JPH03120445A - 自動蛍光光度測定装置 - Google Patents

自動蛍光光度測定装置

Info

Publication number
JPH03120445A
JPH03120445A JP25794289A JP25794289A JPH03120445A JP H03120445 A JPH03120445 A JP H03120445A JP 25794289 A JP25794289 A JP 25794289A JP 25794289 A JP25794289 A JP 25794289A JP H03120445 A JPH03120445 A JP H03120445A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fluorescence
light source
output
sample
dark current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP25794289A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Hashimoto
橋本 汎
Hiroshi Umetsu
梅津 広
Fumihisa Hamazaki
浜崎 文寿
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP25794289A priority Critical patent/JPH03120445A/ja
Publication of JPH03120445A publication Critical patent/JPH03120445A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は蛍光光度計に係わり、とくに臨床検査用自動分
析装置等に好適な、自動的に較正を行ない迅速、正確、
かつ連続的に測定を行なうことのできる自動蛍光光度測
定装置に関する。
[従来の技術] 蛍光光度計では、試料に励起光を照射して得られる微弱
な蛍光(2次光)の強度を測定する。しかし、上記蛍光
の強度は上記励起光の強度に依存するので、特開昭59
−125043号公報に記載のように、上記蛍光の検出
器の他に励起光モニタ用の光検出器を設け、感度を較正
するようにしていた。
[発明が解決しようとする課題] 上記蛍光光度計では、上記励起光の変動の他に、上記蛍
光検出器の感度や暗電流の変動が測定誤差の原因となる
。さらに、上記、励起光モニタ用の光検出器の感度や暗
電流の変動も測定誤差の原因となる。従来からこれらの
測定誤差要因に対してそれぞれの較正手段が適宜、al
tしられている。しかし、上記励起光検出器の暗電流や
蛍光電流等は極めて微弱であるため、これらを精度よく
検出して較正するためには、例えば時定数が1秒程度の
低域通過フィルタを用いる必要があり、上記較正時間が
長引くという問題があった。とくに多くの試料を連続し
て迅速に測定する必要のある臨床検査用自動分析装置等
ではその改善が強く望まれていた。
本発明の目的は上記較正を効率よく自動的に行なう自動
蛍光光度測定装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 本発明は上記の目的を達成するために、発光ダイオード
等の特性が安定な基準光源を設け、これにより蛍光検出
器の特性を自動的に較正するようにする。このため、ま
ず、基準試料の蛍光光度を測定して記憶し、この値を参
照して上記基準光源の光度を自動的に設定するようにす
る0次いで、上記基準光源に対する蛍光検出器出力と上
記基準試料の蛍光光度とを比較して上記蛍光検出器の感
度を自動的に補正するようにする。
さらに、試料が発生する蛍光の光度と励起光光度との比
を算出して蛍光光度を基準化し、励起光光度の変動の影
響を除去するようにする。
さらに、上記蛍光検出器と上記励起光検出器の暗電流を
記憶し、測定結果からこれらを自動的に除外するように
する。
[作用] 以上のように構成した本発明の自動蛍光光度測定装置は
、励起光強度で基準化した蛍光測定データを出力する。
さらに、上記励起光と蛍光のそれぞれの検出器の暗電流
による測定誤差7を除去する。
さらに、上記蛍光検出器の感度変動を、予め基準試料に
より較正した安定な基準光源により正確に補正する。
さらに、少なくともメモリと演算部とを備えたコンピュ
ータ装置により、上記測定と、誤差の補正と、較正動作
等を自動的に迅速に行なう。
[実施例コ 以下、本発明の実施例を図面を用いて説明する。
まず、第2〜4図により、本発明による蛍光測定法とそ
の較正法の原理を説明する。
第2図は本発明による蛍光測定法を説明する図である。
同図(a)において、蛍光の検出器(フォトマルチプラ
イヤ)32は遮光され、電源38から電圧が印加されて
いるので暗電流を出力している。この暗電流の値はメモ
リ101に記憶される。1!源38の出力電圧調整端子
381は基準電位に接続されている。同様に励起光検出
器24の暗電流の値もメモリ102に記憶される。
第2図(b)は試料26の発する蛍光の測定法を示す図
