JPH0289376A - 太陽電池セル - Google Patents
太陽電池セルInfo
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- JPH0289376A JPH0289376A JP63242010A JP24201088A JPH0289376A JP H0289376 A JPH0289376 A JP H0289376A JP 63242010 A JP63242010 A JP 63242010A JP 24201088 A JP24201088 A JP 24201088A JP H0289376 A JPH0289376 A JP H0289376A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- solar cell
- type gaas
- gaas layer
- type
- Prior art date
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、複数個を直列接続して光発電に使用される
太陽電池セルに関するもので、特に太陽電池セルに逆方
向電圧が印加された場合の太陽電池セルの破壊の防止に
関するものである。
太陽電池セルに関するもので、特に太陽電池セルに逆方
向電圧が印加された場合の太陽電池セルの破壊の防止に
関するものである。
従来の太陽電池セルは基本的に1つのp−n接合を有す
るダイオードである。この太l!l電池セルを発電用と
して使用する際には複数個の太陽電池セルを直列に接続
し、直列に接続された全体の発電量が所定の電圧になる
ようにして使用される。
るダイオードである。この太l!l電池セルを発電用と
して使用する際には複数個の太陽電池セルを直列に接続
し、直列に接続された全体の発電量が所定の電圧になる
ようにして使用される。
このような状態で、太陽電池の一部が影になった場合、
この影となった太陽電池セルには他の太陽電池セルが発
生する電圧が逆方向電圧として印加される。この時、当
該太陽電池セルの逆方向耐圧が小さい場合、破壊現象が
生じ太陽電池セルとしての機能を低下させるか、太陽電
池セルの機能が消滅することになる。これを防止する為
には太陽電池セルの逆方向耐圧を高くするか、直列接続
した太陽電池の逆防止能力を越えない範囲毎に太陽電池
と逆並列に外付ダイオードを接続する必要があった。
この影となった太陽電池セルには他の太陽電池セルが発
生する電圧が逆方向電圧として印加される。この時、当
該太陽電池セルの逆方向耐圧が小さい場合、破壊現象が
生じ太陽電池セルとしての機能を低下させるか、太陽電
池セルの機能が消滅することになる。これを防止する為
には太陽電池セルの逆方向耐圧を高くするか、直列接続
した太陽電池の逆防止能力を越えない範囲毎に太陽電池
と逆並列に外付ダイオードを接続する必要があった。
まず、太陽電池セルの逆方向耐圧を高くすることはベー
ス層の不純物濃度を下げることにより実現さ礼る。太陽
電池セルに必要な層を拡散により形成する場合、−船釣
に、拡散層を浅い接合にする必要がある。特に宇宙用太
陽電池は短波長感度を高くするために0.3〜0,5μ
77L以下にする必要がある。数百■の逆方向耐圧を得
るために必要な不純物濃度のベース層に対し上記浅い接
合を拡散で得る事は実験的に可能であっても量産時には
困難である。ざらにGaAs太陽電池セルでは、結晶成
長で低不純物濃度を得ることは非常に困難であるので、
得られる逆方向耐圧も高々数十Vであるため太陽電池セ
ルの逆方向耐圧を高くする事は限度がある。
ス層の不純物濃度を下げることにより実現さ礼る。太陽
電池セルに必要な層を拡散により形成する場合、−船釣
に、拡散層を浅い接合にする必要がある。特に宇宙用太
陽電池は短波長感度を高くするために0.3〜0,5μ
77L以下にする必要がある。数百■の逆方向耐圧を得
るために必要な不純物濃度のベース層に対し上記浅い接
合を拡散で得る事は実験的に可能であっても量産時には
困難である。ざらにGaAs太陽電池セルでは、結晶成
長で低不純物濃度を得ることは非常に困難であるので、
得られる逆方向耐圧も高々数十Vであるため太陽電池セ
ルの逆方向耐圧を高くする事は限度がある。
また、太陽電池と逆並列に外付ダイオードを挿入する方
