JPH03116731A - 半導体ウエハ用移送装置 - Google Patents
半導体ウエハ用移送装置Info
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- JPH03116731A JPH03116731A JP25311289A JP25311289A JPH03116731A JP H03116731 A JPH03116731 A JP H03116731A JP 25311289 A JP25311289 A JP 25311289A JP 25311289 A JP25311289 A JP 25311289A JP H03116731 A JPH03116731 A JP H03116731A
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- JP
- Japan
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- wafer
- processing tank
- semiconductor
- holder
- wafer processing
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体装置の製造工程において半導体ウェハを
立てた状態で処理槽内に移送する半導体ウェハ用移送装
置に関するものである。
立てた状態で処理槽内に移送する半導体ウェハ用移送装
置に関するものである。
従来、半導体ウェハ(以下単にウェハという。)にウェ
ットエツチング等のウェット処理を施す際には、ウェハ
は複数枚重てた状態で処理槽内に移送されていた。これ
を第5図ないし第7図(a)、(b)によって説明する
。
ットエツチング等のウェット処理を施す際には、ウェハ
は複数枚重てた状態で処理槽内に移送されていた。これ
を第5図ないし第7図(a)、(b)によって説明する
。
第5図ないし第7図(a) 、 (b)は例えば特開昭
63−184350号公報に開示された従来のウェハ搬
送処理装置を示す図で、第5図は斜視図、第6図は側断
面図、第7図(a)はウェハがウェハ処理槽に移載され
た状態を示す断面図、第7図(b)はウェハがウェハ処
理槽内を下陣されている状態を示す断面図である。これ
らの図において、1はウェハ、2はこのウェハlにエツ
チング処理等のウェット処理を施すためのウェハ処理槽
である。このウェハ処理槽2は上方に開口されて形成さ
れており、その内側側面にはウェハ1の外周縁部が挿入
されてウェハ1が傾斜されるのを阻止するためのガイド
溝2aが形成されている。このガイド溝2aは断面V字
状に形成されかつ上下に縦長に形成されており、ウェハ
処理槽2の内側側部に複数並設されている。前記ウェハ
処理槽2は通常、横方向に複数並設されて使用され、各
ウェハ処理槽へのウェハの搬送は後述するウェハ搬送用
ホルダーによって行われている。3はウェハ1を立てた
状態で複数枚保持し、ウェハ処理槽間を搬送するための
一対のウェハ搬送用ホルダーで、このウェハ搬送用ホル
ダー3のそれぞれの対向面にはウェハ1の外周縁部が挿
入されるガイド溝3aが形成されている。
63−184350号公報に開示された従来のウェハ搬
送処理装置を示す図で、第5図は斜視図、第6図は側断
面図、第7図(a)はウェハがウェハ処理槽に移載され
た状態を示す断面図、第7図(b)はウェハがウェハ処
理槽内を下陣されている状態を示す断面図である。これ
らの図において、1はウェハ、2はこのウェハlにエツ
チング処理等のウェット処理を施すためのウェハ処理槽
である。このウェハ処理槽2は上方に開口されて形成さ
れており、その内側側面にはウェハ1の外周縁部が挿入
されてウェハ1が傾斜されるのを阻止するためのガイド
溝2aが形成されている。このガイド溝2aは断面V字
状に形成されかつ上下に縦長に形成されており、ウェハ
処理槽2の内側側部に複数並設されている。前記ウェハ
処理槽2は通常、横方向に複数並設されて使用され、各
ウェハ処理槽へのウェハの搬送は後述するウェハ搬送用
ホルダーによって行われている。3はウェハ1を立てた
状態で複数枚保持し、ウェハ処理槽間を搬送するための
一対のウェハ搬送用ホルダーで、このウェハ搬送用ホル
ダー3のそれぞれの対向面にはウェハ1の外周縁部が挿
入されるガイド溝3aが形成されている。
このガイド溝3aは前記ウェハ処理槽2のガイド溝2a
と同形状かつ同一ピッチをもって各ウェハ搬送用ホルダ
ー3に複数並設されている。また、これらのウェハ搬送
用ホルダー3は各々回転式チャックアーム4にロッド5
を介して連結され、この回転式チャックアーム4によっ
てロッド5の軸線を回転中心として回動されるように構
成されている。
と同形状かつ同一ピッチをもって各ウェハ搬送用ホルダ
ー3に複数並設されている。また、これらのウェハ搬送
用ホルダー3は各々回転式チャックアーム4にロッド5
を介して連結され、この回転式チャックアーム4によっ
てロッド5の軸線を回転中心として回動されるように構
成されている。
このウェハ搬送用ホルダー3によってウェハlを保持す
るには、第7図(a)に示すように、回転式チャックア
ーム4によって各ウェハ搬送用ホルダー3を鉛直方向に
対して10°〜80°回動させ、正面視逆ハの字状にし
て行われる。すなわち、この状態では両ウェハ搬送用ホ
ルダー3どうしの下側の間隔が上側のそれよりも狭まる
こととなり、ウェハ1はガイド溝りa内に立てた状態で
支持されることとなる。6は前記ウェハ搬送用ホルダー
3を昇降させると共に、ウェハ処理槽2に隣接された他
のウェハ処理槽(図示せず)へ移動させるための移動ア
ームで、この移動アーム6は前記回転式チャックアーム
4に連結された昇降部材6aと、この昇降部材6aを昇
降させる本体6bとから構成され、この本体6bは、ウ
