JPH0287856A - 被試験端末の試験方式 - Google Patents
被試験端末の試験方式Info
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- JPH0287856A JPH0287856A JP23999888A JP23999888A JPH0287856A JP H0287856 A JPH0287856 A JP H0287856A JP 23999888 A JP23999888 A JP 23999888A JP 23999888 A JP23999888 A JP 23999888A JP H0287856 A JPH0287856 A JP H0287856A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[概要]
電話機等の被試験端末を手動で試験する場合における被
試M端末の試験方式に関し、 被試験端末の手動試験を操作性よく行うことを目的とし
、 ネットワークと、該ネットワークと接続されてその接続
制御を行う制mv、茸と、該制御装置と接続された主記
憶装置と、加入者回路を介して前記ネットワークと接続
された被試験端末とにより構成されたシステムにおいて
、加入者回路に測定装置を接続して前記被試験端末を手
動で試験する場合において、前記主記憶装置内に試験要
求を受付ける試験要求受付はユニットと、被試験端末の
状態を表示する被試験端末状態表示メモリとを設け、試
験端末から被試験端末の試験要求を発信した場合に、前
記被試験端末状態表示メモリの内容を試験端末に表示さ
せて被試験端末の状態を把握してから該被試験端末の手
動試験を行うように構成する。
試M端末の試験方式に関し、 被試験端末の手動試験を操作性よく行うことを目的とし
、 ネットワークと、該ネットワークと接続されてその接続
制御を行う制mv、茸と、該制御装置と接続された主記
憶装置と、加入者回路を介して前記ネットワークと接続
された被試験端末とにより構成されたシステムにおいて
、加入者回路に測定装置を接続して前記被試験端末を手
動で試験する場合において、前記主記憶装置内に試験要
求を受付ける試験要求受付はユニットと、被試験端末の
状態を表示する被試験端末状態表示メモリとを設け、試
験端末から被試験端末の試験要求を発信した場合に、前
記被試験端末状態表示メモリの内容を試験端末に表示さ
せて被試験端末の状態を把握してから該被試験端末の手
動試験を行うように構成する。
[産業上の利用分野]
本発明は電話機等の被試験端末を手動で試験する場合に
おける被試験端末の試験方式に関し、更に詳しくは加入
者、トランク等の状態をメモリ上に保持する機能を有す
る電子交換システムにおいて、加入者、トランク等の手
動試験における被試験端末の状態表示方式に関する。
おける被試験端末の試験方式に関し、更に詳しくは加入
者、トランク等の状態をメモリ上に保持する機能を有す
る電子交換システムにおいて、加入者、トランク等の手
動試験における被試験端末の状態表示方式に関する。
[従来の技術]
第9図は従来の試験システムの構成例を示す図である。
図において、1は被試験端末で、例えば電話機、2は該
被試験端末1と接続された加入者回路、3はネットワー
ク((へ)W)で、加入者回路2と接続されている。3
aは被試験端末1の状態を表示する状態表示メモリ、3
bは試験要求を受は付けて加入者回路2を手動試験が可
能な状態に設定する試験要求受付ユニットである。状態
表示メモリ3a及び試験要求受付ユニット3bは交換機
本体3に含まれる。、4は交換機本体3に対して試験要
求を出すと共に各種コマンドを出力する試験端末、5は
加入者回路2を介して被試験端末1を試験する測定装置
である。
被試験端末1と接続された加入者回路、3はネットワー
ク((へ)W)で、加入者回路2と接続されている。3
aは被試験端末1の状態を表示する状態表示メモリ、3
bは試験要求を受は付けて加入者回路2を手動試験が可
能な状態に設定する試験要求受付ユニットである。状態
表示メモリ3a及び試験要求受付ユニット3bは交換機
本体3に含まれる。、4は交換機本体3に対して試験要
求を出すと共に各種コマンドを出力する試験端末、5は
加入者回路2を介して被試験端末1を試験する測定装置
である。
このように構成されたシステムにおいて、試験端末4か
ら試験要求受付ユニット3bに対して試験要求信号を与
えると、該試験要求受付ユニット3bは加入者回路の接
続を変えて手動試験が可能な状態にする。当然、この時
には外部からの着信要求は受付けない状態になる。この
状態で、測定装置5を用いて被試験端末1の電源電圧等
の測定試験を行う。なお、状態表示メモリ3bには被試
