JPH03111925A - スペックルパターンの移動検出方法及びこれを用いた位置指定装置 - Google Patents
スペックルパターンの移動検出方法及びこれを用いた位置指定装置Info
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- JPH03111925A JPH03111925A JP1248058A JP24805889A JPH03111925A JP H03111925 A JPH03111925 A JP H03111925A JP 1248058 A JP1248058 A JP 1248058A JP 24805889 A JP24805889 A JP 24805889A JP H03111925 A JPH03111925 A JP H03111925A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 37
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 29
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 14
- 241000699666 Mus <mouse, genus> Species 0.000 description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 5
- 241000699670 Mus sp. Species 0.000 description 3
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000005314 correlation function Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、コヒーレントな電磁波の物体粗面に対する
散乱によって生ずるスペックルパターンの移動情報を検
出するスペックルパターンの移動検出方法及びこれを用
いた位置指定装置(計算機端末、ワークステーションあ
るいはパーソナルコンピュータ等において表示画面上で
位置指定を行ったり、各種制御対象に対する位置指定を
行う際に有用な位置指定装置)の改良に関する。
散乱によって生ずるスペックルパターンの移動情報を検
出するスペックルパターンの移動検出方法及びこれを用
いた位置指定装置(計算機端末、ワークステーションあ
るいはパーソナルコンピュータ等において表示画面上で
位置指定を行ったり、各種制御対象に対する位置指定を
行う際に有用な位置指定装置)の改良に関する。
従来における位置指定装置として計算機入力用のものを
例に挙げると、安価、操作性に優れる、位置指定精度が
高いという観点から、所謂マウスと称されるものが広く
使用されている。
例に挙げると、安価、操作性に優れる、位置指定精度が
高いという観点から、所謂マウスと称されるものが広く
使用されている。
そして、今のところ主流になっている機械式マウスはあ
らゆる方向に回転可能なボールをハウジングの一部から
突出配置したもので、このボールの回転方向及び回転量
によって移動方向及び移動量を検出し、もって、指定す
べき位置を特定するものである。
らゆる方向に回転可能なボールをハウジングの一部から
突出配置したもので、このボールの回転方向及び回転量
によって移動方向及び移動量を検出し、もって、指定す
べき位置を特定するものである。
〔発明が解決しようとする課題1
しかしながら、このような従来の機械式マウスにあって
は、機械的なボールの接触回転を利用するため、耐久性
の点で難があり、また、位置精度の向上にも限度がある
。
は、機械的なボールの接触回転を利用するため、耐久性
の点で難があり、また、位置精度の向上にも限度がある
。
このような機械式マウスの欠点を解消するものとしては
、非接触で移動情報を光学的に検出する光学式マウスが
既に提供されている。
、非接触で移動情報を光学的に検出する光学式マウスが
既に提供されている。
この種の光学式マウスは、例えば特開昭5710792
9号、同57−207930号公報に示されるように、
光源とフォトディテクタとが格納された本体部を備え、
規則正しい格子パターンが刻印された専用下敷きの上で
上記本体部を移動させ、移動の際に横切る専用下敷き上
の格子の数をカウントすることにより移動の情報を検出
するようになっている。
9号、同57−207930号公報に示されるように、
光源とフォトディテクタとが格納された本体部を備え、
規則正しい格子パターンが刻印された専用下敷きの上で
上記本体部を移動させ、移動の際に横切る専用下敷き上
の格子の数をカウントすることにより移動の情報を検出
するようになっている。
ところが、この種の光学式マウスにあっては、専用下敷
きが必須であるため、使用上の自由度が制限されてしま
うばかりか、専用下敷きが汚れたり、損傷すると使用で
きなくなるため、耐久性の点でも充分ではな(、更に、
移動情報検出の分解能は専用下敷きに刻印された格子の
細かさで決まるため、コストをかけずに移動情報の分解
能を上げることは容易ではない。
きが必須であるため、使用上の自由度が制限されてしま
うばかりか、専用下敷きが汚れたり、損傷すると使用で
きなくなるため、耐久性の点でも充分ではな(、更に、
移動情報検出の分解能は専用下敷きに刻印された格子の
細かさで決まるため、コストをかけずに移動情報の分解
能を上げることは容易ではない。
このような課題を解決するために、本発明者は、所謂ス
ペックルパターンの移動情報を検出することにより、装
置自体の低廉化、操作性及び耐久性の向上を図りながら
、専用下敷きを用いることなく、移動情報検出の分解能
を容易に上げることができる位置指定装置を既に提供し
ている(特願昭63−116878号参照)。
ペックルパターンの移動情報を検出することにより、装
置自体の低廉化、操作性及び耐久性の向上を図りながら
、専用下敷きを用いることなく、移動情報検出の分解能
を容易に上げることができる位置指定装置を既に提供し
ている(特願昭63−116878号参照)。
ところが、このような位置指定装置においては、スペッ
クルパターンの移動情報の検出精度そのものが位置指定
精度に影響することになるが、光路の長さやビームウェ
ストの位置等の光学系の諸宗教が製造上ばらついたり、
使用時において変動すると、スペックルパターンの移動
情報の検出精度がばらついてしまい、その分、位置指定
動作が不安定になり易いという課題を包含している。
クルパターンの移動情報の検出精度そのものが位置指定
精度に影響することになるが、光路の長さやビームウェ
ストの位置等の光学系の諸宗教が製造上ばらついたり、
使用時において変動すると、スペックルパターンの移動
情報の検出精度がばらついてしまい、その分、位置指定
動作が不安定になり易いという課題を包含している。
尚、このような課題は、上述したマウスばかりでなく、
ロボット等の位置指定装置を始め、スペックルパターン
の移動情報の検出を利用した各種装置(移動検出装置、
速度検出装置等)においても同様に生じ得るものである
。
ロボット等の位置指定装置を始め、スペックルパターン
の移動情報の検出を利用した各種装置(移動検出装置、
速度検出装置等)においても同様に生じ得るものである
。
この発明は、以上の観点に立ってなされたものであって
、スペックルパターンの移動検出精度を向上できるスペ
ックルパターンの移動検出方法及びこれを用いて位置指
定動作の安定化を図るようにした位置指定装置を提供す
るものである。
、スペックルパターンの移動検出精度を向上できるスペ
ックルパターンの移動検出方法及びこれを用いて位置指
定動作の安定化を図るようにした位置指定装置を提供す
るものである。
0課題解決のための実験的解析
本発明者は、上記課題を解決する上で、スペックルパタ
ーンを形成するスペックルそのものの性質のうち特にス
ペックルの平均サイズに着目し、以下のような実験を行
った。
ーンを形成するスペックルそのものの性質のうち特にス
ペックルの平均サイズに着目し、以下のような実験を行
った。
(1)実験内容