ェハ処理槽2の並設方向に延在された搬送用ロード7に
移動自在に設けられている。すなわち、前記ウェハ搬送
用ホルダー3は前記回転式チャックアーム4によって回
動されると共に、この移動アーム6によって昇降自在か
つウェハ処理槽2の並設方向に水平移動自在に設けられ
ることになる。8はウェハ1をウェハ処理槽2内に出し
入れするためのウェハリフトで、このウェハリフト8は
ウェハ処理槽2内に挿入されるウェハ支持部8aと、こ
のウェハ支持部8aを昇降させる本体8bとから構成さ
れており、前記ウェハ支持部8aの水平部分にはウェハ
1の下側外周縁部が挿入されるガイド溝8cが形成され
ている。このガイド溝8cはウェハ処理槽2に形成され
たガイド溝2aと等しい間隔をもって複数並設されてい
る。なお、このウェハリフト8は、複数並設されたウェ
ハ処理槽2にそれぞれ配設されている。9は前記回転式
チャックアーム4の回転動作、移動アーム6の昇降動作
および水平移動動作、ウェハリフト8の昇降動作をそれ
ぞれ制御するための制御装置である。
るには、第7図(a)に示すように、回転式チャックア
ーム4によって各ウェハ搬送用ホルダー3を鉛直方向に
対して10°〜80°回動させ、正面視逆ハの字状にし
て行われる。すなわち、この状態では両ウェハ搬送用ホ
ルダー3どうしの下側の間隔が上側のそれよりも狭まる
こととなり、ウェハ1はガイド溝りa内に立てた状態で
支持されることとなる。6は前記ウェハ搬送用ホルダー
3を昇降させると共に、ウェハ処理槽2に隣接された他
のウェハ処理槽(図示せず)へ移動させるための移動ア
ームで、この移動アーム6は前記回転式チャックアーム
4に連結された昇降部材6aと、この昇降部材6aを昇
降させる本体6bとから構成され、この本体6bは、ウ
ェハ処理槽2の並設方向に延在された搬送用ロード7に
移動自在に設けられている。すなわち、前記ウェハ搬送
用ホルダー3は前記回転式チャックアーム4によって回
動されると共に、この移動アーム6によって昇降自在か
つウェハ処理槽2の並設方向に水平移動自在に設けられ
ることになる。8はウェハ1をウェハ処理槽2内に出し
入れするためのウェハリフトで、このウェハリフト8は
ウェハ処理槽2内に挿入されるウェハ支持部8aと、こ
のウェハ支持部8aを昇降させる本体8bとから構成さ
れており、前記ウェハ支持部8aの水平部分にはウェハ
1の下側外周縁部が挿入されるガイド溝8cが形成され
ている。このガイド溝8cはウェハ処理槽2に形成され
たガイド溝2aと等しい間隔をもって複数並設されてい
る。なお、このウェハリフト8は、複数並設されたウェ
ハ処理槽2にそれぞれ配設されている。9は前記回転式
チャックアーム4の回転動作、移動アーム6の昇降動作
および水平移動動作、ウェハリフト8の昇降動作をそれ
ぞれ制御するための制御装置である。
次にこのように構成された従来のウェハ搬送処理装置の
動作について説明する。先ず、ウェハlをウェハ処理槽
2内に装着してウェット処理を施す手順について説明す
る。ウェハ1をウェハ処理槽2に搬送するには、予めウ
ェハ供給装置(図示せず)にウェハ搬送用ホルダー3を
移動させ、第7図(a)に示すように逆ハの字状(以下
、この状態をウェハ搬送用ホルダー3が閉じられた状態
という。)に回動されたウェハ搬送用ホルダー3にウェ
ハ1を保持させる。そして、移動アーム6によって前記
ウェハ搬送用ホルダー3をウェハ処理槽2上に水平移動
させ、ウェハ搬送用ホルダー3の底部がウェハ処理槽2
の上部に近接されるまでウェハ搬送用ホルダー3を下降
させる。この際、ウェハ搬送用ホルダー3のガイド溝3
aとウェハ処理槽2のガイド溝2aとがそれぞれ対応さ
れるようにウェハ搬送用ホルダー3が位置決めされる。
動作について説明する。先ず、ウェハlをウェハ処理槽
2内に装着してウェット処理を施す手順について説明す
る。ウェハ1をウェハ処理槽2に搬送するには、予めウ
ェハ供給装置(図示せず)にウェハ搬送用ホルダー3を
移動させ、第7図(a)に示すように逆ハの字状(以下
、この状態をウェハ搬送用ホルダー3が閉じられた状態
という。)に回動されたウェハ搬送用ホルダー3にウェ
ハ1を保持させる。そして、移動アーム6によって前記
ウェハ搬送用ホルダー3をウェハ処理槽2上に水平移動
させ、ウェハ搬送用ホルダー3の底部がウェハ処理槽2
の上部に近接されるまでウェハ搬送用ホルダー3を下降
させる。この際、ウェハ搬送用ホルダー3のガイド溝3
aとウェハ処理槽2のガイド溝2aとがそれぞれ対応さ
れるようにウェハ搬送用ホルダー3が位置決めされる。
次いで、ウェハリフト8のウェハ支持部8aを上昇させ
てそのガイド溝8c内にウェハ1の下側外周縁部を臨ま
せ、このウェハ支持部8aにウェハ1を対接させる。そ
して、ウェハ搬送用ホルダー3をガイド溝3aの長手方
向が鉛直方向を指向するように(回動角度が0″に達す
るまで)ゆっくりと回動させる。以下、この状態をウェ
ハ搬送用ホルダー3が開いた状態という。ウェハ搬送用
ホルダー3が開かれた際には、ウェハ1の全重量がウエ
ハリフト8にかかり、ウェハリフト8のウェハ支持部8
aによってウェハ1が支承されることとなる。この際、
ウェハ1はその外周縁部がウェハ搬送用ホルダー3のガ
イド溝りa内に挿入された状態であるために、倒れるこ
となく立てられた状態が維持される。しかる後、第7図
(b)に示すように、ウェハリフト8のウェハ支持部8
aを下降させ、ウェハ1を処理槽2内に導く。この際、
ウェハ処理槽2のガイド溝2aとウェハ搬送用ホルダー
3のガイド溝3aとが同一線上に位置しているために、
ウェハ1は倒れることなくウェハ処理槽2内に導入され
る。
てそのガイド溝8c内にウェハ1の下側外周縁部を臨ま
せ、このウェハ支持部8aにウェハ1を対接させる。そ
して、ウェハ搬送用ホルダー3をガイド溝3aの長手方
向が鉛直方向を指向するように(回動角度が0″に達す