験端末の状態が変化する度に被試験端末1の状態を示す
データが更新されており、試験端末4からこの状態表示
メモリ3aをアクセスして付属の表示部に表示すること
ができる。
ら試験要求受付ユニット3bに対して試験要求信号を与
えると、該試験要求受付ユニット3bは加入者回路の接
続を変えて手動試験が可能な状態にする。当然、この時
には外部からの着信要求は受付けない状態になる。この
状態で、測定装置5を用いて被試験端末1の電源電圧等
の測定試験を行う。なお、状態表示メモリ3bには被試
験端末の状態が変化する度に被試験端末1の状態を示す
データが更新されており、試験端末4からこの状態表示
メモリ3aをアクセスして付属の表示部に表示すること
ができる。
ところで、加入者、トランク(加入者回路)等の手動試
験を開始する際、被試験端末1が現在どのような状態に
あるのか、例えば次のような情報が保守者に提供されれ
ば、保守者はやみくもに試験を行うのでなく、焦点を絞
って効率的な試験が可能となる。
験を開始する際、被試験端末1が現在どのような状態に
あるのか、例えば次のような情報が保守者に提供されれ
ば、保守者はやみくもに試験を行うのでなく、焦点を絞
って効率的な試験が可能となる。
■被試験端末の電源が正常が異常が
■異常電圧の検出の有無
■過去の試験結果の履歴
■間欠障害の発生回数
[発明が解決しようとする課題]
従来、手動試験の機能と加入者、1−ランク等の端末の
状態を表示する機能とは別々に提供されており、これら
の機能を使用する場合はそれぞれ別の操作が必要であっ
た。このため、手動試験を行っている保守者が被試験端
末の状態を知るには手動試験の操作を一旦中断して端末
の状態表示のための操作を行わなければならず、煩雑な
操作を必要としていた。
状態を表示する機能とは別々に提供されており、これら
の機能を使用する場合はそれぞれ別の操作が必要であっ
た。このため、手動試験を行っている保守者が被試験端
末の状態を知るには手動試験の操作を一旦中断して端末
の状態表示のための操作を行わなければならず、煩雑な
操作を必要としていた。
本発明はこのような課題に鑑みてなされたものであって
、被試験端末の手動試験を操作性よく行うことができる
被試験端末の試験方式を提供することを目的としている
。
、被試験端末の手動試験を操作性よく行うことができる
被試験端末の試験方式を提供することを目的としている
。
[課題を解決するための手段1
第1図は本発明方式の原理ブロック図である。
第9図と同一のものは、同一の符号を付して示す。
図において、10はネットワーク3の切換え制O1を行
う制W装置(CC)、11は該制御装置10と接続され
た主記憶装置(MM)である。11aは被試験端末1の
状態を保持する被試験端末状態表示メモリである。試験
端末4は制御装置1oと接続されている。
う制W装置(CC)、11は該制御装置10と接続され
た主記憶装置(MM)である。11aは被試験端末1の
状態を保持する被試験端末状態表示メモリである。試験
端末4は制御装置1oと接続されている。
[作用]
試験端末4から試験要求を出すと、試験要求受付ユニッ
ト3bは被試験端末1に対する一般呼の着信9発信を禁
止し、その後被試験端末状態表示メモリ11aの内容を
試験端末4の表示部に表示させる。保守者は、この表示
を確認してから被試験端末1の手動試験に入っていける
ので、!&適な手動試験を行うことができ、手動試験の
操作性が向上する。
ト3bは被試験端末1に対する一般呼の着信9発信を禁
止し、その後被試験端末状態表示メモリ11aの内容を
試験端末4の表示部に表示させる。保守者は、この表示
を確認してから被試験端末1の手動試験に入っていける
ので、!&適な手動試験を行うことができ、手動試験の
操作性が向上する。
[実施例1
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第2図は本発明方式の動作を示すシーケンス図である。
保守者の動作、システムの動作及び保守者に表示される
情報について分離して示している。
情報について分離して示している。
先ず、試験端末4から制御装置10に対して手動試験(
閉塞)を要求すると(ステップ1)、試験要求受付ユニ
ット3bはこの要求を受け、被試験端末1に対する一般
呼の着信9発信を禁止する(ステップ2)6次に一般呼
の着信1発信禁止処理終了模、閉塞完了メツセージを表
示部に表示する(ステップ3)、、ここで、表示部は交
換機本体3内に設けてもよいし、試験端末4に設けても
よい。
閉塞)を要求すると(ステップ1)、試験要求受付ユニ
ット3bはこの要求を受け、被試験端末1に対する一般
呼の着信9発信を禁止する(ステップ2)6次に一般呼
