JPH03129919A - 光電スイッチの自己診断回路 - Google Patents
光電スイッチの自己診断回路Info
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- JPH03129919A JPH03129919A JP26787389A JP26787389A JPH03129919A JP H03129919 A JPH03129919 A JP H03129919A JP 26787389 A JP26787389 A JP 26787389A JP 26787389 A JP26787389 A JP 26787389A JP H03129919 A JPH03129919 A JP H03129919A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(イ)産業上の利用分野
この発明は光電スイッチの自己診断回路に関する。
(ロ)従来の技術
一般に光電スイッチは、第6図に示すように、受光素子
1で受光し、光を電気信号に変換して増幅器2で増幅し
、その出力がシュミット回路3に入力され、入力された
信号が所定の入光レベルを越えると、このシュミット回
路3が出力増幅器4を経てスイッチング信号を出力する
。この種の光電スイッチでは入力信号が入光レベルを越
えているが、所定の安定レベルを越えない場合に動作不
安定や誤動作を防ぐために、入力が所定の範囲内にある
場合にのみ出力を出すコンパレータ(比較器)5と、そ
の出力をゲート6を介して所定の遅延時間をおいて出力
するタイマ7を備えた自己診断回路を備えている。この
自己診断回路では検出物体がゆっくり移動している場合
に、遮光状態→入光状態、または入光状態→遮光状態へ
移行する時間が長く、しばらく不安定状態となる。この
間に誤って自己診断出力が出るのを防ぐ目的で時定数の
大きな積分回路でタイマ7を構成している。
1で受光し、光を電気信号に変換して増幅器2で増幅し
、その出力がシュミット回路3に入力され、入力された
信号が所定の入光レベルを越えると、このシュミット回
路3が出力増幅器4を経てスイッチング信号を出力する
。この種の光電スイッチでは入力信号が入光レベルを越
えているが、所定の安定レベルを越えない場合に動作不
安定や誤動作を防ぐために、入力が所定の範囲内にある
場合にのみ出力を出すコンパレータ(比較器)5と、そ
の出力をゲート6を介して所定の遅延時間をおいて出力
するタイマ7を備えた自己診断回路を備えている。この
自己診断回路では検出物体がゆっくり移動している場合
に、遮光状態→入光状態、または入光状態→遮光状態へ
移行する時間が長く、しばらく不安定状態となる。この
間に誤って自己診断出力が出るのを防ぐ目的で時定数の
大きな積分回路でタイマ7を構成している。
従来の他の自己診断回路を第7図に示している。
この自己診断回路では、増幅器12の出力を物体検出用
の比較回路13とレベルダウン検出用の比較回路14に
加え、比較回路13の出力は微分回路15で微分されて
R3−FF17のセット入力端Sに加えられ、比較回路
14の出力は微分回路16で微分されてR3−FF l
7のリセット入力端Rに加えられる。R3−FF17
のQ出力は、D−FF18の入力端りへ加えられ、比較
回路13の出力がインパーク20で反転されてD−FF
18の入力端CPに加えられる。この自己診断回路では
、入力信号が入光レベルを越えると比較回路13の出力
がハイとなり、応じて微分回路15がインパルスを出力
し、R3−FF 17をセットする。入力が正常な場合
は、入力信月はその後すぐに安定レベルをも越える。こ
れにより比較回路】4の出力がハイとなり、微分回路1
6がインパルスを出力し、R3−FF17をリセットす
る。
の比較回路13とレベルダウン検出用の比較回路14に
加え、比較回路13の出力は微分回路15で微分されて
R3−FF17のセット入力端Sに加えられ、比較回路
14の出力は微分回路16で微分されてR3−FF l
7のリセット入力端Rに加えられる。R3−FF17
のQ出力は、D−FF18の入力端りへ加えられ、比較
