JPH028662B2 - - Google Patents
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- JPH028662B2 JPH028662B2 JP56181743A JP18174381A JPH028662B2 JP H028662 B2 JPH028662 B2 JP H028662B2 JP 56181743 A JP56181743 A JP 56181743A JP 18174381 A JP18174381 A JP 18174381A JP H028662 B2 JPH028662 B2 JP H028662B2
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
- G01R31/1263—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation
- G01R31/1272—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation of cable, line or wire insulation, e.g. using partial discharge measurements
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- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、通信用ケーブルの絶縁性能を監視す
る絶縁監視装置に関するものである。
る絶縁監視装置に関するものである。
従来、絶縁抵抗の測定は、電圧を印加したとき
の漏洩電流を測定し、これを抵抗値に読み換える
ことにより行つている。これが絶縁抵抗計の原理
である。
の漏洩電流を測定し、これを抵抗値に読み換える
ことにより行つている。これが絶縁抵抗計の原理
である。
第１図は、従来の絶縁監視方法に於いて実施さ
れる３通りの基本的な絶縁抵抗測定回路の接続図
である。同図において、１は被監視ケーブル心線
のL1、２は同L2、３はL1の測定端子、４はL2の
測定端子、５は大地電位にある接地端子、６は絶
縁抵抗計、７は絶縁抵抗測定用電池である。
れる３通りの基本的な絶縁抵抗測定回路の接続図
である。同図において、１は被監視ケーブル心線
のL1、２は同L2、３はL1の測定端子、４はL2の
測定端子、５は大地電位にある接地端子、６は絶
縁抵抗計、７は絶縁抵抗測定用電池である。
従来、通信用ケーブルの絶縁監視は、第１図に
示すように試験用予備心線のL1(1)−大地間（第
１図ａ）、L2(2)−大地間（第１図ｂ）及びL1(1)−
L2(2)間（第１図ｃ）の３通りについて順次接続
替えした測定した絶縁抵抗値をあらかじめ設定さ
れた絶縁抵抗規格値と比較することにより行つて
いる。このように接続態様を切替えた時、測定用
電圧の印加状態の変化により、心線の静電容量に
対する充放電電流が流れ、定常状態になる迄判定
を待たなければならないために、絶縁不良の検出
に数秒乃至数十秒必要であつた。また絶縁不良と
なつた相手側回路が電源を有する場合や、短時間
の絶縁不良が生じた場合に、これらを検出出来な
いことがあると言う欠点があつた。
示すように試験用予備心線のL1(1)−大地間（第
１図ａ）、L2(2)−大地間（第１図ｂ）及びL1(1)−
L2(2)間（第１図ｃ）の３通りについて順次接続
替えした測定した絶縁抵抗値をあらかじめ設定さ
れた絶縁抵抗規格値と比較することにより行つて
いる。このように接続態様を切替えた時、測定用
電圧の印加状態の変化により、心線の静電容量に
対する充放電電流が流れ、定常状態になる迄判定
を待たなければならないために、絶縁不良の検出
に数秒乃至数十秒必要であつた。また絶縁不良と
なつた相手側回路が電源を有する場合や、短時間
の絶縁不良が生じた場合に、これらを検出出来な
いことがあると言う欠点があつた。
本発明は、従来の絶縁監視方法で行つている
L1心線−大地間、L2心線−大地間及びL1心線−
L2心線間の絶縁監視が可能である他に、絶縁不
良の相手側回路が電源を有するか否かにかかわら
ず絶縁監視可能とし、さらに短時間の絶縁不良に
ついても絶縁監視可能とすることにより従来技術
の欠点を解消し、監視範囲を拡げることのできる
通信用ケーブルの絶縁監視装置を提供することを
目的としている。
L1心線−大地間、L2心線−大地間及びL1心線−
