JPH0293331A - 狭帯域発振エキシマレーザ装置 - Google Patents
狭帯域発振エキシマレーザ装置Info
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- JPH0293331A JPH0293331A JP24627588A JP24627588A JPH0293331A JP H0293331 A JPH0293331 A JP H0293331A JP 24627588 A JP24627588 A JP 24627588A JP 24627588 A JP24627588 A JP 24627588A JP H0293331 A JPH0293331 A JP H0293331A
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- laser
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、狭帯域発振エキシマレーザ装置に関する。
集積回路等の回路パターンを半導体ウェハ上に露光する
縮小投影露光装置の光源としてエキシマレーザの利用が
注目されている。これはエキシマレーザの波長が短い(
KrFレーザの波長は約248、4r+n+)ことから
解像度の限界を0.5μm以下に延ばせる可能性がある
こと、同じ解像度なら従来用いていた水銀ランプのg線
やi線に比較して焦点深度か深いこと、レンズの開口数
(NA)が小さくてすみ、露光領域を大きくできること
、大きなパワーが得られること等の多くの優れた利点が
期待できるからである。
縮小投影露光装置の光源としてエキシマレーザの利用が
注目されている。これはエキシマレーザの波長が短い(
KrFレーザの波長は約248、4r+n+)ことから
解像度の限界を0.5μm以下に延ばせる可能性がある
こと、同じ解像度なら従来用いていた水銀ランプのg線
やi線に比較して焦点深度か深いこと、レンズの開口数
(NA)が小さくてすみ、露光領域を大きくできること
、大きなパワーが得られること等の多くの優れた利点が
期待できるからである。
ところでエキシマレーザはその波長が248.35r+
nと短いため、この波長を透過する材料が石英、CaF
2およびM g P 2等しかなく、しかも均一性およ
び加工精度等の点でレンズ素材として石英しか用いるこ
とができない、そこで色収差補正をした縮小投影レンズ
の設計は困龍である。このため、エキシマレーザを縮小
投影露光装置の光源として用いるにはこの色収差が無視
しうる程度までの狭帯域化が必要となる。
nと短いため、この波長を透過する材料が石英、CaF
2およびM g P 2等しかなく、しかも均一性およ
び加工精度等の点でレンズ素材として石英しか用いるこ
とができない、そこで色収差補正をした縮小投影レンズ
の設計は困龍である。このため、エキシマレーザを縮小
投影露光装置の光源として用いるにはこの色収差が無視
しうる程度までの狭帯域化が必要となる。
そこで、レーザ発振器から出射されたレーザ光の波長お
よびパワーを検出し、検出された波長およびパワーに基
づいてレーザ光の狭帯域化、波長の安定化およびパワー
の安定化を図るというフィードバック制御のための構成
が提案されている。
よびパワーを検出し、検出された波長およびパワーに基
づいてレーザ光の狭帯域化、波長の安定化およびパワー
の安定化を図るというフィードバック制御のための構成
が提案されている。
その−例を第13図に示す。
第13図ではレーザ管107とリアミラー106の間に
エタロン101,102を配設することによって狭帯域
化がおこなわれている。フロントミラー105を介して
出射されるレーザ光はビームスプリッタ103を介して
集光レンズ108に入射され、ここで集光されて光ファ
イバ109の入射口110に入射され、さらに光ファイ