所定サイズのスペックルを所定の条件にて移動させた際
に、このスペックルパターンの移動情報を適宜処理系に
て処理し、この処理データに基づいて例えばハーソナル
コンピュータの表示画面上のカーソルを移動させる実験
系(第2図)を構成し、このカーソル移動率K(移動ス
ペックルパターンを生成するための粗面移動量に対する
実際のカーソルの移動量の比)とスペックルの平均サイ
ズとの関係を調べた。
に、このスペックルパターンの移動情報を適宜処理系に
て処理し、この処理データに基づいて例えばハーソナル
コンピュータの表示画面上のカーソルを移動させる実験
系(第2図)を構成し、このカーソル移動率K(移動ス
ペックルパターンを生成するための粗面移動量に対する
実際のカーソルの移動量の比)とスペックルの平均サイ
ズとの関係を調べた。
(2)実験系
第2図において、符号10はHe−Neレーザ、11は
レーザ10からのビームBmを集光する集光レンズ、1
2は集光レンズ11にて集光されたレーザビームBmが
照射されると共に所定速度v、iで所定方向(この例で
はX方向とする)に所定量xdだけ移動する粗面状移動
板、13は粗面状移動板12にて散乱し、移動速度V3
でX、だけ移動するスペックルパターンSPを検出する
ためにX方向に沿って並設される一対のフォトダイオー
ド13a、13bからなるディテクタ、14(具体的に
は14a、14b)はディテクタ13の出力(t ds
:周波数9M:振動の数〔信号の山の数1)を増幅す
るアンプ、15(具体的には15a。
レーザ10からのビームBmを集光する集光レンズ、1
2は集光レンズ11にて集光されたレーザビームBmが
照射されると共に所定速度v、iで所定方向(この例で
はX方向とする)に所定量xdだけ移動する粗面状移動
板、13は粗面状移動板12にて散乱し、移動速度V3
でX、だけ移動するスペックルパターンSPを検出する
ためにX方向に沿って並設される一対のフォトダイオー
ド13a、13bからなるディテクタ、14(具体的に
は14a、14b)はディテクタ13の出力(t ds
:周波数9M:振動の数〔信号の山の数1)を増幅す
るアンプ、15(具体的には15a。
15b)は各アンプ14からの出力を適当な閾値で二値
化する二値化回路である。
化する二値化回路である。
また、16はパーソナルコンピュータであり、表示画面
17上のカーソル18をどのように移動させるかを演算
処理する演算処理部19を具備している。この演算処理
部19は、各二値化回路15からの出力を入力し、両者
の位相差τの正負からカーソル18の移動の向きを判別
し、二値化信号のパルス数を移動の向きに応じてカウン
トアツプあるいはカウントダウンするアップダウンカウ
ンタを備え、このカウンタ出力に応じた位置にNだけカ
ーソル17を移動させるようにしたものである。
17上のカーソル18をどのように移動させるかを演算
処理する演算処理部19を具備している。この演算処理
部19は、各二値化回路15からの出力を入力し、両者
の位相差τの正負からカーソル18の移動の向きを判別
し、二値化信号のパルス数を移動の向きに応じてカウン
トアツプあるいはカウントダウンするアップダウンカウ
ンタを備え、このカウンタ出力に応じた位置にNだけカ
ーソル17を移動させるようにしたものである。
(3)実験条件
第2図及び第3図において、
レーザビームの波長λ:632.8nmフォトダイオー
ド間隔:0.3mm フォトダイオード開ロ寸法:0.295mmビームウェ
ストBwの半径ω。:9.7μmスペックル剛性率η:
10 但し、スペックルトランスレーション距離をLT、スペ
ックル平均サイズをDとすると、η=L工/D
・・・(1)である。
ド間隔:0.3mm フォトダイオード開ロ寸法:0.295mmビームウェ
ストBwの半径ω。:9.7μmスペックル剛性率η:
10 但し、スペックルトランスレーション距離をLT、スペ
ックル平均サイズをDとすると、η=L工/D
・・・(1)である。
ここで、上記スペックルトランスレーション距離L1と
は、第4図に示すように、移動前と移動後の各々のスペ
ックルパターンSPにおける空間的相互相関関数γ(×
)(×は空間的ずらし量)のピークの高さ(スペックル
の移動量x C0<X、<X2 <X3 <X(<X5
]によって変化)が静止スペックルの相互相関関数のピ
ークの高さγ、。の1/e(e:自然対数の底)になる
ときのスペックルの移動量を意味しくN、Takai、
T、Iwai &T、Asakura、 Applie
d 0ptics Vo122 No、1(1983)
第170〜177頁’Correlation dis
tance of dynamicspeckles’
参照)、スペックルが変形なしに移動するとき LT=
■であり、スペックルが変形のみして移動しないときに
はLT−〇である。よって、スペックルトランスレーシ
ョン距離L1をスペックル平均サイズDで規格化して得
られるスペックル剛性率ηはスペックルの変形し難さを
示す指標になるものである。
は、第4図に示すように、移動前と移動後の各々のスペ
ックルパターンSPにおける空間的相互相関関数γ(×
)(×は空間的ずらし量)のピークの高さ(スペックル
の移動量x C0<X、<X2 <X3 <X(<X5
]によって変化)が静止スペックルの相互相関関数のピ
ークの高さγ、。の1/e(e:自然対数の底)になる
ときのスペックルの移動量を意味しくN、Takai、
T、Iwai &T、Asakura、 Applie
d 0ptics Vo122 No、1(1983)
第170〜177頁’Correlation dis
tance of dynamicspeckles’
参照)、スペックルが変形なしに移動するとき LT=
■であり、スペックルが変形のみして移動しないときに
はLT−〇である。よって、スペックルトランスレーシ
ョン距離L1をスペックル平均サイズDで規格化して得
られるスペックル剛性率ηはスペックルの変形し難さを
示す指標になるものである。
そして、上記文献によれば、所謂ガウスビームが波長よ
り充分に深い凹凸に散乱されたときに生ずるガウス的ス
ペックルの場合に回折界(結像系を介さない自由空間に
おける散乱)のスペックルのスペックルトランスレーシ
ョン距離LTは、Lア=(1+R/ρ)ω ・・・(
2)但し、Rは粗面状移動板12からスペックルパター
ンSPの検出面位置までの距離、ρは粗面状移動板12
におけるレーザビームBmの波面の曲率半径、ωは粗面
状移動板12におけるレーザビームBmのスポット半径
である。
り充分に深い凹凸に散乱されたときに生ずるガウス的ス
ペックルの場合に回折界(結像系を介さない自由空間に
おける散乱)のスペックルのスペックルトランスレーシ
ョン距離LTは、Lア=(1+R/ρ)ω ・・・(
2)但し、Rは粗面状移動板12からスペックルパター
ンSPの検出面位置までの距離、ρは粗面状移動板12
におけるレーザビームBmの波面の曲率半径、ωは粗面
状移動板12におけるレーザビームBmのスポット半径
である。
また、スペックル平均サイズDは平均のスペックル半径
に対応しており、 D=λR/πω ・・・(3) にて表される。
に対応しており、 D=λR/πω ・・・(3) にて表される。
よって、(2)(3)式を(1)式へ代入すると、
η=(1+R/ρ)ω/(λR/πω)=(πω2/λ
)(1/R+1/ρ)・・・(4)ここで、 +1/R
1< 11/ρ すなわち、 IRI > Iρ1 ・・・
(5)と仮定すれば、上記(4)式は、 η輸πω2/(λρ) ・・・(4′)にな
る。
)(1/R+1/ρ)・・・(4)ここで、 +1/R
1< 11/ρ すなわち、 IRI > Iρ1 ・・・
(5)と仮定すれば、上記(4)式は、 η輸πω2/(λρ) ・・・(4′)にな
る。
また、集光レンズ11で絞り込まれたビームウェストB
wから粗面状移動板12までの距離をZ。
wから粗面状移動板12までの距離をZ。
a=πω。′/λとすれば、
ω=ωo v’ (1+ (z/a) 2) ・・・(
6)o=z [1+ (a/z) ” ] 川(7
)であり、 (6)(7)式を上記(4′)式に代入すると、xωo