法はシステムとしては有効な方法であるが、ダイオード
の接続によるコストアップや部品数の増加を伴う。そし
て、部品数の増加はシステムの信頼性を下げることにな
る。特に高い信頼性が要求される宇宙用のシステムにお
いては大きな問題となる。
法はシステムとしては有効な方法であるが、ダイオード
の接続によるコストアップや部品数の増加を伴う。そし
て、部品数の増加はシステムの信頼性を下げることにな
る。特に高い信頼性が要求される宇宙用のシステムにお
いては大きな問題となる。
本発明は、上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、部品数を増加させることなく容易に製造でき
、かつ高い逆方向耐圧を持つ太陽電池セルを得ることを
目的とする。
たもので、部品数を増加させることなく容易に製造でき
、かつ高い逆方向耐圧を持つ太陽電池セルを得ることを
目的とする。
(課題を解決するための手段)
この発明に係る太陽電池セルは、半導体層と、前記半導
体層に形成された太陽電池セル部と、前記半導体層と電
気的に分離されたPN接合構造部と、前記PN接合構造
部が前記太ll!電池セル部と逆並列になるように配線
し、かつ前記PN接合部全面を覆う電極とを備えている
。
体層に形成された太陽電池セル部と、前記半導体層と電
気的に分離されたPN接合構造部と、前記PN接合構造
部が前記太ll!電池セル部と逆並列になるように配線
し、かつ前記PN接合部全面を覆う電極とを備えている
。
この発明におけるPN接合構造部は、電極により太陽電
池セル部に逆並列に接続されているので、太陽電池セル
部に逆起電力が印加されるとPN接合構造部に電流が流
れ、太陽電池セル部に印加された逆起電力を吸収し、太
陽電池セル部の破壊を防止する。
池セル部に逆並列に接続されているので、太陽電池セル
部に逆起電力が印加されるとPN接合構造部に電流が流
れ、太陽電池セル部に印加された逆起電力を吸収し、太
陽電池セル部の破壊を防止する。
第1図は、この発明に係る太陽電池セル(GaAs太陽
電池セル)の−構成例を示す図であり、このうち第1図
(a)は平面図、第1図(b)はこの平面図のA−A線
に沿っての新面図である。n形GaAs層1(基板)の
上面の一部に拡散によりp形GaAS層2が形成される
。n形GaAS層1上の太陽電池セル部領域に格子整合
層3aが形成される。p形GaAS層2上のPNN接合
構造領領域格子整合層3bが形成される。格子整合層3
a上には下から順にn形GaAs層4a、p形GaAs
層5aが形成され、光が照射されるとこのn形GaAs
14aとp形GaAS層5aとの境界面に光起電力が生
じる。p形GaAs層5a上には一部に窓を有したp形
AIGaAS層6aが形成されている。p形Aj!Ga
As層6aの上面に光反射防止膜7が形成される。
電池セル)の−構成例を示す図であり、このうち第1図
(a)は平面図、第1図(b)はこの平面図のA−A線
に沿っての新面図である。n形GaAs層1(基板)の
上面の一部に拡散によりp形GaAS層2が形成される
。n形GaAS層1上の太陽電池セル部領域に格子整合
層3aが形成される。p形GaAS層2上のPNN接合
構造領領域格子整合層3bが形成される。格子整合層3
a上には下から順にn形GaAs層4a、p形GaAs
層5aが形成され、光が照射されるとこのn形GaAs
14aとp形GaAS層5aとの境界面に光起電力が生
じる。p形GaAs層5a上には一部に窓を有したp形
AIGaAS層6aが形成されている。p形Aj!Ga
As層6aの上面に光反射防止膜7が形成される。
格子整合層3b上にはn形GaAs層4bが形成され、
n形GaAs層4b上面の一部にはp形GaAS層5b
が形成される。このn形GaAs層4bとp形GaAS
層5bで構成されるダイオードにより太陽電池セル部の
逆起電力を吸収する。
n形GaAs層4b上面の一部にはp形GaAS層5b
が形成される。このn形GaAs層4bとp形GaAS
層5bで構成されるダイオードにより太陽電池セル部の
逆起電力を吸収する。
p形GaAs層5b上には、一部に窓を有したp形Aj
!GaAs層6bが形成されている。絶縁膜8は格子整
合層3a、n形GaAs層4a、p形GaAS層5a及
びp形Aj!GaAs層6aの左側面及びp形AJ!G
aAs層6aの一部表面を覆うよう形成されている。ま