バ109を通じて波長検出器111に導かれ、出力レー
ザ光の発振波長が検出される。中央処理装置(CPU)
112はこの波長検出器111の出力に基つきドライバ
113.114を介してエタロン101.102の角度
等を変えることによって発振波長を固定するように制御
する。
エタロン101,102を配設することによって狭帯域
化がおこなわれている。フロントミラー105を介して
出射されるレーザ光はビームスプリッタ103を介して
集光レンズ108に入射され、ここで集光されて光ファ
イバ109の入射口110に入射され、さらに光ファイ
バ109を通じて波長検出器111に導かれ、出力レー
ザ光の発振波長が検出される。中央処理装置(CPU)
112はこの波長検出器111の出力に基つきドライバ
113.114を介してエタロン101.102の角度
等を変えることによって発振波長を固定するように制御
する。
一方、エキシマレーザに用いるレーザ媒質ガスは時間経
過と共にそのレーザ媒質としての性能が徐々に劣化し、
レーザパワーが低下する。そこで、レーザ媒質の励起強
度すなわち放電電圧制御およびガス交換制御することに
よってレーザ出力を一定に保つ出力制御がおこなわれて
いる。すなわち、発振されたレーザ光の一部をビームス
プリッタ104で分岐させ光強度検出器115に入射し
、レーザパワーの変化をモニタし、CPU112がレー
ザ電源116を介して、レーザ媒質の励起強度を変化さ
せたり、あるいはガスコントローラ117を介してレー
ザ媒質ガスの部分的交換を実施するなどして、レーザ出
力を一定に保つ出力制御をおこなう。
過と共にそのレーザ媒質としての性能が徐々に劣化し、
レーザパワーが低下する。そこで、レーザ媒質の励起強
度すなわち放電電圧制御およびガス交換制御することに
よってレーザ出力を一定に保つ出力制御がおこなわれて
いる。すなわち、発振されたレーザ光の一部をビームス
プリッタ104で分岐させ光強度検出器115に入射し
、レーザパワーの変化をモニタし、CPU112がレー
ザ電源116を介して、レーザ媒質の励起強度を変化さ
せたり、あるいはガスコントローラ117を介してレー
ザ媒質ガスの部分的交換を実施するなどして、レーザ出
力を一定に保つ出力制御をおこなう。
このように狭帯域発振エキシマレーザ装置ではレーザ光
の波長およびパワーを検出し、検出された波長およびパ
ワーに基づいてフィードパ・ツク制御を行なっているの
で、これらの波長およびパワーを良好な精度で検出する
ことが必要不可欠である。
の波長およびパワーを検出し、検出された波長およびパ
ワーに基づいてフィードパ・ツク制御を行なっているの
で、これらの波長およびパワーを良好な精度で検出する
ことが必要不可欠である。
しかしながらエキシマレーザ光はビームサイズが例えば
1011X2011と大きく、この範囲内の位置により
波長およびパワーが異なる。したがって、該範囲内の一
部分からレーザ光をサンプリングして波長およびパワー
を検出した場合、波長およびパワーの検出精度が悪く、
このために所望のレーザ光を出射することができなくな
るという問題点があった。
1011X2011と大きく、この範囲内の位置により
波長およびパワーが異なる。したがって、該範囲内の一
部分からレーザ光をサンプリングして波長およびパワー
を検出した場合、波長およびパワーの検出精度が悪く、
このために所望のレーザ光を出射することができなくな
るという問題点があった。
例えば、レーザ光を集光レンズで集光して光ファイバの
入射口に入射させる場合、レーザ光の光軸が多少でも狂
うと、集光されたレーザ光と光ファイバの入射口とがず
れて、検出されるレーザ光の波長が変化するので、正確
な制御が不可能となる。
入射口に入射させる場合、レーザ光の光軸が多少でも狂
うと、集光されたレーザ光と光ファイバの入射口とがず
れて、検出されるレーザ光の波長が変化するので、正確
な制御が不可能となる。