!z fl +(z/ a) ” ]η = λ a2 [1+ (z/a) 2]= z /
a −λz/(πω。)2ocz ・・・ (
8)ここで、上記2が充分大きいと仮定すると、(a/
z)” <1であり、上記(7)式を考慮すれば、上記
(5)式が成立するのは、通常1、ol ζlzl
、 IRI > lzl −(9)となるときで
ある。
6)o=z [1+ (a/z) ” ] 川(7
)であり、 (6)(7)式を上記(4′)式に代入すると、xωo
!z fl +(z/ a) ” ]η = λ a2 [1+ (z/a) 2]= z /
a −λz/(πω。)2ocz ・・・ (
8)ここで、上記2が充分大きいと仮定すると、(a/
z)” <1であり、上記(7)式を考慮すれば、上記
(5)式が成立するのは、通常1、ol ζlzl
、 IRI > lzl −(9)となるときで
ある。
以上まとめると、粗面がビームウェストB wから遠く
、かつ、ビームウェストBw〜粗面間距離2に比べて、
粗面〜検出面間距離Rが充分長いときには、スペックル
剛性率ηは上記Zに比例すると言える。
、かつ、ビームウェストBw〜粗面間距離2に比べて、
粗面〜検出面間距離Rが充分長いときには、スペックル
剛性率ηは上記Zに比例すると言える。
また、この実験において、上記スペックル平均サイズD
は上記(3)式にて表示される。
は上記(3)式にて表示される。
ここで、上記Zが充分大きいと仮定すると、1((λ2
/πω。′)2 ・・・(10)となる。
/πω。′)2 ・・・(10)となる。
ゆえに、(6)(10)式より、
ω−の。 (λ2/πω。′)
=λ2/πω。 ・・・(11)が成立する
。
。
よって、この(11)式を上記(3)式に代入すると、
D!=t(λR/π) (πω。/λ2)= Rω。
/2 ・・・(12)で近似される。
以上まとめると、粗面がビームウェストBwから遠いと
き、スペックル平均サイズDは、波長λと無関係に、粗
面〜検出面間距離Rに比例し、ビームウェス)Bw〜粗
面間距離2に反比例すると言える。
き、スペックル平均サイズDは、波長λと無関係に、粗
面〜検出面間距離Rに比例し、ビームウェス)Bw〜粗
面間距離2に反比例すると言える。
尚、この実験においては、上記(3)(4)式に基づい
てR,zを適宜調整することにより、スペックル剛性率
ηを一義的に設定し、スペックル平均サイズDの数値を
可変設定した。
てR,zを適宜調整することにより、スペックル剛性率
ηを一義的に設定し、スペックル平均サイズDの数値を
可変設定した。
(4)実験結果
スペックル平均サイズDとカーソル移動率にとの関係を
第5図に示す。
第5図に示す。
同図によれば、スペックル平均サイズDが0〜600μ
m程度まではカーソル移動率には比例的に増加する傾向
にあるが、スペックル平均サイズDが600μmを越え
た辺りからカーソル移動率には略一定に保たれることが
理解される。
m程度まではカーソル移動率には比例的に増加する傾向
にあるが、スペックル平均サイズDが600μmを越え
た辺りからカーソル移動率には略一定に保たれることが
理解される。
このことは、スペックル平均サイズDが600μmを越
えた領域Eに予め設定されていれば、何らかの原因でス
ペックル平均サイズDが若干変動したとしても、それに
よって、カーソル移動率Kが変動することがないことを
意味する。
えた領域Eに予め設定されていれば、何らかの原因でス
ペックル平均サイズDが若干変動したとしても、それに
よって、カーソル移動率Kが変動することがないことを
意味する。
0課題解決のための理論的解析
(1)基本モデル系
第6図は第2図の実験系をモデル化したものである。
尚、以後の解析に当たっては、スペックルパターンSP
の移動の向きを考えず、移動量のみを問題にするときは
ディテクタとじて一つのフォトダイオードのみを使用す
る場合と本質的な違いがないので、ディテクタとして一
つのフォトダイオードのみを使用する場合を考え、また
、スペックルの変形は無視できるものとみなす。
の移動の向きを考えず、移動量のみを問題にするときは
ディテクタとじて一つのフォトダイオードのみを使用す
る場合と本質的な違いがないので、ディテクタとして一
つのフォトダイオードのみを使用する場合を考え、また
、スペックルの変形は無視できるものとみなす。
こうすることにより、モデル系を理論解析する上で、変
形しない画像の移動情報を空間フィルタによって検出す
るものと等価にすることが可能になる。そして、空間フ
ィルタによる速度測定の手法を適用するために、解析に
おいては、カーソル移動量、スペックル移動量、粗面移
動量の代わりに各々カーソル速度、スペックル速度、粗
面速度で考え、また、移動量が必要な場合には、速度を
時間積分するようにする。
形しない画像の移動情報を空間フィルタによって検出す
るものと等価にすることが可能になる。そして、空間フ
ィルタによる速度測定の手法を適用するために、解析に
おいては、カーソル移動量、スペックル移動量、粗面移
動量の代わりに各々カーソル速度、スペックル速度、粗
面速度で考え、また、移動量が必要な場合には、速度を
時間積分するようにする。
同図において、カーソル速度pは、
p=に−v、 ・・・(13)但し、K=に
、 ・K2 ・K、 ・・・(14)となる。
、 ・K2 ・K、 ・・・(14)となる。
ここで、
K:カーソル移動率
に1 :スペックル速度/粗面速度の比(スペックル移
動率と称する) K2 :ディテクタ信号の平均周波数/スペックル速度
の比 に3 :カーソル速度/ディテクタ信号の平均周波数の
比 を表す。
動率と称する) K2 :ディテクタ信号の平均周波数/スペックル速度
の比 に3 :カーソル速度/ディテクタ信号の平均周波数の
比 を表す。
また、上記(13)式を積分すれば、以下のカーソル移
動量Nの式が求まる。
動量Nの式が求まる。
1’J = K−x a ・・・(
15)但し、X、は粗面移動量である。
15)但し、X、は粗面移動量である。
(2)カーソル移動率の各係数
(2−a) Kl 、 Kjについて
スペックル移動率K 、は動的スペックルの特性により
、ガウス的スペックルの場合には通常次式%式% (16) 上記(9)式1ρl = lzl、 IRI>l
zを考慮すると、上記(16)式は、 K、=1+R/z = R/ z ・・・(17)に近似
される。
、ガウス的スペックルの場合には通常次式%式% (16) 上記(9)式1ρl = lzl、 IRI>l
zを考慮すると、上記(16)式は、 K、=1+R/z = R/ z ・・・(17)に近似
される。
すなわち、上記近似の下では、スペックル移動率に、は
、波長に影響されることなく、粗面〜検出面距離Rに比
例し、ビームウェストBw〜粗面距離2に反比例するこ
とになる。
、波長に影響されることなく、粗面〜検出面距離Rに比
例し、ビームウェストBw〜粗面距離2に反比例するこ
とになる。
また、K3はコンピュータのインタフェース等で決まる
定数である。
定数である。
(2−b) K2について
に2はディテクタの空間フィルタとしての特性を表すも
のである。
のである。
今、スペックルの変形を考慮しないとすれば、速度V、
で動(スペックルの中に置いたディテクタの出力は、空
間フィルタによる速度検出の理論により、 W(fd、) =Φ(L、/ v −) ・Ω(fd
−/ v 、 )・・・(18) で表される。
で動(スペックルの中に置いたディテクタの出力は、空
間フィルタによる速度検出の理論により、 W(fd、) =Φ(L、/ v −) ・Ω(fd
−/ v 、 )・・・(18) で表される。
ここで、tF(fd=)はディテクタの出力信号の時間
周波数パワースペクトル、Φ(ξ)はスペックルの空間
周波数パワースペクトル、Ω(ξ)はディテクタの空間
周波数パワースペクトルであり、f dsは時間周波数
、ξは空間周波数を夫々示す。
周波数パワースペクトル、Φ(ξ)はスペックルの空間
周波数パワースペクトル、Ω(ξ)はディテクタの空間
周波数パワースペクトルであり、f dsは時間周波数
、ξは空間周波数を夫々示す。
そして、(18)式によれば、スペックルの時間周波数
パワースペクトルとディテクタの時間周波数パワースペ
