JPH0285705A - 物品の各部分の輪郭を測定する測定装置および測定方法、および複数の型によって製造された物品を検査する装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、一般的に言えば物体の寸法を測定するため
の光学的マイクロメータに、更に具体的にはびんのよう
な物体の輪郭を測定するための光学的走査装置に関する
ものである。この発明は、また、複数の型（マルチプル
モールド）を使ったびん製造プラントにおける空洞検知
シ７テムと組合せて上記の装置を使用する方法にも関連
している０ 〔発明の背景〕 光学的マイクロメータは、この明細書中で８考資料とし
て引用する米国特許第４０８２４６３号「較正された光
学的マイクロメータ」に開示されているように、従来か
ら良く知られたものである。この米国特許で開示された
光学的マイクロメータにおいては、正確な寸法をもった
格子を測定器の測定域内の光路中に一時的に挿入する方
式をとっている。光ビームは、この格子を横切りながら
測定域を走査して、得られた情報を電子的なメモリに記
録する。次に、この測定域内に測定しようとすする物品
を置いて光ビームで走査し、この走査の結果得られた情
報を較正用データと比較してその物品の正確な測定値を
出している。

この明細書中に参考資料として引用するまた別の米国特
許第４０７４９３８号は細長い集束ビームを５使用した
光学的な寸法（ディメンション）測定装置を開示してい
る。同じ様に８考資料として引用する米国特許第４０９
’１５８号は光学的マイクロメータ用の半最大値（ハー
フ・マキシマム）閾値回路を開示している。しかしそれ
らのマイクロメ−〇夕は、被走査物品の直径を測定でき
るに過ぎずその輪郭を測定することができない。輪郭（
プロファイル）とは、その被測定物体を側方から見た場
合の寸法的な表示、すなわち、その物体の諸処形寸法と
その寸法（ディメンション）相互間の関係、の意味であ
る。

一般に、輪郭は、これまで、幾つかの寸法が所要の限界
内にあるかどうかを検査する「通シ止まシ」ゲージを使
って手動測定されていた。この様な手動測定は時間がか
！ると共に高精度を得るこｉとができない。

〔発明の概要〕

従って、この発明の一つの目的は、被測定物体の輪郭を
決定するために光学的マイクロメータを使用した光学的
輪郭測定装置を提供することである。

この発明の他の目的は、被測定物体に直かに接触するこ
となく放射エネルギのビームでその物体を走査すること
によって、その輪郭を測定できる光学的輪郭測定装置を
提供することである。

この発明のまた別の目的は、びん、自動車部品およびブ
ックチック製品などの物品の輪郭を測定する光学的輪郭
測定装置を提供することである。

この発明の更に他の目的は、手動による検査や測定より
も一層正確で迅速に物品の輪郭を測定することができる
光学的輪郭測定装置を提供することである。

この発明の更に別の目的は、びんの製造プラントにおい
て、そのびんの製造工程とうまく適応して連続的なびん
の軸幹測定に使用できる光学的輪郭測定装置を提供する
ことである。

この発明の更にまた別の目的は、びん製造プラントにお
ける空洞（キャビティ）識別装置および成形（モールデ
ィング）装置と組合せ使用して、許容できない輪郭をも
ったびんを作シ出す原因となる空洞を識別する働きをす
る光学的輪郭測定装置を提供することである。

この発明の上記以外の目的は、びん製造ブラントの成形
作業をモニタするために、びんの或種の輪郭測定をラン
ダムに行なうことができる光学的輪郭測定装置を提供す
ることである。

この発明の一つの形態は、物品の幾つかの部分の輪郭を
測定する装置を具えている。また、輪郭を求められるべ
きその物品の上記部分を所定の平面と整列させるための
手段も持っている。更に、成る手段が上記所定の平面と
整列した物品の各部分の幅を測定し、またその物品の各
部分の第１基準からの距離を測定するようになっている
。

この発明の別の形は、物品の各部分の輪郭を測定するた
めの、次の諸段階から成る方法である。

この諸段階とは、輪郭を測定しようとする物品の各部分
を所定の平面と整列させる段階、この物品の所定平面と
整列した各部分の幅を測定する段階、および上記物品の
各部分の第１基準からの距離を測定する段階である。

この発明のまた別の形は、複数の空洞型（キャピテイ・
モードル）で作られた物品を検査する装置である。物品
を成形した空洞を確認する手段もある。物品の各部分を
所定の平面と整列させ、その部分の幅と第１の基準から
その部分までの距離を測定する手段がある。そして別の
手段で、測定された輪郭を成る基準と比較する。

上記以外の目的と特徴は、以後の説明で一部は明らかに
なシまた他の一部は指摘することになろう。

〔実施例の詳細な説明〕

第１図には、この発明による光学的輪郭測定装置の一例
が参照数字１００で示されている。この測装置１００は
、たとえば、びん、自動車部品、プフヌチツク部品およ
び他の工業製品という様な任意物品の輪郭の測定に使用
することを意図している。

この発明の一つの好ましい実施例では、装置１００を、
びん成形（モールディング）装置１０３で製造されたび
ん１０２を検査する全体として参照数字１０１で示され
るびん検査装置のような、複数の空洞すなわち型（モー
ルド）で製造された物品の検査シヌテムの一部として、
使用することを意図している。この明細書中で使用する
用語「輪郭」とは、物品を側方から見た場合の寸法的表
示、すなわち、物品の外形寸法とその物品の各部分の寸
法相互間の空間的関係を言うものとする。たとえば、円
筒状の本体部に向ってテーパのついた頚部をもつびんの
輪郭は、その頚部と本体部における種々の直径、および
頚部、テーパ部および本体部の高さ等を含んでいる。こ
れらの測定は、成る（垂直の〕第１の基準に対してびん
を種々の側から見てその楕円率（ひずみ度）も測定する
ように行う。

びんの傾きは、そのびんを実質的に水平な面に実質的に
垂直に立てたときの、その面の法線に対するびんの傾角
である。びんのこの傾きは、垂直基準に対して比較した
場合の頚部、テーパおよび本体部の間の空間的関係を規
定するもので、輪郭の一部をなしている。びんの偏シは
、底面と頂面、すなわち封止面と後端面（ヒール）の間
の空間的関係を規定するもので、びんを種々の側面から
見た場合の高さを測定することによって決定できる。

更に内部に連通ずる開口を持った物体の内側輪郭もこの
装置１００によって測定できる。

びん成形（モールディング）装置１０３は、一般に、溶
融ガヲヌまたはブラフチックからびんを成形するために
使用する複数個の型（モールド）または空洞（キャビテ
ィ）を持った機械より成るものである。この機械の各型
は、特定の空洞による製品を容易に識別できるように独
特の目印（マーキング）が付けられている。この種の従
来ンヌテムの多くは空洞識別を行なうようになっている
０たとえば、各空洞にはびんの底または側面に目印をつ
けるようになっており、この目印を検出することにより
そのびんを作るのに使った型を確認することができる。

独特の間隔やデザインの目印をつけるような空洞を使用
して、びんの底板または後端面に種々の間隔をもつ次回
心円、複数のドツトあるいはその他の目印を刻印するこ
とができる。