回路13の出力がインパーク20で反転されてD−FF
18の入力端CPに加えられる。この自己診断回路では
、入力信号が入光レベルを越えると比較回路13の出力
がハイとなり、応じて微分回路15がインパルスを出力
し、R3−FF 17をセットする。入力が正常な場合
は、入力信月はその後すぐに安定レベルをも越える。こ
れにより比較回路】4の出力がハイとなり、微分回路1
6がインパルスを出力し、R3−FF17をリセットす
る。
そのため、やがて入力信号が入光レベルより低くなり、
比較回路13の出力がローとなり、インバータ20の出
力がハイに立ち上がってD−FF18にR3−FF17
のQ出力が読み込まれる時点ではR3−FF 17のQ
出力がローであり、従ってD−FF18は自己診断信号
(警報信号)を出力しない。しかし、入力信号がレベル
ダウンしており、入力信号が入光レベルを越えた後、安
定レベルを越えないまま、やがて入光レベルよりも低く
なると、R3−FF 17は微分回路15の出力でセッ
トされたままリセットされないで、Q出力はハイのまま
である。そのため、入力信号が入光レベルより低くなり
、比較回路13の出力がハイからローに落ちるとその時
点でD−FF18はR3・FFL7のQ出力のハイを読
み込み、警報回路19にハイの警報信号を出力する。
比較回路13の出力がローとなり、インバータ20の出
力がハイに立ち上がってD−FF18にR3−FF17
のQ出力が読み込まれる時点ではR3−FF 17のQ
出力がローであり、従ってD−FF18は自己診断信号
(警報信号)を出力しない。しかし、入力信号がレベル
ダウンしており、入力信号が入光レベルを越えた後、安
定レベルを越えないまま、やがて入光レベルよりも低く
なると、R3−FF 17は微分回路15の出力でセッ
トされたままリセットされないで、Q出力はハイのまま
である。そのため、入力信号が入光レベルより低くなり
、比較回路13の出力がハイからローに落ちるとその時
点でD−FF18はR3・FFL7のQ出力のハイを読
み込み、警報回路19にハイの警報信号を出力する。
(ハ)発明が解決しようとする課題
上記した従来の自己診断回路のうち、前者の回路は、検
出物体がゆっくり移動する場合に誤った自己診断出力が
出るのを防止するためにタイマの時定数を大きくしてい
る。しかし、反射型光電スイッチであって、高速で移動
する小さな検出物体を検知している場合には、逆に不安
定状態(レベルダウン)であっても、自己診断出力が出
ないという問題がある。
出物体がゆっくり移動する場合に誤った自己診断出力が
出るのを防止するためにタイマの時定数を大きくしてい
る。しかし、反射型光電スイッチであって、高速で移動
する小さな検出物体を検知している場合には、逆に不安
定状態(レベルダウン)であっても、自己診断出力が出
ないという問題がある。
一方、後者の回路は、上記の問題は解決されているが、
第8図に示すようにノイズが重畳した受光信号が、安定
入光レベルから遮光レベルに移行する際に、信号aで示
すように一度人光レベルを下回った後に再度ノイズbに
よって入光レベルを越えると、このノイズbによってR
3−FF 17はセントされ、その後リセットされない
ので、D・FF1Bより誤った警報信号が出力されると
いう問題がある。
第8図に示すようにノイズが重畳した受光信号が、安定
入光レベルから遮光レベルに移行する際に、信号aで示
すように一度人光レベルを下回った後に再度ノイズbに
よって入光レベルを越えると、このノイズbによってR
3−FF 17はセントされ、その後リセットされない
ので、D・FF1Bより誤った警報信号が出力されると
いう問題がある。
この発明は、上記問題点に着目してなされたものであっ
て、外来ノイズの影響を受けにくく、また高速で移動す
る微小物体を反射型で検知している場合にも動作する光
電スイッチの自己診断回路を提供することを目的として
いる。
て、外来ノイズの影響を受けにくく、また高速で移動す
る微小物体を反射型で検知している場合にも動作する光
電スイッチの自己診断回路を提供することを目的として
いる。
(ニ)課題を解決するための手段及び作用この発明の光