た、絶縁膜8は格子整合層3b、n形GaAs層4b、
p形GaAS層5b及びp形Aj!GaAs層6bの左
側面及びp形Aj!GaAs層6bの表面を覆い、かつ
p形GaAsff15b及びp形A1GaAs116b
の右側面も覆っている。
!GaAs層6bが形成されている。絶縁膜8は格子整
合層3a、n形GaAs層4a、p形GaAS層5a及
びp形Aj!GaAs層6aの左側面及びp形AJ!G
aAs層6aの一部表面を覆うよう形成されている。ま
た、絶縁膜8は格子整合層3b、n形GaAs層4b、
p形GaAS層5b及びp形Aj!GaAs層6bの左
側面及びp形Aj!GaAs層6bの表面を覆い、かつ
p形GaAsff15b及びp形A1GaAs116b
の右側面も覆っている。
p電極9は、p形GaAS層5aとn形GaAS層4b
とp形GaAs層2とを電気的に接続する。n電極10
aはn形GaAs層1の裏面に設けられている。n電極
10bはn形GaAs層1とp形GaAs層5bとを電
気的に接続する。p電極9とn電極10bによりPN接
合構造部が覆われている。
とp形GaAs層2とを電気的に接続する。n電極10
aはn形GaAs層1の裏面に設けられている。n電極
10bはn形GaAs層1とp形GaAs層5bとを電
気的に接続する。p電極9とn電極10bによりPN接
合構造部が覆われている。
次に動作について説明する。受光面に光を受けると、p
形GaAs層5a及びn形GaASIiJ4aの間に光
起電力が発生し、n電極10aを負に、p電極9を正と
する電池として動作する。この場合、n形GaAs層4
bとp形GaAs層2によって形成されるp−n接合は
太陽電池セル本来の発電方向とは逆方向の発電機能があ
るが、接合全面がpW1極9.nftf極10bで覆わ
れることで照射光が阻止されるため逆方向に発電せず、
太II!電池セルの性能を阻害することはない。また、
n形GaAS層1とp形GaAS層2により形成される
p−n接合及びn形GaAS層4bとp形(3aAs層
5bにより形成されるp−n接合もp電極9、n電極1
0bで覆われているので発電には寄与しない。
形GaAs層5a及びn形GaASIiJ4aの間に光
起電力が発生し、n電極10aを負に、p電極9を正と
する電池として動作する。この場合、n形GaAs層4
bとp形GaAs層2によって形成されるp−n接合は
太陽電池セル本来の発電方向とは逆方向の発電機能があ
るが、接合全面がpW1極9.nftf極10bで覆わ
れることで照射光が阻止されるため逆方向に発電せず、
太II!電池セルの性能を阻害することはない。また、
n形GaAS層1とp形GaAS層2により形成される
p−n接合及びn形GaAS層4bとp形(3aAs層
5bにより形成されるp−n接合もp電極9、n電極1
0bで覆われているので発電には寄与しない。
今、第1図(b)に図示した太111電池セルがn電極
10a、p電極9を介して複数個直列接続された太陽電
池において、一部の太陽電池セルが影になったとする、
すると、影になった太陽電池セル逆電圧が印加され、p
電極9が負、n電極10aが正にバイアスされる。この
場合、p形GaAS層5bとn形GaAS層4bにより
形成されるpn接合が順バイアスされることになり、n
電極10bからp電極9への電流が流れる。従って、太
陽電池セルとしての本来の発電機能を有するn形GaA
S層4aとp形GaAS層5aにより形成されるp−n
接合には逆電圧が印加されることはない。
10a、p電極9を介して複数個直列接続された太陽電
池において、一部の太陽電池セルが影になったとする、
すると、影になった太陽電池セル逆電圧が印加され、p
電極9が負、n電極10aが正にバイアスされる。この
場合、p形GaAS層5bとn形GaAS層4bにより
形成されるpn接合が順バイアスされることになり、n
電極10bからp電極9への電流が流れる。従って、太
陽電池セルとしての本来の発電機能を有するn形GaA
S層4aとp形GaAS層5aにより形成されるp−n
接合には逆電圧が印加されることはない。
第2図は、第1図に示した太陽電池セルの製造工程を示
す断面図である。第2図(a)に示すようにn形GaA
S層1上に窒化珪素膜BをCVDにより形成し、写真製
版技術によりマスクパターンを形成し、第2図(b)の
ように窓をあける。次に上記のようにして形成されたマ
