JPH0310094A - 銀めっき液及び銀めっき方法 - Google Patents
銀めっき液及び銀めっき方法Info
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- JPH0310094A JPH0310094A JP14375289A JP14375289A JPH0310094A JP H0310094 A JPH0310094 A JP H0310094A JP 14375289 A JP14375289 A JP 14375289A JP 14375289 A JP14375289 A JP 14375289A JP H0310094 A JPH0310094 A JP H0310094A
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- electrode
- plating
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体装置製造過程におけるダイ・ボンディン
グ工程において使用する銀めつき液の改良と、その銀め
っき液を使用してなす銀めっき方法の改良とに関する。
グ工程において使用する銀めつき液の改良と、その銀め
っき液を使用してなす銀めっき方法の改良とに関する。
特に、めっき面の平滑性を良好にすることを目的とする
銀めっき液の改良と、めっき面の平滑性を良好にするこ
とを目的とする銀めっき法の改良とに関する。
銀めっき液の改良と、めっき面の平滑性を良好にするこ
とを目的とする銀めっき法の改良とに関する。
半導体チップをリードフレーム等やその他のステム等の
上に貼り付ける、いわゆる、グイ・ボンディング工程に
おいて、ステム等の貼り付は面に施す銀めつき面の表面
の平滑性を良好にして、貼り付けに使用する接着剤の濡
れ性を良好にする目的のために、従来は、銀めつき液に
セレン化合物等を添加する方法が使用されて来た。
上に貼り付ける、いわゆる、グイ・ボンディング工程に
おいて、ステム等の貼り付は面に施す銀めつき面の表面
の平滑性を良好にして、貼り付けに使用する接着剤の濡
れ性を良好にする目的のために、従来は、銀めつき液に
セレン化合物等を添加する方法が使用されて来た。
ところが、この従来技術に係る銀めつき液にセレン化合
物等を添加する方法は、めっき面の平滑性を良好にする
には効果的であるが、銀めつき液に添加したセレン化合
物等がめつき被膜に共析すると云う欠点をともなう、そ
の結果、半導体チ・ノブがステム上に接着された後の期
間において、セレンが半導体内に拡散しうるための条件
が満たされると、上記のセレンが半導体チップ内に拡散
し、半導体の特性に悪影響を与え、この半導体をもって
製造される半導体装置の信鯨性の低下を招く場合があっ
た。
物等を添加する方法は、めっき面の平滑性を良好にする
には効果的であるが、銀めつき液に添加したセレン化合
物等がめつき被膜に共析すると云う欠点をともなう、そ
の結果、半導体チ・ノブがステム上に接着された後の期
間において、セレンが半導体内に拡散しうるための条件
が満たされると、上記のセレンが半導体チップ内に拡散
し、半導体の特性に悪影響を与え、この半導体をもって
製造される半導体装置の信鯨性の低下を招く場合があっ
た。
本発明の目的は、この欠点を解消することにある。
第1の目的は、めっき被膜に共析して半導体の特性に悪
影響を及ぼすと云う欠点をともなうことなく、めっき面
を平滑になしうる銀めつき液を提供することにある。
影響を及ぼすと云う欠点をともなうことなく、めっき面
を平滑になしうる銀めつき液を提供することにある。
第2の目的は、この銀めつき液を単純に使用する場合に
比し、さらに、めっき面の平滑性を向上することのでき
る銀めっき方法を提供することにある。
比し、さらに、めっき面の平滑性を向上することのでき
る銀めっき方法を提供することにある。
(!m1llを解決するための手段〕
上記の二つの目的のうちの第1の目的は、銀めつき液の
主成分であるシアン化銀ハロゲノイドまたは硝酸銀を含
む水溶液に、僅少のイミダゾールCCs Ha Nz
)が添加された銀めつき液によって達成される。イミダ
ゾールの添加量は、1pp−から数100pp−の範囲
が好ましい。
主成分であるシアン化銀ハロゲノイドまたは硝酸銀を含
む水溶液に、僅少のイミダゾールCCs Ha Nz
)が添加された銀めつき液によって達成される。イミダ
ゾールの添加量は、1pp−から数100pp−の範囲
が好ましい。
