査装置の概要を述べると、磁気ディスク１を支持体
３により通常の使用時と同様に高速で回転させ、その磁
気ディスク１面上に磁気へラド２を移動して、該ヘッド
２を磁気ディスク１面上に浮上させ、磁気ディスク１面
の突起物に磁気へラド２が衝突したとき、該ヘッド２が
圧電素子８と共に振動することにより圧電素子８が電気
的信号を出力し、かくして磁気ディスク１面の平滑度を
検査するようにしている。
次に、前記吸着力検査装置の具体的構成を述べる。
即ち、前記支持体３は、磁気ディスク１を停止状態で支
持、或いは回転支持するものであって、スピンドルモー
タで構成している。なお、支持体３は磁気ディスク１を
回転する場合、磁気ヘッド３が浮上しないように低速回
転させるようにする。
持、或いは回転支持するものであって、スピンドルモー
タで構成している。なお、支持体３は磁気ディスク１を
回転する場合、磁気ヘッド３が浮上しないように低速回
転させるようにする。
前記磁気ヘッド用の移動機構４は、磁気ヘッド２をアー
ム等を介して取付けたキャリッジ５と、該キャリッジ５
を直線移動させる駆動体６とを有し、該駆動体６によっ
てキャリッジ５を駆動し、磁気ヘッド２を磁気ディスク
ｌ上に半径方向に移動すると、磁気ディスク１面の半径
位置と磁気ヘッド２間に生じるすべり接触によって磁気
ヘッド２を振動（弾性波）させるようにしている。なお
、すべり接触は、磁気へラド２の移動時、磁気ディスク
１面に塗布された潤滑剤７の量によって左右される。
ム等を介して取付けたキャリッジ５と、該キャリッジ５
を直線移動させる駆動体６とを有し、該駆動体６によっ
てキャリッジ５を駆動し、磁気ヘッド２を磁気ディスク
ｌ上に半径方向に移動すると、磁気ディスク１面の半径
位置と磁気ヘッド２間に生じるすべり接触によって磁気
ヘッド２を振動（弾性波）させるようにしている。なお
、すべり接触は、磁気へラド２の移動時、磁気ディスク
１面に塗布された潤滑剤７の量によって左右される。
また前記移動機構４は、支持体３による磁気ディスク１
の回転時、キャリッジ５の駆動によって磁気へラド２を
磁気ディスク１面の所望位置に位置させ、磁気ディスク
１面の円周位置と磁気ヘッド２との両者間に生じるすべ
り接触により磁気ヘッド２を振動（弾性波）させるよう
にもしている。
の回転時、キャリッジ５の駆動によって磁気へラド２を
磁気ディスク１面の所望位置に位置させ、磁気ディスク
１面の円周位置と磁気ヘッド２との両者間に生じるすべ
り接触により磁気ヘッド２を振動（弾性波）させるよう
にもしている。
そのため、磁気ヘッド２は停止中の磁気ディスク１への
移動時及び回転中の磁気ディスク１への位置決め時、図
示しない手段により所望の圧で磁気ディスク１面に付勢
されている。
移動時及び回転中の磁気ディスク１への位置決め時、図
示しない手段により所望の圧で磁気ディスク１面に付勢
されている。
前記圧電素子８は第２図に明示するように、磁気ヘッド
２に取付部材９を介し搭載されている。
２に取付部材９を介し搭載されている。
そして、磁気ヘッド２が磁気ディスクエの半径方向に移
動することによって磁気ヘッド２が振動したとき、その
磁気ヘッド２と共に振動することにより、振動の大きさ
を電気的出力信号に変換するようにしている。
動することによって磁気ヘッド２が振動したとき、その
磁気ヘッド２と共に振動することにより、振動の大きさ
を電気的出力信号に変換するようにしている。
例えば、前記圧電素子８は、停止中の磁気ディスク１上
を磁気へラド２が移動したとき、磁気ディスク１面に潤
滑剤７を塗布していないと、振動が大きくなることによ
って第３図（ａ）に示すように出力信号が大となり、潤
滑剤７を少量塗布していると、同図（ｂ）に示すような
出力信号となり、潤滑剤７を多量に塗布していると、同
図（Ｃ）に示すように振動が小さいことによって出力信
号が小となり、さらに潤滑剤７を磁気ディスク１の内周
側より外周側に多量に塗布していると、その潤滑剤の量
に応じ同図（ロ）に示すように振動が異なることによっ