そこで、本発明はレーザ光の検出を良好な精度でかつ安
定に行うことが可能な狭帯域発振エキシマレーザ装置を
提供することを目的とする。
定に行うことが可能な狭帯域発振エキシマレーザ装置を
提供することを目的とする。
本発明は、レーザ発振器から出射されたレーザ光の波長
およびパワーのうちの少なくとも一方を検出する狭帯域
発振エキシマレーザ装置において、前記レーザ光を入射
して複数の発散光束を出射するライトインテグレータと
、このライトインテグレータからの各発散光束を入射す
る集光レンズとを備え、前記集光レンズの出射側の焦点
上に形成された均一照明領域にて前記レーザ光の波長お
よびパワーのうちの少なくとも一方を検出することを特
徴とする 〔作用〕 本発明によれば、集光レンズの出射側の焦点上に形成さ
れた均一照明領域にて検出を行っているので、この均一
照明領域内のどのような位置でもレーザ光の平均的な波
長および平均的なパワーを検出しうる。
およびパワーのうちの少なくとも一方を検出する狭帯域
発振エキシマレーザ装置において、前記レーザ光を入射
して複数の発散光束を出射するライトインテグレータと
、このライトインテグレータからの各発散光束を入射す
る集光レンズとを備え、前記集光レンズの出射側の焦点
上に形成された均一照明領域にて前記レーザ光の波長お
よびパワーのうちの少なくとも一方を検出することを特
徴とする 〔作用〕 本発明によれば、集光レンズの出射側の焦点上に形成さ
れた均一照明領域にて検出を行っているので、この均一
照明領域内のどのような位置でもレーザ光の平均的な波
長および平均的なパワーを検出しうる。
以下、本発明の実施例を添付図面を参照して詳細に説明
する。
する。
第1図は本発明にかかわる狭帯域発振エキシマレーザ装
置の第1の実施例を示している。なお、同図において第
13図に示した従来装置と同様の部分には説明の便宜上
同じ符号を付す。
置の第1の実施例を示している。なお、同図において第
13図に示した従来装置と同様の部分には説明の便宜上
同じ符号を付す。
この実施例ではフロントミラー105から出射されたレ
ーザ光をビームスプリッタ1に入射し、このビームスプ
リッタ1を透過したレーザ光を出力とし取出すとともに
、該ビームスプリッタ1で反射されたレーザ光をライト
インテグレータ2を介して集光レンズ3に入射している
。この集光レンズ3の下方にはビームスプリッタ4が配
置されており、このビームスプリッタ4の透過側に位置
する集光レンズ3の焦点に光フアイバスリーブ5を配!
するとともに、該ビームスプリッタ4の反射側に位置す
る集光レンズ3の焦点に光強度検出器6を配置している
。そして、光フアイバスリーブ5の断面は集光レンズ3
の焦点上に位置合せされており、この断面に光ファイバ
7の入射口8が露出している。この入射口8に入射した
レーザ光は光ファイバ7を通じて波長検出器111に導
かれ、ここで波長が検出される。この波長検出器111
は例えば回折格子型分光器、モニタエタロン等を用いて
レーザ光の波長を検出しており、検出出力をCPU11
2に加える。CPU112はこの検出出力に基づいてレ
ーザ光の波長制御を行う。一方、光強度検出器6は集光
レンズ3の焦点上に位置合せされた例えばフォトダイオ
ード、フォトマルチフライヤ等を備えており、このよう
な光電変換素子によってレーザ光の強度を検出し、検出
出力をCPU112に加える。CPU112はこの検出
出力に基づいてレーザ光のパワー制御を行う。
ーザ光をビームスプリッタ1に入射し、このビームスプ
リッタ1を透過したレーザ光を出力とし取出すとともに
、該ビームスプリッタ1で反射されたレーザ光をライト
インテグレータ2を介して集光レンズ3に入射している
。この集光レンズ3の下方にはビームスプリッタ4が配
置されており、このビームスプリッタ4の透過側に位置
する集光レンズ3の焦点に光フアイバスリーブ5を配!