びん成形装置１０３によってびんが成形製造された後、
これらのびん１０２は高速の製品コンベヤ１０４に載置
されて、そのびん（すなわち、製造された製品を成形す
るのに使用した空洞を識別するための、たとえば空洞識
別シヌテム１０５のような手段に送られる。コンベヤ１
０４は、たとえば水平のベルト・コンベヤま次はびんを
押出し移送するチャンネルのような、この技術分野で周
知の標準的なびん移送装置でよい。

空洞識別シヌテム１０５は、びんの底板または後端部に
つけられた種々の目印を検知してそのびんの製造に使わ
れた空洞を識別確認するような、任意のシヌテムでよい
。各空洞は、後の製品検査段階で不合格びんが発見され
た場合がどの空洞で作られたかを容易に確認できるよう
に、製造されたびんごとに対応関係が既知でなければな
らない。

一般に、びん成形装置１０３からは毎分約３００本のび
んが送出されるから、コンベヤ１０４の速度はこの多数
のびんを移送できるよう同期化されまた空洞識別シ７テ
ム１０５も上記の速度に同期している。

びんの最初の空洞が識別された後、コンベヤ１０４は、
それらのびんをコンベヤ分路Ｉｌｌを通して重量測定部
１０６と識別されたびん（物品）の各部の輪郭を測定す
る手段へと移送する。この後者の手段は、測定された輪
郭を基準となるびんの輪郭と比較する手段、たとえば光
学的輪郭測定装置１００の如き装置より成るものである
。装置１００は線１１３を介して転換グー）　１１２を
制御して、輪郭測定のために分路Ｉｌｌに対して選択的
にびんを供給する。装置１００には、各びんが作られた
空洞に−する情報が線１１０を介して供給される。この
情報によって、装置１００は、輪郭の測定を行なうべき
びんをランダムにまたは準ランダムに選択したシ、或い
は輪郭測定すべき空洞の各々からのびんを同期的におよ
び周期的に選択したりすることができる。装＠１００に
は、また、輪郭測定をすべきびんを重量をペーヌとして
選択できるように、重量測定部１０６で求めた各びんの
重量〔情報〕が線１１０を介して供給される。

コンベヤ分路１１１は、この分路１１１から重量測定部
１０６へ第１のびん１０２ａを移動させる圧送杆１１５
を作動させる空気シリンダ１１４を有する第１の転送部
へ、びん１０２を運ぶ。容器は空洞識別シ洞番号と相関
性を維持できるような具合に輸送される。詳しく言えば
、重量測定部１０６で各びんの重量を測定し、そのびん
を作るために正しい量の製品（たとえば、ガラヌ、プラ
ヌチツク、セフミック、金属）が使用されていることを
示すその重量を確認する。そのびんの重量が、もしも許
容限界値以内になければ、重量測定部１０６は適尚な時
間に測定装置１００と線１１３を介してゲート１２４を
作動させて、その不合格びんを廃棄部１２５中に投入す
る。重量測定部１０６は、線１１０を介して空洞識別／
ヌテム１０５と測定装置１００に連続されており、それ
によって重量測定部１０６は各びんを作った空洞とびん
の重量を知シ、許容限界外の重量を持ったぴんとその輪
郭測定の必要が無いことを測定装置１００に指示する。

更に、パターン不良の存在とこの不良がある特定の空洞
中で作られたびんによるものであることが判れば、重量
測定部１０６および／または測定装置１００は線１１０
を介してびん成形装置１０３（または操作員）に対して
不合格びんを成形する空洞を知らせて、その問題点を修
正できるようにするかシヌテムを止めてその問題点をよ
り充分に検討できるようにする。重量測定後、そのサン
プルは光学的輪郭測定装置１００へ移送されて選択され
た部分の輪郭が測定される。或いはま友、重量測定によ
ってそのサンプルが許容限界外の重量を有することが判
れば輪郭測定が行なわれないようにすることもできる。

びん１０２ｂは、空気シリンダ１１７を具えた第２転送
部に置かれておシ、このシリンダ１１？は圧送杆１１８
を作動させてびんを重量測定部１０６から輪郭測定プラ
ットフォーム１１９へ移動させる。光学的輪郭測定装置
が、輪郭測定プラットフォーム１１９上に置かれたびん
１０２Ｃの輪郭検知工程を完了すると、空気シリンダ１
２０が圧送杆１２１を作動させてびん１０２０を戻シコ
ン゛ベヤ分路１２２の上へ移動させる。光学的輪郭測定
装置１００は線１２３を介してシリンダ１１４．１１７
および１２０の動作を制御する。不合格輪郭を持つびん
が測定検出されると、測定装置１００と重量測定部１０
６は線１１３を介してゲー）１２４を制御してその不合
格びんを廃棄部１２５へ投入させる０びん１０２ｄの輪
郭が許容範囲内のものであれば、戻シコンベヤ１２２に
よってコンベヤ１０４へ戻す。

光学的輪郭測定装置１００は、線１１０によって、びん
成形装置１０３、空洞識別シ７テム１０５および重量測
定部１０６に連結されている。不合格輪郭を持ったびん
が測定検出されると、装置１００は空洞識別シヌテム１
０５と連絡してそのびんを作った空洞を特定し、線１１
３を介してゲート１１２を働かせてその疑わしい空洞で
作られた別のびんの輪郭測定を行なう。パターン不良が
発見された場合には、装置１００は、その不良を修正す
るように、その不良のびんを作った特定の空洞の使用を
止めるように、或いは修理のためにシヌテムを休止する
ように、その不良をびん成形装置１０３に通報するか操
作員に通報する。

第２図には、びん１０２の輪郭が示されておシ、この輪
郭の中には光学的輪郭測定装置１００を使って測定する
寸法が幾つか記入されている０寸法Ｆはびんの口の封止
面２０１の頂部における外径であシ、寸法Ｔはびんのフ
ィニッシ部２０４の周りのねじ２０２の外径である。塞
栓またはキャップが嵌合するびんの頚部または上部を、
こ−では一般にフィニツシ部と呼ぶことにする６第２図
と第２Ａ図はねじ込み式のフィニツシ部を示しているが
、この発明はクラウン式或いはその池の形式のフィニッ
シ部を持つ形式のものにも適用できる。寸法Ｅはこのフ
イニツ７部のねじ溝底部の径である。また傾きは次の様
にして算定することもできる。第２Ａ図にはびんのフィ
ニッシ部が示されている。

この図で、寸法Ｔは成る与えられた回転角で寸法ｄから
寸法ａを差引くことによって、Ｔ＝（］−−ａとして算
出できる。こ−に、ｄは上側のフィニッシ部２１０とロ
ック環２０５の間における最大間隔と直径との和であり
、ａは上側フィニッシ部、２１０とロック環２０５との
間における最小間隙である。同じように、与えられた回
転角度位置における寸法Ｅも、寸法すから寸法Ｃを差引
いて、Ｅ＝ｂ−ｃとして算出できる。こ＼に、Ｃは上側
フィニッシ部２１Ｏとロック環２０５の間における最小
間隙と直径寸法との和であシ、ｂは上側フィニッシ部２
１０とロック環２０５０間における最大間隙寸法である
。

第２図において、寸法Ａはロック環２０５の直径であっ
て通常はキャップのロック環と嵌合する。

寸法りは頂面２０１からロック環２０５の底面までの高
さである。寸法Ｈは、びんを支持している表面（例えば
第３図の１ラツトフオーム３１８）カラヒんの口の封止
面、２Ｃ１ｌの頂部までとして測ったびんの高さである
。寸法Ｂは、びんの肩部から後端部に至るびん１０２の
本体部分の外径である。寸法りはびんのフィニツシ部か
ら突出するねじの高さである。