クトルの重なりがディテクタの出力信号として得られる
ことになる。
パワースペクトルとディテクタの時間周波数パワースペ
クトルの重なりがディテクタの出力信号として得られる
ことになる。
従って、第7図に示すように、上記スペックルSの大き
さがディテクタ13の開口dに比べて充分大きい場合、
言い換えれば、第8図に示すように、スペックルの空間
周波数パワースペクトルΦ(ξ)の広がりがディテクタ
の空間周波数パワースペクトルΩ (ξ)の広がりに比
べて充分小さい場合には、ディテクタ13の出力信号は
スペックルの速度V、とスペックルの空間周波数パワー
スペクトルΦ(ξ)とによって決まり、ディテクタの空
間周波数パワースペクトルにはよらない。
さがディテクタ13の開口dに比べて充分大きい場合、
言い換えれば、第8図に示すように、スペックルの空間
周波数パワースペクトルΦ(ξ)の広がりがディテクタ
の空間周波数パワースペクトルΩ (ξ)の広がりに比
べて充分小さい場合には、ディテクタ13の出力信号は
スペックルの速度V、とスペックルの空間周波数パワー
スペクトルΦ(ξ)とによって決まり、ディテクタの空
間周波数パワースペクトルにはよらない。
ると、Φ(ξ)が次のように求まる。
Φ(ξ) =a+exp(−82D21ξ12)・・・
(19) 但し、上記(19)式においては、最大値(相関ピーク
値)が1になるように規格化されており、al+82は
定数である。
(19) 但し、上記(19)式においては、最大値(相関ピーク
値)が1になるように規格化されており、al+82は
定数である。
よって、スペックルの空間周波数パワースペクトルの広
がりは1/Dに比例し、結局、ディテクタの出力信号の
時間周波数パワースペクトルの広がりはv、/Dに比例
することになる。
がりは1/Dに比例し、結局、ディテクタの出力信号の
時間周波数パワースペクトルの広がりはv、/Dに比例
することになる。
従って、K2は、
K2 = f as/ V −” l / D
・・・(20)となる。但し、f dsはfa+の時間
平均である。
・・・(20)となる。但し、f dsはfa+の時間
平均である。
そして、この(20)式に上述した(12)式を代入す
ると、 K2(X:Z/Rωo −(21)が
成立する。
ると、 K2(X:Z/Rωo −(21)が
成立する。
(3)結論
上記(2)で詳述したカーソル移動率にの各係数に基づ
いてカーソル移動率Kを算出すると、以下のようになる
。
いてカーソル移動率Kを算出すると、以下のようになる
。
すなわち、(14)、(17)、 (21)式より、
K=に、−に2 ・K3
” (R/z) (Z/Rω。) ・K。
−K3/ω。 ・・・(22)になる。
ここで、K3.ω0はいずれも定数であることから、カ
ーソル移動率には一定になると言える。
ーソル移動率には一定になると言える。
以上まとめると、スペックルの平均サイズDがディテク
タ13の開口寸法dより充分に大きい場合には、カーソ
ル移動率には一定に保たれることが理論的に裏付けられ
た。
タ13の開口寸法dより充分に大きい場合には、カーソ
ル移動率には一定に保たれることが理論的に裏付けられ
た。
◎発明の概要
本発明者は、以上の実験的解析及び理論的解析を経て本
発明を案出するに至ったのである。
発明を案出するに至ったのである。
すなわち、この発明に係るスペクルパターンの移動検出
方法は、第1図(a)に示すように、コヒーレントな電
磁波Bmの物体粗面1に対する散乱によって生ずるスペ
ックルパターンSPの移動情報Mを光検出器2にて検出
するに際し、上記光検出器2の受光面上のスペックルパ
ターンSPにおけるスペックルの平均サイズDと、光検
出器2の物体粗面1に対する相対移動情報と光検出器2
の出力移動情報との比を示す検出移動率Jとの関係にお
いて、上記検出移動率Jが略一定に保たれる範囲Eで上
記スペックルの平均サイズDを設定したことを特徴とす
るものである。
方法は、第1図(a)に示すように、コヒーレントな電
磁波Bmの物体粗面1に対する散乱によって生ずるスペ
ックルパターンSPの移動情報Mを光検出器2にて検出
するに際し、上記光検出器2の受光面上のスペックルパ
ターンSPにおけるスペックルの平均サイズDと、光検
出器2の物体粗面1に対する相対移動情報と光検出器2
の出力移動情報との比を示す検出移動率Jとの関係にお
いて、上記検出移動率Jが略一定に保たれる範囲Eで上
記スペックルの平均サイズDを設定したことを特徴とす
るものである。
このような方法発明において、上記スペックルパターン
SPの移動情報Mとしては、移動量のみに限られるもの
ではなく、移動速度、移動加速度等広く包含される。こ
のため、この方法発明を適用できる対象としては、後述
する位置指定装置のほかに、自走台車等の位置制御を行
う上で必要になる移動量検出装置、速度センサ等の速度
検出装置等が挙げられる。
SPの移動情報Mとしては、移動量のみに限られるもの
ではなく、移動速度、移動加速度等広く包含される。こ
のため、この方法発明を適用できる対象としては、後述
する位置指定装置のほかに、自走台車等の位置制御を行
う上で必要になる移動量検出装置、速度センサ等の速度
検出装置等が挙げられる。
また、スペックルパターンSPとしては、第1図(a)
に示すように、物体粗面1の散乱によって生ずる結像系
なしの所謂回折界のスペックルによるもののみが対象と
なり、物体粗面lの散乱光を結像レンズにて所定部位に
結像させる所謂像界のスペックルによるものは、スペッ
クル速度/粗面速度(上記に1に相当)が上述したもの
と異なったものになるため対象にならない。
に示すように、物体粗面1の散乱によって生ずる結像系
なしの所謂回折界のスペックルによるもののみが対象と
なり、物体粗面lの散乱光を結像レンズにて所定部位に
結像させる所謂像界のスペックルによるものは、スペッ
クル速度/粗面速度(上記に1に相当)が上述したもの
と異なったものになるため対象にならない。
更に、上記光検出器2としては、上記スペックルパター
ンSPの移動情報を検出し得るものであれば適宜選択し
て差し支えなく、また、光検出器2からの信号処理系に
ついても対象となる装置に応じて適宜設計変更して差し
支えない。
ンSPの移動情報を検出し得るものであれば適宜選択し
て差し支えなく、また、光検出器2からの信号処理系に
ついても対象となる装置に応じて適宜設計変更して差し
支えない。
ここで、上記光検出器2については、リアルタイム処理
が容易で、しかも、スペックルパターンSPの移動方向
の正負を含めた移動情報Mを正確に判別するという観点
からすれば、第1図(b)に示すように、移動情報Mを
検出する上で必要な方向成分一次元当たり少なくとも一
組の光検出素子2 a、 2 bを並設し、第1図(c
)に示すように、一組の光検出素子2 a、 2 bか
らの出力信号の位相差τを検出するように構成すること
が好ましい。
が容易で、しかも、スペックルパターンSPの移動方向
の正負を含めた移動情報Mを正確に判別するという観点
からすれば、第1図(b)に示すように、移動情報Mを
検出する上で必要な方向成分一次元当たり少なくとも一
組の光検出素子2 a、 2 bを並設し、第1図(c
)に示すように、一組の光検出素子2 a、 2 bか
らの出力信号の位相差τを検出するように構成すること
が好ましい。
この場合において、−次元的な移動情報を検出する際に
は、一つの方向成分に対して一組の光検出素子2 a、
2 bを並設すればよいが、例えば組をなす光検出素
子2 a、 2 b相互を結ぶ直線が互いに直交するよ
うに二組若しくは三組の光検出素子2 a、 2 bを
用いるようにすれば、二次元的若しくは三次元的な移動
情報を検出することが可能になる。
は、一つの方向成分に対して一組の光検出素子2 a、
2 bを並設すればよいが、例えば組をなす光検出素
子2 a、 2 b相互を結ぶ直線が互いに直交するよ
うに二組若しくは三組の光検出素子2 a、 2 bを
用いるようにすれば、二次元的若しくは三次元的な移動
情報を検出することが可能になる。
そして更に、上記一組の光検出素子2 a、 2 bか
らなる光検出器2からの出力信号を処理する処理系とし
