JPH03122945A - ミスランディングによる蛍光体の欠け量測定方法 - Google Patents
ミスランディングによる蛍光体の欠け量測定方法Info
- Publication number
- JPH03122945A JPH03122945A JP1259475A JP25947589A JPH03122945A JP H03122945 A JPH03122945 A JP H03122945A JP 1259475 A JP1259475 A JP 1259475A JP 25947589 A JP25947589 A JP 25947589A JP H03122945 A JPH03122945 A JP H03122945A
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- Japan
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- amount
- light
- mislanding
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- Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はシャドウマスク方式カラー陰極線管（以下、
ＣＲＴと言う）において、管面の蛍光体に対して電子ビ
ームのミスランデインクが生じた場合の蛍光体の未発光
領域の大きさ、即ち、蛍光体の欠け量を測定するための
ミスランデインクによる蛍光体の欠け量測定方法に関す
るものである。
ＣＲＴと言う）において、管面の蛍光体に対して電子ビ
ームのミスランデインクが生じた場合の蛍光体の未発光
領域の大きさ、即ち、蛍光体の欠け量を測定するための
ミスランデインクによる蛍光体の欠け量測定方法に関す
るものである。
一般に、テレビ、モニタ等に使用されるＣＲＴにおいて
は、その管体の製造時の不均一性や電子銃あるいは偏向
ヨーク等の不均一性等により、電子ビームのランディン
グが蛍光面の全面に均一に行われないことが多く、特に
管面のコーナ部において電子ビームのミスランデインク
が生じ易い。
は、その管体の製造時の不均一性や電子銃あるいは偏向
ヨーク等の不均一性等により、電子ビームのランディン
グが蛍光面の全面に均一に行われないことが多く、特に
管面のコーナ部において電子ビームのミスランデインク
が生じ易い。
このミスランデインクに関する計測項目の一つとして、
蛍光体の欠け量を測定する必要がある。
蛍光体の欠け量を測定する必要がある。
第８図（ａｌ 、 （ｂｌは従来のミスランデインクに
よる蛍光体の欠け量測定方法を示す構成図であり、図に
おいて、１はＣＲＴ、２はＣＲＴｌのネック部に設けら
れた偏向ヨーク、３はＣＲＴｌの管面を拡大して目視す
るＣＲＴ用顕微鏡、４はＣＣＤカメラ、５はＣＣＤカメ
ラ４に取付けたレンズ系、６はＣＣＤカメラ４が接続さ
れた画像測定装置である。
よる蛍光体の欠け量測定方法を示す構成図であり、図に
おいて、１はＣＲＴ、２はＣＲＴｌのネック部に設けら
れた偏向ヨーク、３はＣＲＴｌの管面を拡大して目視す
るＣＲＴ用顕微鏡、４はＣＣＤカメラ、５はＣＣＤカメ
ラ４に取付けたレンズ系、６はＣＣＤカメラ４が接続さ
れた画像測定装置である。
次に動作について説明する。
第１の測定方法（第８図（ａ））は、ＣＲＴ用顕微鏡３
によりＣＲＴｌの管面の一部を拡大し、蛍光体と電子ビ
ームとのずれによる蛍光体の未発光領域の大きさを、顕
微鏡内スケール又は蛍光体の直径を目安として、目視に
より読取る。
によりＣＲＴｌの管面の一部を拡大し、蛍光体と電子ビ
ームとのずれによる蛍光体の未発光領域の大きさを、顕
微鏡内スケール又は蛍光体の直径を目安として、目視に
より読取る。
第２の測定方法（第８図（ｂ））は、ＣＣＤカメラ４に
よりレンズ系５を通じて管面の一部を撮像する。第９図
はＣＣＤカメラ４からの入力画像を示し、カメラ視野７
内には蛍光体８と周囲のブラックマトリクス部９とがあ
り、蛍光体８には電子ビーム１０が両者の中心がずれて
照射されており、このため蛍光体８には発光領域８ａと
未発光領域８ｂとが生じている。ここで、未発光領域８