L2心線間の絶縁監視が可能である他に、絶縁不
良の相手側回路が電源を有するか否かにかかわら
ず絶縁監視可能とし、さらに短時間の絶縁不良に
ついても絶縁監視可能とすることにより従来技術
の欠点を解消し、監視範囲を拡げることのできる
通信用ケーブルの絶縁監視装置を提供することを
目的としている。
本発明の構成の要点は、通信用ケーブルの絶縁
監視対象の芯線を特定の電位に設定する抵抗回路
と、予め該芯線が大地に対して絶縁不良になつた
ときの電位を上限値とし、該芯線が電源を有する
他回路との間で絶縁不良になつたときの電位を下
限値として設定し、監視した該芯線の電位が、前
記抵抗回路により設定された電位をはずれただけ
でなく、前記上限値と下限値で規定された範囲か
らはずれると絶縁不良を示す信号を出力する比較
器と、を有して成る点にある。
監視対象の芯線を特定の電位に設定する抵抗回路
と、予め該芯線が大地に対して絶縁不良になつた
ときの電位を上限値とし、該芯線が電源を有する
他回路との間で絶縁不良になつたときの電位を下
限値として設定し、監視した該芯線の電位が、前
記抵抗回路により設定された電位をはずれただけ
でなく、前記上限値と下限値で規定された範囲か
らはずれると絶縁不良を示す信号を出力する比較
器と、を有して成る点にある。
次に図を参照して本発明の一実施例を説明す
る。
る。
第２図は本発明の一実施例を示す接続構成図で
あり、第３図はその動作説明図、である。
あり、第３図はその動作説明図、である。
第２図において、８は本発明による絶縁監視装
置、９は抵抗器R1、１０は同R2、１１は同R3、
１２は同R4、１３は絶縁監視用電源であつて通
常は48〔ボルト〕（以下〔Ｖ〕と記す）の通信用負
電源を用いるが、ここでは−ｖ〔Ｖ〕と記す。１
４は、L1心線１の測定端子３の電位があらかじ
め設定されている範囲をはずれると絶縁不良を示
す信号を出力する比較器、１５はL2心線２の測
定端子４の電位があらかじめ設定されている範囲
をはずれると絶縁不良を示す信号を出力する比較
器、１６は論理和回路である。１７は比較器１４
の出力端子、１８は比較器１５の出力端子、１９
は出力端子１７と１８の論理和出力端子である。
２０はL1心線−L2心線間の絶縁抵抗R10、２１は
L1心線１−大地間の絶縁抵抗R11、２２はL1心線
１が電源を有する回路との間で絶縁不良となつた
とき、通信用電源との間に絶縁不良が生じたのと
等価と考えたときの絶縁抵抗R12、２３はL2心線
２−大地間の絶縁抵抗R13、２４は絶縁抵抗２２
と同様でL2心線２側の絶縁抵抗R14、２５と２６
はそれぞれ絶縁抵抗２２と２４の通信用電源を示
している。比較器１４，１５は一般にウインドコ
ンパレータと呼ばれるものである。
置、９は抵抗器R1、１０は同R2、１１は同R3、
１２は同R4、１３は絶縁監視用電源であつて通
常は48〔ボルト〕（以下〔Ｖ〕と記す）の通信用負
電源を用いるが、ここでは−ｖ〔Ｖ〕と記す。１
４は、L1心線１の測定端子３の電位があらかじ
め設定されている範囲をはずれると絶縁不良を示
す信号を出力する比較器、１５はL2心線２の測
定端子４の電位があらかじめ設定されている範囲
をはずれると絶縁不良を示す信号を出力する比較
器、１６は論理和回路である。１７は比較器１４
の出力端子、１８は比較器１５の出力端子、１９
は出力端子１７と１８の論理和出力端子である。
２０はL1心線−L2心線間の絶縁抵抗R10、２１は
L1心線１−大地間の絶縁抵抗R11、２２はL1心線
１が電源を有する回路との間で絶縁不良となつた
とき、通信用電源との間に絶縁不良が生じたのと
等価と考えたときの絶縁抵抗R12、２３はL2心線
２−大地間の絶縁抵抗R13、２４は絶縁抵抗２２
と同様でL2心線２側の絶縁抵抗R14、２５と２６
はそれぞれ絶縁抵抗２２と２４の通信用電源を示
している。比較器１４，１５は一般にウインドコ
ンパレータと呼ばれるものである。
第２図、第３図により本発明装置の動作を説明
する。被監視ケーブル心線１を抵抗器９，１０に
より特定の電位v1に設定しておく、同様、被監視
ケーブル心線２を抵抗器、１１，１２により電位
v2に設定しておく。これは絶縁抵抗２０，２１，
２２，２３及び２４が無限大でケーブルが全く正
常であるときの電位である。比較器１４は入力電
位がv1を中心にあらかじめ設定された範囲内にあ
るとき、その論理出力は“０”である。この範囲
を越えると論理出力が“１”となり絶縁不良を示
す。比較器１５についても同様で入力電位がv2を
中心にあらかじめ設定された範囲内にあるとき、