電スイッチの自己診断回路は、受光素子の受光信号が所
定の第1レベルを越えると信号を出力する第1回路と、
前記受光素子の受光信号が前記第1レベルより大きい所
定の第2レベルを越えると信号を出力する第2回路と、
前記第1回路の出力で駆動されてパルスを計数し、前記
第2回路の出力でリセットされ、計数値が所定値に達す
ると、自己診断信号を出力する計数手段とから構成され
ている。
電スイッチの自己診断回路は、受光素子の受光信号が所
定の第1レベルを越えると信号を出力する第1回路と、
前記受光素子の受光信号が前記第1レベルより大きい所
定の第2レベルを越えると信号を出力する第2回路と、
前記第1回路の出力で駆動されてパルスを計数し、前記
第2回路の出力でリセットされ、計数値が所定値に達す
ると、自己診断信号を出力する計数手段とから構成され
ている。
この自己診断回路では、受光信号が第1レベル(入光レ
ベル)を越えていると、第1回路より、出力され、この
出力に応答して計数手段がパルスを計数する。受光信号
のレベルが十分にあり、第2レベル(安定入光レベル)
を越えていると、第1回路のみならず、第2回路も出力
を出し、この出力によって計数手段がリセットされる。
ベル)を越えていると、第1回路より、出力され、この
出力に応答して計数手段がパルスを計数する。受光信号
のレベルが十分にあり、第2レベル(安定入光レベル)
を越えていると、第1回路のみならず、第2回路も出力
を出し、この出力によって計数手段がリセットされる。
そのため計数手段はカウントアツプまでにいたらず、自
己診断信号を出力しない。
己診断信号を出力しない。
もし、受光信号がレベルダウンすると、第1レベルを越
え、計数手段はパルス計数を行う。しかしレベルダウン
のため、第2のレベルを越えないので、計数手段はリセ
ットされず、そのままパルスの計数を続ける。そして所
定の計数値に達すると、つまりカウントアツプすると自
己診断信号を出力する。
え、計数手段はパルス計数を行う。しかしレベルダウン
のため、第2のレベルを越えないので、計数手段はリセ
ットされず、そのままパルスの計数を続ける。そして所
定の計数値に達すると、つまりカウントアツプすると自
己診断信号を出力する。
(ホ)実施例
以下、実施例により、この発明をさらに詳細に説明する
。
。
〈実施例1〉
第1図は、この発明の一実施例を示す光電スイッチの自
己診断回路の回路図である。同図において、電源■。と
GND間に抵抗25.26.27の直列回路が接続され
ている。抵抗26と抵抗27の接続点が比較器23の入
力の一端に接続され、基準電圧(入光レベル)■1が加
えられている。抵抗25と抵抗26の接続点が比較器2
4の入力の一端に接続され、基準電圧(安定入光レベル
) Vl (Vl >Vl )が加えられている。
己診断回路の回路図である。同図において、電源■。と
GND間に抵抗25.26.27の直列回路が接続され
ている。抵抗26と抵抗27の接続点が比較器23の入
力の一端に接続され、基準電圧(入光レベル)■1が加
えられている。抵抗25と抵抗26の接続点が比較器2
4の入力の一端に接続され、基準電圧(安定入光レベル
) Vl (Vl >Vl )が加えられている。
受光素子21は入力されたパルス光信号を受光電流に変
換し、さらに電流/電圧変換器22で電圧信号に変換し
て、受光信号(電圧)を比較器23.24の入力の他端
に加えている。比較器23は受光信号と基準電圧■1を
比較し、受光信号の方が大なる場合に“ハイ”信号を出
力する。このハイ°゛信号は計数器28に入力され計数
される。
換し、さらに電流/電圧変換器22で電圧信号に変換し
て、受光信号(電圧)を比較器23.24の入力の他端
に加えている。比較器23は受光信号と基準電圧■1を
比較し、受光信号の方が大なる場合に“ハイ”信号を出
力する。このハイ°゛信号は計数器28に入力され計数
される。
また比較器23の“ハイ“信号は制御出力信号として導
出される。比較器24は受光信号と基準電圧■2を比較
し、受光信号の方が大なる場合にハイ゛信号を出力する
。この゛°ハイ゛信号を計測器28のりセント端子に人
力され、計数器28の計数値をリセットする。計数器2
