JPH028731B2 - - Google Patents
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- JPH028731B2 JPH028731B2 JP57149110A JP14911082A JPH028731B2 JP H028731 B2 JPH028731 B2 JP H028731B2 JP 57149110 A JP57149110 A JP 57149110A JP 14911082 A JP14911082 A JP 14911082A JP H028731 B2 JPH028731 B2 JP H028731B2
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- 210000004087 cornea Anatomy 0.000 claims description 28
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 20
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 12
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims 4
- 210000001508 eye Anatomy 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 210000005252 bulbus oculi Anatomy 0.000 description 2
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0616—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B3/00—Apparatus for testing the eyes; Instruments for examining the eyes
- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
-
- A—HUMAN NECESSITIES
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- A61B3/10—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions
- A61B3/107—Objective types, i.e. instruments for examining the eyes independent of the patients' perceptions or reactions for determining the shape or measuring the curvature of the cornea
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Description
【発明の詳細な説明】
本発明は眼球の角膜の厚さを測るフアコメータ
ーに関する。
ーに関する。
フアコメーターの原理を第１図乃至第４図にて
説明する。第１図に示すごとく眼球１の角膜２に
スリツトランプより細いスリツト光３を垂直に入
射させ、ある角度θの方向より角膜を観察すると
角膜表面及び裏表からの反射光がある間隔d′をも
つて観察される。こゝで角膜２の真の厚さｄはｄ
＝d′／sinθd′／θで与えられる。
説明する。第１図に示すごとく眼球１の角膜２に
スリツトランプより細いスリツト光３を垂直に入
射させ、ある角度θの方向より角膜を観察すると
角膜表面及び裏表からの反射光がある間隔d′をも
つて観察される。こゝで角膜２の真の厚さｄはｄ
＝d′／sinθd′／θで与えられる。
一方、第２図に示すごとく厚さｔ、屈折率n′を
持つ平行平面板４に細いビーム光が屈折率ｎの空
間からある角度1で入射すると平行平面板内で
は2なる角度で屈折し、再び平行平面板４から