るまで)ゆっくりと回動させる。以下、この状態をウェ
ハ搬送用ホルダー3が開いた状態という。ウェハ搬送用
ホルダー3が開かれた際には、ウェハ1の全重量がウエ
ハリフト8にかかり、ウェハリフト8のウェハ支持部8
aによってウェハ1が支承されることとなる。この際、
ウェハ1はその外周縁部がウェハ搬送用ホルダー3のガ
イド溝りa内に挿入された状態であるために、倒れるこ
となく立てられた状態が維持される。しかる後、第7図
(b)に示すように、ウェハリフト8のウェハ支持部8
aを下降させ、ウェハ1を処理槽2内に導く。この際、
ウェハ処理槽2のガイド溝2aとウェハ搬送用ホルダー
3のガイド溝3aとが同一線上に位置しているために、
ウェハ1は倒れることなくウェハ処理槽2内に導入され
る。
このようにしてウェハ処理槽2内でウェット処理を施す
ことができる。ウェット処理後、ウェハリフト8を上昇
動作させる。この際、ウェハ搬送用ホルダー3を予めウ
ェハ処理槽2上の定位置に配置させて開いた状態にして
停止させておく。ウェハリフト8のウェハ支持部8aが
上昇されるにつれてウェハ1はウェハ処理槽2からウェ
ハ搬送用ホルダー3へ移される。ウェハ支持部88が所
定位置まで(ウェハ1が完全にウェハ搬送用ホルダー3
間に挿入されるまで)上昇された後、ウェハ搬送用ホル
ダー3を閉じ、ウェハ1をこのウェハ搬送用ホルダー3
によって保持させる。そして、このウェハ1を他のウェ
ハ処理槽に搬送するには、移動アーム6によってウェハ
搬送用ホルダー3を一旦上昇させ、引き続きロード7に
沿って他のウェハ処理槽上まで水平移動させて行われる
。他のウェハ処理槽で上記と同じ動作を繰り返すことに
よって、ウェハ1は複数個のウェハ処理槽に搬送されて
次々とウェット処理されることになる。
ことができる。ウェット処理後、ウェハリフト8を上昇
動作させる。この際、ウェハ搬送用ホルダー3を予めウ
ェハ処理槽2上の定位置に配置させて開いた状態にして
停止させておく。ウェハリフト8のウェハ支持部8aが
上昇されるにつれてウェハ1はウェハ処理槽2からウェ
ハ搬送用ホルダー3へ移される。ウェハ支持部88が所
定位置まで(ウェハ1が完全にウェハ搬送用ホルダー3
間に挿入されるまで)上昇された後、ウェハ搬送用ホル
ダー3を閉じ、ウェハ1をこのウェハ搬送用ホルダー3
によって保持させる。そして、このウェハ1を他のウェ
ハ処理槽に搬送するには、移動アーム6によってウェハ
搬送用ホルダー3を一旦上昇させ、引き続きロード7に
沿って他のウェハ処理槽上まで水平移動させて行われる
。他のウェハ処理槽で上記と同じ動作を繰り返すことに
よって、ウェハ1は複数個のウェハ処理槽に搬送されて
次々とウェット処理されることになる。
しかるに、このように構成された従来のウェハ搬送処理
装置においては、ウェハ処理槽2の内側側面にウェハ1
を立てた状態で支持するためのガイド溝2aが形成され
ているために、ウェハ処理槽2内を広く設定することが
できない。このため、例えばウェハ処理槽2内でウェッ
ト洗浄を実施する場合に使用する超音波振動子等は装着
することができなかった。超音波振動子を使用せずにウ
ェット洗浄を行なうと、洗浄能率を向上させるにも限度
があった。
装置においては、ウェハ処理槽2の内側側面にウェハ1
を立てた状態で支持するためのガイド溝2aが形成され
ているために、ウェハ処理槽2内を広く設定することが
できない。このため、例えばウェハ処理槽2内でウェッ
ト洗浄を実施する場合に使用する超音波振動子等は装着
することができなかった。超音波振動子を使用せずにウ
ェット洗浄を行なうと、洗浄能率を向上させるにも限度
があった。
本発明に係る半導体ウェハ用移送装置は、半導体ウェハ
の外周縁部が挿入される縦溝が対向面側に複数並設され
、半導体ウェハを立てた状態で複数枚保持する一対の搬
送用ホルダーと、前記搬送用ホルダーをウェハ処理槽の
上方で水平移動させる搬送装置と、ウェハ処理槽に対し
て昇降自在に設けられ、半導体ウェハをウェハ処理槽内
に出し入れするウェハリフトとを備え、前記ウェハリフ
トは、半導体ウェハを支承する支持部材が水平に少なく
とも3本設けられ、かつこれらの支持部材には、半導体
ウェハの下側外周縁部が挿入され半導体ウェハを立てた
状態で支持する断面V字状の溝が前記搬送用ホルダーの
縦溝の間隔と等しい間隔をもって複数並設されているも
のである。
の外周縁部が挿入される縦溝が対向面側に複数並設され
、半導体ウェハを立てた状態で複数枚保持する一対の搬
送用ホルダーと、前記搬送用ホルダーをウェハ処理槽の
上方で水平移動させる搬送装置と、ウェハ処理槽に対し
て昇降自在に設けられ、半導体ウェハをウェハ処理槽内
に出し入れするウェハリフトとを備え、前記ウェハリフ
トは、半導体ウェハを支承する支持部材が水平に少なく
とも3本設けられ、かつこれらの支持部材には、半導体
ウェハの下側外周縁部が挿入され半導体ウェハを立てた
状態で支持する断面V字状の溝が前記搬送用ホルダーの
縦溝の間隔と等しい間隔をもって複数並設されているも
のである。
半導体ウェハはウェハリフトの支持部材のみによって立
てられた状態でウェハ処理槽内に出し入れされるから、
ウェハ処理槽内を広く設定することができる。
てられた状態でウェハ処理槽内に出し入れされるから、
ウェハ処理槽内を広く設定することができる。
以下、本発明の一実施例を第1図ないし第4図(a)〜
(d)によって詳細に説明する。
(d)によって詳細に説明する。
第1図は本発明に係る半導体ウェハ用移載装置を示す斜
視図、第2図は同じく側断面図、第3図は要部を拡大し
て示す断面図、第4図(a)〜(d)は動作を説明する
ための図で、同図(a)はウェハがウェット処理されて
いる状態を示す断面図、同図(b)はウェハをウェハ処
理槽の上方に移動させた状態を示す断面図、同図(c)
はウェハ搬送用ホルダーをウェハの下方に配置させた状