第３図に、この発明による光学的輪郭測定装置の好まし
い一実施例を示す。装置１００は、光学的マイクロメー
タ３００、中央処理ユニット（ＣＰＵ）３０１および被
輪郭測定物品の各部を所定の平面に対して整列させる手
段とを有し、この最後の手段は、輪郭が測定されるべき
びん１０２の各部分が所定の平面たとえば平面３５０を
通過するようにそのびんを所定平面を通過移動させる手
段のようなもので、この段を全体として符号３０２で示
す。また、測定平面３５０がびん１０２の上を光学的に
移動するように上記の測定平面３５０でびん１０２を走
査することもできる。

光学的マイクロメータ３００の具体的な一実施例の構造
とその動作は、この明細書中にご考資料として引用する
米国特許筒４．０７４．９３８号、４、０８２．４６３
号および４．０９７．１５８号の明細書および図面中に
開示されている。一般Ｋ、光学的マイクロメータ３００
は平行化された（コリメーテノド〕光のビーム３０４を
生成するレーザ３０３を含んでいる。ビーム３０４は回
転ミラー３０５に投射される。ミラー３０５は、上述し
た米国特許中に示されているような単一平面鏡でも良い
し、また多面型ミラーでも良い。第３図に示されるよう
にミラー３０５は６面体ミラーとして示されている。

ミラー３０５はモータ３０？で回転される軸３０６で支
えられている。このミラーが回転すると、ビーム３０４
は反射されて大体水平走査面３５０に沿って動く走査ビ
ーム３０８を作り出す。詳しく言えば、走査ビーム３０
８は第１光検知器３０９から第２光検知器３１０へと移
動して両検知器の間に通常は測定域と呼ばれる走査セク
タを形成する。走査ビーム３０８は第１走査レンズ３１
１を通過し、このレンズはミラー３０５によるビーム３
０４のｊ射作用の結果として生ずるビームの拡がシを修
正する。第１走査レンズ３１１の焦点はビーム３０４が
回転ミラー３０５に当る点にあり、その結果走査ビーム
３０８ａが、走査平面３５０内に在る連続的走査ビーム
を構成するようになっている。走査ビーム３０８ａは測
定域内のどの点にあっても同測定域内の他の点における
走査ビームに対して実質的に平行である。

走査ビーム３０８ａはびん１０２を横切って走査し、走
査平面３５０内にあるびんの部分によって遮ぎられる。

走査ビーム３０８の遮られなかった部分は第２走査レン
ズ３１２を通過する。このレンズは平行な走査ビームを
光検出器３１３上に集束する。光検出器３１３の出力は
線３１４を介して、光学的マイクロメータ３００の中央
処理ユニット（ＣＰＵ）３１５に供給される。光検出器
３１３は第２走査レンズ３１２の焦点位置に在って、レ
ンズ３１２を通過した平行光ビーム３０８ａが光検出器
３１３の表面に焦点を結ぶようになっている。

走査ビーム３０８ａがびん１０２の全体の輪郭を走査で
きるようにするために、びん１０２は回転させねばなら
ないし、またびん全体または走査されるべきその各部（
水平に輪切りした切片〕が走査平面３５０を通過するよ
うに上昇方向におよび／または下降方向に動かさねばな
らない。移動手段３０２がこのびんを動かすために設け
られていて、具体的に言えば、平面３５０に実質的に平
行な基板またはプラットフォーム３１６を有し、その上
面３１７にはびん１０２が載置され下面３１８は縦軸線
３２０と平行な軸３１９に連結されている。びん１０２
を完全に走査することができるようにするため、びん１
０２は縦軸線３２０に沿って動かされてグフットフォー
ム３１６上に載っているびんの頂部から後端部まで走査
ビーム３０８ａが走査するようＫ、或いは測定平面を光
学的に動かして同様な作用が得られるようにする。

縦軸線３２０は軸３１９と同軸的であると共に走査平面
３５０に対し垂直であることが好ましい。軸３１９は、
これを回転させるに適したサーボ系または（第１の〕回
転用ヌテッピング・モータ３２１によって支持され、そ
れに保合している。プラットフォーム３１６、軸３１９
およびモータ３２１は、ビーム３０８ａの走査域内で所
定走査平面３５０と交差する一つの軸線を中心としてび
ん（物品）を回転させるための手段を構成している。

モータ３２”１は、親ねじ３２３に螺合して支持された
可動ナツト３２２によって大体垂直に支持されている。

親ねじ３２３の長手軸線３２４は縦軸線３２０と平行で
ある。縦軸線３２０と平行な成る軸線に沿ってプラット
フォーム３１６を軸方向に移動させるための、また別の
サーボ系または（第２の）昇降用ヌテツピング・モータ
３２５も設けられている。詳しく言えば、モータ３２５
は親ねじ３２３に連結されてこれを長手軸線３２４を中
心として回転させ、可動ナツト３２２、第１ヌテツピン
グ・モータ３２１およびプラットフォーム３１６を縦軸
線３２０に沿って動かす。親ねじ３２２とモータ３２５
は、ビーム３０８ａの走査範囲内で縦軸線３２０と平行
な軸線に沿ってびん（物品）を軸方向に移動させる手段
を構成している。随意選択事項であるが、杆３２６のよ
うな第２（水平の）基準が回転用ヌテッピング・モータ
３２１によって支持されて、丁度びん１０２の周囲上方
に位置し、光学的マイクロメータの水平基準をなしてい
る。杆３２６は、縦軸線３２０とはソ平行になるように
一方の脚を可動ナツト３２２により支持され、他方の脚
が、丁度プラットフォーム３１６とこの第２の脚との間
にその脚と同軸的にびん−１０２が位置するような関係
に、プラットフォーム３１６の上方に位置した、Ｕ字型
に構成されている。

この基準杆３２６は、輪郭測定されるべき物体（すなわ
ち、びん）の高さをこの光学的マイクロメータで測定で
きるようにするもので、その理由は杆３２６の端部が走
査平面３５０から既知の距離だけ隔った基準となるから
である。すなわち、走査平面３５０と杆３２６の上記端
部との間の距離は、プラットフォーム３１６の垂直方向
位置に従って、既知であるか或いは後述するように決定
することができるからである。別のやシ方として、上記
の高さはプラットフォーム３１６の上面３１７を基準と
して測ることも可能である。

ステッピング・モータ３２１と３２５の動作は中央処理
ユニット３０１によって制御される。走査平面３５０を
通過する形でびん１０２を上方に動かすために、ＯＰ　
Ｕ　３０１は線３２７を介して昇降用ヌテッピング・モ
ータ駆動器３２８に制御信号または飢御バルヌを供給し
、それにょシこの駆動器３２８は線３２９を介して昇降
用ヌテッピング・モータ３２５に駆動信号または駆動パ
ルスを供給する。垂直方向の解像度を最大にしようとす
れば、昇降用ヌテッピング・モータ３２５は成る最小量
ずつ動くように指令を受ける。プラットフォーム３１６
を回して走査平面内でびん１０２を回転させるために、
ＣＰ［Ｊ３０１は線３３０を介して制御信号または制御
パルスを回転用ヌテツピング・モータ駆動器３３１に供
給し、同駆動器３３１は次に線３３２を介して駆動信号
または駆動パル７を回転用ヌテッピング・モータ３２１
に供給する。