スクの窓を通してp形不純物を拡散し、第2図(C)の
ようにrl形GaAS層1にp形GaAS層2を形成し
た後、マスクとしての窒化珪素膜Bを除去する。
す断面図である。第2図(a)に示すようにn形GaA
S層1上に窒化珪素膜BをCVDにより形成し、写真製
版技術によりマスクパターンを形成し、第2図(b)の
ように窓をあける。次に上記のようにして形成されたマ
スクの窓を通してp形不純物を拡散し、第2図(C)の
ようにrl形GaAS層1にp形GaAS層2を形成し
た後、マスクとしての窒化珪素膜Bを除去する。
その後、エピタキシャル成長で第2図(d)のように太
陽電池セルに必要な構造、つまり、格子整合層3.n形
GaAS層4.p形GaAs層5゜p形△IGaAS層
6を順次形成する。次に、p形GaAs層6上にレジス
ト膜を形成し、写真製版技術を用いてマスクパターンを
形成し、窓をあけエツチングすることにより格子整合層
3.n形GaAs層4.p形GaAS層5.p形△lG
aAs層6の不必要な部分を除去した後、マスクパター
ンを除去し、第2図(e)に示すような構造を得る。
陽電池セルに必要な構造、つまり、格子整合層3.n形
GaAS層4.p形GaAs層5゜p形△IGaAS層
6を順次形成する。次に、p形GaAs層6上にレジス
ト膜を形成し、写真製版技術を用いてマスクパターンを
形成し、窓をあけエツチングすることにより格子整合層
3.n形GaAs層4.p形GaAS層5.p形△lG
aAs層6の不必要な部分を除去した後、マスクパター
ンを除去し、第2図(e)に示すような構造を得る。
次に、レジスト膜を第2図(e)に示した構造の表面全
面に形成し、写真製版技術によりマスクパターンを形成
し、窓を設け、エツチングすることにより、p形1j)
GaAsff16bとp形GaAS層5bにより形成さ
れている積層構造の一部を除去した後、マスクパターン
を除去する。その後、再び表面全面にレジスト膜を形成
し、写真製版技術によりマスクパターンを形成し、窓を
設け、エツチングすることによりp形AIGaAS層6
a。
面に形成し、写真製版技術によりマスクパターンを形成
し、窓を設け、エツチングすることにより、p形1j)
GaAsff16bとp形GaAS層5bにより形成さ
れている積層構造の一部を除去した後、マスクパターン
を除去する。その後、再び表面全面にレジスト膜を形成
し、写真製版技術によりマスクパターンを形成し、窓を
設け、エツチングすることによりp形AIGaAS層6
a。
6bの一部を除去した後、マスクパターンを除去する。
このようにして第2図mに示す構造を得る。
次に、反射防止膜7及び絶縁膜8の役割をする窒化珪素
膜をCVDにより蒸着させる。その上にレジスト膜を形
成し、写真製版技術によりマスクパターンを形成し、窓
を設け、エツチングすることにより不必要な窒化珪素膜
を除去した侵、マスクパターンを除去する。その後、電
極材料をCvDにより蒸着させる。その上に、レジスト
膜を形成し、写真製版技術によりマスクパターンを形成
し、窓を設け、エツチングすることにより不必要な電極
材料を除去し、n電極10bを形成し、マスクパターン
を除去し、第2図((1)に示すような構造を得る。
膜をCVDにより蒸着させる。その上にレジスト膜を形
成し、写真製版技術によりマスクパターンを形成し、窓
を設け、エツチングすることにより不必要な窒化珪素膜
を除去した侵、マスクパターンを除去する。その後、電
極材料をCvDにより蒸着させる。その上に、レジスト
膜を形成し、写真製版技術によりマスクパターンを形成
し、窓を設け、エツチングすることにより不必要な電極
材料を除去し、n電極10bを形成し、マスクパターン
を除去し、第2図((1)に示すような構造を得る。
その後、レジスト膜を第2図(V)に示した構造の表面
全面に形成し、写真製版技術によりマスクパターンを形
成し、窓を設Cプ、エツチングすることにより反射防止
膜7の不必要な部分を除去し、窓を有する反射防止膜7
.絶縁膜8を形成し、マスクパターンを除去する。次に
、電極材料をCVDにより蒸着させ、その上に、レジス
ト膜を形成し、写真製版技術によりマスクパターンを形
成し、窓を設け、エツチングすることにより不必要な電
極材料を除去し、p電極9を形成し、マスクパターンを
除去し、第2図(h)に示すような構造を1りる。そし
て、最後に電極材料をCVDによりn形GaAs層1の