出射する時入射角度1と同一の出射角度1で出
射されることは良く知られており、この時入射光
と出射光の平行ズレ量ｌは次式で与えられる。
持つ平行平面板４に細いビーム光が屈折率ｎの空
間からある角度1で入射すると平行平面板内で
は2なる角度で屈折し、再び平行平面板４から
出射する時入射角度1と同一の出射角度1で出
射されることは良く知られており、この時入射光
と出射光の平行ズレ量ｌは次式で与えられる。
ｌ＝tsin1（１−ｎ／n′ cos1／cos2）
こゝで1，2の値が小さい範囲においては ｌ
＝t1（１−ｎ／n′）となる。
＝t1（１−ｎ／n′）となる。
そこで、第２図の原理にもとずく平行平面板４を
第１図の間隔d′を測定するために利用すると第３
図の如くなる。すなわち角膜２からの反射光中に
２枚の平行平面板４，４′を隣接並置し一方４′は
角膜２からの反射光が垂直に入射する如く固定配
置し、他方４は回転軸Ｐにおいて回転出来る様に
配置する。ここで第３図においてＱ点より反射光
をながめると第４図の様に観察される。第４図に
おいて２ｆ，２f′は角膜表面からの反射光による
像２ｂ，２b′は裏面からの反射光による像であ
る。像２ｂと２f′が重なるように平行平面板４を
回転しそのときの回転角をとすると角膜の厚さ
ｄは次式で求めることができる。
第１図の間隔d′を測定するために利用すると第３
図の如くなる。すなわち角膜２からの反射光中に
２枚の平行平面板４，４′を隣接並置し一方４′は
角膜２からの反射光が垂直に入射する如く固定配
置し、他方４は回転軸Ｐにおいて回転出来る様に
配置する。ここで第３図においてＱ点より反射光
をながめると第４図の様に観察される。第４図に
おいて２ｆ，２f′は角膜表面からの反射光による
像２ｂ，２b′は裏面からの反射光による像であ
る。像２ｂと２f′が重なるように平行平面板４を
回転しそのときの回転角をとすると角膜の厚さ
ｄは次式で求めることができる。
ｄ＝k
ただし ｋ＝ｔ（１−ｎ／n′）／sinθ
以上が従来のフアコメーターの原理であるが、
観察者が観察しながら像２ｂと２f′とを合致させ
る為に個人差及び時間差による誤差が生じると共
に両者を合致させるのが難しく疲労も生じるとい
う欠点があつた。
観察者が観察しながら像２ｂと２f′とを合致させ
る為に個人差及び時間差による誤差が生じると共
に両者を合致させるのが難しく疲労も生じるとい
う欠点があつた。
本発明はこれ等の欠点を解決し、個人差による
測定誤差が生じないと共に簡単に測定の行なえる
フアコメーターを得ることを目的とする。
測定誤差が生じないと共に簡単に測定の行なえる
フアコメーターを得ることを目的とする。
以下、図面に示した実施例に基づいて本発明を
説明する。
説明する。
第５図は本発明の一実施例であつて、被検眼１
との位置合わせが完了した状態を示している。
との位置合わせが完了した状態を示している。
スリツトランプ３０からのスリツト光３は被検
眼１の前方に斜設された第１半透鏡５を介して被
検眼１へ垂直に入射する如く投射光軸l1に沿つて
投射される。スリツトランプ３０の投射光路外に
は被検眼１の角膜２を観察するために実体顕微鏡
等から成る観察光学系６が設けられている。角膜
２の表面と裏面からの反射光を受光するために第
１結像レンズ７がスリツトランプ３０の投射光軸
l1に対しその光軸l2を角度θ傾けて配設されてい
る。第１結像レンズ７に入射した角膜２の反射光
は、第１結像レンズ７の光軸l2に対して斜設され
た第２半透鏡８を通してCCD等のイメージセン
サ９に入射する。その結果、イメージセンサ９の
表面には角膜２の表面と裏面の反射光が倍率M1
で結像する。イメージセンサ９は光軸l2に垂直な
面内にない角膜２の表面と裏面とにピントを合わ
せるために、光軸l2に垂直な面に対し角度傾い
ている。第１半透鏡５と第２半透鏡８との間には
角膜２表面からの垂直反射光を第１半透鏡５を介
して受光する第２結像レンズ１０が配設されてい
る。第２結像レンズ１０に入射した角膜２の反射
光は、第２半透鏡８を反射しイメージセンサ９に
入射する。その結果、イメージセンサ９の表面に