態を示す断面図、同図(d)はウェハがウェハ搬送用ホ
ルダーに保持された状態を示す断面図である。これらの
図において前記第5図ないし第7図で説明したものと同
一もしくは同等部材については同一符号を付し、ここに
おいて詳細な説明は省略する。第1図ないし第4図にお
いて、11はウェハ1をウェット処理するためのウェハ
処理槽で、このウェハ処理槽11は、上方に開口されか
つその内方にはウエット洗浄用の超音波振動子(図示せ
ず)が配設されており、このウェハ処理槽11と同等の
他のウェハ処理槽(図示せず)が横方向に複数並設され
ている。12はウェハ搬送用ホルダー3を前記ウェハ処
理槽11から他のウェハ処理槽等へ移動させるための回
転チャック付き移動アームで、この回転チャック付き移
動アーム12は、ウェハ搬送用ホルダー3に一体的に取
付けられたロッド13と、このロッド13をその長手方
向を軸として回動させる本体14とから構成されており
、この本体14は、各ウェハ処理槽の並設方向に沿って
延在されたロード7に水平移動自在に設けられている。
視図、第2図は同じく側断面図、第3図は要部を拡大し
て示す断面図、第4図(a)〜(d)は動作を説明する
ための図で、同図(a)はウェハがウェット処理されて
いる状態を示す断面図、同図(b)はウェハをウェハ処
理槽の上方に移動させた状態を示す断面図、同図(c)
はウェハ搬送用ホルダーをウェハの下方に配置させた状
態を示す断面図、同図(d)はウェハがウェハ搬送用ホ
ルダーに保持された状態を示す断面図である。これらの
図において前記第5図ないし第7図で説明したものと同
一もしくは同等部材については同一符号を付し、ここに
おいて詳細な説明は省略する。第1図ないし第4図にお
いて、11はウェハ1をウェット処理するためのウェハ
処理槽で、このウェハ処理槽11は、上方に開口されか
つその内方にはウエット洗浄用の超音波振動子(図示せ
ず)が配設されており、このウェハ処理槽11と同等の
他のウェハ処理槽(図示せず)が横方向に複数並設され
ている。12はウェハ搬送用ホルダー3を前記ウェハ処
理槽11から他のウェハ処理槽等へ移動させるための回
転チャック付き移動アームで、この回転チャック付き移
動アーム12は、ウェハ搬送用ホルダー3に一体的に取
付けられたロッド13と、このロッド13をその長手方
向を軸として回動させる本体14とから構成されており
、この本体14は、各ウェハ処理槽の並設方向に沿って
延在されたロード7に水平移動自在に設けられている。
すなわち、この回転チャック付き移動アームI2によっ
て、ウェハ搬送用ホルダー3が回動(開閉動作)される
と共に、ウェハ処理槽11上を各ウェハ処理槽の並設方
向に沿って水平移動されることになる。15はウェハ1
をウェハ処理槽11内に出し入れするためのウェハリフ
トで、このウェハリフト15はウェハ処理槽11内に水
平状態を維持したまま出し入れされる3本のウェハ支持
棒15a、 15b、 15cと、このウェハ支持棒1
5a、 15b、 15cを昇降させる本体15dとか
ら構成されており、前記各ウェハ支持棒15a、 15
b。
て、ウェハ搬送用ホルダー3が回動(開閉動作)される
と共に、ウェハ処理槽11上を各ウェハ処理槽の並設方
向に沿って水平移動されることになる。15はウェハ1
をウェハ処理槽11内に出し入れするためのウェハリフ
トで、このウェハリフト15はウェハ処理槽11内に水
平状態を維持したまま出し入れされる3本のウェハ支持
棒15a、 15b、 15cと、このウェハ支持棒1
5a、 15b、 15cを昇降させる本体15dとか
ら構成されており、前記各ウェハ支持棒15a、 15
b。
15cにはウェハ1の下側外周縁部が挿入される深溝1
5eが形成されている。この深溝15eは第3図に示す
ように、断面V字状に形成されており、ウェハ搬送用ホ
ルダー3に形成されたガイド溝3aと等しい間隔をもっ
て複数並設されている。また、前記ウェハ支持棒15a
、 15b、 15cは中央のものと両側のものとでは
取付は位置が上下に異なり、中央の支持棒15aよりも
両側の支持棒15b、 15cが上方に配置されており
、ウェハ搬送用ホルダー3とのウェハ1の授受を行なう
際にウェハ搬送用ホルダー3が回動されてもこれに接触
されない範囲、換言すればウェハ1の中心点から鉛直方
向に±45’の範囲に配置されている。すなわち、これ
らの支持棒15a、 15b、 15cのそれぞれの深
溝15eにウェハ1を挿入すると、ウェハ1はその外周
縁部が各深溝15eの最奥部分に挿入され、この支持棒
15a、15b、15cによって3点支持されることに
なる。3点支持とすることで、ウェハ1がその主面に対
して左右方向に振れたり、上下方向に傾斜したりするこ
とを防ぐことができる。これらの支持棒15a、15b
、15cの位置関係はウェハ1の外径に従って設定され
、ウェハ1に直径が5インチ(約125 m)のものを
使用した場合には、両側の支持棒15b、 15cにお
けるウェハ1を支持する支持点を中央の支持棒15aの
それより15m以上上側に配置させるのが望ましい。上
側の支持点を下側の支持点より15111上方に配置さ
せた際には、両側の支持棒15b、 15cにおける支
持点どうしの間隔は約108 mになる。
5eが形成されている。この深溝15eは第3図に示す
ように、断面V字状に形成されており、ウェハ搬送用ホ
ルダー3に形成されたガイド溝3aと等しい間隔をもっ
て複数並設されている。また、前記ウェハ支持棒15a
、 15b、 15cは中央のものと両側のものとでは
取付は位置が上下に異なり、中央の支持棒15aよりも
両側の支持棒15b、 15cが上方に配置されており
、ウェハ搬送用ホルダー3とのウェハ1の授受を行なう
際にウェハ搬送用ホルダー3が回動されてもこれに接触
されない範囲、換言すればウェハ1の中心点から鉛直方
向に±45’の範囲に配置されている。すなわち、これ