裏面に蒸着させることにより第1図(blに示す太陽電
池セルが完成する。上記製造工程によると、p形GaA
S層2とn形GaAs層1によりPN接合分離を行った
ので、太陽電池セル部を形成する工程を利用して、つま
り、エビタキャシャル成長を利用してn形GaAs層4
bとp形GaAs1M5bより成るPN接合構造部を形
成することができ、容易に、逆起電力阻止能力をもった
太陽電池セルを製造することができる。
全面に形成し、写真製版技術によりマスクパターンを形
成し、窓を設Cプ、エツチングすることにより反射防止
膜7の不必要な部分を除去し、窓を有する反射防止膜7
.絶縁膜8を形成し、マスクパターンを除去する。次に
、電極材料をCVDにより蒸着させ、その上に、レジス
ト膜を形成し、写真製版技術によりマスクパターンを形
成し、窓を設け、エツチングすることにより不必要な電
極材料を除去し、p電極9を形成し、マスクパターンを
除去し、第2図(h)に示すような構造を1りる。そし
て、最後に電極材料をCVDによりn形GaAs層1の
裏面に蒸着させることにより第1図(blに示す太陽電
池セルが完成する。上記製造工程によると、p形GaA
S層2とn形GaAs層1によりPN接合分離を行った
ので、太陽電池セル部を形成する工程を利用して、つま
り、エビタキャシャル成長を利用してn形GaAs層4
bとp形GaAs1M5bより成るPN接合構造部を形
成することができ、容易に、逆起電力阻止能力をもった
太陽電池セルを製造することができる。
なお、上記実施例では、PN接合分離により、n形Ga
As層1とp形GaΔS層5aとの分離を行ったが、p
形GaAS層2を設けることなく、絶縁層によりn形G
aAS層1とp形GaAS層5aとの分離を行ってもよ
い。
As層1とp形GaΔS層5aとの分離を行ったが、p
形GaAS層2を設けることなく、絶縁層によりn形G
aAS層1とp形GaAS層5aとの分離を行ってもよ
い。
また、上記実施例ではn形GaAS層5aとp形GaA
S層4aとのp−n接合により太陽電池セル部を構成し
たが、n形GaAS層1とp−n接合を形成するようn
形GaAsel上にp形GaAS層を形成するなどの変
形も可能である。
S層4aとのp−n接合により太陽電池セル部を構成し
たが、n形GaAS層1とp−n接合を形成するようn
形GaAsel上にp形GaAS層を形成するなどの変
形も可能である。
さらに、上記実施例ではGaAS太陽電池を例にあげた
が、本発明はSi太陽電池及びその他の太陽電池にも適
用できる。また、上記実施例では基板にGaASを使用
したが、GaASの代りに3iやGe基板を用いても同
様の効果が得られる。
が、本発明はSi太陽電池及びその他の太陽電池にも適
用できる。また、上記実施例では基板にGaASを使用
したが、GaASの代りに3iやGe基板を用いても同
様の効果が得られる。
以上のようにこの発明によれば、太陽電池セル内に、太
陽電池セル部とPN接合構成部とを有するように構成し
、かつ、太ILfff池セル部とPN接合構成部が電極
により逆並列に配線されているので、太陽電池セル部に
逆方向電圧が印加されてもPN接合構造部により吸収さ
れ、その結果、太陽電池セルが破壊されないという効果
がある。また、電極により、PN接合構造部が覆われて
いるので、光照射時にPN接合構造部が発電に寄与する
ことはない。さらに、外付ダイオードを設けることなく
、逆方向電圧を吸収することができるので、システムの
信頼性が高いものが得られるという効果がある。
陽電池セル部とPN接合構成部とを有するように構成し
、かつ、太ILfff池セル部とPN接合構成部が電極
により逆並列に配線されているので、太陽電池セル部に
逆方向電圧が印加されてもPN接合構造部により吸収さ
れ、その結果、太陽電池セルが破壊されないという効果
がある。また、電極により、PN接合構造部が覆われて
いるので、光照射時にPN接合構造部が発電に寄与する
ことはない。さらに、外付ダイオードを設けることなく
、逆方向電圧を吸収することができるので、システムの
信頼性が高いものが得られるという効果がある。
第1図はこの発明に係る太陽電池セルの一構成例を示す
図、第2図は第1図に示した太陽電池セルの製造工程を
示す図である。 図において、1.4a及び4bはn形GaAS層、2,