は角膜２の反射光が倍率M2で結像する。本例で
は、イメージセンサ９上において、第１結像レン
ズ７による角膜２の表面と裏面の反射像の中間
に、第２結像レンズ１０による角膜２の表面の垂
直反射像が生ずる如く、すなわち、光軸l2が角膜
２の表面と裏面の中間位置で光軸l1に交叉する如
く、各光学部材の位置が調整されている。
眼１の前方に斜設された第１半透鏡５を介して被
検眼１へ垂直に入射する如く投射光軸l1に沿つて
投射される。スリツトランプ３０の投射光路外に
は被検眼１の角膜２を観察するために実体顕微鏡
等から成る観察光学系６が設けられている。角膜
２の表面と裏面からの反射光を受光するために第
１結像レンズ７がスリツトランプ３０の投射光軸
l1に対しその光軸l2を角度θ傾けて配設されてい
る。第１結像レンズ７に入射した角膜２の反射光
は、第１結像レンズ７の光軸l2に対して斜設され
た第２半透鏡８を通してCCD等のイメージセン
サ９に入射する。その結果、イメージセンサ９の
表面には角膜２の表面と裏面の反射光が倍率M1
で結像する。イメージセンサ９は光軸l2に垂直な
面内にない角膜２の表面と裏面とにピントを合わ
せるために、光軸l2に垂直な面に対し角度傾い
ている。第１半透鏡５と第２半透鏡８との間には
角膜２表面からの垂直反射光を第１半透鏡５を介
して受光する第２結像レンズ１０が配設されてい
る。第２結像レンズ１０に入射した角膜２の反射
光は、第２半透鏡８を反射しイメージセンサ９に
入射する。その結果、イメージセンサ９の表面に
は角膜２の反射光が倍率M2で結像する。本例で
は、イメージセンサ９上において、第１結像レン
ズ７による角膜２の表面と裏面の反射像の中間
に、第２結像レンズ１０による角膜２の表面の垂
直反射像が生ずる如く、すなわち、光軸l2が角膜
２の表面と裏面の中間位置で光軸l1に交叉する如
く、各光学部材の位置が調整されている。
イメージセンサ９は、駆動回路１１からの駆動
信号によつて走査され、映像信号を処理装置１２
に入力する。処理装置１２は角膜２の厚さを求
め、この値は表示装置１３にて表示される。
信号によつて走査され、映像信号を処理装置１２
に入力する。処理装置１２は角膜２の厚さを求
め、この値は表示装置１３にて表示される。
ここで、イメージセンサ９に入射する光束につ
いて第６図を用いて詳細に説明する。角膜２から
の垂直反射光１４は、第２半透鏡８にて反射し、
第１結像レンズ７の光軸l2に沿つてイメージセン
サ９上のP1点に結像する。また、第１結像レン
ズ７に入射した角膜２の表面及び裏面からの光
は、イメージセンサ９上のP2点，P3点に結像す
る。ここでP2点，P3点の距離をd″とすれば、角
膜２の厚さｄは、 ｄ＝d″cos／M1sinθ ……式(1) で与えられる。
いて第６図を用いて詳細に説明する。角膜２から
の垂直反射光１４は、第２半透鏡８にて反射し、
第１結像レンズ７の光軸l2に沿つてイメージセン
サ９上のP1点に結像する。また、第１結像レン
ズ７に入射した角膜２の表面及び裏面からの光
は、イメージセンサ９上のP2点，P3点に結像す
る。ここでP2点，P3点の距離をd″とすれば、角
膜２の厚さｄは、 ｄ＝d″cos／M1sinθ ……式(1) で与えられる。
従つて、イメージセンサ９の映像信号からP2
点、P3点の距離d″を求めれば、角膜２の厚さｄ
は(1)式にて求まることになる。
点、P3点の距離d″を求めれば、角膜２の厚さｄ
は(1)式にて求まることになる。
そこで、距離d″から角膜２の厚さを求める処理
装置１２の一例を第７図及び第７図のタイムチヤ
ートを示す第８図を用いて説明する。なお、第７
図中に記したアルフアベツトの小文字は、第８図
にアルフアベツトの小文字で示した各信号がその
位置に生じていることを示している。
装置１２の一例を第７図及び第７図のタイムチヤ
ートを示す第８図を用いて説明する。なお、第７
図中に記したアルフアベツトの小文字は、第８図
にアルフアベツトの小文字で示した各信号がその
位置に生じていることを示している。
イメージセンサ９は、周知の如く駆動回路１１
からのスタート信号と駆動パルスによつて駆動さ