である。試料26は光源17よりの励起光照射により蛍
光を発し、この蛍光はフォトマルチプライヤ32により
受光される。フォトマルチプライヤ32は上記暗電流の
上に上記蛍光に応じた蛍光電流を重畳して出力するので
、予め記憶しておいた暗電流分をメモリ101より読み
だし、減算器103により減算し、上記蛍光電流成分の
みを除算器105に入力する。また、光源17の光出力
成分はハーフミラ−23を介して励起光検出器24によ
り検出され、同様に予めメモリ102に記憶させておい
た暗電流分を減算器103により減算し、除算器105
に印加する。上記の動作により、除算器105の出力は
蛍光出力を励起光出力で基準化した値となるので光源1
7の出力変動に無関係となる。
したがって、第2図(b)に示した測定により。
暗電流と励起光変動の影響を除いた蛍光の測定が可能と
なる。
しかし、フォトマルチプライヤ32は上記蛍光測定系の
中では、感度や暗電流等が最も変動しやすい要素であり
、暗電流の影響は上記の方法で取り除けるものの、感度
の変動は別途対策を講する必要がある。
第3図は本発明による上記フォトマルチプライヤ32の
感度較正法を示す図である。同図(a)において、フォ
トマルチプライヤ32には基準試料261が発する蛍光
が入射され、その蛍光出力成分はメモリ106に記憶さ
れる。この蛍光出力成分を基準として他の試料の蛍光出
力成分を較正することができる。
しかし、この測定は試料の差替えに時間を要するので、
頻繁に行なうわけにはいかない、そこで、第3図(b)
に示すように、上記基準試料261の出力と等価な基準
となる光源29を用意するようにする。光源29には例
えばLED等の経済的に安定な発光ダイオードを用いる
。減算器108は、光源29に対するフォトマルチプラ
イヤ32出力からメモリ106に記憶された基準試料2
61に対する同出力を減算し、その結果を電源107に
入力して光源29の発光量を制御する。このようなフィ
ードバック経路により、光源29に対するフォトマルチ
プライヤ32の出力は、基準試料261に対する同出力
と等しくなるので、この状態で光M29の輝度、すなわ
ち電WX107の電圧を固定すれば、以後は光源29を
基準試料261の代わりに用いることができる。
第4図は上記のようにして光源29の輝度を固定した以
後のフォトマルチプライヤ32の感度変動を補償する本
発明の方法を示す図である。第3図(b)の方法で輝度
を所定の値に設定した光源29の光をフォトマルチプラ
イヤ32に入射し、その出力からメモリ101に記憶さ
せた暗電流分を差し引き、ついでメモリ106に記憶さ
せた基準試料に対する出力分を差し引き、その残分を電
源38に印加しその出力電圧を制御するようにする。
フォトマルチプライヤ32の電流増幅率は第5図に示す
ように、印加する電圧の値に応じて変化するので、第4
図の電源38の電圧を変化させてフォトマルチプライヤ
32の感度を制御することが出来る。
したがって、第4図に示したフォトマルチプライヤ32
に対するフィードバック経路により、フォトマルチプラ
イヤ32の光源29に対する出力が基準試料に対する出
力に常に一致するように動作するので、基準試料216
を用いることなく光源29により迅速、かつ自動的にフ
ォトマルチプライヤ32の感度変動を補償することが出
来るのである。
第1図は上記の第2〜4図の方法をコンピュータ41に
より具体化した本発明の実施例を示す図である。フォト
マルチプライヤ32、励起光検出器24等の出力はそれ
ぞれプリアンプ33.34、およびAD変換器(アナロ
グ・デジタル変換器)35.36を介してコンピュータ
41に取り込まれる。また、コンピュータ41はインタ
ーフェイス39を介して光源29を点灯し、また、試料
や基準試料等を搬送する駆動機構3aや他の機構系40
等を駆動する。
光源17の前部にはソレノイド45により駆動されるシ
ャッタ46が設けられ、第2図(a)に示した各暗電流
を測定する際にはコンピュータ41の指令により、シャ
ッタ46に閉じて、光源29は遮断し、フォトマルチプ
ライヤ32と励起光検出器24の暗電流をそれぞれプリ
アンプ33.34、およびAD変換器35.36等を介
してコンピュータ41内のメモリ411に記憶する。こ
のとき、コンピュータ41は所定の参照信号をDA変換
器37に送り、flt源38の出力電圧を基準の電圧値
に設定する。
第3図(a)に示した基準試料を測定するときは、コン
ピュータ41は駆動機構3att111g動して基準試
料を設定し、シャッタ46を開き、光源17の光を基準
試料に照射し、その蛍光強度をフォトマルチプライヤ3
2により検出し、コンピュータ41内の演算部412に
よりメモリ411に記憶された上記暗電流値を差引いて
メモリ411内の所定の領域に記憶する。このときも電
源38は基準の電圧値を発生している。
次いで第3図(b)に示したように光源29の出力を設
定するときは、シャッタ46を閉じ、光源29を点灯し
てフォトマルチプライヤ32の出力からメモリ411に
記憶された上記暗電流値と上記基準試料に対する出力値
を差引き、その残差がゼロに向かって収斂するように光
源29の電流を制御し、所定の範囲内に収斂したところ
でその値をメモリ411内に記憶させる。以後、光源2