するとともに、該ビームスプリッタ4の反射側に位置す
る集光レンズ3の焦点に光強度検出器6を配置している
。そして、光フアイバスリーブ5の断面は集光レンズ3
の焦点上に位置合せされており、この断面に光ファイバ
7の入射口8が露出している。この入射口8に入射した
レーザ光は光ファイバ7を通じて波長検出器111に導
かれ、ここで波長が検出される。この波長検出器111
は例えば回折格子型分光器、モニタエタロン等を用いて
レーザ光の波長を検出しており、検出出力をCPU11
2に加える。CPU112はこの検出出力に基づいてレ
ーザ光の波長制御を行う。一方、光強度検出器6は集光
レンズ3の焦点上に位置合せされた例えばフォトダイオ
ード、フォトマルチフライヤ等を備えており、このよう
な光電変換素子によってレーザ光の強度を検出し、検出
出力をCPU112に加える。CPU112はこの検出
出力に基づいてレーザ光のパワー制御を行う。
さて、ライトインテグレータ2は例えば第2図に示すよ
うに微小な角ドラムレンズ51を多数個配列して形成さ
れたものであり、各角ドラムレンズ51に入射したそれ
ぞれの光束が出射されることにより、複数の発散光束が
得られる。また、ライトインテグレータ2の他の形態と
しては、第3図に示すような六角ドラムレンズ52を多
数個配列して形成されたものがある。さらに、別の形態
としては第4図に示すように板状の透明体53の上面に
半円柱状のレンズ54を多数個並設するとともに、板状
の透明体53の下面に半円柱状のレンズ55をレンズ5
4に直交させて多数個並設したものがある。また、第5
図に示すように板状の透明体56の一方の面に半円形の
溝57を多数並列して形成するとともに、透明体56の
他方の面に半円形の湧58を消57に直交させて多数並
列して形成したものがある。このような種々のライトイ
ンテグレータのうちのいずれでも、入射した光を出射す
ると、複数の発散光束を形成する。
うに微小な角ドラムレンズ51を多数個配列して形成さ
れたものであり、各角ドラムレンズ51に入射したそれ
ぞれの光束が出射されることにより、複数の発散光束が
得られる。また、ライトインテグレータ2の他の形態と
しては、第3図に示すような六角ドラムレンズ52を多
数個配列して形成されたものがある。さらに、別の形態
としては第4図に示すように板状の透明体53の上面に
半円柱状のレンズ54を多数個並設するとともに、板状
の透明体53の下面に半円柱状のレンズ55をレンズ5
4に直交させて多数個並設したものがある。また、第5
図に示すように板状の透明体56の一方の面に半円形の
溝57を多数並列して形成するとともに、透明体56の
他方の面に半円形の湧58を消57に直交させて多数並
列して形成したものがある。このような種々のライトイ
ンテグレータのうちのいずれでも、入射した光を出射す
ると、複数の発散光束を形成する。
いま、ライトインテグレータ2から出射された複数の発
散光束は、第6図に示すように集光レンズ3に入射され
、ここからそれぞれ集光される。
散光束は、第6図に示すように集光レンズ3に入射され
、ここからそれぞれ集光される。
そして、集光されたそれぞれの光束は集光レンズ3の焦
点上で全て重畳する。すなわち、レーザ光はライトイン
テグレータ2に入射されて複数に分割され、分割された
それぞれの発散光束が集光レンズ3を介して焦点上に重
畳されるというケーラ照明が行われる。したがって、集
光レンズ3の焦点上にはレーザ光を均一化した均一照明
領域9が形成され、この均一照明領域9は該領域内のど
の位置であっても発振されたレーザ光の全ての波長成分
を生ずるとともにレーザ光のビームサイズ内の平均的な
強度を示す。
点上で全て重畳する。すなわち、レーザ光はライトイン
テグレータ2に入射されて複数に分割され、分割された
それぞれの発散光束が集光レンズ3を介して焦点上に重
畳されるというケーラ照明が行われる。したがって、集
光レンズ3の焦点上にはレーザ光を均一化した均一照明
領域9が形成され、この均一照明領域9は該領域内のど
の位置であっても発振されたレーザ光の全ての波長成分
を生ずるとともにレーザ光のビームサイズ内の平均的な
強度を示す。
ここで、第7図に示すように集光レンズ3の焦点上に配
置された光フアイバスリーブ5の断面において、光ファ
イバ7の入射口8は均一照明領域9よりも小さくかつ均
一照明領域9内に入る。このため、フロントミラー10
5から出射されるレーザ光の光軸が狂って、均一照明領
域9が多少ずれても、光ファイバ7の入射口8は均一照
明領域9から外れるようなことがない。
置された光フアイバスリーブ5の断面において、光ファ