8は計数値が8となると、カウントアツプし、自己診断
信号(警報信号)を出力する。
出される。比較器24は受光信号と基準電圧■2を比較
し、受光信号の方が大なる場合にハイ゛信号を出力する
。この゛°ハイ゛信号を計測器28のりセント端子に人
力され、計数器28の計数値をリセットする。計数器2
8は計数値が8となると、カウントアツプし、自己診断
信号(警報信号)を出力する。
次に、第2図に示す波形図を参照して上記実施例自己診
断回路の動作について説明する。なお第2図において、
Aは電流/電圧変換器22の出力すなわち受光信号の、
Bは比較器23の出力の、Cは比較器24の出力の、D
は計数器28の出力の波形をそれぞれ示している。
断回路の動作について説明する。なお第2図において、
Aは電流/電圧変換器22の出力すなわち受光信号の、
Bは比較器23の出力の、Cは比較器24の出力の、D
は計数器28の出力の波形をそれぞれ示している。
先ず、受光信号が十分なレベルである場合について説明
する。受光信号Aが入光レベル■1を越えない場合は、
比較器23.24の信号B、Cとも出力されない。やが
て、受光信号Aが入光レベルvIを越えると応じて比較
器23も、信号Bを出力し、この信号Bが計数器28で
計数される。
する。受光信号Aが入光レベル■1を越えない場合は、
比較器23.24の信号B、Cとも出力されない。やが
て、受光信号Aが入光レベルvIを越えると応じて比較
器23も、信号Bを出力し、この信号Bが計数器28で
計数される。
第2図のA1の波形例では入光レベル■1を越えた受光
借間パルスが2個なので、計数器28の計数値が2とな
る。次に受光信号が安定受光レベルV2を越えると、比
較器23.24とも出力B、Cを出力し、計数器28に
計数パルスが人力されるが、その都度、信号Cによって
リセットされるので計数器2日は歩進されない。やがて
受光信号が安定入光レベル■2より低くなると、再度比
較器23からのパルスが計数器28に加えられるのみな
ので、計数器28は計数歩進する。しかし、受光信号が
すぐに入光レベル■1よりも下回ると比較器23の出力
も出なくなり、計数器28の計数値は8以上とならず、
自己診断信号りが出力されない。
借間パルスが2個なので、計数器28の計数値が2とな
る。次に受光信号が安定受光レベルV2を越えると、比
較器23.24とも出力B、Cを出力し、計数器28に
計数パルスが人力されるが、その都度、信号Cによって
リセットされるので計数器2日は歩進されない。やがて
受光信号が安定入光レベル■2より低くなると、再度比
較器23からのパルスが計数器28に加えられるのみな
ので、計数器28は計数歩進する。しかし、受光信号が
すぐに入光レベル■1よりも下回ると比較器23の出力
も出なくなり、計数器28の計数値は8以上とならず、
自己診断信号りが出力されない。
なお、第2図のA、に示すように受光信号が安定入力レ
ベル■2からパルスaで示すように、大光レベル以下と
なり、さらにパルスbに示すようにノイズで入光レベル
■1を越えても、わずかIの計数が計数器28になされ
るのみなので、直ちに自己診断信号りが出力されること
はない。
ベル■2からパルスaで示すように、大光レベル以下と
なり、さらにパルスbに示すようにノイズで入光レベル
■1を越えても、わずかIの計数が計数器28になされ
るのみなので、直ちに自己診断信号りが出力されること
はない。
次に、受光信号がレベルダウンした場合について説明す
る。第2図のAz 、A3に示す受光信号が入力される
場合を想定すると、受光信号が安定受光レベル■2を越
えた状態から、レベル■2よりも小さく、入光レベル■
、を越えたパルスCになると、計数器28は1を計数し
、リセ、ンi・がかからず、さらに次のパルスdで2を
計数し、なおリセットされない。さらに次のA3の受光
借間でパルスeから計数器28が計数し、6発目の7<
)レスfで8を計数する。この間受光信号は安定受光レ
ベルを越えないので、比較器24は出力Cを出さず、し
たがって計数器28はリセ・ノ)・されない。
る。第2図のAz 、A3に示す受光信号が入力される
場合を想定すると、受光信号が安定受光レベル■2を越
