JPH03122502A - ゼロセットゲージ付設型ハイトゲージ - Google Patents
ゼロセットゲージ付設型ハイトゲージInfo
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- JPH03122502A JPH03122502A JP26112189A JP26112189A JPH03122502A JP H03122502 A JPH03122502 A JP H03122502A JP 26112189 A JP26112189 A JP 26112189A JP 26112189 A JP26112189 A JP 26112189A JP H03122502 A JPH03122502 A JP H03122502A
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Landscapes
- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、ノギス若しくはマイクロ表示型式のゼロセッ
トゲージの構成とスライダの構成に係り双方に授託、受
容構造を与えたことを特徴とするゼロセットゲージ付設
型ハイトゲージに關する。
トゲージの構成とスライダの構成に係り双方に授託、受
容構造を与えたことを特徴とするゼロセットゲージ付設
型ハイトゲージに關する。
[従来の技術]
ハイトゲージは、スライダ機構および、これを昇降自在
に案内するため基盤面に垂設した支柱を主体として構成
され、スライダを駆動操作することによって、その側方
に突出させたスクライバの先端を、同一平面上に置かれ
た測定物に接触して。
に案内するため基盤面に垂設した支柱を主体として構成
され、スライダを駆動操作することによって、その側方
に突出させたスクライバの先端を、同一平面上に置かれ
た測定物に接触して。
スライダ機構に装備した計器の表示値を読み取る高さ測
定器であって、加工過程における工程管理流通過程にお
ける品質管理などに汎用されている。
定器であって、加工過程における工程管理流通過程にお
ける品質管理などに汎用されている。
以下、二件を引用して實施態様に就き概説する。
(1)工程管理
に製作所では精密部品の精度認定等に活用される。
スクライバの手動触接では、微小力差で指度が変転し、
見極わめ難い憾みがある。そこで計器を基盤ごと擦り動
かせて、スクライバ接触度合いの燗診を試み、さらに測
定物の肩に対する当り感を診るなど逆診断して妥協し、
やっと−件落着する。
見極わめ難い憾みがある。そこで計器を基盤ごと擦り動
かせて、スクライバ接触度合いの燗診を試み、さらに測
定物の肩に対する当り感を診るなど逆診断して妥協し、
やっと−件落着する。
(2)品質管理
N製薬会社では薬品容器の誤差判定に専用される。
軟質の合成樹脂容器を検定する作業であるから繰り返し
誤差を伴い、また複数の人が携わるので交替誤差が加重
される筈なのに、夫々のデータは総て容器の不揃いとし
て、鵜呑み的に集計される。
誤差を伴い、また複数の人が携わるので交替誤差が加重
される筈なのに、夫々のデータは総て容器の不揃いとし
て、鵜呑み的に集計される。
つまり、従来のハイトゲージの操作特性には、精度重視
に能率低下、能率優先に精度低下という、いずれにして
も避は難い背中合せの因果がある。
に能率低下、能率優先に精度低下という、いずれにして
も避は難い背中合せの因果がある。
この帰結は、ソフトと安定を要諦とするスクライバ圧力
が・・・・スライダ駆動に関わる過大抵抗を通じて端末
支給されるため、手元で逆探知し難い(従って調整し難
い)ことに端を発している。
が・・・・スライダ駆動に関わる過大抵抗を通じて端末
支給されるため、手元で逆探知し難い(従って調整し難
い)ことに端を発している。
そこで、特に緻密計測を要するとき、−音曲の「とおし