イバ7の入射口8は均一照明領域9よりも小さくかつ均
一照明領域9内に入る。このため、フロントミラー10
5から出射されるレーザ光の光軸が狂って、均一照明領
域9が多少ずれても、光ファイバ7の入射口8は均一照
明領域9から外れるようなことがない。
そして、光ファイバ7の入射口8がら入射されたレーザ
光は光ファイバ7を通じて波長検出器111に導かれる
。このレーザ光には発振された全ての波長成分が含まれ
るので、波長検出器111はこの波長成分から平均的な
波長を検出し、レーザ光の平均波長を示す検出出力をC
PU112に加える。この結果、CPUI 12はレー
ザ光の平均波長に基づいて波長制御を行うこととなり、
よって発振波長を所望の波長に正確に合せることができ
る。
光は光ファイバ7を通じて波長検出器111に導かれる
。このレーザ光には発振された全ての波長成分が含まれ
るので、波長検出器111はこの波長成分から平均的な
波長を検出し、レーザ光の平均波長を示す検出出力をC
PU112に加える。この結果、CPUI 12はレー
ザ光の平均波長に基づいて波長制御を行うこととなり、
よって発振波長を所望の波長に正確に合せることができ
る。
一方、光強度検出器6は第6図に示すように集光レンズ
3の焦点に位置する光電変換素子10の受光面11によ
って光強度を検出しており、この光電変換素子10の受
光面11が第8図に示すように均一照明領域9よりも小
さくかつ均一照明領域9内に入る。このため、フロント
ミラー105から出射されるレーザ光の光軸が狂って、
均一照明領域9が多少ずれても、受光面11は均一照明
領域9から外れるようなことがない。
3の焦点に位置する光電変換素子10の受光面11によ
って光強度を検出しており、この光電変換素子10の受
光面11が第8図に示すように均一照明領域9よりも小
さくかつ均一照明領域9内に入る。このため、フロント
ミラー105から出射されるレーザ光の光軸が狂って、
均一照明領域9が多少ずれても、受光面11は均一照明
領域9から外れるようなことがない。
そして、均一照明領域9はどのような位置でもレーザ光
のビームサイズ内の平均的な強度を示す。
のビームサイズ内の平均的な強度を示す。
このため、光強度検出器6はレーザ光の平均的な強度を
検出し、平均光強度を示す検出出力をCPU112に加
える。この結果、CPU112は平均光強度に基づいて
パワー制御を行うこととなり、よってレーザ出力の安定
化を図ることかできる。
検出し、平均光強度を示す検出出力をCPU112に加
える。この結果、CPU112は平均光強度に基づいて
パワー制御を行うこととなり、よってレーザ出力の安定
化を図ることかできる。
このようなレーザ光をライトインテグレータ2および集
光レンズ3を介することによりケーラ照明を行い、この
ケーラ照明により形成された均一照明領域9にて平均波
長および平均光強度を検出し、平均波長に基づいて波長
制御を行うとともに平均光強度に基づいてパワー制御を
行っているので、このために正確な制御が可能となる。
光レンズ3を介することによりケーラ照明を行い、この
ケーラ照明により形成された均一照明領域9にて平均波
長および平均光強度を検出し、平均波長に基づいて波長
制御を行うとともに平均光強度に基づいてパワー制御を
行っているので、このために正確な制御が可能となる。
第9図は狭帯域発振エキシマレーザ装置の第2の実施例
を示しており、フロントミラー105から出射されたレ
ーザ光をビームスプリッタ12に入射し、このビームス
プリッタ12で反射されたレーザ光を出力として取出す
とともに、該ビームスプリッタ12を透過したレーザ光
をライトインテグレータ2を介して集光レンズ3に入射
している。そして、集光レンズ3の出射側にビームスプ
リッタ13を配!し、このビームスプリッタ13の反射
側に位置する集光レンズ3の焦点に光フアイバスリーブ
5の断面を配置するとともに、該ビームスプリッタ13
の透過側に位1する集光レンズ3の焦点に光強度検出器
14の入射口を配置している。
を示しており、フロントミラー105から出射されたレ
ーザ光をビームスプリッタ12に入射し、このビームス
プリッタ12で反射されたレーザ光を出力として取出す
とともに、該ビームスプリッタ12を透過したレーザ光
をライトインテグレータ2を介して集光レンズ3に入射
している。そして、集光レンズ3の出射側にビームスプ
リッタ13を配!し、このビームスプリッタ13の反射
側に位置する集光レンズ3の焦点に光フアイバスリーブ
5の断面を配置するとともに、該ビームスプリッタ13
の透過側に位1する集光レンズ3の焦点に光強度検出器
14の入射口を配置している。