れ映像信号を出力する。スタート信号は第８図ａ
の如くであり、またイメージセンサ９から出力さ
れる映像信号は例えば第８図ｂの如くである。第
８図ｂにおいて、ピークq1，q2，q3は順次イメー
ジセンサ９上のP3点、P1点、P2点（第６図）に
対応している。従つて、ピークq1とピークq3の時
間t1は、P3点とP2点の距離d″に対応する。すなわ
ち、イメージセンサ９のエレメントのピツチを
Δ、駆動パルスの周波数を1とすれば、 d″＝Δt1／1 ……式(2) で与えられる。
からのスタート信号と駆動パルスによつて駆動さ
れ映像信号を出力する。スタート信号は第８図ａ
の如くであり、またイメージセンサ９から出力さ
れる映像信号は例えば第８図ｂの如くである。第
８図ｂにおいて、ピークq1，q2，q3は順次イメー
ジセンサ９上のP3点、P1点、P2点（第６図）に
対応している。従つて、ピークq1とピークq3の時
間t1は、P3点とP2点の距離d″に対応する。すなわ
ち、イメージセンサ９のエレメントのピツチを
Δ、駆動パルスの周波数を1とすれば、 d″＝Δt1／1 ……式(2) で与えられる。
イメージセンサ９の映像信号は、ピークデイテ
クタ１２１に入力され、ピーク位置にて生ずるパ
ルス列に変形される。このパルス列を第８図ｃに
て示す。ピークデイテクタ１２１のパルス列は、
OR回路１２２にてスタート信号（第８図ａ）と
加算される。この結果生じたパルス列を第８図ｄ
にて示す。OR回路１２２から出力されるパルス
列は、1/2カウンタ１２３に入力されて矩形波信
号が形成される。この矩形波信号を第８図ｅにて
示す。
クタ１２１に入力され、ピーク位置にて生ずるパ
ルス列に変形される。このパルス列を第８図ｃに
て示す。ピークデイテクタ１２１のパルス列は、
OR回路１２２にてスタート信号（第８図ａ）と
加算される。この結果生じたパルス列を第８図ｄ
にて示す。OR回路１２２から出力されるパルス
列は、1/2カウンタ１２３に入力されて矩形波信
号が形成される。この矩形波信号を第８図ｅにて
示す。
1/2カウンタ１２３の出力信号はさらに1/2カウン
タ１２４及びインバータ１２５に入力されて第８
図ｇに示した如き倍周期の矩形波信号及び第８図
ｆに示した如き矩形波信号になる。アンドゲート
１２６は、1/2カウンタ１２４の矩形波信号（第
８図ｇ）と1/2カウンタ１２３の矩形波信号（第
８図ｅ）とのアンドをとり、第８図ｈの如きアン
ド信号を出力する。一方、アンドゲート１２７
は、1/2カウンタ１２４の矩形波信号（第８図ｇ）
とインバータ１２５の矩形波信号（第８図ｆ）と
のアンドをとり、第８図ｉの如きアンド信号を出
力する。アンドゲート１２８は、クロツク信号発
生器１２９からのクロツク信号（第８図ｊ）と1/
２カウンタ１２４の矩形波信号（第８図ｇ）との
アンドをとり、第８図ｋの如きアンド信号を出力
する。また、アンドゲート１３０は、クロツク信
号発生器１２９からのクロツク信号（第８図ｊ）
とアンドゲート１２６のアンド信号（第８図ｈ）
とのアンドをとり、第８図ｌの如きアンド信号を
出力する。そしてさらに、アンドゲート１３１
は、クロツク信号発生器１２９からのクロツク信
号（第８図ｊ）とアンドゲート１２７のアンド信
号（第８図ｉ）とのアンドをとり、第８図ｍの如
きアンド信号を出力する。
タ１２４及びインバータ１２５に入力されて第８
図ｇに示した如き倍周期の矩形波信号及び第８図
ｆに示した如き矩形波信号になる。アンドゲート
１２６は、1/2カウンタ１２４の矩形波信号（第
８図ｇ）と1/2カウンタ１２３の矩形波信号（第
８図ｅ）とのアンドをとり、第８図ｈの如きアン
ド信号を出力する。一方、アンドゲート１２７
は、1/2カウンタ１２４の矩形波信号（第８図ｇ）
とインバータ１２５の矩形波信号（第８図ｆ）と
のアンドをとり、第８図ｉの如きアンド信号を出
力する。アンドゲート１２８は、クロツク信号発
生器１２９からのクロツク信号（第８図ｊ）と1/
２カウンタ１２４の矩形波信号（第８図ｇ）との
アンドをとり、第８図ｋの如きアンド信号を出力
する。また、アンドゲート１３０は、クロツク信