かん」凝視による間隙透視さなからの。
かん」凝視による間隙透視さなからの。
スクライバ逆用検証を余儀なくされるのである。
ともあれ折角の精密データが、実は精度の低い手探り測
定の結果を表すだけであって、測定物の実寸を告知する
ものでないとすれば、なにゆえの0、01.0.001
m11目盛りがと懐疑される0人の視覚や触感は到底
ミクロの識別をなし得ないがらである。
定の結果を表すだけであって、測定物の実寸を告知する
ものでないとすれば、なにゆえの0、01.0.001
m11目盛りがと懐疑される0人の視覚や触感は到底
ミクロの識別をなし得ないがらである。
こうした疑念や、皮肉な測定法を生み出す源は、概して
5以下列挙するスライダ機構の欠陥にある。
5以下列挙するスライダ機構の欠陥にある。
(イ)測定点、検出点の間に距離と仕組みがあり、撓み
、捻れ、遊び、抵抗等の誤差要因が伏在する。
、捻れ、遊び、抵抗等の誤差要因が伏在する。
(lull スクライバに力が加わると、遊びその他
の誤差諸因が活性化されて、誤表示する懸念がある。
の誤差諸因が活性化されて、誤表示する懸念がある。
(ハ)感覚に頼るスライダ操作には、交替誤差や繰り返
し誤差が混清し、ムラ表示する傾向がある。
し誤差が混清し、ムラ表示する傾向がある。
(ニ)スクライバ接触圧力をキャッチし難いので測定物
に弾性があるとき、歪曲表示の危惧がある。
に弾性があるとき、歪曲表示の危惧がある。
(ホ)スクライバと測定物は概ね面接触するのでゴミそ
の他が挟着し易く、過大表示する虞がある。
の他が挟着し易く、過大表示する虞がある。
ト)離隔点計測のため、スクライバのアームを伸長すれ
ば、技側差や誤要因を自乗的に増幅する。
ば、技側差や誤要因を自乗的に増幅する。
(ト)その他、同一規格品の通計に際し、総てに単重量
等の取り扱いを要するなどの泣き処がある。
等の取り扱いを要するなどの泣き処がある。
以上述べたように、従来のハイドケージ自体の測定体系
には、様々の撹乱因子や盲点が内在する。
には、様々の撹乱因子や盲点が内在する。
[発明が解決しようとする課題]
前項で述べたハイトゲージの欠陥解除の為には、スライ
ダ機構の遊び、抵抗などの消殺を図るのが本旨ではある
が、物理的に期待薄である。よって本発明では、専ら現
状忌避を画して解決策とする。
ダ機構の遊び、抵抗などの消殺を図るのが本旨ではある
が、物理的に期待薄である。よって本発明では、専ら現
状忌避を画して解決策とする。
[課題を解決するための手段]
(イ)前述した請書は総じて遠隔測定に起因する。
(ロ)他の計測器の殆どが直接タッチ方式である。
(ハ)タッチセンサー名の補助具(スクライバと測定物
の双方を電極とする電池点燈回路)もある。
の双方を電極とする電池点燈回路)もある。
本発明では上記総括して次の策を用いる、即ち従来機構
のスクライバを廃し、接触圧力の適否を数値で表示する
ゼロセットゲージを配すのである。
のスクライバを廃し、接触圧力の適否を数値で表示する
ゼロセットゲージを配すのである。
この零設定器は、タッチセンサーを内蔵するセンサーゲ
ージを、ゲージベースに装着して組成し、ゲージベース
アームの尾側端を、スライダ機構のアームホルダーに装
着して、前述の無駄や欠陥を排除した、ハイトゲージ機
構を構成するのである。
ージを、ゲージベースに装着して組成し、ゲージベース
アームの尾側端を、スライダ機構のアームホルダーに装
着して、前述の無駄や欠陥を排除した、ハイトゲージ機
構を構成するのである。
なお文中、本尺と副尺の「目盛り」を対比する形式(の
計器)を、ノギス形式(の計器)と称し、デジタル、或
いはアナログ、若しくはデジ・アナで表示する形式(の
計器)を、マイクロ表示型式(の計器)と総称し、該総
称に、請求項2記載の「ラックを施した体」の作りを「
ラックを施した扁平で矩形である体」に限定し第1実施
例体様の「ノギス状計器」を構成したとき、是に装着す