て出力信号が変化するようにしている。なお、第３図で
は磁気ディスク１が停止時の場合であるが、回転時の場
合であっても半径方向においては略同様である。
を磁気へラド２が移動したとき、磁気ディスク１面に潤
滑剤７を塗布していないと、振動が大きくなることによ
って第３図（ａ）に示すように出力信号が大となり、潤
滑剤７を少量塗布していると、同図（ｂ）に示すような
出力信号となり、潤滑剤７を多量に塗布していると、同
図（Ｃ）に示すように振動が小さいことによって出力信
号が小となり、さらに潤滑剤７を磁気ディスク１の内周
側より外周側に多量に塗布していると、その潤滑剤の量
に応じ同図（ロ）に示すように振動が異なることによっ
て出力信号が変化するようにしている。なお、第３図で
は磁気ディスク１が停止時の場合であるが、回転時の場
合であっても半径方向においては略同様である。
また前記圧電素子８は、磁気ディスク１面の所望の円周
位置と磁気ヘッド２間に生じるすべり接触によって磁気
ヘッド２が振動したときも、前述と同様に振動して電気
出力信号に変換するようにしている。
位置と磁気ヘッド２間に生じるすべり接触によって磁気
ヘッド２が振動したときも、前述と同様に振動して電気
出力信号に変換するようにしている。
例えば、圧電素子８は、回転中の磁気ディスク１上に磁
気ヘッド２が位置決めされたとき、潤滑剤７の有無、量
に応じ第４図（ａ）〜（ｄ）に示す如く振動が異なるこ
とにより出力信号が変化するようにしている。この場合
、磁気ヘッド２の磁気ディスク１への位置決めに際して
は、予め統計的に吸着力の差の大きい位置を求めておき
、その位置に移動機構４によって磁気ヘッド２を位置決
めさせるようにしており、例えばＣ３Ｓゾーンを有する
磁気ディスク１ではそのＣ５Ｓゾーン位置に位置決めさ
せる。
気ヘッド２が位置決めされたとき、潤滑剤７の有無、量
に応じ第４図（ａ）〜（ｄ）に示す如く振動が異なるこ
とにより出力信号が変化するようにしている。この場合
、磁気ヘッド２の磁気ディスク１への位置決めに際して
は、予め統計的に吸着力の差の大きい位置を求めておき
、その位置に移動機構４によって磁気ヘッド２を位置決
めさせるようにしており、例えばＣ３Ｓゾーンを有する
磁気ディスク１ではそのＣ５Ｓゾーン位置に位置決めさ
せる。
一方、前記信号判定部１０は、圧電素子８の出力側に増
幅器１１を介し接続されており、圧電素子８による出力
信号の大小を、予め統計的に求めた基準レベルに基づい
て比較することにより、磁気ディスク１の磁気へラド２
との吸着力の大小を判定するようにしている。
幅器１１を介し接続されており、圧電素子８による出力
信号の大小を、予め統計的に求めた基準レベルに基づい
て比較することにより、磁気ディスク１の磁気へラド２
との吸着力の大小を判定するようにしている。
ここで、前記基準データについて第４図により説明する
。第４図は潤滑剤量と圧電素子の出力信号と吸着力との
関係を示している。同図において、圧電素子８の出力は
前述の如く、潤滑剤７の量に反して次第に大きくなる。
。第４図は潤滑剤量と圧電素子の出力信号と吸着力との
関係を示している。同図において、圧電素子８の出力は
前述の如く、潤滑剤７の量に反して次第に大きくなる。
一方、吸着力は潤滑剤７の量がある程度以上増加すると
、その表面張力によって磁気ヘッド２と磁気ディスクＩ
双方の引き付は力の増加及び粘性抵抗力により大きくな
り、また潤滑剤７の量が極端に少なくなり過ぎると、磁
気ヘッド２が磁気ディスク１を直接かじるヘッドクラッ
シュ現象が生じることにより大きくなる。
、その表面張力によって磁気ヘッド２と磁気ディスクＩ
双方の引き付は力の増加及び粘性抵抗力により大きくな
り、また潤滑剤７の量が極端に少なくなり過ぎると、磁
気ヘッド２が磁気ディスク１を直接かじるヘッドクラッ
シュ現象が生じることにより大きくなる。
】 ０
そこで、ヘッドクラッシュ現象を防ぎ得るように潤滑剤
７の最小量Ｌ ＊ｆｎと、吸着力の著しい増加による磁