垂直カウンタ３３３は、ＯＰ　Ｕ　３０１から線３２７
を介して昇降用ヌテッピング・モータ駆動器３２８に供
給された制御信号をカウントしてそのカウント情報をＣ
ＰＵ３０１に供給する。同様に、回転カウンタ３３４は
制御信号回転情報をカウントする。カウンタ３３３と３
３４は、たとえば内部ランダム・アクセフ・メモリとい
う様な、ＣＰＵ３０１中に一体化された装置の−９部と
することもできる。

次に、第３図、第４図および第５図を参照して光学的マ
イクロメータ３００を含む光学的輪郭測定装置１００の
動作を説明する。輪郭の解析は、第１図に例示したよう
なシステムによりびんの製造サイクルを開始することに
よって自動的に、或いは操作員が命令を入力することに
よって手動で、始まる（ステップ５０１）。たとえば、
操作員はキーボードによってスタート命令をＣＰＵ３０
１に供給することができる。読取シ専用メモリ（ＲＯＭ
）３６１は第５図に示されるような輪郭の解析を行なう
ための指令でプログラムされている。スタート命令に応
じて、ＣＰ　Ｕ　３０１は線３２７を介して昇降用ヌテ
ッピング・モータ駆動器３２８に信号または一連の制御
パルスを供給して昇降用ヌテツビング・モール３２５ヲ
起動し、グフットフォーム３１６ヲ初期垂直位置へ動か
す。なお、駆動器３２８と３３１がアナログ制御信号に
応動するものでＣＰ　Ｕ　３０１が線３２７と３３０を
介してデジタル制御信号を供給する形式である場合には
、ＣＰ　Ｕ　３０１と駆動器３２８および３３１との間
にはデジタル−アナログ（Ｄ／Ａ）変換器を使用すれば
良い。駆動器３２８は、ＣＰ　Ｕ　３０１の命令を受け
ると適切な数の駆動パルスを昇降用ヌテッピング・モー
タ３２５に供給して、可動ナツト３２２とプラットフォ
ーム３１６ヲその最上位置または最低位置へ動かし、輪
郭解析が開始できるようにする。ＣＰＵ３０１は次に垂
直カウンタ３３３と回転カウンタ３３４をリセットする
。これで段階５０２が完了する。次いでＣＰ　ＴＪ　３
０１は空気シリンダ１２０，１１７およびｌユ４を順番
に駆動し、輪郭測定を行なわれるべき物体が測定域内す
なわちプラットフォーム３１６上に載置されるまで、こ
のサイクルを繰返す（７テツプ５０３）。随意選択事項
として、次にＣＰ　Ｕ　３０１は昇降用ステッピング・
モータ駆動器３２８に１個またはそれ以上の制御パルヌ
を供給して垂直カウンタ３３３を増分増加させ（ヌテッ
グ５０５）かつモータ３２５を回転させることもできる
。初期走査のためにステップ５０４は必要なものではな
い。また随意に、ＣＰ　Ｕ　３０１は１個またはそれ以
上の制御パル７を回転用ステッピング・モータ駆動器３
３１に供給して、回転カウンタ３３４を増分増加させ（
ヌテツブ５０５　）　更にモータ３２１を回転させるこ
ともできる。ステップ５０５もまた輪郭解析の開始に必
要なことではない。

ＣＰ　Ｕ　３０１は次いで中間にある直列インタフニー
　７３４０を介して光学的マイクロメータ３００を作動
させてＣＰ　Ｕ　３１５が光学的マイクロメータ３００
の走査サイクルを始めるようにする。ＣＰＵ３１５はモ
ータ３０７を付勢してミラー３０５を回転させまたレー
ザ３０３を作動させて走査ビームを発生させる（ステッ
プ５０６）。第４図に例示するように、ビーム４０１は
初めに時計方向回転ミラー３０５に当りそこで反射され
てビーム４０２として光検知器。

３１４を衝撃する。ミラー３０５が時計方向回転を続け
るにつれて、ビーム４０２は矢印４０３の方向に動いて
第１基準光検知器３０９に入射し、線４０４を介してＣ
ＰＵ３１５に対してビーム４０２が測定域内で走査を開
始した旨の信号を送る。光検知器３０９からの信号を受
けたＣＰＵ３１５は内部クロックから供給されるクロッ
ク・パルスをカウント動作める。

このカウント動作は、こ−に参考資料として引用する米
国特許筒４．０８２．４６３号、４．０７４．３９８号
および４．０９７．１５８号の明細書中に詳述されてい
る。光検知ｒｉｒ３０９．３１０および３１３からＣＰ
Ｕ３１５に供給されるアナログ信号はアナログ−デジタ
ル変換器または閾値検知器（図示省略）によってデジタ
ル信号に変換することができる。

ビーム４０２が矢印４０３の方向に走査を絖けていると
、それかびん１０２の第１の端縁に差１．か−ったとき
に結局遮られて光検知器３１４に到達し得なくなる。こ
のビームの遮断はＣＰＵ３１５により検出され、このビ
ーム４０２が第１光検知器３０９とびん１０２の最初の
端縁との間の間隙を走査している時間中にカウントされ
たクロック・パル７の数を、内部メモリ或いはランダム
・アクセツ・メモリ４１３のようなメモリに記憶させる
。ＣＰ　Ｕ　３１５は、ビーム４０２が最後にびん１０
２の第２の端縁を通過してもはや遮られることが無く再
び光検知器３１４に検知されるまで、クロック・パルス
のカウント動作と走査を続ける。そこでＣＰＵ３１５は
、光検知器３１４が再び出力信号を供給することによっ
て、もはやビーム４０２は遮られることが無いことを検
出する。ＣＰＵ３１５は、次いで、走査平面内のびんの
その部分の直径に相当する上記第１の端縁４１１と第２
の端縁４１２との間の走査遮断期間中に生じたクロック
・パルスの数を記憶する。ビーム４０２は第２基準光検
知器３１０によって遮られるまで矢印４０３の方向に動
き続ける。上記の検知器′３１０はビーム４０２が測定
域４１０の走査を完了したことを示す。次にＣＰＵ３１
５は、第１基準光検出器３０８から第２基準光検出器３
１０までの測定域・４１０内での走査期間中に生じたク
ロック・パルスの総数をメモリ４１３中に記憶ける。Ｃ
ＰＵ３１５は、また、第２の端縁４１２と光検知器３１
０間のクロック・パル７の数もメモリ４１３中に記憶す
るか、或いはこのカウント数は聡クロック・パルス数か
ら端縁４１１と４１２間と上記間隙内におけるクロック
・パルスの数を差引いて計算できる。

被走査物品が透明ガラ７のびんのように透明または半透
明である場合にはビームがそれを透過してしまうのでビ
ーム４０２による走査がこの透明ガラスびんによって遮
られないことがある。事実。