ｂの最大幅を蛍光体８の欠け量ｅとする。
よりレンズ系５を通じて管面の一部を撮像する。第９図
はＣＣＤカメラ４からの入力画像を示し、カメラ視野７
内には蛍光体８と周囲のブラックマトリクス部９とがあ
り、蛍光体８には電子ビーム１０が両者の中心がずれて
照射されており、このため蛍光体８には発光領域８ａと
未発光領域８ｂとが生じている。ここで、未発光領域８
ｂの最大幅を蛍光体８の欠け量ｅとする。
上記発光領域８ａと未発光領域８ｂとブラックマトリク
ス部９とには明確な濃淡差があるので、この濃淡差を利
用して、画像測定装置６により、上記３つの部分のエツ
ジを検出し、２値化する等の画像処理を行うことにより
、未発光領域８ｂの形状を求め、その最大幅を検出する
ことにより、上記欠け量ｅを求めることができる。
ス部９とには明確な濃淡差があるので、この濃淡差を利
用して、画像測定装置６により、上記３つの部分のエツ
ジを検出し、２値化する等の画像処理を行うことにより
、未発光領域８ｂの形状を求め、その最大幅を検出する
ことにより、上記欠け量ｅを求めることができる。
なお、この発明に関する従来技術として、例えば特開昭
６２−２０２２２号公報に開示されるものがある。
６２−２０２２２号公報に開示されるものがある。
従来のミスランデインクによる蛍光体の欠け量測定方法
は以上のよ５に構成されているので、第２の測定方法の
場合、十分な精度を得るためには、蛍光体８の直径が最
小でもカメラ視野７のｌ／１０程度は必要であり、その
場合カメラ視野７は数ｍｍ以下のレベル迄拡大する必要
があり、そのレベル迄拡大すると、レンズ系５による光
量不足や拡大による測定系の振動等の問題が発生し、測
定が困難になるので、高価なレンズと振動防止対策とが
必要となる。このため、第１の方法が一般的に使用され
ているが、第１の測定方法は、目視による測定のため、
人及び顕微鏡３等の器具による測定バラツキが大きく、
また、測定時間も長くかかる等の課題があった。
は以上のよ５に構成されているので、第２の測定方法の
場合、十分な精度を得るためには、蛍光体８の直径が最
小でもカメラ視野７のｌ／１０程度は必要であり、その
場合カメラ視野７は数ｍｍ以下のレベル迄拡大する必要
があり、そのレベル迄拡大すると、レンズ系５による光
量不足や拡大による測定系の振動等の問題が発生し、測
定が困難になるので、高価なレンズと振動防止対策とが
必要となる。このため、第１の方法が一般的に使用され
ているが、第１の測定方法は、目視による測定のため、
人及び顕微鏡３等の器具による測定バラツキが大きく、
また、測定時間も長くかかる等の課題があった。
この発明は、上記のような課題を解消するためになされ
たもので、蛍光体の欠け量を容易に精度良く測定できる
ミスランデインクによる蛍光体の欠け量測定方法を得る
ことを目的とする。
たもので、蛍光体の欠け量を容易に精度良く測定できる
ミスランデインクによる蛍光体の欠け量測定方法を得る
ことを目的とする。
この発明に係るミスランデインクによる蛍光体の欠け量
測定方法は、管面光量測定工程でミスランデインク時の
蛍光体の光量を測定した後、ランディング位置移動工程
で電子ビームを強性的に移動させてジャストランディン
グさせ、欠け量演算工程でそのときの光量と上記ミスラ
ンデインク時の光量とから欠け量ｅを演算するようにし
たものである。
測定方法は、管面光量測定工程でミスランデインク時の
蛍光体の光量を測定した後、ランディング位置移動工程
で電子ビームを強性的に移動させてジャストランディン
グさせ、欠け量演算工程でそのときの光量と上記ミスラ
ンデインク時の光量とから欠け量ｅを演算するようにし
たものである。
この発明におけるミスランデインクによる蛍光体の欠け
量測定方法の欠け量演算工程は、光センサを用いて、ミ
スランデインク時の光量と、強制的にジャストランディ
ングさせた時の光量とを測定し、両者の比により求まる
発光領域の面積が欠け量の関数であることから欠け量を
演算することができる。
量測定方法の欠け量演算工程は、光センサを用いて、ミ
スランデインク時の光量と、強制的にジャストランディ
ングさせた時の光量とを測定し、両者の比により求まる
発光領域の面積が欠け量の関数であることから欠け量を