気ディスクと磁気ヘッドとの吸着現象等を防ぎ得るため
の最大許容吸着力Ｆ ｍａｘと対応するように潤滑剤７
の最大量Ｌｍａｘとを適切に選定し、これら潤滑剤７の
最小量Ｉ、＋ｉｎ及び最大量Ｌ ｖａａｘ間に相当する
圧電素子８の出力範囲Ｐｎ＋ｉｎ〜Ｐｍａｘを基準レベ
ルとしている。
７の最小量Ｌ ＊ｆｎと、吸着力の著しい増加による磁
気ディスクと磁気ヘッドとの吸着現象等を防ぎ得るため
の最大許容吸着力Ｆ ｍａｘと対応するように潤滑剤７
の最大量Ｌｍａｘとを適切に選定し、これら潤滑剤７の
最小量Ｉ、＋ｉｎ及び最大量Ｌ ｖａａｘ間に相当する
圧電素子８の出力範囲Ｐｎ＋ｉｎ〜Ｐｍａｘを基準レベ
ルとしている。
従って、前記信号判定部１０は圧電素子８からの出力を
基準レベルＰｌ＋１ｉｎ−Ｐ＋ｓａｘと比較し、該基準
レベルより大きいか否かによって吸着力の大きさを判定
するようにしている。
基準レベルＰｌ＋１ｉｎ−Ｐ＋ｓａｘと比較し、該基準
レベルより大きいか否かによって吸着力の大きさを判定
するようにしている。
なお、前記吸着力検査装置においては、磁気ディスク】
を回転させ、その表面に潤滑剤７を吹付けることによっ
て潤滑剤７の塗布工程を行う場合、磁気ディスク１上の
半径方向に潤滑剤７の厚みにばらつきが生じやすく、吸
着力に差が起こることから、磁気ディスク１の半径方向
の吸着力の大きさを判定することが好ましく、また磁気
ディスク１を潤滑剤７に浸漬させる塗布工程の場合、磁
気ディスク１０円周方向に潤滑剤７の厚みにばらつきが
住しやすく、吸着力に差が起こることから、磁気ディス
ク１の円周方向の吸着力の大きさを判定することが好ま
しく、何れにしろ、磁気ディスク１表面の吸着力のばら
つき等によって適宜に選定される。
を回転させ、その表面に潤滑剤７を吹付けることによっ
て潤滑剤７の塗布工程を行う場合、磁気ディスク１上の
半径方向に潤滑剤７の厚みにばらつきが生じやすく、吸
着力に差が起こることから、磁気ディスク１の半径方向
の吸着力の大きさを判定することが好ましく、また磁気
ディスク１を潤滑剤７に浸漬させる塗布工程の場合、磁
気ディスク１０円周方向に潤滑剤７の厚みにばらつきが
住しやすく、吸着力に差が起こることから、磁気ディス
ク１の円周方向の吸着力の大きさを判定することが好ま
しく、何れにしろ、磁気ディスク１表面の吸着力のばら
つき等によって適宜に選定される。
次に、実施例の吸着力検査装置の動作に関連して、本発
明方法の実施例を述べる 支持体３により磁気ディスク１を停止させておき、その
磁気ディスク１上に移動機構４により磁気ヘッド２を半
径方向に移動させ、磁気ヘッド２と磁気ディスク１の半
径位置間に生じるすべり接触によって磁気ヘッド２が振
動すると、圧電素子８が前記振動の大小を電気的信号に
変換して出力する。
明方法の実施例を述べる 支持体３により磁気ディスク１を停止させておき、その
磁気ディスク１上に移動機構４により磁気ヘッド２を半
径方向に移動させ、磁気ヘッド２と磁気ディスク１の半
径位置間に生じるすべり接触によって磁気ヘッド２が振
動すると、圧電素子８が前記振動の大小を電気的信号に
変換して出力する。
一方、信号判定部１０は、圧電素子８が出力すると、そ
の出力信号を基準レベルＰ＋ｉｎ−Ｐｍａｘと比較する
ことにより、磁気ディスク１の磁気ヘッド２との吸着力
の大きさを判定する。
の出力信号を基準レベルＰ＋ｉｎ−Ｐｍａｘと比較する
ことにより、磁気ディスク１の磁気ヘッド２との吸着力
の大きさを判定する。
従って、本発明方法では、磁気ヘッド２を磁気ディスク
１上の半径方向に単に移動させることにより、吸着力の
大小を確実に判定できる。その結果、従来のように磁気
ディスクの半径方向の夫々の位置に磁気ヘッドをのせ、
その度に計測するものに比べると、検査工程が一度で済
み、検査工程を短縮できるので、吸着力を簡単にかつ短
時間で検査できる。しかも、浮上特性検査装置をそのま
ま利用することによって吸着力の検査を行なえるので、
専用の装置を必要としない。
１上の半径方向に単に移動させることにより、吸着力の