もしこの透明なびんがレンズ作用をすると、この物品（
びん）を透過して光検知器３１３に入射する光は、その
透明びんがビームを光検知器上に集束するために、その
強度が増すこともある。しかし何れにせよ、ＯＰ　Ｄ　
３０１は光検知器３１４から供給される信号中の変移部
を検出するようにプログラムすることができる。ビーム
４０２が透明びんの第１の端縁と第２の端縁を走査し始
めるときにそのビーム４０２の強度に変移が生じ、その
結果として光検知器３１４からＣＰ　Ｕ　３１５に供給
される信号中に変移部が発生し、こうして透明びんの被
走査部の直径が測定できることになる。

光学的マイクロメータ３００は、たとえば米国特許第４
．０８２．４６３号の方法に従って較正できる０ＣＰＵ
３１５は、上記間隙内のクロック・パルスの数、びん１
０２（すなわち、端縁４１１と４１２の間）によって遮
られている期間中のクロック・パルスの！＆督よび光検
知器３０９と３１０間の測定域内におけるクロック・パ
ルスの総数を記憶している。従って、ＣＰＵ３１５は走
査平面内における間隙寸法とびん１０２の直径とを計算
することができる。それは、光検知器３０９と３１０間
の距離が既知の一定値であり、上記の寸法とクロック・
パルス数は直接相関しているからである。たとえば、走
査速度が直線的であシ、測定域４１０の距離（幅）は第
４図に符号４２０で示すが１０１に等しく、かつクロッ
ク・パルス数１０００個が光検知器３０９と３１０間の
走査時間に相当するものと仮定して検討する。もし、間
隙（すなわち光検知器３０９から端縁４１１まで）内の
走査時間が１００パルｊに相当するとすればその間隙の
長さは１．０１に等しい。端縁４１１と４１２の間の走
査時間が６５０パルヌに相当していれば、びん１０２の
走査平面３５０内に入る部分の直径は６．５　ｃｍに等
しいことになる。この情報はメモリ４１３に記憶しまた
／或いは線３４１を介してＣＰＵ３０１に供給すること
ができる。その結果、光学的マイクロメータ３００は、
レーザ走査のステップを行ない、一方上記の間隙内の、
および走査されている物体の被走査水平寸法内のクロッ
ク・パルスのカウントが行なわれる（ステップ５０６）
。更に、ＣＰＵ３１５は、直径（水平に走査された）と
間隙の寸法の計算と記憶のヌテツブを行なう（ステップ
５０７）。

上記の諸ステップが一旦完了すると、ＣＰＵ３１５は線
３４１を介してＣＰＵ３ｏｘにこれら諸ステップの完了
を伝える。すると、ＣＰ　Ｕ　３０１は回転カウンタ３
３４に質問を発して回転カウントが限界値に等しいかど
うかを判断する（ステップ５０８）。

たとえば、もしカウント数４００が角度３６０度に等し
いとすれば、回転カウンタ３３４中のカウント数２００
は、物品が１８０度以内口転させられて次の走査位置へ
移動させ得ることを表わしている。

回転カウンタ内のカウント数がその限界値に等しくなけ
れば、ＣＰ　Ｕ　３０１はステップ５０５へ戻って回転
用ヌテツピング・モータ駆動器３２８に制御パル７を供
給して回転カウンタ３３３を増分増加させる。次にＣＰ
　Ｕ　３１５は別の走査を行ない、一方その間、間隙内
の、びん１０２の被走査水平寸法（すなわち、端縁４１
１と４１２間の寸法）内の、および測定域４１０内の各
クロック・パルス数のカウントを行なう。次いでＣＰＵ
：ｓ１５は走査された水平寸法および間隙寸法を計算し
記憶する（ステップ５０６ン。回転とそれに続く走査の
各繰返しによって、間隙とびんの直径が相異なる側面方
向から測定できる。このプロセフは、回転カウンタが限
界値に等しくなシその点でＣＰ　Ｕ　ｓｏｌによりてリ
セットされ（ステップ５０９　）　、垂直カウンタ３３
３が問合わせを受ける（ステップ５１０）まで、継続す
る。垂直カウンタ３３３のカウント数がプフットフォー
ム３１１３の移動の上下限点間のパルス数に等しくなれ
ば、ＣＰ　Ｕ　３０１は垂直寸法の計算と記憶を行ない
（ステップ５１１）かつ輪郭解析は終了する（ステップ
５１２）。もし垂直カウント数が限界値に等しくなけれ
ば、ＣＰ　Ｕ　３０１はステップ５０４に戻って昇降用
ヌテッピング・モータ駆動器３２８に１個の制御パルス
を供給して垂直カウンタ３３３を増分増加させ、回転走
査ループ（ステップ５０５．５０６．５０７）が次に再
び行なわれる。

上記方式の代シに、物品の各部分のみを選択的に走査す
るようにＯＰ　Ｕ　３０１をプログラムすることもでき
る。たとえば、びん１０２の点りとＭ間の１個または複
数点を走査するだけで寸法Ｂが所望の許容範囲内にある
ことが判るのであれば、びんの点りとＭ間を連続的に走
査する必要はない。また、ステッピング・モータを連続
的に付勢して点りとＭ間の走査を同時的に行なって寸法
の大まかな算定をすることも可能で、その場合には光学
的マイクロメータ３００が連続的に動作し、ＣＰＵ３１
５は走査の進行につれて成る選ばれた特定時点でのみ情
報を負荷することになる。

ＣＰＵ３０１は、次にその内部メモリやランダム・プロ
セフ・メモリ３６０という様なメモリに問合わせを行な
う。このメモリ中には、第２図に示したような水平寸法
Ｆ、Ｅ、Ａおよび８間の差、最小および最大値を決定す
るための全寸法情報が記憶されている。ＣＰＵ３０１に
は、輪郭測定されるべき物品の特定（仕様）形状に関す
る情報でグログラムされていることが好ましく、そうす
れば−体化された比較器３７５によって予めセットされ
た限界値とそれらの寸法を比較してそのびんの諸寸法が
許容範囲内にあるかどうかを判定することができる。も
し物品の輪郭が全体として未知であれば、ＣＰＵ３０１
は各水平走査によるその物品の最小および最大寸法をグ
リントして出力し或いは表示器上に表示することができ
る。

更に、装置１００は、物品に沿ってたとえば最小寸法或
、いは最大寸法を持っているという様な種々の点を探し
て、その点の寸法を或いはその点に対して他の点の寸法
を測定することもできる。たとえば、装置１００は、物
品を走査してその最大寸法を求め、次いでその最大寸法
点と物品の頂点との間の距離を求めることができる。

垂直寸法の計算については、杆３２６の端部が、びんの
垂直高さをそこから測定するための水平基準トナってい
る。具体的には、プラットフォーム３１６と杆３２６の
端部との間の垂直方向距離を既知の寸法に較正する。こ
の情報をＣＰＵ３０１に入れて、プラットフォーム３１
６と杆３２６の端部との間における垂直走査の数を上記
既知の寸法とＣＰＵ３０１が相関できるようにする。そ
の様にすると、びんの高さＨと寸法りを計算することが
できる。