演算することができる。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。
第１図において、１はＣＲＴ、２はＣＲＴｌに設けられ
た偏向ヨーク、１１は例えばＣＯＤ素子等を用いた管面
光量検出用の光センサ部、１２は後述するセンサ測定、
ウオブリング制御及び測定結果の処理等を行う測定装置
である。
た偏向ヨーク、１１は例えばＣＯＤ素子等を用いた管面
光量検出用の光センサ部、１２は後述するセンサ測定、
ウオブリング制御及び測定結果の処理等を行う測定装置
である。
第２図は光センサ部１１を示す正面であり、光センサ部
１１のセンサ１１ａの周辺４ケ所に、それぞれ一対の垂
直ウオブリングコイル１３と水平ウオブリングコイル１
４とが取付けられている。
１１のセンサ１１ａの周辺４ケ所に、それぞれ一対の垂
直ウオブリングコイル１３と水平ウオブリングコイル１
４とが取付けられている。
次に動作について説明する。
今、管面の任意のポイントでの例えば赤色の蛍光体８へ
の電子ビーム１ｏのランディング状態が第３図（４）の
状態であったとする。このポイントで光センサ部１１に
より光量検出した場合、第４図に示すように、ある広が
りを持った検出エリア１５内のＲで示す赤の蛍光体８の
各発光部分の総和の光量ＫＡが検出される（管面光量測
定工程）。なお、Ｇ、Ｂは未発光の緑、青の蛍光体８を
示す。
の電子ビーム１ｏのランディング状態が第３図（４）の
状態であったとする。このポイントで光センサ部１１に
より光量検出した場合、第４図に示すように、ある広が
りを持った検出エリア１５内のＲで示す赤の蛍光体８の
各発光部分の総和の光量ＫＡが検出される（管面光量測
定工程）。なお、Ｇ、Ｂは未発光の緑、青の蛍光体８を
示す。
次に、水平ウオブリングコイル１４に電流−１１を流す
ことにより、電子ビーム１０を強制的に水平方向に移動
させ、このときの光量ＫＢを測定する。次に、水平ウオ
ブリングコイル１４に電流子■１を流すことにより、電
子ビーム１０を上記と逆方向の水平方向に強制的に移動
させ、このときの光量Ｋｃを測定する。上記ＫＡ 、Ｋ
Ｂ 、ＫｃＫより、第５図に示す光量変化特性カーブが
得られたとする。
ことにより、電子ビーム１０を強制的に水平方向に移動
させ、このときの光量ＫＢを測定する。次に、水平ウオ
ブリングコイル１４に電流子■１を流すことにより、電
子ビーム１０を上記と逆方向の水平方向に強制的に移動
させ、このときの光量Ｋｃを測定する。上記ＫＡ 、Ｋ
Ｂ 、ＫｃＫより、第５図に示す光量変化特性カーブが
得られたとする。
この特性カーブの場合、Ｋｎが最大光量であるので、こ
のとき、水平方向のジャストランディング状態が得られ
たものとする。垂直方向についても、上記と同様にして
垂直ウオブリングコイル１３に互いに逆方向の電流を流
すことにより、電子ビーム１０を垂直方向に強制的に移
動させて、垂直方向のジャストランディング状態での最
大光量ＫＢを検出する。上記のようにして水平及び垂直
方向のジャストランディング状態が得られたときは、第
３図（Ｂｌのように、蛍光体８の中心と電子ビーム１０
の中心とが一致したジャストランディング状態となって
いる（ランディング位置移動工程）。
のとき、水平方向のジャストランディング状態が得られ
たものとする。垂直方向についても、上記と同様にして
垂直ウオブリングコイル１３に互いに逆方向の電流を流
すことにより、電子ビーム１０を垂直方向に強制的に移
動させて、垂直方向のジャストランディング状態での最
大光量ＫＢを検出する。上記のようにして水平及び垂直
方向のジャストランディング状態が得られたときは、第
３図（Ｂｌのように、蛍光体８の中心と電子ビーム１０
の中心とが一致したジャストランディング状態となって
いる（ランディング位置移動工程）。
なお、同図（ｃｌは上記電流子１１により光量Ｋｃが得
られた場合のランディング状態である。
られた場合のランディング状態である。
次に、上記ミスランデインク状態での光量ＫＡとジャス
トランディング状態での光量ＫＢとを用いて蛍光体８の
欠け量ｅを求める欠け量演算工程について説明する。
トランディング状態での光量ＫＢとを用いて蛍光体８の
欠け量ｅを求める欠け量演算工程について説明する。