数100pp−以上の添加は、効果に変化がない。
また、上記の二つの目的のうちの第2の目的は、めっき
液(3)には請求項[1]記載の銀めっき液を使用し、
電極には第1の電極(2)と被めっき体たる第2の電極
(1)とを使用し、前記第1の電極(2)を陽極として
電流を流し、次いで、前記第2の電極(1)を陽極とし
て僅少の電流をなす工程を反復実施することによって達
成される。
液(3)には請求項[1]記載の銀めっき液を使用し、
電極には第1の電極(2)と被めっき体たる第2の電極
(1)とを使用し、前記第1の電極(2)を陽極として
電流を流し、次いで、前記第2の電極(1)を陽極とし
て僅少の電流をなす工程を反復実施することによって達
成される。
上記の第1の電極(2)を陽極として電流を流し、次い
で、前記第2の電極(1)を陽極として僅少の電流をな
す工程に使用する電流は、方形波状でも三角波状でもよ
い。
で、前記第2の電極(1)を陽極として僅少の電流をな
す工程に使用する電流は、方形波状でも三角波状でもよ
い。
た\、本発明は実験の結果にもとづくものであり、その
作用は必ずしも明らかではない、しかし、めっき被膜に
共析して半導体チップの特性に悪影響を及ぼすセレン化
合物を添加しない銀めつき液を使用して実施した銀めっ
きの表面は結晶粒径が不均一で表面の平滑性が良くない
が、イミダゾール(C3H−Nt )を添加した銀めつ
き液を使用した場合のめっき表面1の結晶粒径は殆ど均
一であり、表面の平滑性が良いことは実験的に確認され
ている事実である0表面の平滑度を表す尺度としてCA
M光沢度が一般に使用されており、CAM光沢度が0.
2以上であれば十分であると見做されているが、添加剤
としてイミダゾール(C,H。
作用は必ずしも明らかではない、しかし、めっき被膜に
共析して半導体チップの特性に悪影響を及ぼすセレン化
合物を添加しない銀めつき液を使用して実施した銀めっ
きの表面は結晶粒径が不均一で表面の平滑性が良くない
が、イミダゾール(C3H−Nt )を添加した銀めつ
き液を使用した場合のめっき表面1の結晶粒径は殆ど均
一であり、表面の平滑性が良いことは実験的に確認され
ている事実である0表面の平滑度を表す尺度としてCA
M光沢度が一般に使用されており、CAM光沢度が0.
2以上であれば十分であると見做されているが、添加剤
としてイミダゾール(C,H。
N8)が添加されている銀めつき液を使用した場合は、
CAM光沢度は0.2を超過し、平滑性は良好であるこ
とが実験的に確認されている。上記のセレン化合物を添
加しない銀めつき液を使用した場合は、CAM光沢度は
0.2に達しないことも実験的に確認されているから、
添加剤としてイミダゾール(、Cs Ha Nt )が
添加されている銀めつき液が平滑性の向上に寄与してい
ることは明らかであると思われる。
CAM光沢度は0.2を超過し、平滑性は良好であるこ
とが実験的に確認されている。上記のセレン化合物を添
加しない銀めつき液を使用した場合は、CAM光沢度は
0.2に達しないことも実験的に確認されているから、
添加剤としてイミダゾール(、Cs Ha Nt )が
添加されている銀めつき液が平滑性の向上に寄与してい
ることは明らかであると思われる。
そして、銀めっき表面の平滑性を良くすることは、銀め
っき面に半導体チップを導電性接着剤をもって接着する
場合に、接着剤の濡れ性を良好にして、有効接着面積を
増大する上で望ましいことは知られていることであり、
むしろ、銀めっき表面の平滑性を良くすることは、導電
面積を確保する上で、必須のことである。また、電解電
流として周期的に極性反転する電流の作用は、次のよう
に推測される。すなわち、1周期の中の正極性電流によ
って被めっき面に堆積された銀原子層が必ずしも全面に
わたって均一な厚みとはならず、局部的により多くの銀
原子が堆積して突起が形成されることがあるが、正極性
電流に続く僅少な逆掻性電流によってめっき表面に僅少
な電解エツチングが実行されて、上記の突起が除去され
、その結果、めっき表面の平滑性が向上するものと思わ
れる。
っき面に半導体チップを導電性接着剤をもって接着する
場合に、接着剤の濡れ性を良好にして、有効接着面積を
増大する上で望ましいことは知られていることであり、
むしろ、銀めっき表面の平滑性を良くすることは、導電
面積を確保する上で、必須のことである。また、電解電
流として周期的に極性反転する電流の作用は、次のよう
に推測される。すなわち、1周期の中の正極性電流によ
って被めっき面に堆積された銀原子層が必ずしも全面に
わたって均一な厚みとはならず、局部的により多くの銀