ては適宜選定して差し支えないが、求められた位相差τ
にスペックルパターンSPの不規則さに起因する誤差の
影響をより少なくするという観点からすれば、一次元当
たり複数組の光検出素子2 a、 2 bを用いて各組
の光検出素子2 a、 2 bから得られる各位相差τ
の平均をとったり、一組の光検出素子2 a、 2 b
から得られる位相差τの時間平均をとったり、両者を併
用するような構成を採用することが好ましい。
らなる光検出器2からの出力信号を処理する処理系とし
ては適宜選定して差し支えないが、求められた位相差τ
にスペックルパターンSPの不規則さに起因する誤差の
影響をより少なくするという観点からすれば、一次元当
たり複数組の光検出素子2 a、 2 bを用いて各組
の光検出素子2 a、 2 bから得られる各位相差τ
の平均をとったり、一組の光検出素子2 a、 2 b
から得られる位相差τの時間平均をとったり、両者を併
用するような構成を採用することが好ましい。
また、上記スペックルパターンの移動検出方法を用いた
位置指定装置発明は、第1図(d)に示すように、物体
粗面1に対して移動可能な可動体3と、この可動体3に
組み込まれて可動体3の所定部位から物体粗面1にコヒ
ーレントな電磁波Bmを照射する電磁波源4と、上記可
動体3に組み込まれると共に電磁波Bmの照射に伴って
物体粗面1から生ずるスペックルパターンSPの可動体
3に対する相対移動情報を検出する光検出器2と、この
光検出器2の受光面上のスペックルパターンSPにおけ
るスペックルの平均サイズDと、光検出器2の物体粗面
1に対する相対移動情報と光検出器2の出力移動情報と
の比を示す検出移動率Jとの関係において、上記検出移
動率Jが略一定に保たれる範囲Eで上記スペックルの平
均サイズDを設定するスペックルサイズ設定手段5とを
備え、上記光検出器2で検出された相対移動情報に基づ
いて指定すべき位置を特定するようにしたことを特徴と
するものである。
位置指定装置発明は、第1図(d)に示すように、物体
粗面1に対して移動可能な可動体3と、この可動体3に
組み込まれて可動体3の所定部位から物体粗面1にコヒ
ーレントな電磁波Bmを照射する電磁波源4と、上記可
動体3に組み込まれると共に電磁波Bmの照射に伴って
物体粗面1から生ずるスペックルパターンSPの可動体
3に対する相対移動情報を検出する光検出器2と、この
光検出器2の受光面上のスペックルパターンSPにおけ
るスペックルの平均サイズDと、光検出器2の物体粗面
1に対する相対移動情報と光検出器2の出力移動情報と
の比を示す検出移動率Jとの関係において、上記検出移
動率Jが略一定に保たれる範囲Eで上記スペックルの平
均サイズDを設定するスペックルサイズ設定手段5とを
備え、上記光検出器2で検出された相対移動情報に基づ
いて指定すべき位置を特定するようにしたことを特徴と
するものである。
このような装置発明において、上記光検出器2としては
、上述した方法発明にて述べたものと同様に適宜選択し
て差し支えなく、また、この光検出器2にて検出された
出力信号の信号処理系の配設個所については、外部機器
、可動体3あるいは外部機器への接続機器等適宜選択し
て差し支えないが、各種外部機器に対する共用化を図る
という観点からすれば、可動体3内に信号処理系を配設
することが好ましい。
、上述した方法発明にて述べたものと同様に適宜選択し
て差し支えなく、また、この光検出器2にて検出された
出力信号の信号処理系の配設個所については、外部機器
、可動体3あるいは外部機器への接続機器等適宜選択し
て差し支えないが、各種外部機器に対する共用化を図る
という観点からすれば、可動体3内に信号処理系を配設
することが好ましい。
また、上記スペックルサイズ設定手段5としては、スペ
ックルの平均サイズDを任意に設定し得るものであれば
、上記電磁波源4から物体粗面1へ向かう電磁波Bmを
絞り込むレンズを適宜選択したり、物体粗面1と光検出
器2との距離を適宜選定することを挙げることができる
。
ックルの平均サイズDを任意に設定し得るものであれば
、上記電磁波源4から物体粗面1へ向かう電磁波Bmを
絞り込むレンズを適宜選択したり、物体粗面1と光検出
器2との距離を適宜選定することを挙げることができる
。
上述したような技術的手段において、第1図(a)に示
す方法発明によれば、光検出器2の受光面上のスペック
ルの平均サイズが所定領域E内に包含されるので、光検
出器2による検出移動率Jはスペックルの平均サイズの
若干の変動に対しても略一定に保たれる。
す方法発明によれば、光検出器2の受光面上のスペック
ルの平均サイズが所定領域E内に包含されるので、光検
出器2による検出移動率Jはスペックルの平均サイズの
若干の変動に対しても略一定に保たれる。
特に、第1図(b)に示すような一組の光検出素子2a
、2b(両者の中心間の間隔をgとする)からなる光検
出器2を用いれば、今、スペックルパターンSP(変形
は極めて小さいものとする)が一定速度Vで矢印方向に
移動しているとすると、その移動方向前段に位置する一
方の光検出素子2aで検出される信号強度はある時間τ
だけ以前にイスペラクルパターンの移動方向後段に位置
する光検出素子2bと略同じになる。
、2b(両者の中心間の間隔をgとする)からなる光検
出器2を用いれば、今、スペックルパターンSP(変形
は極めて小さいものとする)が一定速度Vで矢印方向に
移動しているとすると、その移動方向前段に位置する一
方の光検出素子2aで検出される信号強度はある時間τ
だけ以前にイスペラクルパターンの移動方向後段に位置
する光検出素子2bと略同じになる。
この場合、第1図(c)に示すように、上記一組の光検
出素子2 a、 2 bの出力信号の時間変動曲線は、
互いに相似で位相差τだけずれたものになり、位相差τ
はτ=g/vで決まる。
出素子2 a、 2 bの出力信号の時間変動曲線は、
互いに相似で位相差τだけずれたものになり、位相差τ
はτ=g/vで決まる。
従って、上記位相差τの情報からスペックルパターンS
Pの各移動情報、例えばτの符号からスペックパターン
SPの移動方向の正負を判別でき、また、その絶対値か
ら移動速度Vの大きさを判別することができ、更に、上
記出力信号の立ち上がり、立ち下がりを計数することに
より、上記スペックルパターンSPの移動量を求めるこ
とができる。
Pの各移動情報、例えばτの符号からスペックパターン
SPの移動方向の正負を判別でき、また、その絶対値か
ら移動速度Vの大きさを判別することができ、更に、上
記出力信号の立ち上がり、立ち下がりを計数することに
より、上記スペックルパターンSPの移動量を求めるこ
とができる。
また、第1図(d)に示す位置指定装置発明によれば、
レーザ等の電磁波源4から物体粗面1に電磁波Bmが照
射され、可動体3が物体粗面1に対して速度V、でU、
たけ移動したとすると、物体粗面1が可動体3に対して
速度V、でU、だけ相対的に移動することになる。
レーザ等の電磁波源4から物体粗面1に電磁波Bmが照
射され、可動体3が物体粗面1に対して速度V、でU、
たけ移動したとすると、物体粗面1が可動体3に対して
速度V、でU、だけ相対的に移動することになる。
このとき、上記物体粗面1にて散乱されたスペックルパ
ターンSPは上記物体粗面1の相対移動に伴って光検出
器2の受光面上で速度V、でU。
ターンSPは上記物体粗面1の相対移動に伴って光検出
器2の受光面上で速度V、でU。
だけ比例的に移動する。
よって、上記光検出器2は、上記スペックルパターンS
Pの移動情報を所定の検出移動率Jにて検出することに
より、間接的に物体粗面1の相対移動量を検出すること
になるのであり、この検出情報に基づいて指定対象物の
位置が特定されるのである。
Pの移動情報を所定の検出移動率Jにて検出することに
より、間接的に物体粗面1の相対移動量を検出すること
になるのであり、この検出情報に基づいて指定対象物の
位置が特定されるのである。
このとき、上記スペックルサイズ設定手段5が光検出器
2の受光面上のスペックルの平均サイズを所定領域E内
に設定するので、光検出器2による記検出移動率Jはス
ペックルの平均サイズの若干の変動に対しても略一定に