号発生器１２９からのクロツク信号（第８図ｊ）
とアンドゲート１２６のアンド信号（第８図ｈ）
とのアンドをとり、第８図ｌの如きアンド信号を
出力する。そしてさらに、アンドゲート１３１
は、クロツク信号発生器１２９からのクロツク信
号（第８図ｊ）とアンドゲート１２７のアンド信
号（第８図ｉ）とのアンドをとり、第８図ｍの如
きアンド信号を出力する。
すなわち、アンドゲート１２８から出力される
パルス数は、第８図ｇの時間t1、すなわち、イメ
ージセンサ９上のP3点とP2点の距離に対応し、
アンドゲート１３０から出力されるパルス数は、
第８図ｈの時間t2、すなわち、イメージセンサ９
上のP3点とP1点の距離に対応し、そして、アン
ドゲード１３１から出力されるパルス数は、第８
図ｉの時間t3、すなわち、イメージセンサ９上の
P1点とP2点の距離に対応する。例えば、アンド
ゲード１２８から出力されるパルス数をn130、ク
ロツク信号発生器１２９のクロツク信号の周波数
を2とすれば、 t1＝n130／2 ……式(3) となり、これを式(2)に代入すれば、 d″＝Δn130／1 2 ……式(4) となる。
パルス数は、第８図ｇの時間t1、すなわち、イメ
ージセンサ９上のP3点とP2点の距離に対応し、
アンドゲート１３０から出力されるパルス数は、
第８図ｈの時間t2、すなわち、イメージセンサ９
上のP3点とP1点の距離に対応し、そして、アン
ドゲード１３１から出力されるパルス数は、第８
図ｉの時間t3、すなわち、イメージセンサ９上の
P1点とP2点の距離に対応する。例えば、アンド
ゲード１２８から出力されるパルス数をn130、ク
ロツク信号発生器１２９のクロツク信号の周波数
を2とすれば、 t1＝n130／2 ……式(3) となり、これを式(2)に代入すれば、 d″＝Δn130／1 2 ……式(4) となる。
アンドゲート１３０，１３１のアンド出力信号
（第８図ｌ，ｍ）は、スタート信号（第８図ａ）
を遅延回路１３２により遅延させた信号をリセツ
ト信号とするアツプ・ダウンカウンタ１３３のア
ツプ入力・ダウン入力に各々接続し計数される。
アンドゲート１２８のアンド信号（第８図ｋ）
は、スタート信号ａを遅延回路１３２により遅延
した信号をリセツト信号とするカウンタ１３４に
よつて計数される。カウンタ１３３の出力信号
は、比較回路１３５の一方の入力端子に入力され
る。比較回路１３５の他方の入力端子に基準発生
回路１３６の出力が入力されており、アツプ・ダ
ウンカウンタ１３３の出力がほぼ零とみなせる所
定の範囲内にあるときにのみ高レベルの信号をア
ンドゲート１３７の一方の入力端子に入力せしめ
る。アンドゲート１３７の他方の入力端子にはス
タート信号が入力される如く成つており、従つ
て、アンドゲート１３７はアツプ・ダウンカウン
タ１３３の出力信号がほぼ零とみなせる所定の範
囲内にあるときのみスタート信号を出力する。ア
ンドゲート１３７から出力されたスタート信号
は、ラツチ回路１３８の記憶開始信号になると共
にカウンタ１３９の入力信号になる。
（第８図ｌ，ｍ）は、スタート信号（第８図ａ）
を遅延回路１３２により遅延させた信号をリセツ
ト信号とするアツプ・ダウンカウンタ１３３のア
ツプ入力・ダウン入力に各々接続し計数される。
アンドゲート１２８のアンド信号（第８図ｋ）
は、スタート信号ａを遅延回路１３２により遅延
した信号をリセツト信号とするカウンタ１３４に
よつて計数される。カウンタ１３３の出力信号
は、比較回路１３５の一方の入力端子に入力され
る。比較回路１３５の他方の入力端子に基準発生
回路１３６の出力が入力されており、アツプ・ダ
ウンカウンタ１３３の出力がほぼ零とみなせる所
定の範囲内にあるときにのみ高レベルの信号をア
ンドゲート１３７の一方の入力端子に入力せしめ
る。アンドゲート１３７の他方の入力端子にはス
タート信号が入力される如く成つており、従つ
て、アンドゲート１３７はアツプ・ダウンカウン
タ１３３の出力信号がほぼ零とみなせる所定の範
囲内にあるときのみスタート信号を出力する。ア
ンドゲート１３７から出力されたスタート信号
は、ラツチ回路１３８の記憶開始信号になると共