ここで、光強度検出器14は入射口に設けられた例えば
スリガラスの光拡散板15と、光電変換素子としてのフ
ォトダイオード16と、光拡散板15からフォトダイオ
ード16に至るまでに径が徐々に小さくなりかつ内側が
鏡面の筒17とを備えている。そして、光拡散板15に
は集光レンズ3の焦点上の均一照明領域9が形成され、
ここがらレーザ光は拡散され、さらにl!fi17の内
側で反射されて集光されフォトダイオード16に至る。
スリガラスの光拡散板15と、光電変換素子としてのフ
ォトダイオード16と、光拡散板15からフォトダイオ
ード16に至るまでに径が徐々に小さくなりかつ内側が
鏡面の筒17とを備えている。そして、光拡散板15に
は集光レンズ3の焦点上の均一照明領域9が形成され、
ここがらレーザ光は拡散され、さらにl!fi17の内
側で反射されて集光されフォトダイオード16に至る。
このため、フォトダイオード16はケーラ照明による均
一照明領域9のレーザ光をより均一化して受光すること
となり、レーザ光の平均的な光強度を検出し、この平均
光強度を示す検出出力をCPU112に加える。したが
って、この実施例ではレーザ光の平均光強度を第1図に
示した装置よりも正確に検出することができる。
一照明領域9のレーザ光をより均一化して受光すること
となり、レーザ光の平均的な光強度を検出し、この平均
光強度を示す検出出力をCPU112に加える。したが
って、この実施例ではレーザ光の平均光強度を第1図に
示した装置よりも正確に検出することができる。
第10図は本発明に係る狭帯域発振エキシマレーザ装置
の第3の実施例を示している。この実施例では第9図に
示した装置における光強度検出器14の代りに光フアイ
バスリーブ21の断面を集光レンズ3の焦点上の均一照
明領域9に配置している。この光フアイバスリーブ21
の断面には光ファイバ22の入射口が露出しており、こ
の入射口に入射したレーザ光は光ファイバ22を通じて
図示されない光強度検出器に導かれ、ここでレーザ光の
平均光強度が検出される。なお、光ファイバ22の入射
口は均一照明領域9よりも小さくかつ均一照明領域9内
に入る。
の第3の実施例を示している。この実施例では第9図に
示した装置における光強度検出器14の代りに光フアイ
バスリーブ21の断面を集光レンズ3の焦点上の均一照
明領域9に配置している。この光フアイバスリーブ21
の断面には光ファイバ22の入射口が露出しており、こ
の入射口に入射したレーザ光は光ファイバ22を通じて
図示されない光強度検出器に導かれ、ここでレーザ光の
平均光強度が検出される。なお、光ファイバ22の入射
口は均一照明領域9よりも小さくかつ均一照明領域9内
に入る。
第11図は本発明に係る狭帯域発振エキシマレーザ装置
の第4の実施例を示しており、第9図に示した装置にお
けるビームスプリッタ13を除去するとともに、集光レ
ンズ3の焦点上の均一照明領域9に光フアイバスリーブ
25の断面を配置している。この光フアイバスリーブ2
5の断面には第12図に示すように2本の光ファイバ2
6および27の入射口28および29がそれぞれ露出し
ており、2つの入射口28および29は均一照明領域9
内に余裕を持って入る。したがって、フロントミラー1
05から出射されたレーザ光の光軸が多少狂っても、各
入射口28および29が均一照明領域9から外れるよう
なことはない。
の第4の実施例を示しており、第9図に示した装置にお
けるビームスプリッタ13を除去するとともに、集光レ
ンズ3の焦点上の均一照明領域9に光フアイバスリーブ
25の断面を配置している。この光フアイバスリーブ2
5の断面には第12図に示すように2本の光ファイバ2
6および27の入射口28および29がそれぞれ露出し
ており、2つの入射口28および29は均一照明領域9
内に余裕を持って入る。したがって、フロントミラー1
05から出射されたレーザ光の光軸が多少狂っても、各
入射口28および29が均一照明領域9から外れるよう
なことはない。
そして、光ファイバ26の入射口28に入射したレーザ
光は光ファイバ26を通じて図示されない光強度検出器
に導かれ、ここでレーザ光の平均強度が検出される。ま
た、光ファイバ27の入射口29に入射したレーザ光は
光ファイバ27を通じて図示されない波長検出器に導が
れ、ここでレーザ光の平均波長が検出される。
光は光ファイバ26を通じて図示されない光強度検出器
に導かれ、ここでレーザ光の平均強度が検出される。ま
た、光ファイバ27の入射口29に入射したレーザ光は
光ファイバ27を通じて図示されない波長検出器に導が
れ、ここでレーザ光の平均波長が検出される。
このように第1〜第4の実施例では、レーザ光をライト