原子が堆積して突起が形成されることがあるが、正極性
電流に続く僅少な逆掻性電流によってめっき表面に僅少
な電解エツチングが実行されて、上記の突起が除去され
、その結果、めっき表面の平滑性が向上するものと思わ
れる。
[実施例]
以下、図面を参照しつ一1本発明の実施例に係る銀めつ
き液と銀めつき方法とについて、さらに説明する。
き液と銀めつき方法とについて、さらに説明する。
男」」性
請求項[1]に記載された銀めつき液を使用するが、電
流には直流を使用する実施例である。イミダゾールCC
s Ha N= )を添加して下記に表記された組成を
有する銀めつき液を作成する。
流には直流を使用する実施例である。イミダゾールCC
s Ha N= )を添加して下記に表記された組成を
有する銀めつき液を作成する。
第1表 銀めつき液の組成
底−豆 1−1−北
シアン化i艮カリウム 120 g/lピ
ロリン酸カリウム 80g/j2リン酸
水素二カリウム 8g/lホウ酸
35g/lイミダゾール
200ppmこの溶液に、水酸化カリウムを添加
して、pHが8.7になるように、水素イオン濃度を調
整する。
ロリン酸カリウム 80g/j2リン酸
水素二カリウム 8g/lホウ酸
35g/lイミダゾール
200ppmこの溶液に、水酸化カリウムを添加
して、pHが8.7になるように、水素イオン濃度を調
整する。
42材(N i 42%とFe5B%とを含む合金)を
基板とするリードフレームに通常の前処理(表面清浄化
)を実施した後、銅ストライクめっき法を厚さが0.2
nになるように実施し、置換防止処理を実施した後に、
上記のめっき液を使用して噴射方式部分めっき法を実施
した。このめっき法に於けるめっき条件は下記に表記さ
れたとおりである。
基板とするリードフレームに通常の前処理(表面清浄化
)を実施した後、銅ストライクめっき法を厚さが0.2
nになるように実施し、置換防止処理を実施した後に、
上記のめっき液を使用して噴射方式部分めっき法を実施
した。このめっき法に於けるめっき条件は下記に表記さ
れたとおりである。
第2表 めっき条件
1−旦 ■−述
pH8,7
浴温度 65°C
陽極 白金めっきされたチタン製ノズル電源
単相全波整流直流電源めっき厚 約5
n めっき液の流速 5m/秒 電極間路# 1cm 以上の条件で形成されためっき被膜は電流密度が40〜
50A/dm”の範囲でCAM光沢度は0.2以上であ
り、結晶粒径ははり均一であり、平滑性も良好であり、
その結果、半導体チップに悪影響を及ぼすことはなく、
ダイ・ボンディングを良好に実施することができた。
単相全波整流直流電源めっき厚 約5
n めっき液の流速 5m/秒 電極間路# 1cm 以上の条件で形成されためっき被膜は電流密度が40〜
50A/dm”の範囲でCAM光沢度は0.2以上であ
り、結晶粒径ははり均一であり、平滑性も良好であり、
その結果、半導体チップに悪影響を及ぼすことはなく、
ダイ・ボンディングを良好に実施することができた。
なお、イミダゾールを添加しないこと以外は条件を同一
にしためっき法(即ち、従来の無光沢めっき法)を実施
した結果では、CAM光沢度が0.2以下であり、結晶
粒径も不均一であり、表面には凹凸が観察され、ダイ・
ボンディングの際、接着剤が十分に展延せず、接着不良
等の悪影響が発生することが確認された。
にしためっき法(即ち、従来の無光沢めっき法)を実施
した結果では、CAM光沢度が0.2以下であり、結晶
粒径も不均一であり、表面には凹凸が観察され、ダイ・
ボンディングの際、接着剤が十分に展延せず、接着不良
等の悪影響が発生することが確認された。
」」口外
請求項し2]、[3]に対応する実施例である。
請求項[1]に記載された銀めっき液を使用した上、電
流には交番電流を使用する実施例である。
流には交番電流を使用する実施例である。
まず、第1例と同様に、イミダゾール(C3H4N、)
を添加して上記したと同一の組成を存する銀めっき液を
作成する。
を添加して上記したと同一の組成を存する銀めっき液を
作成する。
第1a図参照
図において、■はこの上に銀めっきが施されるリードフ
レームであり、2は第1の電極を兼ねるめっき液ノズル
であり、3は第1例にその組成を記した銀めっき液の噴
流である。4はめっき電流方向切り替え開閉器であり、
5は銀めっき膜である。
レームであり、2は第1の電極を兼ねるめっき液ノズル
であり、3は第1例にその組成を記した銀めっき液の噴
流である。4はめっき電流方向切り替え開閉器であり、
5は銀めっき膜である。