にカウンタ１３９の入力信号になる。
ラツチ回路１３８は、カウンタ１３４の計数値
を記憶開始信号に同期して記憶する。すなわち、
ラツチ回路１３８の記憶内容は、記憶開始信号が
生じた時のカウンタ１３４の計数値である。加算
回路１４０は、記憶開始信号が生じたときのラツ
チ回路１３８の記憶内容を記憶開始信号を遅延回
路１４１で遅延させた信号に同期して順次加算し
ていく。そして割算回路１４２は、加算回路１４
０の加算信号をカウンタ１３９の計数値にて遅延
回路１４１の信号を遅延回路１４３にて更に遅延
させた信号に同期して割算を行なうので、割算回
路１４２の出力信号はパルス数n130の加算平均値
n130であり時間t2と時間t3とがほぼ等しいときの
時間t1を所定回数加算平均した時間1に対応して
いる。
を記憶開始信号に同期して記憶する。すなわち、
ラツチ回路１３８の記憶内容は、記憶開始信号が
生じた時のカウンタ１３４の計数値である。加算
回路１４０は、記憶開始信号が生じたときのラツ
チ回路１３８の記憶内容を記憶開始信号を遅延回
路１４１で遅延させた信号に同期して順次加算し
ていく。そして割算回路１４２は、加算回路１４
０の加算信号をカウンタ１３９の計数値にて遅延
回路１４１の信号を遅延回路１４３にて更に遅延
させた信号に同期して割算を行なうので、割算回
路１４２の出力信号はパルス数n130の加算平均値
n130であり時間t2と時間t3とがほぼ等しいときの
時間t1を所定回数加算平均した時間1に対応して
いる。
従つて、演算回路１４４は、式(4)のn130に130
を代入して式(5)を演算し、表示回路１３に角膜の
厚さｄを表示せしめる。
を代入して式(5)を演算し、表示回路１３に角膜の
厚さｄを表示せしめる。
このようにして角膜の厚さｄを読み取ることが
できる。
できる。
以上の説明において、時間t2と時間t3とがほぼ
等しいときとは、第６図に示したイメージセンサ
９上のP1点がP2点とP3点のほぼ中間位置にある
こと、すなわち、スリツト光３の投射光軸l1が被
検眼１の角膜２の表面にほぼ垂直に入射し、位置
合わせの良好な状態であることを示しており、従
つて、その時にのみデータを取り込む如く成つて
いるので、装置と被検眼１の位置合わせを行なつ
た後、被検眼１が動いても常に精度の高い測定値
を得ることができる。さらに、比較回路１３９の
出力端子に高レベルの信号にて駆動される発光素
子等の表示素子を接続し、この表示素子が例えば
光学素子である場合には、観察光学系６のフアイ
ンダ内で視認できる如くすれば、位置合わせが精
度高く行なえる。さらに、アツプ・ダウンカウン
タ１３５から出力される信号から符号付きの表示
を行なうように成せば、ズレの方向までわかるの
で位置合わせがより容易に行なえる。
等しいときとは、第６図に示したイメージセンサ
９上のP1点がP2点とP3点のほぼ中間位置にある
こと、すなわち、スリツト光３の投射光軸l1が被
検眼１の角膜２の表面にほぼ垂直に入射し、位置
合わせの良好な状態であることを示しており、従
つて、その時にのみデータを取り込む如く成つて
いるので、装置と被検眼１の位置合わせを行なつ
た後、被検眼１が動いても常に精度の高い測定値
を得ることができる。さらに、比較回路１３９の
出力端子に高レベルの信号にて駆動される発光素
子等の表示素子を接続し、この表示素子が例えば
光学素子である場合には、観察光学系６のフアイ
ンダ内で視認できる如くすれば、位置合わせが精
度高く行なえる。さらに、アツプ・ダウンカウン
タ１３５から出力される信号から符号付きの表示
を行なうように成せば、ズレの方向までわかるの
で位置合わせがより容易に行なえる。
以上の様に本発明によれば、自動化したために
測定の手間がはぶけると共に不正確さが低減で
き、かつ投射光の垂直入射の可否も知ることが出
来るので、それによつて生じる誤差も低減でき、
かつ個人差の生じにくい電子式フアコメーターが
得られる。
測定の手間がはぶけると共に不正確さが低減で
き、かつ投射光の垂直入射の可否も知ることが出
来るので、それによつて生じる誤差も低減でき、
かつ個人差の生じにくい電子式フアコメーターが