9はメモリ411に記憶された上記電流値により駆動さ
れ、基準光源として用いられる。
以上の準備作業の後、試料の蛍光測定が自動的に行なわ
れる。即ち、N動機構3atilli動して試料を挿入
し、シャッタ46を開いて励起光強度を励起光検出器2
4により検出し、同時に試料26の蛍光をフォトマルチ
プライヤ32により検出してコンピュータ41に送り、
演算部412により上記両信号から予めメモリ411に
記憶されているそれぞれの暗電流成分を差引いたうえ、
蛍光信号成分を励起光成分で除算して基準化された蛍光
信号を生成し、これをデスプレイ43、プリンタ44等
に送出する。
上記の蛍光測定が繰返し行なわれるうちに、フォルチプ
ライヤ32の感度が次第に変化する。したがって、予め
定められた頻度、或いは必要に応じて第4図に示したフ
ォトマルチプライヤ32の感度補正を行なう、即ち、シ
ャッタ46を閉じて光源29を点灯し、演算部412に
よりフォトマルチプライヤ32の出力とメモリ411し
こ記憶されている上記基準試料信号とを比較し、その差
信号により電源38を駆動し、この両者のイ直が所定の
誤差範囲内に入った時の電源38の駆動値をメモリ41
1に記憶させ、この値により1次の上記感度補正までの
間、電源38を駆動するよう番こする。
同様に、暗電流の補正も随時行うことが出来る。
第6図は上記した本発明の自動蛍光強度計の安定度を従
来のそれと比較して測定したデータである。従来装置の
相対蛍光感度はAに示すよう番こ4時間経過後に略4%
低下する。これに対し、本発明の装置ではBに示すよう
に4時間で1%以下となり、安定度は略4倍に向上した
ことがわ力する。
この効果は光源29を用い、フォトマルチプライヤ32
の感度補正を行なったことによる。
第7図は臨床検査用自動分析装置に用b1られる試料の
自動搬送装置の概要を示す図であり、第1図に示した駆
動機構3a、反応ディスク2、反応容器1.試料26等
の部分に該当する。第7図番こおいて、右側には試料容
器8を登載した試料ディスク7と、試薬容器12を登載
した試薬ディスク10が同軸に置かれ、左側には反応容
器1を備えた反応ディスク2が配置されている。試薬デ
ィスク10と試料ディスク7は保冷槽13内に、また。
反応ディスク2は恒温槽5内に収められ、各ディスクは
コンピュータ41により制御されて回転し、所定の位置
に所定の試料容器や試薬容器、および、反応容器等を搬
送するようになっている。搬送された試料と試薬はピペ
ッテング機構14により所定の反応容器内に順次取出さ
れる。このようにして、所定の試料と試薬等を登載した
反応容器が順次、蛍光光度計6内に送り込まれる都度、
上記の測定が行なわれデータが取られる。測定の終わっ
た反応容器は洗浄部4にて洗浄され、また、ピペッテン
グ機構14のプローブ15は反応容器から戻る際に洗浄
装置!16により洗浄されて次の動作に移るようになっ
ている。
第8図は上記の搬送動作と光源29を用いて行なうフォ
トマルチプライヤ32の感度補正との関連を説明するタ
イミングチャートである。第8図を上から順に説明する
。一つの試料の測定サイクルは18秒である。まず、反
応ディスク2が1ピッチ回転し、洗浄済みの反応容器を
所定の位置に搬送する0次いで試料ディスクを回転させ
、所定の試料を搬送する。この間、ピペツテング機横1
4は洗浄装置16により洗浄され、次いで試料側に回転
し、試料を取出し反応容器側に回転して試料を投入する
。第8図では省略されているが、試薬も同様にして必要
な種類だけ反応容器内に取出される。ピペツテング機構
14のプローブ15はそのアームが回転中は上側に持ち
上げられ、また、試料側では吸入、反応容器側では吐出
動作をおこなう、上記試料と試薬の吐出が完了するとシ
ャッタ46が開き、蛍光測定が行なわれる。また、その
前の時間帯に光源29を点灯させてフォトマルチプライ
ヤ32の感度補正を行なう。光源29の点灯によりプリ
アンプ33には出力が発生する。
その出力電圧の値をAD変換器35を動作させてコンピ
ュータ41に取込み、前述した基準試料に対する出力値
と比較し、不足ならば電源38の出力電圧を1ステップ
高めて、上記の比較を行ない。
これを繰返してプリアンプの出力が上記基準試料に対す
る出力値と一致したところで電源38の出力を固定する
ようにする。上記基準試料は例えば試料容器の一つに収
容されている。また、光源17からの励起光強度はシャ
ッタ46が開いている間にAD変換器36を動作させて
測定し、励起光検出器24の暗電流は測定サイクルの中
の各光源が遮断されている間に測定する。
[発明の効果] 以上詳述したように本発明を適用すると、励起光強度で
基準化した蛍光測定データが得られるので、励起光変動
の影響を取り除くことが出来る。
さらに、上記励起光と蛍光のそれぞれの検出器の暗電流
による測定誤差を除くことが出来る。
さらに、上記蛍光検出器の感度変動を、予め基準試料に
より較正した安定な基準光源により正確に補正すること
ができる。
さらに、少なくともメモリと演算部とを備えたコンピュ
ータ装置により、上記測定と、誤差の補正と、較正動作