らの支持棒15a、 15b、 15cのそれぞれの深
溝15eにウェハ1を挿入すると、ウェハ1はその外周
縁部が各深溝15eの最奥部分に挿入され、この支持棒
15a、15b、15cによって3点支持されることに
なる。3点支持とすることで、ウェハ1がその主面に対
して左右方向に振れたり、上下方向に傾斜したりするこ
とを防ぐことができる。これらの支持棒15a、15b
、15cの位置関係はウェハ1の外径に従って設定され
、ウェハ1に直径が5インチ(約125 m)のものを
使用した場合には、両側の支持棒15b、 15cにお
けるウェハ1を支持する支持点を中央の支持棒15aの
それより15m以上上側に配置させるのが望ましい。上
側の支持点を下側の支持点より15111上方に配置さ
せた際には、両側の支持棒15b、 15cにおける支
持点どうしの間隔は約108 mになる。
また、支持棒−15a、 15b、 15cの深溝15
cの間隔を約4.8 vaとした場合には、この支持棒
15a、 15b、 15c上にウェハ1を複数支持さ
せても各ウェハ1どうしが接触されるようなことを防ぐ
ことができた。
cの間隔を約4.8 vaとした場合には、この支持棒
15a、 15b、 15c上にウェハ1を複数支持さ
せても各ウェハ1どうしが接触されるようなことを防ぐ
ことができた。
なお、このウェハリフト15は、複数並設されたウェハ
処理槽11にそれぞれ配設されている。なお、16は前
記回転チャック付き移動アーム12および前記ウェハリ
フト15の動作をそれぞれ制御するための制御装置であ
る。
処理槽11にそれぞれ配設されている。なお、16は前
記回転チャック付き移動アーム12および前記ウェハリ
フト15の動作をそれぞれ制御するための制御装置であ
る。
次に、本発明に係る半導体ウェハ用移送装置の動作につ
いて説明する。先ず、ウェハ1をウェハ処理槽11内に
挿入してウェット処理を施す手順について説明する。ウ
ェハ1をウェハ処理槽11に搬送するには、予めウェハ
供給装置(図示せず)にウェハ搬送用ホルダー3を移動
させ、ウェハ搬送用ホルダー3を閉じることによって、
ウェハ1をこのウェハ搬送用ホルダー3に保持させる。
いて説明する。先ず、ウェハ1をウェハ処理槽11内に
挿入してウェット処理を施す手順について説明する。ウ
ェハ1をウェハ処理槽11に搬送するには、予めウェハ
供給装置(図示せず)にウェハ搬送用ホルダー3を移動
させ、ウェハ搬送用ホルダー3を閉じることによって、
ウェハ1をこのウェハ搬送用ホルダー3に保持させる。
そして、第4図(d)に示すように、回転チャック付き
移動アーム12を作動させて前記ウェハ搬送用ホルダー
3をウェハ処理槽11上にロード7に沿って水平移動さ
せる。この際、ウェハ搬送用ホルダー3はウェハ処理槽
11上にその回動動作が容易に実施できる位置に位置決
めされる。次いで、ウェハリフト15を作動させてウェ
ハ支持棒15a、 15b+ 15cを上昇させ、深溝
15e内にウェハ1の下側外周縁部を挿入させる。この
際、ウェハ支持棒15a、 t5b、 15Cの深溝1
5eとウェハ搬送用ホルダー3のガイド溝3aとはそれ
ぞれ同一ピッチをもって形成されているために、ウェハ
1の下側外周縁部は確実に深溝15e内に挿入されるこ
とになる。そして、この状態でウェハ搬送用ホルダー3
を開き、ウェハ1をウェハ支持棒15a、 15b、
15cによって支持させる。
移動アーム12を作動させて前記ウェハ搬送用ホルダー
3をウェハ処理槽11上にロード7に沿って水平移動さ
せる。この際、ウェハ搬送用ホルダー3はウェハ処理槽
11上にその回動動作が容易に実施できる位置に位置決
めされる。次いで、ウェハリフト15を作動させてウェ
ハ支持棒15a、 15b+ 15cを上昇させ、深溝
15e内にウェハ1の下側外周縁部を挿入させる。この
際、ウェハ支持棒15a、 t5b、 15Cの深溝1
5eとウェハ搬送用ホルダー3のガイド溝3aとはそれ
ぞれ同一ピッチをもって形成されているために、ウェハ
1の下側外周縁部は確実に深溝15e内に挿入されるこ
とになる。そして、この状態でウェハ搬送用ホルダー3
を開き、ウェハ1をウェハ支持棒15a、 15b、
15cによって支持させる。
しかる後、第4図(a)に示すように、ウェハ支持棒1
5a、 15b、 15cを下降させ、ウェハ1をウェ
ハ処理槽11内に導いてウェット処理を施す。このよう
にしてウェハ処理槽11内でウェット処理されたウェハ
1を他のウェハ処理槽等へ搬送するには、先ず、第4図
(b)に示すように、ウェハリフト15を作動させてウ
ェハ支持棒15a、 15b、 15cをウェハ搬送用
ホルダ−3設置予定位置よりも上方へ上昇させ、第4図
(c)に示すように、前記ウェハ支持棒15a、 15
b、 15cの下方にウェハ搬送用ホルダー3を移動さ
せる。この際、ウェハ搬送用ホルダー3は予め開いた状
態にしておく。そして、ウェハ支持棒15a、 15b
、 15cを下降させ、ウェハ1の外周縁部をウェハ搬
送用ホルダー3のガイド溝りa内に挿入させる。この際
、ウェハ1においては、ウェハ支持棒15a、 15b
、 15cに支持されている側からウェハ搬送用ホルダ
ー3のガイド溝3aに挿入されることになるから、僅か
に傾いた状態でウェハ支持棒15a、 15b、 15
cに支持されていたとしても、所定のガイド溝3a以外
のガイド溝に誤って挿入されて移し替えミスが生じるよ
うなことはない。このようにして各ウェハ1をウェハ搬
送用ホルダー3の各ガイド溝3aに挿入させた後、ウェ
ハリフト15をウェハ1の移し替えに最適な位置で停止
させ、第4図(d)に示すように、ウェハ搬送用ホルダ
ー3を閉じ、これによってウェハ1を保持させる。その
後ウェハ支持棒15a、 15b、 15cは、ウェハ
搬送用ホルダー3の水平移動を干渉しない位置まで下降
されて停止される。また、前記ウェハ1を他のウェハ処