得られる。
第１図〜第３図は従来の装置の説明図、第４図
は従来の装置によつて得られる角膜像の説明図、
第５図は本発明の実施例、第６図は本発明の実施
例（第５図）の一部拡大図、第７図は本発明の実
施例（第５図）に用いられる電気回路図、第８図
は第７図の回路図の動作を説明するための各部の
波形を示すタイミングチヤートである。 主要部分の符号の説明、３０……スリツトラン
プ、１０……第２結像レンズ、７……第１結像レ
ンズ、８……第２半透鏡、９……イメージセン
サ、１１……駆動回路。
は従来の装置によつて得られる角膜像の説明図、
第５図は本発明の実施例、第６図は本発明の実施
例（第５図）の一部拡大図、第７図は本発明の実
施例（第５図）に用いられる電気回路図、第８図
は第７図の回路図の動作を説明するための各部の
波形を示すタイミングチヤートである。 主要部分の符号の説明、３０……スリツトラン
プ、１０……第２結像レンズ、７……第１結像レ
ンズ、８……第２半透鏡、９……イメージセン
サ、１１……駆動回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被検眼の角膜表面にほぼ垂直に照明光を入射
せしめる照明光学系と、該照明光による角膜表面
及び角膜裏面での反射光を所定位置に結像する結
像光学系とを有し、該結像した一対の反射像の距
離から前記角膜の厚さを測定するフアコメータに
おいて、 前記所定位置に前記一対の反射像の距離を光電
的に測定するためのイメージセンサを配設すると
共に、前記照明光学系の光軸が前記角膜表面にほ
ぼ垂直になつたときに、前記角膜表面からの反射
光を前記一対の反射像の中間に結像する光学手段
を配設したことを特徴とするフアコメータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57149110A JPS5938603A (ja) | 1982-08-30 | 1982-08-30 | 電子式フアコメ−タ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57149110A JPS5938603A (ja) | 1982-08-30 | 1982-08-30 | 電子式フアコメ−タ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5938603A JPS5938603A (ja) | 1984-03-02 |
| JPH028731B2 true JPH028731B2 (ja) | 1990-02-27 |
Family
ID=15467917
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57149110A Granted JPS5938603A (ja) | 1982-08-30 | 1982-08-30 | 電子式フアコメ−タ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5938603A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2835371B2 (ja) * | 1987-05-30 | 1998-12-14 | キヤノン株式会社 | 被検眼測定装置 |
| JPH0176610U (ja) * | 1987-11-11 | 1989-05-24 | ||
| JPH02117521A (ja) * | 1988-10-24 | 1990-05-02 | Furukawa Alum Co Ltd | 粉粒体用コンテナの積み卸しシステム |
-
1982
- 1982-08-30 JP JP57149110A patent/JPS5938603A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5938603A (ja) | 1984-03-02 |
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