等を自動的に迅速に行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の自動蛍光測定装置の実施例図、第2図
(a)は本発明による蛍光検出器とその励起光検出器等
の暗電流検出法を示す図、第2図(b)は試料の蛍光と
その励起光を検出して励起光強度により基準化された蛍
光強度出力をうる本発明の原理図、第3図(a)は基準
試料の蛍光強度の測定法を示す図、第3図(b)は基準
光源の輝度を所定の値に設定する本発明の詳細な説明す
る図、第4図は基準光源により蛍光検出器の感度を補正
する本発明の方法を示す図、第5図は蛍光検出用のフォ
トマルチプライヤの特性図、第6図は本発明による蛍光
測定装置の経時的安定性を従来装置のそれと比較して示
す図、第7図は試料と試薬等の搬送装置の説明図、第8
図は本発明の蛍光測定装置の動作を説明するタイムチャ
ートである。 1・・・反応容器、2・・・反応ディスク、3a・・・
駆動機構、4・・・洗浄部、5・・・恒温槽、6・・・
蛍光光度計、7・・・試料ディスク、8・・・試料容器
、10・・・試薬ディスク、13・・・保温槽、14・
・・ピペツテング機構、15・・・プローブ、16・・
・洗浄機構、17・・・光源。 23・・・ハーフミラ−24・・・励起光検出器、26
・・・試料、261・・・基準試料、29・・・光源、
32・・・フォトマルチプライヤ、33・・・プリアン
プ、35・・・AD変換器、38・・・電源、39・・
・インターフェイス、41・・・コンピュータ、411
・・・メモリ、412・・・演算部、42・・・キーボ
ード、43・・・デスプレイ、44・・・プリンタ、4
5・・・ソレノイド、46・・・シャッタ、101・・
・メモリ、103・・・減算器、105・・・除算器、
107・・・電源。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、試料に励起光を照射して得られる蛍光の光度を測定
    する蛍光光度測定装置において、基準光源と基準値記憶
    装置と、比較手段と、蛍光検出器を駆動する第1の電源
    と、第1の電源の制御値記憶手段とを備え、上記基準光
    源に対する上記蛍光検出器の出力と上記基準値記憶装置
    が記憶する基準値とを上記比較手段により比較して得ら
    れる第1の比較信号により第1の電源の電圧を制御し、
    第1の比較信号を第1の電源の制御値記憶手段に記憶さ
    せるようにしたことを特徴とする自動蛍光光度測定装置
    。 2、請求項1において、 上記蛍光検出器に基準試料が発生する蛍光を入射して得
    られる蛍光光度信号を上記基準値記憶装置に記憶させる
    ようにしたことを特徴とする自動蛍光光度測定装置。 3、請求項1又は2において、 上記基準光源を駆動する第2の電源と、第2の電源の制
    御値記憶手段とを備え、上記基準光源に対する上記蛍光
    検出器の出力と上記基準値記憶装置が記憶する基準値と
    を上記比較手段により比較して得られる信号により第2
    の電源の電圧を制御し、第2の比較信号を第2の電源の
    制御値記憶手段に記憶させるようにしたことを特徴とす
    る自動蛍光光度測定装置。 4、請求項1ないし3のいずれかにおいて、上記励起光
    の検出手段と、除算手段とを備え、上記蛍光検出器の出
    力と上記励起光の検出手段の出力とを上記除算手段に入
    力させるようにしたことを特徴とする自動蛍光光度測定
    装置。 5、請求項1ないし4のいずれかにおいて、上記励起光
    検出手段の暗電流を記憶する第1の暗電流記憶手段と、
    上記励起光検出手段の出力から第1の暗電流記憶手段が
    記憶する暗電流値を減算する減算手段と、上記蛍光検出
    器の暗電流を記憶する第2の暗電流記憶手段と、上記蛍
    光検出器の出力から第2の暗電流減算手段が記憶する暗
    電流値を減算する減算手段とを備えたことを特徴とする
    自動蛍光光度測定装置。 6、請求項1ないし5のいずれかにおいて、少なくとも
    、上記基準光源を点灯する手順と、上記蛍光検出器の出
    力と上記基準値記憶装置が記憶する基準値とを上記比較
    手段により比較する手順と、上記第1の比較信号により
    上記第1の電源の電圧を制御する手順と、第1の比較信
    号を第1の電源の制御値記憶手段に記憶させる手順とを
    記憶する記憶装置を備えたことを特徴とする自動蛍光光
    度測定装置。 7、請求項1ないし6のいずれかにおいて、少なくとも
    、上記基準試料を搬送する手順と、上記基準試料の蛍光
    光度を基準値として記憶する手順と、上記基準光源を点
    灯し、上記基準光源に対する上記蛍光検出器の出力と上
    記基準値とを比較し上記第2の比較信号を得る手順と、
    第2の比較信号により第2の電源の電圧を制御し、第2
    の比較信号を第2の電源の制御値記憶手段に記憶させる
    手順とを記憶する記憶装置を備えたことを特徴とする自
    動蛍光光度測定装置。