の着信1発信禁止処理終了模、閉塞完了メツセージを表
示部に表示する(ステップ3)、、ここで、表示部は交
換機本体3内に設けてもよいし、試験端末4に設けても
よい。
その後、制御装N10は被試験端末状態表示メモリ11
aをアクセスして、その状態を表示部に表示させる(ス
テップ4)。これにより、保守者は被試験端末1の状態
を知ることができ、より適格に被試験端末1の試験を行
うことができるようになる。このステップ4が本発明に
係る部分である。保守者は、非試験端末1の状態を把握
し、試験端末4からの指示により各種試験(例えば被試
験端末1の電圧測定等)を実施する(ステップ5)。シ
ステム側では、要求された試験を被試験端末に対して実
施しくステップ6)、その試験結果はシステム側から試
験端末4の表示部に表示される(ステップ7)。
aをアクセスして、その状態を表示部に表示させる(ス
テップ4)。これにより、保守者は被試験端末1の状態
を知ることができ、より適格に被試験端末1の試験を行
うことができるようになる。このステップ4が本発明に
係る部分である。保守者は、非試験端末1の状態を把握
し、試験端末4からの指示により各種試験(例えば被試
験端末1の電圧測定等)を実施する(ステップ5)。シ
ステム側では、要求された試験を被試験端末に対して実
施しくステップ6)、その試験結果はシステム側から試
験端末4の表示部に表示される(ステップ7)。
手動試験が終了すると、保守者は試験端末4から手動試
験終了(閉塞解除)を制御装置10に対して出力する(
ステップa)。これに対し、システム側では試験要求受
付ユニット3bが加入者回路2の接続を通常使用モード
に戻した後、被試験端末1に対する一般呼の着信1発信
の禁止を解除する(ステップ9)。そして、制御装N1
0は着信1発信禁止解除終了模、閉塞解除メツセージを
試験端末4の表示部に表示する(ステップ10)。
験終了(閉塞解除)を制御装置10に対して出力する(
ステップa)。これに対し、システム側では試験要求受
付ユニット3bが加入者回路2の接続を通常使用モード
に戻した後、被試験端末1に対する一般呼の着信1発信
の禁止を解除する(ステップ9)。そして、制御装N1
0は着信1発信禁止解除終了模、閉塞解除メツセージを
試験端末4の表示部に表示する(ステップ10)。
第3図は本発明方式の動作を示すフローチャートで、交
換機本体側と試験端末(パソコン)側に分けて示す。交
換機側において、先ず被試験端末1に対する着信1発信
を禁止しく閉塞)(ステップ1)、閉塞処理終了がどう
かチエツクする(ステップ2)。閉塞処理が終了したら
、制御装置10は試験端末4へのデータ転送エリアに閉
塞完了メツセージを編集しくステップ3)、被試験端末
状態表示メモリ11aの内容を読出しくステップ4)、
読出した被試験端末状態表示メモリ11aの内容を試験
端末4へのデータ転送エリアに編集する(ステップ5)
。上記編集処理が終了したら、データ転送エリアの内容
を試験端末4に転送表示する(ステップ6)。
換機本体側と試験端末(パソコン)側に分けて示す。交
換機側において、先ず被試験端末1に対する着信1発信
を禁止しく閉塞)(ステップ1)、閉塞処理終了がどう
かチエツクする(ステップ2)。閉塞処理が終了したら
、制御装置10は試験端末4へのデータ転送エリアに閉
塞完了メツセージを編集しくステップ3)、被試験端末
状態表示メモリ11aの内容を読出しくステップ4)、
読出した被試験端末状態表示メモリ11aの内容を試験
端末4へのデータ転送エリアに編集する(ステップ5)
。上記編集処理が終了したら、データ転送エリアの内容
を試験端末4に転送表示する(ステップ6)。
試験装置4側では、交換機本体3からの伝送データがあ
るかどうかチエツクしくステップ7)、転送データがあ
った場合には、交換機本体から転送されてくるデータは
r#YN完了メツセージ、状態表示メモリ内容以外にも
多種存在する。そこで、図に示すループで転送されてき
たデータを頭から順に取り出し、ステップ8のデータ内
容チエツクで多種データ内容に応じて分岐を行なう。例
えば、閉塞完了メツセージの場合にはステップ9の処理
を、状態表示メモリ内容の場合には、ステップ10の処
理を行なう。なお、ステップ11の判定文は、全ての転
送データを処理したがどうかのチエツクである。その後
、転送データを全て処理したかどうかチエツクする(ス
テップ11)。Noの場合にはステップ8に戻る。YE
Sの場合には次のシーケンスに入る。
るかどうかチエツクしくステップ7)、転送データがあ
った場合には、交換機本体から転送されてくるデータは
r#YN完了メツセージ、状態表示メモリ内容以外にも
多種存在する。そこで、図に示すループで転送されてき