理槽に搬送するには、回転チャック付き移動アーム12
によってウェハ搬送用ホルダー3をロード7に沿って他
のウェハ処理槽上まで水平移動させて行われる。他のウ
ェハ処理槽で上記と同じ動作を繰り返すことによって、
ウェハlは複数個のウェハ処理槽に搬送されて次々とウ
ェット処理されることになる。
5a、 15b、 15cを下降させ、ウェハ1をウェ
ハ処理槽11内に導いてウェット処理を施す。このよう
にしてウェハ処理槽11内でウェット処理されたウェハ
1を他のウェハ処理槽等へ搬送するには、先ず、第4図
(b)に示すように、ウェハリフト15を作動させてウ
ェハ支持棒15a、 15b、 15cをウェハ搬送用
ホルダ−3設置予定位置よりも上方へ上昇させ、第4図
(c)に示すように、前記ウェハ支持棒15a、 15
b、 15cの下方にウェハ搬送用ホルダー3を移動さ
せる。この際、ウェハ搬送用ホルダー3は予め開いた状
態にしておく。そして、ウェハ支持棒15a、 15b
、 15cを下降させ、ウェハ1の外周縁部をウェハ搬
送用ホルダー3のガイド溝りa内に挿入させる。この際
、ウェハ1においては、ウェハ支持棒15a、 15b
、 15cに支持されている側からウェハ搬送用ホルダ
ー3のガイド溝3aに挿入されることになるから、僅か
に傾いた状態でウェハ支持棒15a、 15b、 15
cに支持されていたとしても、所定のガイド溝3a以外
のガイド溝に誤って挿入されて移し替えミスが生じるよ
うなことはない。このようにして各ウェハ1をウェハ搬
送用ホルダー3の各ガイド溝3aに挿入させた後、ウェ
ハリフト15をウェハ1の移し替えに最適な位置で停止
させ、第4図(d)に示すように、ウェハ搬送用ホルダ
ー3を閉じ、これによってウェハ1を保持させる。その
後ウェハ支持棒15a、 15b、 15cは、ウェハ
搬送用ホルダー3の水平移動を干渉しない位置まで下降
されて停止される。また、前記ウェハ1を他のウェハ処
理槽に搬送するには、回転チャック付き移動アーム12
によってウェハ搬送用ホルダー3をロード7に沿って他
のウェハ処理槽上まで水平移動させて行われる。他のウ
ェハ処理槽で上記と同じ動作を繰り返すことによって、
ウェハlは複数個のウェハ処理槽に搬送されて次々とウ
ェット処理されることになる。
なお、本実施例ではウェハ支持棒15a+ 15b+
15cを3本とした例を示したが、ウェハ支持棒は3本
以上であれば何本でもよく、本実施例と同様の効果が得
られる。また、本実施例では、ウェット洗浄装置等のウ
ェット処理装置に本発明の半導体ウェハ移送装置を採用
した例を示したが、本発明はこのような限定にとられれ
ることなく、例えば、イソプロピルアルコール(IPA
)の飽和蒸気中でウェハを乾燥させるウェハ乾燥装置に
適用することもできる。従来のこの種のウェハ乾燥装置
においては、テフロンカセットに収納されたウェハをI
PA蒸気中に導入して乾燥させる構造であり、IPA蒸
気はテフロンカセットでほとんどが消費されてしまうた
めにIPAの消費量は非常に多いものであった。このウ
ェハ乾燥装置に本発明のウェハ移送装置を適用すると、
IPA蒸気はほとんどがウェハで消費されることとなる
ため、IPAの消費量を低く抑えることができるという
二次的な効果が得られる。
15cを3本とした例を示したが、ウェハ支持棒は3本
以上であれば何本でもよく、本実施例と同様の効果が得
られる。また、本実施例では、ウェット洗浄装置等のウ
ェット処理装置に本発明の半導体ウェハ移送装置を採用
した例を示したが、本発明はこのような限定にとられれ
ることなく、例えば、イソプロピルアルコール(IPA
)の飽和蒸気中でウェハを乾燥させるウェハ乾燥装置に
適用することもできる。従来のこの種のウェハ乾燥装置
においては、テフロンカセットに収納されたウェハをI
PA蒸気中に導入して乾燥させる構造であり、IPA蒸
気はテフロンカセットでほとんどが消費されてしまうた
めにIPAの消費量は非常に多いものであった。このウ
ェハ乾燥装置に本発明のウェハ移送装置を適用すると、
IPA蒸気はほとんどがウェハで消費されることとなる
ため、IPAの消費量を低く抑えることができるという
二次的な効果が得られる。
以上説明したように本発明の半導体ウェハ用移送装置は
、半導体ウェハの外周縁部が挿入される縦溝が対向面側
に複数並設され、半導体ウェハを立てた状態で複数枚保
持する一対の搬送用ホルダーと、前記搬送用ホルダーを
ウェハ処理槽の上方で水平移動させる搬送装置と、ウェ
ハ処理槽に対して昇降自在に設けられ、半導体ウェハを
ウェハ処理槽内に出し入れするウェハリフトとを備え、
前記ウェハリフトは、半導体ウェハを支承する支持部材
が水平に少なくとも3本設けられ、かつこれらの支持部
材には、半導体ウェハの下側外周縁部が挿入され半導体
ウェハを立てた状態で支持する断面V字状の溝が前記搬
送用ホルダーの縦溝の間隔と等しい間隔をもって複数並
設されているため、半導体ウェハはウェハリフトの支持
部材のみによって立てられた状態でウェハ処理槽内に出
し入れされるから、ウェハ処理槽内を広く設定すること
ができる。したがって、ウェハ処理槽内にウェット処理
プロセスで必要とされる部材、例えば、洗浄用の超音波
振動子等を構造の制約を受けることな(自由に装着する
ことができるから、ウェット処理装置等の性能を高める
ことができ、高品質な半導体装置を得ることができる。
、半導体ウェハの外周縁部が挿入される縦溝が対向面側
に複数並設され、半導体ウェハを立てた状態で複数枚保
持する一対の搬送用ホルダーと、前記搬送用ホルダーを
ウェハ処理槽の上方で水平移動させる搬送装置と、ウェ
ハ処理槽に対して昇降自在に設けられ、半導体ウェハを
ウェハ処理槽内に出し入れするウェハリフトとを備え、
前記ウェハリフトは、半導体ウェハを支承する支持部材
が水平に少なくとも3本設けられ、かつこれらの支持部