えた状態から、レベル■2よりも小さく、入光レベル■
、を越えたパルスCになると、計数器28は1を計数し
、リセ、ンi・がかからず、さらに次のパルスdで2を
計数し、なおリセットされない。さらに次のA3の受光
借間でパルスeから計数器28が計数し、6発目の7<
)レスfで8を計数する。この間受光信号は安定受光レ
ベルを越えないので、比較器24は出力Cを出さず、し
たがって計数器28はリセ・ノ)・されない。
8発のパルス計数で計数器28はカウントア・ンプし、
自己診断信号(警報信号)Dを出力する。
自己診断信号(警報信号)Dを出力する。
例えば反射型光電スイッチで検出物体が小さく、しかも
高速で通過し、入光時間が短い場合でも、計数器28が
リセットされない限り、次の大光時間に合算して計数が
進行するのでカウントア・ンプが終了すると警報信号が
出力される。例えば第3図に示すようにA、からレベル
ダウンすると、Atでの1発、A3での4発、A4での
3発で計数器28がカウントアツプし、警報信号りが出
力される。
高速で通過し、入光時間が短い場合でも、計数器28が
リセットされない限り、次の大光時間に合算して計数が
進行するのでカウントア・ンプが終了すると警報信号が
出力される。例えば第3図に示すようにA、からレベル
ダウンすると、Atでの1発、A3での4発、A4での
3発で計数器28がカウントアツプし、警報信号りが出
力される。
〈実施例2〉
第4図は、この発明の他の実施例を示す光電スイッチの
自己診断回路の回路図である。この実施例回路において
第1図の回路と同一番号を付したものは同一のものを示
している。第1図の実施例回路と相違するのは比較器2
3の出力と計数器28の入力間に信号引き延ばし回路2
9を設けたことである。信号引き延ばし回路29として
具体的には例えばシフトレジスタや、積分器+比較器が
使用される。この実施例自己診断回路は、第1図の回路
では、検出物体の移動が極めて遅いか、不安定入光(受
光信号が■1と■2の間)の位置で停止している場合に
誤って警ta信号を出力するおそれがあるのを解消する
ために、信号引き延ばし回路29を設けたものである。
自己診断回路の回路図である。この実施例回路において
第1図の回路と同一番号を付したものは同一のものを示
している。第1図の実施例回路と相違するのは比較器2
3の出力と計数器28の入力間に信号引き延ばし回路2
9を設けたことである。信号引き延ばし回路29として
具体的には例えばシフトレジスタや、積分器+比較器が
使用される。この実施例自己診断回路は、第1図の回路
では、検出物体の移動が極めて遅いか、不安定入光(受
光信号が■1と■2の間)の位置で停止している場合に
誤って警ta信号を出力するおそれがあるのを解消する
ために、信号引き延ばし回路29を設けたものである。
この信号引き延ばし回路29は比較器23から出力され
るパルスに応答し、遮光→入光→遮光という一連の動作
1回につきl個のパルスを出力するように波形整形して
、その出力により計数器28を駆動するようになってい
る。
るパルスに応答し、遮光→入光→遮光という一連の動作
1回につきl個のパルスを出力するように波形整形して
、その出力により計数器28を駆動するようになってい
る。
次に、第5図に示す波形図を参照して、この実施例自己
診断回路の動作について説明する。なお第5図において
、Eは電流/電圧変換器22の出力、すなわち受光信号
の、Fは比較器23の出力の、Gは信号引き延ばし回路
29の出力の、■]は比較器24の出力の、1は計数器
28の出力の波形をそれぞれ示している。
診断回路の動作について説明する。なお第5図において
、Eは電流/電圧変換器22の出力、すなわち受光信号
の、Fは比較器23の出力の、Gは信号引き延ばし回路
29の出力の、■]は比較器24の出力の、1は計数器
28の出力の波形をそれぞれ示している。
第5図のIE+に示すように、受光(Ll ”’j’
Eが安定受光レベルV2を越える場合は、第1図の回路
と同様に受光信号が人力される毎に比較器23に出力F
が出力され、また比較器24に出力I(が出され、これ
により計数器28はりセットされ、したがって計数器2