まづ、めっき電流方向切り替え開閉器4を、ノズル2が
正電極となるように接続して、ノズル2から脹めっき液
3をリードフレーム1の面に噴射して、この噴射液噴流
3を介してめっき電流をノズル2からリードフレーム1
に向がって流す、この工程によって、リードフレーム1
の表面には銀めつき膜5が形成される。
正電極となるように接続して、ノズル2から脹めっき液
3をリードフレーム1の面に噴射して、この噴射液噴流
3を介してめっき電流をノズル2からリードフレーム1
に向がって流す、この工程によって、リードフレーム1
の表面には銀めつき膜5が形成される。
第1b図参照
次に、めっき電流方向切り替え開閉器4を切り替えて、
リードフレーム1が正′g1橿となるように接続して、
ノズル2から恨めっき液3をリードフレーム1の面に噴
射して、この噴射液噴流3を介してめっき電流をリード
フレーム1からノズル2に向かって流す、この工程によ
って、前工程においてリードフレーム1の表面に形成さ
れていた銀めっき1I15の一部が除去される。この工
程において、銀めっき195上に形成されていた突起等
は除去される。
リードフレーム1が正′g1橿となるように接続して、
ノズル2から恨めっき液3をリードフレーム1の面に噴
射して、この噴射液噴流3を介してめっき電流をリード
フレーム1からノズル2に向かって流す、この工程によ
って、前工程においてリードフレーム1の表面に形成さ
れていた銀めっき1I15の一部が除去される。この工
程において、銀めっき195上に形成されていた突起等
は除去される。
第1a図、第1b図再参照
上記の二つの工程を反復実行する。このめっき工程と除
去工程との反復工程の結果、表面の結晶粒径が殆ど均一
で、表面の平滑性の高いめっき面が実現される。
去工程との反復工程の結果、表面の結晶粒径が殆ど均一
で、表面の平滑性の高いめっき面が実現される。
上記のめっき工程と除去工程との反復工程に使用される
交番電流の波形とめっき電流と除去電流との電流値及び
/または電流比とについて、その最適条件を求めるため
に、下記の効果確認試験を実行した。
交番電流の波形とめっき電流と除去電流との電流値及び
/または電流比とについて、その最適条件を求めるため
に、下記の効果確認試験を実行した。
第1C図参照
パルス状方形波を使用する例である(請求項3に対応)
、第1c図に示す波形のパルス状方形波交番電流を電解
電流とする銀めっきを実施した。
、第1c図に示す波形のパルス状方形波交番電流を電解
電流とする銀めっきを実施した。
電流条件と通電時間条件は第3表に示すとおりである。
(以下余白)
第3表 効果確認試験条件
icp iap 欠二ム上
aイ)j」1で艷) −くL^−7−5i」−m:、)
T:92p−(」1!し) 1:Jljl−(」
!」!−)30 3 to 1 40 4 10 1 50 5 10 1 60 6 10 1 70 7 10 1 80 8 to 1 女二≦(1 ム1h4)Tu−値1 100 10 100 10 100 10 100 10 100 10 100 10 上記の条件で真人な数の実験を実施した結果、t c
p=40〜60A/dm”の電流密度において、上記の
第1例よりさらに高いCAM光沢度が得られた。めっき
表面の結晶粒径は殆ど均一で、平滑性は極めて良好で、
めっき面における接着剤の広がりがよく、グイ・ボンデ
ィングは極めて良好に実施できた。
T:92p−(」1!し) 1:Jljl−(」
!」!−)30 3 to 1 40 4 10 1 50 5 10 1 60 6 10 1 70 7 10 1 80 8 to 1 女二≦(1 ム1h4)Tu−値1 100 10 100 10 100 10 100 10 100 10 100 10 上記の条件で真人な数の実験を実施した結果、t c
p=40〜60A/dm”の電流密度において、上記の
第1例よりさらに高いCAM光沢度が得られた。めっき
表面の結晶粒径は殆ど均一で、平滑性は極めて良好で、
めっき面における接着剤の広がりがよく、グイ・ボンデ
ィングは極めて良好に実施できた。
第1d図参照
請求項4に対応する実施例である。第1d図に示す波形
の三角波電流を電解電流とする銀めっきを実施した。電
流条件と通電時間条件は第4表に示すとおりである。
の三角波電流を電解電流とする銀めっきを実施した。電
流条件と通電時間条件は第4表に示すとおりである。
第4表 効果確認試験条件
icp 蕉二人ユ 至二久土 Tn)
M) M) 画) 30 4.3 4.3 140
4.3 5.8 150
4.3 7.2 160 4.3