その論理出力は“０”であるが、この範囲を越え
ると論理出力が“１”となり絶縁不良を示す。こ
れにより論理和回路１６の出力も論理“１”にな
る。前述のとおり抵抗器９，１０の抵抗値をR1，
R2〔オーム〕（以下〔Ω〕と記す）とすると v1＝−ｖ×R1／R1＋R2〔Ｖ〕 と設定する。同様に抵抗器１１，１２の抵抗値を
R3，R4〔Ω〕とすると v2＝−ｖ×R3／R3＋R4〔Ｖ〕 と設定する。
する。被監視ケーブル心線１を抵抗器９，１０に
より特定の電位v1に設定しておく、同様、被監視
ケーブル心線２を抵抗器、１１，１２により電位
v2に設定しておく。これは絶縁抵抗２０，２１，
２２，２３及び２４が無限大でケーブルが全く正
常であるときの電位である。比較器１４は入力電
位がv1を中心にあらかじめ設定された範囲内にあ
るとき、その論理出力は“０”である。この範囲
を越えると論理出力が“１”となり絶縁不良を示
す。比較器１５についても同様で入力電位がv2を
中心にあらかじめ設定された範囲内にあるとき、
その論理出力は“０”であるが、この範囲を越え
ると論理出力が“１”となり絶縁不良を示す。こ
れにより論理和回路１６の出力も論理“１”にな
る。前述のとおり抵抗器９，１０の抵抗値をR1，
R2〔オーム〕（以下〔Ω〕と記す）とすると v1＝−ｖ×R1／R1＋R2〔Ｖ〕 と設定する。同様に抵抗器１１，１２の抵抗値を
R3，R4〔Ω〕とすると v2＝−ｖ×R3／R3＋R4〔Ｖ〕 と設定する。
第３図中は、v11は比較器１４の上限設定値、
v12は同下限設定値である。同様v21は比較器１５
の上限設定値、v22は同下限設定値である。
v12は同下限設定値である。同様v21は比較器１５
の上限設定値、v22は同下限設定値である。
比較器１４の上限設定値v11は被監視ケーブル
心線のL1が大地に対して絶縁不良になつたとき、
即ち第２図の絶縁抵抗２１の抵抗値R11が規格値
以下になつたときこれを検出するもので、この規
格値をR11fとするとR1とR11fが並列接続されたこ
とになるので v11＝−ｖ×R1×R11f／R1＋R11f／R1×R11f／R1＋R11
f＋R2〔Ｖ〕 と設定する。
心線のL1が大地に対して絶縁不良になつたとき、
即ち第２図の絶縁抵抗２１の抵抗値R11が規格値
以下になつたときこれを検出するもので、この規
格値をR11fとするとR1とR11fが並列接続されたこ
とになるので v11＝−ｖ×R1×R11f／R1＋R11f／R1×R11f／R1＋R11
f＋R2〔Ｖ〕 と設定する。
比較器１４の下限設定値v12は被監視ケーブル
心線のL1が負の通信用電源（電源を有する他回
路）との間で絶縁不良にあつたとき即ち、第２図
の絶縁抵抗２２の抵抗値R12が規格値以下になつ
たときこれを険出するものでこの規格値をR12fと
するとR2とR12fが並列接続されることになるので v12＝−ｖ×R1／R1＋R2×R12f／R2＋R12f〔Ｖ〕 と設定する。
心線のL1が負の通信用電源（電源を有する他回
路）との間で絶縁不良にあつたとき即ち、第２図
の絶縁抵抗２２の抵抗値R12が規格値以下になつ
たときこれを険出するものでこの規格値をR12fと
するとR2とR12fが並列接続されることになるので v12＝−ｖ×R1／R1＋R2×R12f／R2＋R12f〔Ｖ〕 と設定する。
比較器１５についても同様で被監視ケーブル心
線L2の大地に対する絶縁抵抗２３の抵抗値R13に
ついてその規格値をR13fとし、負の通信用電源
（電源を有する他回路）に対する絶縁抵抗２４の
抵抗値R14についてその規格値をR14fとすると、
上限設定値v21、下限設定値v22は以下のとおり設
定する。
線L2の大地に対する絶縁抵抗２３の抵抗値R13に
ついてその規格値をR13fとし、負の通信用電源
（電源を有する他回路）に対する絶縁抵抗２４の
抵抗値R14についてその規格値をR14fとすると、
上限設定値v21、下限設定値v22は以下のとおり設
定する。
v21＝−ｖ×R3×R13f／R3＋R13f／R3×R13f／R3＋R13
f＋R4〔Ｖ〕 v22＝−ｖ×R3／R3＋R4×R14f／R4＋R14f〔Ｖ〕 以上の説明で絶縁抵抗規格値R11，R12f，R13f
及びR14fを個々に示したが、これらは同一の値と
するのが一般的である。
f＋R4〔Ｖ〕 v22＝−ｖ×R3／R3＋R4×R14f／R4＋R14f〔Ｖ〕 以上の説明で絶縁抵抗規格値R11，R12f，R13f
及びR14fを個々に示したが、これらは同一の値と
するのが一般的である。