びんの傾きＬは、プラットフォーム３１６の回転から計
算することができる。びんの傾きが零であれば上記の寸
法はすべて相等しくなる。

杆３２６の端部は較正の確認用に使用することもできる
。この杆の直径は既知であるから、ＣＰＵ３０１は周期
的にプラットフォーム３１６を降下させて杆３２６が測
定域４１０内に入るようにできる。その際マイクロメー
タ３００が杆３２６の直径を測定してその測定情報をＣ
Ｐ　Ｕ　３０１に送り、ＣＰ　（Ｊ　３０１はその情報
を既知の直径と比較する。杆３２６の直径の測定直と既
知の直径値との間の差がプリセットした限界を超えてい
れば′、ＣＰ　Ｕ　３０１は操作員にフラッグ信号を送
るか再較正ルーチンを実行する。

寸法りを測定する一つの好ましい方法は次の通りである
。ＣＰ　Ｕ　３０１はプラットフォーム３１６をその最
低位置に移動させて杆３２６が測定域中に在るようにす
る。次に、ＣＰ　Ｕ　３０１は昇降用ヌテツピング・モ
ータ３２５を作動させて、マイクロメ−り３００が走査
し続ける一方プラットフオーム３１６を急速に上昇させ
る。この急速な上昇運動は、測定域内における直径の寸
法に顕著な変化が現われて、ビームがびん１０２の頂部
２０１に達したことを示すまで続けられる。びんの頂点
が見付かると、ＯＰ　Ｕ　３０１は垂直カウント数を記
憶し、次いでびん１０２とプラットフォーム３１６をび
んの頚部のロック環２０５が走査平面内に位置するまで
上昇させる。ＣＰ　Ｕ　３０１は走査によってロック環
２０５を見付けることができるし、或いはＣＰ　Ｕ　３
０１をびん１０２の近似寸法または所望寸法で予めグロ
グラムしておくこともできる。びん１０２は次いで上方
に移動させられ、ビーム４０２がロック環２０５と下側
フィニッシ部２０７間の転移部２０６に達したことを示
す、直径に顕著な変化が現われるまでビーム４０２によ
る走査を受ける。次いで転移部２０６の始点と終点の高
さが走査によって測定され、寸法りの下側の点の高さが
決定される。寸法りの上側の点、すなわちびん１０２の
頂部、は既に見出されて杆３２６を基準として測定され
ているので、今度は寸法りをＣＰ　［］　３０１によっ
て求めることができる。

この寸法りはびん１０２の走査ビームに対面する１つ以
上の側面から測定することができる。寸法りを互に異な
る側面から測定するためには、回転用ステッピング・モ
ータ３２１を回転させて上述の工程を繰返せばよい。あ
るいは別の方法として、びん１０２をその上昇運動につ
れて回転させて寸法りの平均値を求めることもできる。

次に、光学的輪郭測定装置１００を使用して通常得られ
る種々の寸法の幾つかを掲記［７た表を示す。

この表のデータは第２図に例示したびんの輪郭測定に相
当するものである。各縦の欄は１ラツトフオーム３１８
の垂直位置を表わしておシ、０，０５ｃ１１が昇降用ス
テッピング・モータ駆動器３１６に印加される垂直制御
パルスまたはカウント１００個に相当している。各横の
列はプラットフォーム３１６の回転位置を表わしておシ
、この表の中で１ラツトフオームの１回転３６０度は回
転用ステッピング・モータ駆動器３３１に印加される４
００個の制御パルスまたはカウントに相当する。既述の
ように、測定域４１０の各走査によって、間隙内のクロ
ック・パルスのカウントが得られ、また走査平面３５０
内にあるびん１０２の部分の直径を表わすクロック・パ
ルスのカウントが得られる。止揚の表の上半部は間隙寸
法（単位はａＩＩ）を示し、下半部は直径寸法（単位は
ｃｌｌ）を示している。たとえば、参照文字Ｃで示す２
番目の縦欄は、びんを回転させてスタート位置から昇降
用ステッピング・モータ駆動器３２８へ１００個の制御
パルスを印加したときに相当する垂直位置へ移動させた
際に種々の間隙と直径寸法を示している。また別の例と
して、２番目の間隙列ＯＲと２番目の直径列ＤＲとは、
そのびんを、スタート位置から回転用ステッピング・モ
ータ駆動器３３１へ２個の制御パルスを印加した状態に
相当する成る回転角度位置から見た場合の、びんの高さ
に沿った種々の間隙と直径の寸法をそれぞれ示している
。

最初の縦欄は、ステップ５０５．５０６．５０７および
５０８を含む回転ループの最初の実行によって得られる
寸法を表わしている。第１の制御パルスが回転用ステッ
ピング・モータ駆動器３３１に供給され、走査が開始さ
れて、現に走査されている部分の間隙長が１．１３７４
　ｃＩＩに等しいことを示すクロック・バＶス・カウン
トと、この走査されているびんの部分の直径が３．５１
６２　ｃｌｌｌに等しいことを表わすクロック・パルス
・カウントを生成スる。次イテ、回転用ステッピング・
モータ駆動器３３０は１個の制御パルスを受けて増分増
加させられ、間隙長が１、１３９１ｃ１１　　で直径の
寸法が３．５１６７１”１１に等しいことを示す横列２
（ＯＲとＤＲで示す）の寸法が得られる。垂直カウント
数が零に相当する第１縦欄を上から下へ見て行くと、回
転カウント１から４に亘るにつれて間隙の寸法は増加し
ておシ、すなわちびんが中心からずれて配置されていて
びんを回転させるにつれて間隙が広くなることを表わし
ている。第２縦欄Ｃはプラットフォーム３１６に第１の
全回転を与えた後の走査シリーズの各位に相当する。

第１縦欄の直径寸法を上から下に見て行くと、びん後端
部直径が最小値３．５１６１　ｃＩｌｌから最大値であ
る３、　５１６９　ａＩＩまで変化することが判る。縦
欄の０．１００および６．０００に示された本体部の直
径（寸法）Ｂを見ると、直径は最小ｉｉ１３．５１６９
３から３、５１６９　ｃｙｓの最大値まで変っている。

ＣＰ　Ｕ　３０１はこれらの最大値と最小値をプリセッ
トされた許容限界値と比較してその本体部の直径が所望
の限界値以内にあるかどうかを決定する。寸法Ｂは、ま
た、欄０．１ｏｏｊ？ヨび６，０００と列１〜４００内
に示された直径の値をすべて平均し、その平均値を比較
器３７５によって所望の平均値と比較することによって
も、決定することができる。

直径寸法を示す縦側１２４００と１２５００および横列
１〜４００は、最大８寸法が１．１４９９　ｔｙｓであ
シ下側フイニッシ部の最小Ｅ寸法が１．１４７９　ｃｍ
であることを示している。間隙寸法の横列１〜４００を
見ると間隙寸法の約１．１３８０から約２．３１６　Ｃ
Ｍへの転移は寸法りに近接した間隙は寸法Ｅに近接した
間隙より小さいことが判る。この表示は、表中の諸寸法
からびんの輪郭を再構成できるようにするに必要な情報
を与えるものである。

縦側１６９０００は、直径に相当する横列１〜４００に
寸法Ａの最小値が１．２０３１で最大値が１．２０３７
であることを示している。同じ様に、縦側１７０００の
横列１〜４００の直径寸法は、寸法Ａと中間フィニッシ
部２０４の寸法Ｔの間の寸法Ｅを示している。

縦側１７，２００は寸法Ｔ／２＋Ｅ／２に相当する。縦
側１７，４００は寸法Ｅ／２＋Ｔ／２に相当する。たと
えば、この置棚を加算しその和から中間フィニッシ部２
０４の寸法Ｅを表わす欄１→、　０００を差引く。