8.7 170 4.3
10.2 180 4.3 11
.7 1上記の条件で真人な数の実験を実施した
結果、I c p=50〜70A/dm’の電流密度に
おいて、上記の第1c図に示すパルス状方形波交番電流
の場合と同等の高いCAM光沢度が得られた。
M) M) 画) 30 4.3 4.3 140
4.3 5.8 150
4.3 7.2 160 4.3
8.7 170 4.3
10.2 180 4.3 11
.7 1上記の条件で真人な数の実験を実施した
結果、I c p=50〜70A/dm’の電流密度に
おいて、上記の第1c図に示すパルス状方形波交番電流
の場合と同等の高いCAM光沢度が得られた。
表面の結晶粒径は殆ど均一で、平滑性も掻めて良く、ダ
イ・ボンディングも第1c図に示すパルス状電流の場合
と同程度に良好に実施できる。さらに、本実施例で得た
めっき被膜について耐熱テスト(350°cx3mtn
)とワイヤボンディングプルテストとを実施した結果、
実用上何ら問題は認められなかった。
イ・ボンディングも第1c図に示すパルス状電流の場合
と同程度に良好に実施できる。さらに、本実施例で得た
めっき被膜について耐熱テスト(350°cx3mtn
)とワイヤボンディングプルテストとを実施した結果、
実用上何ら問題は認められなかった。
第2図に、本発明の実施例の第1例と、第2例(ケース
1〜ケース4)の光沢度を、電流密度を横軸にして示す
、光沢度の値が0.2を越えたとき、満足したものとな
る。
1〜ケース4)の光沢度を、電流密度を横軸にして示す
、光沢度の値が0.2を越えたとき、満足したものとな
る。
〔発明の効果]
以上説明せるとおり、本発明に係る銀めっき液には添加
剤として、セレン化合物に代えてイミダゾールが使用さ
れているので、半導体チップ内へのセレンの拡散による
半導体の特性変化は発生しないことが、実験的に確認で
きた。また、めっき表面の結晶粒径が殆ど均一であるこ
とは電子顕微鏡で[4認された。換言すれば、この表面
の平滑性が向上しており、めっき表面における接着剤の
濡れ性も向上して接着剤は十分に展延し、接着・導電面
積が確保でき、良好なグイ・ボンディングが容易に実施
可能となることが確認された。
剤として、セレン化合物に代えてイミダゾールが使用さ
れているので、半導体チップ内へのセレンの拡散による
半導体の特性変化は発生しないことが、実験的に確認で
きた。また、めっき表面の結晶粒径が殆ど均一であるこ
とは電子顕微鏡で[4認された。換言すれば、この表面
の平滑性が向上しており、めっき表面における接着剤の
濡れ性も向上して接着剤は十分に展延し、接着・導電面
積が確保でき、良好なグイ・ボンディングが容易に実施
可能となることが確認された。
また、上記せるとおり本発明に係る銀めつき法は、イミ
ダゾールを添加剤とする銀めつき液を使用し、しかも、
電解電流として周期的に極性反転する交番電流が使用さ
れているので、逆陽性電流による僅少な電解エツチング
が実現され、その結果、めっき表面の平滑性が更に向上
し、通常の一方向通電の直流電流を電解電流とする場合
と比較して、大幅にCAM光沢度が増大する。すなわち
、めっき表面の平滑性が格段に改善され、グイ・ボンデ
ィング性能が一段と向上し、半導体装置の歩留りと信較
性の向上に著しく貢献できる。
ダゾールを添加剤とする銀めつき液を使用し、しかも、
電解電流として周期的に極性反転する交番電流が使用さ
れているので、逆陽性電流による僅少な電解エツチング
が実現され、その結果、めっき表面の平滑性が更に向上
し、通常の一方向通電の直流電流を電解電流とする場合
と比較して、大幅にCAM光沢度が増大する。すなわち
、めっき表面の平滑性が格段に改善され、グイ・ボンデ
ィング性能が一段と向上し、半導体装置の歩留りと信較
性の向上に著しく貢献できる。
第1a図は、本発明の一実施例に係る銀めっき工程(正
極性電流通電)図である。 第1b図は、本発明の一実施例に係る銀めつき工程(逆
極性電流通電)図である。 第1c図は、本発明の一実施例に係るパルス状方形波電
流の波形図である。 第1d図は、本発明の一実施例に係るパルス状三角波電
流の波形図である。 第2図は、本発明の実施例によって得られた銀めっき被
膜表面の光沢度(CAM)を従来法と比較して示すグラ
フ図である。 1 ・ ・ 2 ・ ・ 3 ・ ・ 4 ・ ・ 5 ・ ・ cp ap cp ap T ・ ・ リードフレーム(被めっき体)、 めっき液ノズル、 めっき液の噴流、 めっき電流方向切り替え開閉器、 銀めっき膜、 ・・パルス状方形波電流の電流値、 ・・パルス状三角波電流の′r!i流値、・・パルス状