第３図で被監視ケーブルのL1とL2で設定電位
にv1とv2の如く差をつけているのは以下の理由に
よる。
にv1とv2の如く差をつけているのは以下の理由に
よる。
第２図に於いて被監視ケーブル心線のL1−L2
間の絶縁抵抗２０の抵抗値R10が低下した場合、
心線L1の設定値v1と心線L2の設定値v2が同一であ
れば、比較器１４，１５の入力電位は変化せず、
これを検出することは出来ない。第３図のように
ずらして設定してあれば絶縁抵抗２０の絶縁抵抗
値R10が低下すると比較器１４，１５の入力電位
が各々近づくことになる。比較器１４の入力げ
v11以上になるか、比較器１５の入力がv22以下に
なつたとき絶縁不良が検出されるので、心線L1
−L2間の絶縁不良を検出可能となる。心線L1−
L2間の絶縁抵抗R10が低下し、検出される値を
R10fとすると、本装置の構成上、R10fは他の絶縁
抵抗規格値R11f，R12f，R13f及びR14fより低い値
で検出される。その値は心線L1，L2の設定電位
v1，v2及び絶縁抵抗規格値R11f，R12f，R13f，R14f
により決定される。
間の絶縁抵抗２０の抵抗値R10が低下した場合、
心線L1の設定値v1と心線L2の設定値v2が同一であ
れば、比較器１４，１５の入力電位は変化せず、
これを検出することは出来ない。第３図のように
ずらして設定してあれば絶縁抵抗２０の絶縁抵抗
値R10が低下すると比較器１４，１５の入力電位
が各々近づくことになる。比較器１４の入力げ
v11以上になるか、比較器１５の入力がv22以下に
なつたとき絶縁不良が検出されるので、心線L1
−L2間の絶縁不良を検出可能となる。心線L1−
L2間の絶縁抵抗R10が低下し、検出される値を
R10fとすると、本装置の構成上、R10fは他の絶縁
抵抗規格値R11f，R12f，R13f及びR14fより低い値
で検出される。その値は心線L1，L2の設定電位
v1，v2及び絶縁抵抗規格値R11f，R12f，R13f，R14f
により決定される。
本発明の一実施例は以上のように構成されてお
り、被監視ケーブル心線が絶縁不良になると出力
端子１９に絶縁不良を示す論理信号“１”が出力
され、これにより外部の図示せざる警報電鈴等を
起動する。また出力端子１７，１８により何れの
比較器が絶縁不良を検出したのか知ることが出来
る。
り、被監視ケーブル心線が絶縁不良になると出力
端子１９に絶縁不良を示す論理信号“１”が出力
され、これにより外部の図示せざる警報電鈴等を
起動する。また出力端子１７，１８により何れの
比較器が絶縁不良を検出したのか知ることが出来
る。
以上の説明に於いては、通常被監視ケーブル心
線が有する導体抵抗は絶縁抵抗規格値と比較して
非常に小さいので無視している。
線が有する導体抵抗は絶縁抵抗規格値と比較して
非常に小さいので無視している。
第４図は本発明の一実施例の具体的な構成を示
す回路図である。同図中２７，２８，２９，３０
は抵抗器、３１は比較器の判定電位設定用電源、
３２，３３はプラスとマイナスの二入力端子の電
位を監視し、プラス側入力端子（以下＋入力と記
す）の電位が高ければ論理信号“１”を出力し、
マイナス側入力端子（以下−入力と記す）の電位
が高ければ論理信号“０”を出力する比較器、３
４は論理和回路であり、これらは比較器１４を構
成する。同様の３５，３６，３７，３８は抵抗
器、３９は比較器の判定電位設定用電源、４０，
４１はプラスとマイナスの二入力端子の電位を監
視し、＋側入力端子の電位が高ければ論理信号
“１”を出力し、一側入力端子の電位が高ければ
論理信号“０”を出力する比較器、４２は論理和
回路でありこれらは比較器１５を構成する。
す回路図である。同図中２７，２８，２９，３０
は抵抗器、３１は比較器の判定電位設定用電源、
３２，３３はプラスとマイナスの二入力端子の電
位を監視し、プラス側入力端子（以下＋入力と記
す）の電位が高ければ論理信号“１”を出力し、
マイナス側入力端子（以下−入力と記す）の電位
が高ければ論理信号“０”を出力する比較器、３
４は論理和回路であり、これらは比較器１４を構
成する。同様の３５，３６，３７，３８は抵抗
器、３９は比較器の判定電位設定用電源、４０，
４１はプラスとマイナスの二入力端子の電位を監
視し、＋側入力端子の電位が高ければ論理信号
“１”を出力し、一側入力端子の電位が高ければ
論理信号“０”を出力する比較器、４２は論理和
回路でありこれらは比較器１５を構成する。
第５図は、第４図で示す回路構成に於ける比較