たデータを頭から順に取り出し、ステップ8のデータ内
容チエツクで多種データ内容に応じて分岐を行なう。例
えば、閉塞完了メツセージの場合にはステップ9の処理
を、状態表示メモリ内容の場合には、ステップ10の処
理を行なう。なお、ステップ11の判定文は、全ての転
送データを処理したがどうかのチエツクである。その後
、転送データを全て処理したかどうかチエツクする(ス
テップ11)。Noの場合にはステップ8に戻る。YE
Sの場合には次のシーケンスに入る。
第4図は本発明の一実施例を示すシステム構成図である
。第1図と同一のものは、同一の符号を付して示す。加
入者回路(SLC)2は加入者集線装fi(LC)20
を介して交換機本体3と接続されている。加入者集線装
置2oには、複数個の被試験端末1及び加入者回路2が
接続されるようになっている。試験端末4と制御装置1
oとは、シリアルインターフェイスアダプタ(31△)
21及びチャネル制御装置(CHC)22を介して接続
されている。
。第1図と同一のものは、同一の符号を付して示す。加
入者回路(SLC)2は加入者集線装fi(LC)20
を介して交換機本体3と接続されている。加入者集線装
置2oには、複数個の被試験端末1及び加入者回路2が
接続されるようになっている。試験端末4と制御装置1
oとは、シリアルインターフェイスアダプタ(31△)
21及びチャネル制御装置(CHC)22を介して接続
されている。
主記憶装置11には、要求受付分配ユニット11b、被
試験端末閉塞ユニット11C1被試験端末状態読出しユ
ニット11d、被試験端末状態表示ユニット11C1試
験実行ユニット11f及び前記被試験端末状態表示メモ
リ11aが含まれている。被試験端末状態読出しユニッ
ト116は被試験端末状態表示メモリ11aと接続され
ており、該被試験端末状態表示メモリ11aの内容は被
試験端末状態続出しユニットlidにより読み出される
ようになっている。試験実行ユニツt” 11 fは、
DC試験実行ユニット、AC試験実行ユニット等より構
成されている。
試験端末閉塞ユニット11C1被試験端末状態読出しユ
ニット11d、被試験端末状態表示ユニット11C1試
験実行ユニット11f及び前記被試験端末状態表示メモ
リ11aが含まれている。被試験端末状態読出しユニッ
ト116は被試験端末状態表示メモリ11aと接続され
ており、該被試験端末状態表示メモリ11aの内容は被
試験端末状態続出しユニットlidにより読み出される
ようになっている。試験実行ユニツt” 11 fは、
DC試験実行ユニット、AC試験実行ユニット等より構
成されている。
第5図は主記憶装置11内の信号の流れを示す図である
。図中太い実線は制御信号の流れを、細い実線はデータ
の読出しを、破線はデータの流れを示す。第4図と同一
のものは、同一の符号を付して示す。試験端末4から試
験要求を出プ゛と、この要求信号は要求受付分配ユニッ
ト11bを介して被試験端末閉塞ユニット11cに入る
(■)。
。図中太い実線は制御信号の流れを、細い実線はデータ
の読出しを、破線はデータの流れを示す。第4図と同一
のものは、同一の符号を付して示す。試験端末4から試
験要求を出プ゛と、この要求信号は要求受付分配ユニッ
ト11bを介して被試験端末閉塞ユニット11cに入る
(■)。
被試験端末閘室ユニット11cは、この要求を受けると
閉塞終了後、被試験端末状態読出しユニット11dを起
動する(■)。
閉塞終了後、被試験端末状態読出しユニット11dを起
動する(■)。
被試験端末状態読出しユニット11dは、要求を受は付
けると被試験端末状態表示メモリ11cをアクセスしく
■)、該メモリ11cからアクセスした番地のデータを
読み出す(■)。被試験端末状態読出しユニット11d
は、状態表示メモリ11cからのデータを受けとると、
被試験端末状態表示ユニット11eを起動する(■)。
けると被試験端末状態表示メモリ11cをアクセスしく
■)、該メモリ11cからアクセスした番地のデータを
読み出す(■)。被試験端末状態読出しユニット11d
は、状態表示メモリ11cからのデータを受けとると、
被試験端末状態表示ユニット11eを起動する(■)。
被試験端末状態表示ユニット11eは、起動を受けると
試験端末4に被試験端末状態表示メモリIICから読出
したデータを表示させる(■)。保守者は試験端末4に
表示された被試験端末1の状態を確認した後、試験実行
ユニット11fは加入者線/回路特性の測定を行い(■
)、測定データを試験端末4に表示させる(■)。
試験端末4に被試験端末状態表示メモリIICから読出
したデータを表示させる(■)。保守者は試験端末4に
表示された被試験端末1の状態を確認した後、試験実行