る「マイクロ表示型式の計器」の素計器を包含する。
計器)を、ノギス形式(の計器)と称し、デジタル、或
いはアナログ、若しくはデジ・アナで表示する形式(の
計器)を、マイクロ表示型式(の計器)と総称し、該総
称に、請求項2記載の「ラックを施した体」の作りを「
ラックを施した扁平で矩形である体」に限定し第1実施
例体様の「ノギス状計器」を構成したとき、是に装着す
る「マイクロ表示型式の計器」の素計器を包含する。
また、上記「称と総称」の定義をハイトゲージ本体なら
びに、主計器に対して流動的に準用する。
びに、主計器に対して流動的に準用する。
[作用]
以下、第2図(a)(b)[C)を主とし、第1図(a
)(blを従として1本機構の作用につき説明する。
)(blを従として1本機構の作用につき説明する。
(1)基準設定(平面測定盤に対する零設定)平面測定
盤りに、ゼロセットゲージ付設型ハイトゲージ2を設置
した後、タッチセンサー11に視点を置き、スライダS
を駆動操作し降下させる。
盤りに、ゼロセットゲージ付設型ハイトゲージ2を設置
した後、タッチセンサー11に視点を置き、スライダS
を駆動操作し降下させる。
タッチセンサー11が盤面に達したらセンサーゲージ1
2に視線を移して、微調整して零設定し、本尺移動その
他の手段で、主計器りを零設定する。
2に視線を移して、微調整して零設定し、本尺移動その
他の手段で、主計器りを零設定する。
(上記行程は準備作業、下記は実測作業)(2)測定作
業(測定体に対する零設定)スライダSを少し高目の位
置まで誘導してから。
業(測定体に対する零設定)スライダSを少し高目の位
置まで誘導してから。
センサーゲージ12の真下に測定体Xを設置し、タッチ
センサー11に注目してスライダst、i動する。測定
体Xに到達してからはセンサーゲージ12の方を注視し
て、微調整しなから零設定する。
センサー11に注目してスライダst、i動する。測定
体Xに到達してからはセンサーゲージ12の方を注視し
て、微調整しなから零設定する。
「センサーゲージ12が、主零点Tの前後に単数または
複数の副零点Uなどを保有しているばあい。
複数の副零点Uなどを保有しているばあい。
副針Wなどを併用し間違いないことを確認する」(3)
主計器りで測定体Xの面ヲの高さを謂取る。
主計器りで測定体Xの面ヲの高さを謂取る。
(4)基準設定は意図的に解除する迄有効である。
「主零点は0以外の任意記号で表記してもよい」(上記
作業は本来作業、以下は付帯作用)(5)派生機能(本
来作用から派生する機能)(イ)連続測定、誤差判定、
誤差集計 基準測定体Xに零設定しておけば、あとはレバー15の
操作だけでこと足りるから、同一規格品の連続測定また
は、誤差判定が迅速かつ確実になる。
作業は本来作業、以下は付帯作用)(5)派生機能(本
来作用から派生する機能)(イ)連続測定、誤差判定、
誤差集計 基準測定体Xに零設定しておけば、あとはレバー15の
操作だけでこと足りるから、同一規格品の連続測定また
は、誤差判定が迅速かつ確実になる。
誤差集計をするときは、センサーゲージ12に表示され
る士数値が、そのまま(+1(−1データとなる。
る士数値が、そのまま(+1(−1データとなる。
(ロ)加工作業の過程管理
主計器りを基準とする高さに零設定して用いると。
測定体Xの作業進捗度などのデータが把握される。
(ハ)穴、段差の測定
測定体Xの高さを測定すると、同一平面における穴ルの
深さ1段差ヌ寸法の計測が継続実施される。
深さ1段差ヌ寸法の計測が継続実施される。
(ニ)厚さ測定(第2図[b)参照)
平面測定盤し、あるいは測定台Yに零設定すれば、紙、
ビニール、ゴムその他の薄物力が測定できる。
ビニール、ゴムその他の薄物力が測定できる。
このばあい、副零点Uに設定替えして用いると。
測定寸法に余裕(図の副針Wで表わす)ができて、小物
部品、板材その他の厚物ワ測定が可能となる。