方形波正極性電流通電時間、・・パルス状方形波逆極性
電流通電時間、パルス状三角波正極性電流の増加時間、
パルス状三角゛波正極性電流の減少時間、パルス状三角
波逆極性電流の増加時間、パルス状三角波逆極性電流の
減少時間。
極性電流通電)図である。 第1b図は、本発明の一実施例に係る銀めつき工程(逆
極性電流通電)図である。 第1c図は、本発明の一実施例に係るパルス状方形波電
流の波形図である。 第1d図は、本発明の一実施例に係るパルス状三角波電
流の波形図である。 第2図は、本発明の実施例によって得られた銀めっき被
膜表面の光沢度(CAM)を従来法と比較して示すグラ
フ図である。 1 ・ ・ 2 ・ ・ 3 ・ ・ 4 ・ ・ 5 ・ ・ cp ap cp ap T ・ ・ リードフレーム(被めっき体)、 めっき液ノズル、 めっき液の噴流、 めっき電流方向切り替え開閉器、 銀めっき膜、 ・・パルス状方形波電流の電流値、 ・・パルス状三角波電流の′r!i流値、・・パルス状
方形波正極性電流通電時間、・・パルス状方形波逆極性
電流通電時間、パルス状三角波正極性電流の増加時間、
パルス状三角゛波正極性電流の減少時間、パルス状三角
波逆極性電流の増加時間、パルス状三角波逆極性電流の
減少時間。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 [1]シアン化銀ハロゲノイドまたは硝酸銀を主成分と
する水溶液に、僅少のイミダゾールが添加されてなる ことを特徴とする銀めっき液。 [2]めっき液(3)には請求項[1]記載の銀めっき
液を使用し、 電極には第1の電極(2)と被めっき体たる第2の電極
(1)とを使用し、 前記第1の電極(2)を陽極として電流を流し、次いで
、前記第2の電極(1)を陽極として僅少の電流を流す
工程を反復実施する ことを特徴とする銀めっき方法。 [3]前記第1の電極(2)を陽極として電流を流し、
次いで、前記第2の電極(1)を陽極として僅少の電流
をなす工程に使用する電流は方形波であることを特徴と
する請求項[2]記載の銀めっき方法。 [4]前記第1の電極(2)を陽極として電流を流し、
次いで、前記第2の電極(1)を陽極として僅少の電流
をなす工程に使用する電流は三角波であることを特徴と
する請求項[2]記載の銀めっき方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14375289A JP2811752B2 (ja) | 1989-06-06 | 1989-06-06 | 銀めっき液及び銀めっき方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14375289A JP2811752B2 (ja) | 1989-06-06 | 1989-06-06 | 銀めっき液及び銀めっき方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0310094A true JPH0310094A (ja) | 1991-01-17 |
| JP2811752B2 JP2811752B2 (ja) | 1998-10-15 |
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ID=15346197
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14375289A Expired - Fee Related JP2811752B2 (ja) | 1989-06-06 | 1989-06-06 | 銀めっき液及び銀めっき方法 |
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| Country | Link |
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| JP (1) | JP2811752B2 (ja) |
-
1989
- 1989-06-06 JP JP14375289A patent/JP2811752B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2811752B2 (ja) | 1998-10-15 |
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