ユニット11fは加入者線/回路特性の測定を行い(■
)、測定データを試験端末4に表示させる(■)。
第6図は試験端末の画面表示例を示す図である。
図において、21は被試験加入者番号の指定欄、22は
被試験端末のシェル7タイプ、カードタイプ表示欄、2
3は被試験加入者のリレー状態表示欄、24は被試験端
末の状態表示欄である。状態表示欄24の表示例は、被
試験加入者の加入者線に異常電圧がかかっていることを
示す” p o w er c r p s s ”
が表示されている。図に示すような状態が表示されてい
る時、保守者は以下の試験を行うことができる。
被試験端末のシェル7タイプ、カードタイプ表示欄、2
3は被試験加入者のリレー状態表示欄、24は被試験端
末の状態表示欄である。状態表示欄24の表示例は、被
試験加入者の加入者線に異常電圧がかかっていることを
示す” p o w er c r p s s ”
が表示されている。図に示すような状態が表示されてい
る時、保守者は以下の試験を行うことができる。
(1)加入者線の電圧特性の測定
(2)加入者線の抵抗特性の測定
(3)加入者線の容量特性の測定
(4)加入者回路の電圧特性の測定
(5)加入者回路の抵抗特性の測定
(6)加入者回路の容量特性の測定
第7図は加入者の特性測定を示す図で、Aが加入者回路
の特性測定を、Bが加入者線の特性測定をそれぞれ示し
ている。前記各種試験のうち、どの試験を行うかは、被
試験端末の状態表示を見た保守者の判断に委ねられてい
る。
の特性測定を、Bが加入者線の特性測定をそれぞれ示し
ている。前記各種試験のうち、どの試験を行うかは、被
試験端末の状態表示を見た保守者の判断に委ねられてい
る。
第6図に示すような表示の場合、保守者は24のrNF
ORMTION欄24に’pQWerc r p s
s ”のメツセージが表示されていることにより、直ち
に加入者線側の電圧異常であることを認識することがで
きる。そこで、保守者は数ある試験項目の中から迷うこ
となく加入者線の電圧測定を実施し、加入者線側の電圧
異常の詳細を知ることができる。
ORMTION欄24に’pQWerc r p s
s ”のメツセージが表示されていることにより、直ち
に加入者線側の電圧異常であることを認識することがで
きる。そこで、保守者は数ある試験項目の中から迷うこ
となく加入者線の電圧測定を実施し、加入者線側の電圧
異常の詳細を知ることができる。
第8図は被試験端末状態表示メモリの具体的内容例を示
す図である。図には、各端末収容位置番号(つまり被試
験端末)毎に、被試験端末の電源。
す図である。図には、各端末収容位置番号(つまり被試
験端末)毎に、被試験端末の電源。
異常電圧の検出、過去の試験結果履歴及び間欠障害の発
生回数の4項巨が設けられている。試験端末の電源の場
合には1″の場合が正常、“0°′の場合が異常として
、異常電圧の検出の場合には111 I11の場合が有
り 11 Q IIの場合が無しとして、過去の試験結
果履歴に対しては“1”の場合が異常有り 11 Q
IIの場合が異常無しをそれぞれ示している。間欠障害
の発生回数については、その発生回数Nが格納される。
生回数の4項巨が設けられている。試験端末の電源の場
合には1″の場合が正常、“0°′の場合が異常として
、異常電圧の検出の場合には111 I11の場合が有
り 11 Q IIの場合が無しとして、過去の試験結
果履歴に対しては“1”の場合が異常有り 11 Q
IIの場合が異常無しをそれぞれ示している。間欠障害
の発生回数については、その発生回数Nが格納される。
上述の説明では、被試験端末状態表示メモリを主記憶装
置側に設けた場合を例にとったが、本発明は必ずしもこ
れに限るものではな(、その他の装置、例えば交換機本
体等に設けてもよい。
置側に設けた場合を例にとったが、本発明は必ずしもこ
れに限るものではな(、その他の装置、例えば交換機本
体等に設けてもよい。
[発明の効果]
以上、詳細に説明したように、本発明によれば被試験端
末の状態を保持するメモリを設けてその内容を被試験端
末の状態が変化する度に更新しておき、手切試験時に、
手動試験要求があると試験端末の表示部に当該被試験端
末の状態を表示して保守者に示すことにより、保守者の
手動試験を被試験端末の手動試験を操作性よく行うこと
ができる被試験端末の試験方式を提供することができる
。
末の状態を保持するメモリを設けてその内容を被試験端
末の状態が変化する度に更新しておき、手切試験時に、
手動試験要求があると試験端末の表示部に当該被試験端
末の状態を表示して保守者に示すことにより、保守者の
手動試験を被試験端末の手動試験を操作性よく行うこと
ができる被試験端末の試験方式を提供することができる