材には、半導体ウェハの下側外周縁部が挿入され半導体
ウェハを立てた状態で支持する断面V字状の溝が前記搬
送用ホルダーの縦溝の間隔と等しい間隔をもって複数並
設されているため、半導体ウェハはウェハリフトの支持
部材のみによって立てられた状態でウェハ処理槽内に出
し入れされるから、ウェハ処理槽内を広く設定すること
ができる。したがって、ウェハ処理槽内にウェット処理
プロセスで必要とされる部材、例えば、洗浄用の超音波
振動子等を構造の制約を受けることな(自由に装着する
ことができるから、ウェット処理装置等の性能を高める
ことができ、高品質な半導体装置を得ることができる。
第1図は本発明に係る半導体ウェハ用移載装置を示す斜
視図、第2図は同じく側断面図、第3図は要部を拡大し
て示す断面図、第4図(a)〜(d)は動作を説明する
ための図で、同図(a)はウェハがウェット処理されて
いる状態を示す断面図、同図(b)はウェハをウェハ処
理槽の上方に移動させた状態を示す断面図、同図(c)
はウェハ搬送用ホルダーをウェハの下方に配置させた状
態を示す断面図、同図(d)はウェハがウェハ搬送用ホ
ルダーに保持された状態を示す断面図である。第5図は
従来のウェハ搬送処理装置を示す斜視図、第6図は従来
のウェハ搬送処理装置を示す側断面図、第7図(a)は
従来のウェハ搬送処理装置によってウェハがウェハ処理
槽に移載された状態を示す断面図、第7図(b)は同じ
くウェハがウェハ処理槽内を下降されている状態を示す
断面図である。 1・・・・ウェハ、3・・・・ウェハ搬送用ホルダー3
a・・・・ガイド溝、11・・・・ウェハ処理槽、12
・・・・回転チャック付き移動アーム、 15・・・・ウェハリフト、 15a、 15b、15c ・・・・ウェハ支持棒、 15e・・・・深溝。 代 理 人 大 石 増 雄 第1 図 1 ; クエへ 11ニウム八Xり理」童 12;固執チャフ2イすシタh7−へ 15;りLへソ7)− 15a 、+5b、 15c ;つL/X支崎井第5図 第6図
視図、第2図は同じく側断面図、第3図は要部を拡大し
て示す断面図、第4図(a)〜(d)は動作を説明する
ための図で、同図(a)はウェハがウェット処理されて
いる状態を示す断面図、同図(b)はウェハをウェハ処
理槽の上方に移動させた状態を示す断面図、同図(c)
はウェハ搬送用ホルダーをウェハの下方に配置させた状
態を示す断面図、同図(d)はウェハがウェハ搬送用ホ
ルダーに保持された状態を示す断面図である。第5図は
従来のウェハ搬送処理装置を示す斜視図、第6図は従来
のウェハ搬送処理装置を示す側断面図、第7図(a)は
従来のウェハ搬送処理装置によってウェハがウェハ処理
槽に移載された状態を示す断面図、第7図(b)は同じ
くウェハがウェハ処理槽内を下降されている状態を示す
断面図である。 1・・・・ウェハ、3・・・・ウェハ搬送用ホルダー3
a・・・・ガイド溝、11・・・・ウェハ処理槽、12
・・・・回転チャック付き移動アーム、 15・・・・ウェハリフト、 15a、 15b、15c ・・・・ウェハ支持棒、 15e・・・・深溝。 代 理 人 大 石 増 雄 第1 図 1 ; クエへ 11ニウム八Xり理」童 12;固執チャフ2イすシタh7−へ 15;りLへソ7)− 15a 、+5b、 15c ;つL/X支崎井第5図 第6図
Claims (1)
- 半導体ウェハの外周縁部が挿入される縦溝が対向面側に
複数並設され、半導体ウェハを立てた状態で複数枚保持
する一対の搬送用ホルダーと、前記搬送用ホルダーをウ
ェハ処理槽の上方で水平移動させる搬送装置と、ウェハ
処理槽に対して昇降自在に設けられ、半導体ウェハをウ
ェハ処理槽内に出し入れするウェハリフトとを備え、前
記ウェハリフトは、半導体ウェハを支承する支持部材が
水平に少なくとも3本設けられ、かつこれらの支持部材
には、半導体ウェハの下側外周縁部が挿入され半導体ウ
ェハを立てた状態で支持する断面V字状の溝が前記搬送
用ホルダーの縦溝の間隔と等しい間隔をもって複数並設
されていることを特徴とする半導体ウェハ用移送装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25311289A JPH03116731A (ja) | 1989-09-28 | 1989-09-28 | 半導体ウエハ用移送装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP25311289A JPH03116731A (ja) | 1989-09-28 | 1989-09-28 | 半導体ウエハ用移送装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03116731A true JPH03116731A (ja) | 1991-05-17 |
Family
ID=17246667
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP25311289A Pending JPH03116731A (ja) | 1989-09-28 | 1989-09-28 | 半導体ウエハ用移送装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03116731A (ja) |
Cited By (15)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5269643A (en) * | 1991-03-22 | 1993-12-14 | Danippon Screen Manufacturing Co., Ltd. | Method and apparatus for transferring wafers from wafer carrier to wafer conveyor apparatus in carrierless wafer surface treatment apparatus |