或いはまた、上側フィニッシ部２１０の寸法Ｅを表わす
欄（たとえば、図示を省略した欄１７．６００　）を上
記の和から差引くこともできる。或いは、寸法Ｅ／２を
表わす欄１７．０００の２分の１を欄１７、２００から
差引いてＴ／２を得られる。また寸法Ｅ／２を表わす１
７，６００の２分の１を欄１７，４００から差引いてＴ
／２を得ることもできる。代シに、Ｅ寸法の欄の一部す
なわち一つまたはそれ以上の欄（たとえば、欄１２．４
００．１２．５００．１７．０００　）を平均して寸法
ＥまたはＥ　７２寸法を求めることもできる。また、縦
側１７．２００と１７．４００の間隙寸法間の差（すな
わち、約０．１　ｃＭ）はねじの高さｈを表わす。縦側
１９．３００は寸法Ｆに相当する。

上掛の表から、次の様な手法で寸法りとＨを求めること
ができる。間隙寸法の横列１を見ると間隙寸法は１２．
４００のところで著しく増大してフィニッシ部２０７へ
の転移を示し、また寸法Ｅを与えていることが判る。欄
１６．９００では、この間隙寸法は減少して２．’３０
０５となシ、ロック環２０５への転移を表わしている。

縦側１７，０００では、この間隙寸法は２．３１６４へ
増加しロック環２０５から中間フイニッシ部２０４への
移行を表わしている。回転位置１の側方から見た高さ１
９．３００　Ｘｏ、　５５　”／１００＝９．６５〃で
ある。代りに、杆３２６の端部の高さが既知でたとえば
９．７５″とすれば、参照文字Ｈ／から判るようにそれ
を基準として、すなわち、９．７５”−（１９，６００
−１９，３００）　　×０．　０５　　”／１ｏｏ＝＝
９．　６ｏ　　”　　として求めることができる。回転
位置１と４における側方から見た傾きは、それら両位置
における高さの差に等しい。例示した表では傾きはない
ものと見なすことができる。

縦側１９，３００では、列１の間隙寸法が２．４１５８
ｍから５．５０７１０へと変化し、びんの頂部２０１で
あることを示している。従って、寸法りは、制御パルヌ
１９．３００個から１６．９００個を減算した数、すな
わち２．４００個となυ、これは１．２０００　ＣＭに
相当する。寸法りは、制御パルヌ数１９．３００個から
零個を差引いた数に相当し、これは９．６５００Ｇにな
る。

縦積１９．６００では、間隙寸法が５．５０７０から２
、５１３０へと再び変化して、杆３２６が走査平面と交
わシ測定域内に入っていることを示す。これに対応する
直径寸法は杆３２６の直径が約０．５００３であること
を示している。この測定された寸法は、メモ！Ｊ３６０
中に記憶されている杆の基準寸法と比較して、この光学
的マイクロメータ３００の較正と正確さとを確認するこ
とができる。

びんの偏りも測定することができる。一般に、偏りは、
びんの相異なる２つの水平走査部分の垂直基準から中心
軸上の点までの距離の差に等しい。

たとえば、回転カウント３の側方から見た垂直カウンタ
１００における水平走査部の中心点は垂直基準（すなわ
ち、光検知器３０９）から、１．１３９６α＋（１／２
　）Ｘ（３，５１５１ＣＭ）＝２．８９７１　ａｒｔで
ある。回転カウント３の側方から見た垂直カウント１７
．０００における水平走査部の中心点は垂直基準から、
２、３１６９　ｃ′ＩＲ＋（１／２　）Ｘ（１，１４８
５ｆｆ１）＝２．８９１１　ｔ７１１である。従って、
回転カウント３の側方から見た垂直カラン）　１００と
１７，０００における水平走査部間の偏りは、２．８９
７Ｉ　Ｃ！Ｒ−２，８９１１ＣＩＩＩ＝　０．００６０
　（ｍである。回転カウント４の側方から見た垂直カウ
ント６、０００と１９，３００における水平走査部の偏
りは１、１３９８　ｃｍ　＋（１／ｇ　）Ｘ（３，５１
５５ａｘリー（２，４１６６ｔｙｔｔ＋（１／２　）Ｘ
（０，９４９０ｎ）＝ｏ−ｏｏ６ａ　ｃｍである。或い
はまたこの偏りは、第２Ａ図について前述した方式で算
出することもできる。

以上説明したところより、この発明の幾多の目的は達成
され、その他種々の優れた効果が得られることが、理解
されよう。

上述した実施例については、この発明の範囲を逸脱する
ことなく種々の変更を加え□ることができるので、以上
の説明および添付図面に示された内容は単に例示のため
のものでこの発明がそれに制限されるものでないことを
理解された゛い。

【図面の簡単な説明】

第１図は、びん成形装置から空洞識別シ７テム全通して
移送するびんコンベヤと組合せたこの発明による一例光
学的輪郭測定装置の図形的な平面図、第２図はこの発明
の光学的輪郭測定装置で測定される輪郭寸法を示すびん
の正面図、第２Ａ図はこの発明による光学的輪郭測定装
置によって測定される輪郭寸法を示すびんのフィニッシ
部の一部切断正面図、第３図はこの発明による光学的輪
郭測定装置の一実施例の一部をブロック形式でまた一部
を平面的に示す概要側面図、第４図はこの発明による光
学的輪郭測定装置と共に使用する光学的マイクロメータ
の一実施例の概要平面図、第５図はこの発明による光学
的輪郭測定装置の好ましい一作動方法の各ステップの流
れ図である・１００・・・光学的輪郭測定装置、１０２
・・・物品（びん）、１０１・・・びん検査装置、１０
３・・・物品（びん）成形装置、３００・・・光学的マ
イクロメータ、３０１・・・中央処理ユニット、３５０
・・・所定の平面（水平走査面）、３０２・・・所定平
面３５０に整列させる手段（移動手段）、３０３・・・
レーザ、３０４・・・光ビーム、３０５・・・走査する
手段（回転ミラー）、３０８・・・走査ビーム、３１３
・・・光検知器、３０９・・・第１の基準（第１の光検
知器）、３１０・・・第２の光検知器、３２６・・・第
２の基準、３１６・・・回転させる手段を構成するプフ
ットフォーム、３２１・・・回転させる手段を構成する
回転用ステッピング・モータ、３２２．２２３．３２５
　・・・軸方向に移動させる手段を構成する可動ナツト
、親ねじおよび昇降用ヌテッピング・モータ〇 特許出願人　　グフヌ　テクノロジー デイベロプメント　コープ 代　理　人　　清　水　　哲ほか２名 ＦＩＧ、／ Ｆ／Ｇ、４ Ｆ／Ｇ、２Ａ