。
第1図は本発明方式の原理ブロック図、第2図は本発明
方式の動作を示すシーケンス図、第3図は本発明方式の
動作を示すフローヂせ一ト、 第4図は本発明の一実施例を示すシステム構成図、 第5図は主記憶装置内の信号の流れを示す図、第6図は
試験端末の画面表示例を示す図、第7図は加入者の特性
測定を示す図、 第8図は被試験端末状態表示メモリの具体的内容例を示
す図、 第9図は従来の手動試験システムの構成例を示す図であ
る。 第1図において、 1は被試験端末、 2は加入者回路、 3はネットワーク、 3bは試験要求受付ユニット、 4は試験端末、 5は測定装置、 10は制御装置、 11は主記憶装置、 11aは被試験端末状態表示メモリである。
方式の動作を示すシーケンス図、第3図は本発明方式の
動作を示すフローヂせ一ト、 第4図は本発明の一実施例を示すシステム構成図、 第5図は主記憶装置内の信号の流れを示す図、第6図は
試験端末の画面表示例を示す図、第7図は加入者の特性
測定を示す図、 第8図は被試験端末状態表示メモリの具体的内容例を示
す図、 第9図は従来の手動試験システムの構成例を示す図であ
る。 第1図において、 1は被試験端末、 2は加入者回路、 3はネットワーク、 3bは試験要求受付ユニット、 4は試験端末、 5は測定装置、 10は制御装置、 11は主記憶装置、 11aは被試験端末状態表示メモリである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ネットワーク(3)と、 該ネットワーク(3)と接続されてその接続制御を行う
制御装置(10)と、 該制御装置(10)と接続された主記憶装置(11)と
、 加入者回路(2)を介して前記ネットワーク(3)と接
続された被試験端末(1)とにより構成されたシステム
において、 加入者回路(2)に測定装置(5)を接続して前記被試
験端末(1)を手動で試験する場合において、 前記主記憶装置(11)内に試験要求を受付ける試験要
求受付けユニット(3b)と、被試験端末の状態を表示
する被試験端末状態表示メモリ(11a)とを設け、 試験端末(4)から被試験端末(1)の試験要求を発信
した場合に、前記被試験端末状態表示メモリ(11a)
の内容を試験端末(4)に表示させて被試験端末(1)
の状態を把握してから該被試験端末(1)の手動試験を
行うように構成したことを特徴とする被試験端末の試験
方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23999888A JPH0287856A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | 被試験端末の試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23999888A JPH0287856A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | 被試験端末の試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0287856A true JPH0287856A (ja) | 1990-03-28 |
Family
ID=17052947
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23999888A Pending JPH0287856A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | 被試験端末の試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0287856A (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5752255A (en) * | 1980-09-12 | 1982-03-27 | Hitachi Ltd | Subscriber line status display system |
| JPS62269456A (ja) * | 1986-05-19 | 1987-11-21 | Nec Corp | 電子交換機における接続シ−ケンスモニタ方式 |
-
1988
- 1988-09-26 JP JP23999888A patent/JPH0287856A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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