第６図において、蛍光体８０半径なｒ、電子ビーム１０
０半径をｒｌ、蛍光体８の中心と電子ビーム１０の中心
との距離なｄ、発光領域８ａの発光面積をＳとする。今
、蛍光体Ｂ及び電子ビーム１０が完全な円形であるとし
、また、発光面積■検出光量ＫＡという理想的な状態を
考えると、が成立つ。このとき発光面積Ｓは欠け量ｅの
関数となり、 Ｓ ＝ ｆ （ｅｌ 但し、 で表わされる。第７図に示す特性カーブａは、上記（２
）式のＳとｅとの関係を示すものである。
０半径をｒｌ、蛍光体８の中心と電子ビーム１０の中心
との距離なｄ、発光領域８ａの発光面積をＳとする。今
、蛍光体Ｂ及び電子ビーム１０が完全な円形であるとし
、また、発光面積■検出光量ＫＡという理想的な状態を
考えると、が成立つ。このとき発光面積Ｓは欠け量ｅの
関数となり、 Ｓ ＝ ｆ （ｅｌ 但し、 で表わされる。第７図に示す特性カーブａは、上記（２
）式のＳとｅとの関係を示すものである。
従って、光量ＫＡ 、ＫＢを検出し、上記式（１１、ｆ
２１を用〜・ることにより、欠け量ｅを演算できること
になる。実際には、蛍光体８及び電子ビーム１０の形状
及び半径のバラツキがあり、発光面積Ｓｏｃ光量ＫＡの
関係も電子ビーム１０の密度等に影響され、完全とは言
えないので、第７図の特性カーブｂのように理想状態の
特性カーブａから外れる。
２１を用〜・ることにより、欠け量ｅを演算できること
になる。実際には、蛍光体８及び電子ビーム１０の形状
及び半径のバラツキがあり、発光面積Ｓｏｃ光量ＫＡの
関係も電子ビーム１０の密度等に影響され、完全とは言
えないので、第７図の特性カーブｂのように理想状態の
特性カーブａから外れる。
しかし、特性カーブａからｂへの補正量を予めに測定し
て、式（１） 、 （２１の補正係数を求めておけば、
ミスランデインク時の蛍光体の欠け量ｅを光量比により
逆゛演算できることになる。
て、式（１） 、 （２１の補正係数を求めておけば、
ミスランデインク時の蛍光体の欠け量ｅを光量比により
逆゛演算できることになる。
なお、上記実施例では蛍光体８の欠け量ｅのみを求めた
が、ジャストランディング状態となる水平、垂直ウオブ
リング電流値により欠けの方向も測定できる。
が、ジャストランディング状態となる水平、垂直ウオブ
リング電流値により欠けの方向も測定できる。
また、上記実施例では、光量検出用の光センサ部１１に
ＣＣＤ素子を用いたが、フォトセンサ等の他の受光素子
を用いてもよく、上記実施例と同様の効果を奏する。
ＣＣＤ素子を用いたが、フォトセンサ等の他の受光素子
を用いてもよく、上記実施例と同様の効果を奏する。
また、垂直及び水平ウオブリングコイル１３゜１４は、
光センサ部１１の周囲に取付けた例を示したが、ＣＲＴ
ｌのネック部周囲又は管面周囲等に取付けてもよい。
光センサ部１１の周囲に取付けた例を示したが、ＣＲＴ
ｌのネック部周囲又は管面周囲等に取付けてもよい。
以上のようにこの発明によれば、ミスランデインク状態
での光量検出と電子ビームを強制的に移動させて得られ
るジャストランディング状態での光量検出とにより蛍光
体と電子ビームとのミスランデインクによる蛍光体の欠
け量を演算するように構成したので、従来の目視による
測定及び画像処理による測定と比較すると、簡単な構成
の装置を用いて精度の高い測定を行うことができると共
に、コンピュータ等を用いることにより、自動的に測定
を行うことができる効果が得られる。
での光量検出と電子ビームを強制的に移動させて得られ
るジャストランディング状態での光量検出とにより蛍光
体と電子ビームとのミスランデインクによる蛍光体の欠
け量を演算するように構成したので、従来の目視による
測定及び画像処理による測定と比較すると、簡単な構成
の装置を用いて精度の高い測定を行うことができると共
に、コンピュータ等を用いることにより、自動的に測定
を行うことができる効果が得られる。
第１図は、この発明の一実施例によるミスランデインク
による蛍光体の欠け量測定方法を示す構成図、第２図は
光センサ部の正面図、第３図は蛍光体と電子ビームとの
ランディング状態を説明する構成図、第４図はセンサ検
出エリア内の蛍光体の配列図、第５図はウオブリング電
流と光量との関係を示す特性図、第６図は蛍光体と電子