大小を確実に判定できる。その結果、従来のように磁気
ディスクの半径方向の夫々の位置に磁気ヘッドをのせ、
その度に計測するものに比べると、検査工程が一度で済
み、検査工程を短縮できるので、吸着力を簡単にかつ短
時間で検査できる。しかも、浮上特性検査装置をそのま
ま利用することによって吸着力の検査を行なえるので、
専用の装置を必要としない。
また、本発明方法では、回転する磁気ディスク１面の所
望位置に磁気ヘッド２を位置させ、磁気ディスク１面の
円周位置と磁気ヘッド２間に生じるすべり接触によって
磁気ヘッド２を振動させることにより、吸着力の大きさ
を確実に判定できるので、上記と同様の効果がある。
望位置に磁気ヘッド２を位置させ、磁気ディスク１面の
円周位置と磁気ヘッド２間に生じるすべり接触によって
磁気ヘッド２を振動させることにより、吸着力の大きさ
を確実に判定できるので、上記と同様の効果がある。
さらに、本発明方法では、回転する磁気ディスク１面の
半径方向に磁気へラド２を移動させ、磁気ディスク１面
の半径位置、円周位置と磁気ヘッド２間に生じるすべり
接触によって磁気ヘッド２を振動させることにより、磁
気ディスク１面の半径位置と円周位置双方の吸着力を判
定できるので、より精緻に検査できる。
半径方向に磁気へラド２を移動させ、磁気ディスク１面
の半径位置、円周位置と磁気ヘッド２間に生じるすべり
接触によって磁気ヘッド２を振動させることにより、磁
気ディスク１面の半径位置と円周位置双方の吸着力を判
定できるので、より精緻に検査できる。
以上述べたように、本発明は、請求項１によれば、磁気
ヘッドを磁気ディスクの半径方向に移動させることによ
って吸着力の大小を判定できるように構成したので、検
査工程を短縮でき、しかも浮上特性検査装置を利用する
ことによって検査できる結果、Ｎ単かつ短時間で吸着力
を検査し得る効果がある。
ヘッドを磁気ディスクの半径方向に移動させることによ
って吸着力の大小を判定できるように構成したので、検
査工程を短縮でき、しかも浮上特性検査装置を利用する
ことによって検査できる結果、Ｎ単かつ短時間で吸着力
を検査し得る効果がある。
また請求項２によれば、磁気ヘッドを回転する磁気ディ
スク上に予め統計的に求めた所望位置に位置決めするこ
とによって吸着力の大小を判定できるように構成したの
で、上記と同様の効果を奏し得る。
スク上に予め統計的に求めた所望位置に位置決めするこ
とによって吸着力の大小を判定できるように構成したの
で、上記と同様の効果を奏し得る。
第１図は本発明方法を実施するための吸着力検査装置の
一実施例を示す全体図、第２図は磁気ディスクと磁気ヘ
ッドとのすべり接触状態を示す要部の拡大図、第３図（
ａ）〜（ｄ）は潤滑剤の有無、塗布】 ４ 量の差における磁気ディスクの半径位置と圧電素子の出
力信号との関係を夫々示す説明図、第４図（ａ）〜（ｄ
）は同じく潤滑剤の有無、塗布量の差における磁気ディ
スクの円周位置と圧電素子の出力信号との関係を夫々示
す説明図、第５図は圧電素子の出力信号と潤滑剤の塗布
量と吸着力との関係を示す説明図である。 ■・・・磁気ディスク、２・・・磁気ヘッド、３・・・
支持体、４・・・移動機構、７・・・潤滑剤、８・・・
圧電素子、１０・・・信号判定部、Ｐｍｉｎ−Ｐｍａｘ
・・・基準レベル。 代理人 弁理士 秋 本 正 実 第 図 第 図 （的
一実施例を示す全体図、第２図は磁気ディスクと磁気ヘ
ッドとのすべり接触状態を示す要部の拡大図、第３図（
ａ）〜（ｄ）は潤滑剤の有無、塗布】 ４ 量の差における磁気ディスクの半径位置と圧電素子の出
力信号との関係を夫々示す説明図、第４図（ａ）〜（ｄ
）は同じく潤滑剤の有無、塗布量の差における磁気ディ
スクの円周位置と圧電素子の出力信号との関係を夫々示
す説明図、第５図は圧電素子の出力信号と潤滑剤の塗布
量と吸着力との関係を示す説明図である。 ■・・・磁気ディスク、２・・・磁気ヘッド、３・・・
支持体、４・・・移動機構、７・・・潤滑剤、８・・・