JP25794289A 1989-10-04 1989-10-04 自動蛍光光度測定装置 Pending JPH03120445A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25794289A JPH03120445A (ja) 1989-10-04 1989-10-04 自動蛍光光度測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25794289A JPH03120445A (ja) 1989-10-04 1989-10-04 自動蛍光光度測定装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03120445A true JPH03120445A (ja) 1991-05-22

Family

ID=17313350

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25794289A Pending JPH03120445A (ja) 1989-10-04 1989-10-04 自動蛍光光度測定装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03120445A (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999057545A1 (en) * 1998-05-04 1999-11-11 General Scanning, Inc. Scanning system and method of operation for automatically setting detection sensitivity
JP2006051273A (ja) * 2004-08-16 2006-02-23 Kowa Co 受光検知方法、光測定装置および眼科測定装置
JP2007093249A (ja) * 2005-09-27 2007-04-12 Yokogawa Electric Corp 光量計測装置および光量計測方法
JP2007527529A (ja) * 2004-02-19 2007-09-27 ニュースキン インターナショナル インコーポレイテッド バイオ光学スキャニング較正方法
JP2011017721A (ja) * 2010-09-24 2011-01-27 Yokogawa Electric Corp 光量計測装置および光量計測方法
JP2012013450A (ja) * 2010-06-29 2012-01-19 Shimadzu Corp 蛍光検出装置
US8117044B2 (en) 2003-02-20 2012-02-14 Nse Products, Inc. Bio-photonic feedback control software and database
US8116842B2 (en) 2004-06-10 2012-02-14 Nse Products, Inc. Bio-photonic feedback control software and database
CN103175812A (zh) * 2011-12-21 2013-06-26 阿自倍尔株式会社 微生物检测装置的校正方法、以及微生物检测装置的校正套件
JP2015059802A (ja) * 2013-09-18 2015-03-30 コニカミノルタ株式会社 イムノアッセイ分析方法およびイムノアッセイ分析装置
JP2016156696A (ja) * 2015-02-24 2016-09-01 アズビル株式会社 粒子検出装置
JP2016170073A (ja) * 2015-03-13 2016-09-23 浜松ホトニクス株式会社 計測装置及び計測方法
CN111373267A (zh) * 2018-01-26 2020-07-03 株式会社日立高新技术 自动分析装置和自动分析装置的控制方法

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999057545A1 (en) * 1998-05-04 1999-11-11 General Scanning, Inc. Scanning system and method of operation for automatically setting detection sensitivity
US8117044B2 (en) 2003-02-20 2012-02-14 Nse Products, Inc. Bio-photonic feedback control software and database
JP2007527529A (ja) * 2004-02-19 2007-09-27 ニュースキン インターナショナル インコーポレイテッド バイオ光学スキャニング較正方法
US8116842B2 (en) 2004-06-10 2012-02-14 Nse Products, Inc. Bio-photonic feedback control software and database
JP2006051273A (ja) * 2004-08-16 2006-02-23 Kowa Co 受光検知方法、光測定装置および眼科測定装置