器１４，１５の動作説明図である。以下比較器１
４について動作を説明する。
器１４，１５の動作説明図である。以下比較器１
４について動作を説明する。
抵抗器２７，２８により比較器３２の−入力を
v11に設定する。抵抗器２９，３０により比較器
３３の＋入力をv12に設定する。比較器３２の＋
入力と、比較器３３の−入力は被監視ケーブル心
線L1の測定端子３に接続する。被監視ケーブル
心線L1の絶縁状態が正常で絶縁抵抗R11，R12が
無限大（図中∞と記す）であるとき測定端子３の
電位はv1である。このとき比較器３２の出力は論
理“０”である。絶縁抵抗R11が低下すると抵抗
９の抵抗値R1が低下したのと等価になり、測定
端子３の電位は上昇し、v11を越えると比較器３
２の出力は論理“１”になる。あるいは絶縁抵抗
R12が抵下すると抵抗１０の抵抗値R2が低下した
のと等価になり測定端子３の電位は下降し、v12
を越えると比較器３３の出力は論理“１”にな
る。比較器３２，３３の何れかの出力が論理
“１”になると論理和回路３４の出力は論理“１”
になり、比較器１４の論理出力が論理“１”とし
て心線L1の絶縁不良を表示する。
v11に設定する。抵抗器２９，３０により比較器
３３の＋入力をv12に設定する。比較器３２の＋
入力と、比較器３３の−入力は被監視ケーブル心
線L1の測定端子３に接続する。被監視ケーブル
心線L1の絶縁状態が正常で絶縁抵抗R11，R12が
無限大（図中∞と記す）であるとき測定端子３の
電位はv1である。このとき比較器３２の出力は論
理“０”である。絶縁抵抗R11が低下すると抵抗
９の抵抗値R1が低下したのと等価になり、測定
端子３の電位は上昇し、v11を越えると比較器３
２の出力は論理“１”になる。あるいは絶縁抵抗
R12が抵下すると抵抗１０の抵抗値R2が低下した
のと等価になり測定端子３の電位は下降し、v12
を越えると比較器３３の出力は論理“１”にな
る。比較器３２，３３の何れかの出力が論理
“１”になると論理和回路３４の出力は論理“１”
になり、比較器１４の論理出力が論理“１”とし
て心線L1の絶縁不良を表示する。
比較器１５についても同様で絶縁抵抗R13又は
R14が低下し、v21又はv22を越えると論理和回路
４２の出力は論理“１”になり比較器１５の論理
出力が論理“１”として心線L2の絶縁不良を表
示する。論理和回路１６の動作は第２図のそれと
同じであり比較器１４又は１５の出力が論理
“１”であると論理出力が“１”となり、ケーブ
ルの絶縁不良を表示する。
R14が低下し、v21又はv22を越えると論理和回路
４２の出力は論理“１”になり比較器１５の論理
出力が論理“１”として心線L2の絶縁不良を表
示する。論理和回路１６の動作は第２図のそれと
同じであり比較器１４又は１５の出力が論理
“１”であると論理出力が“１”となり、ケーブ
ルの絶縁不良を表示する。
以上説明したように本発明によると、通信用ケ
ーブルに於いて生じる各種の絶縁不良が検出可能
となる。又、従来技術に於いは、被監視ケーブル
心線の接続替えが必要であり、接続替え直後は充
放電電流の影響がなくなる迄しばらくの間、監視
不能であつたが、本発明に於いては、監視中に被
監視ケーブル心線の接続替えが不要であり、連続
的に監視することができるので短時間発生する絶
縁不良も検出可能となる。
ーブルに於いて生じる各種の絶縁不良が検出可能
となる。又、従来技術に於いは、被監視ケーブル
心線の接続替えが必要であり、接続替え直後は充
放電電流の影響がなくなる迄しばらくの間、監視
不能であつたが、本発明に於いては、監視中に被
監視ケーブル心線の接続替えが不要であり、連続
的に監視することができるので短時間発生する絶
縁不良も検出可能となる。
このように本発明によれば、従来技術と比較し
て絶縁監視の範囲が拡大することにより、通信用
ケーブルの絶縁不良を早く正確に把握することが
出来、電気通信網の維持管理を容易化、高度化で
きるという利点がある。
て絶縁監視の範囲が拡大することにより、通信用
ケーブルの絶縁不良を早く正確に把握することが
出来、電気通信網の維持管理を容易化、高度化で
きるという利点がある。
第１図は従来の絶縁監視方法において実施され
る三通りの基本的な絶縁抵抗測定回路の接続図、
第２図は本発明の一実施例を示す接続構成図、第
３図はその動作説明図、第４図は本発明の一実施
例の具体的回路構成図、第５図はその動作説明
図、である。 符号説明、１……被監視ケーブル心線のL1、
２……被監視ケーブル心線のL2、３……L1の測