部品、板材その他の厚物ワ測定が可能となる。
(6)付加機能(機構改変その他に伴う機能)(イ)庇
の測定 タッチセンサー11’ を上に伸ばし、測定子Mを取り
付けた構造にすると、測定体X側面上縁から出張った庇
イの下面測定など、新用途が開かれる。
の測定 タッチセンサー11’ を上に伸ばし、測定子Mを取り
付けた構造にすると、測定体X側面上縁から出張った庇
イの下面測定など、新用途が開かれる。
(以下は、後述の自動切替装置に関する)(ロ) 側
面の穴1段差の測定 センサーゲージ12を左に横転できるような機構にする
と、タッチセンサー11“は11”に転換され、測定体
側面の穴へ、段差チの計測ができる。
面の穴1段差の測定 センサーゲージ12を左に横転できるような機構にする
と、タッチセンサー11“は11”に転換され、測定体
側面の穴へ、段差チの計測ができる。
()9 側面の膜幅測定
センサーゲージ12に半回転機能を与えると、レバー1
5はレバー型のセンサー16に変身して側面の膜幅り計
測、その他の目的に用いられる。
5はレバー型のセンサー16に変身して側面の膜幅り計
測、その他の目的に用いられる。
仁)側面穴の心出し、心間寸法の測定
センサー16の先端にV型の付属品■を遊装して使用す
ると、側面の穴二などの心出し、あるいは中心線ホルト
間など二点または多点間の心間寸法計測に使用できるな
ど、その性能は一層充実する。
ると、側面の穴二などの心出し、あるいは中心線ホルト
間など二点または多点間の心間寸法計測に使用できるな
ど、その性能は一層充実する。
なお、第1図(a)のノギス形式の計器(本尺副尺2逆
相的な変則ノギス)に対して本項を準用する。
相的な変則ノギス)に対して本項を準用する。
[第1実施例]
以下、第1図(a)(b)を用い請求項1、請求項3記
載のゼロセットゲージ付設型ハイトゲージ並びに。
載のゼロセットゲージ付設型ハイトゲージ並びに。
そのスライダ機構の構成について説明する。
センサーゲージ2は・・・・扁平であり、かつ物差し状
の矩形をなす体7部を有し、先端に測定子M(必要時を
除き説明を省略する)を装着した棒状のタッチセンサー
1を内蔵するノギス形式の計器である。そして体7には
副尺目盛り10を刻され、対峙する本尺8には本尺目盛
り9が施されている。
の矩形をなす体7部を有し、先端に測定子M(必要時を
除き説明を省略する)を装着した棒状のタッチセンサー
1を内蔵するノギス形式の計器である。そして体7には
副尺目盛り10を刻され、対峙する本尺8には本尺目盛
り9が施されている。
またセンサーゲージ2をゲージベース4に装着したのが
ゼロセットゲージ3であって、アーム5が側方に突出し
ているため外形がプラカード状を呈していることを特徴
とする零設定器である。
ゼロセットゲージ3であって、アーム5が側方に突出し
ているため外形がプラカード状を呈していることを特徴
とする零設定器である。
上述の構成において、センサーゲージ2はゲージベース
4に固定され随伴昇降するが、タッチセンサー1は常に
は同行し、測定体Xに下降を阻止されたとき停止して、
下降中の本尺8と擦れ違う。
4に固定され随伴昇降するが、タッチセンサー1は常に
は同行し、測定体Xに下降を阻止されたとき停止して、
下降中の本尺8と擦れ違う。
このばあいの行き交い寸法は、センサーゲージ2の本尺
目盛り9と、副尺目盛りlOの対比によってノギス的に
拡幅され、零設定の目安となる。
目盛り9と、副尺目盛りlOの対比によってノギス的に
拡幅され、零設定の目安となる。
前記のアーム5は、ハイトゲージのスライダSに装備さ
れたアームホルダー6に装着するためのものであって、
該アームホルダー6に対して着脱屈伸自在な形状と、所
要の長さを与えられている。
れたアームホルダー6に装着するためのものであって、
該アームホルダー6に対して着脱屈伸自在な形状と、所
要の長さを与えられている。
(この屈伸とは、測定体の形状等に応じアームの有効長