JP2007093249A (ja) * 2005-09-27 2007-04-12 Yokogawa Electric Corp 光量計測装置および光量計測方法
JP2012013450A (ja) * 2010-06-29 2012-01-19 Shimadzu Corp 蛍光検出装置
JP2011017721A (ja) * 2010-09-24 2011-01-27 Yokogawa Electric Corp 光量計測装置および光量計測方法
CN103175812A (zh) * 2011-12-21 2013-06-26 阿自倍尔株式会社 微生物检测装置的校正方法、以及微生物检测装置的校正套件
JP2015059802A (ja) * 2013-09-18 2015-03-30 コニカミノルタ株式会社 イムノアッセイ分析方法およびイムノアッセイ分析装置
JP2016156696A (ja) * 2015-02-24 2016-09-01 アズビル株式会社 粒子検出装置
JP2016170073A (ja) * 2015-03-13 2016-09-23 浜松ホトニクス株式会社 計測装置及び計測方法
CN111373267A (zh) * 2018-01-26 2020-07-03 株式会社日立高新技术 自动分析装置和自动分析装置的控制方法
EP3745138A4 (en) * 2018-01-26 2021-09-22 Hitachi High-Tech Corporation AUTOMATED ANALYZER AND METHOD FOR AUTOMATED ANALYZER CONTROL
US11499983B2 (en) 2018-01-26 2022-11-15 Hitachi High-Tech Corporation Automatic analysis apparatus and method for controlling automatic analysis apparatus
CN111373267B (zh) * 2018-01-26 2023-10-24 株式会社日立高新技术 自动分析装置和自动分析装置的控制方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH03120445A (ja) 自動蛍光光度測定装置
EP0355738B1 (en) Fluorophotometer for use in automatic equipment of chemical analysis for measuring the intensity of fluorescence in the automatic equipment
US7671984B2 (en) Spectrometric measuring probe and method for recalibrating the same
US20070188759A1 (en) Colorimeter operating on color matching logic
US20030062485A1 (en) Compact multiwavelength phase fluorometer
US4622468A (en) Fluorescence intensity compensation method and device
US8252593B2 (en) Sample analyzer and calibration method of sample analyzer
JPH0371064B2 (ja)
US9829430B2 (en) Spectrophotometer
US4921351A (en) Spectrophotometer comprising a xenon flashtube as a light source
JP3650558B2 (ja) 反射率測定装置
JPH04130248A (ja) 自動分析装置
CN116165150A (zh) 样本分析仪、样本分析仪的信号采集方法
JP6836522B2 (ja) 自動分析装置、及び自動分析装置の制御方法
GB2059580A (en) Fluorometer with high sensitivity and stability
JPH10132735A (ja) 自動分析装置
JP2000046734A (ja) 微量光測定装置
WO2020116058A1 (ja) 分析装置及び分析方法
JPH06308131A (ja) データ処理装置
JP3005364B2 (ja) 光学的試料測定装置
JPH0961351A (ja) 含水分検知装置・含水分測定方法および含水分測定装置
US20180067140A1 (en) Signal offset determination and correction
US20060040401A1 (en) Method and equipment for measuring the concentration of antiseptic solution
JPH1082733A (ja) 基準反射体の汚れ検出方法、反射率測定装置、および記憶媒体
JPH01284758A (ja) 自動化学分析装置