保たれる。
2の受光面上のスペックルの平均サイズを所定領域E内
に設定するので、光検出器2による記検出移動率Jはス
ペックルの平均サイズの若干の変動に対しても略一定に
保たれる。
以下、添付図面に示す実施例に基づいてこの発明の詳細
な説明する。
な説明する。
第9図及び第10図は計算機入力用のマウスにこの発明
を適用したものである。
を適用したものである。
同図において、符号30は物体粗面、31は底部に摺動
用の押当てパッド32を有する可動ハウジング、33は
可動ハウジング31内に格納されてレーザビームBmを
照射する電磁波源としての半導体レーザ、34は半導体
レーザ33からのビームBmを物体粗面30の照射部位
Qに所定のスポット半径ωで導くプラスチックレンズ、
フレネルレンズ等からなる集光レンズ、35は検出光学
系の光路長を確保するために物体粗面30からの反射ビ
ームを適宜反射させる反射ミラー 36は検出光学系の
光路終端位置に配設され、物体粗面30からの反射ビー
ム中に生ずるスペックルパターンSPの移動情報を検出
するディテクタ、37はこのディテクタ36からの出力
信号に基づいて計算機入力用の移動制御信号に変換する
信号処理系、38は位置指定操作を行う際の入力スイッ
チ、39は外部機器(図示せず)への接続ハーネスであ
る。
用の押当てパッド32を有する可動ハウジング、33は
可動ハウジング31内に格納されてレーザビームBmを
照射する電磁波源としての半導体レーザ、34は半導体
レーザ33からのビームBmを物体粗面30の照射部位
Qに所定のスポット半径ωで導くプラスチックレンズ、
フレネルレンズ等からなる集光レンズ、35は検出光学
系の光路長を確保するために物体粗面30からの反射ビ
ームを適宜反射させる反射ミラー 36は検出光学系の
光路終端位置に配設され、物体粗面30からの反射ビー
ム中に生ずるスペックルパターンSPの移動情報を検出
するディテクタ、37はこのディテクタ36からの出力
信号に基づいて計算機入力用の移動制御信号に変換する
信号処理系、38は位置指定操作を行う際の入力スイッ
チ、39は外部機器(図示せず)への接続ハーネスであ
る。
この実施例において、上記ディテクタ36は、特に第1
1図に示すように、移動基準方向であるX方向、X方向
に沿って所定間隔離間してフォトダイオードからなる受
光セル36aないし36dを並設したものである。
1図に示すように、移動基準方向であるX方向、X方向
に沿って所定間隔離間してフォトダイオードからなる受
光セル36aないし36dを並設したものである。
この場合において、上記集光レンズ34は、適当なビー
ムウェストBwの半径ω0を得るためのものであり、ビ
ームウェスト半径ω。、ビームウェスt−Bw〜物体粗
面30間距離Z及び物体粗面30〜ディテクタ36間距
離Rは、ディテクタ36の各受光セル36aないし36
d上のスペックルの平均サイズが各受光セル36aない
し36dの開口面積の5倍となるように設定されている
。
ムウェストBwの半径ω0を得るためのものであり、ビ
ームウェスト半径ω。、ビームウェスt−Bw〜物体粗
面30間距離Z及び物体粗面30〜ディテクタ36間距
離Rは、ディテクタ36の各受光セル36aないし36
d上のスペックルの平均サイズが各受光セル36aない
し36dの開口面積の5倍となるように設定されている
。
また、上記信号処理系37は、特に第12図に示すよう
に、X方向に並設された受光セル36a。
に、X方向に並設された受光セル36a。
36bからの信号を処理するX成分信号処理系37xと
、X方向に並設された受光セル36a、36Cからの信
号を処理するy成分信号処理系37Yとで構成されてい
る。
、X方向に並設された受光セル36a、36Cからの信
号を処理するy成分信号処理系37Yとで構成されてい
る。
この実施例において、信号処理系37は、対応する一組
の受光セル36a、36b若しくは36a。
の受光セル36a、36b若しくは36a。
36cの出力を増幅するアンプ41と、このアンプ41
の出力の直流成分及びノイズや高周波数成分を除去する
カットフィルタ42と、このカットフィルタ42の出力
を閾値0で二値化する二値化回路43とからなる。
の出力の直流成分及びノイズや高周波数成分を除去する
カットフィルタ42と、このカットフィルタ42の出力
を閾値0で二値化する二値化回路43とからなる。
更に、この実施例においては、信号処理系37からの信
号が計算機50内の演算処理部51に入力され、この演
算処理部51は、二値化回路43からの出力のX成分、
X方向の位相差τ8.τ。
号が計算機50内の演算処理部51に入力され、この演
算処理部51は、二値化回路43からの出力のX成分、
X方向の位相差τ8.τ。
の符号から移動の向きを判別し、二値化信号のパルス数
を移動の向きに応じてアップカウントまたはダウンカウ
ントし、このカウント値に基づいて上記スペックルパタ
ーンSPの物体粗面3oに対する相対移動情報を判別し
、この移動情報に対応して表示画面52のカーソル53
の位置を特定している。
を移動の向きに応じてアップカウントまたはダウンカウ
ントし、このカウント値に基づいて上記スペックルパタ
ーンSPの物体粗面3oに対する相対移動情報を判別し
、この移動情報に対応して表示画面52のカーソル53
の位置を特定している。
次に、この実施例に係る位置指定装置の作動について説
明する。
明する。
今、半導体レーザ33から照射されたレーザビームBm
が物体粗面30で反射した後上記ディテクタ36上に到
達し、このディテクタ36上にはスペックルパターンS
Pが生じている。
が物体粗面30で反射した後上記ディテクタ36上に到
達し、このディテクタ36上にはスペックルパターンS
Pが生じている。
この状態において、上記可動ハウジング31を物体粗面
30上で移動させると、これに対応してディテクタ36
の各受光セル36aないし36d上のスペックルパター
ンSPが移動する。このスペックルパターンSPの移動
のX方向成分はX方向に沿って並設されている一組の3
6a、36bにより、また、スペックルパターンSPの
移動のX方向成分はX方向に沿って並設される一組の受
光セル36a、36cによって検出されるのである。
30上で移動させると、これに対応してディテクタ36
の各受光セル36aないし36d上のスペックルパター
ンSPが移動する。このスペックルパターンSPの移動
のX方向成分はX方向に沿って並設されている一組の3
6a、36bにより、また、スペックルパターンSPの
移動のX方向成分はX方向に沿って並設される一組の受
光セル36a、36cによって検出されるのである。
ここで、スペックルパターンSPの各移動成分の検出動
作は実質的に同等であるため、以後X方向成分の移動検
出動作について説明する。
作は実質的に同等であるため、以後X方向成分の移動検
出動作について説明する。
すなわち、第12図において、上記スペックルパターン
SPが受光セル36aから同36bの方へ移動すると、
受光セル36aの出力信号はスペックルパターンSPの
移動に応じて変動する。
SPが受光セル36aから同36bの方へ移動すると、
受光セル36aの出力信号はスペックルパターンSPの
移動に応じて変動する。
このとき、スペックルパターンSPの変形が無視できる
ならば、隣の受光セル36bには、第13図(a)に示
すように、受光セル36aの出力信号と略同じ形で、時
間τ、だけ遅れた信号が得られる。
ならば、隣の受光セル36bには、第13図(a)に示
すように、受光セル36aの出力信号と略同じ形で、時
間τ、だけ遅れた信号が得られる。
この出力信号は、X成分信号処理系37xに入力され、
アンプ41で増幅された後、第13図(b)に示すよう
に、カットフィルタ42で0ラインを横切るm、n二系
統の信号に変換され、しかる後、第13図(c)に示す
ように、二値化回路43で0ラインを基準としてm、n
二系統の二値化信号に変換される。そして、二値化され
た信号は演算処理部51に入力される。
アンプ41で増幅された後、第13図(b)に示すよう
に、カットフィルタ42で0ラインを横切るm、n二系
統の信号に変換され、しかる後、第13図(c)に示す