を変更するために行う伸縮のことである)他方、ハイト
ゲージのスライダS機構には ゼロセットゲージ3の側
方に突出したアーム5を装着するのに適した構造を有す
る。アームホルダー6が装備しであるので、これにアー
ム5を装着して所要長で固定したとき、稼動態勢を整え
たゼロセットゲージ付設型ハイトゲージ2が構成される
。
を変更するために行う伸縮のことである)他方、ハイト
ゲージのスライダS機構には ゼロセットゲージ3の側
方に突出したアーム5を装着するのに適した構造を有す
る。アームホルダー6が装備しであるので、これにアー
ム5を装着して所要長で固定したとき、稼動態勢を整え
たゼロセットゲージ付設型ハイトゲージ2が構成される
。
[第2実施例コ
以下、第2図(a)(b)(C)を用い請求項2.請求
項3記載のゼロセットゲージ付設型ハイトゲージZ。
項3記載のゼロセットゲージ付設型ハイトゲージZ。
並びに、スライダS機構の構成について説明する。
センサーゲージ12は・・・・体17にラック(回倒で
はラック板19)を施されたスピンドル状のタッチセン
サー11を内蔵するマイクロ表示形式(本例のばあいア
ナログ表示形式)の計器である。
はラック板19)を施されたスピンドル状のタッチセン
サー11を内蔵するマイクロ表示形式(本例のばあいア
ナログ表示形式)の計器である。
このセンサーゲージ12をゲージベース14に装着した
ものがゼロセットゲージ13であって。
ものがゼロセットゲージ13であって。
アーム5が横に突出して杓子状の形態をしている。
なお、アーム5は第1実施例に記述したような役割と形
状を有し、タッチセンサー11は常態に於て垂下し、測
定物に接触したときのみ作動する仕組みであって、セン
サーゲージ12の表示値を凝視しながら微調整して、主
零点Tに零設定する。
状を有し、タッチセンサー11は常態に於て垂下し、測
定物に接触したときのみ作動する仕組みであって、セン
サーゲージ12の表示値を凝視しながら微調整して、主
零点Tに零設定する。
また、ゼロセットゲージ13はアーム5を第1実施例同
様、ハイトゲージのスライダS機構に装備されているア
ームホルダー6に装着して、ゼロセットゲージ付設型ハ
イトゲージ2を構成する。
様、ハイトゲージのスライダS機構に装備されているア
ームホルダー6に装着して、ゼロセットゲージ付設型ハ
イトゲージ2を構成する。
本実施例のセンサーゲージ12は、実用新案登録順・・
・偏心型マイクロ表示計器、および特許願(2)・・・
偏心型マイクロ表示計器に於ける自動切替装置に関し、
タッチセンサー11の作動線を本体の略、円接線上に配
設して、余分な出っ張りが測定体と干渉するのを避けた
構造を基体に、裏蓋回転軸を中心にして本体が回転し、
全角度測定を可能としたものである。そして在位(本図
のようにタッチセンサーが本体左辺を占める状態・・・
・以下同義)上下測定、右泣上上測定、上位左右測定、
下位左右測定の各位置で、タッチセンサーの測定方向が
上下(左右)自動的に切替わる機能を有している。
・偏心型マイクロ表示計器、および特許願(2)・・・
偏心型マイクロ表示計器に於ける自動切替装置に関し、
タッチセンサー11の作動線を本体の略、円接線上に配
設して、余分な出っ張りが測定体と干渉するのを避けた
構造を基体に、裏蓋回転軸を中心にして本体が回転し、
全角度測定を可能としたものである。そして在位(本図
のようにタッチセンサーが本体左辺を占める状態・・・
・以下同義)上下測定、右泣上上測定、上位左右測定、
下位左右測定の各位置で、タッチセンサーの測定方向が
上下(左右)自動的に切替わる機能を有している。
またレバー150尾端をタッチセンサー11の体17に
連接し、中間を軸支した仕掛けにすると。
連接し、中間を軸支した仕掛けにすると。
右位F下測定の姿勢に於て、レバー型のセンサー16に
変じ、側面の膜幅りなどの計測に重宝する。