定端子、４……L2の測定端子、５……接地端子、
６……絶縁抵抗計、７……電池、８……本発明装
置、９，１０，１１，１２……抵抗器、１３……
電源、１４，１５……比較器、１６……論理和回
路、１７，１８，１９……出力端子、２０，２
１，２２，２３，２４……絶縁抵抗、２５，２６
……電源、２７，２８，２９，３０……抵抗器、
３１……電源、３２，３３……比較器、３４……
論理和回路、３５，３６，３７，３８……抵抗
器、３９……電源、４０，４１……比較器、４２
……論理和回路。
る三通りの基本的な絶縁抵抗測定回路の接続図、
第２図は本発明の一実施例を示す接続構成図、第
３図はその動作説明図、第４図は本発明の一実施
例の具体的回路構成図、第５図はその動作説明
図、である。 符号説明、１……被監視ケーブル心線のL1、
２……被監視ケーブル心線のL2、３……L1の測
定端子、４……L2の測定端子、５……接地端子、
６……絶縁抵抗計、７……電池、８……本発明装
置、９，１０，１１，１２……抵抗器、１３……
電源、１４，１５……比較器、１６……論理和回
路、１７，１８，１９……出力端子、２０，２
１，２２，２３，２４……絶縁抵抗、２５，２６
……電源、２７，２８，２９，３０……抵抗器、
３１……電源、３２，３３……比較器、３４……
論理和回路、３５，３６，３７，３８……抵抗
器、３９……電源、４０，４１……比較器、４２
……論理和回路。
Claims (1)
- １ 通信用ケーブルの絶縁監視対象の芯線を特定
の電位に設定する抵抗回路と、予め該芯線が大地
に対して絶縁不良になつたときの電位を上限値と
し、該芯線が電源を有する他回路との間で絶縁不
良になつたときの電位を下限値として設定し、監
視した該芯線の電位が、前記抵抗回路により設定
された電位をはずれただけでなく、前記上限値と
下限値で規定された範囲からはずれると絶縁不良
を示す信号を出力する比較器と、を有して成るこ
とを特徴とする通信用ケーブルの絶縁監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18174381A JPS5885176A (ja) | 1981-11-14 | 1981-11-14 | 通信用ケ−ブルの絶縁監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18174381A JPS5885176A (ja) | 1981-11-14 | 1981-11-14 | 通信用ケ−ブルの絶縁監視装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5885176A JPS5885176A (ja) | 1983-05-21 |
| JPH028662B2 true JPH028662B2 (ja) | 1990-02-26 |
Family
ID=16106106
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18174381A Granted JPS5885176A (ja) | 1981-11-14 | 1981-11-14 | 通信用ケ−ブルの絶縁監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5885176A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE19725611C2 (de) * | 1997-06-17 | 2001-03-08 | Siemens Ag | Überwachungsverfahren und Überwachungsgerät für ein Kabel |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54151875A (en) * | 1978-05-22 | 1979-11-29 | Toshiba Corp | Disconnection detector for transmission circuits |
-
1981
- 1981-11-14 JP JP18174381A patent/JPS5885176A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5885176A (ja) | 1983-05-21 |
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