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 （１）輪郭を測定されるべき物品の部分を所定の平面と
   整列させる手段と、この物品の上記所定平面と整列した
   各部分の幅を測定しまた第１の基準から上記物品の各部
   分までの距離を測定する手段と、より成る、部分相互間
   の空間的関係を求めることによる物品の部分の輪郭測定
   装置。 （２）上記の距離を測定する手段が、所定平面内に置か
   れた物品の各部分を放射エネルギのビームで走査しまた
   第１の基準と上記各部分間の間隙の距離を走査する手段
   を含んで成る、請求項（１）に記載の装置。 （３）上記の整列させる手段が、ビームの走査範囲内で
   上記の所定平面と交差する軸線を中心として物品を回転
   させる手段と、上記ビームの走査範囲内で上記の交差軸
   線と平行な軸に沿つて物品を軸方向に移動させる手段と
   、より成る、請求項（１）または（２）に記載の装置。 （４）上記の走査手段が、放射エネルギの走査ビームと
   して平行化された光を生成する光源を含む光学的マイク
   ロメータより成る、請求項（２）または（３）に記載の
   装置。 （５）上記の物品を回転させる手段が、上記の交差軸線
   と実質的に直交関係に配置されかつ物品を支持し得るよ
   うにされた基板と、上記交差軸線と平行な軸を中心とし
   てこの基板を軸回転させる第１のサーボ系とより成り、
   また上記軸方向に移動させる手段が、上記交差軸線と平
   行な軸に沿つて上記基板を移動させる第２のサーボ系よ
   り成る、請求項（３）に記載の装置。 （６）上記の物品を回転させる手段が、上記の交差軸線
   と実質的に直交関係に配置されかつ物品を支持し得るよ
   うにされた基板と、上記交差軸線と平行な軸を中心とし
   てこの基板を軸回転させ得る第１のステッピング・モー
   タとより成り、また上記軸方向に移動させる手段が、上
   記交差軸線と平行な軸に沿つて上記基板を移動させ得る
   第２のステッピング・モータより成る、請求項（３）に
   記載の装置。 （７）更に、基板を支持しかつ第１のステッピング・モ
   ータに連結されて軸回転できるようにされた軸と、この
   第１のステッピング・モータを支持する可動ナットと、
   上記交差軸線と平行な長手軸を有し上記可動ナットに螺
   合したねじ軸と、を具備し、上記第２のステッピング・
   モータは上記ねじ軸に連結されてそれを長手軸を中心と
   して回転させ得るものであり、上記基板は物品を支持す
   るに適した上面と上記の軸に連結された下面とを有する
   プラットフォームより成り、それによつて上記第２のス
   テッピング・モータがねじ軸を回転させたときに上記可
   動ナット、第１のステッピング・モータおよびプラット
   フォームが上記交差軸線に沿つて移動するようにされた
   、請求項（３）に記載の装置。 （８）更に、上記所定平面から既知の距離だけ隔つた基
   準をなす基準手段を具備して成る、請求項（７）に記載
   の装置。 （９）更に、可動ナットに支持された一つの基準となる
   杆を有し、その杆が上記交差軸線と実質的に平行に配置
   されて成る、請求項（８）に記載の装置。 （１０）上記杆が、可動ナットに支持された一つの脚と
   、上記の交差軸線と同軸的にプラットフォームの上方に
   あつてプラットフォームとの間に物品が置かれるような
   関係をなす第２の脚とを有するＵ字型をなしていること
   を特徴とする、請求項（９）に記載の装置。（１１）更
   に、第１と第２のステッピング・モータとレーザ・マイ
   クロメータが同期的に動作して物品の複数の部分と間隙
   距離を走査するように、上記移動させる手段と上記測定
   する手段とを制御する手段と、上記走査された部分と走
   査された間隙距離とから物品の輪郭を測定する手段と、
   この測定された輪郭を所要の輪郭と比較する手段と、を
   具備して成る、請求項（３）に記載の装置。 （１２）上記の制御する手段が、中央処理ユニットと、
   この中央処理ユニットからパルスを受入れてそれに応じ
   て第１のステッピング・モータを作動させる第１ステッ
   ピング・モータ駆動器と、中央処理ユニットからパルス
   を受入れてそれに応じて第２のステッピング・モータを
   作動させる第２ステッピング・モータ駆動器と、より成
   る、請求項（１１）に記載の装置。 （１３）更に、中央処理ユニットから第１ステッピング
   ・モータに供給されるパルスをカウントする第１のカウ
   ンタと、中央処理ユニットから第２ステッピング・モー
   タに供給されるパルスをカウントする第２のカウンタと
   、を具えた、請求項（１２）に記載の装置。（１４）上
   記の中央処理ユニットが、諸寸法を記憶するためこの中
   央処理ユニットに付属したランダム・アクセス・メモリ
   と、第１および第２のステッピング・モータを順次動作
   させるようにかつ光学的マイクロメータの動作をモニタ
   するように中央処理ユニット指示を与える中央処理ユニ
   ットに付属した読取り専用メモリと、を含んで成る、請
   求項（１３）に記載の装置。 （１５）更に、上記所定の平面から既知の距離だけ隔つ
   た第２の基準を形成する基準手段を具備する、請求項（
   １）乃至（１４）の中の何れかに記載の装置。 （１６）上記の整列させる手段が、輪郭を測定されるべ
   き物品の各部分が上記所定の平面を通過するようにその
   所定平面を通つて上記物品を移動させる手段より成るよ
   うな、請求項（１）乃至（１５）の中の何れかに記載の
   装置。 （１７）上記の整列させる手段が、輪郭測定を行なわれ
   るべき物品の各部分に対して上記所定の平面を移動させ
   る手段より成る、請求項（１）乃至（１５）の中の何れ
   かに記載の装置。 （１８）上記の整列させる手段が、輪郭測定を行なわれ
   るべき物品の各部分を越えて所定の平面が移動するよう
   に、輪郭測定されるべき物品の各部分を横切つて上記所
   定の平面を移動させる手段より成る、請求項（１）乃至
   （１５）の中の何れかに記載の装置。 （１９）輪郭の測定をなされるべき物品の各部分を所定
   の平面と整列させるステップと、この所定平面と整列し
   た物品の各部分の幅を測定するステップと、第１の基準
   からこの物品のその部分までの距離を測定するステップ
   と、より成る、各部分相互間の空間的関係を測定するこ
   とによつて物品の各部分の輪郭を測定する方法。 （２０）物品が成形製造された空洞を識別する手段と、
   識別された物品の各部分を所定の平面と整列させる手段
   と、この所定の平面と整列した物品の各部分の幅を測定
   し、またその物品の各部分の第１基準からの距離を測定
   する手段と、この測定された輪郭を基準輪郭と比較する
   手段と、を具えて成る、複数の型によつて製造された物
   品を検査する装置。 選択する手段を （２１）更に、識別手段に応答して検査すべき物品を含
   んで成る、請求項（２０）に記載の装置。 （２２）上記の選択手段が上記の比較手段に応答するも
   のである、請求項（２１）に記載の装置。 （２３）更に、上記の比較手段に応答して、第１の基準
   輪郭のプリセツトされた限界値以内に入つていない輪郭
   を有する物品を選択抽出する手段を含んで成る、請求項
   （２２）に記載の装置。 （２４）上記の物品がびんであり、上記の測定をする手
   段が、このびんを走査して、その本体部の直径とその高
   さ、びんの口の封止面頂部の外径、びんのフィニッシ部
   を取巻くねじ部の外径、このねじ部とびんのフィニッシ
   部との間の転移部を構成するねじ溝底を横切る直径、び
   んのフィニッシ部のロック環の外径、びんのフィニッシ
   部の高さ、びんの偏り、およびびんの頂部の傾きを測定
   するに適した手段を含んで成る、請求項（２０）の装置
   。