圧電素子、１０・・・信号判定部、Ｐｍｉｎ−Ｐｍａｘ
・・・基準レベル。 代理人 弁理士 秋 本 正 実 第 図 第 図 （的
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、磁気ディスク媒体を停止状態と回転状態との何れか
一方の状態に支持し、その磁気ディスク媒体面上に磁気
ヘッドを半径方向に移動させて、磁気ディスク媒体と磁
気ヘッド間に生じるすべり接触により磁気ヘッドを振動
させ、該磁気ヘッドの振動の大小に応じて電気的出力信
号に変換し、その電気的出力信号を予め設定した基準レ
ベルと比較して磁気ディスク媒体の磁気ヘッドとの吸着
力の大きさを判定することを特徴とする磁気ディスク媒
体の吸着力検査方法。 ２、磁気ディスク媒体を回転支持し、その磁気ディスク
媒体面の予め統計的に求めた所望位置に磁気ヘッドを位
置決めさせて、磁気ディスク媒体と磁気ヘッド間に生じ
るすべり接触により磁気ヘッドを振動させ、該磁気ヘッ
ドの振動の大小に応じて電気的出力信号に変換し、その
電気的出力信号を予め設定した基準レベルと比較して磁
気ディスク媒体の磁気ヘッドとの吸着力の大きさを判定
することを特徴とする磁気ディスク媒体の吸着力検査方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23352688A JPH0283824A (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 磁気ディスク媒体の吸着力検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23352688A JPH0283824A (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 磁気ディスク媒体の吸着力検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0283824A true JPH0283824A (ja) | 1990-03-23 |
Family
ID=16956421
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23352688A Pending JPH0283824A (ja) | 1988-09-20 | 1988-09-20 | 磁気ディスク媒体の吸着力検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0283824A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007299473A (ja) * | 2006-04-28 | 2007-11-15 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 磁気ディスク評価方法 |
| JP2010192065A (ja) * | 2009-02-20 | 2010-09-02 | Hitachi Maxell Ltd | 磁気テープ表層における潤滑剤層の厚み評価方法 |
-
1988
- 1988-09-20 JP JP23352688A patent/JPH0283824A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007299473A (ja) * | 2006-04-28 | 2007-11-15 | Fuji Electric Device Technology Co Ltd | 磁気ディスク評価方法 |
| JP2010192065A (ja) * | 2009-02-20 | 2010-09-02 | Hitachi Maxell Ltd | 磁気テープ表層における潤滑剤層の厚み評価方法 |
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