5a及び5bはp形GaAS層、9はn電極、10bは
n電極である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 第1図 代理人 大 岩 増 雄 1.4a、4b−−−−n形GaAsA2、5a、5b
−−−−p形Ga AS/19−−−p電場 10b−n電場 第 図 第 図 事件の表示 特願昭 24201、 発明の名称 太陽電池セル 訊補正をする者 代表者 4、代 5、訂正の対象 明細書の「発明の詳細な説明の欄」 6、補正の内容 (1) 明細書第5頁第9行及び第17行の「窓を有
した」を、「窓効果を有した」に訂正する。 (2) 明細書第9頁第20行ないし第10頁第1行
、第10頁第12行ないし第13行d3よび第18行の
rCVDにより」を削除する。 以上
図、第2図は第1図に示した太陽電池セルの製造工程を
示す図である。 図において、1.4a及び4bはn形GaAS層、2,
5a及び5bはp形GaAS層、9はn電極、10bは
n電極である。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 第1図 代理人 大 岩 増 雄 1.4a、4b−−−−n形GaAsA2、5a、5b
−−−−p形Ga AS/19−−−p電場 10b−n電場 第 図 第 図 事件の表示 特願昭 24201、 発明の名称 太陽電池セル 訊補正をする者 代表者 4、代 5、訂正の対象 明細書の「発明の詳細な説明の欄」 6、補正の内容 (1) 明細書第5頁第9行及び第17行の「窓を有
した」を、「窓効果を有した」に訂正する。 (2) 明細書第9頁第20行ないし第10頁第1行
、第10頁第12行ないし第13行d3よび第18行の
rCVDにより」を削除する。 以上
Claims (1)
- (1)半導体層と、 前記半導体層に形成された太陽電池セル部と、前記半導
体層と電気的に分離されたPN接合構造部と、 前記PN接合構造部が前記太陽電池セル部と逆並列にな
るように配線し、かつ前記PN接合部全面を覆う電極と
を備えた太陽電池セル。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63242010A JPH0289376A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | 太陽電池セル |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63242010A JPH0289376A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | 太陽電池セル |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0289376A true JPH0289376A (ja) | 1990-03-29 |
Family
ID=17082918
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63242010A Pending JPH0289376A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | 太陽電池セル |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0289376A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0324768A (ja) * | 1989-06-22 | 1991-02-01 | Sharp Corp | バイパスダイオード付太陽電池 |
| EP1110247A4 (en) * | 1998-08-20 | 2007-12-05 | Emcore Corp | SOLAR BATTERY WITH DRIVE DIODE MOUNTED TO THE FRONT |
-
1988
- 1988-09-26 JP JP63242010A patent/JPH0289376A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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