インテグレータおよび集光レンズを順次介することによ
り均一照明領域を形成し、この均一照明領域内にてレー
ザ光の平均波長および平均光強度を検出している。この
ため、フロントミラーから出射されるレーザ光の光軸が
少しぐらい狂っても、レーザ光の平均波長および平均光
強度を良好な精度でかつ安定に検出することができる。
インテグレータおよび集光レンズを順次介することによ
り均一照明領域を形成し、この均一照明領域内にてレー
ザ光の平均波長および平均光強度を検出している。この
ため、フロントミラーから出射されるレーザ光の光軸が
少しぐらい狂っても、レーザ光の平均波長および平均光
強度を良好な精度でかつ安定に検出することができる。
この結果、レーザ光の波長制御およびパワー制御を正確
に行うことを可能ならしめる。
に行うことを可能ならしめる。
以上説明したように本発明によれは、レーザ光をライト
インテグレータおよび集光レンズを介することにより集
光レンズの焦点上に均一照明領域を形成し、この均一照
明領域にてレーザ光の平均波長および平均光強度を検出
するようにしている。このため、レーザ光の検出を良好
な精度でかつ安定に行うことが可能な狭帯域発振エキシ
マレーザ装置を提供することができる。
インテグレータおよび集光レンズを介することにより集
光レンズの焦点上に均一照明領域を形成し、この均一照
明領域にてレーザ光の平均波長および平均光強度を検出
するようにしている。このため、レーザ光の検出を良好
な精度でかつ安定に行うことが可能な狭帯域発振エキシ
マレーザ装置を提供することができる。
第1図は本発明に係る第1の実施例を示す図、第2図〜
第5図はライトインテグレータをそれぞれ例示する図、
第6図は第1図に示した実施例の部分を示す図、第7図
は第1図に示した実施例における光フアイバスリーブの
受光部分を示す図、第8図は第1図に示した実施例にお
ける光強度検出器の受光部分を示す図、第9図は本発明
に係る第2の実施例を示す図、第10図は本発明に係る
第3の実施例を示す図、第11図は本発明に係る第4の
実施例を示す図、第12図は第11図に示した実施例に
おける光フアイバスリーブの断面を示す図、第13図は
従来の狭帯域発振エキシマレーザ装置を示す図である。 1.4,12.13・・・ビームスプリッタ、2・・・
ライトインテグレータ、3・・・集光レンズ、5゜21
.25・・・光フアイバスリーブ、6.14・・・光強
度検出器、7,22,26.27・・・光ファイバ、8
.28.29・・・入射口、9・・・均一照明領域、1
0.16・・・光電変換素子、11・・・受光面、15
・・・光拡散板、17・・・筒、101,102・・・
エタロン、105・・・フロントミラー、106・・・
リアミラー 107・・・レーザ管、111・・・波長
検出器、112・・・中央処理装置、113,114・
・・ドライバ116・・・レーザ電源、117・・・ガ
スコンローラ。 第1図 第7図 第8図 第9図 第10図 七カし一プ光 第11図 2日 第12図
第5図はライトインテグレータをそれぞれ例示する図、
第6図は第1図に示した実施例の部分を示す図、第7図
は第1図に示した実施例における光フアイバスリーブの
受光部分を示す図、第8図は第1図に示した実施例にお
ける光強度検出器の受光部分を示す図、第9図は本発明
に係る第2の実施例を示す図、第10図は本発明に係る
第3の実施例を示す図、第11図は本発明に係る第4の
実施例を示す図、第12図は第11図に示した実施例に
おける光フアイバスリーブの断面を示す図、第13図は
従来の狭帯域発振エキシマレーザ装置を示す図である。 1.4,12.13・・・ビームスプリッタ、2・・・
ライトインテグレータ、3・・・集光レンズ、5゜21
.25・・・光フアイバスリーブ、6.14・・・光強
度検出器、7,22,26.27・・・光ファイバ、8
.28.29・・・入射口、9・・・均一照明領域、1
0.16・・・光電変換素子、11・・・受光面、15
・・・光拡散板、17・・・筒、101,102・・・
エタロン、105・・・フロントミラー、106・・・
リアミラー 107・・・レーザ管、111・・・波長
検出器、112・・・中央処理装置、113,114・
・・ドライバ116・・・レーザ電源、117・・・ガ
スコンローラ。 第1図 第7図 第8図 第9図 第10図 七カし一プ光 第11図 2日 第12図
Claims (5)
- (1)レーザ発振器から出射されたレーザ光の波長およ
びパワーのうちの少なくとも一方を検出する狭帯域発振
エキシマレーザ装置において、前記レーザ光を入射して
複数の発散光束を出射するライトインテグレータと、 このライトインテグレータからの各発散光束を入射する