変じ、側面の膜幅りなどの計測に重宝する。
とりわけ、先端にv型の付属品■を遊装して。
穴二などの心出しに使用すると、心の不一致はセンサー
16の傾きとなり、ゲージの振れに転じて数値化される
ので、スライダ直装の現行方式では望みえない、優れた
操作性と機能性が発揮される。
16の傾きとなり、ゲージの振れに転じて数値化される
ので、スライダ直装の現行方式では望みえない、優れた
操作性と機能性が発揮される。
ところで、上述した偏心型マイクロ表示計器は便宜例で
あって、バックプランジャー型その他のスピンドル式在
来計器1文中定義の項で寸記したノギス状計器などの登
用を妨げるものではない。
あって、バックプランジャー型その他のスピンドル式在
来計器1文中定義の項で寸記したノギス状計器などの登
用を妨げるものではない。
なお、以下は各実施例の図面に係る註記である。
点線を使用して、測定する側の変化用例を想定し。
任意の鎖線を用い、被測定側の横断面図を想定し。
要部を駆動した第2図(b)で、厚さ測定を想定する。
[発明の効果]
(1)機能効果
スライダ機構の諸欠陥が飛び越し排除されるので。
機構、技巧両面にわたる誤謬が回避される。
摩耗その他で遊び過多に陥っても、測定点側の負荷が微
小スプリングであり、影響が少ないので、それなりに安
定した、横ばい精度が保てる。
小スプリングであり、影響が少ないので、それなりに安
定した、横ばい精度が保てる。
測定子球面と測定体は、唯−点で接触するから。
異物介在などによる異常表示が忌避される。
(2)作用効果
煩雑な取り扱いを要する割に実効の上らなかった濃密作
業が素早く正確になる。したがって慣行のお手盛り集計
においても高精度が得られる。
業が素早く正確になる。したがって慣行のお手盛り集計
においても高精度が得られる。
(3)派生効果・・・・スライダ休止状態において・・
・誤差判定、誤差集計、厚さの連続測定、過程管理、穴
、段差計測などが、レバー操作だけで行なえる。
・誤差判定、誤差集計、厚さの連続測定、過程管理、穴
、段差計測などが、レバー操作だけで行なえる。
(4)付加効果・・・・測定体側面の庇、段差、膜幅。
穴、心出し、心間寸法計測などの便法が付随する。
以上要するに1本機構は視触感に頼る微調整を肩代りし
て、誤表示を斥は併せて機能を向上する。
て、誤表示を斥は併せて機能を向上する。
第1図(a)は第一実施例の一部を破断した正面図(b
)はその一部を破断した斜視図 第2図[a)は第二実
施例の一部を破断した正面図 (b)はその厚さ測定作
用想定図 (C)は同じく一部を破断した斜視図。 1.11.11°、11”・・・タッチセンサー2.1
2・・・センサーゲージ 3,13・・・ゼロセットゲ
ージ 4.14・・・ゲージベース 5・・・アーム6
・・・アームホルダー 7,17・・・体 8・・・本
尺9・・・本尺目盛 10・・・副尺目盛 15・・・
レバー16・・・センサー 18・・・ロックレバ−1
9・・・ラック板 20.21・・・スプリング 22
・・・ポール。 B・・・基盤 DN・・・主計器 L・・・平面測定盤
M・・・測定子 S・・・スライダ T・・・主零点
U・・・副零点 ■・・・付属品 W・・・副針 X
・・・測定体 Y・・・測定台 2・・・ゼロセットゲ
ージ付設型ハイトゲージ。 イ・・・庇 ロニヘル・・・穴 ハホト・・・中心線
チヌ・・・段差 リ・・・膜幅 ヲ・・・面 ワ・・・
厚物 力・・・薄物。
)はその一部を破断した斜視図 第2図[a)は第二実
施例の一部を破断した正面図 (b)はその厚さ測定作
用想定図 (C)は同じく一部を破断した斜視図。 1.11.11°、11”・・・タッチセンサー2.1
2・・・センサーゲージ 3,13・・・ゼロセットゲ
ージ 4.14・・・ゲージベース 5・・・アーム6
・・・アームホルダー 7,17・・・体 8・・・本
尺9・・・本尺目盛 10・・・副尺目盛 15・・・