ように、二値化回路43で0ラインを基準としてm、n
二系統の二値化信号に変換される。そして、二値化され
た信号は演算処理部51に入力される。
この場合において、上記時間遅れτ工は、受光セル36
aと同36bとの間の距離とスペックルパターンSPの
移動速度によって決まり、τ8の正負でスペックルパタ
ーンSPの移動方向の正負を判別することができ、また
、各受光セル36a。
aと同36bとの間の距離とスペックルパターンSPの
移動速度によって決まり、τ8の正負でスペックルパタ
ーンSPの移動方向の正負を判別することができ、また
、各受光セル36a。
36bの出力信号の山の数は、各受光セル36a。
36bの上を通過するスペックルの粒の数に対応するた
め、上記歯の数をカウントすることにより、スペックル
パターンSPの移動の大きさを検出することができ、こ
れらによって、移動情報を得ることができる。上述した
演算処理部51は、前述した原理に基づいてスペックル
パターンSPの移動方向及び移動量を判別し、これによ
り、カーソル53の移動方向及び移動量を設定する。
め、上記歯の数をカウントすることにより、スペックル
パターンSPの移動の大きさを検出することができ、こ
れらによって、移動情報を得ることができる。上述した
演算処理部51は、前述した原理に基づいてスペックル
パターンSPの移動方向及び移動量を判別し、これによ
り、カーソル53の移動方向及び移動量を設定する。
この演算処理部5】は、従来の機械式マウスや光学式マ
ウスと全く同様であり、通常この種の演算処理部51は
計算機50のインタフェースに組み込まれているため、
本実施例の場合の二値化信号をそのまま従来のマウス用
のインタフェースに入力することができる。
ウスと全く同様であり、通常この種の演算処理部51は
計算機50のインタフェースに組み込まれているため、
本実施例の場合の二値化信号をそのまま従来のマウス用
のインタフェースに入力することができる。
この実施例に係るマウスの性能を評価する上で、実施例
に係るマウスを一定の条件で移動させた際の上記カーソ
ル移動率の変化状態を調べて見たところ、カーソル移動
率を略一定に保つことができることが確認された。
に係るマウスを一定の条件で移動させた際の上記カーソ
ル移動率の変化状態を調べて見たところ、カーソル移動
率を略一定に保つことができることが確認された。
更に、この実施例においては、上記ディテクタ36とし
て、X方向及びX方向に複数組の受光セル(図示せず)
を配列し、信号処理部37として、各組からの出力に基
づく位相差情報を平均化し得るようにすれば、スペック
ルパターンSPの不規則さに基づく位相差情報のばらつ
きを少な(することが可能である。
て、X方向及びX方向に複数組の受光セル(図示せず)
を配列し、信号処理部37として、各組からの出力に基
づく位相差情報を平均化し得るようにすれば、スペック
ルパターンSPの不規則さに基づく位相差情報のばらつ
きを少な(することが可能である。
以上説明しCきたように、請求項1記載のスペックルパ
ターンの移動検出方法によれば、光検出器の受光面上の
スペックルの平均サイズを所定領域内のものとし、光検
出器による検出移動率をスペックルの平均サイズの若干
の変動に対しても略一定に保てるようにしたので、移動
検出装置の製造上の誤差によって光学系の諸定数がばら
ついたり、使用上変動したりしたとしても、移動検出動
作を安定させることができる。
ターンの移動検出方法によれば、光検出器の受光面上の
スペックルの平均サイズを所定領域内のものとし、光検
出器による検出移動率をスペックルの平均サイズの若干
の変動に対しても略一定に保てるようにしたので、移動
検出装置の製造上の誤差によって光学系の諸定数がばら
ついたり、使用上変動したりしたとしても、移動検出動
作を安定させることができる。
特に、請求項2記載のスペックルパターンの移動検出方
法によれば、移動するスペックルパターン中に並設され
た少なくとも一組の光検出素子にてスペックルパターン
の時間変動を検出し、両者間の位相差を求める等の簡単
な処理でスペックルパターンの移動情報を検出し得るの
で、リアルタイム処理が容易で、しかも、スペックルパ
ターンの移動方向を含む各種移動情報を簡便に得ること
ができる。
法によれば、移動するスペックルパターン中に並設され
た少なくとも一組の光検出素子にてスペックルパターン
の時間変動を検出し、両者間の位相差を求める等の簡単
な処理でスペックルパターンの移動情報を検出し得るの
で、リアルタイム処理が容易で、しかも、スペックルパ
ターンの移動方向を含む各種移動情報を簡便に得ること
ができる。
また、請求項3記載の位置指定装置によれば、物体粗面
から生ず゛るスペックルパターンの物体粗面に対する相
対移動情報を検出し、指定すべき位置を特定するように
したので、専用下敷きを用いる必要がなくなり、その分
、操作性をより簡便にすることができるほか、従来の機
械式マウスのような機械的可動部に伴う耐久性の低下や
専用下敷きの汚れ、損傷に伴う使用の制限がなくなり、
装置自体の耐久性をより向上させることができ、更に、
専用下敷きの格子密度に影響されることなく、電磁波源
と光検出器との間の光学系ハラメータを適宜設定するこ
とにより移動情報検出の分解能を上げることが可能にな
り、位置指定精度を向上させることができる。
から生ず゛るスペックルパターンの物体粗面に対する相
対移動情報を検出し、指定すべき位置を特定するように
したので、専用下敷きを用いる必要がなくなり、その分
、操作性をより簡便にすることができるほか、従来の機
械式マウスのような機械的可動部に伴う耐久性の低下や
専用下敷きの汚れ、損傷に伴う使用の制限がなくなり、
装置自体の耐久性をより向上させることができ、更に、
専用下敷きの格子密度に影響されることなく、電磁波源
と光検出器との間の光学系ハラメータを適宜設定するこ
とにより移動情報検出の分解能を上げることが可能にな
り、位置指定精度を向上させることができる。
そしてまた、請求項3記載の位置指定装置によれば、ス
ペックルサイズ設定手段にてスペックルの平均サイズを
所定領域に設定することにより、スペックルの平均サイ
ズの変動に対する位置指定部材の移動率変動を回避する
ようにしたので、常時移動率が一定の位置指定動作を行
うことが可能になり、その分、安定した位置指定動作を
行うことができる。
ペックルサイズ設定手段にてスペックルの平均サイズを
所定領域に設定することにより、スペックルの平均サイ
ズの変動に対する位置指定部材の移動率変動を回避する
ようにしたので、常時移動率が一定の位置指定動作を行
うことが可能になり、その分、安定した位置指定動作を
行うことができる。
第1図(a)はこの発明に係るスペックルパターンの移
動検出方法の原理を示す説明図、第1図(b)(c)は
光検出器の一態様を示す説明図及びその検出動作説明図
、第1図(d)はこの発明に係る一指定装置の概略構成
を示す説明図、第2図はこの発明を案出する上で行った
実験系を示す説明図、第3図は第2図中■部詳細図、第
4図はスペックルトランスレーション距離の概念を示す
説明図、第5図は第2図の実験系にて求めたスペックル
平均サイズとカーソル移動率との関係を示すグラフ図、
第6図は第2図の実験系をモデル化した説明図、第7図
はこの発明に係るスペックルとディテクタとの関係を示
す模式説明図、第8図はこの発明に係るスペックルの空
間周波数パワースペクトルとディテクタの空間周波数パ
ワースペクトルとの関係を示すグラフ図、第9図はこの
発明を適用したマウスの一実施例を示す説明図、第10
図はその一部破断底面図、第11図は実施例に係るディ
テクタの構成を示す説明図、第12図は実施例に係るデ
ィテクタの信号処理系を示すブロック図、第13図はそ
の信号処理系の動作タイミングを示タイミングチャート
である。 〔符号の説明〕 SP・・・スペックルパターン Bm・・・電磁波 M・・・移動情報 j・・・物体粗面 2・・・光検出器 2 a、 2 b・・・光検出素子 3・・・可動体 4・・・電磁波源 5・・・スペックルサイズ設定手段
動検出方法の原理を示す説明図、第1図(b)(c)は
光検出器の一態様を示す説明図及びその検出動作説明図