8より警報信号Iが出力されない。
Eが安定受光レベルV2を越える場合は、第1図の回路
と同様に受光信号が人力される毎に比較器23に出力F
が出力され、また比較器24に出力I(が出され、これ
により計数器28はりセットされ、したがって計数器2
8より警報信号Iが出力されない。
なお信号引き延ばし回路29は例えば4ピントのシフト
レジスタであるとすると、比較器23の4連続パルス(
4ビツト)の出力で、出力Gを゛ハイ゛にし、4ビツト
がすべて°“0゛で出力Gをローにする。つまり、遮光
−入光−遮光の各E5、Ez 、E3 、・・・毎に1
個のパルスGを出力する。
レジスタであるとすると、比較器23の4連続パルス(
4ビツト)の出力で、出力Gを゛ハイ゛にし、4ビツト
がすべて°“0゛で出力Gをローにする。つまり、遮光
−入光−遮光の各E5、Ez 、E3 、・・・毎に1
個のパルスGを出力する。
計数器28は、ElにおけるパルスGの立ち上がりで1
を計数するが、また比較器24の出力Hでリセットされ
る。しかし、受光信号がレベルダウンする巳2以降を想
定すると、計数器28は比較器24の出力+(でリセッ
トされないので、E2に対応するパルスGで1を計数し
、以後E2、E4、E、に対応してパルスGを計数し、
計数器28は、計数値4(この実施例では計数器28を
計数値4でカウントアツプするように設定しである。)
でカウントアンプし、警報信号【を出力する。
を計数するが、また比較器24の出力Hでリセットされ
る。しかし、受光信号がレベルダウンする巳2以降を想
定すると、計数器28は比較器24の出力+(でリセッ
トされないので、E2に対応するパルスGで1を計数し
、以後E2、E4、E、に対応してパルスGを計数し、
計数器28は、計数値4(この実施例では計数器28を
計数値4でカウントアツプするように設定しである。)
でカウントアンプし、警報信号【を出力する。
この自己診断回路では、検出物体の移動速度が遅く、た
とえ遮光−人光一遮光の1サイクルの中で、安定入光レ
ベルV、を越えた後に不安定入光(v2と■、の間の入
光)が連続しても計数器28は、何ら歩進しないので、
警報信号■を出力しない。また、不安定入光状態で検出
物体が止まっても、同様に計数器28は何ら計数されな
いので、やはり警報信号Iを出力するおそれがない。
とえ遮光−人光一遮光の1サイクルの中で、安定入光レ
ベルV、を越えた後に不安定入光(v2と■、の間の入
光)が連続しても計数器28は、何ら歩進しないので、
警報信号■を出力しない。また、不安定入光状態で検出
物体が止まっても、同様に計数器28は何ら計数されな
いので、やはり警報信号Iを出力するおそれがない。
(へ)発明の効果
この発明によれば、受光素子の受光信号が所定の第1レ
ベルを越えると信号を出力する第1回路と、前記受光素
子の受光信号が前記第1レベルより大きい所定の第2レ
ベルを越えると信号を出力する第2回路と、前記第1回
路の出力で駆動されてパルスを計数し、前記第2回路の
出力でリセットされ、計数値が所定値に達すると、自己
診断信号を出力する計数手段とを備え、受光信号レベル
が第1レベルと第2レベルの間にある期間、計数手段で
所定値が計数されると自己診断信号を出力するものであ
るから、反射型光電スイッチでも確実に受光レベルの低
下を検出でき、またノイズによって誤って自己診断信号
が出力されるのを防止できる。
ベルを越えると信号を出力する第1回路と、前記受光素
子の受光信号が前記第1レベルより大きい所定の第2レ
ベルを越えると信号を出力する第2回路と、前記第1回
路の出力で駆動されてパルスを計数し、前記第2回路の
出力でリセットされ、計数値が所定値に達すると、自己
診断信号を出力する計数手段とを備え、受光信号レベル
が第1レベルと第2レベルの間にある期間、計数手段で
所定値が計数されると自己診断信号を出力するものであ
るから、反射型光電スイッチでも確実に受光レベルの低
下を検出でき、またノイズによって誤って自己診断信号
が出力されるのを防止できる。
第1図は、この発明の一実施例を示す光電スイッチの自
己診断回路の回路図、第2図は、同自己診断回路の動作