レバー16・・・センサー 18・・・ロックレバ−1
9・・・ラック板 20.21・・・スプリング 22
・・・ポール。 B・・・基盤 DN・・・主計器 L・・・平面測定盤
M・・・測定子 S・・・スライダ T・・・主零点
U・・・副零点 ■・・・付属品 W・・・副針 X
・・・測定体 Y・・・測定台 2・・・ゼロセットゲ
ージ付設型ハイトゲージ。 イ・・・庇 ロニヘル・・・穴 ハホト・・・中心線
チヌ・・・段差 リ・・・膜幅 ヲ・・・面 ワ・・・
厚物 力・・・薄物。
Claims (3)
- (1)扁平で矩形をなす体7を有する棒状のタッチセン
サー1を内蔵するノギス形式のセンサーゲージ2と、一
端にアーム5を形成するゲージベース4を以て構成され
、該アームをハイトゲージのスライダS機構に装着する
のに適した形状としたことを特徴とする、ゼロセットゲ
ージ付設型ハイトゲージZに於ける、ゼロセットゲージ
3の構成 - (2)ラックを施した体17を有する棒状のタッチセン
サー11を内蔵するマイクロ表示形式のセンサーゲージ
12と、一端にアーム5を形成するゲージベース14を
以て構成され、該アームをハイトゲージのスライダS機
構に装着するのに適した形状としたことを特徴とする、
ゼロセットゲージ付設型ハイトゲージZに於ける、ゼロ
セットゲージ13の構成 - (3)請求項1、または請求項2記載のゲージベースの
アームに關し、該アームを着脱屈伸自在に受容するのに
適した構造を有することを特徴とするアームホルダー6
を装備してなる、ゼロセットゲージ付設型ハイトゲージ
ZにおけるスライダS機構の構成
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26112189A JPH03122502A (ja) | 1989-10-05 | 1989-10-05 | ゼロセットゲージ付設型ハイトゲージ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26112189A JPH03122502A (ja) | 1989-10-05 | 1989-10-05 | ゼロセットゲージ付設型ハイトゲージ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03122502A true JPH03122502A (ja) | 1991-05-24 |
Family
ID=17357392
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26112189A Pending JPH03122502A (ja) | 1989-10-05 | 1989-10-05 | ゼロセットゲージ付設型ハイトゲージ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03122502A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11740280B2 (en) | 2017-05-24 | 2023-08-29 | Tdk Electronics Ag | Electric component with fail safe element |
-
1989
- 1989-10-05 JP JP26112189A patent/JPH03122502A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US11740280B2 (en) | 2017-05-24 | 2023-08-29 | Tdk Electronics Ag | Electric component with fail safe element |
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