、第1図(d)はこの発明に係る一指定装置の概略構成
を示す説明図、第2図はこの発明を案出する上で行った
実験系を示す説明図、第3図は第2図中■部詳細図、第
4図はスペックルトランスレーション距離の概念を示す
説明図、第5図は第2図の実験系にて求めたスペックル
平均サイズとカーソル移動率との関係を示すグラフ図、
第6図は第2図の実験系をモデル化した説明図、第7図
はこの発明に係るスペックルとディテクタとの関係を示
す模式説明図、第8図はこの発明に係るスペックルの空
間周波数パワースペクトルとディテクタの空間周波数パ
ワースペクトルとの関係を示すグラフ図、第9図はこの
発明を適用したマウスの一実施例を示す説明図、第10
図はその一部破断底面図、第11図は実施例に係るディ
テクタの構成を示す説明図、第12図は実施例に係るデ
ィテクタの信号処理系を示すブロック図、第13図はそ
の信号処理系の動作タイミングを示タイミングチャート
である。 〔符号の説明〕 SP・・・スペックルパターン Bm・・・電磁波 M・・・移動情報 j・・・物体粗面 2・・・光検出器 2 a、 2 b・・・光検出素子 3・・・可動体 4・・・電磁波源 5・・・スペックルサイズ設定手段
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1)コヒーレントな電磁波(Bm)の物体粗面(1)に
対する散乱によって生ずるスペックルパターン(SP)
の移動情報(M)を光検出器(2)にて検出するに際し
、 上記光検出器(2)の受光面上のスペックルパターン(
SP)におけるスペックルの平均サイズ(D)と、光検
出器(2)の物体粗面(1)に対する相対移動情報と光
検出器(2)の出力移動情報との比を示す検出移動率(
J)との関係において、上記検出移動率(J)が略一定
に保たれる範囲(E)で上記スペックルの平均サイズ(
D)を設定したことを特徴とするスペックルパターンの
移動検出方法。 2)請求項1記載のものにおいて、 光検出器(2)は、一次元当たり少なくとも一組の光検
出素子(2a、2b)を並設し、一組の光検出素子(2
a、2b)からの出力信号の位相差(τ)を検出するよ
うにしたことを特徴とするスペックルパターンの移動検
出方法。 3)物体粗面(1)に対して移動可能な可動体(3)と
、 この可動体(3)に組み込まれて可動体(3)の所定部
位から物体粗面(1)にコヒーレントな電磁波(Bm)
を照射する電磁波源(4)と、 上記可動体(3)に組み込まれると共に電磁波(Bm)
の照射に伴って物体粗面(1)から生ずるスペックルパ
ターン(SP)の可動体(3)に対する相対移動情報を
検出する光検出器(2)と、 この光検出器(2)の受光面上のスペックルパターン(
SP)におけるスペックルの平均サイズ(D)と、光検
出器(2)の物体粗面(1)に対する相対移動情報と光
検出器(2)の出力移動情報との比を示す検出移動率(
J)との関係において、上記検出移動率(J)が略一定
に保たれる範囲で上記スペックルの平均サイズ(D)を
設定するスペックルサイズ設定手段(5)とを備え、 上記光検出器(2)で検出された相対移動情報に基づい
て指定すべき位置を特定するようにしたことを特徴とす
る位置指定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1248058A JPH03111925A (ja) | 1989-09-26 | 1989-09-26 | スペックルパターンの移動検出方法及びこれを用いた位置指定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1248058A JPH03111925A (ja) | 1989-09-26 | 1989-09-26 | スペックルパターンの移動検出方法及びこれを用いた位置指定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03111925A true JPH03111925A (ja) | 1991-05-13 |
Family
ID=17172575
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1248058A Pending JPH03111925A (ja) | 1989-09-26 | 1989-09-26 | スペックルパターンの移動検出方法及びこれを用いた位置指定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03111925A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005122746A (ja) * | 2003-10-16 | 2005-05-12 | Agilent Technol Inc | 干渉パターンを用いた動き追跡方法およびシステム |
| JP2006515945A (ja) * | 2003-01-20 | 2006-06-08 | ▲しゃん▼ 宏志 | コンピュータ・マウス内の光信号処理のための方法及びデバイス |
| US7394454B2 (en) | 2004-01-21 | 2008-07-01 | Microsoft Corporation | Data input device and method for detecting lift-off from a tracking surface by electrical impedance measurement |
| JP2008210100A (ja) * | 2007-02-26 | 2008-09-11 | Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd | ポインティングデバイス |
| JP4896988B2 (ja) * | 2005-12-21 | 2012-03-14 | ストラ エンソ オサケ ユキチュア ユルキネン | 開放装置を受け入れるようになっているパッケージ |
| JP2016523414A (ja) * | 2013-06-26 | 2016-08-08 | 林 大偉LIN, Dai Wei | 光センサーアレー装置 |
-
1989
- 1989-09-26 JP JP1248058A patent/JPH03111925A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006515945A (ja) * | 2003-01-20 | 2006-06-08 | ▲しゃん▼ 宏志 | コンピュータ・マウス内の光信号処理のための方法及びデバイス |
| JP2005122746A (ja) * | 2003-10-16 | 2005-05-12 | Agilent Technol Inc | 干渉パターンを用いた動き追跡方法およびシステム |
| US7394454B2 (en) | 2004-01-21 | 2008-07-01 | Microsoft Corporation | Data input device and method for detecting lift-off from a tracking surface by electrical impedance measurement |
| JP4896988B2 (ja) * | 2005-12-21 | 2012-03-14 | ストラ エンソ オサケ ユキチュア ユルキネン | 開放装置を受け入れるようになっているパッケージ |
| JP2008210100A (ja) * | 2007-02-26 | 2008-09-11 | Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte Ltd | ポインティングデバイス |
| JP2016523414A (ja) * | 2013-06-26 | 2016-08-08 | 林 大偉LIN, Dai Wei | 光センサーアレー装置 |
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