集光レンズと を備え、前記集光レンズの出射側の焦点上に形成された
均一照明領域にて前記レーザ光の波長およびパワーのう
ちの少なくとも一方を検出することを特徴とする狭帯域
発振エキシマレーザ装置。 - (2)集光レンズの出射側に配置され、レーザ光を分岐
することにより各分岐路に前記集光レンズの焦点上の均
一照明領域をそれぞれ形成するビームスプリッタと、 このビームスプリッタによって形成された各均一照明領
域にそれぞれ配置されたレーザ光の波長検出手段および
パワー検出手段と を備えたこと特徴とする請求項(1)記載の狭帯域発振
エキシマレーザ装置。 - (3)波長検出手段は入射口を均一照明領域に配置され
た光ファイバを備え、この光ファイバを通じて導かれた
レーザ光に基づいて波長を検出し、前記光ファイバの入
射口は前記均一照明領域よりも小さいことを特徴とする
請求項(2)記載の狭帯域発振エキシマレーザ装置。 - (4)パワー検出手段は受光面を均一照明領域に配置さ
れた光電変換素子を備えたことを特徴とする請求項(2
)記載の狭帯域発振エキシマレーザ装置。 - (5)集光レンズの焦点上の均一照明領域からレーザ光
をそれぞれ導く2本の光ファイバを備え、これらの光フ
ァイバを通じて導かれたそれぞれのレーザ光に基づいて
波長およびパワーをそれぞれ検出し、 前記各光ファイバの入射口は前記均一照明領域内にそれ
ぞれ入ることを特徴とする請求項(1)記載の狭帯域発
振エキシマレーザ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24627588A JP2657532B2 (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 | 狭帯域発振エキシマレーザ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24627588A JP2657532B2 (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 | 狭帯域発振エキシマレーザ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0293331A true JPH0293331A (ja) | 1990-04-04 |
| JP2657532B2 JP2657532B2 (ja) | 1997-09-24 |
Family
ID=17146115
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24627588A Expired - Lifetime JP2657532B2 (ja) | 1988-09-30 | 1988-09-30 | 狭帯域発振エキシマレーザ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2657532B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1991016745A1 (en) * | 1990-04-16 | 1991-10-31 | Mitsui Petrochemical Industries, Ltd. | Laser device |
| EP2946194B1 (en) * | 2013-01-17 | 2023-07-05 | Detector Electronics Corporation | Open path gas detector |
-
1988
- 1988-09-30 JP JP24627588A patent/JP2657532B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1991016745A1 (en) * | 1990-04-16 | 1991-10-31 | Mitsui Petrochemical Industries, Ltd. | Laser device |
| EP2946194B1 (en) * | 2013-01-17 | 2023-07-05 | Detector Electronics Corporation | Open path gas detector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2657532B2 (ja) | 1997-09-24 |
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