| US5379785A (en) * | 1991-10-09 | 1995-01-10 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Cleaning apparatus |
| JPH07307323A (ja) * | 1994-05-10 | 1995-11-21 | Nec Yamaguchi Ltd | ウェット処理用キャリア |
| US5503173A (en) * | 1993-12-14 | 1996-04-02 | Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. | Wafer cleaning tank |
| US5730162A (en) * | 1995-01-12 | 1998-03-24 | Tokyo Electron Limited | Apparatus and method for washing substrates |
| US5791357A (en) * | 1996-06-06 | 1998-08-11 | Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. | Support jig for thin circular objects |
| US5820878A (en) * | 1994-11-18 | 1998-10-13 | Hisamitsu Pharmaceutical Co., Inc. | Percutaneously absorbable patch |
| US5839460A (en) * | 1997-11-13 | 1998-11-24 | Memc Electronic Materials, Inc. | Apparatus for cleaning semiconductor wafers |
| US5992431A (en) * | 1996-04-24 | 1999-11-30 | Steag Microtech Gmbh | Device for treating substrates in a fluid container |
| US6059891A (en) * | 1997-07-23 | 2000-05-09 | Tokyo Electron Limited | Apparatus and method for washing substrate |
| US6115867A (en) * | 1997-08-18 | 2000-09-12 | Tokyo Electron Limited | Apparatus for cleaning both sides of substrate |
| US6269822B1 (en) * | 1996-04-17 | 2001-08-07 | Steag Microtech Gmbh | Installation for wet-treating substrates |
| US6431184B1 (en) | 1997-08-05 | 2002-08-13 | Tokyo Electron Limited | Apparatus and method for washing substrate |
| WO2002091435A3 (de) * | 2001-05-10 | 2003-03-27 | Mattson Wet Products Gmbh | Vorrichtung zum nassreinigen von scheibenförmigen substraten |
| CN120816395A (zh) * | 2025-09-16 | 2025-10-21 | 奥芯半导体科技(太仓)有限公司 | 玻璃基板边缘打磨设备及生产工艺 |
-
1989
- 1989-09-28 JP JP25311289A patent/JPH03116731A/ja active Pending
Cited By (17)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5269643A (en) * | 1991-03-22 | 1993-12-14 | Danippon Screen Manufacturing Co., Ltd. | Method and apparatus for transferring wafers from wafer carrier to wafer conveyor apparatus in carrierless wafer surface treatment apparatus |
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| US6115867A (en) * | 1997-08-18 | 2000-09-12 | Tokyo Electron Limited | Apparatus for cleaning both sides of substrate |
| US6276378B1 (en) | 1997-08-18 | 2001-08-21 | Tokyo Electron Limited | Apparatus for cleaning both sides of substrate |
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| CN120816395A (zh) * | 2025-09-16 | 2025-10-21 | 奥芯半导体科技(太仓)有限公司 | 玻璃基板边缘打磨设备及生产工艺 |
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