ビームとの関係を示す構成図、第７図は発光面積と蛍光
体の欠け量との関係を示す特性図、第８図（ａ＋ 、
（ｂｌは従来のミスランデインクによる蛍光体の欠け量
測定方法を示す構成図、第９図は従来方法におけるカメ
ラ入力画像を示す構成図である。 １はｃｇ’ｒ１Ｂは蛍光体、１０は電子ビーム、１１は
光センサ部、１２は測定装置、１３は垂直ウオブリング
コイル、１４は水平ウオブリングコイル、１５はセンサ
検出エリア、ｅは蛍光体の欠け量。 なお、図中、同一符号は同一 又は相当部分を示す。
による蛍光体の欠け量測定方法を示す構成図、第２図は
光センサ部の正面図、第３図は蛍光体と電子ビームとの
ランディング状態を説明する構成図、第４図はセンサ検
出エリア内の蛍光体の配列図、第５図はウオブリング電
流と光量との関係を示す特性図、第６図は蛍光体と電子
ビームとの関係を示す構成図、第７図は発光面積と蛍光
体の欠け量との関係を示す特性図、第８図（ａ＋ 、
（ｂｌは従来のミスランデインクによる蛍光体の欠け量
測定方法を示す構成図、第９図は従来方法におけるカメ
ラ入力画像を示す構成図である。 １はｃｇ’ｒ１Ｂは蛍光体、１０は電子ビーム、１１は
光センサ部、１２は測定装置、１３は垂直ウオブリング
コイル、１４は水平ウオブリングコイル、１５はセンサ
検出エリア、ｅは蛍光体の欠け量。 なお、図中、同一符号は同一 又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 陰極線管の管面の蛍光体に対して電子ビームのミスラン
デインクが生じている状態において上記管面の所定の検
出エリアで発光する蛍光体の光量を測定する管面光量測
定工程と、上記検出エリアで発光する蛍光体の光量が最
大となるランデイング位置に上記電子ビームを強制的に
移動させるランデイング位置移動工程と、上記ミスラン
デイング状態で測定された光量と上記最大光量との比に
基づいて算出されるミスランデイング状態での蛍光体の
発光面積を用いて所定の演算を行うことにより、蛍光体
の欠け量を求める欠け量演算工程とを備えたミスランデ
イングによる蛍光体の欠け量測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1259475A JPH03122945A (ja) | 1989-10-04 | 1989-10-04 | ミスランディングによる蛍光体の欠け量測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1259475A JPH03122945A (ja) | 1989-10-04 | 1989-10-04 | ミスランディングによる蛍光体の欠け量測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03122945A true JPH03122945A (ja) | 1991-05-24 |
Family
ID=17334594
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1259475A Pending JPH03122945A (ja) | 1989-10-04 | 1989-10-04 | ミスランディングによる蛍光体の欠け量測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03122945A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20150142944A (ko) * | 2014-06-12 | 2015-12-23 | 삼성중공업 주식회사 | 크레인의 붐 레스트 장치 |
-
1989
- 1989-10-04 JP JP1259475A patent/JPH03122945A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20150142944A (ko) * | 2014-06-12 | 2015-12-23 | 삼성중공업 주식회사 | 크레인의 붐 레스트 장치 |
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