を説明するための各部波形図、第3図は、同自己診断回
路において高速で移動する検出物を検知する場合の動作
を説明するための各部波形図、第4図は、この発明の他
の実施例を示す光電スイッチの自己診断回路の回路図、
第5図は、同自己診断回路の動作を説明するための各部
波形図、第6図、第7図は、従来の光電スイッチの自己
診断回路を示す回路図、第8図は、第7図の自己診断回
路の問題点を説明するための波形圓である。 21:受光素子、 23・24:比較器、2日:計数
器、 29:信号引き延ばし回路。
己診断回路の回路図、第2図は、同自己診断回路の動作
を説明するための各部波形図、第3図は、同自己診断回
路において高速で移動する検出物を検知する場合の動作
を説明するための各部波形図、第4図は、この発明の他
の実施例を示す光電スイッチの自己診断回路の回路図、
第5図は、同自己診断回路の動作を説明するための各部
波形図、第6図、第7図は、従来の光電スイッチの自己
診断回路を示す回路図、第8図は、第7図の自己診断回
路の問題点を説明するための波形圓である。 21:受光素子、 23・24:比較器、2日:計数
器、 29:信号引き延ばし回路。
Claims (1)
- (1)受光素子の受光信号が所定の第1レベルを越える
と信号を出力する第1回路と、前記受光素子の受光信号
が前記第1レベルより大きい所定の第2レベルを越える
と信号を出力する第2回路と、前記第1回路の出力で駆
動されてパルスを計数し、前記第2回路の出力でリセッ
トされ、計数値が所定値に達すると、自己診断信号を出
力する計数手段とからなることを特徴とする光電スイッ
チの自己診断回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26787389A JPH03129919A (ja) | 1989-10-14 | 1989-10-14 | 光電スイッチの自己診断回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26787389A JPH03129919A (ja) | 1989-10-14 | 1989-10-14 | 光電スイッチの自己診断回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03129919A true JPH03129919A (ja) | 1991-06-03 |
Family
ID=17450814
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26787389A Pending JPH03129919A (ja) | 1989-10-14 | 1989-10-14 | 光電スイッチの自己診断回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH03129919A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0567958A (ja) * | 1992-01-31 | 1993-03-19 | Takenaka Denshi Kogyo Kk | 光電子スイツチ |
| JPH06296127A (ja) * | 1992-01-31 | 1994-10-21 | Takenaka Denshi Kogyo Kk | 光電子スイッチ |
-
1989
- 1989-10-14 JP JP26787389A patent/JPH03129919A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0567958A (ja) * | 1992-01-31 | 1993-03-19 | Takenaka Denshi Kogyo Kk | 光電子スイツチ |
| JPH06296127A (ja) * | 1992-01-31 | 1994-10-21 | Takenaka Denshi Kogyo Kk | 光電子スイッチ |
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